JPH0113376B2 - - Google Patents
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- JPH0113376B2 JPH0113376B2 JP56117781A JP11778181A JPH0113376B2 JP H0113376 B2 JPH0113376 B2 JP H0113376B2 JP 56117781 A JP56117781 A JP 56117781A JP 11778181 A JP11778181 A JP 11778181A JP H0113376 B2 JPH0113376 B2 JP H0113376B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 21
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 19
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 5
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、CT装置(コンピユーテツドトモグ
ラフイ装置)に係り、さらに詳しくはX線CT装
置の多素子検出器で検出した被検体断層データを
もとに断層画像を再構成する画像再構成演算回路
におけるデータ数を減少させ、演算時間を短縮さ
せるに好適な演算回路を備えたCT装置に関する
ものである。
ラフイ装置)に係り、さらに詳しくはX線CT装
置の多素子検出器で検出した被検体断層データを
もとに断層画像を再構成する画像再構成演算回路
におけるデータ数を減少させ、演算時間を短縮さ
せるに好適な演算回路を備えたCT装置に関する
ものである。
CT装置においては第1図の原理図に示すよう
に、X線管1より被検体2にX線照射し、その被
検体2を透過したX線をX線検出器3により検出
し、図示していない演算回路により被検体のX線
吸収値を求め、その値から断層像を再構成してい
る。ここで、第1図のA部は照射X線ビームの最
大拡がり角内で、被検体2にX線照射されない部
分であり、B部のみが被検体を透過したX線が得
られる部分である。このようにX線検出器3は、
最大拡がり角いつぱいに被検体が位置されるのを
予想して広角度のものを設置し、被検体2が幅狭
な場合でもX線検出器3に一様なX線を照射して
いる。従来のCT装置においては、被検体2が位
置しないA部をもX線検出し、演算しており、そ
のため被検体の断層像を構成するに不必要なデー
タをも演算処理することになり、1画面の断層像
を再構成する時間としてはその分長かつた。
に、X線管1より被検体2にX線照射し、その被
検体2を透過したX線をX線検出器3により検出
し、図示していない演算回路により被検体のX線
吸収値を求め、その値から断層像を再構成してい
る。ここで、第1図のA部は照射X線ビームの最
大拡がり角内で、被検体2にX線照射されない部
分であり、B部のみが被検体を透過したX線が得
られる部分である。このようにX線検出器3は、
最大拡がり角いつぱいに被検体が位置されるのを
予想して広角度のものを設置し、被検体2が幅狭
な場合でもX線検出器3に一様なX線を照射して
いる。従来のCT装置においては、被検体2が位
置しないA部をもX線検出し、演算しており、そ
のため被検体の断層像を構成するに不必要なデー
タをも演算処理することになり、1画面の断層像
を再構成する時間としてはその分長かつた。
本発明の目的は、前記従来技術の欠点をなく
し、画像再構成時間の短いCT装置を提供するに
ある。
し、画像再構成時間の短いCT装置を提供するに
ある。
本発明においては、被検体がないにもかかわら
ずX線照射される部分AのX線量を、被検体が位
置し、被検体の透過X線を検出する部分Bとの変
遷点である外側各1点C,C′で代表させ、透過X
線量を検出演算するに必要なデータ数を減少させ
ることにより画像再構成時間を短縮させたもので
ある。
ずX線照射される部分AのX線量を、被検体が位
置し、被検体の透過X線を検出する部分Bとの変
遷点である外側各1点C,C′で代表させ、透過X
線量を検出演算するに必要なデータ数を減少させ
ることにより画像再構成時間を短縮させたもので
ある。
以下、第2図〜第4図に従つて本発明を詳述す
る。第2図は本発明の一実施例を示すものであつ
て、第1図と同一符号は同一機能を有するもので
ある。図中、4は多チヤンネル計測回路であり、
多素子検出器3で検出したX線量を計測するもの
である。5は入力切換回路、6はメモリ回路、7
は出力切換回路、8はデータ長マーク回路、9は
多素子検出器3で検出したX線量から変遷点C,
C′を求める変遷点検出回路、10は出力切換回路
7の出力を得て、演算データ数を指定する回路、
11は画像再構成演算回路、12は再構成された
画像を表示する表示装置(モニタ)であり、これ
らは図示の如く接続してある。入線管1より照射
されたX線は、被検体2を透過した後、透過X線
としてB部は多素子検出器3により検出される。
そのとき同時に被検体2を透過しないA部におけ
る周辺の照射X線も同じ多素子検出器3により検
出される。多素子検出器3により検出されたX線
量は電気信号に変換され、多チヤンネル計測回路
4により演算処理に適したデイジタル信号に変換
され、入力切換回路5に入力される。ここで入力
切換回路5は、多チヤンネル計測回路4からのデ
ータが伝送される時は、多チヤンネル計測回路4
とメモリ回路6とを接続し、X線が照射されてい
る時間は多チヤンネル計測回路4と変遷点検出回
路9を接続する。7の出力切換回路は、計測後再
構成演算を行なう場合においては計測中常にメモ
リ回路6と変遷点検出回路9とを接続し、計測時
演算を行なう場合はメモリ回路6と画像再構成演
算回路11とを接続する。さらに、変遷点検出回
路9においてはとなり合うデータの差分(A部に
おけるデータの差分)を常に計算し、定められた
閾値以上の差分を検出し、変遷点を求めると共
に、変遷点に達するまでのデータの大きさを常に
加算平均し、代表値を算出している。
る。第2図は本発明の一実施例を示すものであつ
て、第1図と同一符号は同一機能を有するもので
ある。図中、4は多チヤンネル計測回路であり、
多素子検出器3で検出したX線量を計測するもの
である。5は入力切換回路、6はメモリ回路、7
は出力切換回路、8はデータ長マーク回路、9は
多素子検出器3で検出したX線量から変遷点C,
C′を求める変遷点検出回路、10は出力切換回路
7の出力を得て、演算データ数を指定する回路、
11は画像再構成演算回路、12は再構成された
画像を表示する表示装置(モニタ)であり、これ
らは図示の如く接続してある。入線管1より照射
されたX線は、被検体2を透過した後、透過X線
としてB部は多素子検出器3により検出される。
そのとき同時に被検体2を透過しないA部におけ
る周辺の照射X線も同じ多素子検出器3により検
出される。多素子検出器3により検出されたX線
量は電気信号に変換され、多チヤンネル計測回路
4により演算処理に適したデイジタル信号に変換
され、入力切換回路5に入力される。ここで入力
切換回路5は、多チヤンネル計測回路4からのデ
ータが伝送される時は、多チヤンネル計測回路4
とメモリ回路6とを接続し、X線が照射されてい
る時間は多チヤンネル計測回路4と変遷点検出回
路9を接続する。7の出力切換回路は、計測後再
構成演算を行なう場合においては計測中常にメモ
リ回路6と変遷点検出回路9とを接続し、計測時
演算を行なう場合はメモリ回路6と画像再構成演
算回路11とを接続する。さらに、変遷点検出回
路9においてはとなり合うデータの差分(A部に
おけるデータの差分)を常に計算し、定められた
閾値以上の差分を検出し、変遷点を求めると共
に、変遷点に達するまでのデータの大きさを常に
加算平均し、代表値を算出している。
第3図は第2図に示す変遷点検出回路9の具体
的構成図であり、13は変遷点検出回路内の入力
切換回路、14はX線照射1回について得られる
データの全てを保持できる容量を有するメモリ、
15は閾値検出回路、16は加算平均回路、17
は第2図に示すメモリ回路6の番地を定める番地
計算回路で、図示の如く接続構成してある。
的構成図であり、13は変遷点検出回路内の入力
切換回路、14はX線照射1回について得られる
データの全てを保持できる容量を有するメモリ、
15は閾値検出回路、16は加算平均回路、17
は第2図に示すメモリ回路6の番地を定める番地
計算回路で、図示の如く接続構成してある。
同回路によると、まず、1回のX線照射のデー
タは、多素子検出回路3により検出され、多チヤ
ンネル計測回路4、入力切換回路5を介してメモ
リ回路6に一時記憶し、そのメモリ回路出力は出
力切換回路7を介して変遷点検出回路9内の入力
切換回路13に入力される。入力切換回路13は
出力切換回路7の出力をメモリ回路14に与え、
全てのデータはそのメモリ回路14に記憶され
る。そこで、番地計算回路17はメモリ回路14
に対しメモリ番地を与え、メモリ内容を読出す。
メモリ回路14の出力は閾値検出回路15、加算
平均回路16に加えられる。そのうち閾値検出回
路15では、閾値と読出し値を比較し「閾値>読
出し値」のときは番地計算回路17に番地の更新
命令を出し、加算平均回路16に平均演算命令を
出す。
タは、多素子検出回路3により検出され、多チヤ
ンネル計測回路4、入力切換回路5を介してメモ
リ回路6に一時記憶し、そのメモリ回路出力は出
力切換回路7を介して変遷点検出回路9内の入力
切換回路13に入力される。入力切換回路13は
出力切換回路7の出力をメモリ回路14に与え、
全てのデータはそのメモリ回路14に記憶され
る。そこで、番地計算回路17はメモリ回路14
に対しメモリ番地を与え、メモリ内容を読出す。
メモリ回路14の出力は閾値検出回路15、加算
平均回路16に加えられる。そのうち閾値検出回
路15では、閾値と読出し値を比較し「閾値>読
出し値」のときは番地計算回路17に番地の更新
命令を出し、加算平均回路16に平均演算命令を
出す。
また、「閾値<読出し値」のときは、データ長
マーク回路8に閾値以下であるデータの個数を与
え、番地計算回路17は前もつて定めてあるメモ
リ番地を与え、メモリ回路14にデータ長マーク
回路8の内容と加算平均回路16の演算結果(平
均値)を書込む。
マーク回路8に閾値以下であるデータの個数を与
え、番地計算回路17は前もつて定めてあるメモ
リ番地を与え、メモリ回路14にデータ長マーク
回路8の内容と加算平均回路16の演算結果(平
均値)を書込む。
第4図に示したデータ配列を例にとり説明する
と、第4図aのA部は、第1図のA部に相当し、
被検体2を透過しないデータであり、B部は同じ
く第1図のB部に相当し、被検体2を透過した演
算処理に有効なデータである。
と、第4図aのA部は、第1図のA部に相当し、
被検体2を透過しないデータであり、B部は同じ
く第1図のB部に相当し、被検体2を透過した演
算処理に有効なデータである。
これを処理するには、まず、番地計算回路17
はデータD1に対応するメモリ番地をメモリ回路
14に与え、データD1をメモリ回路14より読
出し、閾値検出回路15で閾値との比較をし、加
算平均回路16に格納する。それと同時に、番地
計算回路17に番地更新命令を与える。
はデータD1に対応するメモリ番地をメモリ回路
14に与え、データD1をメモリ回路14より読
出し、閾値検出回路15で閾値との比較をし、加
算平均回路16に格納する。それと同時に、番地
計算回路17に番地更新命令を与える。
次に、番地計算回路17の出力によりデータ
D2をメモリ回路14より読出し、閾値検出回路
15で閾値比較を行ない、閾値以下の場合はデー
タD2を加算平均回路16に加え、平均演算命令
を与えると共に、番地計算回路17に番地更新命
令を与える。以下同様に順次図の左から右へ比
較、平均演算処理を行なう。
D2をメモリ回路14より読出し、閾値検出回路
15で閾値比較を行ない、閾値以下の場合はデー
タD2を加算平均回路16に加え、平均演算命令
を与えると共に、番地計算回路17に番地更新命
令を与える。以下同様に順次図の左から右へ比
較、平均演算処理を行なう。
そして、データの変遷点であるA部とB部、す
なわち、番地計算回路17の番地出力によりデー
タD97が読出され、閾値検出回路15での比較に
よりB部の始点であるデータD97は閾値を越える
ため、データD96とD97の間が変遷点となる。閾
値検出回路15はこの点を検出し、データ長マー
ク回路8に閾値以下のデータ数(第4図bでは
D96)および加算平均回路16のデータD1〜D97
までの平均演算結果を与える。
なわち、番地計算回路17の番地出力によりデー
タD97が読出され、閾値検出回路15での比較に
よりB部の始点であるデータD97は閾値を越える
ため、データD96とD97の間が変遷点となる。閾
値検出回路15はこの点を検出し、データ長マー
ク回路8に閾値以下のデータ数(第4図bでは
D96)および加算平均回路16のデータD1〜D97
までの平均演算結果を与える。
次に、番地計算回路17はデータD512に対応す
るメモリ番地をメモリ回路14に与え、データ
D512をメモリ回路14より読出し、閾値との比較
をし、加算平均回路16に格納すると共に、番地
計算回路17に番地更新命令を与える。以下、同
様に第4図aに示す如く順次右から左へと比較、
平均演算動作を行なう。番地計算回路17の番地
出力によりデータD416が読出され、閾値検出回路
15での比較によりB部の終点であるデータD416
は閾値を越えるため、データD416とD417の間が変
遷点となる。閾値検出回路15はこの点を検出
し、データ長マーク回路8に閾値以下のデータ数
(第4図bではD96)および加算平均回路16の
データD417〜D512までの平均演算結果を与える。
るメモリ番地をメモリ回路14に与え、データ
D512をメモリ回路14より読出し、閾値との比較
をし、加算平均回路16に格納すると共に、番地
計算回路17に番地更新命令を与える。以下、同
様に第4図aに示す如く順次右から左へと比較、
平均演算動作を行なう。番地計算回路17の番地
出力によりデータD416が読出され、閾値検出回路
15での比較によりB部の終点であるデータD416
は閾値を越えるため、データD416とD417の間が変
遷点となる。閾値検出回路15はこの点を検出
し、データ長マーク回路8に閾値以下のデータ数
(第4図bではD96)および加算平均回路16の
データD417〜D512までの平均演算結果を与える。
以上の動作によりB部に属する有益なデータの
抽出が行なわれる。そして、データ長マーク回路
8に格納されている情報は全ての動作が終了後、
所定の番地に書き込まれ、第4図bの形式とな
る。このようにA部のデータは代表データとして
処理するものであるから、同例においては512個
のデータが322個に圧縮されることになる。
抽出が行なわれる。そして、データ長マーク回路
8に格納されている情報は全ての動作が終了後、
所定の番地に書き込まれ、第4図bの形式とな
る。このようにA部のデータは代表データとして
処理するものであるから、同例においては512個
のデータが322個に圧縮されることになる。
そして、第2図に示す演算データ数指定回路1
0は第4図bの形式の先頭からの4つのデータ
イ,ロ,ハ,ニを入力信号として受けとり、第4
図cのようなデータの配列にすると共に、前半A
部のデータ数、後半A部のデータ数より再構成演
算すべきデータ数(本データ配列、図においては
データ数322個)を算出し、画像再構成演算回路
11に演算個数および演算回数を指定する。そし
て、その画像再構成演算回路11は演算データ数
指定回路10の指示によりコンボルーシヨン演
算、逆投影演算を行ない、表示装置に断層像を表
示する。
0は第4図bの形式の先頭からの4つのデータ
イ,ロ,ハ,ニを入力信号として受けとり、第4
図cのようなデータの配列にすると共に、前半A
部のデータ数、後半A部のデータ数より再構成演
算すべきデータ数(本データ配列、図においては
データ数322個)を算出し、画像再構成演算回路
11に演算個数および演算回数を指定する。そし
て、その画像再構成演算回路11は演算データ数
指定回路10の指示によりコンボルーシヨン演
算、逆投影演算を行ない、表示装置に断層像を表
示する。
上述の実施例の如く、多素子検出器3の素子数
を512、角度方向のデータ収集数を1回転当たり、
360個とすると、従来では再構成に用いるデータ
数は512×360=184320であるのに対し、本発明の
実施例では被検体を透過しない部分のデータは代
表化しているので、322×360=115920となり、デ
ータ数を約63%に圧縮することができ、したがつ
て同一再構成方式を用いるCT装置では演算時間
を従来の約63%に短縮できる。
を512、角度方向のデータ収集数を1回転当たり、
360個とすると、従来では再構成に用いるデータ
数は512×360=184320であるのに対し、本発明の
実施例では被検体を透過しない部分のデータは代
表化しているので、322×360=115920となり、デ
ータ数を約63%に圧縮することができ、したがつ
て同一再構成方式を用いるCT装置では演算時間
を従来の約63%に短縮できる。
以上の説明からも明らかなように本発明によれ
ば、被検体を透過しない検出X線データは代表化
し、その部分のデータは代表点のみ処理するよう
にしたものであるから、演算処理時間を大幅に短
縮でき、画像再構成時間の短縮が要求されるこの
種のCT装置において極めて有益なものといえる。
ば、被検体を透過しない検出X線データは代表化
し、その部分のデータは代表点のみ処理するよう
にしたものであるから、演算処理時間を大幅に短
縮でき、画像再構成時間の短縮が要求されるこの
種のCT装置において極めて有益なものといえる。
第1図はX線CT装置における透過X線検出部
の概略構成図、第2図は本発明の一実施例を示す
X線CT装置の全体的構成図、第3図は第2図の
一部を詳細化したブロツク図、第4図a,b,c
は本発明により検出データを圧縮できたことを説
明するデータ配列図である。 1……X線管、2……被検体、3……多素子検
出器、4……多チヤンネル計測回路、5,13…
…入力切換回路、6,14……メモリ回路、7…
…出力切換回路、8……データ長マーク回路、9
……変遷点検出回路、10……演算データ数指定
回路、11……画像再構成演算回路、12……表
示回路、15……閾値検出回路、16……加算平
均回路、17……番地計算回路。
の概略構成図、第2図は本発明の一実施例を示す
X線CT装置の全体的構成図、第3図は第2図の
一部を詳細化したブロツク図、第4図a,b,c
は本発明により検出データを圧縮できたことを説
明するデータ配列図である。 1……X線管、2……被検体、3……多素子検
出器、4……多チヤンネル計測回路、5,13…
…入力切換回路、6,14……メモリ回路、7…
…出力切換回路、8……データ長マーク回路、9
……変遷点検出回路、10……演算データ数指定
回路、11……画像再構成演算回路、12……表
示回路、15……閾値検出回路、16……加算平
均回路、17……番地計算回路。
Claims (1)
- 1 フアンビームX線を照射するX線管と、該X
線管と対向して設置した多素子X線検出器との間
に、被検体を位置させ、前記多素子X線検出器に
より検出した透過X線データを演算処理して被検
体の断層像を再構成し、表示するようにしたX線
CT装置であつて、前記多素子X線検出器で検出
した隣り合う検出データ間の差を計算し、定めら
れた閾値以上の差分を検出して検出X線データの
変遷点を求めると共に、変遷点までのデータの大
きさを加算平均し、該変遷点の代表値を算出する
変遷点検出手段を備え、被検体を透過しない部分
の検出X線データは前記変遷点での代表データで
演算処理するようにしたことを特徴とするCT装
置における検出データ演算処理回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56117781A JPS5819238A (ja) | 1981-07-29 | 1981-07-29 | Ct装置における検出デ−タ演算処理回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56117781A JPS5819238A (ja) | 1981-07-29 | 1981-07-29 | Ct装置における検出デ−タ演算処理回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5819238A JPS5819238A (ja) | 1983-02-04 |
JPH0113376B2 true JPH0113376B2 (ja) | 1989-03-06 |
Family
ID=14720153
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56117781A Granted JPS5819238A (ja) | 1981-07-29 | 1981-07-29 | Ct装置における検出デ−タ演算処理回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5819238A (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59183737A (ja) * | 1983-04-05 | 1984-10-18 | 株式会社東芝 | 第4世代x線ct装置 |
JPH08262182A (ja) * | 1995-03-27 | 1996-10-11 | Hitachi Ltd | 自動燃料交換装置 |
US7844097B2 (en) | 2007-12-03 | 2010-11-30 | Samplify Systems, Inc. | Compression and decompression of computed tomography data |
US7852977B2 (en) * | 2008-09-11 | 2010-12-14 | Samplify Systems, Inc. | Adaptive compression of computed tomography projection data |
US7916830B2 (en) | 2008-09-11 | 2011-03-29 | Samplify Systems, Inc. | Edge detection for computed tomography projection data compression |
US8151022B2 (en) | 2008-11-26 | 2012-04-03 | Simplify Systems, Inc. | Compression and storage of projection data in a rotatable part of a computed tomography system |
-
1981
- 1981-07-29 JP JP56117781A patent/JPS5819238A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5819238A (ja) | 1983-02-04 |
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