JP5884145B1 - 電磁波検知部と光学検知部を使用した検査装置 - Google Patents
電磁波検知部と光学検知部を使用した検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5884145B1 JP5884145B1 JP2015527596A JP2015527596A JP5884145B1 JP 5884145 B1 JP5884145 B1 JP 5884145B1 JP 2015527596 A JP2015527596 A JP 2015527596A JP 2015527596 A JP2015527596 A JP 2015527596A JP 5884145 B1 JP5884145 B1 JP 5884145B1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- electromagnetic wave
- data
- optical
- inspection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 171
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 152
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 53
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 28
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 36
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 34
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 9
- 230000009467 reduction Effects 0.000 claims description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 57
- 235000019557 luminance Nutrition 0.000 description 28
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 20
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 20
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 19
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 13
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 235000013305 food Nutrition 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 4
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 3
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 239000005022 packaging material Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 235000009508 confectionery Nutrition 0.000 description 1
- 230000007717 exclusion Effects 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
Landscapes
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Immunology (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
前記電磁波検知部で撮像した電磁波画像データおよび前記光学検知部で撮像した光学画像データを処理するデータ処理部と、が設けられており、
前記データ処理部は、前記移動機構で検査用被写体を搬送させたときの前記電磁波画像データ上での前記検査用被写体の大きさと前記光学画像データ上での前記検査用被写体の大きさを一致させるキャリブレーションを行って、前記電磁波画像データと前記光学画像データの少なくとも一方の拡大または縮小に関するデータをメモリに記憶させ、
前記キャリブレーション後に前記製品に関する前記電磁波画像データと前記光学画像データが得られたときに、前記メモリに記録された前記データによって、前記電磁波画像データと前記光学画像データの少なくとも一方を補正することを特徴とするものである。
前記電磁波検知部で得られた電磁波画像データならびに前記光学検知部で得られた光学画像データを処理するデータ処理部と、
前記電磁波画像データに基づく電磁波画像ならびに前記光学画像データに基づく光学画像を表示する表示画面とが設けられており、
前記データ処理部は、前記移動機構で検査用被写体を搬送させたときに前記表示画面に表示された前記電磁波画像と前記光学画像の大きさを一致させるキャリブレーションを行って、前記電磁波画像と前記光学画像の少なくとも一方の拡大または縮小に関するデータをメモリに記憶させ、
前記キャリブレーション後に前記製品に関する前記電磁波画像と前記光学画像が得られたときに、前記メモリに記憶された前記データによって、前記電磁波画像と前記光学画像の少なくとも一方を補正することを特徴とするものである。
図1に示すように、本発明の第1の実施の形態の検査装置1は被検査物の一例として包装体を検査するものであり、包装体移動領域2と、その上に設置された上部収納部3と、包装体移動領域2の下に配置された下部収納部4を有している。
図3に、検査装置1に備えられた電子回路の概要を示す回路ブロック図が示されている。
この検査装置1では、噛み込み検査用データが、X線画像である電磁波画像データ27と光学画像データ28とを合成することで生成される。しかし、電磁波画像データ27のデータ量と、光学画像データ28のデータ量は必ずしも一致しない。すなわち、X線センサ13と光学センサ15の撮像距離の違いや、両センサの画像取得時のデータ転送レートの違い、さらには光学センサ15に設けられた撮像用レンズの精度などにより、同じ被写体を撮像したときに、電磁波画像データ27において被写体の占める領域の画素数と、光学画像データ28において同じ被写体の占める領域の画素数とが相違する現象が発生する。例えば、電磁波画像データ27で被写体が占める画素数が640ピクセルで、光学画像データ28で被写体が占める画素数が1024ピクセルとなることがある。
図4に示す修正操作では、被写体表示枠42に、検査用被写体WaのX線画像Wa1と光学画像Wa2が並んで表示されている。詳しくは、被写体表示枠42の右半分の領域にX線画像Wa1が表示され、左半分の領域に光学画像Wa2が表示される。また、右半分の領域の中央部に基準ポイントP1が表示され、左半分の領域の中央部に基準ポイントP2が表示されている。
検査装置1は、操作パネル40の操作によって、X線発生部10から発せられるX線エネルギーを調整することが可能である。図5に示すように、この操作は、操作パネル40の表示画面40aに、グラフ表示枠48が表示され、その側方にエネルギー指示部49が表示されている状態で行われる。
図6では、操作パネル40の表示画面40aに、輝度分布設定メニューが表示されている。この輝度分布設定メニューは、電磁波画像データ27を取得したときのX線画像の輝度分布(濃度分布)を設定するための画面である。輝度分布設定メニューでは、表示画面40aに、X線画像表示枠51と調整グラフ表示枠52とが並んで表示される。
図3に示すように、光学画像データ28は、濃淡処理部37に与えられる。濃淡処理部37では、まず光学画像データ28が二値化され、包装体W0は全体が同じ輝度で表現される。そして、操作パネル40での操作に応じて、二値化された光学画像データ28の全体の濃淡(輝度)が変化させられる。この調整作業では、操作パネル40の表示画面40aに包装体W0の光学画像と、調整指示部が表示される。調整指示部に指を触れて操作すると画像の濃淡が変化させられ、これに応じて表示画面40aに表示されている包装体W0の光学画像の全体の濃度(輝度)が変化する。
図9には、前記処理動作のフローチャートと、それぞれのステップで生成される画像の実施例が示されている。
図10に示す第2の実施の形態の検査装置101は、上流側移動機構6aの上方に光学センサ115が配置されている。この光学センサ115は、ラインセンサではなくエリアセンサであり、1画面分の画像を同時に取得できる多数の画素を有している。
2 包装体移動領域
6 移動機構
6a 上流側移動機構
6b 下流側移動機構
6c 間隙部
10 X線発生部(電磁波発生部)
13 X線センサ(電磁波検知部)
15 光学センサ(光学検知部)
16 照明部
18 位置センサ
19 表示装置
20 データ処理部
24 第1の画像データ生成部
26 第2の画像データ生成部
31 判定部
32 画像合成部
36 データ変換部
37 濃淡処理部
40 操作パネル
41 修正操作画面
42 被写体表示部
44 縦方向縮尺可変指示部
45 横方向縮尺可変指示部
W0 包装体
Wa 検査用被写体
Wa1 X線画像(電磁波画像)
Wa2 光学画像
Claims (13)
- 移動機構と、前記移動機構で移動させられる製品に放射線またはテラヘルツ波を照射する電磁波照射部と、前記製品に照射された放射線またはテラヘルツ波を検知する電磁波検知部と、前記製品の光学画像を取得する光学検知部と、
前記電磁波検知部で撮像した電磁波画像データおよび前記光学検知部で撮像した光学画像データを処理するデータ処理部と、が設けられており、
前記データ処理部は、前記移動機構で検査用被写体を搬送させたときの前記電磁波画像データ上での前記検査用被写体の大きさと前記光学画像データ上での前記検査用被写体の大きさを一致させるキャリブレーションを行って、前記電磁波画像データと前記光学画像データの少なくとも一方の拡大または縮小に関するデータをメモリに記憶させ、
前記キャリブレーション後に前記製品に関する前記電磁波画像データと前記光学画像データが得られたときに、前記メモリに記録された前記データによって、前記電磁波画像データと前記光学画像データの少なくとも一方を補正することを特徴とする検査装置。 - 移動機構と、前記移動機構で移動させられる製品に放射線またはテラヘルツ波を照射する電磁波照射部と、前記製品に照射された放射線またはテラヘルツ波を検知する電磁波検知部と、前記製品の光学画像を取得する光学検知部と、
前記電磁波検知部で得られた電磁波画像データならびに前記光学検知部で得られた光学画像データを処理するデータ処理部と、
前記電磁波画像データに基づく電磁波画像ならびに前記光学画像データに基づく光学画像を表示する表示画面とが設けられており、
前記データ処理部は、前記移動機構で検査用被写体を搬送させたときに前記表示画面に表示された前記電磁波画像と前記光学画像の大きさを一致させるキャリブレーションを行って、前記電磁波画像と前記光学画像の少なくとも一方の拡大または縮小に関するデータをメモリに記憶させ、
前記キャリブレーション後に前記製品に関する前記電磁波画像と前記光学画像が得られたときに、前記メモリに記憶された前記データによって、前記電磁波画像と前記光学画像の少なくとも一方を補正することを特徴とする検査装置。 - 前記キャリブレーションが、前記電磁波画像と前記光学画像とを重ねる処理を含む請求項2記載の検査装置。
- 前記表示画面に、修正操作画面が表示可能とされており、
前記修正操作画面には、前記電磁波画像ならびに前記光学画像が表示される被写体表示部と、縮尺可変指示部とが表示され、前記縮尺可変指示部を操作することで、前記電磁波画像と前記光学画像の少なくとも一方を縮小させまたは拡大させることができる請求項2記載の検査装置。 - 前記縮尺可変指示部では、画像を、画面と平行な面内で互いに直交する2方向へ縮小させまたは拡大させることができる請求項4記載の検査装置。
- 前記表示画面に、修正操作画面が表示可能とされており、
前記修正操作画面に、前記電磁波画像と前記光学画像を重ねるための操作を行う移動指示部が設けられている請求項3記載の検査装置。 - 前記表示画面では、前記電磁波画像と前記光学画像とが重複している部分の表示形態が、それ以外の部分と相違するように表示される請求項2ないし6のいずれかに記載の検査装置。
- 前記キャリブレーションは、画像またはデータの少なくとも一方において、前記被写体の大きさを自動的に一致させる処理を含む請求項1ないし3のいずれかに記載の検査装置。
- 前記キャリブレーションは、前記電磁波画像と前記光学画像とを自動的に重ねる処理を含む請求項3記載の検査装置。
- 前記電磁波画像と前記光学画像とを2値化画像に変換した後に、両画像を自動的に重ねる請求項9記載の検査装置。
- 前記検査用被写体は、真円形で均一な厚さである請求項1ないし10のいずれかに記載の検査装置。
- 前記製品を検査するときは、前記キャリブレーションによる修正結果を反映して、前記製品の電磁波画像と光学画像の大きさを一致させる請求項1ないし11のいずれかに記載の検査装置。
- 前記製品である包装体の電磁波画像と光学画像とを合成させて、前記包装体のシール部に内容物の一部が存在するか否かの噛み込み検査が行われる請求項12記載の包装体の検査装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2014/078102 WO2016063381A1 (ja) | 2014-10-22 | 2014-10-22 | 電磁波検知部と光学検知部を使用した検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP5884145B1 true JP5884145B1 (ja) | 2016-03-15 |
JPWO2016063381A1 JPWO2016063381A1 (ja) | 2017-04-27 |
Family
ID=55457007
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015527596A Active JP5884145B1 (ja) | 2014-10-22 | 2014-10-22 | 電磁波検知部と光学検知部を使用した検査装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5884145B1 (ja) |
WO (1) | WO2016063381A1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017159855A1 (ja) * | 2016-03-18 | 2017-09-21 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
KR20190143149A (ko) * | 2018-06-20 | 2019-12-30 | (주)레이텍 | 영상보정 테라헤르츠파 물체검사장치 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6859278B2 (ja) * | 2018-01-10 | 2021-04-14 | アンリツインフィビス株式会社 | X線検査装置 |
JP2020003366A (ja) * | 2018-06-28 | 2020-01-09 | オリンパス株式会社 | 異物検査装置および異物検査方法 |
JP2022111795A (ja) * | 2021-01-20 | 2022-08-01 | オムロン株式会社 | 計測システム、検査システム、計測装置、計測方法、検査方法、及びプログラム |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009085617A (ja) * | 2007-09-27 | 2009-04-23 | Fujifilm Corp | 欠陥検出装置及び方法 |
JP2012237729A (ja) * | 2011-05-13 | 2012-12-06 | Omron Corp | 検査領域設定方法およびx線検査システム |
WO2014061461A1 (ja) * | 2012-10-17 | 2014-04-24 | 株式会社システムスクエア | 包装体の検査装置 |
-
2014
- 2014-10-22 WO PCT/JP2014/078102 patent/WO2016063381A1/ja active Application Filing
- 2014-10-22 JP JP2015527596A patent/JP5884145B1/ja active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009085617A (ja) * | 2007-09-27 | 2009-04-23 | Fujifilm Corp | 欠陥検出装置及び方法 |
JP2012237729A (ja) * | 2011-05-13 | 2012-12-06 | Omron Corp | 検査領域設定方法およびx線検査システム |
WO2014061461A1 (ja) * | 2012-10-17 | 2014-04-24 | 株式会社システムスクエア | 包装体の検査装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017159855A1 (ja) * | 2016-03-18 | 2017-09-21 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
KR20190143149A (ko) * | 2018-06-20 | 2019-12-30 | (주)레이텍 | 영상보정 테라헤르츠파 물체검사장치 |
KR102111369B1 (ko) * | 2018-06-20 | 2020-05-15 | (주)레이텍 | 영상보정 테라헤르츠파 물체검사장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2016063381A1 (ja) | 2016-04-28 |
JPWO2016063381A1 (ja) | 2017-04-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5884144B1 (ja) | 包装体の検査装置 | |
CN111684268B (zh) | 食品检验辅助***、食品检验辅助装置和计算机程序 | |
JP5884145B1 (ja) | 電磁波検知部と光学検知部を使用した検査装置 | |
JP5720028B1 (ja) | 包装体の検査装置 | |
JP5720029B2 (ja) | 包装体の検査装置 | |
JP2016085212A (ja) | 欠陥検出システム及び方法 | |
JP2019023587A (ja) | 欠陥検査システム及び欠陥検査方法 | |
JP2018146251A (ja) | 異物検出システム、異物検出方法、及びそのプログラム | |
JP2015219090A (ja) | 透過検査装置 | |
JP6617238B2 (ja) | 包装体の検査装置 | |
JP6616658B2 (ja) | 被搬送物の検査方法 | |
TW201629474A (zh) | 檢查裝置 | |
TW200931008A (en) | Pattern inspection device | |
EP4130725A1 (en) | Foreign matter inspection device | |
JP6428554B2 (ja) | 検査システム、検査方法 | |
JP2019023588A (ja) | 欠陥検査システム及び欠陥検査方法 | |
JP2008151613A (ja) | カップゼリーの異物検出装置 | |
JP2007192598A (ja) | 被検査体の検査装置 | |
JP6454503B2 (ja) | 検査装置 | |
JP4251325B2 (ja) | 外観検査装置及びptp包装機 | |
JP2006105852A (ja) | 外観検査装置及びptp包装機 | |
WO2020184567A1 (ja) | 画像検査装置及び画像検査方法 | |
JP6035205B2 (ja) | 撮像装置および座屈検査装置 | |
JP2017190972A (ja) | 検査装置及び検査方法 | |
JP2010237157A (ja) | 表面検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20151222 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160117 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5884145 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |