JPH01259170A - 絶縁体上に金属構造を製造する方法 - Google Patents
絶縁体上に金属構造を製造する方法Info
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/14—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using spraying techniques to apply the conductive material, e.g. vapour evaporation
- H05K3/146—By vapour deposition
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/06—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of metallic material
- C23C16/16—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of metallic material from metal carbonyl compounds
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/06—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of metallic material
- C23C16/18—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of metallic material from metallo-organic compounds
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は金属フィルムの形成下のグロー放電での金属有
機化合物の分Ml/cより絶縁体上に金Metal 1
struktur 属構造(M零呻吐扛ミ化に紐t)を製j貢する方法に関
する。
機化合物の分Ml/cより絶縁体上に金Metal 1
struktur 属構造(M零呻吐扛ミ化に紐t)を製j貢する方法に関
する。
プラスチック士への金属フィルムの製造は慣用の方法で
通常は湿式化学的に、金属被覆すべき部分を特別に基質
のために処方された一□連の清浄化−1腐蝕−1−面子
入れ一1活性化−および金属被覆浴中に浸漬することに
より行う。
通常は湿式化学的に、金属被覆すべき部分を特別に基質
のために処方された一□連の清浄化−1腐蝕−1−面子
入れ一1活性化−および金属被覆浴中に浸漬することに
より行う。
この際表面は清浄化および表面手入れ後まず貴金属含有
溶液で処理されかつその後活性化された面上に慣用の方
法で金属被覆される。
溶液で処理されかつその後活性化された面上に慣用の方
法で金属被覆される。
、 処理浴は大体において水溶液であり、一部はしかし
有機溶剤も含有する。この処方の欠点は一部は、相当す
る安全予防処置が前提とされる、使用される化合物の著
しい揮発性での高い毒性である。ポリテトラフルオルエ
チレンの場合、材料の高い疎水性のために腐蝕溶液とし
てナトリウム−カルボアニオン−錯体を主体とする純粋
な有機処方のみが公知であり、これは最終的に塗布すべ
き金属フィルムの十分な付着を保証する。従って前処理
化学の毒性および安全性の理由力らポリテトラフルオル
エチレンは電気化学で基質として、その電気的および化
学的特性値に関したいていの他の材料よりはるかにすぐ
れているにもかかわらず、もはや実施できなくなった。
有機溶剤も含有する。この処方の欠点は一部は、相当す
る安全予防処置が前提とされる、使用される化合物の著
しい揮発性での高い毒性である。ポリテトラフルオルエ
チレンの場合、材料の高い疎水性のために腐蝕溶液とし
てナトリウム−カルボアニオン−錯体を主体とする純粋
な有機処方のみが公知であり、これは最終的に塗布すべ
き金属フィルムの十分な付着を保証する。従って前処理
化学の毒性および安全性の理由力らポリテトラフルオル
エチレンは電気化学で基質として、その電気的および化
学的特性値に関したいていの他の材料よりはるかにすぐ
れているにもかかわらず、もはや実施できなくなった。
毒性処理浴の除去も問題である。
湿式化学方法の他の重要な欠点は、所望の付着値を達成
するために、金属被覆される前に比較的複雑な前処理が
企図されることにある。その際各々の場合たとえば温度
および処理時間のような方法技術的パラメタは狭い境界
内に保たれ、そこで場合により広範囲な工程コントロー
ルが必要とされる。工程で制限された方法変動による処
理浴の混交の危険は大きくかつ明らかな品質変動を結果
として生じる。処理溶液の攻撃性は場合により被覆塗装
または一シートに品質低下作用と及ぼす。
するために、金属被覆される前に比較的複雑な前処理が
企図されることにある。その際各々の場合たとえば温度
および処理時間のような方法技術的パラメタは狭い境界
内に保たれ、そこで場合により広範囲な工程コントロー
ルが必要とされる。工程で制限された方法変動による処
理浴の混交の危険は大きくかつ明らかな品質変動を結果
として生じる。処理溶液の攻撃性は場合により被覆塗装
または一シートに品質低下作用と及ぼす。
他の被覆方法は揮発性金属化合物の熱分解である。この
方法は非常に高い基質温度(最低200℃、実際にはし
かし300〜1000°C)を前提とし、これはしかし
上記の材料の場合は達してはならないかまたは物質損傷
の危険下にのみ達成される。
方法は非常に高い基質温度(最低200℃、実際にはし
かし300〜1000°C)を前提とし、これはしかし
上記の材料の場合は達してはならないかまたは物質損傷
の危険下にのみ達成される。
発明が解決しようとする問題点
本発明の課題は、フッ素ポリマーおよび熱可塑性プラス
チック上に強付着性金属構造を製造することであった。
チック上に強付着性金属構造を製造することであった。
このようにして製造された半製品はたとえばエレクトロ
ニクス工業で、殊に導体板、ノ・イブリッド接続、チッ
プ、導体路構造を有する三次元成形体のキャリヤーまた
は電磁場の遮閉のために使用する全面的に金属被覆され
た三次元成形体のキャリヤーの製造のために使用する。
ニクス工業で、殊に導体板、ノ・イブリッド接続、チッ
プ、導体路構造を有する三次元成形体のキャリヤーまた
は電磁場の遮閉のために使用する全面的に金属被覆され
た三次元成形体のキャリヤーの製造のために使用する。
たとえばポリテトラフルオルエチレン、ポリアミド、ポ
リエーテルイミドおよび−スルホン、ポリパラフェニレ
ンスルフィド、ポリエステルまたはパラ結晶ポリマーの
ような上記材料はたとえば導体板工業で使用されるエポ
キシ樹脂のような従来のポリマーとは明らかによシ良い
電気的、機械的ないしは化学的特性により異っておシか
つ熱可塑性材料の場合、射出成形の技術により比較的簡
単な方法で任意の三次元形が製造できるという付加的な
利点を有する。
リエーテルイミドおよび−スルホン、ポリパラフェニレ
ンスルフィド、ポリエステルまたはパラ結晶ポリマーの
ような上記材料はたとえば導体板工業で使用されるエポ
キシ樹脂のような従来のポリマーとは明らかによシ良い
電気的、機械的ないしは化学的特性により異っておシか
つ熱可塑性材料の場合、射出成形の技術により比較的簡
単な方法で任意の三次元形が製造できるという付加的な
利点を有する。
問題点を解決するための手段
この課題は請求項の特徴部により解決する。
この方法の有利な実施は請求項に記載されている。
本発明による方法は、最初の金属被覆までの湿式化学的
作業経過が、本発明の有利な実施形ではまた最初の金属
被覆も含めて全ての上記の湿式化学的作業経過が避けら
れることにより、公知の方法の欠点を克服しないしはこ
れを明らかに和らげる。これは本発明により、上記材料
の金属被覆をプラズマ中での金属有機化合物の分解によ
り実施することにより達成する。この際処理時間に応じ
て約2000Xまでの100の層が得られ、これは引続
き一部の前処理なしに一化学的銅一またはニッケル浴中
、メツキ浴(たいていは銅浴)中で所望の層厚まで厚く
される。
作業経過が、本発明の有利な実施形ではまた最初の金属
被覆も含めて全ての上記の湿式化学的作業経過が避けら
れることにより、公知の方法の欠点を克服しないしはこ
れを明らかに和らげる。これは本発明により、上記材料
の金属被覆をプラズマ中での金属有機化合物の分解によ
り実施することにより達成する。この際処理時間に応じ
て約2000Xまでの100の層が得られ、これは引続
き一部の前処理なしに一化学的銅一またはニッケル浴中
、メツキ浴(たいていは銅浴)中で所望の層厚まで厚く
される。
より厚い、本発明による方法によシ製造された、関連す
る金属層の場合、電気メツキが直接引き続くことが有利
である。
る金属層の場合、電気メツキが直接引き続くことが有利
である。
金属構造の発生は公知方法により(フルアデイティブ−
、セミアデイティブ−、ザブトラクト方1去)により、
たとえば、基質表面がプラズマ−金属被覆の間マスクに
より覆われ、そこで金属構造を有すべき場所だけが自由
にされることにより行う。たとえばスクリーン印刷ラッ
カー、フォトラッカーまたはフォトレジストフィルムを
用いる、構成の他の実施形は工業でさらに広められてお
りかつ公知である。
、セミアデイティブ−、ザブトラクト方1去)により、
たとえば、基質表面がプラズマ−金属被覆の間マスクに
より覆われ、そこで金属構造を有すべき場所だけが自由
にされることにより行う。たとえばスクリーン印刷ラッ
カー、フォトラッカーまたはフォトレジストフィルムを
用いる、構成の他の実施形は工業でさらに広められてお
りかつ公知である。
もちろんセミアデイティブまたはサプトシクト方法によ
る構成は場合により実施すべき湿式化学的金属被覆方法
の間も工業で公知の方法の適用により行うことができる
。
る構成は場合により実施すべき湿式化学的金属被覆方法
の間も工業で公知の方法の適用により行うことができる
。
本発明による方法による金属被覆方法は、グロー放電プ
ラズマ中の金属有機化合物、特に第1および第8亜族の
元素の分解により行う。しかし遷移金属または主属金属
の他の金属有機化合物(たとえばスズ化合物のような)
も使用する。
ラズマ中の金属有機化合物、特に第1および第8亜族の
元素の分解により行う。しかし遷移金属または主属金属
の他の金属有機化合物(たとえばスズ化合物のような)
も使用する。
たとえばπ−アリル−π−シクロペンタジェニル−パラ
ジウム、ジメチル−π−シクロペンタジェニル−白金、
ジメチル−金−アセチルアセトネ−1・および銅−ヘキ
サフルオル−アセチルアセトネートのような分解されず
に一場合により加熱下に−ガス相に移行できるような金
属有機化合物を使用する。
ジウム、ジメチル−π−シクロペンタジェニル−白金、
ジメチル−金−アセチルアセトネ−1・および銅−ヘキ
サフルオル−アセチルアセトネートのような分解されず
に一場合により加熱下に−ガス相に移行できるような金
属有機化合物を使用する。
特に有利には、数種の金属の組合せが製造され、その1
つは基質に対する特に良好な付着および他のものは引続
く金属層に対する特に良好な付着を有する。例に適用が
記載されている。
つは基質に対する特に良好な付着および他のものは引続
く金属層に対する特に良好な付着を有する。例に適用が
記載されている。
請求項の特徴部の意味でのプラズマ金属被覆は技術的に
公知のスパッタ方法に対し、複雑に成形された部分も金
属被覆できるという利点を有する。たとえばへき開1、
せん孔(たとえば導体板のポーリング)または後部切断
の直接範囲での金属被覆を達成することがCきる。
公知のスパッタ方法に対し、複雑に成形された部分も金
属被覆できるという利点を有する。たとえばへき開1、
せん孔(たとえば導体板のポーリング)または後部切断
の直接範囲での金属被覆を達成することがCきる。
金属被覆は主に管状−丑たはトンネル状反応器捷たは平
行板反応器およびコロナ1!1.軍用反応器として公知
である、通常のプラズマ反応器中で行う。金属フィルム
ードよび構造の製造のためにプラズマは直流でも交流で
も、高周波数(マイクロ波も含む)、一般にkHz −
”lたば1甜2−範囲でも発生できる。プラズマ室中の
圧力は0.1〜2.0hPaである。基質としてたとえ
ばポリテトラフルオルエチレンのような上記のフッ素ポ
リマーおよびたとえばポリアミド、ポリエーテルイミド
および一スルホン、ポリパラフェニルスルフィド、ポリ
エステルおよ0: ハラ結晶ポリマーのような熱可塑性
プラスチック′f:種種の実施形で、試験物質またはシ
ートとして、填料と一緒にまたけ横斜なしに一層または
多層で使用する。
行板反応器およびコロナ1!1.軍用反応器として公知
である、通常のプラズマ反応器中で行う。金属フィルム
ードよび構造の製造のためにプラズマは直流でも交流で
も、高周波数(マイクロ波も含む)、一般にkHz −
”lたば1甜2−範囲でも発生できる。プラズマ室中の
圧力は0.1〜2.0hPaである。基質としてたとえ
ばポリテトラフルオルエチレンのような上記のフッ素ポ
リマーおよびたとえばポリアミド、ポリエーテルイミド
および一スルホン、ポリパラフェニルスルフィド、ポリ
エステルおよ0: ハラ結晶ポリマーのような熱可塑性
プラスチック′f:種種の実施形で、試験物質またはシ
ートとして、填料と一緒にまたけ横斜なしに一層または
多層で使用する。
本発明による方法による金属被覆のために使用される金
属有機化合物はプラズマ反応器に、ガス状で特に昇華ま
たは蒸発により供給される。
属有機化合物はプラズマ反応器に、ガス状で特に昇華ま
たは蒸発により供給される。
これは単独で使用でき、一般にしかし均一な、孔のない
層を得るために相持がスで希釈される。
層を得るために相持がスで希釈される。
担持がスとしてアルゴンおよびヘリウムのような不活性
ガス贅たは水素のような還元−ゲスが好適であり;混合
物も使用できる。有機−金属化金物の供給1・ま真空の
設定によりグロー放電帯域の外で相持ガス流中で行い、
そこで固有の反応範囲中に均一ながス混合物が存在する
。金属化合物の貯蔵容器は有利に、昇華することが困難
な金属化合物を十分な量でガス流中に導くために、加熱
のだめの装置を装えている。
ガス贅たは水素のような還元−ゲスが好適であり;混合
物も使用できる。有機−金属化金物の供給1・ま真空の
設定によりグロー放電帯域の外で相持ガス流中で行い、
そこで固有の反応範囲中に均一ながス混合物が存在する
。金属化合物の貯蔵容器は有利に、昇華することが困難
な金属化合物を十分な量でガス流中に導くために、加熱
のだめの装置を装えている。
本発明による方法の有利な実施形は、基質表面を清浄化
しかつ金属層の受は入れを容易にするために、金属被覆
工程前にプラズマ放電でプラズマ−腐蝕工程を実施する
ことから成る。反応器および方法条件の実施形(riプ
ラズマ−金属被覆工程から区別されない。もちろんしか
しプラズマ−腐蝕工程の際金属有機化合物は使用しない
。有利に不活性相持ガスにたとえば酸素丑たはテトラフ
ルオルメタン−酸素のような反応性ガスを添加する。
しかつ金属層の受は入れを容易にするために、金属被覆
工程前にプラズマ放電でプラズマ−腐蝕工程を実施する
ことから成る。反応器および方法条件の実施形(riプ
ラズマ−金属被覆工程から区別されない。もちろんしか
しプラズマ−腐蝕工程の際金属有機化合物は使用しない
。有利に不活性相持ガスにたとえば酸素丑たはテトラフ
ルオルメタン−酸素のような反応性ガスを添加する。
二者択一的な方法別法は、たとえば腐蝕ガスを腐帥工程
の直後金属有機化合物を含有する貯蔵容器を介して導き
、そこで金属有機化合物を反応帯域に導入しかつ金属析
出を始めることによシ、腐蝕工程および金属被覆をプラ
ズマ中の工程で実施するこ′とから成る。例でこの適用
を記載する。
の直後金属有機化合物を含有する貯蔵容器を介して導き
、そこで金属有機化合物を反応帯域に導入しかつ金属析
出を始めることによシ、腐蝕工程および金属被覆をプラ
ズマ中の工程で実施するこ′とから成る。例でこの適用
を記載する。
次側につき本発明を詳述する。
実施例
例 1
ポリエーテルイミド上への銅の析出
反応器タイプ 平行板反応器
周波数 13.56 MH2
基 質 ポリエーテルイミド小板被覆なしく U
LTBMRXFirmaGeneral Electr
ic Plastics )基質温度 296に 1、前処理: 腐蝕ガス: 02/Ar−混合物1:1反応器中の圧カ
ニ8Pa 作用時間 60分 2、金属被覆: 金属有機化合物:銅ヘキサフルオルアセチルアセトネー
ト 金属有機化合物の貯蔵容器の温度:338に担持がス:
水素 反応器中の圧カニ 25 Pa 作用時間=10分 ポリエーテルイミド小板(70X4[IX4mm)に不
銹鋼から成るマスクを装え、そこで導体路構造を有すべ
き範囲が小板上にそのまま残留する。引続き小板を反応
器の下部の板上へ置き、反応室を脱気しかつプラズマを
発火させる。
LTBMRXFirmaGeneral Electr
ic Plastics )基質温度 296に 1、前処理: 腐蝕ガス: 02/Ar−混合物1:1反応器中の圧カ
ニ8Pa 作用時間 60分 2、金属被覆: 金属有機化合物:銅ヘキサフルオルアセチルアセトネー
ト 金属有機化合物の貯蔵容器の温度:338に担持がス:
水素 反応器中の圧カニ 25 Pa 作用時間=10分 ポリエーテルイミド小板(70X4[IX4mm)に不
銹鋼から成るマスクを装え、そこで導体路構造を有すべ
き範囲が小板上にそのまま残留する。引続き小板を反応
器の下部の板上へ置き、反応室を脱気しかつプラズマを
発火させる。
02− Ar−流中での前処即後金属被覆を上記条件に
より実施する。約1ooX厚さの銅フィルムが得られる
。
より実施する。約1ooX厚さの銅フィルムが得られる
。
金属被覆された試料を反応器から取り出し、マスクを除
去しかつ小板上のマスクの型に相当する鋼構造を化学的
に還元性の銅浴中で補強する。
去しかつ小板上のマスクの型に相当する鋼構造を化学的
に還元性の銅浴中で補強する。
同じ試験をポリパラフェニレンスルフィト(たとえばF
irma DupontのRYTONR4R)またはパ
ラ結晶プラスチックVECTRAR(FirmaCθ1
anese )でも実施する。この場合法の変化された
前処理−督よび金属被覆パラメタを選択する。
irma DupontのRYTONR4R)またはパ
ラ結晶プラスチックVECTRAR(FirmaCθ1
anese )でも実施する。この場合法の変化された
前処理−督よび金属被覆パラメタを選択する。
例 2
テフロン基質を直接(プラズマ金属被覆なしに)反応に
かける。条件は次のようなものである: 金属有機化合ウニπ−アリルーπ−シクロペンタジェニ
ル−パラジウム 担持ガス:アルゴン、100 secm反応器反応正中
ニ 9 Pa 出力密度二〇、44ワット/cIIL2露光時間:5分 プラズマ金属被覆径付着強さの確定のために無電流メツ
キを行う。これは0.6〜0.4N/朋のみである。
かける。条件は次のようなものである: 金属有機化合ウニπ−アリルーπ−シクロペンタジェニ
ル−パラジウム 担持ガス:アルゴン、100 secm反応器反応正中
ニ 9 Pa 出力密度二〇、44ワット/cIIL2露光時間:5分 プラズマ金属被覆径付着強さの確定のために無電流メツ
キを行う。これは0.6〜0.4N/朋のみである。
約1ooX厚さのパラジウムフィルムカ得う・れる。金
属被覆された基質を引続き他の前処理なしに無電流銅浴
中で銅メツキし、そこで厚くかつ裂は目のない金属層が
生じる。付着の確定のために電気的銅電解質で約30
amにする。
属被覆された基質を引続き他の前処理なしに無電流銅浴
中で銅メツキし、そこで厚くかつ裂は目のない金属層が
生じる。付着の確定のために電気的銅電解質で約30
amにする。
50〜70℃に温度を設定した後2〜3 N / mm
の付着強さが得られる。引きはがし試験の際除去された
銅シートは、破壊を結合系テフロン/ガラス繊維織物中
で行うので、裏側に強く付着している基質材料を有する
。
の付着強さが得られる。引きはがし試験の際除去された
銅シートは、破壊を結合系テフロン/ガラス繊維織物中
で行うので、裏側に強く付着している基質材料を有する
。
矛標準−CTL3
例 3
ポリテトラフルオルエチレン上への金の析出反応器タイ
プ:平行板反応器 周波数二13.56 MHz 基質:ポリテトラフルオルエチレン−シートCD−5m
m厚さ) 基質温度 1、前処理 腐蝕がス:テトラフルオルメタン/酸素混合物=1’/
3.5 反応器中の圧カニ8Pa 作用時間:60分 2、金属被覆 金属有機化合物ニジメチル−金−アセトニルーアセテー
ト金属有機化合物の貯蔵容器の温度AU二313KJ且
持がス:アルゴン 反応器中の圧カニ 10 Pa 作用時間:10分 ポリテトラフルオルエチレンシートハ、例1に記載され
たように、金属マスクを装える。最初の場合、シートは
上記の条件下に前処理なしに金属被覆される。試料を化
学的還元銅浴中で約4μmにし、かつ引続き関連する金
瘍:構造を可能にする、メツキ装置(Ga1vanor
an4 )f介して電気的銅浴巾約20A]]]厚さ
にする。
プ:平行板反応器 周波数二13.56 MHz 基質:ポリテトラフルオルエチレン−シートCD−5m
m厚さ) 基質温度 1、前処理 腐蝕がス:テトラフルオルメタン/酸素混合物=1’/
3.5 反応器中の圧カニ8Pa 作用時間:60分 2、金属被覆 金属有機化合物ニジメチル−金−アセトニルーアセテー
ト金属有機化合物の貯蔵容器の温度AU二313KJ且
持がス:アルゴン 反応器中の圧カニ 10 Pa 作用時間:10分 ポリテトラフルオルエチレンシートハ、例1に記載され
たように、金属マスクを装える。最初の場合、シートは
上記の条件下に前処理なしに金属被覆される。試料を化
学的還元銅浴中で約4μmにし、かつ引続き関連する金
瘍:構造を可能にする、メツキ装置(Ga1vanor
an4 )f介して電気的銅浴巾約20A]]]厚さ
にする。
試料を50°Cで2A時間保った後、引きはがし試験で
約0.5ニユートン/ mmの付着を測定する。
約0.5ニユートン/ mmの付着を測定する。
金属被覆前1(プラズマ中の前処JTI!を上記条件下
に行い、そこで温度調節後約6〜3.5ニュートン/龍
の付着値を測定する。
に行い、そこで温度調節後約6〜3.5ニュートン/龍
の付着値を測定する。
例 4
テフロン基質をプラズマの種々の出方密度で前処理する
。プラズマ前処理および一金属被覆、無電流銅メツキの
試験パラメタは例3におけるようなものである。測定さ
れた付着強さは第1図に記載されて層る。
。プラズマ前処理および一金属被覆、無電流銅メツキの
試験パラメタは例3におけるようなものである。測定さ
れた付着強さは第1図に記載されて層る。
例 5
例6のように、しかしプラズマ前処理の時間を変えて行
う。結果は第2図に記載される。
う。結果は第2図に記載される。
例 6
例6のように、しかしプラズマ前処理の際のCFa、
/ 02−ガス混合物の還流割合を変えて行う(7/4
V/V )。結果i−1:第3図に再現する。
/ 02−ガス混合物の還流割合を変えて行う(7/4
V/V )。結果i−1:第3図に再現する。
例 7
例3のように、しかし金属被覆の際のArの還流割合を
変えて行う。依存性は見出せなかった。付着強さは1.
5〜1−7N/mmである。
変えて行う。依存性は見出せなかった。付着強さは1.
5〜1−7N/mmである。
例 8
例3のように、しかし金属被覆の際露光時間を変えて行
う。結果は第4図に示される。これから、短い金属被覆
時間が最大の付着強さの達成のために有利であることが
見てとれる。露光時間の延長の際金属被覆の付着強さは
再び減少する。
う。結果は第4図に示される。これから、短い金属被覆
時間が最大の付着強さの達成のために有利であることが
見てとれる。露光時間の延長の際金属被覆の付着強さは
再び減少する。
例 9
予めプラズマ中で前処理されかつ種々の金属でプラズマ
中金属被覆されたテフロン/ガラス繊維基質」二への銅
フィルムの付着強さを測定した。実験条件は次のような
ものであった二前処理 : 1.32ワット/園2 露光時間10分間 金属被覆: 100 sccm Ar 0.44ワツト/ cTL” 露光時間5分間 結果は表1に記載される。
中金属被覆されたテフロン/ガラス繊維基質」二への銅
フィルムの付着強さを測定した。実験条件は次のような
ものであった二前処理 : 1.32ワット/園2 露光時間10分間 金属被覆: 100 sccm Ar 0.44ワツト/ cTL” 露光時間5分間 結果は表1に記載される。
(16〕
表 1
金属化合物 付着強さ/ N mm−1
ガス組成二20 sccm o2.35 sccm C
F’4 :π−アリル−π−シクロペンタ 3.[]
〜5.0ゾエニルーパラゾウム シメチル−m−7セ) =ルー 2.5〜365
アセテート ガスwta : 35 sccm o2.35 scc
m Ar :π−アリル−π−シクロペンタ 1.5
〜2.0ジエニルパラジウム(A) π−アリル−π−シクロペンタ zl、5ジェニル
−白金(B) ジメチル−金−アセトニル zl、5アセテ−
1・ AおよびBからの混合物 6.0〜6.5弓
担持が7230口secm H2 例10 例9に記載された条件下に(pa−金属被覆を伴う)前
処理がス混合物の組成を変化した。
ガス組成二20 sccm o2.35 sccm C
F’4 :π−アリル−π−シクロペンタ 3.[]
〜5.0ゾエニルーパラゾウム シメチル−m−7セ) =ルー 2.5〜365
アセテート ガスwta : 35 sccm o2.35 scc
m Ar :π−アリル−π−シクロペンタ 1.5
〜2.0ジエニルパラジウム(A) π−アリル−π−シクロペンタ zl、5ジェニル
−白金(B) ジメチル−金−アセトニル zl、5アセテ−
1・ AおよびBからの混合物 6.0〜6.5弓
担持が7230口secm H2 例10 例9に記載された条件下に(pa−金属被覆を伴う)前
処理がス混合物の組成を変化した。
ガス混合物の総還流割合は7 Q sccmで一定に調
節した。
節した。
結果は表2に再び記載する。
表 2
リ
ガス組成 付着強さ/比較腐蝕割合N朋−
1/チ 50%02.509JAr 2−0〜3.75
−50%o2.22%Ar、 28%CFt 1.
5〜2−5 −50%02.50%CF、 :
l:1.0 10028%O2,72チCF、
3.[l〜5.0 9572チ02.28
%cFQ 1.9〜3.[] 10410
0%CF、 1.Q〜1.5 100
例11〜16 金属被覆試験は種々のプラスチックで実施した。反応条
件は例3に記載されたようなものであった。試験結果は
表3に示す。各々の場合引きはがし試験後除去された銅
条片の裏側にプラスチックの残りが見出された。
1/チ 50%02.509JAr 2−0〜3.75
−50%o2.22%Ar、 28%CFt 1.
5〜2−5 −50%02.50%CF、 :
l:1.0 10028%O2,72チCF、
3.[l〜5.0 9572チ02.28
%cFQ 1.9〜3.[] 10410
0%CF、 1.Q〜1.5 100
例11〜16 金属被覆試験は種々のプラスチックで実施した。反応条
件は例3に記載されたようなものであった。試験結果は
表3に示す。各々の場合引きはがし試験後除去された銅
条片の裏側にプラスチックの残りが見出された。
表 3
プラスチック 付着強さ/ N y
+m−11、アクリルニトリル−ブタジェン 0.8〜
1.1−スチロール−コポリマー 2、アクリルニトリル−ブタジェン 1.5〜1.6−
スチロール−コポリマー 3、ポリカーボネート−ポリエステ 1.1〜1.6ル
ーコボリマー 4、;lrフェニレンオキシド1.0〜1.25、ポリ
アミド に2.03、ポリアミド
1.1〜1.6例17 テフロン/ガラス繊維基質を例乙におけるようにプラズ
マ中で前処理しかつ金属被覆した。
+m−11、アクリルニトリル−ブタジェン 0.8〜
1.1−スチロール−コポリマー 2、アクリルニトリル−ブタジェン 1.5〜1.6−
スチロール−コポリマー 3、ポリカーボネート−ポリエステ 1.1〜1.6ル
ーコボリマー 4、;lrフェニレンオキシド1.0〜1.25、ポリ
アミド に2.03、ポリアミド
1.1〜1.6例17 テフロン/ガラス繊維基質を例乙におけるようにプラズ
マ中で前処理しかつ金属被覆した。
引続き直接1.5時間にわたって市販の無電流ニッケル
浴中で金属被覆した。約60μm厚さのニッケル層が得
られる。測定された付着強さは無電流銅メツキにおける
ように2〜3 N / mmである。
浴中で金属被覆した。約60μm厚さのニッケル層が得
られる。測定された付着強さは無電流銅メツキにおける
ように2〜3 N / mmである。
例18
孔をあけられたテフロン/ガラス繊維基質(1−3a+
m孔)をプラズマ中で前処理しかつ金属被覆した(例6
におけるような実験条件)。引続き無電流銅メツキを行
う。達成された銅層厚は0.2〜0.3μmであった。
m孔)をプラズマ中で前処理しかつ金属被覆した(例6
におけるような実験条件)。引続き無電流銅メツキを行
う。達成された銅層厚は0.2〜0.3μmであった。
せん孔壁での金属被覆の試験のためにせん孔を縦に切断
しかつ裏側から基質材料を通して強い光源で照射する(
透光試験)。顕微鏡で、せん孔内側での不十分な金属被
覆を示す、明るい箇所は確認できない。
しかつ裏側から基質材料を通して強い光源で照射する(
透光試験)。顕微鏡で、せん孔内側での不十分な金属被
覆を示す、明るい箇所は確認できない。
例19
テフロン基質を全面的に例6に記載された方法によりプ
ラズマ中で前処理し、金属被覆しか、 つ引続き湿式化
学的に銅メツキする。両側で金属被覆されたテフロン板
をハンダ浴中熱ショックで処理する(288℃で10秒
浸漬)。銅層中に気泡は形成しない。金属被覆の付着強
さは熱処理により損われない。
ラズマ中で前処理し、金属被覆しか、 つ引続き湿式化
学的に銅メツキする。両側で金属被覆されたテフロン板
をハンダ浴中熱ショックで処理する(288℃で10秒
浸漬)。銅層中に気泡は形成しない。金属被覆の付着強
さは熱処理により損われない。
例20
テフロン/ガラス繊維基質を次の方法でシラダマ中前処
理しかつ金属被覆する: 真空に達した後、公知方法でCF、 102−ガス混合
物(7/4 v/v)で前処理する。10分後ガス混合
物を金属有機化合物(たとえばπ−アリル−π−シクロ
ペンタジエニルーパラシウム)を含有する貯蔵容器を介
して導きかつそれにより付加的に金属化合物をプラズマ
室中へもたらす。それにより金属析出を始める。5分′
間の露光時間後金属析出を中断する。試料を例3におけ
るように銅メンキする。既に無電流銅メツキ後宮な金属
層が形成する。約30μmに金属被覆された基質の工業
的特性(付着強さ、孔安定性のような)は前出の例に記
載された系に相当する。
理しかつ金属被覆する: 真空に達した後、公知方法でCF、 102−ガス混合
物(7/4 v/v)で前処理する。10分後ガス混合
物を金属有機化合物(たとえばπ−アリル−π−シクロ
ペンタジエニルーパラシウム)を含有する貯蔵容器を介
して導きかつそれにより付加的に金属化合物をプラズマ
室中へもたらす。それにより金属析出を始める。5分′
間の露光時間後金属析出を中断する。試料を例3におけ
るように銅メンキする。既に無電流銅メツキ後宮な金属
層が形成する。約30μmに金属被覆された基質の工業
的特性(付着強さ、孔安定性のような)は前出の例に記
載された系に相当する。
第1図は例4での種々のプラズマの出力密度と金属構造
の付着強さの相関図を表わし、第2図は例5でのプラズ
マ前処理時間の変化と金属構造の付着強さの相関図を表
わし、第6図は例6でのプラズマ前処理の際のCF、1
02−ガス混合物の還流割合の変化と金属構造の刺着強
さの相関図を表わし、第4図は例8での金属被覆の際の
露光時間の変化と金属構造の刺着強さの;I’l−1関
図を表わす。
の付着強さの相関図を表わし、第2図は例5でのプラズ
マ前処理時間の変化と金属構造の付着強さの相関図を表
わし、第6図は例6でのプラズマ前処理の際のCF、1
02−ガス混合物の還流割合の変化と金属構造の刺着強
さの相関図を表わし、第4図は例8での金属被覆の際の
露光時間の変化と金属構造の刺着強さの;I’l−1関
図を表わす。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、金属フィルムの形成下にグロー放電中で金属有機化
合物を分解することにより絶縁体上に金属構造を製造す
る方法において、絶縁体としてフッ素ポリマーまたは熱
可塑性プラスチックの分野からのプラスチックを使用す
ることを特徴とする、絶縁体上に金属構造を製造する方
法。 2、絶縁体の表面を金属被覆工程前にグロー放電中で腐
蝕−および清浄化工程にかける、請求項1記載の方法。 3、グロー放電中で金属被覆の際に得られたフィルムを
化学的還元金属析出のために、浴中で厚くする、請求項
1記載の方法。 4、マスクを載せるかまたはスクリーン印刷ラツカーま
たはフオトラツカーの塗布により構造を先に与える、請
求項1記載の方法。 5、フォトレジスト、フオトラツカーまたはスクリーン
印刷ラツカーを用いる金属被覆により構造を得る、請求
項1記載の方法。 6、金属フィルムの析出のために有機銅化合物を使用す
る、請求項1記載の方法。 7、金属フィルムの析出のために有機パラジウム化合物
を使用する、請求項1記載の方法。 8、金属フィルムの析出のために有機白金化合物を使用
する、請求項1記載の方法。 9、金属フィルムの析出のために有機金化合物を使用す
る、請求項1記載の方法。 10、金属フィルムの析出のために有機パラジウム−お
よび白金化合物を使用する、請求項1記載の方法。
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