JP7357289B2 - センサ処理システム、及びセンサシステム - Google Patents

Description

本開示は、一般にセンサ処理システム、及びセンサシステムに関し、より詳細には、複数のセンサの出力を用いるセンサ処理システム、及び、センサ処理システムを備えるセンサシステムに関する。

特許文献１には、センサ部（センサ）及び制御回路を備える検出装置（センサ処理システム）が開示されている。特許文献１に記載された検出装置は、センサ部の検出結果を用いて、あらかじめ決められた物理量を検出する。

国際公開第２０１５／１２８９２２号

しかしながら、特許文献１に記載された検出装置では、断線故障などによる比較的大きな感度変化を検出することはできても比較的小さな感度変化を検出することが難しかった。

本開示は上記の点に鑑みてなされた発明であり、本開示の目的は、センサの故障検出精度及びセンサの検出精度を高めやすいセンサ処理システム、及びセンサシステムを提供することにある。

本開示の一態様に係るセンサ処理システムは、複数の低減回路と、加算器と、を備える。前記複数の低減回路は、複数のセンサに一対一に対応する。前記複数の低減回路は、対応するセンサの出力端に電気的に接続されて前記センサのセンサ出力のうちの低周波成分を低減させる。前記複数の低減回路は、対応する前記センサの出力経路から分岐して設けられている。前記加算器は、前記複数のセンサのセンサ出力を加算して加算結果を出力する。

本開示の一態様に係るセンサシステムは、前記センサ処理システムと、前記複数のセンサとを備える。

本開示の上記態様に係るセンサ処理システム、及びセンサシステムによれば、センサの故障検出精度及びセンサの検出精度を高めやすい。

図１は、実施形態１に係るセンサシステムの構成図である。 図２は、同上のセンサシステムにおける加算器の出力特性図である。 図３は、同上のセンサシステムの動作を示すフローチャートである。 図４は、実施形態２に係るセンサシステムの構成図である。 図５は、実施形態２の変形例に係るセンサシステムの構成図である。

以下、実施形態１，２に係るセンサシステムについて、図面を参照して説明する。下記の実施形態等において参照する各図は、模式的な図であり、図中の各構成要素の大きさや厚さそれぞれの比が、必ずしも実際の寸法比を反映しているとは限らない。

（実施形態１）
（１）センサシステム
実施形態１に係るセンサシステム１の構成について、図１を参照して説明する。

センサシステム１は、図１に示すように、センサ処理システム２と、複数（図示例では３つ）のセンサ３とを備える。

センサシステム１は、例えば、自動車等の車両、自走ロボットに搭載されて用いられる。例えば、センサシステム１は、車両の制御システムに用いられる。複数のセンサ３が車両に取り付けられ、複数のセンサ３が所定の物理量を検出することにより、センサシステム１は、複数のセンサ３の検出結果を用いて、車両の位置、向き、及び傾きを正しく認識する。センサシステム１は、例えば、車両を自動運転する自動運転装置と共に用いられる。

（２）センサシステムの各構成要素
以下、センサシステム１の各構成要素について、図面を参照して説明する。

（２．１）センサ
複数のセンサ３は、図１に示すように、第１センサ３１と、第２センサ３２と、第３センサ３３とを含む。複数のセンサ３の各々は、例えば慣性センサであり、所定の物理量を検出し、検出結果をセンサ出力Ａ１（センサ信号）として出力する。

所定の物理量は、例えば、角速度、角加速度、速度、加速度、振動、荷重、気圧、電磁気量、温度等である。所定の物理量が角速度である場合、各センサ３は角速度センサである。所定の物理量が加速度である場合、各センサ３は加速度センサである。

複数のセンサ３は、例えば同一の物理量を検出するために用いられる。言い換えると、第１センサ３１、第２センサ３２、及び第３センサは、全て同一の物理量を検出する。これにより、冗長性を向上させることができる。例えば、第１センサ３１が故障した場合であっても、第２センサ３２及び第３センサが上記物理量を検出することができる。要するに、第１センサ３１、第２センサ３２、及び第３センサ３３の少なくとも２つが故障した場合であっても、残りのセンサ３が上記物理量を検出することができる。

（２．２）センサ処理システム
センサ処理システム２は、図１に示すように、複数（図示例では３つ）のフィルタ４（低減回路）と、加算器５と、除算器６と、複数（図示例では３つ）の比較器７と、制御回路８とを備える。

（２．２．１）フィルタ
複数のフィルタ４は、図１に示すように、複数のセンサ３に一対一に対応し、対応するセンサ３の出力経路に挿入されている。複数のフィルタ４は、対応するセンサ３の出力端に接続されている。より詳細には、複数のフィルタ４は、第１フィルタ４１と、第２フィルタ４２と、第３フィルタ４３とを含む。第１フィルタ４１は、第１センサ３１に対応し、第１センサ３１の第１経路Ｇ１１に挿入されている。第１経路Ｇ１１は、第１センサ３１と比較器７との間の経路である。図１の例では、第１経路Ｇ１１は、第１センサ３１と加算器５との間の第１出力経路Ｆ１１から分岐している。第２フィルタ４２は、第２センサ３２に対応し、第２センサ３２の第２経路Ｇ１２に挿入されている。第２経路Ｇ１２は、第２センサ３２と比較器７との間の経路である。図１の例では、第２経路Ｇ１２は、第２センサ３２と加算器５との間の第２出力経路Ｆ１２から分岐している。第３フィルタ４３は、第３センサ３３に対応し、第３センサ３３の第３経路Ｇ１３に挿入されている。第３経路Ｇ１３は、第３センサ３３と比較器７との間の経路であり、図１の例では、第３経路Ｇ１３は、第３センサ３３と加算器５との間の第３出力経路Ｆ１３から分岐している。

複数のフィルタ４は、対応するセンサ３のセンサ出力Ａ１のうちの低周波成分を低減させる。ここで、「センサ出力の低周波成分」とは、センサ３の検出対象を検出したときの変動成分の周波数よりも低い周波数成分をいう。「センサ出力の低周波成分」は、センサ出力Ａ１の直流成分（ＤＣ成分）を含む。

実施形態では、複数のフィルタ４は、ハイパスフィルタである。各センサ３は、センサ出力Ａ１の直流成分をカットする。なお、複数のフィルタ４は、ハイパスフィルタに限定されず、他のフィルタであってもよい。複数のフィルタ４は、例えばバンドパスフィルタであってもよい。

例えば、第１フィルタ４１は、第１センサ３１の第１センサ出力Ａ１１のうちの低周波成分を低減（除去）させる。第１フィルタ４１によって低周波成分が低減（除去）されたセンサ出力は、第１フィルタ出力Ｂ１１として第１フィルタ４１から出力される。第２フィルタ４２は、第２センサ３２の第２センサ出力Ａ１２のうちの低周波成分を低減（除去）させる。第２フィルタ４２によって低周波成分が低減（除去）されたセンサ出力は、第２フィルタ出力Ｂ１２として第２フィルタ４２から出力される。第３フィルタ４３は、第３センサ３３の第３センサ出力Ａ１３のうちの低周波成分を低減（除去）させる。第３フィルタ４３によって低周波成分が低減（除去）されたセンサ出力は、第３フィルタ出力Ｂ１３として第３フィルタ４３から出力される。

上記より、複数のフィルタ４が、対応するセンサ３のセンサ出力Ａ１の直流成分を低減（除去）する。直流成分が低減（除去）されたセンサ出力は、フィルタ出力Ｂ１として各フィルタ４から出力される。これにより、例えば各センサ３が角速度センサである場合、各センサ３において、角速度の入力がない状態のセンサ出力Ａ１を低減させることができる。つまり、各センサ３のバイアスエラーを低減させることができる。

（２．２．２）加算器
加算器５は、図１に示すように、複数のセンサ３のセンサ出力Ａ１を加算する。より詳細には、加算器５は、第１センサ３１の第１センサ出力Ａ１１と、第２センサ３２の第２センサ出力Ａ１２と、第３センサ３３の第３センサ出力Ａ１３とを加算する。

加算器５は、複数のセンサ３のセンサ出力Ａ１を加算することによって得られる加算結果を出力する。例えば、加算器５は、加算結果を制御回路８に出力する。図１の例では、加算器５は、除算器６を介して制御回路８に加算結果を出力する。

上述したように加算器５が複数のセンサ３のセンサ出力Ａ１を加算することによって、１つのセンサのセンサ出力のみを用いる場合よりも、センサ３による検出結果の精度を高めやすい。

複数のセンサ３のセンサ出力Ａ１を用いると、アングル・ランダム・ウォーク（Angle Random Walk：ＡＲＷ）が下がる。これについて、以下に詳細を説明する。ここでは、３つのセンサ出力Ａ１の場合について説明する。

第１センサ３１の第１センサ出力Ａ１１は、平均値μ１、分散σ１の正規分布となる。同様に、第２センサ３２の第２センサ出力Ａ１２は、平均値μ２、分散σ２の正規分布となる。同様に、第３センサ３３の第３センサ出力Ａ１３は、平均値μ３、分散σ３の正規分布となる。各センサ３の感度をＴとする。

第１センサ３１の第１センサ出力Ａ１１のみを用いた場合、感度Ｔ、分散σ１であるから、Ｓ／Ｎ比は、感度Ｔを分散σ１で割って得られる値、つまり感度Ｔ／分散σ１である。

一方、第１センサ３１の第１センサ出力Ａ１１と第２センサ３２の第２センサ出力Ａ１２とを用いた場合、感度は２Ｔとなる。第１センサ出力Ａ１１の正規分布と第２センサ出力Ａ１２の正規分布とを重ね合わせた場合、平均値（μ１＋μ２）、分散（σ１^２＋σ２^２）^１／２の正規分布となる。したがって、Ｓ／Ｎ比は、感度２Ｔを分散（σ１^２＋σ２^２）^１／２で割って得られる値、つまり感度２Ｔ／分散（σ１^２＋σ２^２）^１／２である。

分散σ１と分散σ２とが等しいとき、センサ出力Ａ１が２つの場合の分散は、センサ出力Ａ１が１つの場合の分散の２^１／２分の１倍となる。Ｓ／Ｎ比は、２^１／２Ｔ／σ１となる。

また、第１センサ３１の第１センサ出力Ａ１１と第２センサ３２の第２センサ出力Ａ１２と第３センサ３３の第３センサ出力Ａ１３とを用いた場合、感度は３Ｔとなる。第１センサ出力Ａ１１の正規分布と第２センサ出力Ａ１２の正規分布と第３センサ出力Ａ１３の正規分布とを重ね合わせた場合、平均値（μ１＋μ２＋μ３）、分散（σ１^２＋σ２^２＋σ３^２）^１／２の正規分布となる。したがって、Ｓ／Ｎ比は、感度３Ｔを分散（σ１^２＋σ２^２＋σ３^２）^１／２で割って得られる値、つまり感度３Ｔ／分散（σ１^２＋σ２^２＋σ３^２）^１／２である。

分散σ１と分散σ２と分散σ３とが等しいとき、センサ出力Ａ１が３つの場合の分散は、センサ出力Ａ１が１つの場合の分散の３^１／２分の１倍となる。Ｓ／Ｎ比は、３^１／２Ｔ／σ１となる。

上記より、各センサ３の分散が全て等しいとき、複数のセンサ３の場合の分散は、センサ３の数つまりセンサ出力Ａ１の数の平方根に反比例する。Ｓ／Ｎ比は、センサ３の数つまりセンサ出力Ａ１の数の平方根に比例する。

図２に示すように、３つのセンサ３のセンサ出力Ａ１が加算されたときの特性Ｐ１のほうが、１つのセンサのセンサ出力のみの特性Ｐ２よりも、アラン分散（Allan Variance）が低くなる。また、バイアス安定性（BIAS Instability：ＢＩ）も向上する。

ところで、加算器５は、複数のセンサ３について個別に重み付けを行う機能を有する。より詳細には、加算器５は、複数のセンサ出力Ａ１を同じ重みで加算してもよいし、複数のセンサ出力Ａ１を互いに異なる重みで加算してもよい。例えば、初期状態では、全てのセンサ３の重み係数を１とし、異常なセンサ３（故障したセンサ３）の重み係数を１よりも低くしたり、又は、０にしたりする。これにより、加算結果の出力（以下「加算出力Ｃ１」という）において、異常なセンサ３のセンサ出力Ａ１の影響を低減させることができる。

（２．２．３）除算器
上述したように、加算器５が複数のセンサ３のセンサ出力Ａ１を加算するため、加算器５に入力されるセンサ出力Ａ１の数によって、加算器５からの加算出力Ｃ１の振幅が異なる。加算器５に入力されるセンサ出力Ａ１の数が多くなるにつれて、加算出力Ｃ１の振幅が大きくなる。このような加算出力Ｃ１がそのまま制御回路８に入力されると、制御回路８は誤認識を起こすおそれがある。このため、加算器５に入力されるセンサ出力Ａ１の数に関係なく、制御回路８に入力される加算出力Ｄ１の振幅を一定の範囲内にする必要がある。

そこで、除算器６は、図１に示すように、加算器５の加算出力Ｃ１の振幅を小さくする。より詳細には、除算器６のゲインは、例えば、加算器５に入力されるセンサ出力Ａ１の数の逆数である。除算器６は、加算出力Ｃ１の振幅を、加算器５に入力されるセンサ出力Ａ１の数の逆数倍にする。例えば、３つのセンサ出力Ａ１が加算器５に入力される場合、加算器５の加算出力Ｃ１の振幅は、１つのセンサ出力のみが加算器５に入力される場合に比べて、３倍となる。このため、除算器６は、加算器５の加算出力Ｃ１の振幅を３分の１にする。これにより、加算器５に入力されるセンサ出力Ａ１の数に関係なく、加算出力Ｃ１のレンジを一定にすることができる。除算器６により増幅された加算出力Ｄ１は、制御回路８に出力される。

なお、除算器６のゲインは、加算器５に入力されるセンサ出力Ａ１の数の逆数に限定されず、上記以外であってもよい。要するに、加算器５に入力されるセンサ出力Ａ１の数が変わっても、制御回路８に入力される加算出力Ｄ１の振幅の変化が小さくなるように、除算器６のゲインが設定されればよい。

（２．２．４）比較器
複数の比較器７の各々は、図１に示すように、複数のフィルタ４のうちの２つのフィルタ出力Ｂ１を比較する。そして、各比較器７は、比較結果Ｅ１を出力する。複数の比較器７は、第１比較器７１と、第２比較器７２と、第３比較器７３とを含む。

第１比較器７１は、第１フィルタ４１の第１フィルタ出力Ｂ１１と第２フィルタ４２の第２フィルタ出力Ｂ１２とを比較する。そして、第１比較器７１は、第１フィルタ出力Ｂ１１と第２フィルタ出力Ｂ１２との比較結果を第１比較結果Ｅ１１として出力する。

より詳細には、第１比較器７１には、第１フィルタ４１の第１フィルタ出力Ｂ１１と第２フィルタ４２の第２フィルタ出力Ｂ１２とが入力される。第１比較器７１の非反転入力端子（図１では「＋」の記号で示す）に第１フィルタ出力Ｂ１１が入力され、第１比較器７１の反転入力端子（図１では「－」の記号で示す）に第２フィルタ出力Ｂ１２が入力される。第１比較器７１は、第１フィルタ出力Ｂ１１と第２フィルタ出力Ｂ１２とを比較し、第１フィルタ出力Ｂ１１と第２フィルタ出力Ｂ１２とが同じである場合、第１比較結果Ｅ１１として「０」を出力する。一方、第１フィルタ出力Ｂ１１と第２フィルタ出力Ｂ１２とが異なる場合、第１比較器７１は、第１比較結果Ｅ１１として「１」を出力する。第１比較器７１は、第１比較結果Ｅ１１を制御回路８に出力する。

第１比較器７１は、第１閾値設定部７１１を有する。第１閾値設定部７１１は、第１フィルタ出力Ｂ１１と第２フィルタ出力Ｂ１２との差分の絶対値と比較するための第１閾値を設定する。上記の例では、第１閾値は０である。

なお、第１閾値設定部７１１は、第１閾値を０よりも大きくしてもよい。第１閾値が０よりも大きい場合であっても、第１フィルタ出力Ｂ１１と第２フィルタ出力Ｂ１２との差分の絶対値が第１閾値以下であるとき、第１比較器７１は、第１比較結果Ｅ１１として「０」を出力する。第１フィルタ出力Ｂ１１と第２フィルタ出力Ｂ１２との差分の絶対値が第１閾値より大きい場合、第１比較器７１は、第１比較結果Ｅ１１として「１」を出力する。

第２比較器７２は、第１フィルタ４１の第１フィルタ出力Ｂ１１と第３フィルタ４３の第３フィルタ出力Ｂ１３とを比較する。そして、第２比較器７２は、第１フィルタ出力Ｂ１１と第３フィルタ出力Ｂ１３との比較結果を第２比較結果Ｅ１２として出力する。

より詳細には、第２比較器７２には、第１フィルタ４１の第１フィルタ出力Ｂ１１と第３フィルタ４３の第３フィルタ出力Ｂ１３とが入力される。第２比較器７２の非反転入力端子（図１では「＋」の記号で示す）に第１フィルタ出力Ｂ１１が入力され、第２比較器７２の反転入力端子（図１では「－」の記号で示す）に第３フィルタ出力Ｂ１３が入力される。第２比較器７２は、第１フィルタ出力Ｂ１１と第３フィルタ出力Ｂ１３とを比較し、第１フィルタ出力Ｂ１１と第３フィルタ出力Ｂ１３とが同じである場合、第２比較結果Ｅ１２として「０」を出力する。一方、第１フィルタ出力Ｂ１１と第３フィルタ出力Ｂ１３とが異なる場合、第２比較器７２は、第２比較結果Ｅ１２として「１」を出力する。第２比較器７２は、第２比較結果Ｅ１２を制御回路８に出力する。

第２比較器７２は、第２閾値設定部７２１を有する。第２閾値設定部７２１は、第１フィルタ出力Ｂ１１と第３フィルタ出力Ｂ１３との差分の絶対値と比較するための第２閾値を設定する。上記の例では、第２閾値は０である。

なお、第２閾値設定部７２１は、第２閾値を０よりも大きくしてもよい。第２閾値が０よりも大きい場合であっても、第１フィルタ出力Ｂ１１と第３フィルタ出力Ｂ１３との差分の絶対値が第２閾値以下であるとき、第２比較器７２は、第２比較結果Ｅ１２として「０」を出力する。第１フィルタ出力Ｂ１１と第３フィルタ出力Ｂ１３との差分の絶対値が第２閾値より大きい場合、第２比較器７２は、第２比較結果Ｅ１２として「１」を出力する。

第３比較器７３は、第２フィルタ４２の第２フィルタ出力Ｂ１２と第３フィルタ４３の第３フィルタ出力Ｂ１３とを比較する。そして、第３比較器７３は、第２フィルタ出力Ｂ１２と第３フィルタ出力Ｂ１３との比較結果を第３比較結果Ｅ１３として出力する。

より詳細には、第３比較器７３には、第２フィルタ４２の第２フィルタ出力Ｂ１２と第３フィルタ４３の第３フィルタ出力Ｂ１３とが入力される。第３比較器７３の非反転入力端子（図１では「＋」の記号で示す）に第２フィルタ出力Ｂ１２が入力され、第３比較器７３の反転入力端子（図１では「－」の記号で示す）に第３フィルタ出力Ｂ１３が入力される。第３比較器７３は、第２フィルタ出力Ｂ１２と第３フィルタ出力Ｂ１３とを比較し、第２フィルタ出力Ｂ１２と第３フィルタ出力Ｂ１３とが同じである場合、第３比較結果Ｅ１３として「０」を出力する。一方、第２フィルタ出力Ｂ１２と第３フィルタ出力Ｂ１３とが異なる場合、第３比較器７３は、第３比較結果Ｅ１３として「１」を出力する。第３比較器７３は、第３比較結果Ｅ１３を制御回路８に出力する。

第３比較器７３は、第３閾値設定部７３１を有する。第３閾値設定部７３１は、第２フィルタ出力Ｂ１２と第３フィルタ出力Ｂ１３との差分の絶対値と比較するための第３閾値を設定する。上記の例では、第３閾値は０である。

なお、第３閾値設定部７３１は、第３閾値を０よりも大きくしてもよい。第３閾値が０よりも大きい場合であっても、第２フィルタ出力Ｂ１２と第３フィルタ出力Ｂ１３との差分の絶対値が第３閾値以下であるとき、第３比較器７３は、第３比較結果Ｅ１３として「０」を出力する。第２フィルタ出力Ｂ１２と第３フィルタ出力Ｂ１３との差分の絶対値が第３閾値より大きい場合、第３比較器７３は、第３比較結果Ｅ１３として「１」を出力する。

（２．２．５）制御回路
制御回路８は、図１に示すように、加算器５の加算結果を取得する。より詳細には、制御回路８は、除算器６で振幅が調整された加算結果（加算出力Ｄ１）を取得する。そして、制御回路８は、取得した加算結果を、例えば外部装置に出力する。

また、制御回路８は、複数の比較器７の各々から比較結果Ｅ１を取得する。より詳細には、制御回路８は、第１比較器７１から第１比較結果Ｅ１１を取得し、第２比較器７２から第２比較結果Ｅ１２を取得し、第３比較器７３から第３比較結果Ｅ１３を取得する。

制御回路８は、複数の比較器７から取得した比較結果Ｅ１を用いて、複数のセンサ３が正常であるか否かを判定する機能を有する。上述したように、複数のセンサ３は、同一の物理量を検出する。このため、複数のセンサ３の全てが正常である場合、複数のセンサ３は、同じセンサ出力Ａ１を出力する。これにより、複数の比較器７は、同じフィルタ出力Ｂ１（センサ出力Ａ１）を比較するから、比較結果として「０」を出力する。一方、複数のセンサ３に異常なセンサ３が含まれている場合、正常なセンサ３と異常なセンサ３は、互いに異なるセンサ出力Ａ１を出力する。これにより、複数の比較器７の少なくとも１つは、異なるフィルタ出力Ｂ１（センサ出力Ａ１）を比較するから、比較結果として「１」を出力する。本開示でいう「異常なセンサ」とは、何らかの異常が有るセンサ３を意味する。「正常なセンサ」とは、異常が無いセンサ３を意味する。

例えば、第１比較結果Ｅ１１と第２比較結果Ｅ１２とが「１」である場合、第１比較器７１及び第２比較器７２の両方にフィルタ出力Ｂ１が入力されるフィルタ４は第１フィルタ４１であり、第１フィルタ４１に対応するセンサ３は第１センサ３１である。したがって、制御回路８は、第１センサ３１が異常であると判定する。第１比較結果Ｅ１１と第３比較結果Ｅ１３とが「１」である場合、第１比較器７１及び第３比較器７３の両方にフィルタ出力Ｂ１が入力されるフィルタ４は第２フィルタ４２であり、第２フィルタ４２に対応するセンサ３は第２センサ３２である。したがって、制御回路８は、第２センサ３２が異常であると判定する。第２比較結果Ｅ１２と第３比較結果Ｅ１３とが「１」である場合、第２比較器７２及び第３比較器７３の両方にフィルタ出力Ｂ１が入力されるフィルタ４は第３フィルタ４３であり、第３フィルタ４３に対応するセンサ３は第３センサ３３である。したがって、制御回路８は、第３センサ３３が異常であると判定する。

上記より、複数のセンサ３のいずれかに異常があった場合に、異常なセンサ３を精度よく特定することができる。

また、制御回路８は、複数の比較器７が正常であるか否かを判定する機能を有する。上述したように、複数の比較器７の各々には、複数のフィルタ４のうちの２つのフィルタ出力Ｂ１が入力される。つまり、各比較器７には、複数のセンサ３のうちの２つのセンサ出力Ａ１が入力される。言い換えると、複数のセンサ３のセンサ出力Ａ１（複数のフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１）の各々は、２つの比較器７に入力される。このため、複数のセンサ３に異常なセンサ３が含まれている場合、２つの比較器７の比較結果Ｅ１が「１」となり、１つの比較器７の比較結果Ｅ１のみが「１」となることはない。そこで、１つの比較器７の比較結果Ｅ１のみが「１」となる場合、制御回路８は、比較結果Ｅ１が「１」である比較器７が異常であると判定する。一方、複数の比較器７の比較結果Ｅ１の全てが「０」である場合、制御回路８は、全ての比較器７が正常であると判定する。

例えば、第１比較結果Ｅ１１のみが「１」である場合、制御回路８は、第１比較器７１が異常であると判定する。第２比較結果Ｅ１２のみが「１」である場合、制御回路８は、第２比較器７２が異常であると判定する。第３比較結果Ｅ１３のみが「１」である場合、制御回路８は、第３比較器７３が異常であると判定する。

また、各比較器７にフィルタ出力Ｂ１が入力されるのではなく、各比較器７にリファレンス信号が入力され、このときの比較結果Ｅ１により、複数の比較器７が異常であるか否かを判定することが可能である。リファレンス信号は、比較器７の非反転入力端子（＋端子）に入力される第１リファレンス信号と、比較器７の反転入力端子（－端子）に入力される第２リファレンス信号との組合せである。第１リファレンス信号は、「０」，「１」，「０」となるパルス信号である。一方、第２リファレンス信号は、「０」，「０」，「０」となる信号である。上記のような第１リファレンス信号及び第２リファレンス信号が比較器７に入力された場合、比較結果Ｅ１が「０」，「１」，「０」となると、制御回路８は、比較器７が正常であると判定する。一方、比較結果Ｅ１が「０」，「１」，「０」以外となると、制御回路８は、比較器７が異常であると判定する。

さらに、制御回路８は、加算器５を制御する機能を有する。より詳細には、制御回路８は、複数の比較器７から取得した複数の比較結果Ｅ１を用いて、加算器５を制御する。より詳細には、制御回路８は、センサ３の異常を判定した場合に、異常なセンサ３に対応するフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１に対する重みを下げるように、加算器５を制御する。制御回路８による制御に従い、加算器５は、複数のセンサ３のうち、異常なセンサ３に対応するフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１に対する重みを下げる。ここで、「重みを下げる」とは、重みを０にする場合も含む。異常なセンサ３に対応するフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１に対する重みを０にした場合、制御回路８は、異常なセンサ３に対応するフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１を用いずに、残りのフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１だけを加算するように、加算器５を制御する。つまり、制御回路８は、正常なセンサ３に対応するフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１だけを加算するように、加算器５を制御する。制御回路８による制御に従い、加算器５は、残りのフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１だけを加算し、加算結果を出力する。

また、制御回路８は、除算器６を制御する機能を有する。異常なセンサ３の重みを下げる等、複数のフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１に対する重み付けを変更した場合、加算器５の加算出力Ｃ１の振幅が変動する。このため、複数のフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１に対する重み付けを変更した場合、制御回路８に入力される加算結果（加算出力Ｄ１）の振幅レベルが一定の範囲内になるように、制御回路８は、除算器６のゲインを変更させるように、除算器６を制御する。

（３）センサ処理システムの動作
以下、実施形態１に係るセンサ処理システム２の通常動作（センサ処理方法）について、図１を参照して説明する。

まず、複数のセンサ３の各々がセンサ出力Ａ１を出力する。その後、複数のセンサ出力Ａ１が加算器５に出力される。

加算器５は、複数のセンサ出力Ａ１を加算する。この際、各センサ３のセンサ出力Ａ１に重みを付けてから、複数のセンサ出力Ａ１（重み付けを行った後の出力）を加算し、加算結果（加算出力Ｃ１）を出力する。その後、除算器６が、加算器５の加算出力Ｃ１の振幅を調整する。加算器５に入力されるセンサ出力Ａ１の数に関係なく、制御回路８に入力される加算出力Ｄ１の振幅が略一定になるように、除算器６は、加算出力Ｃ１の振幅を調整する。その後、制御回路８は、除算器６で調整された加算出力Ｄ１を取得する。

次に、センサ処理システム２における異常を判定する動作（センサ処理方法）について図１及び図３を用いて説明する。

ステップＳ１では、複数のセンサ３の各々がセンサ出力Ａ１を出力する。その後、ステップＳ２では、複数のフィルタ４が、複数のセンサ３のセンサ出力Ａ１のうちの低周波成分を個別に低減（除去）させる。つまり、各フィルタ４が、対応するセンサ３のセンサ出力Ａ１の低周波成分を低減（除去）させる。その後、ステップＳ３では、複数の比較器７のうち、対応する２つのフィルタ出力Ｂ１（センサ出力Ａ１）を比較する。

ステップＳ４では、制御回路８は、第１比較結果Ｅ１１（図３では「第１出力」）と第２比較結果Ｅ１２（図３では「第２出力」）とが「１」であるか否かを判定する。第１比較結果Ｅ１１と第２比較結果Ｅ１２との少なくとも一方が「１」でない場合（ステップＳ４の「Ｎｏ」）、ステップＳ６に進む。一方、第１比較結果Ｅ１１と第２比較結果Ｅ１２とが「１」である場合（ステップＳ４の「Ｙｅｓ」）、制御回路８は、第１センサ３１が異常であると判定する（ステップＳ５）。

ステップＳ６では、制御回路８は、第１比較結果Ｅ１１（図３では「第１出力」）と第３比較結果Ｅ１３（図３では「第３出力」）とが「１」であるか否かを判定する。第１比較結果Ｅ１１と第３比較結果Ｅ１３との少なくとも一方が「１」でない場合（ステップＳ６の「Ｎｏ」）、ステップＳ８に進む。一方、第１比較結果Ｅ１１と第３比較結果Ｅ１３とが「１」である場合（ステップＳ６の「Ｙｅｓ」）、制御回路８は、第２センサ３２が異常であると判定する（ステップＳ７）。

ステップＳ８では、制御回路８は、第２比較結果Ｅ１２（図３では「第２出力」）と第３比較結果Ｅ１３（図３では「第３出力」）とが「１」であるか否かを判定する。第２比較結果Ｅ１２と第３比較結果Ｅ１３との少なくとも一方が「１」でない場合（ステップＳ８の「Ｎｏ」）、ステップＳ１１に進む。一方、第２比較結果Ｅ１２と第３比較結果Ｅ１３とが「１」である場合（ステップＳ８の「Ｙｅｓ」）、制御回路８は、第３センサ３３が異常であると判定する（ステップＳ９）。

ステップＳ１０では、ステップＳ５において第１センサ３１が異常であると判定した場合、ステップＳ７において第２センサ３２が異常であると判定した場合、ステップＳ９において第３センサ３３が異常であると判定した場合、制御回路８は、異常なセンサ３の重みを低減させる。

その後、ステップＳ１１では、制御回路８は、第１比較結果Ｅ１１（図３では「第１出力」）、第２比較結果Ｅ１２（図３では「第２出力」）、及び第３比較結果Ｅ１３（図３では「第３出力」）のうちのいずれか１つが「１」であるか否かを判定する。第１比較結果Ｅ１１、第２比較結果Ｅ１２、及び第３比較結果Ｅ１３のうちのいずれか１つが「１」である場合（ステップＳ１１の「Ｙｅｓ」）、制御回路８は、複数の比較器７のいずれかが異常であると判定する（ステップＳ１２）。一方、第１比較結果Ｅ１１、第２比較結果Ｅ１２、及び第３比較結果Ｅ１３のうちのいずれか１つのみが「１」ではない場合（ステップＳ１１の「Ｎｏ」）、制御回路８は、複数の比較器７が正常であると判定する。

（４）効果
実施形態１に係るセンサ処理システム２では、複数のセンサ３に一対一に対応する複数のフィルタ４（低減回路）の各々が、対応するセンサ３のセンサ出力Ａ１のうちの低周波成分を低減させる。これにより、複数のセンサ３のセンサ出力Ａ１の低周波成分を個別に低減させることができるので、センサ３の故障検出精度及びセンサ３の検出精度を高めやすい。

実施形態１に係るセンサ処理システム２では、複数のセンサ３が角速度センサである。これにより、角速度に対する検出精度を高めやすい。

実施形態１に係るセンサ処理システム２では、複数のセンサ３が加速度センサである。これにより、加速度に対する検出精度を高めやすい。

実施形態１に係るセンサ処理システム２では、複数のフィルタ４（低減回路）が、対応するセンサ３の出力経路Ｆ１から分岐して設けられている。これにより、低周波成分を低減させていないセンサ出力Ａ１に基づく結果を、出力経路Ｆ１を介して出力することができる。

実施形態１に係るセンサ処理システム２では、加算器５が複数のセンサ３のセンサ出力Ａ１を加算して加算結果を出力する。これにより、複数のセンサ３のセンサ出力Ａ１を加算して検出対象を検出することができるので、１つのセンサ出力を用いて検出対象を検出する場合に比べて、センサ３の故障検出精度及びセンサ３の検出精度を高めやすい。

実施形態１に係るセンサ処理システム２では、複数のフィルタ４（低減回路）のうちの２つのフィルタ出力Ｂ１すなわち複数のセンサ３のうちの２つのセンサ出力Ａ１を比較した際の比較結果Ｅ１を用いて、センサ３が正常であるか否かを判定する。これにより、複数のセンサ３のセンサ出力Ａ１を有効に活用して、センサ３の状態を判定することができる。

実施形態１に係るセンサ処理システム２では、加算器５が複数のセンサ３の各々について個別に重み付けを行う。これにより、例えば、異常なセンサ３の重みを低くした状態で、複数のセンサ３のセンサ出力Ａ１を加算することができる。その結果、センサ３の故障検出精度及びセンサ３の検出精度を更に高めやすい。

実施形態１に係るセンサ処理システム２では、複数のフィルタ４（低減回路）のうちの２つのフィルタ出力Ｂ１すなわち複数のセンサ３のうちの２つのセンサ出力Ａ１を比較した際の比較結果Ｅ１を用いて、センサ３が正常であるか否かを判定し、異常なセンサ３に対する重みを下げる。これにより、異常なセンサ３の重みを低くした状態で、複数のフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１を加算することができるので、センサ３の故障検出精度及びセンサ３の検出精度を更に高めやすい。

実施形態１に係るセンサ処理システム２では、複数のフィルタ４（低減回路）がハイパスフィルタである。これにより、センサ出力Ａ１の低周波成分を確実に低減させることができる。

（実施形態２）
実施形態２に係るセンサシステム１ａは、図４に示すように、複数のフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１が加算器５に出力される点で、実施形態１に係るセンサシステム１（図１参照）と相違する。なお、実施形態２に係るセンサシステム１ａに関し、実施形態１に係るセンサシステム１と同様の構成要素については、同一の符号を付して説明を省略する。

（１）構成
実施形態２に係るセンサシステム１ａは、図４に示すように、センサ処理システム２ａを備える。

センサ処理システム２ａの複数のフィルタ４は、複数のセンサ３に一対一に対応し、対応するセンサ３の出力経路Ｆ１（センサ３と加算器５との間の経路）に挿入されている。より詳細には、複数のフィルタ４は、第１フィルタ４１と、第２フィルタ４２と、第３フィルタ４３とを含む。第１フィルタ４１は、第１センサ３１に対応し、第１センサ３１の第１出力経路Ｆ１１（第１センサ３１と加算器５との間の経路）に挿入されている。同時に、第１フィルタ４１は、第１センサ３１の第１経路Ｇ１１（第１センサ３１と比較器７との間の経路）に挿入されている。第２フィルタ４２は、第２センサ３２に対応し、第２センサ３２の第２出力経路Ｆ１２（第２センサ３２と加算器５との間の経路）に挿入されている。同時に、第２フィルタ４２は、第２センサ３２の第２経路Ｇ１２（第２センサ３２と比較器７との間の経路）に挿入されている。第３フィルタ４３は、第３センサ３３に対応し、第３センサ３３の第３出力経路Ｆ１３（第３センサ３３と加算器５との間の経路）に挿入されている。同時に、第３フィルタ４３は、第３センサ３３の第３経路Ｇ１３（第３センサ３３と比較器７との間の経路）に挿入されている。

実施形態２の加算器５は、複数のフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１を加算する。より詳細には、加算器５は、第１フィルタ４１の第１フィルタ出力Ｂ１１と、第２フィルタ４２の第２フィルタ出力Ｂ１２と、第３フィルタ４３の第３フィルタ出力Ｂ１３とを加算する。

加算器５は、複数のフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１を加算することによって得られる加算結果を出力する。例えば、加算器５は、加算結果を制御回路８に出力する。図４の例では、加算器５は、除算器６を介して制御回路８に加算結果を出力する。

実施形態２においても、実施形態１と同様、加算器５は、複数のセンサ３について個別に重み付けを行う機能を有してもよい。より詳細には、加算器５は、複数のセンサ３に対応する複数のフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１を同じ重みで加算してもよいし、複数のセンサ３に対応する複数のフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１を互いに異なる重みで加算してもよい。これにより、加算出力Ｃ１において、異常なセンサ３に対応するフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１の影響を低減させることができる。

加算器５が複数のフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１を加算するため、加算器５に入力されるフィルタ出力Ｂ１の数によって、加算器５からの加算出力Ｃ１の振幅が異なる。加算器５に入力されるフィルタ出力Ｂ１の数が多くなるにつれて、加算出力Ｃ１の振幅が大きくなる。このような加算出力Ｃ１がそのまま制御回路８に入力されると、制御回路８は誤認識を起こすおそれがある。このため、加算器５に入力されるフィルタ出力Ｂ１の数に関係なく、制御回路８に入力される加算出力Ｄ１の振幅を一定の範囲内にする必要がある。

そこで、実施形態１と同様、除算器６は、図４に示すように、加算器５の加算出力Ｃ１の振幅を小さくする。より詳細には、除算器６のゲインは、例えば、加算器５に入力されるフィルタ出力Ｂ１の数の逆数である。除算器６は、加算出力Ｃ１の振幅を、加算器５に入力されるフィルタ出力Ｂ１の数の逆数倍にする。例えば、３つのフィルタ出力Ｂ１が加算器５に入力される場合、加算器５の加算出力Ｃ１の振幅は、１つのフィルタ出力のみが加算器５に入力される場合に比べて、３倍となる。このため、除算器６は、加算器５の加算出力Ｃ１の振幅を３分の１にする。これにより、加算器５に入力されるフィルタ出力Ｂ１の数に関係なく、加算出力Ｃ１のレンジを一定にすることができる。除算器６により増幅された加算出力Ｄ１は、制御回路８に出力される。

なお、実施形態１と同様、除算器６のゲインは、加算器５に入力されるセンサ出力Ａ１の数の逆数に限定されず、上記以外であってもよい。要するに、加算器５に入力されるセンサ出力Ａ１の数が変わっても、制御回路８に入力される加算出力Ｄ１の振幅の変化が小さくなるように、除算器６のゲインが設定されればよい。

（２）センサ処理システムの動作
以下、実施形態２に係るセンサ処理システム２ａの通常動作（センサ処理方法）について、図４を参照して説明する。

まず、複数のセンサ３の各々がセンサ出力Ａ１を出力する。その後、複数のフィルタ４が、複数のセンサ３のセンサ出力Ａ１のうちの低周波成分を個別に低減（除去）させる。つまり、各フィルタ４が、対応するセンサ３のセンサ出力Ａ１の低周波成分を低減させる。その後、各フィルタ４のフィルタ出力Ｂ１が加算器５に出力される。

加算器５は、複数のフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１を加算する。この際、各フィルタ４のフィルタ出力Ｂ１に重みを付けてから、複数のフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１（重み付けを行った後の出力）を加算し、加算結果（加算出力Ｃ１）を出力する。その後、除算器６が、加算器５の加算出力Ｃ１の振幅を調整する。加算器５に入力されるフィルタ出力Ｂ１の数に関係なく、制御回路８に入力される加算出力Ｄ１の振幅が略一定になるように、除算器６は、加算出力Ｃ１の振幅を調整する。その後、制御回路８は、除算器６で調整された加算出力Ｄ１を取得する。

なお、実施形態２に係るセンサ処理システム２ａにおける異常を判定する動作（センサ処理方法）については、実施形態１に係るセンサ処理システム２と同様であるため、説明を省略する。

（３）効果
実施形態２に係るセンサ処理システム２ａでは、複数のフィルタ４（低減回路）が、対応するセンサ３の出力経路Ｆ１に挿入されて設けられている。これにより、フィルタ出力Ｂ１（低周波成分を低減させたセンサ出力）に基づく結果を、出力経路Ｆ１を介して出力することができる。

実施形態２に係るセンサ処理システム２ａでは、加算器５が複数のフィルタ４（低減回路）のフィルタ出力Ｂ１を加算して加算出力Ｃ１を出力する。これにより、複数のフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１を加算して検出対象を検出することができる。その結果、１つのフィルタ（低減回路）の出力を用いて検出対象を検出する場合に比べて、センサ３の故障検出精度及びセンサ３の検出精度を高めやすい。

実施形態２に係るセンサ処理システム２ａでは、加算器５が複数のセンサ３の各々について個別に重み付けを行う。これにより、例えば、異常なセンサ３の重みを低くした状態で、複数のフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１を加算することができる。その結果、センサ３の故障検出精度及びセンサ３の検出精度を更に高めやすい。

（変形例）
以下、実施形態１，２の変形例について説明する。

センサ３の数は、３つに限定されず、４つであってもよいし、５つであってもよい。あるいは、センサ３の数は、２つであってもよい。要するに、センサシステム１は、複数のセンサ３を備えていればよい。

同様に、フィルタ４の数は、３つに限定されず、４つであってもよいし、５つであってもよい。あるいは、フィルタ４の数は、２つであってもよい。要するに、センサ処理システム２は、複数のフィルタ４を備えていればよい。

実施形態２の変形例に係るセンサシステム１ｂは、図５に示すように、センサ処理システム２ｂと、４つのセンサ３とを備える。４つのセンサ３は、第１センサ３１と、第２センサ３２と、第３センサ３３と、第４センサ３４とを備える。センサ処理システム２ｂは、４つのフィルタ４と、加算器５と、除算器６と、４つの比較器７と、制御回路８とを備える。

４つのフィルタ４は、４つのセンサ３に一対一に対応し、対応するセンサ３の出力経路Ｆ１に挿入されている。第４フィルタ４４は、第４センサ３４に対応し、第４センサ３４の第４センサ出力Ａ１４の低周波成分を低減（除去）する。

４つの比較器７は、４つのフィルタ４のうちの２つのフィルタ出力Ｂ１を比較する。４つの比較器７は、第１比較器７１と、第２比較器７２と、第３比較器７３と、第４比較器７４とを含む。

第１比較器７１は、第１フィルタ４１の第１フィルタ出力Ｂ１１と第２フィルタ４２の第２フィルタ出力Ｂ１２とを比較する。そして、第１比較器７１は、第１フィルタ出力Ｂ１１と第２フィルタ出力Ｂ１２との比較結果を第１比較結果Ｅ１１として出力する。第１比較器７１は、第１閾値を設定するための第１閾値設定部７１１を有する。

第２比較器７２は、第２フィルタ４２の第２フィルタ出力Ｂ１２と第３フィルタ４３の第３フィルタ出力Ｂ１３とを比較する。そして、第２比較器７２は、第２フィルタ出力Ｂ１２と第３フィルタ出力Ｂ１３との比較結果を第２比較結果Ｅ１２として出力する。第２比較器７２は、第２閾値を設定するための第２閾値設定部７２１を有する。

第３比較器７３は、第３フィルタ４３の第３フィルタ出力Ｂ１３と第４フィルタ４４の第４フィルタ出力Ｂ１４とを比較する。そして、第３比較器７３は、第３フィルタ出力Ｂ１３と第４フィルタ出力Ｂ１４との比較結果を第３比較結果Ｅ１３として出力する。第３比較器７３は、第３閾値を設定するための第３閾値設定部７３１を有する。

第４比較器７４は、第４フィルタ４４の第４フィルタ出力Ｂ１４と第１フィルタ４１の第１フィルタ出力Ｂ１１とを比較する。そして、第４比較器７４は、第４フィルタ出力Ｂ１４と第１フィルタ出力Ｂ１１との比較結果を第４比較結果Ｅ１４として出力する。第４比較器７４は、第４閾値を設定するための第４閾値設定部７４１を有する。

要するに、Ｎ個のフィルタ４のフィルタ出力Ｂ１すなわちＮ個のセンサ３のセンサ出力Ａ１を比較することで、異常なセンサ３（故障したセンサ３）を特定することができる。また、１つのセンサ３が故障しても、故障したセンサ３を除く（Ｎ－１）個のセンサ３のセンサ出力Ａ１（フィルタ出力Ｂ１）を加算することで、センサ出力Ａ１のノイズ低減効果を継続して得ることができる。

なお、センサ処理システム２，２ａ，２ｂの各構成要素及び複数のセンサ３の実装形態は限定されない。センサ処理システム２，２ａ，２ｂの各構成要素及び複数のセンサ３がシリコンウェハ上に集積されている形態であってもよい。あるいは、複数のセンサ３の各々がディスクリート素子としてプリント回路板（Printed Circuit Board：ＰＣＢ）上に実装され、マイクロコントロールユニット（Micro Control Unit：ＭＣＵ）で信号処理が行われる形態であってもよい。

フィルタ４は、デジタルフィルタであってもよいし、アナログフィルタであってもよい。

上記の変形例に係るセンサシステム及びセンサ処理システム２ｂにおいても、実施形態１に係るセンサシステム１及びセンサ処理システム２並びに実施形態２に係るセンサシステム１ａ及びセンサ処理システム２ａと同様の効果を奏する。

以上説明した実施形態及び変形例は、本開示の様々な実施形態及び変形例の一部に過ぎない。また、実施形態及び変形例は、本開示の目的を達成できれば、設計等に応じて種々の変更が可能である。

（態様）
本明細書には、以下の態様が開示されている。

第１の態様に係るセンサ処理システム（２；２ａ；２ｂ）は、複数の低減回路（フィルタ４）を備える。複数の低減回路は、複数のセンサ（３）に一対一に対応する。複数の低減回路は、対応するセンサ（３）の出力端に電気的に接続されてセンサ（３）のセンサ出力（Ａ１）のうちの低周波成分を低減させる。

第１の態様に係るセンサ処理システム（２；２ａ；２ｂ）によれば、複数のセンサ（３）のセンサ出力（Ａ１）の低周波成分を個別に低減させることができるので、センサ（３）の故障検出精度及びセンサ（３）の検出精度を高めやすい。

第２の態様に係るセンサ処理システム（２；２ａ；２ｂ）では、第１の態様において、複数のセンサ（３）は、角速度センサである。

第２の態様に係るセンサ処理システム（２；２ａ；２ｂ）によれば、角速度に対する検出精度を高めやすい。

第３の態様に係るセンサ処理システム（２；２ａ；２ｂ）では、第１の態様において、複数のセンサ（３）は、加速度センサである。

第３の態様に係るセンサ処理システム（２；２ａ；２ｂ）によれば、加速度に対する検出精度を高めやすい。

第４の態様に係るセンサ処理システム（２）では、第１～３の態様のいずれか１つにおいて、複数の低減回路（フィルタ４）は、対応するセンサ（３）の出力経路（Ｆ１）から分岐して設けられている。

第４の態様に係るセンサ処理システム（２）によれば、低周波成分を低減させていないセンサ出力（Ａ１）に基づく結果を、出力経路（Ｆ１）を介して出力することができる。

第５の態様に係るセンサ処理システム（２）は、第４の態様において、加算器（５）を更に備える。加算器（５）は、複数のセンサ（３）のセンサ出力（Ａ１）を加算して加算結果（加算出力Ｃ１）を出力する。

第５の態様に係るセンサ処理システム（２）によれば、複数のセンサ（３）のセンサ出力（Ａ１）を加算して検出対象を検出することができる。その結果、１つのセンサ出力を用いて検出対象を検出する場合に比べて、センサ（３）の故障検出精度及びセンサ（３）の検出精度を高めやすい。

第６の態様に係るセンサ処理システム（２ａ；２ｂ）では、第１～３の態様のいずれか１つにおいて、複数の低減回路（フィルタ４）は、対応するセンサ（３）の出力経路（Ｆ１）に挿入されて設けられている。

第６の態様に係るセンサ処理システム（２ａ；２ｂ）によれば、低周波成分を低減させたセンサ出力（フィルタ出力Ｂ１）に基づく結果を、出力経路（Ｆ１）を介して出力することができる。

第７の態様に係るセンサ処理システム（２ａ；２ｂ）は、第６の態様において、加算器（５）を更に備える。加算器（５）は、複数の低減回路（フィルタ４）の出力（フィルタ出力Ｂ１）を加算して加算結果（加算出力Ｃ１）を出力する。

第７の態様に係るセンサ処理システム（２ａ；２ｂ）によれば、複数の低減回路（フィルタ４）の出力（フィルタ出力Ｂ１）を加算して検出対象を検出することができる。その結果、１つの低減回路の出力を用いて検出対象を検出する場合に比べて、センサ（３）の故障検出精度及びセンサ（３）の検出精度を高めやすい。

第８の態様に係るセンサ処理システム（２；２ａ；２ｂ）は、第１～７の態様のいずれか１つにおいて、比較器（７）と、制御回路（８）とを更に備える。比較器（７）は、複数の低減回路（フィルタ４）のうちの２つの低減回路の出力（フィルタ出力Ｂ１）を比較して比較結果（Ｅ１）を出力する。制御回路（８）は、比較結果（Ｅ１）を用いてセンサ（３）が正常であるか否かを判定する。

第８の態様に係るセンサ処理システム（２；２ａ；２ｂ）によれば、複数のセンサ（３）のセンサ出力（Ａ１）を有効に活用して、センサ（３）の状態を判定することができる。

第９の態様に係るセンサ処理システム（２；２ａ；２ｂ）では、第５又は７の態様において、加算器（５）は、複数のセンサ（３）の各々について個別に重み付けを行う。

第９の態様に係るセンサ処理システム（２；２ａ；２ｂ）によれば、例えば、異常なセンサ（３）の重みを低くした状態で、複数のセンサ（３）のセンサ出力（Ａ１）又は複数の低減回路（フィルタ４）の出力（フィルタ出力Ｂ１）を加算することができる。その結果、センサ（３）の故障検出精度及びセンサ（３）の検出精度を更に高めやすい。

第１０の態様に係るセンサ処理システム（２；２ａ；２ｂ）は、第９の態様において、比較器（７）を更に備える。比較器（７）は、複数の低減回路（フィルタ４）のうちの２つの低減回路の出力（フィルタ出力Ｂ１）を比較して比較結果（Ｅ１）を出力する。加算器（５）は、比較器（７）の比較結果（Ｅ１）に基づいて、複数のセンサ（３）のうち、異常なセンサ（３）に対する重みを下げる。

第１０の態様に係るセンサ処理システム（２；２ａ；２ｂ）によれば、異常なセンサ（３）に対する重みを低くした状態で、複数のセンサ（３）のセンサ出力（Ａ１）又は複数の低減回路（フィルタ４）の出力（フィルタ出力Ｂ１）を加算することができる。その結果、センサ（３）の故障検出精度及びセンサ（３）の検出精度を更に高めやすい。

第１１の態様に係るセンサ処理システム（２；２ａ；２ｂ）では、第１～１０の態様のいずれか１つにおいて、複数の低減回路（フィルタ４）は、ハイパスフィルタを含む。

第１１の態様に係るセンサ処理システム（２；２ａ；２ｂ）によれば、センサ出力（Ａ１）の低周波成分を確実に低減させることができる。

第１２の態様に係るセンサシステム（１；１ａ；１ｂ）は、第１～１１の態様のいずれか１つのセンサ処理システム（２；２ａ；２ｂ）と、複数のセンサ（３）とを備える。

第１２の態様に係るセンサシステム（１；１ａ；１ｂ）によれば、センサ処理システム（２；２ａ；２ｂ）において、複数のセンサ（３）のセンサ出力（Ａ１）の低周波成分を個別に低減させることができる。その結果、センサ（３）の故障検出精度及びセンサ（３）の検出精度を高めやすい。

第１３の態様に係るセンサ処理方法は、複数のセンサ（３）のセンサ出力（Ａ１）のうちの低周波成分を個別に低減させる。

第１３の態様に係るセンサ処理方法によれば、複数のセンサ（３）のセンサ出力（Ａ１）の低周波成分を個別に低減させることができるので、センサ（３）の故障検出精度及びセンサ（３）の検出精度を高めやすい。

１，１ａ，１ｂ センサシステム
２，２ａ，２ｂ センサ処理システム
３ センサ
４ フィルタ（低減回路）
５ 加算器
７ 比較器
８ 制御回路
Ａ１ センサ出力
Ｂ１ フィルタ出力（出力）
Ｃ１ 加算出力（加算結果）
Ｅ１ 比較結果
Ｆ１ 出力経路

Claims (8)

1. 複数のセンサに一対一に対応し、対応するセンサの出力端に電気的に接続されて前記センサのセンサ出力のうちの低周波成分を低減させる複数の低減回路と、
   加算器と、を備え、
   前記複数の低減回路は、対応する前記センサの出力経路から分岐して設けられており、
   前記加算器は、前記複数のセンサのセンサ出力を加算して加算結果を出力する、
   センサ処理システム。
2. 前記複数のセンサは、角速度センサである、
   請求項１に記載のセンサ処理システム。
3. 前記複数のセンサは、加速度センサである、
   請求項１に記載のセンサ処理システム。
4. 前記複数の低減回路のうちの２つの低減回路の出力を比較して比較結果を出力する比較器と、
   前記比較結果を用いて前記センサが正常であるか否かを判定する制御回路と、を更に備える、
   請求項１～３のいずれか１項に記載のセンサ処理システム。
5. 前記加算器は、前記複数のセンサの各々について個別に重み付けを行う、
   請求項１～４のいずれか１項に記載のセンサ処理システム。
6. 前記複数の低減回路のうちの２つの低減回路の出力を比較して比較結果を出力する比較器を更に備え、
   前記加算器は、前記比較器の前記比較結果に基づいて、前記複数のセンサのうち、異常なセンサに対する重みを下げる、
   請求項５に記載のセンサ処理システム。
7. 前記複数の低減回路は、ハイパスフィルタを含む、
   請求項１～６のいずれか１項に記載のセンサ処理システム。
8. 請求項１～７のいずれか１項に記載のセンサ処理システムと、
   前記複数のセンサと、を備える、
   センサシステム。

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