JPH01242687A - セラミツクシンチレータの製造方法 - Google Patents

セラミツクシンチレータの製造方法

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JPH01242687A
JPH01242687A JP63067447A JP6744788A JPH01242687A JP H01242687 A JPH01242687 A JP H01242687A JP 63067447 A JP63067447 A JP 63067447A JP 6744788 A JP6744788 A JP 6744788A JP H01242687 A JPH01242687 A JP H01242687A
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由喜男 伊藤
Hiroyuki Takeuchi
裕之 竹内
Takamichi Yamada
山田 敞馗
Akizo Toda
堯三 戸田
Yasuo Tsukuda
佃 康夫
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Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は放射線検出用シンチレータ材料に関する。特に
、X線CT用シンチレータとして好適な希土類オキシ硫
化物からなるセラミックシンチレータの製造方法に関す
るものである。
〔従来の技術〕
従来、XMCTなどに用いるX線検出器としてはキセノ
ン(Xs)tttjl1箱が用いられてきた。しかし、
Xs電離箱では装置の小型化が難しいという問題点があ
る。近年、単結晶のシンチレータ材やシンチレータ材粉
末を樹脂中に分散固化したものを用いた高精度かつ小型
固体検出素子の検討が盛んである。しかしながら、従来
より使用されているBGO(ゲルマニウム酸ビスマス)
、CsI: T Q 、 Cd WOaなどの単結晶材
料にはいずれも問題がある。BGOは発光効率が低く高
価であり、Cd W Oaは発光効率が低く、かつ毒性
が強く、襞間性のため加工にも難点がある。また。
CsI:TMは潮解性で残光現象があり、実用上問題が
ある。一方、粉末樹脂分散同化体では、発光強度が理論
値よりかなり小さい、かつ透光性が小さく厚くできない
ため、xs吸収用鉛ガラス部材を必要とし、素子槽造が
複雑となるなどの問題がある。
最近、このような問題を克服すべく、上記を社結晶など
に比べ発光出力が高い希土類オキシ硫化物粉末を焼結し
たセラミックシンチレータが提案されている(特開昭6
1−127670号公報、特開昭58−204088号
公報など参照)、例えば本発明者の一部のものが希土類
オキシ硫化物を金属カプセル内に封入した後、熱間静水
圧プレス法c以下HIP法と称す)で焼結することによ
り、透光性および発光出力の高いシンチレータ材料を得
ることに成功している(特開昭61−127670号)
しかしながら5本セラミックスでは焼結ロット内および
ロット間で出力のばらつきが生じやすいという問題があ
る。特性のばらつきがあると、そわらを多素子化して検
出器システムにした時、情報の正確な再現が困難となる
。特に、均一性は高度の正確さが要求される医療用X線
CTシステムには不可欠であり、その向上が望まれる。
従来、希土類オキシ硫化物をF(I P法で焼結する際
、HI Pカプセル中での充填かさ密度をあげるだめに
平均粒径40μm程度の原料粉末が用いられている。こ
の原料粉の場合、その合成時にるつぼ材からのA(12
0sの混入が多いため、それが最終焼結体に介在物とし
て出現する。この介在物が発光出力低下や出力ばらつき
をもたらす一要因になっている。また、粒径の大きい原
料粉はその合成コストが高いという問題もある。
そのため、高出力かつ均一性に優れたセラミックシンチ
レータを実現するには、原料粉中の不純物の混入を出来
るだけおさえる必要がある。
〔発明が解決しようとする問題点〕
本発明の目的は、上記実情に鑑み、高い発光出力を有し
、かつ出力ばらつきの極めて小さい均一性の優れた希土
類オキシ硫化物のセラミックシンチレ−タの製法を提供
することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的は、希土類オキシ硫化物をHIP法により焼結
するにあたり、当該原料粉に平均粒径10μm以下のも
のを用いることにより、達成される。
本発明において、上記希土類オキシ硫化物としては1例
えば、特開昭55−62930号公報または特開昭56
−151376号公報などにより知られる組成のもの、
すなわち、組成式 %式%() ただし、 LnはCd、La、YおよびLnのなかから選ばれた少
なくとも一種類の元素、 MはPrおよびTbのうちの一種または二種の元素。
Xの量は、3X10”’$≦X≦0゜2、yの量は、l
Xl□−s≦y≦5×10−8、Fの量は、重量で0〜
1000ppm、で表されるものを用いることができる
本発明においては、これらのうち、特に(Gdz−x−
yP  rxcey)zozs:(F)ただし、 3X10”−’≦X≦0.2、 lXl0−’≦y≦5x10−a、 Fの量は、重量で2〜1000pp+m−で表される希
土類オキシ硫化物がよい。
〔作用〕
希土類オキシ硫化物をHI P法により焼結するにあた
って5本発明では、該原料粉に平均粒径10μm以下の
ものを用いることに特徴がある。
平均粒径10μm以下の希土類オキシ硫化物粉末を焼結
助剤とともに、金属製カプセルに充填し、それをHIP
することによって、高出力かつ出力ばらつきの小さいセ
ラミックシンチレータを低コストで作成することができ
る。
従来、HIP用の原料粉には、平均粒径が数10μmの
ものが用いられていた。この場合、最終焼結体中に非発
光の異物が多数介在しており、それが発光出力の低下さ
らに出力ばらつきをもたらす。この異物はAQの化合物
であり、その発生源は原料粉そのものにある。すなわち
、原料粉は高温で合成されるため、るつぼ材のAQzO
aとの反応が進み、原料粉中に不純物として多量のAQ
化合物が取込まれる。
これに対して、平均粒径10μm以下の原料粉であれば
、より低温で合成されるため、るつぼ材のA Q z 
Osとの反応が殆んど進まず、AQ不純物の含有量は少
ない、したがってこれを用いて作成したセラミックス中
には、出力低下あるいはばらつきをもたらす介在物が低
減し、特性、均一性に優れ辷セラミックスを可能とする
。また、本発明により、平均粒径10μm以下の原料粉
の製造コストが安いため、そのぶんコスト的にも有利に
なり得る。
〔実施例〕
以下本発明を実施例を用いてより詳細に説明する。
(実施例1) 平均粒径10μmのシンチレータ粉末 (Gdo、vesPro、ooxCeaXto″″6b
(hS: (F)に焼結助剤としてLixGeFsを0
.1wt%添加し、これを純鉄製のカプセルの中に入れ
、直接加圧充填する。この時の圧力は350kg/aJ
であった。このカプセルを加熱脱気しながら真空封止し
た後、HIP装置に入れ、1300℃、1000気圧の
アルゴンガス中で3時間H工P処理を施した。得られた
焼結体はクラックやミクロな欠陥のない極めて緻密なも
のであった。それらの試料のX線照射による発光出力お
よびその出力の焼結ロット内とロット間ばらつきの値を
従来の平均粒径4oμm程度の原料粉を用いて作成した
試料のそれと比較して第1表に示す、なお1発光出力は
同一組成の粉末を用いて作成した粉末樹脂中分散固化体
のそれに対する出力比として表わす。
第   1   表 第1表から明らかなように9本発明によれば。
発光出力が向上するとともに、出力ばらつきがロット内
とロット間いずれも小さくなり、均一性に優れたセラミ
ックシンチレータ材を提供することができる。
(実施例2) 平均粒径5μmのシンチレータ粉末 (Gdo、e@5Pro、ootCasXto−’)z
ozs : (F)に焼結助剤としてLizGeFeを
0.1wt%添加し、これを実施例1と同じように鉄製
カプセルに加圧充填する。
この時の圧力は400kg/cdであった。これを加熱
脱気しながら真空封止後、実施例1と同条件でHI P
処理をおこなった。得られた焼結体は欠陥のない極めて
緻密なものであった。それらの発光出力および出力ばら
つきの値を従来法による試料と比較して第2表に示す。
第   2   表 第2表から明らかなように、本発明によると、従来法に
比べて、高出力でかつ均一性に優れたセラミックシンチ
レータ材を実現することができる。
以上の実施例では、原料粉として (Gdo、*esPro、ooxCeeXto″″8h
ews : (F)の組成を用いた場合について述べた
が別にこれに限るわけでなく、他の組成でも良い。
〔発明の効果〕

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.希土類オキシ硫化物の粉体を熱間静水圧プレス法に
    より焼結するセラミックシンチレータの製造方法におい
    て、前記粉体として平均粒径10μm以下のものを用い
    ることを特徴とするセラミツクチンチレータの製造方法
  2. 2.前記希土類オキシ硫化物として組成式 (Gd_1_−_x_−_yPr_xCe_y)_2O
    _2S:(F)(ここで、x,y量はそれぞれ3×10
    ^−^6≦x≦0.2,1×10^−^6≦y≦5×1
    0^−^3,Fの量は2〜1000ppmである。)で
    表されるものを用いることを特徴とする特許請求の範囲
    第1項記載の方法。
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