JP2000074647A

JP2000074647A - 表示装置検査システム

Info

Publication number: JP2000074647A
Application number: JP11225464A
Authority: JP
Inventors: William Richard Lawrence; ウィリアム・リチャード・ローレンス
Original assignee: Hewlett Packard Co
Current assignee: HP Inc
Priority date: 1998-08-11
Filing date: 1999-08-09
Publication date: 2000-03-14
Also published as: US6219443B1

Abstract

(57)【要約】【課題】安価で、小さい欠陥も効率的に検出すること
ができる表示装置検査システムを提供する。【解決手段】表示装置検査装置１は、カメラ４および
処理回路５を備え、複数の画素を有する表示装置２を検
査する。表示装置２より低解像度のカメラ４は、検査対
象の表示装置２の画像を取込むように配置され、該取込
んだ画像を表す電気信号を出力する。処理回路５は、カ
メラ４から出力される電気信号を受信し、電気信号の平
均を取って表示装置２の輝度の平均に対応する平均表示
値を取得し、カメラ４の画素のブロックに対応する電気
信号の平均を取って平均ブロック値を取得し、平均ブロ
ック値の各々を平均表示値と比較して比較値を取得し、
比較値の１つが予め決められた閾値と概して等しくない
場合、検査対象の表示装置２が検査に失敗したと判断す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、表示装置を試験し
て検査する装置に関し、特に、検査対象の表示装置の解
像度に比較して相対的に低解像度のＣＣＤカメラを利用
する表示装置検査システムに関する。

【０００２】

【従来の技術】現在、全部ではないがほとんどの陰極線
管（ＣＲＴ, cathode ray tube）および液晶表示装置
（ＬＣＤ, liquid crystal display）は、視覚的に検査
され、表示装置内の画素がすべて正確に機能しているか
否かが判断される。この検査は、表示装置に１つ以上の
パターンを表示し、人がそのパターンを観察して欠陥を
見つけることによって行われる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この表
示装置の検査方法には、いくつかの欠点がある。１つの
欠点としては、表示装置上のパターンを観察している人
は、欠陥を見つけるためにスクリーンに近づき、そして
スクリーン全体を注意深く見なければならず、非常に時
間がかかる可能性がある。これにより、検査に関するコ
ストがかかることになる。また、他の欠点としては、人
間はこの種の検査に対し常に厳密に一貫しているとは限
らないため、同じ人が行う場合には日によって、異なる
複数の人が行う場合には人によって、結果が変化する可
能性がある。

【０００４】また、高解像度のカメラを用いて表示装置
を検査する方法も知られている。しかしながら、この種
の検査では、表示装置を検査するために用いるカメラ
は、検査対象の表示装置よりも高解像度である必要があ
る。表示装置が低解像度である場合は、高解像度カメラ
を用いて、カメラの出力をコンピュータに取込み、表示
装置上のパターンをコンピュータで分析して表示装置に
欠陥が存在するか否かを判断することにより、表示装置
を検査することが可能である。

【０００５】ほとんどの場合、表示装置を適切に検査す
るためには、表示装置の画素の数に対してカメラの画素
の数は９対１で多くなければならない。このような画素
の割合が必要であるために、試験することができる表示
装置の解像度が実質的に制限され、および／または、検
査に使用されるカメラのコストが非常に高くなる。さら
に、検査を行うために単一、かつ、そのカメラの解像度
が表示装置の解像度に近いカメラを使用する場合、この
カメラを備えた検出システムは、大きい欠陥、すなわ
ち、４画素の領域より広い領域をカバーする欠陥しか検
出することができない。一方、単一の高解像度カメラの
代りに複数のカメラを使用して検査を行うことができ
る。しかしながら、複数のカメラを使用すると、複数の
カメラの分だけコストが増えると共に処理時間も長くな
るため、検査時間および試験のコストが非常に増大する
という問題点がある。

【０００６】したがって、小さい欠陥を含む欠陥を効率
的に検出することができ、現行の検査システムおよび検
査方法の欠点を克服する、表示装置の欠陥を検査する方
法および装置が必要とされている。

【０００７】本発明は、上記問題点に鑑みてなされたも
ので、安価で、小さい欠陥も効率的に検出することがで
きる表示装置検査システムを提供することを目的とす
る。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明は、表示装置の欠
陥を検出する表示装置検査装置を提供する。本発明の表
示装置検査装置は、検査対象の表示装置の画像を取込む
カメラと、その取込んだ画像を処理して検査対象の表示
装置に欠陥があるか否かを判断する、例えばマイクロプ
ロセッサまたはデジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ, digi
tal signal processor）のような処理回路とを備える。
好ましくは、処理回路は、データ取得と共に取得したデ
ータの処理を制御して、検査対象の表示装置に欠陥があ
るか否かを判断する画像処理ソフトウエアを実行するマ
イクロプロセッサである。本発明によれば、検査対象の
表示装置より解像度が低い単一のカメラ（好ましくは、
ＣＣＤカメラ）を用いて、相対的に高解像度の表示装置
を検査することができる。

【０００９】カメラは、表示装置全体がカメラの視野に
入るように焦点が合わせられる。そして、カメラは、表
示装置の画像を取込み、取込んだ画像をデジタル化し、
デジタル化した画像データを、処理回路と通信するメモ
リ装置に記憶する。そして、処理回路は、メモリから画
像データを読出し、画像データすべての平均をとって表
示装置の明るさ（ brightness ）に対応する平均値（以
下、平均表示値ともいう。）を得る。本発明の第１実施
形態によれば、この平均値が得られると、画像データの
複数のブロック（例えば４×４画素ブロック）がメモリ
から読出され、各ブロックに対応する画像データの平均
が取られて、この各ブロックの平均（以下、ブロック平
均と称す。）が上記表示装置全体に対応する画像データ
の平均（以下、表示平均と称す。）と比較され、各ブロ
ックの平均値（以下、平均ブロック値ともいう。）が表
示装置全体の平均値と等しいか否かが判断される。そし
て、この比較の結果が、メモリに記憶される。次いで、
次の画像データのブロックがメモリから読出され、平均
がとられ、そのブロック平均が表示平均と比較される。

【００１０】この平均値プロセスは、画像データの最後
のブロックが処理されるまで実行される。そして、処理
回路は、結果を分析して、表示装置における欠陥の位置
を決定し、その後、検査の結果はメモリに記憶され、お
よび／または処理回路に接続された例えば表示モニタの
ような周辺装置に出力される。それによって、検査を行
っている人に、検査対象の表示装置における欠陥の位置
を知らせる。画像データのいずれかのブロックに欠陥が
発見された場合、欠陥の位置を処理回路が認識する。こ
れは、当業者に理解されているように、表示装置上の画
素座標がメモリのロケーションにマップされる方法を、
処理回路が認識しているためである。したがって、画像
データのブロックに欠陥が見つかると、処理回路によっ
て、画像データのブロックに対応する表示装置上の画素
の位置を決定することができる。

【００１１】本発明の第２実施形態によれば、処理回路
は、表示装置全体に対応する画像データの平均をとり、
その後、表示装置全体について標準偏差を計算する。そ
して、この標準偏差は、検査対象である特定の種類の表
示装置についての許容できる標準偏差と比較され、その
比較の結果が、メモリに記憶され、および／または処理
回路に接続された例えば表示モニタのような周辺装置に
出力される。それによって、検査を行っている人に、検
査の結果を知らせる。標準偏差プロセスを用いることに
より、検査対象の表示装置における弱い画素（ weak pi
xel ）の広い領域および曇った（cloudy）領域の位置を
捜し出すことができる。

【００１２】本発明の第３実施形態によれば、画像デー
タの複数の大きいブロックがメモリから読出され、例え
ば１００×１００の画素ブロックといった各ブロックの
平均がとられ、第１実施形態に関連して上述した平均値
プロセスを用いて、各ブロック平均が表示平均と比較さ
れる。しかしながら、各ブロックに対応する画像データ
の平均がとられて、それが表示平均と比較された後、各
ブロックについて標準偏差値が計算され、各ブロックの
標準偏差が許容できるか否かの判断がなされる。この判
断の結果は、メモリに記憶され、および／または周辺装
置を介して検査を行っている人に対して出力される。

【００１３】本発明の好ましい実施の形態によれば、第
１、第２および第３実施形態のプロセスを組込んだプロ
セスを利用する。この好ましい実施の形態によれば、一
旦表示画像全体について画像データの平均および標準偏
差が計算されると、その表示画像についての標準偏差お
よび平均が、たとえば、閾値と比較され、検査対象の特
定の表示装置についての規格限界（ specification lim
it）内にあるか否かが判断される。その規格限界内に無
い場合、本発明のプロセスおよび処理回路は、表示装置
が検査試験に失敗したと判断する。計算された平均およ
び標準偏差が規格限界内にある場合、表示装置上の各画
素は、表示平均±オフセットと比較される。なお、オフ
セットは、検査対象の表示装置の種類および表示装置が
使用されるアプリケーションによる予め決められた許容
値である。そして、この比較の結果を用いて、不良画素
の数、すなわち表示平均の標準偏差外にある画素の数、
および不良画素の位置が、検査対象の特定の表示装置に
ついての規格内にあるか否かが判断される。規格内に無
い場合、処理回路は、検査対象の表示装置が検査試験に
失敗したと判断する。規格内にある場合、画素の小ブロ
ックの平均がとられ、そのブロックについての標準偏差
が計算され、これらの値が表示平均±オフセットに対し
て比較されてブロックの各々が良か不良か判断される。

【００１４】そして、不良ブロックまたは不良サブグル
ープ（ subgroup ）、すなわち、計算された表示平均±
オフセット内になかったブロックの数、および不良サブ
グループの位置が、検査対象の特定の表示装置について
の規格内にあるか否かが判断される。規格内に無い場
合、処理回路は、その表示装置が検査試験に失敗したと
判断する。規格内にある場合、表示装置上の画素のより
広いブロックについてこのプロセスが繰返される。すべ
てのブロックについて、および表示装置の画素すべてに
ついてプロセス全体が実行されると、オール・オン（all
on）またはオール・オフ（all off）に関わらず、検査
は完了する。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
を図面を参照して説明する。図１は本実施形態に係る表
示装置の欠陥を検査する表示装置検査システムを示すブ
ロック図である。表示装置２を検査する表示装置検査シ
ステムに該当する表示装置検査装置１は、表示装置２の
画像を取込む光学検出装置に該当するカメラ４と、その
取込んだ画像を処理して検査対象の表示装置２に欠陥が
あるか否かを判断する処理回路５とを備えている。本実
施形態の処理回路は、図１においてスタンドアロン・コ
ンピュータとして表されているが、取込んだ画像を処理
する処理回路としていかなる特殊な種類のものにも限定
されない。処理回路は、例えば、あらゆる種類のマイク
ロプロセッサまたはマイクロコントローラ、デジタル信
号プロセッサ（ＤＳＰ）、特定用途向け集積回路（ＡＳ
ＩＣ）、プログラマブル・ロジック・コントローラ（ＰＬ
Ｃ, programmable logic controller ）およびプログラ
マブル・ロジック・アレイ（ＰＬＡ, programmable logic
array）等であってよい。好ましくは、処理回路は、デ
ータ取得と共に取得したデータの処理を制御して、検査
対象の表示装置に欠陥があるか否かを判断する画像処理
ソフトウエアを実行するマイクロプロセッサである。

【００１６】表示装置２は、例えば陰極線管（ＣＲ
Ｔ）、液晶表示装置（ＬＣＤ）、テレビジョンおよびコ
ンピュータ・モニタ等を含むいかなる種類の表示装置で
もよい。本質的に、本実施形態の表示装置検査システム
は、いかなる種類の光反射型または光照射型の表示装置
の検査に適している。本実施形態によれば、相対的に高
解像度の表示装置２を、検査対象の表示装置より低解像
度である単一のカメラ４（好ましくはＣＣＤカメラ）を
用いて、検査することができる。表示装置２より高解像
度のカメラを検査に用いることも可能である。しかしな
がら、表示装置は、概してカメラより高解像度である。
本実施形態の表示装置検査方法は、カメラ４が検査対象
の表示装置２より高解像度である場合にも同様に十分に
作用するが、非常に高解像度の単一のカメラを使用する
とコストが非常に高くなる。さらに、高解像度のカメラ
を使用することは、高解像度の表示装置を検査するため
に低解像度のカメラを使用するという本発明の目的の１
つに反することになる。

【００１７】なお、本実施形態の表示装置検査システム
にはいかなる種類のカメラも使用することができる、と
いうことは留意すべきである。好ましくは、画像データ
をデジタル・データに変換するデジタル出力カメラ（ di
gital output camera）を使用して、カメラの外部のア
ナログ／デジタル変換器を不要とする。好ましくは、本
発明で使用するカメラは、フィルファクタ（ fill fact
or）が高い。しかしながら、当業者に理解されるよう
に、必ずしもフィルファクタの高いカメラである必要は
ない。

【００１８】本発明の実施の形態はすべて、各カメラの
画素が、単一の表示画素がオンかオフかにより発生する
輝度（ light intensity）の差を検出することができる
という事実を利用する。好ましくは、各カメラ画素は、
少なくとも８ビットの解像度を有し、各画素が少なくと
も２５６レベルの輝度を測定することができる。表示装
置対カメラの解像度が、例えば４対１である場合、各カ
メラ画素は、４つの表示装置の画素を調べる。カメラの
画素（以下、カメラ画素という。）が表示装置の画素
（以下、表示装置画素という。）と位置合せされている
場合、各カメラ画素は、４つの表示装置画素からなる１
ブロックの中心に置かれることになる。「オール・オン
（ all on ）」検査が実行されており、カメラ画素によ
って調べられている４つの表示装置画素の１つが「スタ
ック・オフ（stuck off）」、すなわち機能しない（dea
d）場合、カメラ画素は、４つの表示装置画素がすべて
オンである場合のデジタル値より約２５％少ない値に対
応するデジタル値を有することになる。同様に、表示装
置画素うち２つが機能していない場合、カメラ画素は、
４つの画素がオンである場合のデジタル値より約５０％
少ない値に対応するデジタル値を有することになる。
「オール・オフ（ all off」」検査が実行されており、
表示装置画素の１つが「スタック・オン（stuck on）」
である場合、カメラ画素は平均値より実質的に高いデジ
タル値を有し、それにより、検査システムがスタック・
オンの画素を検出することができる。

【００１９】他の表示装置検査システムに対する本発明
の利点の１つは、本実施形態の表示装置検査装置１で
は、カメラ画素を表示装置画素と位置合せする必要がな
いことである。これは、高解像度の表示装置を扱う場
合、表示装置またはカメラがほんの僅かに移動すること
により、および／またはカメラの焦点が僅かに変化する
ことにより、カメラ画素が表示装置画素と位置が合わな
くなることに対し、非常に有効である。上述した例のよ
うに、表示装置対カメラの画素解像度が４対１であり、
カメラ画素が表示装置画素と位置合せされていない場
合、１つの表示装置画素は、最悪の場合４つのカメラ画
素にまたがる（straddle）可能性がある。したがって、
４つのカメラ画素が、１つの表示装置画素を調べること
になる。この場合、表示装置画素がスタック・オフであ
ると、４つのカメラ画素の各々は、カメラ画素によって
調べられている４つの表示装置画素がオンである場合の
デジタル値の約６％に対応するデジタル値を有すること
になる。これは、カメラ画素が表示装置画素に位置合せ
されている場合に測定される２５％の減少より値の差が
かなり小さいが、８ビット解像度のカメラ画素によって
測定される輝度の十分な低下となる。

【００２０】以下に、本実施形態の表示装置検査装置１
の動作を、図２〜図５に示す本発明の様々な実施の形態
に関連して説明する。図２は図１の表示装置検出システ
ムで利用される第１実施形態に係る表示装置検査方法を
示すフローチャート、図３は図１の表示装置検出システ
ムで利用される第２実施形態に係る表示装置検出方法を
示すフローチャート、図４は図１の表示装置検出システ
ムで利用される第３実施形態に係る表示装置検出方法を
示すフローチャート、図５は図１の表示装置検査システ
ムで利用される本発明の好ましい実施の形態による表示
装置検査方法を示すフローチャートであり、図２〜図５
に示す各実施形態の表示装置検出方法は検査対象の表示
装置に欠陥が存在するか否かを判断するものである。

【００２１】図２に示す本発明の第１実施形態によれ
ば、カメラ４は、表示装置２全体がカメラ４の視野内に
入るように焦点が合わせられる。そして、ステップ１１
において、カメラ４により表示装置２の画像が取込ま
れ、ステップ１３に示すように、その画像がデジタル化
され、ステップ１５では、そのデジタル化された画像デ
ータが、処理回路５と通信するメモリ装置（図示せず）
に記憶される。メモリ装置は、図１に示すコンピュータ
のハード・ドライブまたはＲＡＭでもよく、或いは、コ
ンピュータと通信する別個のメモリ装置でもよい。次
に、ステップ１８では、処理回路５によりメモリから画
像データが読出され、ステップ２１において、すべての
画像データの平均をとって表示装置２の明るさに対応す
る平均値が取得される。そして、ステップ２３で、この
平均表示値がメモリに記憶される。この平均値が得られ
ると、ステップ２４に示すように、Ｎ×Ｎ画素、例えば
４×４画素のブロックのような画像データの複数のブロ
ックがメモリから読出され、ステップ２８および２９に
おいて、各ブロックに対応する画像データの平均がとら
れ、表示装置全体に対応する画像データの平均と比較さ
れて各ブロックの平均値（平均ブロック値）が表示装置
全体の平均値（平均表示値）と等しいか否かが判断され
る。次いで、ステップ３１および３２では、この比較の
結果がメモリに記憶される。そして、ステップ３１，３
２，２４，２８，２９に示すように、次のデータのブロ
ックがメモリから読出され、平均がとられ、そのブロッ
ク平均が表示平均と比較される。次に、ステップ３１に
おいて、この比較の結果がメモリに記憶される。

【００２２】この平均値プロセスは、ステップ３５に示
すように、画像データの最後のブロックが処理される、
すなわち最後のブロックが比較されるまで実行される。
そして、処理回路により、結果が分析されて表示装置に
おける欠陥の位置が決定され、ステップ４０において、
検査の結果がメモリに記憶され、および／または処理回
路に接続された、例えば表示モニタのような周辺装置に
出力される。これによって、検査を行っている人に、検
査対象の表示装置における欠陥の位置を知らせる。画像
データのいずれかのブロックに欠陥が発見された場合、
処理回路５は、その欠陥の位置を認識する。これは、当
業者に理解されているように、表示装置の画素座標がメ
モリのロケーションにマップされる方法を、処理回路５
が認識しているためである。したがって、画像データの
ブロックに欠陥が見つかると、画像データのブロックに
対応する表示装置の画素の位置を、処理回路５によって
決定することができる。

【００２３】図３に示す本発明の第２実施形態によれ
ば、処理回路５は、表示装置全体に対応する画像データ
の平均をとり、その後表示装置全体の標準偏差を計算す
る。カメラ４は、表示装置２全体がカメラ４の視野内に
入るように焦点が合わせられる。そして、ステップ４３
では、カメラ４により表示装置２の画像が取込まれ、ス
テップ４４において、画像がデジタル化され、ステップ
４６で処理回路５と通信するメモリにデジタル化した画
像が記憶される。次に、ステップ４８では、処理回路５
により画像データがメモリから読出され、ステップ５１
において、すべての画像データの平均がとられて表示装
置２の明るさに対応する平均値（平均表示値）が取得さ
れる。そして、ステップ５２で、平均表示値がメモリに
記憶される。この平均値が得られると、ステップ５４に
示すように、表示装置の画像について標準偏差が計算さ
れる。次に、ステップ５７において、この標準偏差（図
において標準偏差１と示す）が、検査対象である特定の
種類の表示装置についての許容できる標準偏差（図にお
いて標準偏差０と示す）と比較される。そして、ステッ
プ５８および５９では、この比較の結果がメモリに記憶
され、および／または処理回路に接続された例えば表示
モニタのような周辺装置に出力される。これによって、
検査を行っている人に、検査の結果を知らせる。標準偏
差のプロセスを用いることにより、表示装置２の弱い画
素の広い領域および曇った領域の位置を捜し出すことが
できる。

【００２４】図４に示す本発明の第３実施形態によれ
ば、画像データの大きいブロックがメモリから読出さ
れ、各ブロックに対応する画像データの平均がとられ、
第１実施形態に関連して上述した平均値プロセスを用い
て、各ブロックの平均が表示装置全体の平均と比較され
る。各ブロックの平均がとられて、このブロック平均が
表示平均と比較された後、各ブロックについて標準偏差
値が計算され、各ブロックの標準偏差が許容できるか否
かの判断がなされる。この判断の結果は、メモリに記憶
され、および／または周辺装置を介して、検査を行って
いる人に対して出力される。上述した実施の形態と同様
に、カメラ４は、表示装置２全体がカメラ４の視野に入
るように表示装置２に焦点が合わせられる。そして、ス
テップ６１では、カメラ４により表示装置２の画像が取
込まれ、ステップ６３において、画像がデジタル化さ
れ、ステップ６４で、そのデジタル化された画像がメモ
リに記憶される。

【００２５】次に、ステップ６６では、処理回路５によ
り画像データがメモリから読出され、ステップ６６にお
いて、すべての画像データの平均がとられて表示装置２
の明るさに対応する平均値が取得される。そして、ステ
ップ６７では、この平均表示値がメモリに記憶される。
この平均値が得られると、ステップ６９において、例え
ば１００×１００画素のブロックのような画像データの
ブロックがメモリから読出され、ステップ７１および７
２にそれぞれ示すように、各ブロックの平均がとられ
る。そして、ステップ７３において、このブロック平均
が表示装置の平均と比較され、各ブロックの平均値が表
示装置全体の平均値と等しいか否かが判断される。次
に、ステップ７４および７５では、この比較の結果がメ
モリに記憶される。そして、ステップ７７で、そのブロ
ックについて標準偏差が計算され、ステップ７８におい
て、その標準偏差が許容できるか否かが判断される。次
に、ステップ８１では、その結果がメモリに記憶され、
および／または適当な周辺装置に出力される。このプロ
セスは、ステップ８２に示すように、画像データの最後
のブロックが処理されるまで実行される。

【００２６】図５のフローチャートに示す本発明の好ま
しい実施の形態は、詳細を上述した本発明の第１実施形
態、第２実施形態、第３実施形態のプロセスを組込んで
いる。この好ましい実施の形態によれば、ステップ９
１，９２，９３にそれぞれ示すように、表示画像が取込
まれ、デジタル化され、メモリに記憶されると、ステッ
プ９５，９６，９８にそれぞれ示すように、その画像デ
ータがメモリから読出され、表示装置について平均およ
び標準偏差が計算される。次に、ステップ１０１におい
て、表示装置の画像に対する標準偏差および平均が、検
査対象の特定の表示装置についての規格限界内にあるか
否かが判断される。規格限界内に無い場合、ステップ１
０２において、本発明のプロセスおよび処理回路によ
り、表示装置が検査試験に失敗したと判断される。計算
された平均および標準偏差が規格限界内にある場合、ス
テップ１０４において、表示装置の各画素が表示装置の
平均±オフセットと比較される。このオフセットは、検
査対象の表示装置の種類およびその特定の表示装置が使
用されるアプリケーションによって決まる予め選択され
た許容値である。例えば、検査対象の表示装置がグラフ
ィクス・ワークステーションのモニタとして使用される
場合、許容値は非常に小さくてよい。これは、この場
合、表示装置にいかなる欠陥も、たとえ非常に小さい欠
陥でさえも存在することが望ましくないためである。し
かしながら、例えば、表示装置が、空港でフライト情報
を表示するコンピュータ・モニタとして使用される場合
のように、いくつかの欠陥が許容され得る場合、オフセ
ットはより大きくてよい。

【００２７】そして、ステップ１０６では、この比較の
結果を用いて、不良画素の数、すなわち、表示平均の標
準偏差外にある画素の数、および不良画素の位置が、検
査対象である特定の表示装置についての規格内にあるか
否かが判断される。規格内に無い場合、処理回路によ
り、検査対象の表示装置が検査試験に失敗したと判断さ
れ、ステップ１０２に進む。規格内にある場合、ステッ
プ１０９において、画素の小ブロックの平均がとられ、
そのブロックの各々の標準偏差が計算され、これらの値
が表示装置の平均±オフセットに対して比較され、各ブ
ロックが良か不良か判断される。そして、ステップ１１
１では、不良ブロックまたは不良サブグループの数（す
なわち、計算された表示平均±オフセット内に無かった
ブロックの数）およびその不良サブグループの位置が、
検査対象である特定の表示装置についての規格内にある
か否かが判断される。規格内に無い場合、ステップ１０
２において、処理回路により、表示装置が検査試験に失
敗したと判断される。規格内にある場合、ステップ１１
３および１１４において、このプロセスが、表示装置の
画素のより大きいブロックについて繰返される。ステッ
プ１１６では、プロセス全体が、すべてのブロックにつ
いておよび表示装置のすべての画素について、オール・
オン（明るい）であるか、オール・オフ（暗い）である
か、または中間レベルすなわちグレイであるかに関わら
ず、実行される。

【００２８】なお、本発明は、特定の実施の形態につい
て説明してきたが、それらの実施の形態に関連して限定
されるものではないことは、留意すべきである。例え
ば、図２〜図５に示す各実施の形態は、検査対象の表示
装置に欠陥があるか否かを判断するための特定のステッ
プ・シーケンスを列挙しているが、当業者にとっては、
列挙されたステップのすべてを必ずしも実行する必要は
なく、また、いくつかのステップが実行される順序は変
更してもよい、ということが理解されるであろう。ま
た、当業者には、本発明が、本発明の表示装置検査プロ
セスを実行するために利用される構成要素（すなわち、
処理回路５およびカメラ４）の種類に関連して限定され
るものではない、ということが明らかであろう。当業者
にとっては、本発明の精神および範囲を逸脱することな
く、本発明のシステムについて他の変形例が可能である
ことが明らかであろう。

【００２９】以下に本発明の実施の形態を要約する。

【００３０】１．複数の画素を有する表示装置（２）を
検査する表示装置検査システム（１）であって、検査対
象の表示装置（２）の画像を取込むように配置され、該
取込んだ画像を表す光学検出装置（４）の画素に対応す
る電気信号を出力する光学検出装置（４）と、前記光学
検出装置（４）から出力される前記電気信号を受信する
処理回路（５）であって、前記表示装置の輝度の平均に
対応する平均表示値を取得するために前記電気信号の平
均を取り（２１）、平均ブロック値を取得する（２８）
ために前記光学検出装置（４）の画素のブロックに対応
する前記電気信号の平均を取り、比較値を取得する（２
９）ために前記平均ブロック値の各々を前記平均表示値
と比較し、前記比較値の１つが予め決められた閾値とほ
ぼ等しくない場合、検査対象の前記表示装置（２）が前
記検査に失敗したと判断する処理回路（５）とを備える
表示装置検査システム（１）。

【００３１】２．前記表示装置（２）が構成する画素の
数は、前記光学検出装置（４）が構成する前記画素の数
より多い上記１記載の表示装置検査システム（１）。

【００３２】３．前記光学検出装置（４）から出力され
る前記電気信号は、デジタル画像データに対応するデジ
タル信号であり、前記処理回路（５）は、該処理回路
（５）によって構成されるメモリ装置に前記デジタル画
像データを記憶し、前記デジタル画像データが前記メモ
リ装置に記憶されると、前記処理回路（５）は、前記メ
モリ装置から前記デジタル画像データを読出し、該デジ
タル画像データの平均を取り前記平均表示値を取得する
上記１記載の表示装置検査システム（１）。

【００３３】４．前記処理回路（５）は、前記平均表示
値と前記平均ブロック値とを計算し、前記平均ブロック
値を前記平均表示値と比較するコンピュータ（５）を有
する上記３記載の表示装置検査システム（１）。

【００３４】５．前記処理回路（５）は、前記平均表示
値を用いて検査対象の前記表示装置（２）の標準偏差値
を計算し（５４）、前記計算した標準偏差値を閾値の標
準偏差値と比較（５７）して検査対象の前記表示装置
（２）に欠陥があるか否かを判断する上記１記載の表示
装置検査システム（１）。

【００３５】６．前記コンピュータ（５）は、前記計算
した標準偏差値を閾値の標準偏差値と比較して前記計算
した標準偏差値が検査対象である前記特定の表示装置
（２）についての規格限界内にあるか否かを判断し（１
０１）、前記計算した標準偏差が規格限界内にあると判
断した場合は、前記表示装置（２）の各画素値を、前記
平均表示値にオフセット値を足したものに等しい第１の
合計値および前記平均表示値からオフセット値を引いた
ものに等しい第２の合計値と比較し（１０４）、前記比
較した表示画素値が前記第１の合計より大きい場合は、
前記比較した表示画素値に対応する前記表示画素に欠陥
があると判断し、前記比較した表示画素値が前記第２の
合計より小さい場合、前記第２の合計に比較された前記
表示画素値に対応する前記表示画素に欠陥があると判断
する上記４記載の表示装置検査システム（１）。

【００３６】７．前記コンピュータ（５）は、欠陥のあ
る表示画素の数をカウントして欠陥画素合計を取得し
（１０６）、前記欠陥画素合計を予め決められた閾値と
比較して前記欠陥画素の数が前記予め決められた閾値を
超えるか否かを判断し（１０６）、前記欠陥画素合計が
前記予め決められた閾値を超えると判断した場合、前記
表示装置（２）に欠陥があると判断する（１０２）上記
６記載の表示装置検査システム（１）。

【００３７】８．前記コンピュータ（５）は、前記欠陥
画素合計が前記予め決められた閾値を超えないと判断し
た場合、表示画素の小さいブロックの画素値を、前記平
均表示値にオフセット値を足したものに等しい第3の合
計値および前記平均表示値からオフセット値を引いたも
のに等しい第４の合計値と比較し（１０９）、前記比較
した表示画素値が前記第３値の合計より大きい場合、前
記第3の合計に比較された前記比較した表示画素値に対
応する前記表示画素に欠陥があると判断し（１１１）、
前記比較した表示画素値が前記第４の合計より小さい場
合、前記第４の合計に比較された前記表示画素値に対応
する前記表示画素に欠陥があると判断し（１１１）、特
定のブロックの欠陥表示画素の数が予め決められた数を
超える場合、前記特定のブロックに欠陥があると判断す
る（１１１，１０２）上記７記載の表示装置検査システ
ム（１）。

【００３８】９．前記コンピュータ（５）は、前記欠陥
のブロック数をカウントして欠陥ブロックの合計を取得
し、前記欠陥ブロック数を予め決められた閾値の欠陥ブ
ロック数と比較し（１１４）、前記欠陥ブロック合計が
前記予め決められた閾値の欠陥ブロック数を超える場
合、検査対象の前記表示装置（２）に欠陥があると判断
する（１１４，１０２）上記８記載の表示装置検査シス
テム（１）。

【００３９】１０．複数の画素を有する表示装置（２）
を検査する方法であって、検査対象の表示装置（２）の
画像を取込み（１１）、前記取込んだ画像を表すと共に
各々が光学検出装置（４）の画素に対応する電気信号を
生成し（１３）、前記電気信号のすべての平均をとっ
て、前記表示装置（２）の輝度の平均に対応する平均表
示値を取得し（２１）、前記光学検出装置（４）の画素
のブロックに対応する前記電気信号の平均をとって平均
ブロック値を取得し（２８）、前記平均ブロック値の各
々を前記平均表示値と比較して比較値を取得し（２
９）、前記比較の結果に基づいて、検査対象の前記表示
装置（２）が検査に失敗したか否かを判断する（４０）
表示装置検査方法。

【００４０】

【発明の効果】本発明によれば、安価で、小さい欠陥も
効率的に検出することができる表示装置検査システムを
提供することできるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本実施形態に係る表示装置の欠陥を検査する表
示装置検査システムを示すブロック図である。

【図２】図１の表示装置検出システムで利用される第１
実施形態に係る表示装置検査方法を示すフローチャート
である。

【図３】図１の表示装置検出システムで利用される第２
実施形態に係る表示装置検出方法を示すフローチャート
である。

【図４】図１の表示装置検出システムで利用される第３
実施形態に係る表示装置検出方法を示すフローチャート
である。

【図５】図１の表示装置検査システムで利用される本発
明の好ましい実施の形態による表示装置検査方法を示す
フローチャートである。

【符号の説明】

１表示装置検査装置２表示装置４カメラ５処理回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】複数の画素を有する表示装置（２）を検査
する表示装置検査システム（１）であって、検査対象の表示装置（２）の画像を取込むように配置さ
れ、該取込んだ画像を表す光学検出装置（４）の画素に
対応する電気信号を出力する光学検出装置（４）と、前記光学検出装置（４）から出力される前記電気信号を
受信する処理回路（５）であって、前記表示装置の輝度
の平均に対応する平均表示値を取得するために前記電気
信号の平均を取り（２１）、平均ブロック値を取得する
（２８）ために前記光学検出装置（４）の画素のブロッ
クに対応する前記電気信号の平均を取り、比較値を取得
する（２９）ために前記平均ブロック値の各々を前記平
均表示値と比較し、前記比較値の１つが予め決められた
閾値とほぼ等しくない場合、検査対象の前記表示装置
（２）が前記検査に失敗したと判断する処理回路（５）
とを備えることを特徴とする表示装置検査システム
（１）。