JP7107326B2 - 探針エレクトロスプレーイオン化質量分析装置 - Google Patents
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Description
a)前記変位部により前記探針又は試料を移動させて該探針の先端に試料を付着させたあと該探針の先端を試料から離脱させる試料採取動作と、前記高電圧発生部により前記探針に高電圧を印加して試料成分をイオン化するイオン化動作と、を繰り返すように前記変位部及び前記高電圧発生部を制御するイオン化制御部と、
b)予め設定された複数のイオン種をターゲットとする質量分析を順番に実行するサイクルを繰り返すように前記質量分析部を制御する質量分析制御部と、
c)前記複数のイオン種の中で予めユーザにより設定されたイオン種をターゲットとする質量分析の実行のタイミングと前記イオン源での試料採取動作及びイオン化動作の繰り返しにおける所定のタイミングとを同期させるように前記イオン化制御部及び/又は前記質量分析制御部の制御動作を統括的に制御する同期制御部と、
を備え、さらに後述の特徴を有する。
この同期条件設定部は、表示部の画面上に所定様式の入力設定画面を表示し、ユーザが該入力設定画面上での入力操作や選択操作を行うことで設定された情報を受け付ける手段とすればよい。
試料8は例えば生体組織切片などの生体試料であるとする。制御部25からの指示に応じて探針駆動部21により探針6が所定位置(図1中に点線6’で示す位置)まで降下されると、探針6の先端は試料8に刺入され、探針6の先端に微量の試料が付着する。そして、探針6が所定の分析位置(図1中に実線6で示す位置)まで引き上げられると、高電圧発生部20は探針6に高電圧を印加する。これにより、探針6の先端に電場が集中し、エレクトロスプレー現象によって探針6の先端に付着している試料中の成分がイオン化される。
この場合、分析シーケンス作成部252は上記の場合と同様に、5種類のMRMトランジション[1]~[5]におけるMRM測定を1回ずつ実行するMRM測定サイクルを繰り返すような分析シーケンスを作成する。そして、質量分析制御部255は、作成された分析シーケンスに従ってMRM測定を繰り返すように各部を制御する。一方、同期制御部253は、探針6の先端に試料を採取したあとに該探針6に高電圧の印加を開始するタイミングが、N回のMRM測定サイクル毎に、一つのMRMトランジションに対するMRM測定だけずれるように、イオン化制御部254の動作を制御する。これにより、図3に示すように、MRMトランジション[1]に対するMRM測定の実行開始直前に探針6への高電圧印加が開始されたPESIサイクルの次のPESIサイクルでは、MRMトランジション[2]に対するMRM測定の実行開始直前に探針6に高電圧印加が開始される。
2、3…中間真空室
4…分析室
5…探針ホルダ
6…探針
7…試料台
8…試料
10…キャピラリ管
11、13、16…イオンガイド
12…スキマー
14…前段四重極マスフィルタ
15…コリジョンセル
17…後段四重極マスフィルタ
18…イオン検出器
20…高電圧発生部
21…探針駆動部
23…試料台駆動部
24…電圧発生部
25…制御部
251…同期条件設定処理部
252…分析シーケンス作成部
253…同期制御部
254…イオン化制御部
255…質量分析制御部
26…入力部
27…表示部
29…データ処理部
C…イオン光軸
Claims (5)
- 導電性の探針、該探針の先端に試料を付着させるべく該探針又は試料の少なくとも一方を移動させる変位部、及び、前記探針に付着した試料中の成分をイオン化させるべく該探針に高電圧を印加する高電圧発生部、を具備するイオン源と、該イオン源で生成されたイオン又はそのイオンから派生するイオンを質量分析する質量分析部と、を具備する探針エレクトロスプレーイオン化質量分析装置において、
a)前記変位部により前記探針又は試料を移動させて該探針の先端に試料を付着させたあと該探針の先端を試料から離脱させる試料採取動作と、前記高電圧発生部により前記探針に高電圧を印加して試料成分をイオン化するイオン化動作と、を繰り返すように前記変位部及び前記高電圧発生部を制御するイオン化制御部と、
b)予め設定された複数のイオン種をターゲットとする質量分析を順番に実行するサイクルを繰り返すように前記質量分析部を制御する質量分析制御部と、
c)前記複数のイオン種の中で予めユーザにより設定されたイオン種をターゲットとする質量分析の実行のタイミングと前記イオン源での試料採取動作及びイオン化動作の繰り返しにおける所定のタイミングとを同期させるように前記イオン化制御部及び/又は前記質量分析制御部の制御動作を統括的に制御する同期制御部と、
を備え、前記同期制御部は、前記イオン源での試料採取動作及びイオン化動作の繰り返しにおける所定のタイミングに対しタイミングを同期させて実行する質量分析においてターゲットとするイオン種を、該イオン源での一連の試料採取動作及びイオン化動作を1又は複数回行う毎に、ユーザにより設定された複数のイオン種の中で変更するように、前記イオン化制御部及び/又は前記質量分析制御部を制御することを特徴とする探針エレクトロスプレーイオン化質量分析装置。 - 導電性の探針、該探針の先端に試料を付着させるべく該探針又は試料の少なくとも一方を移動させる変位部、及び、前記探針に付着した試料中の成分をイオン化させるべく該探針に高電圧を印加する高電圧発生部、を具備するイオン源と、該イオン源で生成されたイオン又はそのイオンから派生するイオンを質量分析する質量分析部と、を具備する探針エレクトロスプレーイオン化質量分析装置において、
a)前記変位部により前記探針又は試料を移動させて該探針の先端に試料を付着させたあと該探針の先端を試料から離脱させる試料採取動作と、前記高電圧発生部により前記探針に高電圧を印加して試料成分をイオン化するイオン化動作と、を繰り返すように前記変位部及び前記高電圧発生部を制御するイオン化制御部と、
b)予め設定された複数のイオン種をターゲットとする質量分析を順番に実行するサイクルを繰り返すように前記質量分析部を制御する質量分析制御部と、
c)前記複数のイオン種の中で予めユーザにより設定されたイオン種をターゲットとする質量分析の実行のタイミングと前記イオン源での試料採取動作及びイオン化動作の繰り返しにおける所定のタイミングとを同期させるように前記イオン化制御部及び/又は前記質量分析制御部の制御動作を統括的に制御する同期制御部と、
d)前記質量分析部での質量分析のターゲットとされる複数のイオン種の中で、前記イオン源での試料採取動作及びイオン化動作の繰り返しにおける所定のタイミングに対しタイミングを同期させて実行したい質量分析動作においてターゲットとするイオン種を、ユーザに設定させ、前記イオン源での試料採取動作及びイオン化動作の繰り返しにおける所定のタイミングに対しタイミングを同期させて実行される質量分析動作においてターゲットであるイオン種が時間経過に伴って変更されるモードの選択が可能である同期条件設定部と、を備えることを特徴とする探針エレクトロスプレーイオン化質量分析装置。 - 請求項1又は2に記載の探針エレクトロスプレーイオン化質量分析装置であって、前記所定のタイミングは前記探針への高電圧の印加開始時点であることを特徴とする探針エレクトロスプレーイオン化質量分析装置。
- 導電性の探針、該探針の先端に試料を付着させるべく該探針又は試料の少なくとも一方を移動させる変位部、及び、前記探針に付着した試料中の成分をイオン化させるべく該探針に高電圧を印加する高電圧発生部、を具備するイオン源と、該イオン源で生成されたイオン又はそのイオンから派生するイオンを質量分析する質量分析部と、を具備する探針エレクトロスプレーイオン化質量分析装置において、
a)前記変位部により前記探針又は試料を移動させて該探針の先端に試料を付着させたあと該探針の先端を試料から離脱させる試料採取動作と、前記高電圧発生部により前記探針に高電圧を印加して試料成分をイオン化するイオン化動作と、を繰り返すように前記変位部及び前記高電圧発生部を制御するイオン化制御部と、
b)予め設定された複数のイオン種をターゲットとする質量分析を順番に実行するサイクルを繰り返すように前記質量分析部を制御する質量分析制御部と、
c)前記複数のイオン種の中で予めユーザにより設定されたイオン種をターゲットとする質量分析の実行のタイミングと前記イオン源での試料採取動作及びイオン化動作の繰り返しにおける所定のタイミングとを同期させるように前記イオン化制御部及び/又は前記質量分析制御部の制御動作を統括的に制御する同期制御部と、
を備え、前記所定のタイミングは前記探針への高電圧の印加開始時点であることを特徴とする探針エレクトロスプレーイオン化質量分析装置。 - 請求項3又は4に記載の探針エレクトロスプレーイオン化質量分析装置であって、
前記同期制御部は、前記高電圧発生部から前記探針へ電圧が印加されていない期間に前記質量分析部での質量分析動作を休止するように前記質量分析部を制御することを特徴とする探針エレクトロスプレーイオン化質量分析装置。
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