JPH01197639A - 塗膜のピンホール検査装置 - Google Patents
塗膜のピンホール検査装置Info
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- JPH01197639A JPH01197639A JP2260688A JP2260688A JPH01197639A JP H01197639 A JPH01197639 A JP H01197639A JP 2260688 A JP2260688 A JP 2260688A JP 2260688 A JP2260688 A JP 2260688A JP H01197639 A JPH01197639 A JP H01197639A
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/894—Pinholes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は均一な厚みのシート又はフィルム、特に長尺の
シート又はフィルムに塗布した塗膜のピンホール検査装
置に関する。
シート又はフィルムに塗布した塗膜のピンホール検査装
置に関する。
シート又はフィルムに塗布された塗膜の欠陥、特にピン
ホールを検査する方法としては、各種あるが、機械検査
の最も一般的な装置としては、第１図に示す如く、光透
過性シートに対しその両側から発光素子と受光素子を対
向して設け、シートを透過した透過光の大小又はその有
無を受光素子で検出し、受光素子の電気的出力信号を測
定することにより、塗膜のピンホールの有無を検査して
いた。又、このピンホールの検査をシート等の巾全体に
ついて行なう方法としては、１本の元ビームを高速回転
する多面ミラーにより元ビームを走行するシート等を走
査する方法が知られている。
ホールを検査する方法としては、各種あるが、機械検査
の最も一般的な装置としては、第１図に示す如く、光透
過性シートに対しその両側から発光素子と受光素子を対
向して設け、シートを透過した透過光の大小又はその有
無を受光素子で検出し、受光素子の電気的出力信号を測
定することにより、塗膜のピンホールの有無を検査して
いた。又、このピンホールの検査をシート等の巾全体に
ついて行なう方法としては、１本の元ビームを高速回転
する多面ミラーにより元ビームを走行するシート等を走
査する方法が知られている。
しかし、上記従来方法によっては、塗膜の膜厚の変動に
よる出力信号と塗膜のないピンホールの出力信号が混在
している場合、それを確実に区別し、ピンホールのみの
検出は困難であった。
よる出力信号と塗膜のないピンホールの出力信号が混在
している場合、それを確実に区別し、ピンホールのみの
検出は困難であった。
小さなピンホールを検出しようとすれば、発光素子のス
ポット径を小にし、かつ光強度を大にしなければならず
、その結果強い光が塗膜の薄い部分を透過し受光素子に
達し、信号を出力する。従って、ピンホールにもとづく
出力信号と欠陥とはいえない程度の薄い塗膜にもとづく
出力信号が混在し、適切かつ実用的な塗膜のピンホール
検査を不可能にするものであった。
ポット径を小にし、かつ光強度を大にしなければならず
、その結果強い光が塗膜の薄い部分を透過し受光素子に
達し、信号を出力する。従って、ピンホールにもとづく
出力信号と欠陥とはいえない程度の薄い塗膜にもとづく
出力信号が混在し、適切かつ実用的な塗膜のピンホール
検査を不可能にするものであった。
又、１本ビームで走行するシートを走査する方式では全
面を完全検査できない為品質保証の点で問題が太きかっ
た。
面を完全検査できない為品質保証の点で問題が太きかっ
た。
本発明の課題は、ピンホールにもとづく出力信号のみを
他の原因にもとづく出力信号から分離してピンホールの
欠陥のみを検出できる塗膜のピンホール検査装置を提供
することにある。
他の原因にもとづく出力信号から分離してピンホールの
欠陥のみを検出できる塗膜のピンホール検査装置を提供
することにある。
上記課題を解決するための本発明装置は、走行するシー
ト又はフィルムに塗布された塗膜面にスポット光を照射
しその透過光又は反射光を光電変換し、その出力信号に
もとづき塗膜のピンホールを検査する装置であって、光
照射手段、照射光の透過光又は反射光を受光し出力する
光電変換手段、出力信号のうち塗膜の塗りむらに起因す
る低周波成分をカットする高域フィルター回路、塗膜の
ピンホール判定回路からなることを特徴とする。
ト又はフィルムに塗布された塗膜面にスポット光を照射
しその透過光又は反射光を光電変換し、その出力信号に
もとづき塗膜のピンホールを検査する装置であって、光
照射手段、照射光の透過光又は反射光を受光し出力する
光電変換手段、出力信号のうち塗膜の塗りむらに起因す
る低周波成分をカットする高域フィルター回路、塗膜の
ピンホール判定回路からなることを特徴とする。
本発明者らは、走行するシート又はフィルムに塗られた
塗膜に対し小スポットの元を連続的に照射し、その透過
光を光電変換した出力信号（Ａ） ｅ分析してみたとこ
ろ、第２図に示す如く塗膜の塗りむらにもとづく比較的
なだらかに変化し、パルス巾の長い出力信号（Ｂ）とピ
ンホールにもとづく短時間に急激に変化するノ９ルス巾
の小さい出力信号（Ｃ）が混在することに着目し、この
パルス巾の違った、すなわち周波数の異なった出力信号
（Ａ）を一定の周波数以上の高い周波数を有する出力信
号のみを通過させる高域フィルターを使用することによ
り目的を達成し得ることを知見し前記本発明を完成する
に至った。
塗膜に対し小スポットの元を連続的に照射し、その透過
光を光電変換した出力信号（Ａ） ｅ分析してみたとこ
ろ、第２図に示す如く塗膜の塗りむらにもとづく比較的
なだらかに変化し、パルス巾の長い出力信号（Ｂ）とピ
ンホールにもとづく短時間に急激に変化するノ９ルス巾
の小さい出力信号（Ｃ）が混在することに着目し、この
パルス巾の違った、すなわち周波数の異なった出力信号
（Ａ）を一定の周波数以上の高い周波数を有する出力信
号のみを通過させる高域フィルターを使用することによ
り目的を達成し得ることを知見し前記本発明を完成する
に至った。
本発明装置は、シート又はフィルムが透明で光透過性の
あるものでも、光不透過性のものに対しても適用ができ
る。な分、シート又はフィルムが光透過性のものにおい
ては、光照射手段と透過光を受光し出力する光電変換手
段をシート又はフィルムｔ−はさんだ両側に対向して設
け、或いはシート又はフィルムが光不透過性である場合
には、光照射手段と反射光を受光し出力する光電変換手
段をシート又はフィルムの同一面側へ設置する。
あるものでも、光不透過性のものに対しても適用ができ
る。な分、シート又はフィルムが光透過性のものにおい
ては、光照射手段と透過光を受光し出力する光電変換手
段をシート又はフィルムｔ−はさんだ両側に対向して設
け、或いはシート又はフィルムが光不透過性である場合
には、光照射手段と反射光を受光し出力する光電変換手
段をシート又はフィルムの同一面側へ設置する。
上記光照射手段としては、タングステンランプ、発光ダ
イオード、半導体、固体、液体、気体レ−デーを使用す
ることができる。
イオード、半導体、固体、液体、気体レ−デーを使用す
ることができる。
透過光又は反射光を受光し出力する光電変換手段として
は、光電子増倍管、７ｔトダイオード、フすトトランジ
スタ、シリコン太陽′４池等を前記光照射手段と適宜組
み合せて使用することができる。
は、光電子増倍管、７ｔトダイオード、フすトトランジ
スタ、シリコン太陽′４池等を前記光照射手段と適宜組
み合せて使用することができる。
又、上記光照射手段及び光電変換手段の選択は、使用す
るシート、フィルムの種類、塗膜の種類並びにそれらの
性状、或いは要求される検査速度、検査精度等によシ最
適のものを選ぶべきことは当然である。
るシート、フィルムの種類、塗膜の種類並びにそれらの
性状、或いは要求される検査速度、検査精度等によシ最
適のものを選ぶべきことは当然である。
塗膜の塗りむらにもとづく出力信号とピンホールにもと
づく出力信号を区別するには、その出力信号の波長の違
い、すなわち、塗りむらにもとづく出力信号は波長の長
い低周波であり、ピンホールにもとづく出力信号は波長
の短い高周波の性状を示すこと着目し、本発明はこの塗
膜の塗りむらにもとづく出力信号をカットするため高域
フィルター回路を設けたことを特徴とする。
づく出力信号を区別するには、その出力信号の波長の違
い、すなわち、塗りむらにもとづく出力信号は波長の長
い低周波であり、ピンホールにもとづく出力信号は波長
の短い高周波の性状を示すこと着目し、本発明はこの塗
膜の塗りむらにもとづく出力信号をカットするため高域
フィルター回路を設けたことを特徴とする。
本発明において使用する高域フィルターは、検出スべき
ピンボールの大小、シート又はフィルムの種類、塗膜の
種類、検体の走行速度等の各種条件を満すようにし中断
周波数の変更可能なものを使用する。
ピンボールの大小、シート又はフィルムの種類、塗膜の
種類、検体の走行速度等の各種条件を満すようにし中断
周波数の変更可能なものを使用する。
ピンホール判定回路は、成るレベル以上の出力信号が入
力したとき出力するための回路であり、不良品とはなら
ない程度の小さなピンホールによる出力信号に対しては
出力しない。このような判定回路としてはコンパレータ
ーを使用することが出来る。勿論レベルｉ＝’Ｊ変のも
のを使用することが好ましい。
力したとき出力するための回路であり、不良品とはなら
ない程度の小さなピンホールによる出力信号に対しては
出力しない。このような判定回路としてはコンパレータ
ーを使用することが出来る。勿論レベルｉ＝’Ｊ変のも
のを使用することが好ましい。
第３図は、本発明装置の基本構成を示すブロック図であ
り、透明なプラスチックシートに磁気塗料を塗布したシ
ート（９）の一方の側に設けた発光ダイオード（１人他
方の側に設けた可変抵抗器（３）付７すトトランジスタ
（２）、７すトトランジスタ（２）に接続した直流増巾
器（４）、該直流増巾器（４）に接続したし中だん周波
数調節器（５′尺高域フィルター（５人該高域フィルタ
ー（５）に接続したレベル調節器（６′）付ピンホール
判定器としてのコンノぐレータ−（６）、コン・母レー
タ−（６）からの出力を整波するための単安定マルチバ
イブレータ−（７）、マルチバイブレータ−（７）の出
力を記録する記録装置（８）から構成されている。
り、透明なプラスチックシートに磁気塗料を塗布したシ
ート（９）の一方の側に設けた発光ダイオード（１人他
方の側に設けた可変抵抗器（３）付７すトトランジスタ
（２）、７すトトランジスタ（２）に接続した直流増巾
器（４）、該直流増巾器（４）に接続したし中だん周波
数調節器（５′尺高域フィルター（５人該高域フィルタ
ー（５）に接続したレベル調節器（６′）付ピンホール
判定器としてのコンノぐレータ−（６）、コン・母レー
タ−（６）からの出力を整波するための単安定マルチバ
イブレータ−（７）、マルチバイブレータ−（７）の出
力を記録する記録装置（８）から構成されている。
第４図は第３図装置の各部分における出力信号の波形を
示している。
示している。
第５図は、発光ダイオード（１）及びフ１））ランジス
タ（２）全取付けるフレームα０）を第６図は発光ダイ
オード及びフォトトランジスタ（２）の取付平面配置図
である。図示する如く発光素子及び受光素子をシートの
全中をカバーするように配置することによりピンホール
検査を完全なものとすることができる。なお、各フォト
トランジスタ（２）には第３図に示す高域フィルタ（５
）、ピンホール判定器（６人単安定マルチパイプレーク
（７）を夫々接続する。
タ（２）全取付けるフレームα０）を第６図は発光ダイ
オード及びフォトトランジスタ（２）の取付平面配置図
である。図示する如く発光素子及び受光素子をシートの
全中をカバーするように配置することによりピンホール
検査を完全なものとすることができる。なお、各フォト
トランジスタ（２）には第３図に示す高域フィルタ（５
）、ピンホール判定器（６人単安定マルチパイプレーク
（７）を夫々接続する。
第７囚は、他の実施例を示し、シート（り）が光不透過
性である場合で、シート（ｑ）からの反射光の大小によ
りピンホールの検査をする装置の概略ブロック図である
。
性である場合で、シート（ｑ）からの反射光の大小によ
りピンホールの検査をする装置の概略ブロック図である
。
なお、第３図に示すように直流増巾器から別回路で塗膜
の膜厚に応じた出力信号のみを記録装置（８）に入力し
記録するようにすｎば、ピンホールの検査と塗膜の膜厚
データを同時に記録することが出来て極めて便利である
。
の膜厚に応じた出力信号のみを記録装置（８）に入力し
記録するようにすｎば、ピンホールの検査と塗膜の膜厚
データを同時に記録することが出来て極めて便利である
。
なお、上記実施例において使用する記録装置としては、
出力信号に応じて作動する多針式レコーダー、或いは出
力信号をコンピー−ター処理して後でどの部分にどんな
ピンホールが存在するかを直ちに分析可能な状態で磁気
テープ、磁気ディスク、或いは元ディスク等に記録する
ようにすることは自由である。
出力信号に応じて作動する多針式レコーダー、或いは出
力信号をコンピー−ター処理して後でどの部分にどんな
ピンホールが存在するかを直ちに分析可能な状態で磁気
テープ、磁気ディスク、或いは元ディスク等に記録する
ようにすることは自由である。
本発明装置は、ピンホールの検査を簡単かつ確実に行な
うことが可能で、そのための装置も小型で既存の設備に
容易に取り付けることができ、更には装置も安価に製作
することができるものである。
うことが可能で、そのための装置も小型で既存の設備に
容易に取り付けることができ、更には装置も安価に製作
することができるものである。
第１図は従来装置の一部を示すブロック図、第２図は、
シート等の塗膜を光電的に検査して得られる一次的出力
信号の波形を説明する図、第３図は本発明装置の概略を
示すブロック図、第４図は第３図装置の各部分における
出力信号の波形を示す図、第５図は同上装置における発
光素子及び受光素子を取シ付ける７レームを示す図、第
６図は同上図のフレームに取り付ける発光素子及び受光
素子の取シ付は配置図、第７図は他の実施例を示すブロ
ック図である。図中の数字、符号は夫々次のものを示す
。 １・・・発光ダイオード、２・・・７すトトランジスタ
、５・・・高域フィルター、６・・・コンパレーター、
７・・・単安定マルチバイブレータ６．８・・・記録装
置、９・・・シート又はフィルム。 代理人 弁理士 高 橋 勝 利 第１図 第３図 第４図 ０：ｌ） Ａ’出力信号 （２）Ｏ出力信号 第５図 第６図
シート等の塗膜を光電的に検査して得られる一次的出力
信号の波形を説明する図、第３図は本発明装置の概略を
示すブロック図、第４図は第３図装置の各部分における
出力信号の波形を示す図、第５図は同上装置における発
光素子及び受光素子を取シ付ける７レームを示す図、第
６図は同上図のフレームに取り付ける発光素子及び受光
素子の取シ付は配置図、第７図は他の実施例を示すブロ
ック図である。図中の数字、符号は夫々次のものを示す
。 １・・・発光ダイオード、２・・・７すトトランジスタ
、５・・・高域フィルター、６・・・コンパレーター、
７・・・単安定マルチバイブレータ６．８・・・記録装
置、９・・・シート又はフィルム。 代理人 弁理士 高 橋 勝 利 第１図 第３図 第４図 ０：ｌ） Ａ’出力信号 （２）Ｏ出力信号 第５図 第６図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、走行するシート又はフィルムに塗布された塗膜面に
スポット光を照射し、その透過光又は反射光を光電変換
してその出力信号にもとづき塗膜のピンホールを検査す
る装置であって、光照射手段、照射光の透過光又は反射
光を受光し出力する光電変換手段、出力信号のうち塗膜
の塗りむらに起因する低周波成分をカットする高域フィ
ルター回路、塗膜のピンホール判定回路からなることを
特徴とするシート又はフィルムに塗布された塗膜のピン
ホール検査装置。 ２、シート又はフィルムが光透過性であり、光照射手段
と光電変換手段をシート又はフィルムの表裏にそれぞれ
分離して設けたことを特徴とする特許請求の範囲第１項
に記載の塗膜検査装置。 ３、シート又はフィルムが光透過性もしくは非透過性で
あり、光照手段と光電変換手段をシート又はフィルムの
同一面側に設けたことを特徴とする特許請求の範囲第１
項に記載の塗膜検査装置。 ４、走行するシート又はフィルムに塗布された塗膜面に
光を照射し、その透過光又は反射光を光電変換してその
出力信号にもとづき塗膜の欠陥を検査する装置であって
、光照射手段、照射光の透過光又は反射光を受光し出力
する光電変換手段、出力信号のうち塗膜の塗むらに起因
する低周波成分をカットする高域フィルター回路、塗膜
のピンホール判定回路、整波回路、記録手段からなり、
かつ照射手段と光電変換手段の対をシート又はフィルム
の走行方向に対し直角方向に多数並設するとともに、各
光電変換手段に高域フィルター回路、ピンホール判定回
路、整波回路を接続し、各整波回路からの出力信号に位
置情報を付加して記録手段に記録するようにしたことを
特徴とするシート又はフィルムに塗布された塗膜のピン
ホール検査装置。 ５、記録手段が多針ペン式によるハード記録手段である
ことを特徴とする特許請求の範囲第４項に記載のシート
又はフィルムに塗布された塗膜のピンホール検査装置。 ６、記録手段が、磁気テープ又は磁気ディスク或いは光
ディスク等の記録媒体を使用したものであることを特徴
とする特許請求の範囲第４項に記載のシート又はフィル
ムに塗布された塗膜の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2260688A JPH01197639A (ja) | 1988-02-02 | 1988-02-02 | 塗膜のピンホール検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2260688A JPH01197639A (ja) | 1988-02-02 | 1988-02-02 | 塗膜のピンホール検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01197639A true JPH01197639A (ja) | 1989-08-09 |
Family
ID=12087503
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2260688A Pending JPH01197639A (ja) | 1988-02-02 | 1988-02-02 | 塗膜のピンホール検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01197639A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006520894A (ja) * | 2003-03-20 | 2006-09-14 | アルク・エレクトロニツク | 連続的に巻き取る材料ストリップにおける穴を検出する装置 |
| JP2009192307A (ja) * | 2008-02-13 | 2009-08-27 | Gunze Ltd | フィルム検査装置 |
-
1988
- 1988-02-02 JP JP2260688A patent/JPH01197639A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006520894A (ja) * | 2003-03-20 | 2006-09-14 | アルク・エレクトロニツク | 連続的に巻き取る材料ストリップにおける穴を検出する装置 |
| JP2009192307A (ja) * | 2008-02-13 | 2009-08-27 | Gunze Ltd | フィルム検査装置 |
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