JPH01133150A - ハードウェアテスト方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はコンピュータのハードウェアテスト方式に関す
る。

〔従来の技術〕

従来のこの種のテストは、無条件に全テスト項目につい
て行なうか、利用者が選択したテスト項目のみについて
行なうようになっていた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上述した従来のテスト方式は、テスト項目によってテス
ト実行の必要度が違うという点が考慮されていないので
、毎回テストする必要のない項もテストが実行され、テ
スト時間が長くなるという欠点がある。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明の方式は、テスト項目毎にテスト実行の必要頻度
と前回のテスト実行からパスしたテスト回数とをメモリ
、に記憶しておき、 各テスト項目のテストに入る前に、メモリ内容からその
テスト項目のテストを実行するかどうか判断した上で実
行したりパスしたりするようにしている。

〔実施例〕

次に本発明について図面を参照して説明する。

第１図は本発明のテスト方式のフローチャートであり、
第２図は本テストのためのメモリの記憶内容例を示す。

先ず、第２図を参照すると、本メモリには、テスト項目
Ａ、Ｂ、Ｃ・・・毎に、テスト実行の必要度ａ、ｂ、ｃ
・・・およびテスト項目Ａ、Ｂ、Ｃ・・・について前回
テスト実行してからパスしてテスト実行しなかった回数
■、■、◎・・・が記憶されている。

次に、第１図を参照すると、ポインタの初期値設定１で
は、ポインタを第１のテスト項目に位置づける。メモリ
からの情報読み込み２では、ポインタが指すテスト項目
のテスト必要度とテストしなかった回数を読む。

テスト実行判断３では、読み込んだこの２種の情報を比
較し、今回のテストでポインタの指すテスト項目を実行
する必要があるかどうか判断する。

必要と判断した場合は、テスト実行４で、ポインタの指
す項目のテストを実行し、回数クリア５でポインタの指
す項目のテストしなかった回数をクリアしてメモリを書
き換える。

また、不必要と判断した場合は、回数インクリメント６
でポインタの指す項目のテストしなかった回数をインク
リメントしてメモリを書き換える。

判断７では、ポインタが最終テスト項目に位置づけられ
ているかどうかで処理を分け、ＹＥＳならテスト終了、
ＮＯならポインタ次項目設定８でポインタをこれまで位
置づけていた項目の次の項目に移し、動作を繰り返す。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明は、メモリにテストに関する
情報を記憶し、それによってテストの実行をテスト項目
毎に制御することによって、不必要なテスト項目のテス
ト実行を省略してテスト時間を短縮する効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のテスト方法のフローチャート、第２図
はメモリの構成例である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 テスト項目毎にテスト実行の必要頻度と前回のテスト実
   行からパスしたテスト回数とをメモリに記憶しておき、 各テスト項目のテストに入る前に、前記メモリ内容から
   そのテスト項目のテストを実行するかどうか判断した上
   で実行したりパスしたりするようにしたことを特徴とす
   るハードウェアテスト方式。