JP7089012B2 - 保護素子及びその製造方法 - Google Patents
保護素子及びその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7089012B2 JP7089012B2 JP2020215515A JP2020215515A JP7089012B2 JP 7089012 B2 JP7089012 B2 JP 7089012B2 JP 2020215515 A JP2020215515 A JP 2020215515A JP 2020215515 A JP2020215515 A JP 2020215515A JP 7089012 B2 JP7089012 B2 JP 7089012B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- substrate
- layer
- hole
- heat generating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
- H02H3/00—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection
- H02H3/08—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection responsive to excess current
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H85/00—Protective devices in which the current flows through a part of fusible material and this current is interrupted by displacement of the fusible material when this current becomes excessive
- H01H85/0039—Means for influencing the rupture process of the fusible element
- H01H85/0047—Heating means
- H01H85/006—Heat reflective or insulating layer on the casing or on the fuse support
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H85/00—Protective devices in which the current flows through a part of fusible material and this current is interrupted by displacement of the fusible material when this current becomes excessive
- H01H85/02—Details
- H01H85/0241—Structural association of a fuse and another component or apparatus
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H85/00—Protective devices in which the current flows through a part of fusible material and this current is interrupted by displacement of the fusible material when this current becomes excessive
- H01H85/02—Details
- H01H85/04—Fuses, i.e. expendable parts of the protective device, e.g. cartridges
- H01H85/05—Component parts thereof
- H01H85/055—Fusible members
- H01H85/06—Fusible members characterised by the fusible material
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H69/00—Apparatus or processes for the manufacture of emergency protective devices
- H01H69/02—Manufacture of fuses
- H01H69/022—Manufacture of fuses of printed circuit fuses
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
- H01M2200/00—Safety devices for primary or secondary batteries
- H01M2200/10—Temperature sensitive devices
- H01M2200/103—Fuse
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Fuses (AREA)
Description
単一の電気絶縁材料からなり、第一表面と第二表面とを有する本体と、
前記本体の第一表面に形成される内側接続層と、
前記本体の第一表面に形成され、且つ前記内側接続層と電気的に接続する低融点合金層と、
単一の電気絶縁材料からなる前記本体によって覆われるように前記本体内に埋設され、且つ前記低融点合金層と電気的に接続する発熱層と、
前記本体の第二表面に形成され、且つ前記低融点合金層及び前記発熱層と電気的に接続する外側接続層と、を備える点にある。
第一基板及び第二基板を提供するステップ(a)であって、前記第一基板の第一表面は複数の第一素子エリアを有し、前記第二基板の第三表面は複数の第二素子エリアを有し、前記第一素子エリアの各々と、前記第二素子エリアの各々とが対応する、ステップ(a)と、
前記第一素子エリアの各々に外側接続層を形成し、前記第二素子エリアの各々に内側接続層を形成し、且つ前記第一基板と前記第二基板との間に、各々が前記第一素子エリア及び前記第二素子エリアと対応する複数の発熱層を形成するステップ(b)と、
前記第二基板の第四表面を前記第一基板の第二表面に重ね合わせるステップ(c)と、
前記第一基板及び第二基板を焼結して単一の電気絶縁材料からなる本体を構成し、これにより、前記本体によって覆われるように前記発熱層を前記本体内に埋設するステップ(d)と、
前記各第二素子エリアの内側接続層に低融点合金層を重ね合わせ、各前記低融点合金層を前記内側接続層を介して対応の前記発熱層及び対応の前記外側接続層と電気的に接続させるステップ(e)と、
前記第二素子エリア同士の境界に沿ってカット加工を行い、複数の保護素子を形成するステップ(f)と、を含む点にある。
10 本体
10’ 本体
11 第一表面
110 内側接続層
111 第三電極
112 第四電極
113 第二発熱電極
113a 端
114 導熱電極
12 第二表面
120 外側接続層
120’ 放熱層
121 第一電極
121’ 第一放熱片
122 第二電極
122’ 第二放熱片
123 第一発熱電極
123’ 第三放熱片
13 発熱層
131 発熱体
131a 端部
132 第一発熱体電極
133 第二発熱体電極
14 第一導電貫通穴
14a 第一貫通穴
14a’ 第六貫通穴
14b 第二貫通穴
14c 第四貫通穴
15 第二導電貫通穴
15a 第一貫通穴
15a’ 第六貫通穴
15b 第二貫通穴
15c 第四貫通穴
16 第一導電穴
16b 第三貫通穴
16c 第五貫通穴
17 第二導電穴
17a 第一貫通穴
17c 第四貫通穴
17a’ 第六貫通穴
18 第三導電穴
18b 第二貫通穴
191 側壁溝部
191a 第一側壁溝部
191b 第二側壁溝部
191c 第三側壁溝部
192 側壁溝部
192a 第一側壁溝部
192b 第二側壁溝部
192c 第三側壁溝部
193 側壁溝部
193a 第一側壁溝部
193b 第二側壁溝部
193c 第三側壁溝部
20 低融点合金層
30 第一基板
30’ 第四基板
31 第一表面
311 第一素子エリア
32 第二表面
40 第二基板
41 第三表面
411 第二素子エリア
42 第四表面
50 第三基板
51 第五表面
52 第六表面
511 第三素子エリア
60 上蓋
Claims (24)
- 単一の電気絶縁材料からなり、第一表面と第二表面とを有する本体と、
前記本体の第一表面に形成される内側接続層と、
前記本体の第一表面に形成され、且つ前記内側接続層と電気的に接続する低融点合金層と、
単一の電気絶縁材料からなる前記本体によって覆われるように前記本体内に埋設され、且つ前記低融点合金層と電気的に接続する発熱層と、
前記本体の第二表面に形成され、且つ前記低融点合金層及び前記発熱層と電気的に接続する外側接続層と、
前記発熱層と前記外側接続層との間に間隔をおいて位置するように、前記本体内に埋設されて単一の電気絶縁材料からなる前記本体によって覆われ、且つ前記内側接続層、前記発熱層及び前記外側接続層と電気的に接続する少なくとも一つの放熱層と、を備える保護素子。 - 前記外側接続層は、第一電極、第二電極及び第一発熱電極を有し、前記第一電極と前記第二電極は、前記第二表面における対向する両側に形成され、前記第一発熱電極は、前記第二表面における他の側に形成され、
前記内側接続層は、第三電極、第四電極及び第二発熱電極を有し、前記第二発熱電極は前記第三電極及び前記第四電極の間に位置し、前記第三電極は、少なくとも一つの第一導電貫通穴を介して前記第一電極と接続し、前記第四電極は、少なくとも一つの第二導電貫通穴を介して前記第二電極と接続し、前記第二発熱電極は、一つの第一導電穴を介して前記発熱層と接続し、
前記発熱層は、一つの第二導電穴を介して前記第一発熱電極と接続する、請求項1に記載の保護素子。 - 前記本体の第一表面には、前記第一発熱電極に対応する導熱電極が更に形成され、前記導熱電極は、一つの第三導電穴を介して前記発熱層と電気的に接続する、請求項2に記載の保護素子。
- 前記第二導電穴と前記第三導電穴は互いに連通する、請求項3に記載の保護素子。
- 前記発熱層は抵抗ペーストからなる、請求項1から4のいずれか一項に記載の保護素子。
- 前記本体は低温同時焼成セラミックスからなる、請求項1から4のいずれか一項に記載の保護素子。
- 前記第一電極、前記第二電極、前記第三電極、前記第四電極、前記第一発熱電極、前記第二発熱電極及び前記導熱電極は、低温同時焼成セラミックスの製造プロセスに適合する金属からなる、請求項3に記載の保護素子。
- 前記低融点合金層は第一合金又は第二合金からなり、
前記第一合金は、錫、鉛、ビスマス、銅及び銀からなる合金であり、
前記第二合金は、錫、ビスマス、銅及び銀からなる合金である、請求項1から4のいずれか一項に記載の保護素子。 - 前記本体の第一表面に覆設される上蓋を更に備える、請求項1から4のいずれか一項に記載の保護素子。
- 第一基板、第二基板及び第四基板を提供するステップ(a)であって、前記第一基板の第一表面は複数の第一素子エリアを有し、前記第二基板の第三表面は複数の第二素子エリアを有し、前記第四基板の第七表面又は第八表面は複数の第四素子エリアを有し、前記第一素子エリアの各々と、前記第二素子エリアの各々とが対応し、前記第四素子エリアの各々と、前記第一素子エリア及び第二素子エリアの各々とが対応する、ステップ(a)と、
前記第一素子エリアの各々に外側接続層を形成し、前記第二素子エリアの各々に内側接続層を形成し、且つ前記第一基板と前記第二基板との間に、各々が前記第一素子エリア及び前記第二素子エリアと対応する複数の発熱層を形成し、前記第四基板は前記第一基板と前記発熱層との間に位置し、前記第四基板の第七表面又は第八表面における第四素子エリアの各々に放熱層を形成するステップ(b)と、
前記第二基板の第四表面を前記第四基板に重ね合わせ、前記第四基板を前記第一基板の第二表面及び前記発熱層に重ね合わせるステップ(c)と、
前記第一基板、前記第二基板及び前記第四基板を焼結して単一の電気絶縁材料からなる本体を構成し、これにより、前記本体によって覆われるように前記発熱層及び前記放熱層を前記本体内に埋設するステップ(d)と、
前記各第二素子エリアの内側接続層に低融点合金層を重ね合わせ、各前記低融点合金層を前記内側接続層を介して対応の前記発熱層、対応の前記外側接続層及び対応の前記放熱層と電気的に接続させるステップ(e)と、
前記第二素子エリア同士の境界に沿ってカット加工を行い、複数の保護素子を形成するステップ(f)と、を含む保護素子の製造方法。 - 前記ステップ(a)において、前記第一基板は、前記第一素子エリアの各々に複数の第一貫通穴が形成されていると共に、前記第一貫通穴の各々に導電材料が充填されており、前記第二基板は、前記第二素子エリアの各々に複数の第二貫通穴及び一つの第三貫通穴が形成されていると共に、前記第二貫通穴及び前記第三貫通穴の各々に導電材料が充填されており、
前記ステップ(b)において、
前記第一基板の第一表面における前記第一素子エリアの各々に第一電極、第二電極及び第一発熱電極を形成することによって前記外側接続層を構成し、ここで、前記第一電極及び前記第二電極は、前記第一素子エリアにおける対向する両側に位置し、前記第一発熱電極は、前記第一素子エリアにおける他の側に設置され、複数の前記第一貫通穴は、前記第一素子エリアにおける前記第一電極、前記第二電極及び前記第一発熱電極に夫々対応し、且つ
前記第二基板の第三表面における前記第二素子エリアの各々に第三電極、第四電極及び第二発熱電極を形成することによって前記内側接続層を構成し、ここで、前記第三電極は前記第一電極に対応し、前記第四電極は前記第二電極に対応し、前記第二発熱電極は前記第三電極と第四電極との間に位置し、各前記第二素子エリアにおける前記第二貫通穴は、前記第三電極、前記第四電極及び前記第一素子エリアにおける前記第一発熱電極に夫々対応し、各前記第二素子エリアにおける前記第三貫通穴は、前記第二発熱電極に対応し、且つ
前記第一電極に対応する第一放熱片と、前記第二電極に対応する第二放熱片と、前記第一発熱電極に対応する第三放熱片とを有する前記放熱層を形成し、
前記ステップ(c)において、各前記第一素子エリアにおける複数の前記第一貫通穴は、各前記第二素子エリアにおける前記第二貫通穴に夫々対応し、前記第三貫通穴は、更に前記発熱層に対応し、
前記ステップ(d)において、前記第一貫通穴の各々と、対応の第二貫通穴の各々とにより、前記本体を貫通する導電貫通穴が構成され、
前記ステップ(e)において、前記低融点合金層の各々は、対応の第二素子エリアにおける内側接続層の前記第三電極、前記第四電極及び第二発熱電極と直接電気的に接続し、且つ、前記導電貫通穴を介して前記外側接続層の前記第一電極及び前記第二電極と電気的に接続し、前記第三貫通穴内の導電材料を介して前記発熱層と電気的に接続する、請求項10に記載の保護素子の製造方法。 - ステップ(b)における前記発熱層の各々は、前記第一基板の第二表面又は前記第二基板の第四表面に形成されている、請求項10又は11に記載の保護素子の製造方法。
- 前記ステップ(a)において、第三基板を更に提供し、前記第三基板の第五表面又は第六表面は複数の第三素子エリアを有し、前記第三素子エリアは前記第一素子エリア及び前記第二素子エリアに対応し、前記第三基板は、前記第三素子エリアの各々に複数の第四貫通穴及び一つの第五貫通穴が形成されていると共に、前記第四貫通穴及び第五貫通穴の各々に導電材料が充填されており、
前記ステップ(b)において、前記第三基板は、前記第一基板及び第二基板との間に位置し、前記発熱層は、前記第三基板の第五表面又は第六表面における前記第三素子エリア内に形成され、
前記ステップ(c)において、各前記第三素子エリアにおける複数の前記第四貫通穴の各々と、各前記第一素子エリアにおける複数の前記第一貫通穴の各々及び各前記第二素子エリアにおける複数の前記第二貫通穴の各々とが対応し、且つ、各前記第三素子エリアにおける前記第五貫通穴と前記第三貫通穴とが対応するように、前記第三基板を前記第一基板及び前記第二基板に重ね合わせ、
前記ステップ(d)において、前記第四貫通穴の各々と、対応の前記第一貫通穴の各々及び対応の前記第二貫通穴の各々とにより、前記本体を貫通する導電貫通穴が構成され、前記第五貫通穴と、対応の前記第三貫通穴とにより、導電穴が構成される、請求項11に記載の保護素子の製造方法。 - 前記ステップ(b)において、前記第二基板における前記第二素子エリアの各々に導熱電極を更に形成し、前記導熱電極は、前記第一発熱電極に対応して設置される、請求項11又は13に記載の保護素子の製造方法。
- 前記ステップ(c)において、前記第二基板における前記第二素子エリア同士の境界に沿って、前記第二基板を所定の深さまでカットする、請求項10、11又は13に記載の保護素子の製造方法。
- 前記発熱層は抵抗ペーストからなる、請求項10、11又は13に記載の保護素子の製造方法。
- 前記ステップ(b)において、前記第一電極、前記第二電極、前記第三電極、前記第四電極、前記第一発熱電極、前記第二発熱電極及び前記導熱電極は印刷によって形成され、
前記ステップ(d)において、更に、前記第一電極、前記第二電極、前記第三電極、前記第四電極、前記第一発熱電極、前記第二発熱電極及び前記導熱電極に対しめっきを施す、請求項14に記載の保護素子の製造方法。 - 前記ステップ(f)において、更に、複数の前記第二素子エリアの各々に上蓋を覆設する、請求項10、11又は13に記載の保護素子の製造方法。
- めっきされる金属は錫又は金である、請求項17に記載の保護素子の製造方法。
- 前記第一基板、前記第二基板は低温同時焼成セラミックスからなる、請求項10、11又は13に記載の保護素子の製造方法。
- 前記第三基板は低温同時焼成セラミックスからなる、請求項13に記載の保護素子の製造方法。
- 前記第一電極、前記第二電極、前記第三電極、前記第四電極、前記第一発熱電極、前記第二発熱電極及び前記導熱電極は、低温同時焼成セラミックスの製造プロセスに適合する金属からなる、請求項14に記載の保護素子の製造方法。
- 前記低融点合金層は、第一合金又は第二合金からなり、
前記第一合金は、錫、鉛、ビスマス、銅及び銀からなる合金であり、
前記第二合金は、錫、ビスマス、銅及び銀からなる合金である、請求項10、11又は13に記載の保護素子の製造方法。 - 前記ステップ(a)において、前記第四基板は、前記第四素子エリアの各々に複数の第六貫通穴が形成されていると共に、前記第六貫通穴の各々に導電材料が充填されており、
前記ステップ(c)において、各前記第四素子エリアにおける複数の前記第六貫通穴の各々と、各前記第一素子エリアにおける複数の前記第一貫通穴及び各前記第二素子エリアにおける複数の前記第二貫通穴の各々とが対応させられ、
前記ステップ(d)において、前記第六貫通穴の各々と、対応の前記第一貫通穴及び前記第二貫通穴とにより、前記本体を貫通する導電貫通穴が構成され、
前記ステップ(e)において、前記放熱層の各々は、前記導電貫通穴を介して前記内側接続層、前記発熱層及び前記外側接続層と電気的に接続する、請求項11に記載の保護素子の製造方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW109135239 | 2020-10-12 | ||
TW109135239A TWI731801B (zh) | 2020-10-12 | 2020-10-12 | 保護元件及其製作方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022063830A JP2022063830A (ja) | 2022-04-22 |
JP7089012B2 true JP7089012B2 (ja) | 2022-06-21 |
Family
ID=77517559
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020215515A Active JP7089012B2 (ja) | 2020-10-12 | 2020-12-24 | 保護素子及びその製造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11362505B2 (ja) |
JP (1) | JP7089012B2 (ja) |
TW (1) | TWI731801B (ja) |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004111192A (ja) | 2002-09-18 | 2004-04-08 | Koa Corp | チップ型ヒューズ抵抗器 |
JP2013179096A (ja) | 2009-09-04 | 2013-09-09 | Qiankun Kagi Kofun Yugenkoshi | 保護装置 |
KR101307530B1 (ko) | 2012-05-17 | 2013-09-12 | (주) 알엔투테크놀로지 | 내장 발열 부재를 포함하는 세라믹 칩 퓨즈 |
JP2013229295A (ja) | 2012-03-29 | 2013-11-07 | Dexerials Corp | 保護素子 |
JP2014175129A (ja) | 2013-03-07 | 2014-09-22 | Murata Mfg Co Ltd | ヒューズ |
JP2016062649A (ja) | 2014-09-12 | 2016-04-25 | デクセリアルズ株式会社 | 保護素子及び実装体 |
JP2017147162A (ja) | 2016-02-18 | 2017-08-24 | デクセリアルズ株式会社 | ヒューズ素子 |
JP2017174592A (ja) | 2016-03-23 | 2017-09-28 | デクセリアルズ株式会社 | 保護素子 |
WO2019065727A1 (ja) | 2017-09-29 | 2019-04-04 | 株式会社村田製作所 | チップ型ヒューズ |
WO2019103211A1 (ko) | 2017-11-27 | 2019-05-31 | (주)알엔투테크놀로지 | 무연 세라믹 칩 퓨즈 및 그 제조방법 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19704097A1 (de) * | 1997-02-04 | 1998-08-06 | Wickmann Werke Gmbh | Elektrisches Sicherungselement |
US6034589A (en) * | 1998-12-17 | 2000-03-07 | Aem, Inc. | Multi-layer and multi-element monolithic surface mount fuse and method of making the same |
US7385475B2 (en) * | 2002-01-10 | 2008-06-10 | Cooper Technologies Company | Low resistance polymer matrix fuse apparatus and method |
US7436284B2 (en) * | 2002-01-10 | 2008-10-14 | Cooper Technologies Company | Low resistance polymer matrix fuse apparatus and method |
JP4819320B2 (ja) * | 2003-05-28 | 2011-11-24 | 株式会社オクテック | 半導体装置の製造方法 |
US20060067021A1 (en) * | 2004-09-27 | 2006-03-30 | Xiang-Ming Li | Over-voltage and over-current protection device |
TWI323906B (en) * | 2007-02-14 | 2010-04-21 | Besdon Technology Corp | Chip-type fuse and method of manufacturing the same |
WO2011024780A1 (ja) * | 2009-08-27 | 2011-03-03 | 株式会社村田製作所 | Esd保護デバイスおよびその製造方法 |
TWI409918B (zh) * | 2010-03-10 | 2013-09-21 | Wei Kuang Feng | 具有防突波功能之多層式半導體元件封裝結構及其製作方法 |
JP5656466B2 (ja) | 2010-06-15 | 2015-01-21 | デクセリアルズ株式会社 | 保護素子、及び、保護素子の製造方法 |
KR101825261B1 (ko) | 2011-12-19 | 2018-02-02 | 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 | 보호 소자, 보호 소자의 제조 방법 및 보호 소자가 내장된 배터리 모듈 |
CN104835702B (zh) | 2014-02-10 | 2017-05-24 | 陈莎莉 | 复合式保护元件 |
JP6371118B2 (ja) | 2014-05-30 | 2018-08-08 | デクセリアルズ株式会社 | 保護素子、及びバッテリパック |
JP6483987B2 (ja) * | 2014-09-26 | 2019-03-13 | デクセリアルズ株式会社 | ヒューズエレメント、ヒューズ素子、及び発熱体内蔵ヒューズ素子 |
CN107408479A (zh) * | 2015-04-07 | 2017-11-28 | Soc株式会社 | 保险丝的制造方法、保险丝、电路基板的制造方法及电路基板 |
JP6782122B2 (ja) | 2016-08-24 | 2020-11-11 | デクセリアルズ株式会社 | 保護素子、回路モジュール及び保護素子の製造方法 |
TW201917764A (zh) | 2017-10-19 | 2019-05-01 | 聚鼎科技股份有限公司 | 保護元件及其電路保護裝置 |
TWM606920U (zh) | 2020-10-12 | 2021-01-21 | 功得電子工業股份有限公司 | 保護元件 |
-
2020
- 2020-10-12 TW TW109135239A patent/TWI731801B/zh active
- 2020-12-24 JP JP2020215515A patent/JP7089012B2/ja active Active
-
2021
- 2021-01-15 US US17/150,569 patent/US11362505B2/en active Active
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004111192A (ja) | 2002-09-18 | 2004-04-08 | Koa Corp | チップ型ヒューズ抵抗器 |
JP2013179096A (ja) | 2009-09-04 | 2013-09-09 | Qiankun Kagi Kofun Yugenkoshi | 保護装置 |
JP2013229295A (ja) | 2012-03-29 | 2013-11-07 | Dexerials Corp | 保護素子 |
KR101307530B1 (ko) | 2012-05-17 | 2013-09-12 | (주) 알엔투테크놀로지 | 내장 발열 부재를 포함하는 세라믹 칩 퓨즈 |
JP2014175129A (ja) | 2013-03-07 | 2014-09-22 | Murata Mfg Co Ltd | ヒューズ |
JP2016062649A (ja) | 2014-09-12 | 2016-04-25 | デクセリアルズ株式会社 | 保護素子及び実装体 |
JP2017147162A (ja) | 2016-02-18 | 2017-08-24 | デクセリアルズ株式会社 | ヒューズ素子 |
JP2017174592A (ja) | 2016-03-23 | 2017-09-28 | デクセリアルズ株式会社 | 保護素子 |
WO2019065727A1 (ja) | 2017-09-29 | 2019-04-04 | 株式会社村田製作所 | チップ型ヒューズ |
WO2019103211A1 (ko) | 2017-11-27 | 2019-05-31 | (주)알엔투테크놀로지 | 무연 세라믹 칩 퓨즈 및 그 제조방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US11362505B2 (en) | 2022-06-14 |
US20220115860A1 (en) | 2022-04-14 |
TW202215469A (zh) | 2022-04-16 |
JP2022063830A (ja) | 2022-04-22 |
TWI731801B (zh) | 2021-06-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI670742B (zh) | 電流熔絲 | |
JP6483987B2 (ja) | ヒューズエレメント、ヒューズ素子、及び発熱体内蔵ヒューズ素子 | |
KR20160046810A (ko) | 퓨즈 엘리먼트, 퓨즈 소자 | |
KR20150087429A (ko) | 레이저 공정을 이용한 에스엠디 및 관통-홀 퓨즈의 제조능력 | |
TWI719170B (zh) | 保護元件 | |
JP6382514B2 (ja) | Ptcデバイス | |
JP7089012B2 (ja) | 保護素子及びその製造方法 | |
CN111446230B (zh) | 半导体装置 | |
JP2006310277A (ja) | チップ型ヒューズ | |
KR102089582B1 (ko) | 보호 소자 | |
JP5201671B2 (ja) | 下面電極型固体電解コンデンサおよびその製造方法 | |
CN111696738B (zh) | 过电流保护元件 | |
TWM606920U (zh) | 保護元件 | |
JP4564968B2 (ja) | 温度測定デバイスおよびこのデバイスを製造する方法 | |
CN209929256U (zh) | 具有高导热基板的大电流熔断器 | |
CN213601828U (zh) | 保护元件 | |
JP4708941B2 (ja) | 接続構造、および回路構成体 | |
JP2017228701A (ja) | チップ抵抗器およびチップ抵抗器の実装構造 | |
CN114388317A (zh) | 保护元件及其制作方法 | |
JP4569152B2 (ja) | 回路保護素子の製造方法 | |
JP2006164639A (ja) | チップ型ヒューズ及びその製造方法 | |
CN110211852B (zh) | 具有高导热基板的大电流熔断器及其制作方法 | |
KR20180017842A (ko) | 칩 저항 소자 및 칩 저항 소자 어셈블리 | |
CN108231506B (zh) | 小型熔断器及其制造方法 | |
CN108353498A (zh) | 基板及基板的制造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20201224 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220104 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220401 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220517 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220609 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7089012 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |