JPH01309421A - 誤り訂正方式 - Google Patents

誤り訂正方式

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JPH01309421A
JPH01309421A JP63064505A JP6450588A JPH01309421A JP H01309421 A JPH01309421 A JP H01309421A JP 63064505 A JP63064505 A JP 63064505A JP 6450588 A JP6450588 A JP 6450588A JP H01309421 A JPH01309421 A JP H01309421A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔目 次〕 概要 産業上の利用分野 従来の技術 発明が解決しようとする課題 課題を解決するだめの手段 作用 実施例 ■、実施例と第1図との対応関係 ■、実施例の構成 ■、実施例の動作 (i)正常動作時 (ii)2ビットエラー発生時 (iii)1回目の1ビツトエラー発生時(iv)再実
行時 ■、実施例のまとめ ■3発明の変形態様 発明の効果 〔概 要〕 誤り訂正符号を含むデータを読み出し、エラーが発生し
たときにエラー発生箇所を判別するようにした誤り訂正
方式に関し、 メモリエラーの誤検出を防止することを目的とし、 誤り訂正符号を含むデータを格納するメモリと、メモリ
から読基出したデータを格納するデータ保持手段と、デ
ータ保持手段に格納されたデータに基づいてエラー検出
を行なうエラー検出手段と、エラー検出手段でエラーを
検出したときに、データ保持手段に格納されたデータの
訂正を行ない、データ保持手段に訂正データを格納する
訂正手段と、エラー検出手段による検出結果に基づいて
エラー発生箇所の判別を行なう判別手段とを備え、エラ
ーが発生したときに、訂正手段でデータの訂正を行ない
、訂正データに関するエラーの有無によってエラー発生
箇所を判別するように構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、誤り訂正方式に関し、特に、誤り訂正符号を
含むデータを読み出し、エラーが発生したときにエラー
発生箇所を判別するようにした誤り訂正方式に関するも
のである。
〔従来の技術〕
近年、半導体技術の発達に伴い、計算機に使用する論理
素子の集積度の向上及び演算サイクル時間の短縮がもた
らされている。また、論理素子の機能の向上に伴って、
素子の部留まりの悪化あるいは素子の不良率の増加等の
問題を引き起こしている。
このような問題に対処するものとして、データに誤り訂
正符号(以後ECCと称する)を付加する方式がある。
例えば、メモリ等に格納するデータに誤り訂正符号(以
後ECCと称する)を付加しておいて、そのデータを読
み出したときにエラーの検証を行ない、エラーが発生し
たときにデータの訂正を行なう。
第4図に、読み出したデータを訂正するだめの従来例の
構成を示す。
回において、メモリ411から読み出したデータを訂正
するための訂正回路は、メモリ411に供給するデータ
を一時保持するライトデータランチ463と、メモリ4
11から読み出したデータを一時保持するり−ドブ−ク
ラッチ421と、メモリ411に供給するアドレスデー
タを一時保持するアドレスラッチ453.エラーアドレ
スラッチ455と、データのECC部分とそれ以外の部
分とを比較してエラー検出を行なうエラー検出部431
と、エラー検出部431の検出結果に応じた制御を行な
うエラー訂正制御部441と、データの訂正を行なうエ
ラー訂正部443と、2つのセレクタ45’l、461
とを備えている。
メモリ411にデータを格納する場合、先ず、セレクタ
461を介してライトデークラッチ463にECCを含
むデータを格納する。また、セレクタ451を介してア
ドレスラッチ453にアドレスデータを格納する。
次に、アドレスラッチ453に格納されたアドレスデー
タ及びライトデークラッチ463に格納されたデータが
メモリ411に供給され、メモリ411は、アドレスデ
ータで指定される格納場所にライトデークラッチ463
から供給されたデータを格納する。
第5図に、読み出したデータに対して誤り訂正を行なう
場合の動作手順を示す。
先ず、データを読み出してリードデークラッチ421に
格納する(ステップ511)。メモリ411へのデータ
格納動作と同様にして、アドレスラッチ453からメモ
リ411にアドレスデータを供給し、該当するデータを
読み出してリードデークラッチ421に格納する。
次に、エラー検出部431は、リードデータラッチ42
1に格納されているリードデータ(ECC以外のデータ
)とECCとを比較してエラー検出を行ない、検出結果
をエラー訂正制御部441に送る(ステップ512)。
エラー訂正制御部441ば、検出結果に応してリードデ
ータにエラーが有るか否かの判定を行なう(ステップ5
13)。否定判断(エラー無しの場合)すると、以後ス
テップ511に戻って処理を繰り返す。
ステップ513で肯定判断(エラー有りの場合)すると
、エラー訂正制御部441は、エラー訂正部443にエ
ラー信号を送る。エラー信号を受は取るとエラー訂正部
443は、リードデークラッチ421に格納されたリー
ドデータ及びECCに応じて、リードデータの訂正を行
なう(ステップ514)。
次に、エラー訂正部443によって訂正したデータ(リ
ードデータ及びECC)をメモリ411に書き込む(ス
テップ515)。エラーが発生したデータに対応するア
ドレスデータはエラーアドレスラッチ455に保持され
ており、セレクタ451を介してア[レスランチ453
にそのアドレスデータを格納する。また、エラー訂正部
443から出力される訂正後のデータを、セレクタ46
1を介してライトデークラッチ463に格納する。
以後、アドレスランチ453に格納されたアドレスデー
タで指定される格納場所に、ライトデータラッチ463
に格納された訂正後のデータを格納する。
(発明が解決しようとする課題〕 ところで、上述した従来方式にあっては、メモリ411
以外の論理素子(リードデークラッチ421、エラー検
出部431等)に生した障害が原因でエラーが発生した
場合に、メモリエラー(メモリ411のハードウェア障
害あるいは格納データのソフトウェア障害)を誤検出し
てしまうという問題点があった。
例えば、メモリ411から読み出したデータが正常であ
っても、エラー検出部431によってエラーを誤検出し
たときにエラー訂正部443でデータの訂正を行ない、
訂正されたデータ(誤ったデータ)をメモリ411に再
格納してしまう。特に、最近では論理素子の集積度が上
がるにつれて、メモリ411以外の論理素子において障
害が発生する頻度も増加しており、データのエラーを訂
正すると共に、メモリ411以外の素子の障害に対処す
ることのできる誤り訂正方式が望まれていた。
本発明は、このような点にがんかので創作されたちので
あり、メモリエラーの誤検出を防止することができる誤
り訂正方式を提供することを目的としている。
〔課題を解決するための手段〕
第1図は、本発明の誤り訂正方式の原理ブロック図であ
る。
図において、メモリー11は、誤り訂正符号を含むデー
タを格納する。
データ保持手段121は、メモリー11から読み出した
データを格納する。
エラー検出手段131は、データ保持手段121に格納
されたデータに基づいてエラー検出を行なう。
訂正手段141ば、エラー検出手段131でエラーを検
出したときに、データ保持手段121に格納されたデー
タの訂正を行ない、データ保持手段121に訂正データ
を格納する。
判別手段151は、エラー検出手段131による検出結
果に基づいてエラー発生箇所の判別を行なう。
従って、全体として、データにエラーが発生したときに
、訂正手段141でデータの訂正を行なってデータ保持
手段121に格納し、エラー検出手段131で再度エラ
ー検出を行なうように構成されている。
〔作 用〕
メモリ111には誤り訂正符号を含むデータを格納する
。メモリ111からそのデータを読み出してデータ保持
手段121に格納し、エラー検出手段131はそのデー
タに基づいてエラー検出を行なう。
エラー検出手段131でエラーを検出すると訂正手段1
41は、データ保持手段121に格納されているデータ
を訂正して、再度データ保持手段121に保持する。エ
ラー検出手段131ば、データ保持手段121に格繭さ
れた訂正データに基づいて再度エラー検出を行なう。
判別手段151は、エラー検出手段131による検出結
果に応じて、エラー発生箇所の判別を行なう。
本発明にあっては、データにエラーが発生したときに訂
正手段141で訂正を行なってデータ保持手段121に
格納し、再度エラー検出を行なった結果に応じてエラー
発生箇所を判別することができるので、メモリエラーの
誤検出を防止することができる。
〔実施例〕
以下、図面に基づいて本発明の実施例について詳細に説
明する。
第2図は、本発明の誤り訂正方式を適用した一実施例の
構成を示す。
LUU’fUと直1゛′との・心苅保 ここて、本発明の実施例と第1図との対応関係を示して
おく。
メモリ111は、制御記憶(以後C3と称する)211
に相当する。
データ保持手段121は、リートデークラッチ223に
相当する。
エラー検出手段131は、エラー検出部231゜エラー
訂正制′41■部251に相当する。
訂正手段141は、エラー訂正部241に相当する。
判別手段151は、エラー訂正制御部251゜再実行フ
ラグ253に相当する。
以上のような対応関係があるものとして、以下本発明の
実施例について説明する。
1−」1齋別p」創に 第2図において、本発明の誤り訂正方式を適用したシス
テム(例えばコンピュータシステム)は、マイクロプロ
グラム及び対応するECCを格納するC3211と、読
み出したマイクロプログラムとECCとの比較を行なっ
てエラーを検出するエラー検出部231と、エラー検出
に伴う制御を行なうエラー訂正制御部251と、エラー
発生時にデータ(マイクロプログラム)の訂正を行なう
エラー訂正部241と、エラーの有無に応じたフラグを
格納する再実行フラグ253と、C3211に格納する
マイクロプログラム及びECCを保持するライトデーク
ラッチ263と、C3211から読み出したマイクロプ
ログラム及びECCを保持するり一ドデークラッチ22
3と、C3211に供給するアドレスデータを保持する
アドレスラッチ273と、エラー発生時のアドレスデー
タを保持するエラーアドレスラッチ275と、2人力の
一方を選択して出力する3つのセレクタ221゜261
.271とを備えでいる。
セレクタ271の第1入力端子にはC3211のアドレ
ス端子を行なうためのアドレスデータが導入される。セ
レクタ271の出力端はアドレスラッチ273の入力端
に接続されており、アドレスラッチ273の出力端はC
3211のアドレス端子及びエラーアドレスラッチ27
5の入力端に接続されている。エラーアドレスラッチ2
75の出力端はセレクタ271の第2入力端子に接続さ
れている。
また、セレクタ261の第1入力端子にはC3211に
格納するライトデータ(マイクロプログラム及び対応し
たECC)が導入される。セレクタ261の出力端はラ
イトデークラッチ263の入力端に接続されており、ラ
イトデークラッチ263の出力端はC3211のデータ
端子(入力側)に接続されている。
C3211のデータ端子(出力側)から出力されるデー
タ(マイクロプログラム、ECC)は、セレクタ221
の第1入力端子に供給される。セレクタ221の出力端
はリートデークラッチ223の入力端に接続されており
、ソー1−データラッチ223の出力端はエラー検出部
231の入力端及びエラー訂正部241に接続されてい
る。
エラー検出部231は、リートデークラッチ223から
供給されるデータに基づいてエラー検出を行なう。検出
結果はエラー訂正制御部251に供給される。
エラー訂正制御部251は、再実行フラグ253及びエ
ラー訂正部241に接続されており、エラー検出部23
]からの検出結果に応じて、再実行フラグ253のセッ
ト、リセットを行なうと共に、エラー訂正部241に指
示を送る。
尚、各ラッチ及び各セレクタにおいては、エラー訂正制
御部′251から送られてくる指示信号に応じて動作を
行なうものとし、図におけるエラー訂正制御部251と
の接続線は省略した。
C3211にライトデータ(マイクロプログラム、EC
C)の書込みを行なう場合、先ずライトデータラッチ2
63は、セレクタ261を介して導入されたライトデー
タを保持し、それらはC3211のデータ端子(入力側
)に供給される。
また、アドレスラッチ273は、セレクタ271を介し
て導入されたアドレスデータを保持し、そのアドレスデ
ータばC3211のアドレス端子に供給される。
C3211は、アドレス端子に供給されたアドレスデー
タで指定される格納場所に、データ端子に供給されたラ
イトデータを格納する。
C3211に格納されたマイクロプログラムを読み出す
場合、先ずアドレスランチ273は、セレクタ271を
介して導入されたアドレスデータを保持し、そのアドレ
スデータはC3211のアドレス端子に供給される。
C3211は、供給されたアドレスデータによって指定
される場所に格納されているマイクロプログラム及びE
CCを出力する。それらのデータはセレクタ221を介
してリードデータラッチ223に保持される。リードデ
ークラッチ223に保持されたマイクロプログラムは、
処理装置等(図示せず)に取り込まれて実行される。
皿−二り洛倒II加備 次に、上述した本発明実施例の動作を説明する。
いま、マイクロプログラムに対応するECCとしては、
1ビットエラー訂正、2ビットエラー検出用の符号を考
えるものとし、実施例で検出するエラーは、1ビツトエ
ラーあるいは2ピツI・エラーの何れかであるものとす
る。
第3図に、実施例における動作手順を示す。
」±1正正常化苛 先ず、C3211からマイクロプログラム及びFCCの
読出しを行なう(ステップ311)。読み出したこれら
のデータはり−ドブ−クラッチ223に保持する。
次に、エラー検出部231ば、読み出したデータのエラ
ー検出を行なう(ステップ312)。検出結果として、
エラー検出の有無、1ビツトエラーか2ビツトエラーか
等の情報がエラー訂正制御部251に送られる。
次に、エラー訂正制御部251は、再実行処理であるか
否かの判定を行なう(ステップ313)。
C3211から読み出したデータに対する1回目のエラ
ー検出処理のとき(再実行フラグ253がリセットされ
た状態のとき)は否定判断し、エラーが発生したか否か
の判定を行なう(ステップ314)。エラーを検出しな
かったときは否定判断する。
以後、ステップ311に戻って処理を繰り返す。
エラー訂正制御部251からアドレスラッチ273に指
示を送り、次のマイクロプログラムの読出しを行なう。
(ii 2ヒツトエラー 生■ ステップ314の判定で肯定判断(エラー発生の場合)
すると、次にエラー訂正制御部251は、発生したエラ
ーは2ピツ1〜エラーであるか否かの判定を行なう(ス
テップ315)。2ビツトエラーが発生したときは肯定
判断を行なう。
次に、エラー訂正制御部251はマイクロプログラムの
読出し処理を停止する(ステップ316)と共に、障害
発生の通知を行なって(ステップ317)、処理を終了
する。例えば、外部の処理装置8 置に2ビツトエラー発生を示すためのエラー信号を送っ
たり、2ビツトエラー用の警告ランプを点灯させたりす
る。
1i110 の1ヒツトエラー 生■、ステップ315
の判定で否定判断(2ピツI・エラーでない場合、つま
り1ビットエラーの場合)すると、次にエラー訂正制御
部251は、再実行フラグ253のセット(データ″1
”″の格納)を行なう(ステップ318)。
また、エラー訂正制御部251は、エラー訂正部241
に訂正指示を送り、エラー訂正部241はその指示に応
してマイクロプログラムの訂正を行なう(ステップ31
9)。エラー訂正部241は、リードデークラッチ22
3に保持されたマイクロプログラム及びECCを読み出
して、マイクロプログラムの中のエラーピットの訂正を
行なう。
次に、その訂正されたマイクロプログラム及び対応する
ECCをC3211に格納する(ステップ320)。セ
レクタ271を切り替えて、エラーアドレスラッチ27
5に保持されたエラー発生時のアドレスデータをアドレ
スラッチ273に保持する。アドレスラッチ273に保
持されたアドレスデータはC3211のアドレス端子に
供給される。また、セレクタ261を切り替えて、訂正
後のマイクロプログラム及びECCをライトデータラッ
ヂ263に保lへする。ライ1−データラッチ263に
保持されたそれらのデータはC3211のデータ端子に
供給される。
また、セレクタ221を切り替えて、訂正後のマイクロ
プロクラム及びECCをリードデークラッチ223に保
持する(ステップ321)。
以後、ステップ312(エラー検出)に戻って処理を繰
り返す。
」立升再尖往時 ステップ313の判定で肯定判断(ステップ318にお
いて再実行フラグ253がセットされた場合)すると、
次にエラー訂正制御部251は、マイクロプログラムの
読出し処理を停止する(ステップ322)と共に、エラ
ーが発生したか否かの判定を行なう(ステップ323)
肯定判断するとエラー訂正制御部251は、C8211
に障害が発生したことを示すエラー信号を出力して(ス
テップ324)、処理を終了する。
また、ステップ324で否定判断すると、C8211以
外のセレクタ221.リードデークラッチ223.エラ
ー検出部231.エラー訂正部241の何れかに障害が
発生したことを示すエラー信号を出力して(ステップ3
25)、処理を終了する。
■、 −乍Iのまとめ このように、C3211にマイクロプログラムと対応す
るECC&を格納しておき、C3211から読め出した
それらのデータをリートデータラッチ223に格納する
。エラー検出部231はそのデータのエラーを検出し、
データにエラーがないときは、C3211からのデータ
の読出しを絹ユ続する。
また、C3211から読み出したデータ(C8211か
らリードデークラッチ223に供給されたデータ)に1
ヒツトエラーがあったときは、エラー訂正部241でデ
ータの訂正を行ない、訂正データをC3211に書き込
むと共にリードデークラッチ223に保持する。
次に、リードデークラッチ223に保持された訂正デー
タに対してエラー検出を行ない、再度のエラーが発生し
た場合はC3211に障害があるものと判定し、再度の
エラーが発生しなかった場合はC3211以外の論理素
子に障害があるものと判定する。
尚、エラー検出部231で2ビツトエラーを検出した場
合は、データの訂正が不可能であり、上述の障害箇所判
別も不可能であるので、2ビツトエラーを外部に通知し
て処理を終了する。
従って、C3211から読み出したデータにエラーが発
生したときに、そのデータを訂正すると共に、再度その
訂正データに対してエラー検出を行なうことにより、エ
ラー発生の障害箇所を判定(C321]かそれ以外の論
理素子かの判定)できるので、メモリエラーの誤検出を
防止することがてきる。
]四【診態■ なお、上述した本発明の実施例にあっては、C8211
としてマイクロプログラムを格納する制御記憶を考えた
が、他のメモリ(ROM、RAM等)についても本発明
を適用することができる。
メモリとしてROM等の読出し専用の素子を考えた場合
には、第3図におけるステップ320の処理(メモリの
書替え)を省略する。
また、実施例のECCとしては、1ビットエラー訂正、
2ビツトエラー検出のものを考えたが、対応するデータ
を訂正することができるものであれば何でもよい。
更に、「1.実施例と第1図との対応関係」において、
本発明と実施例との対応関係を説明しておいたが、これ
に限られることはなく、本発明には各種の変形態様があ
ることは当業者であれば容易に推考できるであろう。
〔発明の効果〕
上述したように、本発明によれば、データにエラーが発
生したときに訂正手段で訂正を行なってデータ保持手段
に格納し、再度エラー検出を行なった結果に応してエラ
ー発生個所を判別することができるので、メモリエラー
の誤検出を防止することができるので、実用的には極め
て有用である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の誤り訂正方式の原理ブロック図、第2
図は本発明の誤り訂正方式を適用した一実施例の構成図
、 第3図は実施例の動作説明図、 第4図は従来例の構成図、 第5図は従来例の動作説明図である。 図において、 111はメモリ、 121はデータ保持手段、 131はエラー検出手段、 141は訂正手段、 151は判別手段、 211はC3, 221,261,271はセレクタ、 223はリードデークラッチ、 231はエラー検出部、 241はエラー訂正部、 251はエラー訂正制御部、 253は再実行フラグ、 263はライトデークラッチ、 273はアドレスラッチ、 275はエラーアドレスラッチである。 本を叩0I(fi理フパDワク恥 第1図 了P土ス       遺買入み、 を才象)のb作浣6日図 第5図 を牟創Q構吸図 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)誤り訂正符号を含むデータを格納するメモリ(1
    11)と、 前記メモリ(111)から読み出したデータを格納する
    データ保持手段(121)と、 前記データ保持手段(121)に格納されたデータに基
    づいてエラー検出を行なうエラー検出手段(131)と
    、 前記エラー検出手段(131)でエラーを検出したとき
    に、前記データ保持手段(121)に格納されたデータ
    の訂正を行ない、前記データ保持手段(121)に訂正
    データを格納する訂正手段(141)と、 前記エラー検出手段(131)による検出結果に基づい
    てエラー発生箇所の判別を行なう判別手段(151)と
    、 を備え、エラーが発生したときに、前記訂正手段(14
    1)でデータの訂正を行ない、訂正データに関するエラ
    ーの有無によってエラー発生箇所を判別するように構成
    したことを特徴とする誤り訂正方式。
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CN107068194A (zh) * 2017-04-20 2017-08-18 聚辰半导体(上海)有限公司 一种应用在eeprom上的错误纠正编码及相应的eeprom

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