JP7054634B2 - 測定装置 - Google Patents

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Description

本発明は、生地片の単位面積当たりの質量を測定し出力する測定装置に関する。
出願人は、特許文献１にて、線条検査方法及び線条検査装置を提案している。この線条検査方法及び線条検査装置では、織物の２次元空間的なテクスチャ特徴が抽出され、糸交差角度、経糸数及び緯糸数が数学的に求められる。前述のテクスチャ特徴の抽出アルゴリズムは、次の手順（１）～手順（５）を含む。即ち、（１）デジタルスチルカメラから織物のデジタル画像データを取得する。（２）デジタル画像データに窓関数処理を施す。（３）窓関数処理されたデジタル画像データを高速フーリエ変換し、フーリエスペクトルを取得する。（４）フーリエスペクトルのピークを抽出する。（５）各ピークの情報（角度、周波数）を織物のテクスチャ特徴量（糸交差角度、経糸数及び緯糸数）に対応させる。線条検査方法及び線条検査装置は、織物の他、印刷又はエッチングによってメッシュ状の線条が形成されたフィルム、シート、スクリーン又はプレートを検査対象とする。例えば、線条検査方法及び線条検査装置は、プラズマディスプレイ用の電磁波シールドフィルタ、生化学用の分離フィルタ、印刷用のスクリーン紗又は網戸を検査対象とする。
特許第４５２０７９４号公報
生地の製造時又は生地製の所定の製品の製造時、製造現場では、製品又は素材としての生地の品質が管理される。例えば、製造現場では、生地の単位面積質量が管理される。単位面積質量は、単位面積当たりの質量である。そこで、発明者は、生地片の大きさ（面積）に関わらず、生地の単位面積質量をスムーズに測定し、単位面積質量を出力可能な測定装置について検討した。
本発明は、生地の単位面積当たりの質量を測定し出力可能な測定装置を提供することを目的とする。
本発明の一側面は、生地片を載せ置く載置台と、前記載置台に載せ置かれた前記生地片の質量を測定する質量計と、前記載置台に載せ置かれた前記生地片を撮像するカメラと、前記カメラによる撮像範囲に赤外線を照射する照射器と、前記生地片の単位面積当たりの質量を示す単位面積質量を出力する出力器と、プロセッサと、を備え、前記プロセッサは、前記質量計によって測定された前記生地片の質量を取得する質量処理と、前記カメラによって撮像された前記生地片の画像部分を含む測定用の撮像データを取得する測定用撮像処理と、前記測定用撮像処理で取得された前記測定用の撮像データに含まれる前記生地片の画像部分から前記生地片に対応する領域の測定用面積を取得する測定用面積処理と、前記質量処理で取得された前記生地片の質量と、前記測定用面積処理で取得された前記測定用面積と、により前記単位面積質量を算出する算出処理と、前記算出処理で取得された前記単位面積質量を前記出力器で出力させる出力処理と、を実行し、前記カメラは、赤外線に対する感度を有するイメージセンサを含み、前記照射器から赤外線が照射されている状態で撮像し、前記測定用撮像処理は、前記生地片で反射した赤外線による前記生地片の画像部分を含む前記測定用の撮像データを取得する処理である、測定装置である。
測定装置では、前記載置台の前記生地片が載せ置かれる載置面は、前記生地片より低い赤外線反射率、前記生地片より高い赤外線吸収率、及び前記生地片より高い赤外線透過率の一部又は全部を有する、ようにしてもよい。また、測定装置は、前記載置台と前記カメラとの間に赤外線透過フィルタを備える、ようにしてもよい。更に、測定装置では、前記カメラは、赤外線カメラである、ようにしてもよい。
このような測定装置によれば、生地片の単位面積質量を測定し、測定結果としてこれを出力することができる。測定用の撮像データに含まれる生地片の画像部分から生地片に対応する領域の測定用面積を取得することで、生地片の形状に関わらず、単位面積質量を測定することができる。例えば、単位面積質量を測定するに際し、生地から生地片を予め定めた形状に裁断する必要がない。例えば、生地の製造時又は生地製の所定の製品の製造時、製造現場で、製品又は素材としての生地の単位面積質量をスムーズに測定することができる。
更に、生地片の画像部分を安定的に検出することができる。測定用面積の精度を向上させることができる。生地片が次のような模様の生地の一部であるとする。前述の模様は、例えば、載置面と同一色の所定の形状を有する図形が生地の全体に複数配置された模様である。載置面は、生地片が載せ置かれる載置台の面である。このような模様としては、載置面と同一色の複数の水玉が適宜配置された水玉模様が例示される。前述の水玉模様を例として説明する。単位面積質量の測定に際し、水玉模様の生地を切り取り生地片を形成する場合、生地の切断位置が水玉上となることがある。生地片の撮像に可視光を用いる場合、この撮像による撮像データに対応する可視光画像では、背景色（載置面の色）と生地片の外縁における切断された水玉の部分の色が同一色となる。その結果、生地片の画像部分を適切に検出できない、又は前述の検出に特別な画像解析が必要となる、といったことが考えられる。これに対して、生地片の撮像に赤外線を用いた測定用の撮像データでは、生地片の画像部分における水玉模様の影響はなくなり又は低下する。その結果、背景（載置面）と生地片の画像部分の境界が安定し、背景から生地片の画像部分を区別することができる。生地の模様に合わせて載置台を変更するといった作業は、不要となる。
測定装置では、前記載置台には、面積が基準値に設定された基準試料が載せ置かれ、前記カメラは、前記載置台に載せ置かれた前記基準試料を撮像し、前記プロセッサは、前記カメラによって撮像された前記基準試料の画像部分を含む較正用の撮像データを取得する較正用撮像処理と、前記較正用撮像処理で取得された前記較正用の撮像データに含まれる前記基準試料の画像部分から前記基準試料に対応する領域の較正用面積を取得する較正用面積処理と、前記基準値と、前記較正用面積処理で取得された前記較正用面積と、の差に応じた補正係数を算出する補正係数処理と、を実行し、前記較正用撮像処理は、前記基準試料で反射した赤外線による前記基準試料の画像部分を含む前記較正用の撮像データを取得する処理であり、前記算出処理は、前記質量処理で取得された前記生地片の質量を、前記測定用面積処理で取得された前記測定用面積を前記補正係数処理で算出された前記補正係数によって補正した補正面積で除した前記単位面積質量を算出する処理である、ようにしてもよい。
この構成によれば、測定用面積を補正係数によって補正することができる。単位面積質量の測定精度を向上させることができる。
本発明によれば、生地の単位面積当たりの質量を測定し出力可能な測定装置を得ることができる。
測定装置の概略構成の一例を示す斜視図である。 操作画面としてのメイン画面の概略構成の一例を示す図である。上段は、単位面積質量の測定前の状態を示す。生地片が載置台に載せ置かれていない状態に対応する。下段は、単位面積質量の測定後の状態を示す。生地片が載置台に載せ置かれている状態に対応する。 操作画面としてのサブ画面の概略構成の一例を示す図である。基準試料が載置台に載せ置かれている状態に対応する。 メイン処理のフローチャートである。 キャリブレーション処理の第一部分のフローチャートである。 キャリブレーション処理の第二部分のフローチャートである。 測定用面積処理のフローチャートである。 第一較正用面積処理のフローチャートである。 第二較正用面積処理のフローチャートである。 第三較正用面積処理のフローチャートである。 第四較正用面積処理のフローチャートである。 第五較正用面積処理のフローチャートである。 実測処理のフローチャートである。 補正係数処理のフローチャートである。 測定用撮像データを示す図である。上段は、第一態様を示す。第一態様では、撮像に赤外線が用いられる。下段は、第二態様を示す。第二態様では、撮像に可視光が用いられる。
本発明を実施するための実施形態について、図面を用いて説明する。本発明は、以下に記載の構成に限定されるものではなく、同一の技術的思想において種々の構成を採用することができる。例えば、以下に示す構成の一部は、省略し又は他の構成等に置換してもよい。他の構成を含むようにしてもよい。
＜測定装置＞
測定装置１０について、図１を参照して説明する。図１は、測定装置１０を模式的に示したものである。従って、図１で、破線は、かくれ線であり、一点鎖線は、中心線（基準線）であり、二点鎖線は、想像線である。
測定装置１０は、単位面積質量Ｎを測定する装置である。実施形態では、単位面積質量Ｎの測定対象物は、生地片１５である。生地片１５は、例えば、生地から切り取られた生地の一部である。生地は、所定の製品の素材として用いられる。単位面積質量Ｎは、単位面積当たりの質量である。実施形態では、単位面積は、１ｍ２とする。但し、単位面積は、１ｍ２とは異なる面積としてもよい。単位面積は、諸条件を考慮して適宜決定される。測定装置１０は、例えば、生地の製造現場又は生地製の所定の製品の製造現場で用いられる。測定装置１０により、生地の品質が管理される。測定装置１０は、載置台２０と、質量計３０と、カメラ４０と、収容室４５と、照射器５０と、出力器６０と、制御器７０を備える。
載置台２０には、生地片１５が載せ置かれる。実施形態では、生地片１５が載せ置かれる載置台２０の面を「載置面２２」という。載置台２０では、載置面２２の赤外線反射率、赤外線吸収率及び赤外線透過率の何れか又は全部が生地片１５とは異なる状態とするとよい。例えば、載置台２０では、載置面２２の赤外線反射率は、生地片１５より低くするとよく、載置面２２の赤外線吸収率は、生地片１５より高くするとよく、載置面２２の赤外線透過率は、生地片１５より高くするとよい。一般的に、生地は、赤外線を反射する性質を有する。測定装置１０では、載置台２０として、次のような載置台を採用する。即ち、載置台２０は、アクリル製とし、載置面２２は、単一色のつや消し状態とした。載置面２２の色は、黒色とした。
質量計３０は、載置台２０に載せ置かれた物の質量Ｍを測定し、測定された質量Ｍを出力する。実施形態では、載置台２０には、生地片１５が載せ置かれる。この場合、質量計３０は、生地片１５の質量Ｍを出力する。この他、載置台２０には、基準試料１７が載せ置かれる（図３参照）。基準試料１７については、後述する。質量計３０は、例えば、電子天秤である。測定装置１０では、質量計３０として、公知の質量計を採用できる。従って、質量計３０に関するこの他の説明は、省略する。
カメラ４０は、デジタルカメラである。カメラ４０は、赤外線に対する感度を有するイメージセンサを含む。即ち、カメラ４０は、赤外線を撮像することができる。但し、イメージセンサは、可視光に対する感度も有する。従って、カメラ４０は、可視光を撮像することもできる。カメラ４０は、載置面２２の上方で載置面２２に対向した状態で設けられる。測定装置１０では、カメラ４０は、載置面２２と正対する。従って、カメラ４０の撮像方向は、載置面２２に対して垂直な方向となる。カメラ４０は、載置面２２を撮像範囲Ｒ１に含む。撮像範囲Ｒ１は、カメラ４０によって撮像される範囲である。図１で、載置面２２上に二点鎖線で示す２個の矩形枠のうち、内側の矩形枠は、撮像範囲Ｒ１を示す。実施形態では、生地片１５は、撮像範囲Ｒ１にその全体が含まれる。即ち、生地片１５は、撮像範囲Ｒ１より小さな任意の形状を有する。これに伴い、カメラ４０は、載置台２０に生地片１５が載せ置かれた状態で、生地片１５の表面の全体を撮像する。また、実施形態では、基準試料１７も、撮像範囲Ｒ１にその全体が含まれる。即ち、基準試料１７は、撮像範囲Ｒ１より小さな所定の形状を有する。これに伴い、カメラ４０は、載置台２０に載せ置かれた基準試料１７の表面の全体を撮像する。
収容室４５は、カメラ４０を収容する。収容室４５の底面には、赤外線透過フィルタ４７が設けられる。収容室４５は、底面の赤外線透過フィルタ４７を除く部分が遮光された構造を有する。カメラ４０が収容室４５に収容された状態で、赤外線透過フィルタ４７は、載置台２０とカメラ４０の間に設けられる。赤外線透過フィルタ４７は、紫外線及び可視光を吸収し、赤外線を透過するフィルタである。従って、生地片１５で反射した光のうち、可視光等は、赤外線透過フィルタ４７によって吸収され、カメラ４０に到達しない。換言すれば、生地片１５で反射した光のうち、赤外線は、赤外線透過フィルタ４７を透過してカメラ４０に到達する。測定装置１０では、赤外線透過フィルタ４７として、例えば、波長が８００ｎｍ以下の光を吸収する公知の赤外線透過フィルタを採用できる。従って、赤外線透過フィルタ４７に関するこの他の説明は、省略する。
照射器５０は、赤外線を照射する。測定装置１０で採用可能な照射器５０としては、ピークの波長が８５０ｎｍである赤外線ＬＥＤが例示される。照射器５０は、載置面２２の上方から赤外線によって撮像範囲Ｒ１を照らす。測定装置１０では、赤外線の照射方向は、載置面２２に対して傾斜した方向である。従って、照射器５０は、載置面２２の斜め上方から赤外線によって撮像範囲Ｒ１を照らす。実施形態では、測定装置１０における照射器５０の台数は、２台である。２台の照射器５０は、カメラ４０の両側に設けられる。赤外線によって照らされる載置面２２上の範囲を「照明範囲Ｒ２」という。照明範囲Ｒ２は、撮像範囲Ｒ１を含む。測定装置１０では、２台の照射器５０は、各照射器５０による載置面２２上の照明範囲が共に照明範囲Ｒ２で一致した状態とされている。図１で、載置面２２上に二点鎖線で示す２個の矩形枠のうち、外側の矩形枠は、照明範囲Ｒ２を示す。
但し、上述したような赤外線の照射方向と照射器５０の台数及び配置は、例示である。赤外線の照射方向と照射器５０の台数及び配置は、諸条件を考慮して適宜決定される。例えば、照射器５０の台数を１台とし、１台の照射器５０によって照明範囲Ｒ２を照らすようにしてもよい。この他、複数の照射器５０がそれぞれ照らす載置面２２上の範囲を異なる範囲とし、複数の照射器５０によって照明範囲Ｒ２の全体を照らすようにしてもよい。この他、照射器５０を、載置台２０上で載置面２２に接近して配置し、撮像範囲Ｒ１の外周側から照明範囲Ｒ２の全体を照らすようにしてもよい。この場合、複数の照射器５０を前述した位置に環状に配置し、又は環状の照射器５０を前述した位置に配置してもよい。
出力器６０は、測定結果としての単位面積質量Ｎを出力する機器である。測定装置１０では、出力器６０は、表示器である。表示器としては、液晶ディスプレイが例示される。但し、出力器６０として採用される表示器は、液晶ディスプレイとは異なるディスプレイであってもよい。即ち、測定装置１０では、単位面積質量Ｎを含む操作画面が出力器６０としての表示器に表示される。図１では、操作画面の図示は、省略されている。操作画面については、後述する。
操作器６５は、測定装置１０に対する各種の指示の入力を受け付ける。測定装置１０では、操作器６５は、タッチパッドを含む仕様とする。この場合、操作器６５は、表示器である出力器６０と共に、タッチパネルとなる。測定装置１０の操作者は、出力器６０に操作画面が表示されている状態で、タッチパッドによる操作器６５に対して、所定の操作を行う。前述の操作としては、タップが例示される。操作器６５は、操作者による操作に応じた指示の入力を受け付ける。操作器６５は、受け付けられた指示を出力する。但し、操作器６５は、所定のハードキーを含むものであってもよい。この他、操作器６５は、キーボード及びマウスであってもよい。
制御器７０は、プロセッサ７１と、ストレージ７２と、メモリ７３と、接続インターフェース７４を含む。実施形態では、接続インターフェース７４を「接続Ｉ／Ｆ７４」と記載する。プロセッサ７１は、演算処理を実行し、測定装置１０を制御する。プロセッサ７１は、例えば、ＣＰＵである。
ストレージ７２は、フラッシュメモリである。但し、ストレージ７２は、フラッシュメモリとは異なる記憶媒体であってもよい。例えば、ストレージ７２は、ハードディスクであってもよい。ストレージ７２は、プログラムを記憶する。ストレージ７２に記憶されるプログラムは、メイン処理（図４参照）のプログラムを含む。メイン処理のプログラムは、図５～図１４に示す各処理のプログラムを含む。メイン処理のプログラムは、ストレージ７２に事前にインストールされる。
メモリ７３は、プロセッサ７１がストレージ７２に記憶されたプログラムを実行する際の記憶領域となる。メモリ７３には、処理の実行途中に所定のデータが所定の記憶領域に記憶される。メモリ７３は、例えば、ＲＡＭである。測定装置１０では、制御器７０において、プロセッサ７１が、ストレージ７２に記憶されたプログラムを実行する。これに伴い、測定装置１０では、各種の処理が実行され、実行された処理に対応する機能が実現される。
接続Ｉ／Ｆ７４には、例えば、質量計３０、カメラ４０及び操作器６５が接続される。質量計３０から出力された質量Ｍは、接続Ｉ／Ｆ７４を介して制御器７０に入力される。質量計３０からの質量Ｍは、接続Ｉ／Ｆ７４からプロセッサ７１に出力される。プロセッサ７１は、接続Ｉ／Ｆ７４を介して質量Ｍを取得する。カメラ４０で撮像された撮像画像に対応する撮像信号は、接続Ｉ／Ｆ７４を介して制御器７０に入力される。カメラ４０からの撮像信号は、接続Ｉ／Ｆ７４からプロセッサ７１に出力される。プロセッサ７１は、接続Ｉ／Ｆ７４を介して撮像信号を取得する。これに伴い、プロセッサ７１は、撮像画像に対応する撮像データを取得する。即ち、プロセッサ７１は、取得された撮像信号を処理して撮像データを生成する。操作器６５から出力された指示は、接続Ｉ／Ｆ７４を介して制御器７０に入力される。操作器６５からの指示は、接続Ｉ／Ｆ７４からプロセッサ７１に出力される。プロセッサ７１は、接続Ｉ／Ｆ７４を介して前述の指示を取得する。この他、接続Ｉ／Ｆ７４には、照射器５０及び出力器６０が接続される。図１では、質量計３０、カメラ４０、照射器５０及び出力器６０と、接続Ｉ／Ｆ７４を接続する電気配線の図示は、省略されている。
＜操作画面＞
操作画面について、図２及び図３を参照して説明する。測定装置１０では、操作画面は、メイン画面８０とサブ画面９０を含む。実施形態では、メイン画面８０とサブ画面９０を区別しない場合、又はこれらを総称する場合、操作画面という。メイン画面８０は、メイン処理の開始に伴い出力器６０に表示される。メイン画面８０は、単位面積質量Ｎの測定に対応する操作画面で、生地片１５の単位面積質量Ｎを測定する場合に出力器６０に表示される。サブ画面９０は、キャリブレーション処理（図５及び図６参照）が実行される場合に表示される。
キャリブレーション処理は、面積が基準値に設定された基準試料１７を用いて行われる。実施形態では、基準試料１７として、面積が異なる５種類の基準値に設定された第一サンプル、第二サンプル、第三サンプル、第四サンプル及び第五サンプルを例示する。第一サンプルは、面積が第一基準値「４００ｍｍ２」に設定された基準試料１７である。面積が第一基準値となる形状としては、１辺の寸法が２０ｍｍである正方形が例示される。第二サンプルは、面積が第二基準値「１６００ｍｍ２」に設定された基準試料１７である。面積が第二基準値となる形状としては、１辺の寸法が４０ｍｍである正方形が例示される。第三サンプルは、面積が第三基準値「３６００ｍｍ２」に設定された基準試料１７である。面積が第三基準値となる形状としては、１辺の寸法が６０ｍｍである正方形が例示される。第四サンプルは、面積が第四基準値「６４００ｍｍ２」に設定された基準試料１７である。面積が第四基準値となる形状としては、１辺の寸法が８０ｍｍである正方形が例示される。第五サンプルは、面積が第五基準値「１００００ｍｍ２」に設定された基準試料１７である。面積が第五基準値となる形状としては、１辺の寸法が１００ｍｍである正方形が例示される。実施形態では、第一サンプル、第二サンプル、第三サンプル、第四サンプル及び第五サンプルを区別しない場合、又はこれらを総称する場合、「基準試料１７」という。第一基準値、第二基準値、第三基準値、第四基準値及び第五基準値としての前述の各値は、例示である。基準試料１７の基準値は、諸条件を考慮して適宜決定される。基準試料１７の形状は、長方形、又は正方形及び長方形とは異なる多角形であってもよい。また、基準試料１７の形状は、円形、楕円形又は前述の各形状とは異なる任意の形状であってもよい。基準試料１７の形状は、諸条件を考慮して適宜決定される。
基準試料１７は、生地片１５と同様、赤外線反射率、赤外線吸収率及び赤外線透過率の何れか又は全部を、載置面２２とは異なる状態とするとよい。例えば、基準試料１７は、赤外線反射率を載置面２２より高くするとよく、赤外線吸収率を載置面２２より低くするとよく、赤外線透過率を載置面２２より低くするとよい。例えば、基準試料１７は、生地片１５と同様、載置面２２より赤外線を反射する素材によって形成し、又は載置面２２より赤外線を反射する状態とすることができる。この他、基準試料１７を形成する素材は、皺又は反り等が発生しない又は発生し難い素材とするとよい。また、基準試料１７を面積が基準値より大きな素材を切断して形成する場合、基準試料１７を形成する素材としては、面積が基準値となる形状に容易に切断可能な素材を選択するとよい。例えば、基準試料１７を形成する素材は、切断箇所に毛羽立ちが生じない又は生じ難い素材としてもよく、伸縮性の低い素材としてもよい。例えば、基準試料１７は、紙製とすることができる。この場合、紙製の基準試料１７は、表面色を白色としてもよい。
メイン画面８０は、プレビュー領域８１と、測定結果領域８２と、キャリブレーションボタン８３を含む（図２参照）。プレビュー領域８１は、撮像範囲Ｒ１に対応する撮像画像を表示する領域である。測定装置１０では、プレビュー領域８１に表示される撮像画像は、動画である。測定結果領域８２は、生地片１５の単位面積質量Ｎ（ｇ／ｍ２）と、生地片１５の面積（ｍｍ２）及び質量（ｇ）を表示する領域である。キャリブレーションボタン８３は、キャリブレーション処理（図４のＳ１７、図５及び図６参照）の実行を指示する操作ボタンである。キャリブレーションボタン８３は、キャリブレーション指示に対応付けられる。キャリブレーション指示は、キャリブレーション処理の実行指示である。キャリブレーションボタン８３に対するタップが操作器６５で受け付けられた場合、プロセッサ７１は、キャリブレーション指示を取得する。これに伴い、プロセッサ７１は、キャリブレーション処理を開始する。
サブ画面９０は、プレビュー領域９１と、第一サンプルボタン９２と、第二サンプルボタン９３と、第三サンプルボタン９４と、第四サンプルボタン９５と、第五サンプルボタン９６と、補正係数ボタン９７と、戻るボタン９８を含む（図３参照）。プレビュー領域９１は、撮像範囲Ｒ１に対応する撮像画像を表示する領域である。測定装置１０では、プレビュー領域９１に表示される撮像画像は、動画である。
第一サンプルボタン９２は、第一較正用撮像処理（図５のＳ３５参照）の実行を指示する操作ボタンである。第一サンプルボタン９２は、第一サンプル指示に対応付けられる。第一サンプル指示は、第一較正用撮像処理の実行指示である。操作者は、載置台２０に第一サンプルを載せ置く。その後、操作者は、載置台２０に第一サンプルが載せ置かれた状態で、第一サンプルボタン９２をタップする。第一サンプルボタン９２がタップされ、このタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、第一サンプル指示を取得する。これに伴い、プロセッサ７１は、第一較正用撮像処理を開始する。
第二サンプルボタン９３は、第二較正用撮像処理（図５のＳ４１参照）の実行を指示する操作ボタンである。第二サンプルボタン９３は、第二サンプル指示に対応付けられる。第二サンプル指示は、第二較正用撮像処理の実行指示である。操作者は、載置台２０に第二サンプルを載せ置く。その後、操作者は、載置台２０に第二サンプルが載せ置かれた状態で、第二サンプルボタン９３をタップする。第二サンプルボタン９３がタップされ、このタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、第二サンプル指示を取得する。これに伴い、プロセッサ７１は、第二較正用撮像処理を開始する。
第三サンプルボタン９４は、第三較正用撮像処理（図５のＳ４７参照）の実行を指示する操作ボタンである。第三サンプルボタン９４は、第三サンプル指示に対応付けられる。第三サンプル指示は、第三較正用撮像処理の実行指示である。操作者は、載置台２０に第三サンプルを載せ置く。その後、操作者は、載置台２０に第三サンプルが載せ置かれた状態で、第三サンプルボタン９４をタップする。第三サンプルボタン９４がタップされ、このタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、第三サンプル指示を取得する。これに伴い、プロセッサ７１は、第三較正用撮像処理を開始する。
第四サンプルボタン９５は、第四較正用撮像処理（図６のＳ５３参照）の実行を指示する操作ボタンである。第四サンプルボタン９５は、第四サンプル指示に対応付けられる。第四サンプル指示は、第四較正用撮像処理の実行指示である。操作者は、載置台２０に第四サンプルを載せ置く。その後、操作者は、載置台２０に第四サンプルが載せ置かれた状態で、第四サンプルボタン９５をタップする。第四サンプルボタン９５がタップされ、このタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、第四サンプル指示を取得する。これに伴い、プロセッサ７１は、第四較正用撮像処理を開始する。
第五サンプルボタン９６は、第五較正用撮像処理（図６のＳ５９参照）の実行を指示する操作ボタンである。第五サンプルボタン９６は、第五サンプル指示に対応付けられる。第五サンプル指示は、第五較正用撮像処理の実行指示である。操作者は、載置台２０に第五サンプルを載せ置く。その後、操作者は、載置台２０に第五サンプルが載せ置かれた状態で、第五サンプルボタン９６をタップする。第五サンプルボタン９６がタップされ、このタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、第五サンプル指示を取得する。これに伴い、プロセッサ７１は、第五較正用撮像処理を開始する。
補正係数ボタン９７は、補正係数処理（図６のＳ６５及び図１４参照）の実行を指示する操作ボタンである。補正係数ボタン９７は、補正係数指示に対応付けられる。補正係数指示は、補正係数処理の実行指示である。操作者は、例えば、第一サンプルボタン９２、第二サンプルボタン９３、第三サンプルボタン９４、第四サンプルボタン９５及び第五サンプルボタン９６をそれぞれタップした後、補正係数ボタン９７をタップする。補正係数ボタン９７がタップされ、このタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、補正係数指示を取得する。これに伴い、プロセッサ７１は、補正係数処理を開始する。
戻るボタン９８は、キャリブレーション処理の終了を指示する操作ボタンである。戻るボタン９８は、リターン指示に対応付けられる。リターン指示は、キャリブレーション処理の終了指示である。操作者は、例えば、キャリブレーション処理を終了する場合、戻るボタン９８をタップする。戻るボタン９８がタップされ、このタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、リターン指示を取得する。これに伴い、プロセッサ７１は、キャリブレーション処理を終了する。
＜メイン処理＞
メイン処理について、図４を参照して説明する。操作者は、測定装置１０の電源をオンする。これに伴い、プロセッサ７１は、ストレージ７２に記憶されたメイン処理のプログラムを起動し、メイン処理を開始する。照射器５０は、赤外線の照射を開始する。
メイン処理を開始させたプロセッサ７１は、メイン画面８０を表示させる（Ｓ１１）。プロセッサ７１は、メイン画面８０の表示指令を出力器６０に出力する。出力器６０は、この表示指令に従い、メイン画面８０を表示する（図２上段参照）。プロセッサ７１は、Ｓ１１の実行に合わせ、カメラ４０を起動させる（Ｓ１３）。プロセッサ７１は、起動指令をカメラ４０に出力する。カメラ４０は、起動指令に従い起動し、撮像を開始する。プロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された撮像画像に対応する撮像データを取得する。プロセッサ７１は、前述の撮像データに対応する撮像画像をメイン画面８０のプレビュー領域８１に含める。メイン画面８０では、プレビュー領域８１に撮像範囲Ｒ１に一致する撮像画像が出力される（図２参照）。Ｓ１１とＳ１３の順序について、Ｓ１３を実行後、Ｓ１１を実行してもよい。
次に、プロセッサ７１は、キャリブレーション指示を取得したか否かを判断する（Ｓ１５）。操作者は、キャリブレーションボタン８３をタップする。キャリブレーションボタン８３のタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、操作器６５からキャリブレーション指示を取得する。キャリブレーション指示が取得された場合（Ｓ１５：Ｙｅｓ）、プロセッサ７１は、キャリブレーション処理を実行する（Ｓ１７）。キャリブレーション処理は、補正係数を取得する処理である。キャリブレーション処理及び補正係数については、後述する。キャリブレーション処理では、操作画面は、メイン画面８０からサブ画面９０へと切り替わる。Ｓ１７を実行した後、プロセッサ７１は、メイン画面８０を表示させる（Ｓ１９）。Ｓ１９は、Ｓ１１と同様に実行される。従って、Ｓ１９に関するこの他の説明は、省略する。Ｓ１９を実行した後、プロセッサ７１は、処理をＳ１５に戻す。その後、プロセッサ７１は、Ｓ１５以降の処理を繰り返して実行する。
キャリブレーション指示が取得されていない場合（Ｓ１５：Ｎｏ）、プロセッサ７１は、質量処理を実行する（Ｓ２１）。質量処理は、質量計３０によって測定された生地片１５の質量Ｍを取得する処理である。操作者は、載置台２０に生地片１５を載せ置く。質量計３０は、載置台２０に載せ置かれた生地片１５の質量Ｍを測定する。Ｓ２１でプロセッサ７１は、質量計３０によって測定された生地片１５の質量Ｍを取得する。プロセッサ７１は、質量Ｍをメモリ７３に記憶させる。プロセッサ７１は、質量計３０からの値が０より大きく、且つその値が設定時間一定値を示している場合に、質量計３０からの値を質量Ｍとして取得する。設定時間は、諸条件を考慮して適宜決定される。例えば、事前の実験により求められた次の時間を設定時間としてもよい。前述の時間は、生地片１５を載置台２０に載せ置いた後、質量計３０で測定される質量Ｍが安定するのに要する時間である。
続けて、プロセッサ７１は、測定用撮像処理を実行する（Ｓ２３）。測定用撮像処理は、測定用の撮像データを取得する処理である。実施形態では、測定用の撮像データを「測定用撮像データ」という。測定用撮像データは、カメラ４０によって撮像された生地片１５の画像部分を含む画像データである。更に、測定用撮像データは、照射器５０からの赤外線が載置台２０上の生地片１５で反射した赤外線画像に対応する画像データである。測定装置１０では、測定用撮像データは、静止画の画像データである。Ｓ２３でプロセッサ７１は、撮像指令をカメラ４０に出力する。カメラ４０は、撮像指令に従い、撮像範囲Ｒ１を撮像する。プロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された撮像画像に対応する測定用撮像データを取得する。プロセッサ７１は、測定用撮像データをメモリ７３に記憶させる。Ｓ２１とＳ２３の順序について、Ｓ２３を実行後、Ｓ２１を実行してもよい。但し、プロセッサ７１は、質量計３０からの値が０より大きく、且つその値が設定時間一定値を示していることを条件として、Ｓ２３を実行するとよい。
Ｓ２３を実行した後、プロセッサ７１は、測定用面積処理を実行する（Ｓ２５）。測定用面積処理は、Ｓ２３で取得された測定用撮像データに含まれる生地片１５の画像部分から生地片１５に対応する領域の測定用面積Ａを取得する処理である。測定用面積処理については、後述する。
次に、プロセッサ７１は、算出処理を実行する（Ｓ２７）。算出処理は、Ｓ２１で取得された質量ＭとＳ２５で取得された測定用面積Ａにより単位面積質量Ｎを算出する処理である。算出処理では、測定用面積Ａが補正係数（図１４のＳ１６３参照）を含む多項式近似曲線によって補正され、Ｓ２１で取得された質量Ｍを補正後の補正面積Ｂで除して、単位面積質量Ｎが算出される。実施形態では、前述の多項式近似曲線の次数は、４次とする。
Ｓ２７で実行される算出処理について、更に説明する。プロセッサ７１は、メモリ７３から測定用面積Ａと補正係数を取得し、式（１）により補正率Ｊを算出する。測定用面積Ａは、後述する図７のＳ７３でメモリ７３に記憶される。補正係数は、後述する図１４のＳ１６３でメモリ７３に記憶される。また、プロセッサ７１は、式（２）により補正面積Ｂを算出する。これにより、プロセッサ７１は、式（３）により単位面積質量Ｎを取得する。
Ｊ＝Ｃｏｅｆｆ４×Ａ４＋Ｃｏｅｆｆ３×Ａ３＋Ｃｏｅｆｆ２×Ａ２＋Ｃｏｅｆｆ１×Ａ＋Ｃｏｅｆｆ０ ・・・（１）
Ｂ＝（Ｊ＋１）×Ａ ・・・（２）
Ｎ＝Ｍ／Ｂ ・・・（３）
Ｓ１７でキャリブレーション処理（図５及び図６参照）が未実行である場合、Ｓ２７では、補正面積Ｂは、測定用面積Ａと同一値となる。従って、式（３）は、実質的に「Ｎ＝Ｍ／Ａ」となる。補正率Ｊ又は後述する図１４のＳ１６３でメモリ７３に記憶される補正係数は、例えば、メイン処理のプログラムに登録するとよい。現在実行中のメイン処理を開始後、Ｓ１７が未実行で、補正係数がメモリ７３に記憶されていない場合（図１４のＳ１６３：未実行）、Ｓ３５でプロセッサ７１は、登録済みの補正率Ｊ又は補正係数を用いる。メイン処理のプログラムに登録される補正率Ｊ又は補正係数（Ｃｏｅｆｆ０，Ｃｏｅｆｆ１，Ｃｏｅｆｆ２，Ｃｏｅｆｆ３，Ｃｏｅｆｆ４）の初期値は、０に設定される。式（１）により補正率Ｊが算出された場合、プロセッサ７１は、メイン処理のプログラムに登録された補正率Ｊを、新たに算出された補正率Ｊへと更新する。
続けて、プロセッサ７１は、出力処理を実行する（Ｓ２９）。出力処理は、Ｓ２７で取得された単位面積質量Ｎを出力器６０で出力させる処理である。実施形態では、単位面積質量Ｎと共に、補正面積Ｂ及び質量Ｍも出力される。プロセッサ７１は、単位面積質量Ｎ、補正面積Ｂ及び質量Ｍの出力指令を出力器６０に出力する。出力器６０は、出力指令に従い、単位面積質量Ｎ、補正面積Ｂ及び質量Ｍを出力する。即ち、出力器６０は、測定結果領域８２に測定結果としての単位面積質量Ｎ、補正面積Ｂ及び質量Ｍを含むメイン画面８０を表示する（図２下段参照）。Ｓ２９を実行した後、プロセッサ７１は、処理をＳ１５に戻す。その後、プロセッサ７１は、Ｓ１５以降の処理を繰り返して実行する。メイン処理は、測定装置１０の電源オフにより終了する。照射器５０からの赤外線の照射は、測定装置１０の電源オフまで継続される。
＜キャリブレーション処理＞
図４のＳ１７で実行されるキャリブレーション処理について、図５及び図６を参照して説明する。キャリブレーション処理を開始させたプロセッサ７１は、サブ画面９０を表示させる（Ｓ３１）。プロセッサ７１は、サブ画面９０の表示指令を出力器６０に出力する。出力器６０は、この表示指令に従い、サブ画面９０を表示する（図３参照）。
次に、プロセッサ７１は、第一サンプル指示を取得したか否かを判断する（Ｓ３３）。操作者は、第一サンプルボタン９２をタップする。但し、載置台２０に第一サンプルがセットされておらず、プレビュー領域９１に第一サンプルが表示されていないとする。この場合、操作者は、第一サンプルボタン９２をタップするに際し、載置台２０に第一サンプルを載せ置く。第一サンプルボタン９２のタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、操作器６５から第一サンプル指示を取得する。
第一サンプル指示が取得されていない場合（Ｓ３３：Ｎｏ）、プロセッサ７１は、処理をＳ３９に移行する。第一サンプル指示が取得された場合（Ｓ３３：Ｙｅｓ）、プロセッサ７１は、第一較正用撮像処理を実行する（Ｓ３５）。第一較正用撮像処理は、次の較正用の撮像データを取得する処理である。実施形態では、前述の較正用の撮像データを「第一較正用撮像データ」という。第一較正用撮像データは、カメラ４０によって撮像された第一サンプルの画像部分を含む画像データである。更に、第一較正用撮像データは、照射器５０からの赤外線が載置台２０上の第一サンプルで反射した赤外線画像に対応する画像データである。測定装置１０では、第一較正用撮像データは、静止画の画像データである。Ｓ３５でプロセッサ７１は、撮像指令をカメラ４０に出力する。カメラ４０は、撮像指令に従い、撮像範囲Ｒ１を撮像する。プロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された撮像画像に対応する第一較正用撮像データを取得する。プロセッサ７１は、第一較正用撮像データをメモリ７３に記憶させる。
続けて、プロセッサ７１は、第一較正用面積処理を実行する（Ｓ３７）。第一較正用面積処理は、Ｓ３５で取得された第一較正用撮像データに含まれる第一サンプルの画像部分から第一サンプルに対応する領域の面積を取得する処理である。実施形態では、第一較正用面積処理によって取得される前述の面積を「第一較正用面積Ｘ１」という。第一較正用面積処理については、後述する。Ｓ３７を実行した後、プロセッサ７１は、処理をＳ３３に戻す。その後、プロセッサ７１は、Ｓ３３以降の処理を繰り返して実行する。
Ｓ３９でプロセッサ７１は、第二サンプル指示を取得したか否かを判断する。操作者は、第二サンプルボタン９３をタップする。但し、載置台２０に第二サンプルがセットされておらず、プレビュー領域９１に第二サンプルが表示されていないとする。この場合、操作者は、第二サンプルボタン９３をタップするに際し、載置台２０に第二サンプルを載せ置く。第二サンプルボタン９３のタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、操作器６５から第二サンプル指示を取得する。
第二サンプル指示が取得されていない場合（Ｓ３９：Ｎｏ）、プロセッサ７１は、処理をＳ４５に移行する。第二サンプル指示が取得された場合（Ｓ３９：Ｙｅｓ）、プロセッサ７１は、第二較正用撮像処理を実行する（Ｓ４１）。第二較正用撮像処理は、次の較正用の撮像データを取得する処理である。実施形態では、前述の較正用の撮像データを「第二較正用撮像データ」という。第二較正用撮像データは、カメラ４０によって撮像された第二サンプルの画像部分を含む画像データである。更に、第二較正用撮像データは、照射器５０からの赤外線が載置台２０上の第二サンプルで反射した赤外線画像に対応する画像データである。測定装置１０では、第二較正用撮像データは、静止画の画像データである。Ｓ４１でプロセッサ７１は、撮像指令をカメラ４０に出力する。カメラ４０は、撮像指令に従い、撮像範囲Ｒ１を撮像する。プロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された撮像画像に対応する第二較正用撮像データを取得する。プロセッサ７１は、第二較正用撮像データをメモリ７３に記憶させる。
続けて、プロセッサ７１は、第二較正用面積処理を実行する（Ｓ４３）。第二較正用面積処理は、Ｓ４１で取得された第二較正用撮像データに含まれる第二サンプルの画像部分から第二サンプルに対応する領域の面積を取得する処理である。実施形態では、第二較正用面積処理によって取得される前述の面積を「第二較正用面積Ｘ２」という。第二較正用面積処理については、後述する。Ｓ４３を実行した後、プロセッサ７１は、処理をＳ３３に戻す。その後、プロセッサ７１は、Ｓ３３以降の処理を繰り返して実行する。
Ｓ４５でプロセッサ７１は、第三サンプル指示を取得したか否かを判断する。操作者は、第三サンプルボタン９４をタップする。但し、載置台２０に第三サンプルがセットされておらず、プレビュー領域９１に第三サンプルが表示されていないとする。この場合、操作者は、第三サンプルボタン９４をタップするに際し、載置台２０に第三サンプルを載せ置く。第三サンプルボタン９４のタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、操作器６５から第三サンプル指示を取得する。
第三サンプル指示が取得されていない場合（Ｓ４５：Ｎｏ）、プロセッサ７１は、処理を図６のＳ５１に移行する。第三サンプル指示が取得された場合（Ｓ４５：Ｙｅｓ）、プロセッサ７１は、第三較正用撮像処理を実行する（Ｓ４７）。第三較正用撮像処理は、次の較正用の撮像データを取得する処理である。実施形態では、前述の較正用の撮像データを「第三較正用撮像データ」という。第三較正用撮像データは、カメラ４０によって撮像された第三サンプルの画像部分を含む画像データである。更に、第三較正用撮像データは、照射器５０からの赤外線が載置台２０上の第三サンプルで反射した赤外線画像に対応する画像データである。測定装置１０では、第三較正用撮像データは、静止画の画像データである。Ｓ４７でプロセッサ７１は、撮像指令をカメラ４０に出力する。カメラ４０は、撮像指令に従い、撮像範囲Ｒ１を撮像する。プロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された撮像画像に対応する第三較正用撮像データを取得する。プロセッサ７１は、第三較正用撮像データをメモリ７３に記憶させる。
続けて、プロセッサ７１は、第三較正用面積処理を実行する（Ｓ４９）。第三較正用面積処理は、Ｓ４７で取得された第三較正用撮像データに含まれる第三サンプルの画像部分から第三サンプルに対応する領域の面積を取得する処理である。実施形態では、第三較正用面積処理によって取得される前述の面積を「第三較正用面積Ｘ３」という。第三較正用面積処理については、後述する。Ｓ４９を実行した後、プロセッサ７１は、処理をＳ３３に戻す。その後、プロセッサ７１は、Ｓ３３以降の処理を繰り返して実行する。
図６のＳ５１でプロセッサ７１は、第四サンプル指示を取得したか否かを判断する。操作者は、第四サンプルボタン９５をタップする。但し、載置台２０に第四サンプルがセットされておらず、プレビュー領域９１に第四サンプルが表示されていないとする。この場合、操作者は、第四サンプルボタン９５をタップするに際し、載置台２０に第四サンプルを載せ置く。第四サンプルボタン９５のタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、操作器６５から第四サンプル指示を取得する。
第四サンプル指示が取得されていない場合（Ｓ５１：Ｎｏ）、プロセッサ７１は、処理をＳ５７に移行する。第四サンプル指示が取得された場合（Ｓ５１：Ｙｅｓ）、プロセッサ７１は、第四較正用撮像処理を実行する（Ｓ５３）。第四較正用撮像処理は、次の較正用の撮像データを取得する処理である。実施形態では、前述の較正用の撮像データを「第四較正用撮像データ」という。第四較正用撮像データは、カメラ４０によって撮像された第四サンプルの画像部分を含む画像データである。更に、第四較正用撮像データは、照射器５０からの赤外線が載置台２０上の第四サンプルで反射した赤外線画像に対応する画像データである。測定装置１０では、第四較正用撮像データは、静止画の画像データである。Ｓ５３でプロセッサ７１は、撮像指令をカメラ４０に出力する。カメラ４０は、撮像指令に従い、撮像範囲Ｒ１を撮像する。プロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された撮像画像に対応する第四較正用撮像データを取得する。プロセッサ７１は、第四較正用撮像データをメモリ７３に記憶させる。
続けて、プロセッサ７１は、第四較正用面積処理を実行する（Ｓ５５）。第四較正用面積処理は、Ｓ５３で取得された第四較正用撮像データに含まれる第四サンプルの画像部分から第四サンプルに対応する領域の面積を取得する処理である。実施形態では、第四較正用面積処理によって取得される前述の面積を「第四較正用面積Ｘ４」という。第四較正用面積処理については、後述する。Ｓ５５を実行した後、プロセッサ７１は、処理を図５のＳ３３に戻す。その後、プロセッサ７１は、Ｓ３３以降の処理を繰り返して実行する。
Ｓ５７でプロセッサ７１は、第五サンプル指示を取得したか否かを判断する。操作者は、第五サンプルボタン９６をタップする。但し、載置台２０に第五サンプルがセットされておらず、プレビュー領域９１に第五サンプルが表示されていないとする。この場合、操作者は、第五サンプルボタン９６をタップするに際し、載置台２０に第五サンプルを載せ置く。第五サンプルボタン９６のタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、操作器６５から第五サンプル指示を取得する。
第五サンプル指示が取得されていない場合（Ｓ５７：Ｎｏ）、プロセッサ７１は、処理をＳ６３に移行する。第五サンプル指示が取得された場合（Ｓ５７：Ｙｅｓ）、プロセッサ７１は、第五較正用撮像処理を実行する（Ｓ５９）。第五較正用撮像処理は、次の較正用の撮像データを取得する処理である。実施形態では、前述の較正用の撮像データを「第五較正用撮像データ」という。第五較正用撮像データは、カメラ４０によって撮像された第五サンプルの画像部分を含む画像データである。更に、第五較正用撮像データは、照射器５０からの赤外線が載置台２０上の第五サンプルで反射した赤外線画像に対応する画像データである。測定装置１０では、第五較正用撮像データは、静止画の画像データである。Ｓ５３でプロセッサ７１は、撮像指令をカメラ４０に出力する。カメラ４０は、撮像指令に従い、撮像範囲Ｒ１を撮像する。プロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された撮像画像に対応する第五較正用撮像データを取得する。プロセッサ７１は、第五較正用撮像データをメモリ７３に記憶させる。
続けて、プロセッサ７１は、第五較正用面積処理を実行する（Ｓ６１）。第五較正用面積処理は、Ｓ５９で取得された第五較正用撮像データに含まれる第五サンプルの画像部分から第五サンプルに対応する領域の面積を取得する処理である。実施形態では、第五較正用面積処理によって取得される前述の面積を「第五較正用面積Ｘ５」という。第五較正用面積処理については、後述する。Ｓ６１を実行した後、プロセッサ７１は、処理を図５のＳ３３に戻す。その後、プロセッサ７１は、Ｓ３３以降の処理を繰り返して実行する。
Ｓ６３でプロセッサ７１は、補正係数指示を取得したか否かを判断する。操作者は、補正係数ボタン９７をタップする。補正係数ボタン９７のタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、操作器６５から補正係数指示を取得する。
補正係数指示が取得されていない場合（Ｓ６３：Ｎｏ）、プロセッサ７１は、処理をＳ６７に移行する。補正係数指示が取得された場合（Ｓ６３：Ｙｅｓ）、プロセッサ７１は、補正係数処理を実行する（Ｓ６５）。補正係数処理は、第一差値、第二差値、第三差値、第四差値及び第五差値に応じた補正係数を算出する処理である。第一差値は、第一基準値（４００ｍｍ２）と第一較正用面積Ｘ１の差である。第二差値は、第二基準値（１６００ｍｍ２）と第二較正用面積Ｘ２の差である。第三差値は、第三基準値（３６００ｍｍ２）と第三較正用面積Ｘ３の差である。第四差値は、第四基準値（６４００ｍｍ２）と第四較正用面積Ｘ４の差である。第五差値は、第五基準値（１００００ｍｍ２）と第五較正用面積Ｘ５の差である。補正係数処理では、ガウスの消去法により、図３のＳ２７で用いられる４次の多項式の係数（上述の式（１）参照）が取得される。補正係数処理については、後述する。その後、プロセッサ７１は、キャリブレーション処理を終了する。
Ｓ６７でプロセッサ７１は、リターン指示を取得したか否かを判断する。リターン指示が取得されていない場合（Ｓ６７：Ｎｏ）、プロセッサ７１は、処理を図５のＳ３３に戻す。その後、プロセッサ７１は、Ｓ３３以降の処理を繰り返して実行する。リターン指示が取得された場合（Ｓ６７：Ｙｅｓ）、プロセッサ７１は、キャリブレーション処理を終了する。
＜測定用面積処理＞
図４のＳ２５で実行される測定用面積処理について、図７を参照して説明する。測定用面積処理を開始させたプロセッサ７１は、実測処理を実行する（Ｓ７１）。上記で測定用面積処理にて取得されるとした測定用面積Ａは、Ｓ７１で実行される実測処理によって取得される。実測処理については、後述する。Ｓ７１を実行した後、プロセッサ７１は、実測処理で取得された測定用面積Ａをメモリ７３に記憶させる（Ｓ７３）。その後、プロセッサ７１は、測定用面積処理を終了する。
＜第一較正用面積処理＞
図５のＳ３７で実行される第一較正用面積処理について、図８を参照して説明する。第一較正用面積処理を開始させたプロセッサ７１は、実測処理を実行する（Ｓ８１）。上記で第一較正用面積処理にて取得されるとした第一較正用面積Ｘ１は、Ｓ８１で実行される実測処理によって取得される。実測処理については、後述する。Ｓ８１を実行した後、プロセッサ７１は、実測処理で取得された第一較正用面積Ｘ１をメモリ７３に記憶させる（Ｓ８３）。その後、プロセッサ７１は、第一較正用面積処理を終了する。
＜第二較正用面積処理＞
図５のＳ４３で実行される第二較正用面積処理について、図９を参照して説明する。第二較正用面積処理を開始させたプロセッサ７１は、実測処理を実行する（Ｓ９１）。上記で第二較正用面積処理にて取得されるとした第二較正用面積Ｘ２は、Ｓ９１で実行される実測処理によって取得される。実測処理については、後述する。Ｓ９１を実行した後、プロセッサ７１は、実測処理で取得された第二較正用面積Ｘ２をメモリ７３に記憶させる（Ｓ９３）。その後、プロセッサ７１は、第二較正用面積処理を終了する。
＜第三較正用面積処理＞
図５のＳ４９で実行される第三較正用面積処理について、図１０を参照して説明する。第三較正用面積処理を開始させたプロセッサ７１は、実測処理を実行する（Ｓ１０１）。上記で第三較正用面積処理にて取得されるとした第三較正用面積Ｘ３は、Ｓ１０１で実行される実測処理によって取得される。実測処理については、後述する。Ｓ１０１を実行した後、プロセッサ７１は、実測処理で取得された第三較正用面積Ｘ３をメモリ７３に記憶させる（Ｓ１０３）。その後、プロセッサ７１は、第三較正用面積処理を終了する。
＜第四較正用面積処理＞
図６のＳ５５で実行される第四較正用面積処理について、図１１を参照して説明する。第四較正用面積処理を開始させたプロセッサ７１は、実測処理を実行する（Ｓ１１１）。上記で第四較正用面積処理にて取得されるとした第四較正用面積Ｘ４は、Ｓ１１１で実行される実測処理によって取得される。実測処理については、後述する。Ｓ１１１を実行した後、プロセッサ７１は、実測処理で取得された第四較正用面積Ｘ４をメモリ７３に記憶させる（Ｓ１１３）。その後、プロセッサ７１は、第四較正用面積処理を終了する。
＜第五較正用面積処理＞
図６のＳ６１で実行される第五較正用面積処理について、図１２を参照して説明する。第五較正用面積処理を開始させたプロセッサ７１は、実測処理を実行する（Ｓ１２１）。上記で第五較正用面積処理にて取得されるとした第五較正用面積Ｘ５は、Ｓ１２１で実行される実測処理によって取得される。実測処理については、後述する。Ｓ１２１を実行した後、プロセッサ７１は、実測処理で取得された第五較正用面積Ｘ５をメモリ７３に記憶させる（Ｓ１２３）。その後、プロセッサ７１は、第五較正用面積処理を終了する。
＜実測処理＞
図７のＳ７１、図８のＳ８１、図９のＳ９１、図１０のＳ１０１、図１１のＳ１１１及び図１２のＳ１２１で実行される実測処理について、図１３を参照して説明する。実施形態では、測定用撮像データ、第一較正用撮像データ、第二較正用撮像データ、第三較正用撮像データ、第四較正用撮像データ及び第五較正用撮像データを区別しない場合、又はこれらを総称する場合、単に「撮像データ」という。生地片１５と基準試料１７としての第一サンプル、第二サンプル、第三サンプル、第四サンプル及び第五サンプルを区別しない場合、又はこれらを総称する場合、「被検出物」という。測定用面積Ａ、第一較正用面積Ｘ１、第二較正用面積Ｘ２、第三較正用面積Ｘ３、第四較正用面積Ｘ４及び第五較正用面積Ｘ５を区別しない場合、又はこれらを総称する場合、単に「面積」又は「被検出物の面積」という。
従って、実測処理が図７のＳ７１で実行されている場合、実測処理の説明中、撮像データは、測定用撮像データを指す。この場合、実測処理で検出される領域は、測定用撮像データに含まれる生地片１５の画像部分であり、面積は、測定用面積Ａである。実測処理が図８のＳ８１で実行されている場合、実測処理の説明中、撮像データは、第一較正用撮像データを指す。この場合、実測処理で検出される領域は、第一較正用撮像データに含まれる基準試料１７としての第一サンプルの画像部分であり、面積は、第一較正用面積Ｘ１である。実測処理が図９のＳ９１で実行されている場合、実測処理の説明中、撮像データは、第二較正用撮像データを指す。この場合、実測処理で検出される領域は、第二較正用撮像データに含まれる基準試料１７としての第二サンプルの画像部分であり、面積は、第二較正用面積Ｘ２である。実測処理が図１０のＳ１０１で実行されている場合、実測処理の説明中、撮像データは、第三較正用撮像データを指す。この場合、実測処理で検出される領域は、第三較正用撮像データに含まれる基準試料１７としての第三サンプルの画像部分であり、面積は、第三較正用面積Ｘ３である。実測処理が図１１のＳ１１１で実行されている場合、実測処理の説明中、撮像データは、第四較正用撮像データを指す。この場合、実測処理で検出される領域は、第四較正用撮像データに含まれる基準試料１７としての第四サンプルの画像部分であり、面積は、第四較正用面積Ｘ４である。実測処理が図１２のＳ１２１で実行されている場合、実測処理の説明中、撮像データは、第五較正用撮像データを指す。この場合、実測処理で検出される領域は、第五較正用撮像データに含まれる基準試料１７としての第五サンプルの画像部分であり、面積は、第五較正用面積Ｘ５である。
実測処理を開始させたプロセッサ７１は、撮像データを処理対象として、２値化処理を実行する（Ｓ１３１）。２値化処理は、撮像データを２値化する処理である。２値化処理により、撮像データは、白及び黒の２階調の画像データへと変換される。２値化処理は、既に実用化された公知の画像処理である。従って、Ｓ１３１に関するこの他の説明は、省略する。
続けて、プロセッサ７１は、Ｓ１３１で処理済みの撮像データを処理対象として、クロージング処理を実行する（Ｓ１３３）。クロージング処理は、膨張処理を所定回数実行し、その後、膨張処理と同じ回数だけ収縮処理を繰り返す処理である。膨張処理は、白画素の周囲（上下左右）に隣接する黒画素を、白画素へと変換する処理である。収縮処理は、黒画素の周囲（上下左右）に隣接する白画素を、黒画素へと変換する処理である。クロージング処理、膨張処理及び収縮処理は、既に実用化された公知の画像処理である。従って、Ｓ１３３に関するこの他の説明は、省略する。
次に、プロセッサ７１は、Ｓ１３３で処理済みの撮像データを処理対象として、ラベリング処理を実行する（Ｓ１３５）。ラベリング処理は、黒画素及び白画素にそれぞれ異なるラベルを付与する処理である。ラベリング処理によれば、撮像データに対応する撮像画像を形成する画素のうち、次の第一画素に次の第二画素とは異なるラベルが付される。第一画素は、撮像データに含まれる被検出物の画像部分を形成する画素である。被検出物が生地片１５である場合を例とすると、第一画素は、後述する図１５上段右側に示す第一態様のラベリング処理後の測定用撮像データにおける黒色の画像部分（前述の測定用撮像データで符号「１５」を付した部分参照）を形成する。第二画素は、撮像データに含まれる被検出物を除く画像部分を形成する画素である。換言すれば、第二画素は、撮像データに対応する撮像画像を形成する画素のうち、第一画素以外の画素である。例えば、被検出物が素材自体を面積が基準値となる形状とした物である場合、第二画素は、撮像データに含まれる次の範囲の載置面２２の画像部分を形成する画素である。前述の範囲は、撮像範囲Ｒ１のうち、被検出物によって被覆されず露出した状態の載置面２２の範囲である。ラベリング処理は、既に実用化された公知の画像処理である。従って、Ｓ１３５に関するこの他の説明は、省略する。
Ｓ１３５を実行した後、プロセッサ７１は、被検出物の面積を取得する（Ｓ１３７）。上記では説明を省略したが、メイン処理のプログラムに含まれる実測処理のプログラムには、１画素当たりの面積値が登録されている。Ｓ１３７でプロセッサ７１は、上述した第一画素の数を特定する。プロセッサ７１は、特定された数と前述の面積値の積により、被検出物の面積を取得する。例えば、第一画素の数がＣ個で、１画素当たりの面積値がＤｍｍ２／画素であるとする。この場合、プロセッサ７１は、「Ｃ×Ｄ」によって得られた値を被検出物の面積として取得する。その後、プロセッサ７１は、実測処理を終了する。
＜補正係数処理＞
図６のＳ６５で実行される補正係数処理について、図１４を参照して説明する。補正係数処理を開始させたプロセッサ７１は、メモリ７３から第一較正用面積Ｘ１を取得する（Ｓ１４１）。第一較正用面積Ｘ１は、図８のＳ８３でメモリ７３に記憶される。続けて、プロセッサ７１は、第一補正値Ｙ１を取得する（Ｓ１４３）。第一補正値Ｙ１は、次の式（４）により算出される。式（４）で値「４００ｍｍ２」は、第一基準値の４００ｍｍ２に対応する。プロセッサ７１は、算出された値を第一補正値Ｙ１として取得する。プロセッサ７１は、第一補正値Ｙ１をメモリ７３に記憶させる。
Ｙ１＝（４００－Ｘ１）／Ｘ１ ・・・（４）
Ｓ１４３を実行した後、プロセッサ７１は、メモリ７３から第二較正用面積Ｘ２を取得する（Ｓ１４５）。第二較正用面積Ｘ２は、図９のＳ９３でメモリ７３に記憶される。続けて、プロセッサ７１は、第二補正値Ｙ２を取得する（Ｓ１４７）。第二補正値Ｙ２は、次の式（５）により算出される。式（５）で値「１６００ｍｍ２」は、第二基準値の１６００ｍｍ２に対応する。プロセッサ７１は、算出された値を第二補正値Ｙ２として取得する。プロセッサ７１は、第二補正値Ｙ２をメモリ７３に記憶させる。
Ｙ２＝（１６００－Ｘ２）／Ｘ２ ・・・（５）
Ｓ１４７を実行した後、プロセッサ７１は、メモリ７３から第三較正用面積Ｘ３を取得する（Ｓ１４９）。第三較正用面積Ｘ３は、図１０のＳ１０３でメモリ７３に記憶される。続けて、プロセッサ７１は、第三補正値Ｙ３を取得する（Ｓ１５１）。第三補正値Ｙ３は、次の式（６）により算出される。式（６）で値「３６００ｍｍ２」は、第三基準値の３６００ｍｍ２に対応する。プロセッサ７１は、算出された値を第三補正値Ｙ３として取得する。プロセッサ７１は、第三補正値Ｙ３をメモリ７３に記憶させる。
Ｙ３＝（３６００－Ｘ３）／Ｘ３ ・・・（６）
Ｓ１５１を実行した後、プロセッサ７１は、メモリ７３から第四較正用面積Ｘ４を取得する（Ｓ１５３）。第四較正用面積Ｘ４は、図１１のＳ１１３でメモリ７３に記憶される。続けて、プロセッサ７１は、第四補正値Ｙ４を取得する（Ｓ１５５）。第四補正値Ｙ４は、次の式（７）により算出される。式（７）で値「６４００ｍｍ２」は、第四基準値の６４００ｍｍ２に対応する。プロセッサ７１は、算出された値を第四補正値Ｙ４として取得する。プロセッサ７１は、第四補正値Ｙ４をメモリ７３に記憶させる。
Ｙ４＝（６４００－Ｘ４）／Ｘ４ ・・・（７）
Ｓ１５５を実行した後、プロセッサ７１は、メモリ７３から第五較正用面積Ｘ５を取得する（Ｓ１５７）。第五較正用面積Ｘ５は、図１２のＳ１２３でメモリ７３に記憶される。続けて、プロセッサ７１は、第五補正値Ｙ５を取得する（Ｓ１５９）。第五補正値Ｙ５は、次の式（８）により算出される。式（８）で値「１００００ｍｍ２」は、第五基準値の１００００ｍｍ２に対応する。プロセッサ７１は、算出された値を第五補正値Ｙ５として取得する。プロセッサ７１は、第五補正値Ｙ５をメモリ７３に記憶させる。
Ｙ５＝（１００００－Ｘ５）／Ｘ５ ・・・（８）
次に、プロセッサ７１は、補正係数を算出する（Ｓ１６１）。補正係数の算出には、ガウスの消去法が用いられる。ガウスの消去法では、行列Ｘの入力値として、第一較正用面積Ｘ１、第二較正用面積Ｘ２、第三較正用面積Ｘ３、第四較正用面積Ｘ４及び第五較正用面積Ｘ５が用いられ、行列Ｙの入力値として、第一補正値Ｙ１、第二補正値Ｙ２、第三補正値Ｙ３、第四補正値Ｙ４及び第五補正値Ｙ５が用いられる。ここで、Ｓ１６１では、公知のプログラムにおける所定の関数が適宜用いられる。実施形態では、ガウスの消去法により、補正係数として、４次の配列が算出される。即ち、Ｓ１６１では、４次の補正係数が算出される。
続けて、プロセッサ７１は、Ｓ１６１で算出された補正係数「Ｃｏｅｆｆ［５］＝ｘｘ［５］」をメモリ７３に記憶させる（Ｓ１６３）。Ｃｏｅｆｆ［５］は、補正係数として、［Ｃｏｅｆｆ０，Ｃｏｅｆｆ１，Ｃｏｅｆｆ２，Ｃｏｅｆｆ３，Ｃｏｅｆｆ４］（０次，１次，２次，３次，４次）を含む。行列ｘｘ［５］は、［Ｃｏｅｆｆ０，Ｃｏｅｆｆ１，Ｃｏｅｆｆ２，Ｃｏｅｆｆ３，Ｃｏｅｆｆ４］に対応する値として、［ｘｘ０，ｘｘ１，ｘｘ２，ｘｘ３，ｘｘ４］（０次，１次，２次，３次，４次）を格納する。Ｓ１６３を実行した後、プロセッサ７１は、補正係数処理を終了する。
＜実施例＞
発明者は、今回、測定装置１０に対応する測定装置を用いて、上述したキャリブレーション処理を実施した。そこで、これについて、説明する。基準試料１７は、上述した第一サンプル、第二サンプル、第三サンプル、第四サンプル及び第五サンプルと同じとした。
第一サンプル（第一基準値：４００ｍｍ２）を対象とした第一較正用面積処理（図８参照）では、Ｓ８１の実測処理にて、第一較正用面積Ｘ１「３８９．６ｍｍ２」が取得され（図１３のＳ１３７参照）、第一較正用面積Ｘ１として前述の値が記憶された（図８のＳ８３参照）。
第二サンプル（第二基準値：１６００ｍｍ２）を対象とした第二較正用面積処理（図９参照）では、Ｓ９１の実測処理にて、第二較正用面積Ｘ２「１５８８．９ｍｍ２」が取得され（図１３のＳ１３７参照）、第二較正用面積Ｘ２として前述の値が記憶された（図９のＳ９３参照）。
第三サンプル（第三基準値：３６００ｍｍ２）を対象とした第三較正用面積処理（図１０参照）では、Ｓ１０１の実測処理にて、第三較正用面積Ｘ３「３５９９．５ｍｍ２」が取得され（図１３のＳ１３７参照）、第三較正用面積Ｘ３として前述の値が記憶された（図１０のＳ１０３参照）。
第四サンプル（第四基準値：６４００ｍｍ２）を対象とした第四較正用面積処理（図１１参照）では、Ｓ１１１の実測処理にて、第四較正用面積Ｘ４「６３７４．８ｍｍ２」が取得され（図１３のＳ１３７参照）、第四較正用面積Ｘ４として前述の値が記憶された（図１１のＳ１１３参照）。
第五サンプル（第五基準値：１００００ｍｍ２）を対象とした第五較正用面積処理（図１２参照）では、Ｓ１２１の実測処理にて、第五較正用面積Ｘ５「９９７５．９ｍｍ２」が取得され（図１３のＳ１３７参照）、第五較正用面積Ｘ５として前述の値が記憶された（図１２のＳ１２３参照）。
補正係数処理（図１４）では、第一補正値Ｙ１、第二補正値Ｙ２、第三補正値Ｙ３、第四補正値Ｙ４及び第五補正値Ｙ５として、次の各値が取得された。即ち、Ｓ１４３では、上述の式（４）から第一補正値Ｙ１「０．０２６６９４０４５」が取得された。第一差値（４００－Ｘ１）は、１０．４ｍｍ２であった。Ｓ１４７では、上述の式（５）から、第二補正値Ｙ２「０．００６９８５９６５」が取得された。第二差値（１６００－Ｘ２）は、１１．１ｍｍ２であった。Ｓ１５１では、上述の式（６）から、第三補正値Ｙ３「０．０００１３８９０８」が取得された。第三差値（３６００－Ｘ３）は、０．５ｍｍ２であった。Ｓ１５５では、上述の式（７）から、第四補正値Ｙ４「０．００３９５３０６５」が取得された。第四差値（６４００－Ｘ４）は、２５．２ｍｍ２であった。Ｓ１５９では、上述の式（８）から、第五補正値Ｙ５「０．００２４１５８２２」が取得された。第五差値（１００００－Ｘ５）は、２４．１ｍｍ２であった。
補正係数処理では、このような各値によるガウスの消去法によって、次のような補正係数が算出され、算出された補正係数が記憶された（図１４のＳ１６１，Ｓ１６３参照）。この場合、上述した式（１）は、次の式（９）となる。
Ｃｏｅｆｆ０＝0.0372790078891326000000000
Ｃｏｅｆｆ１＝0.0000303485836542386000000
Ｃｏｅｆｆ２＝0.0000000085293095598340900
Ｃｏｅｆｆ３＝0.0000000000009581917945669
Ｃｏｅｆｆ４＝0.0000000000000000373938979
Ｊ＝0.0000000000000000373938979×Ａ４＋0.0000000000009581917945669×Ａ３＋0.0000000085293095598340900×Ａ２＋0.0000303485836542386000000×Ａ＋0.0372790078891326000000000 ・・・（９）
＜実施形態の効果＞
実施形態によれば、次のような効果を得ることができる。
（１）測定装置１０は、載置台２０と、質量計３０と、カメラ４０と、出力器６０と、制御器７０を備える（図１参照）。制御器７０は、プロセッサ７１を含む。測定装置１０では、プロセッサ７１がメイン処理（図４参照）を実行する。メイン処理では、プロセッサ７１は、質量処理と、測定用撮像処理と、測定用面積処理と、算出処理と、出力処理を実行する（図４のＳ２１～Ｓ２９参照）。即ち、質量処理でプロセッサ７１は、質量計３０によって測定された生地片１５の質量Ｍを取得する。測定用撮像処理でプロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された生地片１５の画像部分を含む測定用撮像データを取得する。測定用面積処理でプロセッサ７１は、測定用撮像データに含まれる生地片１５の画像部分から生地片１５に対応する領域の測定用面積Ａを取得する（図７のＳ７１及び図１３のＳ１３７参照）。算出処理でプロセッサ７１は、質量Ｍと測定用面積Ａにより単位面積質量Ｎを算出する。出力処理でプロセッサ７１は、単位面積質量Ｎを出力器６０で出力させる。
そのため、生地片１５の単位面積質量Ｎを測定し、測定結果としてこれを出力することができる。即ち、出力器６０は、メイン画面８０の測定結果領域８２に単位面積質量Ｎを表示することができる（図２下段参照）。測定用撮像データに含まれる生地片１５の画像部分から生地片１５に対応する領域の測定用面積Ａを取得することで、生地片１５の形状に関わらず、単位面積質量Ｎを測定することができる。例えば、単位面積質量Ｎを測定するに際し、生地から生地片１５を予め定めた形状に裁断する必要がない。例えば、生地の製造時又は生地製の所定の製品の製造時、製造現場で、製品又は素材としての生地の単位面積質量Ｎをスムーズに測定することができる。
（２）測定装置１０は、収容室４５と、照射器５０を備える（図１参照）。収容室４５は、カメラ４０を収容する。収容室４５の底面には、赤外線透過フィルタ４７が設けられる。カメラ４０が収容室４５に収容された状態で、赤外線透過フィルタ４７は、載置台２０とカメラ４０の間に設けられる。照射器５０は、撮像範囲Ｒ１に赤外線を照射する。カメラ４０は、赤外線に対する感度を有するイメージセンサを含む。カメラ４０は、照射器５０から赤外線が照射され且つ生地片１５で照射器５０からの赤外線が反射している状態で、生地片１５を撮像する。この場合、プロセッサ７１は、生地片１５で反射した赤外線による生地片１５の画像部分を含む測定用撮像データを取得する（図４のＳ２３参照）。
そのため、生地片１５の画像部分を安定的に検出することができる。測定用面積Ａの精度を向上させることができる。実施形態の生地片１５とは異なり、生地片が次のような模様の生地の一部であるとする。前述の模様は、例えば、載置面２２と同一色の所定の形状を有する図形が生地の全体に複数配置された模様である。このような模様としては、載置面２２と同一色の複数の水玉が適宜配置された水玉模様が例示される。前述の水玉模様を例として説明する。単位面積質量Ｎの測定に際し、水玉模様の生地を切り取り生地片を形成する場合、生地の切断位置が水玉上となることがある。生地片の撮像に可視光を用いる場合、この撮像による撮像データに対応する可視光画像では、背景色（載置面２２の色）と生地片の外縁における切断された水玉の部分の色が同一色となる。その結果、生地片の画像部分を適切に検出できない、又は前述の検出に特別な画像解析が必要となる、といったことが考えられる。これに対して、生地片の撮像に赤外線を用いた測定用撮像データでは、生地片の画像部分における水玉模様の影響はなくなり又は低下する。その結果、背景（載置面２２）と生地片の画像部分の境界が安定し、背景から生地片の画像部分を区別することができる。生地の模様に合わせて載置台２０を変更するといった作業は、不要となる。収容室４５を、底面の赤外線透過フィルタ４７を除く部分が遮光された構造とすることで、測定装置１０が設置される環境の可視光等に影響されることなく、カメラ４０で赤外線を撮像することができる。
発明者は、図１３のＳ１３５でのラベリング処理により特定される生地片１５の画像部分を、次の第一態様及び第二態様で比較した。第一態様では、照射器５０は、撮像範囲Ｒ１に赤外線を照射する。第一態様の測定装置は、測定装置１０に対応する。測定用撮像データは、生地片１５で反射した赤外線による生地片１５の画像部分を含む（図１５上段左側に示す「測定用面積処理前」参照）。第二態様では、照射器として、可視光ＬＥＤを採用し、照射器は、撮像範囲Ｒ１に可視光を照射する。第二態様の測定装置では、赤外線透過フィルタ４７は、省略される。測定用撮像データは、生地片１５で反射した可視光による生地片１５の画像部分を含む（図１５下段左側に示す「測定用面積処理前」参照）。第一態様及び第二態様では、この他の条件は、同じとした。
第一態様では、ラベリング処理によって特定される生地片１５の画像部分の外縁は、測定用面積処理（図７参照）前の測定用撮像データに含まれる生地片１５の画像部分の外縁と同等である（図１５上段参照）。即ち、第一態様では、生地片１５の実際の形状と同等又はこれに近似した生地片１５の画像部分を検出できる。第二態様では、ラベリング処理によって特定される生地片１５の画像部分の外縁は、第一態様と比較すると、測定用面積処理前の測定用撮像データに含まれる生地片１５の画像部分の外縁と相違する（図１５下段参照）。このような結果から、発明者は、測定装置の仕様の決定には、次の点を考慮するとよいと考える。即ち、発明者は、製造現場で、製品又は素材としての生地の単位面積質量Ｎを高精度に測定する必要がある場合、第一態様の測定装置に対応する測定装置１０を採用することが好ましいと考える。これに対して、発明者は、例えば、製造現場での単位面積質量Ｎの測定が簡易的である場合、第二態様の測定装置を採用可能であると考える。図１５で、次の各枠内に一点鎖線で示す矩形枠は、説明用の図示である。前述の各枠は、第一態様のラベリング処理後の測定用撮像データを含む枠と、第二態様のラベリング処理後の測定用撮像データを含む枠である。即ち、第一態様の一点鎖線で示す矩形枠は、第一態様の測定用面積処理前の測定用撮像データの図示範囲に対応し、第一態様のラベリング処理後の測定用撮像データを含む枠内の背景と、この測定用撮像データに含まれる載置面２２の境界線である。第二態様の一点鎖線で示す矩形枠は、第二態様の測定用面積処理前の測定用撮像データの図示範囲に対応し、第二態様のラベリング処理後の測定用撮像データを含む枠内の背景と、この測定用撮像データに含まれる載置面２２の境界線である。
（３）測定装置１０では、プロセッサ７１がキャリブレーション処理（図５及び図６参照）を実行する。キャリブレーション処理が実行される場合、載置台２０には、基準試料１７が載せ置かれ、カメラ４０は、基準試料１７を撮像する（図３参照）。キャリブレーション処理では、プロセッサ７１は、第一較正用撮像処理及び第一較正用面積処理と、第二較正用撮像処理及び第二較正用面積処理と、第三較正用撮像処理及び第三較正用面積処理と、第四較正用撮像処理及び第四較正用面積処理と、第五較正用撮像処理及び第五較正用面積処理と、補正係数処理を実行する（図５のＳ３５，Ｓ３７，Ｓ４１，Ｓ４３，Ｓ４７，Ｓ４９及び図６のＳ５３，Ｓ５５，Ｓ５９，Ｓ６１，Ｓ６５参照）。
第一較正用撮像処理でプロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された基準試料１７としての第一サンプルの画像部分を含む第一較正用撮像データを取得する。第一較正用面積処理でプロセッサ７１は、第一較正用撮像データに含まれる第一サンプルの画像部分から第一サンプルに対応する領域の第一較正用面積Ｘ１を取得する（図８のＳ８１及び図１３のＳ１３７参照）。第二較正用撮像処理でプロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された基準試料１７としての第二サンプルの画像部分を含む第二較正用撮像データを取得する。第二較正用面積処理でプロセッサ７１は、第二較正用撮像データに含まれる第二サンプルの画像部分から第二サンプルに対応する領域の第二較正用面積Ｘ２を取得する（図９のＳ９１及び図１３のＳ１３７参照）。第三較正用撮像処理でプロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された基準試料１７としての第三サンプルの画像部分を含む第三較正用撮像データを取得する。第三較正用面積処理でプロセッサ７１は、第三較正用撮像データに含まれる第三サンプルの画像部分から第三サンプルに対応する領域の第三較正用面積Ｘ３を取得する（図１０のＳ１０１及び図１３のＳ１３７参照）。第四較正用撮像処理でプロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された基準試料１７としての第四サンプルの画像部分を含む第四較正用撮像データを取得する。第四較正用面積処理でプロセッサ７１は、第四較正用撮像データに含まれる第四サンプルの画像部分から第四サンプルに対応する領域の第四較正用面積Ｘ４を取得する（図１１のＳ１１１及び図１３のＳ１３７参照）。第五較正用撮像処理でプロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された基準試料１７としての第五サンプルの画像部分を含む第五較正用撮像データを取得する。第五較正用面積処理でプロセッサ７１は、第五較正用撮像データに含まれる第五サンプルの画像部分から第五サンプルに対応する領域の第五較正用面積Ｘ５を取得する（図１２のＳ１２１及び図１３のＳ１３７参照）。
補正係数処理でプロセッサ７１は、第一差値、第二差値、第三差値、第四差値及び第五差値に応じた補正係数を算出する（図１４のＳ１６１参照）。第一差値は、第一サンプルの第一基準値（４００ｍｍ２）と第一較正用面積Ｘ１の差である。第二差値は、第二サンプルの第二基準値（１６００ｍｍ２）と第二較正用面積Ｘ２の差である。第三差値は、第三サンプルの第三基準値（３６００ｍｍ２）と第三較正用面積Ｘ３の差である。第四差値は、第四サンプルの第四基準値（６４００ｍｍ２）と第四較正用面積Ｘ４の差である。第五差値は、第五サンプルの第五基準値（１００００ｍｍ２）と第五較正用面積Ｘ５の差である。即ち、補正係数処理でプロセッサ７１は、第一差値に応じた第一補正値Ｙ１と、第二差値に応じた第二補正値Ｙ２と、第三差値に応じた第三補正値Ｙ３と、第四差値に応じた第四補正値Ｙ４と、第五差値に応じた第五補正値Ｙ５を取得する（図１３のＳ１４３，Ｓ１４７，Ｓ１５１，Ｓ１５５，Ｓ１５９参照）。次に、プロセッサ７１は、第一較正用面積Ｘ１、第二較正用面積Ｘ２、第三較正用面積Ｘ３、第四較正用面積Ｘ４及び第五較正用面積Ｘ５を行列Ｘの入力値とし、第一補正値Ｙ１、第二補正値Ｙ２、第三補正値Ｙ３、第四補正値Ｙ４及び第五補正値Ｙ５を行列Ｙの入力値とした、ガウスの消去法を実行し、補正係数を算出する（図１４のＳ１６１参照）。
そのため、測定用面積Ａを補正係数によって補正することができる。メイン処理の算出処理（図４のＳ２７参照）でプロセッサ７１は、質量Ｍを補正面積Ｂで除した単位面積質量Ｎを算出する。補正面積Ｂは、ガウスの消去法により算出された補正係数を含む補正率Ｊによって測定用面積Ａを補正した面積である。測定装置１０では、補正率Ｊは、４次の多項式近似曲線である。測定装置１０で、単位面積質量Ｎの測定精度を向上させることができる。このことは、上述した第二態様の測定装置でも、同様である。即ち、上述した第二態様の測定装置でキャリブレーション処理を実行することで、第二態様の測定装置でも、前述の効果を得ることができる。
＜変形例＞
実施形態は、次のようにすることもできる。以下に示す変形例のうちの幾つかの構成は、適宜組み合わせて採用することもできる。以下では、上記とは異なる点を説明することとし、同様の点についての説明は、適宜省略する。
（１）測定装置１０は、収容室４５を備える（図１参照）。カメラ４０は、収容室４５に収容される。収容室４５の底面には、赤外線透過フィルタ４７が設けられる。測定装置では、収容室４５は、省略してもよい。赤外線透過フィルタは、カメラ４０のレンズ部に直接装着してもよい。このような構成によっても、測定装置では、載置台２０とカメラ４０の間に赤外線透過フィルタを設けることができる。上述の測定装置１０と同様、測定装置が設置される環境の可視光等に影響されることなく、カメラ４０で赤外線を撮像することができる。
（２）測定装置１０は、カメラ４０と、赤外線透過フィルタ４７を備える（図１参照）。測定装置では、カメラとして、赤外線カメラを採用してもよい。測定装置で採用可能な前述の赤外線カメラは、暗視カメラとも称されるカメラであり、温度測定用のサーモグラフィと称されるカメラは、含まない。この場合、測定装置１０でカメラ４０とは別体で設けられた赤外線透過フィルタ４７は、省略してもよい。
（３）測定装置１０では、出力器６０として、表示器を採用する（図１参照）。出力器は、表示器とは異なる機器としてもよい。例えば、出力器は、プリンタであってもよい。この場合、メイン処理（図４参照）のＳ２９で実行される出力処理では、単位面積質量Ｎは、所定の用紙に印刷される。また、出力器は、スピーカであってもよい。この場合、前述の出力処理では、単位面積質量Ｎは、音声出力される。この他、出力器は、表示器、プリンタ及びスピーカのうちの２個以上の機器を含むものであってもよい。
（４）基準試料１７として、第一サンプル、第二サンプル、第三サンプル、第四サンプル及び第五サンプルを例示した。この場合、サブ画面９０は、第一サンプルボタン９２と、第二サンプルボタン９３と、第三サンプルボタン９４と、第四サンプルボタン９５と、第五サンプルボタン９６を含む（図３参照）。キャリブレーション処理は、前述の５種類の基準試料１７に対応させた形式となる（図５及び図６参照）。即ち、キャリブレーション処理は、Ｓ３３～Ｓ３７と、Ｓ３９～Ｓ４３と、Ｓ４５～Ｓ４９と、Ｓ５１～Ｓ５５と、Ｓ５７～Ｓ６１を含み、図６のＳ６５で実行される補正係数処理は、Ｓ１４１及びＳ１４３と、Ｓ１４５及びＳ１４７と、Ｓ１４９及びＳ１５１と、Ｓ１５３及びＳ１５５と、Ｓ１５７及びＳ１５９を含む（図１４参照）。Ｓ３３～Ｓ３７、Ｓ１４１及びＳ１４３は、第一サンプルに対応する。Ｓ３９～Ｓ４３、Ｓ１４５及びＳ１４７は、第二サンプルに対応する。Ｓ４５～Ｓ４９、Ｓ１４９及びＳ１５１は、第三サンプルに対応する。Ｓ５１～Ｓ５５、Ｓ１５３及びＳ１５５は、第四サンプルに対応する。Ｓ５７～Ｓ６１、Ｓ１５７及びＳ１５９は、第五サンプルに対応する。図１４のＳ１６１では、第一較正用面積Ｘ１、第二較正用面積Ｘ２、第三較正用面積Ｘ３、第四較正用面積Ｘ４及び第五較正用面積Ｘ５を行列Ｘの入力値とし、且つ第一補正値Ｙ１、第二補正値Ｙ２、第三補正値Ｙ３、第四補正値Ｙ４及び第五補正値Ｙ５を行列Ｙの入力値としたガウスの消去法が実行される。
第一サンプル、第二サンプル、第三サンプル、第四サンプル及び第五サンプルとは異なるサンプルを、基準試料１７として採用してもよい。基準試料１７としてのサンプルは、例えば、３種類若しくは４種類、又は６種類以上としてもよい。キャリブレーション処理では、Ｓ３３～Ｓ３７とＳ３９～Ｓ４３とＳ４５～Ｓ４９とＳ５１～Ｓ５５とＳ５７～Ｓ６１のそれぞれと同様の一連の処理が、基準試料１７の数だけ繰り返される。補正係数処理では、Ｓ１４１及びＳ１４３とＳ１４５及びＳ１４７とＳ１４９及びＳ１５１とＳ１５３及びＳ１５５とＳ１５７及びＳ１５９のそれぞれと同様の一連の処理が、基準試料１７の数だけ繰り返される。また、Ｓ１６１で実行されるガウスの消去法では、基準試料１７の数に一致する数の較正用面積が行列Ｘの入力値とされ、基準試料１７の数に一致する数の補正値が行列Ｙの入力値とされる。
基準試料１７を、第一サンプル、第二サンプル及び第三サンプルの３種類とした場合を例として説明する。キャリブレーション処理では、Ｓ５１～Ｓ６１は、省略される。プロセッサ７１は、Ｓ４５が否定された場合（図５のＳ４５：Ｎｏ参照）、処理を図６のＳ６３に移行する。補正係数処理では、Ｓ１５３～Ｓ１５９は、省略される。Ｓ１６１でプロセッサ７１は、第一較正用面積Ｘ１、第二較正用面積Ｘ２及び第三較正用面積Ｘ３を行列Ｘの入力値とし、且つ第一補正値Ｙ１、第二補正値Ｙ２及び第三補正値Ｙ３を行列Ｙの入力値として、ガウスの消去法を実行し、補正係数を算出する。このような場合についても、ガウスの消去法により、４次の補正係数を算出することが可能である。但し、補正係数は、４次とは異なる次数としてもよい。補正係数の次数は、諸条件を考慮して適宜決定される。
（５）測定装置１０では、単位面積質量Ｎの測定中、載置台２０上で撮像範囲Ｒ１内に、測定対象外の異物が生地片１５と共に存在することが想定される。この場合、測定用撮像データは、生地片１５の画像部分と共に、前述の異物の画像部分を含む。メイン処理（図４参照）のＳ２５で実行される測定用面積処理では、次のような処理を実行するとよい。即ち、図７のＳ７１で実行される実測処理（図１３参照）では、Ｓ１３５のラベリング処理により、生地片１５の画像部分を形成する画素と、異物の画像部分を形成する画素に対して異なるラベルが付される。但し、異物は、生地片１５より小さいと想定される。異物が生地片１５より大きい場合、操作者は、異物に気が付くと考えられる。従って、Ｓ１３７でプロセッサ７１は、前述の各画素のうち、画素数が多いラベルが付された画素（上述の「第一画素」参照）を対象として、その数を特定する。これにより、生地片１５の単位面積質量Ｎをスムーズに測定することができる。この場合、異物の画像部分を形成する画素は、上述の第二画素となる。
（６）基準試料１７としては、赤外線を反射する素材自体を面積が基準値となる形状とした試料を採用できる（図２参照）。この他、基準試料１７は、面積が基準値に設定された図形を面積が基準値より大きな素材に表現した態様としてもよい。基準試料１７となる前述の図形の表現方法としては、印刷が例示される。この場合、撮像範囲Ｒ１内で、基準試料１７となる前述の図形が表現された領域とこれ以外の領域では、上記の基準試料１７と載置面２２の場合と同様、赤外線反射率、赤外線吸収率及び赤外線透過率の何れか又は全部が異なる状態とするとよい。例えば、基準試料１７となる前述の図形の部分は、撮像範囲Ｒ１内に配置されることとなるこの図形が表現されていない領域より赤外線を反射する状態とすることができる。前述の図形が表現されていない領域は、図形が表現された素材の面積が撮像範囲Ｒ１より大きい場合、図形が表現されていない素材の領域であり、図形が表現された素材の面積が撮像範囲Ｒ１より小さい場合、図形が表現されていない素材の領域と載置面２２を含む領域である。基準試料１７を、面積が基準値より大きな素材に面積が基準値に設定された図形を表現した態様とする場合、図８のＳ８１、図９のＳ９１、図１０のＳ１０１、図１１のＳ１１１及び図１２のＳ１２１で実行される実測処理（図１３参照）では、プロセッサ７１は、面積が第一基準値、第二基準値、第三基準値、第四基準値及び第五基準値に設定された前述の各図形の部分を被検出物とし、これの面積を上記同様に取得する（図１３のＳ１３７参照）。
（７）測定装置１０は、単位面積質量Ｎを測定する。メイン画面８０は、測定結果領域８２を含み、単位面積質量Ｎ、補正面積Ｂ及び質量Ｍが測定結果領域８２に出力される（図２下段参照）。測定装置１０では、生地片１５の経糸及び緯糸の糸交差角度を測定し、これを出力するようにしてもよい。また、測定装置１０では、生地片１５の単位長さ当たりの緯糸本数及び経糸本数を測定し、これらを出力するようにしてもよい。糸交差角度、経糸本数及び緯糸本数の測定には、上述した特許文献１に開示の処理アルゴリズムを採用できる。従って、糸交差角度、経糸本数及び緯糸本数の測定に関する説明は、省略する。
１０ 測定装置、 １５ 生地片、 １７ 基準試料、 ２０ 載置台
２２ 載置面、 ３０ 質量計、 ４０ カメラ、 ４５ 収容室
４７ 赤外線透過フィルタ、 ５０ 照射器、 ６０ 出力器、 ６５ 操作器
７０ 制御器、 ７１ プロセッサ、 ７２ ストレージ、 ７３ メモリ
７４ 接続インターフェース（接続Ｉ／Ｆ）、 ８０ メイン画面
８１ プレビュー領域、 ８２ 測定結果領域、 ８３ キャリブレーションボタン
９０ サブ画面、 ９１ プレビュー領域、 ９２ 第一サンプルボタン
９３ 第二サンプルボタン、 ９４ 第三サンプルボタン
９５ 第四サンプルボタン、 ９６ 第五サンプルボタン、 ９７ 補正係数ボタン
９８ 戻るボタン、 Ａ 測定用面積、 Ｂ 補正面積、 Ｍ 質量
Ｎ 単位面積質量、 Ｒ１ 撮像範囲、 Ｒ２ 照明範囲、 Ｘ１ 第一較正用面積
Ｘ２ 第二較正用面積、 Ｘ３ 第三較正用面積、 Ｘ４ 第四較正用面積
Ｘ５ 第五較正用面積

Claims (5)

  1. 生地片を載せ置く載置台と、
    前記載置台に載せ置かれた前記生地片の質量を測定する質量計と、
    前記載置台に載せ置かれた前記生地片を撮像するカメラと、
    前記カメラによる撮像範囲に赤外線を照射する照射器と、
    前記生地片の単位面積当たりの質量を示す単位面積質量を出力する出力器と、
    プロセッサと、を備え、
    前記プロセッサは、
    前記質量計によって測定された前記生地片の質量を取得する質量処理と、
    前記カメラによって撮像された前記生地片の画像部分を含む測定用の撮像データを取得する測定用撮像処理と、
    前記測定用撮像処理で取得された前記測定用の撮像データに含まれる前記生地片の画像部分から前記生地片に対応する領域の測定用面積を取得する測定用面積処理と、
    前記質量処理で取得された前記生地片の質量と、前記測定用面積処理で取得された前記測定用面積と、により前記単位面積質量を算出する算出処理と、
    前記算出処理で取得された前記単位面積質量を前記出力器で出力させる出力処理と、を実行し、
    前記カメラは、
    赤外線に対する感度を有するイメージセンサを含み、
    前記照射器から赤外線が照射されている状態で撮像し、
    前記測定用撮像処理は、前記生地片で反射した赤外線による前記生地片の画像部分を含む前記測定用の撮像データを取得する処理である、測定装置。
  2. 前記載置台の前記生地片が載せ置かれる載置面は、前記生地片より低い赤外線反射率、前記生地片より高い赤外線吸収率、及び前記生地片より高い赤外線透過率の一部又は全部を有する、請求項１に記載の測定装置。
  3. 前記載置台と前記カメラとの間に赤外線透過フィルタを備える、請求項１又は請求項２に記載の測定装置。
  4. 前記カメラは、赤外線カメラである、請求項１又は請求項２に記載の測定装置。
  5. 前記載置台には、面積が基準値に設定された基準試料が載せ置かれ、
    前記カメラは、前記載置台に載せ置かれた前記基準試料を撮像し、
    前記プロセッサは、
    前記カメラによって撮像された前記基準試料の画像部分を含む較正用の撮像データを取得する較正用撮像処理と、
    前記較正用撮像処理で取得された前記較正用の撮像データに含まれる前記基準試料の画像部分から前記基準試料に対応する領域の較正用面積を取得する較正用面積処理と、
    前記基準値と、前記較正用面積処理で取得された前記較正用面積と、の差に応じた補正係数を算出する補正係数処理と、を実行し、
    前記較正用撮像処理は、前記基準試料で反射した赤外線による前記基準試料の画像部分を含む前記較正用の撮像データを取得する処理であり、
    前記算出処理は、前記質量処理で取得された前記生地片の質量を、前記測定用面積処理で取得された前記測定用面積を前記補正係数処理で算出された前記補正係数によって補正した補正面積で除した前記単位面積質量を算出する処理である、請求項１から請求項４の何れか１項に記載の測定装置。
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