JPH01123106A - 座標測定装置 - Google Patents

座標測定装置

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JPH01123106A
JPH01123106A JP28090087A JP28090087A JPH01123106A JP H01123106 A JPH01123106 A JP H01123106A JP 28090087 A JP28090087 A JP 28090087A JP 28090087 A JP28090087 A JP 28090087A JP H01123106 A JPH01123106 A JP H01123106A
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JP
Japan
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touch sensor
measured
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sensor section
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Pending
Application number
JP28090087A
Other languages
English (en)
Inventor
Yukio Okita
沖田 雪男
Ikuo Noguchi
野口 郁夫
Shigeyuki Akimoto
茂行 秋元
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、被測定物の座標を測定する座標測定装置に
関する。
IL悲11 機械部品などの被測定物の形状を測定するのに、座標測
定装置が使用されている。この座標測定装置は、タッチ
センサー部と、このセンサー用の移動部と、位置信号形
成部などを有している。
タッチセンサー部は、被測定物に接触しているか否かを
検出する。センサー移動部は、タッチセンサー部と被測
定物を座標測定範囲において相対的に移動可能である。
位置信号形成部はタッチセンサー部と被測定物の相対の
位置を示す位置信号を形成する。
し    と (1) このような従来の装置では、タッチセンサー部
が被測定物に接触したm間に被測定物の座標値を処理部
に入力するようになっている。
このため接触すると、タッチセンサー部が振動する。ま
た、タッチセンサー部の触圧により、タッチセンサー部
や被測定物にタワミを生じる。これらのことから、測定
データに誤差を生じる。この誤差はタッチセンサー部の
移動速度により変化する。
(2) 手動測定時には、手動操作によりタッチセンサ
ー部を被測定物に接触させそのあと被測定物から引きは
なしている。手動でタッチセンサー部を被測定物に接触
した場合、接触した時にタッチセンサー部に大きい振動
を与えやすい。また、タッチセンサー部を被測定物に接
触して、そのあと被測定物から引離すのをすべて手動で
行う。タッチセンサー部を接触する際にタッチセンサー
部の接触速度が一定できない。このためタッチセンサー
部の応力が変化し、測定誤差が大きくなる。
また測定操作性が悪い。
11L1胤 この発明は、高精度の座標測定ができる座標測定装置を
提供することを目的とする。
、(7)11 この発明は特許請求の範囲第1項を要旨としている。
°     た  の 第1図を参照する。
タッチセンサー部4は、被測定物Wに接触しているか否
かを検出する。移動部5の作動により、タッチセンサー
部4と被測定物Wは座標測定範囲内で相対的に移動する
位置信号形成部6a 、6b’、6cはタッチセンサー
部4と被測定物の相対位置を示す位置信号を形成する。
そしてタッチセンサー部4が被測定物Wに接触すると、
座標測定装置1は位置信号により被測定物Wの座標を求
めるようになっている。
移動制御部7は、前記タッチセンサー部4が前記被測定
物Wとの接触を検出したときに、所定の接触速度で所定
量前記タッチセンサー部4を被測定物に対して相対的に
接触方向に移動させる。そしてこの移動制御部7は、−
定の離脱速度で前記タッチセンサー部4を離脱方向に被
測定物に対して相対的に移動させるようになっている。
そして、前記位置信号形成部(3a、5b、5cは、前
記移動部5が前記タッチセンサー部4を離脱方向に前記
離脱速度で相対的に移動させているとぎに、前記タッチ
センサー部4が被測定物Wからの離脱を礒出したときの
前記タッチセンサー部4と被測定物Wとの相対的位置を
示す位置信号を形成する構成である。
fLJL 被測定物Wに接触しているタッチセンサー部4は、一定
の離脱速度で離脱方向に移動され、タッチセンサー部4
が離脱を検出した時に、タッチセンサー部4と被測定物
Wの相対的位置を示す位置信号が得られる。
支−U 第1図を参照する。
[座標測定装置1] 座標測定袋@1は、ベース2、コラム3、タッチセンサ
ー部4、被測定物Wの移動部5、位置信号形成部5a、
6b、6c、移動制御部7、処理部33および手動操作
部8を有している。
[ベース2と支持部3] コラム3はベース2と一体となっている。
このコラム3にはタッチセンサー部4が設けられている
[タッチセンサー部4] 第2図を参照する。
タッチセンサー部4は、スタイラス10、プレート11
、ロッド12.スプリング13および6つの電気接点1
4を有している。スタイラス10が取り付けられたプレ
ート11に120部間隔に3本のロッド12が、出てい
る。各ロッド12は、2つの電気接点14に受けられて
いる。スタイラス10と電気接点14は電気的に接触状
態となっている。スタイラス10の球15に与えられる
力によりスタイラス10が傾く。このとき3つのロッド
12のうちいずれかが電気接点14からはなれることに
よりオン信号を出す。
なお、スプリング13は測定力を任意に調整するための
ものである [移動部5] 第1図を再び参照する。
移動部5は、タッチセンサー部4と被測定物Wを座標測
定範囲において相対的に移動可能とするものである。移
動部5は、サーボモータ20.21,22.サドル23
.テーブル24を有している。
サーボモータ20はサドル23に取付けである。サーボ
モータ20の出力軸に取付けた送りねじ25を回すこと
により、X方向にテーブル24を移動できる。
サーボモータ21はベース2に取付けである。サーボモ
ータ21の出力軸に取付けた送りねじ26を回すことに
より、X方向と直交するY方向にサドル23とテーブル
24を移動できる。
サーボモーター22はコラム3に取付けである。サーボ
モータ22を回すことによりタッチセンサー部4を2方
向に移動できる。
[移動制御部7] 各サーボモータ20〜22は移動制御211部7により
制御される。すなわち、後述のCPU34の指令に基い
て、各コントローラ30の制御する各ドライバ31がサ
ーボモータ20〜22を動作させるのである。
[位置信号形成部6a 、 6b 、 5c ]位置信
号形成部(3a、6b、(3cは、通常のたとえば光学
式のデジタルスケール装置である。
第3図で一例を示す。位置信号形成部6aは多数の同じ
スリン1〜100を有するスケール101と検出ヘッド
102を有する。検出ヘッド102はテーブル24の移
動により動く。これより光源103の光は受光器104
に入ったり入らなかったりする。この光による電気的パ
ルスがカウンタ43に入るのである。他の位置信号形成
部(3b、6cも同様である。
[処理部33] 第1図を参照する。
処理部33のCPLJ34は、ROM35a 。
RAM35b 、手動操作部8、出力インターフェース
36、入力インターフェース37、ラッチ38〜40、
前記コントローラ30につながっている。
各位置信号形成部6a、6b、6cのパルス信号はカウ
ンタ41,42.43でそれぞれカウントされラッチ3
8.39.40にラッチされる。
タッチセンサー部4が被測定物Wに接触してオンとなっ
たときは、接続信号はアンプ45、アンド回路46を介
してパルス発生部47に入る。パルス発生部47はこの
接触信号に対応してパルスを入力インタフェース37と
各ラッチ38〜40に送る。また、タッチセンサー部4
が被測定物Wから離れてオフとなったときは、パルス発
生部47はこの非接触信号に対応してパルスを入力イン
タフェース37と各ラッチ38〜40に送る。
出力インタフェース36からはアンド回路46蚤ま負論
理の入カイネーブル信qENが入るようになっている。
パルス発生部47は出力インタフェース36によりリセ
ット可能である。
[手動操作部8] 操作キー40cはインタフェース40aを介してCPU
34につながっている。
[測定操作] 第4図から第9図に従って説明する。
−1:二L [第10図(a )  (b )参照1まず、第4図で
はすでにスタイラス10の球15の中心Oを被測定物W
の目標座標点Mに対応する位置に位置決めしである。こ
の座標点Mを概略予測し、その座標点Mに近い減速点P
をn出しておく。
CPtJ34がコントローラ30に指令してサーボモー
タ21を作動して、サドル23とともにテーブル24を
Y1方向に速度v1で減速点Pまで移動する。(第5図
参照)つまり減速点までは被測定物Wをスタイラス10
に速く近ずけるのである。
このあと、サーボモータ21をY1方向にさらに作動し
て、被測定物を減速接触速度V2で移動してスタイラス
10の球15を目標測定点Mに接触させる。(第6図参
照)この時の接触速度V2は速度V1よりおそい。
球15が被測定物Mに接触すると、タッチセンサ一部4
がオン信号を出力し、第1図のアンプ45介してアンド
回路46の1端子に送られる。アンド回路の他の端子側
の入力イネーブル信号が“0″の間に47のパルス発生
部へオン信号が送られる。パルス発生部47のパルスが
入力インタフェース37と各ラッチ38〜40に送られ
る。このときカウンタ41〜43のカウント値をラッチ
38〜40でラッチし、CPU34に送る。このように
することで、一応被測定物Wに接触した時の被測定物W
の座標値(接触位置)をCPU34に入力するのである
さらに、被測定物WをYlの方向に速度V2で移動して
タッチセンサー部4が停止点に達したとき、サーボモー
タ21を停止する。
この停止点は前記接触位置から所定間隔離れている。こ
のときスタイラス10は被測定物Wに押されて弾性変形
している。
次に、第1図のCPLI34がコントローラ30に指令
し、第7図の被測定物WをY2方向にもどす。このとき
pli脱速度V3は速度V1J、り小さく、一定の値と
する。
第8図においてスタイラス10の変形がなくなり球15
が被測定物Wから離れたときに、再びタッチはンサ゛一
部4はオフ信号を出す。
このときのオフ信号に基いてパルス発生部47から入力
インタフェース37とラッチ38〜7IOにパルスが再
び送られる。このときカウンタ41〜43はカウント値
をラッチ38〜40でラッチし、CPU34に送る。こ
のようにすることで、被測定物Wの離脱時における被測
定物Wの座標値をCPU34に入力するのである。
そのあと第8図のY2方向にさらに被測定物Wを復帰点
Rまで一定の離脱速度v3で移動する。この復帰点Rは
前記被測定物Wの座標値から所定間隔離れている。この
あとサーボモータ21を停止する。
壬」九JL定二監二二上−[第10図(a >参照]手
動測定モードの一部は、自動測定モードの一部と一致し
ている。したがって、第10図(a )を参照して相違
する部分のみを説明する。
第1図の手動操作部8の操作キー40を操作して、第4
図Y1方向に被測定物Wを移動する。このときの速度V
4は自動測定モードの速度VIJ:りおそい。
タッチセンサー部4の球15が被測定物Wに接触すると
、自動測定モードのときと同様に接触時の座標値(接触
位置)をCPU34に入力できる。このあとCPU34
が接触速度V2をコン1−ローラ30に指令する。
第10図(b)に示すこれJ:1.後のステップは、自
動測定モードと同じである。
第11図には自動測定モード、手動測定モードおよびタ
ッチセンサー部のオンオフ関係を示しである。
自動測定モードでは、タッチセンサー部4の速度v1が
減速速度V2に下がる。そしてタッチセンサー部4が接
触した時点T1では速度v2である。
これに対して手動測定モードでは、タッチセンサ一部4
の速度がV4であり、接触した時点で■2に下がるので
ある。たとえば■1は60 mm/ secで■4は6
mm/sec 、 V2は1 mm/ seaである。
又離脱速度V3は0.5mm/ seaである。自動測
定モードと手動測定モードの時点T1でタッチセンサー
部がオンとなり時点T3でオフとなる。また時点T2に
おいて被測定物の移動は停止する。
ところでこの発明は上述の実施例に限定されない。
3次元測定だけでなく2次元測定あるいは1次元測定に
もこの発明は適用できる。
第1図はおいてテーブルがX方向に移動するのでなく、
タッチセンサー部4がX方向に移動するようにしてもよ
い。
タッチセンサー部4は第2図の構造のものに限るもので
はない。
なお、この発明ではタッチセンサー部4が接触したあと
は自動的にタッチセンサー部4を離脱させる。このため
次の事項について制御が行える。
■ 接触後のタッチセンサー部の押付は吊■ 接触後の
速度 ■ 接触後の離脱速度 ■ 離脱後の後退量 1乱仄立乱 以上説明したように、タッチセンサー部を被測定物に接
触させるのは自動又は手動で行う。接触したあとタッチ
センサー部が被測定物から一定の離脱速度で離脱し、離
脱した瞬間に被測定物の座標を検出するようになってい
る。このため、 ■ タッチセンサー部の振動による影響をうけることが
ない。
■ スタイラスなどのタッチセンサー部のたわみによる
影響をうけない。
■ 接触時の速度の変化は無関係である。
したがって、自動測定および手動測定により測定者の熟
練度に関係なく、正確な被測定物の座標値を求めること
ができる。すなわち、被測定物の形状を確実に求めるこ
とができる。
また、被測定物の概略の座標値の近くまで離脱速度より
速い速度でタッチセンサー部を被測定物に対して相対的
に移動することにより、測定時間の短縮が図れる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の座標測定装置の実施例を示す図、第
2図はタッチセンサー部の斜視図、第3図はデジタルス
ケール装置を示す図、第4図〜第9図は動作説明図、第
10図は動作の流れ図、第11図は動作のタイムチャー
トである。 4・・・・・・タッチセンサー部 5・・・・・・移動部 6a、5b、6c・・・位置信号形成部7・・・移動制
御部 Yl・・・接触方向 Y2・・・離脱方向 W・・・・・・被測定物 第2図 第3図 第4図 第5図 第6図 第7図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被測定物に接触しているか否かを検出するタッチセ
    ンサー部と、 前記タッチセンサー部と被測定物を座標測定範囲におい
    て相対的に移動可能とする移動部と、 該タッチセンサー部と被測定物の相対位置を示す位置信
    号を形成する位置信号形成部とを有し、 前記タッチセンサー部が前記被測定物との接触を検出し
    たときの前記位置信号により前記被測定物の座標を求め
    る座標測定装置において、 前記タッチセンサー部が前記被測定物との接触を検出し
    たときに、所定の接触速度で所定量前記タッチセンサー
    部と被測定物とを相対的に接触方向に移動させ、一定の
    離脱速度で離脱方向に前記タッチセンサー部と被測定物
    を相対的に移動させるように前記移動部を制御する移動
    制御部を備え、 前記位置信号形成部は、前記移動部が前記タッチセンサ
    ー部と被測定物を前記離脱方向に前記離脱速度で相対的
    に移動させているとき前記タッチセンサー部が被測定物
    からの離脱を検出したときに前記タッチセンサー部と被
    測定物との相対的位置を示す位置信号を形成することを
    特徴とする座標測定装置。 2、前記移動制御部は、前記被測定物の概略の座標値を
    得て前記概略の座標値近傍まで前記離脱速度より速い速
    度でタッチセンサー部と被測定物を相対的に移動させる
    ように構成されたことを特徴とする特許請求の範囲第1
    項記載の座標測定装置。
JP28090087A 1987-11-09 1987-11-09 座標測定装置 Pending JPH01123106A (ja)

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JP28090087A JPH01123106A (ja) 1987-11-09 1987-11-09 座標測定装置

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JP28090087A JPH01123106A (ja) 1987-11-09 1987-11-09 座標測定装置

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JP28090087A Pending JPH01123106A (ja) 1987-11-09 1987-11-09 座標測定装置

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5837505A (ja) * 1981-08-29 1983-03-04 Toshiba Mach Co Ltd 計測方法および計測装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5837505A (ja) * 1981-08-29 1983-03-04 Toshiba Mach Co Ltd 計測方法および計測装置

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