JP7054634B2 - measuring device - Google Patents
measuring device Download PDFInfo
- Publication number
- JP7054634B2 JP7054634B2 JP2018028437A JP2018028437A JP7054634B2 JP 7054634 B2 JP7054634 B2 JP 7054634B2 JP 2018028437 A JP2018028437 A JP 2018028437A JP 2018028437 A JP2018028437 A JP 2018028437A JP 7054634 B2 JP7054634 B2 JP 7054634B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- calibration
- area
- sample
- processor
- mass
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 261
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 175
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 175
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 146
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 143
- 239000004744 fabric Substances 0.000 claims description 95
- 239000013074 reference sample Substances 0.000 claims description 69
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 21
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 13
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 7
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 6
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 5
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 211
- 239000000463 material Substances 0.000 description 20
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 19
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 14
- 238000002372 labelling Methods 0.000 description 13
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 11
- 102000051759 human factor J Human genes 0.000 description 9
- 108700008420 human factor J Proteins 0.000 description 9
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 9
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 8
- 241000280258 Dyschoriste linearis Species 0.000 description 6
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 6
- 238000010079 rubber tapping Methods 0.000 description 5
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 4
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 4
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 239000002759 woven fabric Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009429 electrical wiring Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 230000004297 night vision Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000001931 thermography Methods 0.000 description 1
- 230000037303 wrinkles Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N5/00—Analysing materials by weighing, e.g. weighing small particles separated from a gas or liquid
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N2021/8411—Application to online plant, process monitoring
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N2021/8444—Fibrous material
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Image Processing (AREA)
Description
本発明は、生地片の単位面積当たりの質量を測定し出力する測定装置に関する。 The present invention relates to a measuring device that measures and outputs a mass per unit area of a piece of dough.
出願人は、特許文献1にて、線条検査方法及び線条検査装置を提案している。この線条検査方法及び線条検査装置では、織物の2次元空間的なテクスチャ特徴が抽出され、糸交差角度、経糸数及び緯糸数が数学的に求められる。前述のテクスチャ特徴の抽出アルゴリズムは、次の手順(1)~手順(5)を含む。即ち、(1)デジタルスチルカメラから織物のデジタル画像データを取得する。(2)デジタル画像データに窓関数処理を施す。(3)窓関数処理されたデジタル画像データを高速フーリエ変換し、フーリエスペクトルを取得する。(4)フーリエスペクトルのピークを抽出する。(5)各ピークの情報(角度、周波数)を織物のテクスチャ特徴量(糸交差角度、経糸数及び緯糸数)に対応させる。線条検査方法及び線条検査装置は、織物の他、印刷又はエッチングによってメッシュ状の線条が形成されたフィルム、シート、スクリーン又はプレートを検査対象とする。例えば、線条検査方法及び線条検査装置は、プラズマディスプレイ用の電磁波シールドフィルタ、生化学用の分離フィルタ、印刷用のスクリーン紗又は網戸を検査対象とする。
The applicant proposes a linear inspection method and a linear inspection apparatus in
生地の製造時又は生地製の所定の製品の製造時、製造現場では、製品又は素材としての生地の品質が管理される。例えば、製造現場では、生地の単位面積質量が管理される。単位面積質量は、単位面積当たりの質量である。そこで、発明者は、生地片の大きさ(面積)に関わらず、生地の単位面積質量をスムーズに測定し、単位面積質量を出力可能な測定装置について検討した。 At the time of manufacturing the dough or at the time of manufacturing a predetermined product made of the dough, the quality of the dough as the product or the material is controlled at the manufacturing site. For example, at the manufacturing site, the unit area mass of the dough is controlled. The unit area mass is the mass per unit area. Therefore, the inventor examined a measuring device capable of smoothly measuring the unit area mass of the dough and outputting the unit area mass regardless of the size (area) of the dough piece.
本発明は、生地の単位面積当たりの質量を測定し出力可能な測定装置を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide a measuring device capable of measuring and outputting a mass per unit area of a dough.
本発明の一側面は、生地片を載せ置く載置台と、前記載置台に載せ置かれた前記生地片の質量を測定する質量計と、前記載置台に載せ置かれた前記生地片を撮像するカメラと、前記カメラによる撮像範囲に赤外線を照射する照射器と、前記生地片の単位面積当たりの質量を示す単位面積質量を出力する出力器と、プロセッサと、を備え、前記プロセッサは、前記質量計によって測定された前記生地片の質量を取得する質量処理と、前記カメラによって撮像された前記生地片の画像部分を含む測定用の撮像データを取得する測定用撮像処理と、前記測定用撮像処理で取得された前記測定用の撮像データに含まれる前記生地片の画像部分から前記生地片に対応する領域の測定用面積を取得する測定用面積処理と、前記質量処理で取得された前記生地片の質量と、前記測定用面積処理で取得された前記測定用面積と、により前記単位面積質量を算出する算出処理と、前記算出処理で取得された前記単位面積質量を前記出力器で出力させる出力処理と、を実行し、前記カメラは、赤外線に対する感度を有するイメージセンサを含み、前記照射器から赤外線が照射されている状態で撮像し、前記測定用撮像処理は、前記生地片で反射した赤外線による前記生地片の画像部分を含む前記測定用の撮像データを取得する処理である、測定装置である。 One aspect of the present invention is to take an image of a pedestal on which a piece of dough is placed, a mass meter for measuring the mass of the piece of dough placed on the pedestal described above, and the piece of dough placed on the pedestal described above. It comprises a camera, an irradiator that irradiates an image pickup range by the camera with infrared rays, an output device that outputs a unit area mass indicating the mass per unit area of the cloth piece, and a processor, and the processor is the mass. Mass processing for acquiring the mass of the fabric piece measured by the meter, measurement imaging processing for acquiring measurement imaging data including an image portion of the fabric piece imaged by the camera, and measurement imaging processing. The measurement area processing for acquiring the measurement area of the region corresponding to the fabric piece from the image portion of the fabric piece included in the image pickup data for the measurement acquired in the above, and the fabric piece acquired by the mass processing. A calculation process for calculating the unit area mass by the mass of the above and the measurement area acquired by the measurement area process, and an output for outputting the unit area mass acquired by the calculation process by the output device. The camera includes an image sensor having sensitivity to infrared rays, and an image is taken in a state where infrared rays are emitted from the irradiator, and the image pickup process for measurement is an infrared ray reflected by the cloth piece. It is a measuring apparatus which is a process of acquiring the image pickup data for the measurement including the image portion of the cloth piece by the above .
測定装置では、前記載置台の前記生地片が載せ置かれる載置面は、前記生地片より低い赤外線反射率、前記生地片より高い赤外線吸収率、及び前記生地片より高い赤外線透過率の一部又は全部を有する、ようにしてもよい。また、測定装置は、前記載置台と前記カメラとの間に赤外線透過フィルタを備える、ようにしてもよい。更に、測定装置では、前記カメラは、赤外線カメラである、ようにしてもよい。 In the measuring device , the mounting surface on which the cloth piece of the above-mentioned stand is placed has an infrared reflectance lower than that of the cloth piece, an infrared absorption rate higher than that of the cloth piece, and an infrared transmittance higher than that of the cloth piece. It may have parts or all. Further, the measuring device may be provided with an infrared transmission filter between the above-mentioned stand and the camera. Further, in the measuring device, the camera may be an infrared camera.
このような測定装置によれば、生地片の単位面積質量を測定し、測定結果としてこれを出力することができる。測定用の撮像データに含まれる生地片の画像部分から生地片に対応する領域の測定用面積を取得することで、生地片の形状に関わらず、単位面積質量を測定することができる。例えば、単位面積質量を測定するに際し、生地から生地片を予め定めた形状に裁断する必要がない。例えば、生地の製造時又は生地製の所定の製品の製造時、製造現場で、製品又は素材としての生地の単位面積質量をスムーズに測定することができる。According to such a measuring device, it is possible to measure the unit area mass of a piece of dough and output it as a measurement result. By acquiring the measurement area of the region corresponding to the fabric piece from the image portion of the fabric piece included in the imaging data for measurement, the unit area mass can be measured regardless of the shape of the fabric piece. For example, when measuring the unit area mass, it is not necessary to cut the dough piece into a predetermined shape from the dough. For example, the unit area mass of the dough as a product or a raw material can be smoothly measured at the time of manufacturing the dough or at the time of manufacturing a predetermined product made of the dough, or at the manufacturing site.
更に、生地片の画像部分を安定的に検出することができる。測定用面積の精度を向上させることができる。生地片が次のような模様の生地の一部であるとする。前述の模様は、例えば、載置面と同一色の所定の形状を有する図形が生地の全体に複数配置された模様である。載置面は、生地片が載せ置かれる載置台の面である。このような模様としては、載置面と同一色の複数の水玉が適宜配置された水玉模様が例示される。前述の水玉模様を例として説明する。単位面積質量の測定に際し、水玉模様の生地を切り取り生地片を形成する場合、生地の切断位置が水玉上となることがある。生地片の撮像に可視光を用いる場合、この撮像による撮像データに対応する可視光画像では、背景色(載置面の色)と生地片の外縁における切断された水玉の部分の色が同一色となる。その結果、生地片の画像部分を適切に検出できない、又は前述の検出に特別な画像解析が必要となる、といったことが考えられる。これに対して、生地片の撮像に赤外線を用いた測定用の撮像データでは、生地片の画像部分における水玉模様の影響はなくなり又は低下する。その結果、背景(載置面)と生地片の画像部分の境界が安定し、背景から生地片の画像部分を区別することができる。生地の模様に合わせて載置台を変更するといった作業は、不要となる。 Further, the image portion of the fabric piece can be stably detected. The accuracy of the measurement area can be improved. It is assumed that the cloth piece is a part of the cloth having the following pattern. The above-mentioned pattern is, for example, a pattern in which a plurality of figures having a predetermined shape of the same color as the mounting surface are arranged on the entire fabric. The mounting surface is the surface of the mounting table on which the fabric pieces are placed. As such a pattern, a polka dot pattern in which a plurality of polka dots of the same color as the mounting surface are appropriately arranged is exemplified. The above-mentioned polka dot pattern will be described as an example. When measuring the unit area mass by cutting the dough with polka dots to form a piece of dough, the cutting position of the dough may be on the polka dots. When visible light is used to image the fabric piece, the background color (the color of the mounting surface) and the color of the cut polka dots on the outer edge of the fabric piece are the same color in the visible light image corresponding to the imaged data obtained by this imaging. It becomes. As a result, it is conceivable that the image portion of the fabric piece cannot be properly detected, or that special image analysis is required for the above-mentioned detection. On the other hand, in the imaging data for measurement using infrared rays for imaging the fabric piece, the influence of the polka dot pattern on the image portion of the fabric piece disappears or decreases. As a result, the boundary between the background (placement surface) and the image portion of the fabric piece is stable, and the image portion of the fabric piece can be distinguished from the background. The work of changing the mounting table according to the pattern of the fabric becomes unnecessary.
測定装置では、前記載置台には、面積が基準値に設定された基準試料が載せ置かれ、前記カメラは、前記載置台に載せ置かれた前記基準試料を撮像し、前記プロセッサは、前記カメラによって撮像された前記基準試料の画像部分を含む較正用の撮像データを取得する較正用撮像処理と、前記較正用撮像処理で取得された前記較正用の撮像データに含まれる前記基準試料の画像部分から前記基準試料に対応する領域の較正用面積を取得する較正用面積処理と、前記基準値と、前記較正用面積処理で取得された前記較正用面積と、の差に応じた補正係数を算出する補正係数処理と、を実行し、前記較正用撮像処理は、前記基準試料で反射した赤外線による前記基準試料の画像部分を含む前記較正用の撮像データを取得する処理であり、前記算出処理は、前記質量処理で取得された前記生地片の質量を、前記測定用面積処理で取得された前記測定用面積を前記補正係数処理で算出された前記補正係数によって補正した補正面積で除した前記単位面積質量を算出する処理である、ようにしてもよい。 In the measuring device, a reference sample whose area is set to a reference value is placed on the above-mentioned table, the camera takes an image of the reference sample placed on the above-mentioned table, and the processor is the camera. The calibration imaging process for acquiring the calibration imaging data including the image portion of the reference sample imaged by the above, and the image portion of the reference sample included in the calibration imaging data acquired in the calibration imaging process. Calculates a correction coefficient according to the difference between the calibration area processing for acquiring the calibration area of the region corresponding to the reference sample and the calibration area obtained by the reference value and the calibration area processing. The calibration imaging process is a process of acquiring the calibration imaging data including the image portion of the reference sample by the infrared rays reflected by the reference sample, and the calculation process is performed. , The unit obtained by dividing the mass of the dough piece obtained by the mass processing by the correction area obtained by the measurement area processing and corrected by the correction coefficient calculated by the correction coefficient processing. It may be a process of calculating the area mass.
この構成によれば、測定用面積を補正係数によって補正することができる。単位面積質量の測定精度を向上させることができる。 According to this configuration, the measurement area can be corrected by the correction coefficient. The measurement accuracy of unit area mass can be improved.
本発明によれば、生地の単位面積当たりの質量を測定し出力可能な測定装置を得ることができる。 According to the present invention, it is possible to obtain a measuring device capable of measuring and outputting the mass per unit area of the dough.
本発明を実施するための実施形態について、図面を用いて説明する。本発明は、以下に記載の構成に限定されるものではなく、同一の技術的思想において種々の構成を採用することができる。例えば、以下に示す構成の一部は、省略し又は他の構成等に置換してもよい。他の構成を含むようにしてもよい。 An embodiment for carrying out the present invention will be described with reference to the drawings. The present invention is not limited to the configurations described below, and various configurations can be adopted in the same technical idea. For example, a part of the configuration shown below may be omitted or replaced with another configuration or the like. Other configurations may be included.
<測定装置>
測定装置10について、図1を参照して説明する。図1は、測定装置10を模式的に示したものである。従って、図1で、破線は、かくれ線であり、一点鎖線は、中心線(基準線)であり、二点鎖線は、想像線である。
<Measuring device>
The measuring
測定装置10は、単位面積質量Nを測定する装置である。実施形態では、単位面積質量Nの測定対象物は、生地片15である。生地片15は、例えば、生地から切り取られた生地の一部である。生地は、所定の製品の素材として用いられる。単位面積質量Nは、単位面積当たりの質量である。実施形態では、単位面積は、1m2とする。但し、単位面積は、1m2とは異なる面積としてもよい。単位面積は、諸条件を考慮して適宜決定される。測定装置10は、例えば、生地の製造現場又は生地製の所定の製品の製造現場で用いられる。測定装置10により、生地の品質が管理される。測定装置10は、載置台20と、質量計30と、カメラ40と、収容室45と、照射器50と、出力器60と、制御器70を備える。
The measuring
載置台20には、生地片15が載せ置かれる。実施形態では、生地片15が載せ置かれる載置台20の面を「載置面22」という。載置台20では、載置面22の赤外線反射率、赤外線吸収率及び赤外線透過率の何れか又は全部が生地片15とは異なる状態とするとよい。例えば、載置台20では、載置面22の赤外線反射率は、生地片15より低くするとよく、載置面22の赤外線吸収率は、生地片15より高くするとよく、載置面22の赤外線透過率は、生地片15より高くするとよい。一般的に、生地は、赤外線を反射する性質を有する。測定装置10では、載置台20として、次のような載置台を採用する。即ち、載置台20は、アクリル製とし、載置面22は、単一色のつや消し状態とした。載置面22の色は、黒色とした。
The
質量計30は、載置台20に載せ置かれた物の質量Mを測定し、測定された質量Mを出力する。実施形態では、載置台20には、生地片15が載せ置かれる。この場合、質量計30は、生地片15の質量Mを出力する。この他、載置台20には、基準試料17が載せ置かれる(図3参照)。基準試料17については、後述する。質量計30は、例えば、電子天秤である。測定装置10では、質量計30として、公知の質量計を採用できる。従って、質量計30に関するこの他の説明は、省略する。
The
カメラ40は、デジタルカメラである。カメラ40は、赤外線に対する感度を有するイメージセンサを含む。即ち、カメラ40は、赤外線を撮像することができる。但し、イメージセンサは、可視光に対する感度も有する。従って、カメラ40は、可視光を撮像することもできる。カメラ40は、載置面22の上方で載置面22に対向した状態で設けられる。測定装置10では、カメラ40は、載置面22と正対する。従って、カメラ40の撮像方向は、載置面22に対して垂直な方向となる。カメラ40は、載置面22を撮像範囲R1に含む。撮像範囲R1は、カメラ40によって撮像される範囲である。図1で、載置面22上に二点鎖線で示す2個の矩形枠のうち、内側の矩形枠は、撮像範囲R1を示す。実施形態では、生地片15は、撮像範囲R1にその全体が含まれる。即ち、生地片15は、撮像範囲R1より小さな任意の形状を有する。これに伴い、カメラ40は、載置台20に生地片15が載せ置かれた状態で、生地片15の表面の全体を撮像する。また、実施形態では、基準試料17も、撮像範囲R1にその全体が含まれる。即ち、基準試料17は、撮像範囲R1より小さな所定の形状を有する。これに伴い、カメラ40は、載置台20に載せ置かれた基準試料17の表面の全体を撮像する。
The
収容室45は、カメラ40を収容する。収容室45の底面には、赤外線透過フィルタ47が設けられる。収容室45は、底面の赤外線透過フィルタ47を除く部分が遮光された構造を有する。カメラ40が収容室45に収容された状態で、赤外線透過フィルタ47は、載置台20とカメラ40の間に設けられる。赤外線透過フィルタ47は、紫外線及び可視光を吸収し、赤外線を透過するフィルタである。従って、生地片15で反射した光のうち、可視光等は、赤外線透過フィルタ47によって吸収され、カメラ40に到達しない。換言すれば、生地片15で反射した光のうち、赤外線は、赤外線透過フィルタ47を透過してカメラ40に到達する。測定装置10では、赤外線透過フィルタ47として、例えば、波長が800nm以下の光を吸収する公知の赤外線透過フィルタを採用できる。従って、赤外線透過フィルタ47に関するこの他の説明は、省略する。
The
照射器50は、赤外線を照射する。測定装置10で採用可能な照射器50としては、ピークの波長が850nmである赤外線LEDが例示される。照射器50は、載置面22の上方から赤外線によって撮像範囲R1を照らす。測定装置10では、赤外線の照射方向は、載置面22に対して傾斜した方向である。従って、照射器50は、載置面22の斜め上方から赤外線によって撮像範囲R1を照らす。実施形態では、測定装置10における照射器50の台数は、2台である。2台の照射器50は、カメラ40の両側に設けられる。赤外線によって照らされる載置面22上の範囲を「照明範囲R2」という。照明範囲R2は、撮像範囲R1を含む。測定装置10では、2台の照射器50は、各照射器50による載置面22上の照明範囲が共に照明範囲R2で一致した状態とされている。図1で、載置面22上に二点鎖線で示す2個の矩形枠のうち、外側の矩形枠は、照明範囲R2を示す。
The
但し、上述したような赤外線の照射方向と照射器50の台数及び配置は、例示である。赤外線の照射方向と照射器50の台数及び配置は、諸条件を考慮して適宜決定される。例えば、照射器50の台数を1台とし、1台の照射器50によって照明範囲R2を照らすようにしてもよい。この他、複数の照射器50がそれぞれ照らす載置面22上の範囲を異なる範囲とし、複数の照射器50によって照明範囲R2の全体を照らすようにしてもよい。この他、照射器50を、載置台20上で載置面22に接近して配置し、撮像範囲R1の外周側から照明範囲R2の全体を照らすようにしてもよい。この場合、複数の照射器50を前述した位置に環状に配置し、又は環状の照射器50を前述した位置に配置してもよい。
However, the infrared irradiation direction and the number and arrangement of the
出力器60は、測定結果としての単位面積質量Nを出力する機器である。測定装置10では、出力器60は、表示器である。表示器としては、液晶ディスプレイが例示される。但し、出力器60として採用される表示器は、液晶ディスプレイとは異なるディスプレイであってもよい。即ち、測定装置10では、単位面積質量Nを含む操作画面が出力器60としての表示器に表示される。図1では、操作画面の図示は、省略されている。操作画面については、後述する。
The
操作器65は、測定装置10に対する各種の指示の入力を受け付ける。測定装置10では、操作器65は、タッチパッドを含む仕様とする。この場合、操作器65は、表示器である出力器60と共に、タッチパネルとなる。測定装置10の操作者は、出力器60に操作画面が表示されている状態で、タッチパッドによる操作器65に対して、所定の操作を行う。前述の操作としては、タップが例示される。操作器65は、操作者による操作に応じた指示の入力を受け付ける。操作器65は、受け付けられた指示を出力する。但し、操作器65は、所定のハードキーを含むものであってもよい。この他、操作器65は、キーボード及びマウスであってもよい。
The
制御器70は、プロセッサ71と、ストレージ72と、メモリ73と、接続インターフェース74を含む。実施形態では、接続インターフェース74を「接続I/F74」と記載する。プロセッサ71は、演算処理を実行し、測定装置10を制御する。プロセッサ71は、例えば、CPUである。
The
ストレージ72は、フラッシュメモリである。但し、ストレージ72は、フラッシュメモリとは異なる記憶媒体であってもよい。例えば、ストレージ72は、ハードディスクであってもよい。ストレージ72は、プログラムを記憶する。ストレージ72に記憶されるプログラムは、メイン処理(図4参照)のプログラムを含む。メイン処理のプログラムは、図5~図14に示す各処理のプログラムを含む。メイン処理のプログラムは、ストレージ72に事前にインストールされる。
The
メモリ73は、プロセッサ71がストレージ72に記憶されたプログラムを実行する際の記憶領域となる。メモリ73には、処理の実行途中に所定のデータが所定の記憶領域に記憶される。メモリ73は、例えば、RAMである。測定装置10では、制御器70において、プロセッサ71が、ストレージ72に記憶されたプログラムを実行する。これに伴い、測定装置10では、各種の処理が実行され、実行された処理に対応する機能が実現される。
The
接続I/F74には、例えば、質量計30、カメラ40及び操作器65が接続される。質量計30から出力された質量Mは、接続I/F74を介して制御器70に入力される。質量計30からの質量Mは、接続I/F74からプロセッサ71に出力される。プロセッサ71は、接続I/F74を介して質量Mを取得する。カメラ40で撮像された撮像画像に対応する撮像信号は、接続I/F74を介して制御器70に入力される。カメラ40からの撮像信号は、接続I/F74からプロセッサ71に出力される。プロセッサ71は、接続I/F74を介して撮像信号を取得する。これに伴い、プロセッサ71は、撮像画像に対応する撮像データを取得する。即ち、プロセッサ71は、取得された撮像信号を処理して撮像データを生成する。操作器65から出力された指示は、接続I/F74を介して制御器70に入力される。操作器65からの指示は、接続I/F74からプロセッサ71に出力される。プロセッサ71は、接続I/F74を介して前述の指示を取得する。この他、接続I/F74には、照射器50及び出力器60が接続される。図1では、質量計30、カメラ40、照射器50及び出力器60と、接続I/F74を接続する電気配線の図示は、省略されている。
For example, a
<操作画面>
操作画面について、図2及び図3を参照して説明する。測定装置10では、操作画面は、メイン画面80とサブ画面90を含む。実施形態では、メイン画面80とサブ画面90を区別しない場合、又はこれらを総称する場合、操作画面という。メイン画面80は、メイン処理の開始に伴い出力器60に表示される。メイン画面80は、単位面積質量Nの測定に対応する操作画面で、生地片15の単位面積質量Nを測定する場合に出力器60に表示される。サブ画面90は、キャリブレーション処理(図5及び図6参照)が実行される場合に表示される。
<Operation screen>
The operation screen will be described with reference to FIGS. 2 and 3. In the measuring
キャリブレーション処理は、面積が基準値に設定された基準試料17を用いて行われる。実施形態では、基準試料17として、面積が異なる5種類の基準値に設定された第一サンプル、第二サンプル、第三サンプル、第四サンプル及び第五サンプルを例示する。第一サンプルは、面積が第一基準値「400mm2」に設定された基準試料17である。面積が第一基準値となる形状としては、1辺の寸法が20mmである正方形が例示される。第二サンプルは、面積が第二基準値「1600mm2」に設定された基準試料17である。面積が第二基準値となる形状としては、1辺の寸法が40mmである正方形が例示される。第三サンプルは、面積が第三基準値「3600mm2」に設定された基準試料17である。面積が第三基準値となる形状としては、1辺の寸法が60mmである正方形が例示される。第四サンプルは、面積が第四基準値「6400mm2」に設定された基準試料17である。面積が第四基準値となる形状としては、1辺の寸法が80mmである正方形が例示される。第五サンプルは、面積が第五基準値「10000mm2」に設定された基準試料17である。面積が第五基準値となる形状としては、1辺の寸法が100mmである正方形が例示される。実施形態では、第一サンプル、第二サンプル、第三サンプル、第四サンプル及び第五サンプルを区別しない場合、又はこれらを総称する場合、「基準試料17」という。第一基準値、第二基準値、第三基準値、第四基準値及び第五基準値としての前述の各値は、例示である。基準試料17の基準値は、諸条件を考慮して適宜決定される。基準試料17の形状は、長方形、又は正方形及び長方形とは異なる多角形であってもよい。また、基準試料17の形状は、円形、楕円形又は前述の各形状とは異なる任意の形状であってもよい。基準試料17の形状は、諸条件を考慮して適宜決定される。
The calibration process is performed using the
基準試料17は、生地片15と同様、赤外線反射率、赤外線吸収率及び赤外線透過率の何れか又は全部を、載置面22とは異なる状態とするとよい。例えば、基準試料17は、赤外線反射率を載置面22より高くするとよく、赤外線吸収率を載置面22より低くするとよく、赤外線透過率を載置面22より低くするとよい。例えば、基準試料17は、生地片15と同様、載置面22より赤外線を反射する素材によって形成し、又は載置面22より赤外線を反射する状態とすることができる。この他、基準試料17を形成する素材は、皺又は反り等が発生しない又は発生し難い素材とするとよい。また、基準試料17を面積が基準値より大きな素材を切断して形成する場合、基準試料17を形成する素材としては、面積が基準値となる形状に容易に切断可能な素材を選択するとよい。例えば、基準試料17を形成する素材は、切断箇所に毛羽立ちが生じない又は生じ難い素材としてもよく、伸縮性の低い素材としてもよい。例えば、基準試料17は、紙製とすることができる。この場合、紙製の基準試料17は、表面色を白色としてもよい。
As with the
メイン画面80は、プレビュー領域81と、測定結果領域82と、キャリブレーションボタン83を含む(図2参照)。プレビュー領域81は、撮像範囲R1に対応する撮像画像を表示する領域である。測定装置10では、プレビュー領域81に表示される撮像画像は、動画である。測定結果領域82は、生地片15の単位面積質量N(g/m2)と、生地片15の面積(mm2)及び質量(g)を表示する領域である。キャリブレーションボタン83は、キャリブレーション処理(図4のS17、図5及び図6参照)の実行を指示する操作ボタンである。キャリブレーションボタン83は、キャリブレーション指示に対応付けられる。キャリブレーション指示は、キャリブレーション処理の実行指示である。キャリブレーションボタン83に対するタップが操作器65で受け付けられた場合、プロセッサ71は、キャリブレーション指示を取得する。これに伴い、プロセッサ71は、キャリブレーション処理を開始する。
The
サブ画面90は、プレビュー領域91と、第一サンプルボタン92と、第二サンプルボタン93と、第三サンプルボタン94と、第四サンプルボタン95と、第五サンプルボタン96と、補正係数ボタン97と、戻るボタン98を含む(図3参照)。プレビュー領域91は、撮像範囲R1に対応する撮像画像を表示する領域である。測定装置10では、プレビュー領域91に表示される撮像画像は、動画である。
The
第一サンプルボタン92は、第一較正用撮像処理(図5のS35参照)の実行を指示する操作ボタンである。第一サンプルボタン92は、第一サンプル指示に対応付けられる。第一サンプル指示は、第一較正用撮像処理の実行指示である。操作者は、載置台20に第一サンプルを載せ置く。その後、操作者は、載置台20に第一サンプルが載せ置かれた状態で、第一サンプルボタン92をタップする。第一サンプルボタン92がタップされ、このタップが操作器65で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ71は、第一サンプル指示を取得する。これに伴い、プロセッサ71は、第一較正用撮像処理を開始する。
The
第二サンプルボタン93は、第二較正用撮像処理(図5のS41参照)の実行を指示する操作ボタンである。第二サンプルボタン93は、第二サンプル指示に対応付けられる。第二サンプル指示は、第二較正用撮像処理の実行指示である。操作者は、載置台20に第二サンプルを載せ置く。その後、操作者は、載置台20に第二サンプルが載せ置かれた状態で、第二サンプルボタン93をタップする。第二サンプルボタン93がタップされ、このタップが操作器65で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ71は、第二サンプル指示を取得する。これに伴い、プロセッサ71は、第二較正用撮像処理を開始する。
The
第三サンプルボタン94は、第三較正用撮像処理(図5のS47参照)の実行を指示する操作ボタンである。第三サンプルボタン94は、第三サンプル指示に対応付けられる。第三サンプル指示は、第三較正用撮像処理の実行指示である。操作者は、載置台20に第三サンプルを載せ置く。その後、操作者は、載置台20に第三サンプルが載せ置かれた状態で、第三サンプルボタン94をタップする。第三サンプルボタン94がタップされ、このタップが操作器65で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ71は、第三サンプル指示を取得する。これに伴い、プロセッサ71は、第三較正用撮像処理を開始する。
The
第四サンプルボタン95は、第四較正用撮像処理(図6のS53参照)の実行を指示する操作ボタンである。第四サンプルボタン95は、第四サンプル指示に対応付けられる。第四サンプル指示は、第四較正用撮像処理の実行指示である。操作者は、載置台20に第四サンプルを載せ置く。その後、操作者は、載置台20に第四サンプルが載せ置かれた状態で、第四サンプルボタン95をタップする。第四サンプルボタン95がタップされ、このタップが操作器65で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ71は、第四サンプル指示を取得する。これに伴い、プロセッサ71は、第四較正用撮像処理を開始する。
The
第五サンプルボタン96は、第五較正用撮像処理(図6のS59参照)の実行を指示する操作ボタンである。第五サンプルボタン96は、第五サンプル指示に対応付けられる。第五サンプル指示は、第五較正用撮像処理の実行指示である。操作者は、載置台20に第五サンプルを載せ置く。その後、操作者は、載置台20に第五サンプルが載せ置かれた状態で、第五サンプルボタン96をタップする。第五サンプルボタン96がタップされ、このタップが操作器65で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ71は、第五サンプル指示を取得する。これに伴い、プロセッサ71は、第五較正用撮像処理を開始する。
The
補正係数ボタン97は、補正係数処理(図6のS65及び図14参照)の実行を指示する操作ボタンである。補正係数ボタン97は、補正係数指示に対応付けられる。補正係数指示は、補正係数処理の実行指示である。操作者は、例えば、第一サンプルボタン92、第二サンプルボタン93、第三サンプルボタン94、第四サンプルボタン95及び第五サンプルボタン96をそれぞれタップした後、補正係数ボタン97をタップする。補正係数ボタン97がタップされ、このタップが操作器65で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ71は、補正係数指示を取得する。これに伴い、プロセッサ71は、補正係数処理を開始する。
The
戻るボタン98は、キャリブレーション処理の終了を指示する操作ボタンである。戻るボタン98は、リターン指示に対応付けられる。リターン指示は、キャリブレーション処理の終了指示である。操作者は、例えば、キャリブレーション処理を終了する場合、戻るボタン98をタップする。戻るボタン98がタップされ、このタップが操作器65で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ71は、リターン指示を取得する。これに伴い、プロセッサ71は、キャリブレーション処理を終了する。
The
<メイン処理>
メイン処理について、図4を参照して説明する。操作者は、測定装置10の電源をオンする。これに伴い、プロセッサ71は、ストレージ72に記憶されたメイン処理のプログラムを起動し、メイン処理を開始する。照射器50は、赤外線の照射を開始する。
<Main processing>
The main process will be described with reference to FIG. The operator turns on the power of the measuring
メイン処理を開始させたプロセッサ71は、メイン画面80を表示させる(S11)。プロセッサ71は、メイン画面80の表示指令を出力器60に出力する。出力器60は、この表示指令に従い、メイン画面80を表示する(図2上段参照)。プロセッサ71は、S11の実行に合わせ、カメラ40を起動させる(S13)。プロセッサ71は、起動指令をカメラ40に出力する。カメラ40は、起動指令に従い起動し、撮像を開始する。プロセッサ71は、カメラ40によって撮像された撮像画像に対応する撮像データを取得する。プロセッサ71は、前述の撮像データに対応する撮像画像をメイン画面80のプレビュー領域81に含める。メイン画面80では、プレビュー領域81に撮像範囲R1に一致する撮像画像が出力される(図2参照)。S11とS13の順序について、S13を実行後、S11を実行してもよい。
The
次に、プロセッサ71は、キャリブレーション指示を取得したか否かを判断する(S15)。操作者は、キャリブレーションボタン83をタップする。キャリブレーションボタン83のタップが操作器65で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ71は、操作器65からキャリブレーション指示を取得する。キャリブレーション指示が取得された場合(S15:Yes)、プロセッサ71は、キャリブレーション処理を実行する(S17)。キャリブレーション処理は、補正係数を取得する処理である。キャリブレーション処理及び補正係数については、後述する。キャリブレーション処理では、操作画面は、メイン画面80からサブ画面90へと切り替わる。S17を実行した後、プロセッサ71は、メイン画面80を表示させる(S19)。S19は、S11と同様に実行される。従って、S19に関するこの他の説明は、省略する。S19を実行した後、プロセッサ71は、処理をS15に戻す。その後、プロセッサ71は、S15以降の処理を繰り返して実行する。
Next, the
キャリブレーション指示が取得されていない場合(S15:No)、プロセッサ71は、質量処理を実行する(S21)。質量処理は、質量計30によって測定された生地片15の質量Mを取得する処理である。操作者は、載置台20に生地片15を載せ置く。質量計30は、載置台20に載せ置かれた生地片15の質量Mを測定する。S21でプロセッサ71は、質量計30によって測定された生地片15の質量Mを取得する。プロセッサ71は、質量Mをメモリ73に記憶させる。プロセッサ71は、質量計30からの値が0より大きく、且つその値が設定時間一定値を示している場合に、質量計30からの値を質量Mとして取得する。設定時間は、諸条件を考慮して適宜決定される。例えば、事前の実験により求められた次の時間を設定時間としてもよい。前述の時間は、生地片15を載置台20に載せ置いた後、質量計30で測定される質量Mが安定するのに要する時間である。
If the calibration instruction has not been acquired (S15: No), the
続けて、プロセッサ71は、測定用撮像処理を実行する(S23)。測定用撮像処理は、測定用の撮像データを取得する処理である。実施形態では、測定用の撮像データを「測定用撮像データ」という。測定用撮像データは、カメラ40によって撮像された生地片15の画像部分を含む画像データである。更に、測定用撮像データは、照射器50からの赤外線が載置台20上の生地片15で反射した赤外線画像に対応する画像データである。測定装置10では、測定用撮像データは、静止画の画像データである。S23でプロセッサ71は、撮像指令をカメラ40に出力する。カメラ40は、撮像指令に従い、撮像範囲R1を撮像する。プロセッサ71は、カメラ40によって撮像された撮像画像に対応する測定用撮像データを取得する。プロセッサ71は、測定用撮像データをメモリ73に記憶させる。S21とS23の順序について、S23を実行後、S21を実行してもよい。但し、プロセッサ71は、質量計30からの値が0より大きく、且つその値が設定時間一定値を示していることを条件として、S23を実行するとよい。
Subsequently, the
S23を実行した後、プロセッサ71は、測定用面積処理を実行する(S25)。測定用面積処理は、S23で取得された測定用撮像データに含まれる生地片15の画像部分から生地片15に対応する領域の測定用面積Aを取得する処理である。測定用面積処理については、後述する。
After executing S23, the
次に、プロセッサ71は、算出処理を実行する(S27)。算出処理は、S21で取得された質量MとS25で取得された測定用面積Aにより単位面積質量Nを算出する処理である。算出処理では、測定用面積Aが補正係数(図14のS163参照)を含む多項式近似曲線によって補正され、S21で取得された質量Mを補正後の補正面積Bで除して、単位面積質量Nが算出される。実施形態では、前述の多項式近似曲線の次数は、4次とする。
Next, the
S27で実行される算出処理について、更に説明する。プロセッサ71は、メモリ73から測定用面積Aと補正係数を取得し、式(1)により補正率Jを算出する。測定用面積Aは、後述する図7のS73でメモリ73に記憶される。補正係数は、後述する図14のS163でメモリ73に記憶される。また、プロセッサ71は、式(2)により補正面積Bを算出する。これにより、プロセッサ71は、式(3)により単位面積質量Nを取得する。
J=Coeff4×A4+Coeff3×A3+Coeff2×A2+Coeff1×A+Coeff0 ・・・(1)
B=(J+1)×A ・・・(2)
N=M/B ・・・(3)
S17でキャリブレーション処理(図5及び図6参照)が未実行である場合、S27では、補正面積Bは、測定用面積Aと同一値となる。従って、式(3)は、実質的に「N=M/A」となる。補正率J又は後述する図14のS163でメモリ73に記憶される補正係数は、例えば、メイン処理のプログラムに登録するとよい。現在実行中のメイン処理を開始後、S17が未実行で、補正係数がメモリ73に記憶されていない場合(図14のS163:未実行)、S35でプロセッサ71は、登録済みの補正率J又は補正係数を用いる。メイン処理のプログラムに登録される補正率J又は補正係数(Coeff0,Coeff1,Coeff2,Coeff3,Coeff4)の初期値は、0に設定される。式(1)により補正率Jが算出された場合、プロセッサ71は、メイン処理のプログラムに登録された補正率Jを、新たに算出された補正率Jへと更新する。
The calculation process executed in S27 will be further described. The
J = Coeff4 × A 4 + Coeff3 × A 3 + Coeff2 × A 2 + Coeff1 × A + Coeff0 ・ ・ ・ (1)
B = (J + 1) x A ... (2)
N = M / B ... (3)
When the calibration process (see FIGS. 5 and 6) has not been executed in S17, the correction area B has the same value as the measurement area A in S27. Therefore, the equation (3) is substantially “N = M / A”. The correction factor J or the correction coefficient stored in the
続けて、プロセッサ71は、出力処理を実行する(S29)。出力処理は、S27で取得された単位面積質量Nを出力器60で出力させる処理である。実施形態では、単位面積質量Nと共に、補正面積B及び質量Mも出力される。プロセッサ71は、単位面積質量N、補正面積B及び質量Mの出力指令を出力器60に出力する。出力器60は、出力指令に従い、単位面積質量N、補正面積B及び質量Mを出力する。即ち、出力器60は、測定結果領域82に測定結果としての単位面積質量N、補正面積B及び質量Mを含むメイン画面80を表示する(図2下段参照)。S29を実行した後、プロセッサ71は、処理をS15に戻す。その後、プロセッサ71は、S15以降の処理を繰り返して実行する。メイン処理は、測定装置10の電源オフにより終了する。照射器50からの赤外線の照射は、測定装置10の電源オフまで継続される。
Subsequently, the
<キャリブレーション処理>
図4のS17で実行されるキャリブレーション処理について、図5及び図6を参照して説明する。キャリブレーション処理を開始させたプロセッサ71は、サブ画面90を表示させる(S31)。プロセッサ71は、サブ画面90の表示指令を出力器60に出力する。出力器60は、この表示指令に従い、サブ画面90を表示する(図3参照)。
<Calibration process>
The calibration process executed in S17 of FIG. 4 will be described with reference to FIGS. 5 and 6. The
次に、プロセッサ71は、第一サンプル指示を取得したか否かを判断する(S33)。操作者は、第一サンプルボタン92をタップする。但し、載置台20に第一サンプルがセットされておらず、プレビュー領域91に第一サンプルが表示されていないとする。この場合、操作者は、第一サンプルボタン92をタップするに際し、載置台20に第一サンプルを載せ置く。第一サンプルボタン92のタップが操作器65で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ71は、操作器65から第一サンプル指示を取得する。
Next, the
第一サンプル指示が取得されていない場合(S33:No)、プロセッサ71は、処理をS39に移行する。第一サンプル指示が取得された場合(S33:Yes)、プロセッサ71は、第一較正用撮像処理を実行する(S35)。第一較正用撮像処理は、次の較正用の撮像データを取得する処理である。実施形態では、前述の較正用の撮像データを「第一較正用撮像データ」という。第一較正用撮像データは、カメラ40によって撮像された第一サンプルの画像部分を含む画像データである。更に、第一較正用撮像データは、照射器50からの赤外線が載置台20上の第一サンプルで反射した赤外線画像に対応する画像データである。測定装置10では、第一較正用撮像データは、静止画の画像データである。S35でプロセッサ71は、撮像指令をカメラ40に出力する。カメラ40は、撮像指令に従い、撮像範囲R1を撮像する。プロセッサ71は、カメラ40によって撮像された撮像画像に対応する第一較正用撮像データを取得する。プロセッサ71は、第一較正用撮像データをメモリ73に記憶させる。
When the first sample instruction is not acquired (S33: No), the
続けて、プロセッサ71は、第一較正用面積処理を実行する(S37)。第一較正用面積処理は、S35で取得された第一較正用撮像データに含まれる第一サンプルの画像部分から第一サンプルに対応する領域の面積を取得する処理である。実施形態では、第一較正用面積処理によって取得される前述の面積を「第一較正用面積X1」という。第一較正用面積処理については、後述する。S37を実行した後、プロセッサ71は、処理をS33に戻す。その後、プロセッサ71は、S33以降の処理を繰り返して実行する。
Subsequently, the
S39でプロセッサ71は、第二サンプル指示を取得したか否かを判断する。操作者は、第二サンプルボタン93をタップする。但し、載置台20に第二サンプルがセットされておらず、プレビュー領域91に第二サンプルが表示されていないとする。この場合、操作者は、第二サンプルボタン93をタップするに際し、載置台20に第二サンプルを載せ置く。第二サンプルボタン93のタップが操作器65で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ71は、操作器65から第二サンプル指示を取得する。
In S39, the
第二サンプル指示が取得されていない場合(S39:No)、プロセッサ71は、処理をS45に移行する。第二サンプル指示が取得された場合(S39:Yes)、プロセッサ71は、第二較正用撮像処理を実行する(S41)。第二較正用撮像処理は、次の較正用の撮像データを取得する処理である。実施形態では、前述の較正用の撮像データを「第二較正用撮像データ」という。第二較正用撮像データは、カメラ40によって撮像された第二サンプルの画像部分を含む画像データである。更に、第二較正用撮像データは、照射器50からの赤外線が載置台20上の第二サンプルで反射した赤外線画像に対応する画像データである。測定装置10では、第二較正用撮像データは、静止画の画像データである。S41でプロセッサ71は、撮像指令をカメラ40に出力する。カメラ40は、撮像指令に従い、撮像範囲R1を撮像する。プロセッサ71は、カメラ40によって撮像された撮像画像に対応する第二較正用撮像データを取得する。プロセッサ71は、第二較正用撮像データをメモリ73に記憶させる。
If the second sample instruction has not been acquired (S39: No), the
続けて、プロセッサ71は、第二較正用面積処理を実行する(S43)。第二較正用面積処理は、S41で取得された第二較正用撮像データに含まれる第二サンプルの画像部分から第二サンプルに対応する領域の面積を取得する処理である。実施形態では、第二較正用面積処理によって取得される前述の面積を「第二較正用面積X2」という。第二較正用面積処理については、後述する。S43を実行した後、プロセッサ71は、処理をS33に戻す。その後、プロセッサ71は、S33以降の処理を繰り返して実行する。
Subsequently, the
S45でプロセッサ71は、第三サンプル指示を取得したか否かを判断する。操作者は、第三サンプルボタン94をタップする。但し、載置台20に第三サンプルがセットされておらず、プレビュー領域91に第三サンプルが表示されていないとする。この場合、操作者は、第三サンプルボタン94をタップするに際し、載置台20に第三サンプルを載せ置く。第三サンプルボタン94のタップが操作器65で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ71は、操作器65から第三サンプル指示を取得する。
In S45, the
第三サンプル指示が取得されていない場合(S45:No)、プロセッサ71は、処理を図6のS51に移行する。第三サンプル指示が取得された場合(S45:Yes)、プロセッサ71は、第三較正用撮像処理を実行する(S47)。第三較正用撮像処理は、次の較正用の撮像データを取得する処理である。実施形態では、前述の較正用の撮像データを「第三較正用撮像データ」という。第三較正用撮像データは、カメラ40によって撮像された第三サンプルの画像部分を含む画像データである。更に、第三較正用撮像データは、照射器50からの赤外線が載置台20上の第三サンプルで反射した赤外線画像に対応する画像データである。測定装置10では、第三較正用撮像データは、静止画の画像データである。S47でプロセッサ71は、撮像指令をカメラ40に出力する。カメラ40は、撮像指令に従い、撮像範囲R1を撮像する。プロセッサ71は、カメラ40によって撮像された撮像画像に対応する第三較正用撮像データを取得する。プロセッサ71は、第三較正用撮像データをメモリ73に記憶させる。
If the third sample instruction has not been acquired (S45: No), the
続けて、プロセッサ71は、第三較正用面積処理を実行する(S49)。第三較正用面積処理は、S47で取得された第三較正用撮像データに含まれる第三サンプルの画像部分から第三サンプルに対応する領域の面積を取得する処理である。実施形態では、第三較正用面積処理によって取得される前述の面積を「第三較正用面積X3」という。第三較正用面積処理については、後述する。S49を実行した後、プロセッサ71は、処理をS33に戻す。その後、プロセッサ71は、S33以降の処理を繰り返して実行する。
Subsequently, the
図6のS51でプロセッサ71は、第四サンプル指示を取得したか否かを判断する。操作者は、第四サンプルボタン95をタップする。但し、載置台20に第四サンプルがセットされておらず、プレビュー領域91に第四サンプルが表示されていないとする。この場合、操作者は、第四サンプルボタン95をタップするに際し、載置台20に第四サンプルを載せ置く。第四サンプルボタン95のタップが操作器65で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ71は、操作器65から第四サンプル指示を取得する。
In S51 of FIG. 6, the
第四サンプル指示が取得されていない場合(S51:No)、プロセッサ71は、処理をS57に移行する。第四サンプル指示が取得された場合(S51:Yes)、プロセッサ71は、第四較正用撮像処理を実行する(S53)。第四較正用撮像処理は、次の較正用の撮像データを取得する処理である。実施形態では、前述の較正用の撮像データを「第四較正用撮像データ」という。第四較正用撮像データは、カメラ40によって撮像された第四サンプルの画像部分を含む画像データである。更に、第四較正用撮像データは、照射器50からの赤外線が載置台20上の第四サンプルで反射した赤外線画像に対応する画像データである。測定装置10では、第四較正用撮像データは、静止画の画像データである。S53でプロセッサ71は、撮像指令をカメラ40に出力する。カメラ40は、撮像指令に従い、撮像範囲R1を撮像する。プロセッサ71は、カメラ40によって撮像された撮像画像に対応する第四較正用撮像データを取得する。プロセッサ71は、第四較正用撮像データをメモリ73に記憶させる。
If the fourth sample instruction has not been acquired (S51: No), the
続けて、プロセッサ71は、第四較正用面積処理を実行する(S55)。第四較正用面積処理は、S53で取得された第四較正用撮像データに含まれる第四サンプルの画像部分から第四サンプルに対応する領域の面積を取得する処理である。実施形態では、第四較正用面積処理によって取得される前述の面積を「第四較正用面積X4」という。第四較正用面積処理については、後述する。S55を実行した後、プロセッサ71は、処理を図5のS33に戻す。その後、プロセッサ71は、S33以降の処理を繰り返して実行する。
Subsequently, the
S57でプロセッサ71は、第五サンプル指示を取得したか否かを判断する。操作者は、第五サンプルボタン96をタップする。但し、載置台20に第五サンプルがセットされておらず、プレビュー領域91に第五サンプルが表示されていないとする。この場合、操作者は、第五サンプルボタン96をタップするに際し、載置台20に第五サンプルを載せ置く。第五サンプルボタン96のタップが操作器65で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ71は、操作器65から第五サンプル指示を取得する。
In S57, the
第五サンプル指示が取得されていない場合(S57:No)、プロセッサ71は、処理をS63に移行する。第五サンプル指示が取得された場合(S57:Yes)、プロセッサ71は、第五較正用撮像処理を実行する(S59)。第五較正用撮像処理は、次の較正用の撮像データを取得する処理である。実施形態では、前述の較正用の撮像データを「第五較正用撮像データ」という。第五較正用撮像データは、カメラ40によって撮像された第五サンプルの画像部分を含む画像データである。更に、第五較正用撮像データは、照射器50からの赤外線が載置台20上の第五サンプルで反射した赤外線画像に対応する画像データである。測定装置10では、第五較正用撮像データは、静止画の画像データである。S53でプロセッサ71は、撮像指令をカメラ40に出力する。カメラ40は、撮像指令に従い、撮像範囲R1を撮像する。プロセッサ71は、カメラ40によって撮像された撮像画像に対応する第五較正用撮像データを取得する。プロセッサ71は、第五較正用撮像データをメモリ73に記憶させる。
If the fifth sample instruction has not been acquired (S57: No), the
続けて、プロセッサ71は、第五較正用面積処理を実行する(S61)。第五較正用面積処理は、S59で取得された第五較正用撮像データに含まれる第五サンプルの画像部分から第五サンプルに対応する領域の面積を取得する処理である。実施形態では、第五較正用面積処理によって取得される前述の面積を「第五較正用面積X5」という。第五較正用面積処理については、後述する。S61を実行した後、プロセッサ71は、処理を図5のS33に戻す。その後、プロセッサ71は、S33以降の処理を繰り返して実行する。
Subsequently, the
S63でプロセッサ71は、補正係数指示を取得したか否かを判断する。操作者は、補正係数ボタン97をタップする。補正係数ボタン97のタップが操作器65で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ71は、操作器65から補正係数指示を取得する。
In S63, the
補正係数指示が取得されていない場合(S63:No)、プロセッサ71は、処理をS67に移行する。補正係数指示が取得された場合(S63:Yes)、プロセッサ71は、補正係数処理を実行する(S65)。補正係数処理は、第一差値、第二差値、第三差値、第四差値及び第五差値に応じた補正係数を算出する処理である。第一差値は、第一基準値(400mm2)と第一較正用面積X1の差である。第二差値は、第二基準値(1600mm2)と第二較正用面積X2の差である。第三差値は、第三基準値(3600mm2)と第三較正用面積X3の差である。第四差値は、第四基準値(6400mm2)と第四較正用面積X4の差である。第五差値は、第五基準値(10000mm2)と第五較正用面積X5の差である。補正係数処理では、ガウスの消去法により、図3のS27で用いられる4次の多項式の係数(上述の式(1)参照)が取得される。補正係数処理については、後述する。その後、プロセッサ71は、キャリブレーション処理を終了する。
When the correction coefficient instruction is not acquired (S63: No), the
S67でプロセッサ71は、リターン指示を取得したか否かを判断する。リターン指示が取得されていない場合(S67:No)、プロセッサ71は、処理を図5のS33に戻す。その後、プロセッサ71は、S33以降の処理を繰り返して実行する。リターン指示が取得された場合(S67:Yes)、プロセッサ71は、キャリブレーション処理を終了する。
In S67, the
<測定用面積処理>
図4のS25で実行される測定用面積処理について、図7を参照して説明する。測定用面積処理を開始させたプロセッサ71は、実測処理を実行する(S71)。上記で測定用面積処理にて取得されるとした測定用面積Aは、S71で実行される実測処理によって取得される。実測処理については、後述する。S71を実行した後、プロセッサ71は、実測処理で取得された測定用面積Aをメモリ73に記憶させる(S73)。その後、プロセッサ71は、測定用面積処理を終了する。
<Area processing for measurement>
The area processing for measurement executed in S25 of FIG. 4 will be described with reference to FIG. 7. The
<第一較正用面積処理>
図5のS37で実行される第一較正用面積処理について、図8を参照して説明する。第一較正用面積処理を開始させたプロセッサ71は、実測処理を実行する(S81)。上記で第一較正用面積処理にて取得されるとした第一較正用面積X1は、S81で実行される実測処理によって取得される。実測処理については、後述する。S81を実行した後、プロセッサ71は、実測処理で取得された第一較正用面積X1をメモリ73に記憶させる(S83)。その後、プロセッサ71は、第一較正用面積処理を終了する。
<Area processing for first calibration>
The first calibration area process performed in S37 of FIG. 5 will be described with reference to FIG. The
<第二較正用面積処理>
図5のS43で実行される第二較正用面積処理について、図9を参照して説明する。第二較正用面積処理を開始させたプロセッサ71は、実測処理を実行する(S91)。上記で第二較正用面積処理にて取得されるとした第二較正用面積X2は、S91で実行される実測処理によって取得される。実測処理については、後述する。S91を実行した後、プロセッサ71は、実測処理で取得された第二較正用面積X2をメモリ73に記憶させる(S93)。その後、プロセッサ71は、第二較正用面積処理を終了する。
<Area processing for second calibration>
The second calibration area process performed in S43 of FIG. 5 will be described with reference to FIG. The
<第三較正用面積処理>
図5のS49で実行される第三較正用面積処理について、図10を参照して説明する。第三較正用面積処理を開始させたプロセッサ71は、実測処理を実行する(S101)。上記で第三較正用面積処理にて取得されるとした第三較正用面積X3は、S101で実行される実測処理によって取得される。実測処理については、後述する。S101を実行した後、プロセッサ71は、実測処理で取得された第三較正用面積X3をメモリ73に記憶させる(S103)。その後、プロセッサ71は、第三較正用面積処理を終了する。
<Area processing for third calibration>
The third calibration area process performed in S49 of FIG. 5 will be described with reference to FIG. The
<第四較正用面積処理>
図6のS55で実行される第四較正用面積処理について、図11を参照して説明する。第四較正用面積処理を開始させたプロセッサ71は、実測処理を実行する(S111)。上記で第四較正用面積処理にて取得されるとした第四較正用面積X4は、S111で実行される実測処理によって取得される。実測処理については、後述する。S111を実行した後、プロセッサ71は、実測処理で取得された第四較正用面積X4をメモリ73に記憶させる(S113)。その後、プロセッサ71は、第四較正用面積処理を終了する。
<Fourth calibration area processing>
The fourth calibration area process performed in S55 of FIG. 6 will be described with reference to FIG. The
<第五較正用面積処理>
図6のS61で実行される第五較正用面積処理について、図12を参照して説明する。第五較正用面積処理を開始させたプロセッサ71は、実測処理を実行する(S121)。上記で第五較正用面積処理にて取得されるとした第五較正用面積X5は、S121で実行される実測処理によって取得される。実測処理については、後述する。S121を実行した後、プロセッサ71は、実測処理で取得された第五較正用面積X5をメモリ73に記憶させる(S123)。その後、プロセッサ71は、第五較正用面積処理を終了する。
<Area processing for fifth calibration>
The fifth calibration area process performed in S61 of FIG. 6 will be described with reference to FIG. The
<実測処理>
図7のS71、図8のS81、図9のS91、図10のS101、図11のS111及び図12のS121で実行される実測処理について、図13を参照して説明する。実施形態では、測定用撮像データ、第一較正用撮像データ、第二較正用撮像データ、第三較正用撮像データ、第四較正用撮像データ及び第五較正用撮像データを区別しない場合、又はこれらを総称する場合、単に「撮像データ」という。生地片15と基準試料17としての第一サンプル、第二サンプル、第三サンプル、第四サンプル及び第五サンプルを区別しない場合、又はこれらを総称する場合、「被検出物」という。測定用面積A、第一較正用面積X1、第二較正用面積X2、第三較正用面積X3、第四較正用面積X4及び第五較正用面積X5を区別しない場合、又はこれらを総称する場合、単に「面積」又は「被検出物の面積」という。
<Actual measurement processing>
The actual measurement processing executed in S71 of FIG. 7, S81 of FIG. 8, S91 of FIG. 9, S101 of FIG. 10, S111 of FIG. 11, and S121 of FIG. 12 will be described with reference to FIG. In the embodiment, when the imaging data for measurement, the imaging data for the first calibration, the imaging data for the second calibration, the imaging data for the third calibration, the imaging data for the fourth calibration and the imaging data for the fifth calibration are not distinguished, or these When generically referred to, it is simply referred to as "imaging data". When the
従って、実測処理が図7のS71で実行されている場合、実測処理の説明中、撮像データは、測定用撮像データを指す。この場合、実測処理で検出される領域は、測定用撮像データに含まれる生地片15の画像部分であり、面積は、測定用面積Aである。実測処理が図8のS81で実行されている場合、実測処理の説明中、撮像データは、第一較正用撮像データを指す。この場合、実測処理で検出される領域は、第一較正用撮像データに含まれる基準試料17としての第一サンプルの画像部分であり、面積は、第一較正用面積X1である。実測処理が図9のS91で実行されている場合、実測処理の説明中、撮像データは、第二較正用撮像データを指す。この場合、実測処理で検出される領域は、第二較正用撮像データに含まれる基準試料17としての第二サンプルの画像部分であり、面積は、第二較正用面積X2である。実測処理が図10のS101で実行されている場合、実測処理の説明中、撮像データは、第三較正用撮像データを指す。この場合、実測処理で検出される領域は、第三較正用撮像データに含まれる基準試料17としての第三サンプルの画像部分であり、面積は、第三較正用面積X3である。実測処理が図11のS111で実行されている場合、実測処理の説明中、撮像データは、第四較正用撮像データを指す。この場合、実測処理で検出される領域は、第四較正用撮像データに含まれる基準試料17としての第四サンプルの画像部分であり、面積は、第四較正用面積X4である。実測処理が図12のS121で実行されている場合、実測処理の説明中、撮像データは、第五較正用撮像データを指す。この場合、実測処理で検出される領域は、第五較正用撮像データに含まれる基準試料17としての第五サンプルの画像部分であり、面積は、第五較正用面積X5である。
Therefore, when the actual measurement process is executed in S71 of FIG. 7, the imaging data refers to the measurement imaging data in the explanation of the actual measurement process. In this case, the region detected by the actual measurement process is the image portion of the
実測処理を開始させたプロセッサ71は、撮像データを処理対象として、2値化処理を実行する(S131)。2値化処理は、撮像データを2値化する処理である。2値化処理により、撮像データは、白及び黒の2階調の画像データへと変換される。2値化処理は、既に実用化された公知の画像処理である。従って、S131に関するこの他の説明は、省略する。
The
続けて、プロセッサ71は、S131で処理済みの撮像データを処理対象として、クロージング処理を実行する(S133)。クロージング処理は、膨張処理を所定回数実行し、その後、膨張処理と同じ回数だけ収縮処理を繰り返す処理である。膨張処理は、白画素の周囲(上下左右)に隣接する黒画素を、白画素へと変換する処理である。収縮処理は、黒画素の周囲(上下左右)に隣接する白画素を、黒画素へと変換する処理である。クロージング処理、膨張処理及び収縮処理は、既に実用化された公知の画像処理である。従って、S133に関するこの他の説明は、省略する。
Subsequently, the
次に、プロセッサ71は、S133で処理済みの撮像データを処理対象として、ラベリング処理を実行する(S135)。ラベリング処理は、黒画素及び白画素にそれぞれ異なるラベルを付与する処理である。ラベリング処理によれば、撮像データに対応する撮像画像を形成する画素のうち、次の第一画素に次の第二画素とは異なるラベルが付される。第一画素は、撮像データに含まれる被検出物の画像部分を形成する画素である。被検出物が生地片15である場合を例とすると、第一画素は、後述する図15上段右側に示す第一態様のラベリング処理後の測定用撮像データにおける黒色の画像部分(前述の測定用撮像データで符号「15」を付した部分参照)を形成する。第二画素は、撮像データに含まれる被検出物を除く画像部分を形成する画素である。換言すれば、第二画素は、撮像データに対応する撮像画像を形成する画素のうち、第一画素以外の画素である。例えば、被検出物が素材自体を面積が基準値となる形状とした物である場合、第二画素は、撮像データに含まれる次の範囲の載置面22の画像部分を形成する画素である。前述の範囲は、撮像範囲R1のうち、被検出物によって被覆されず露出した状態の載置面22の範囲である。ラベリング処理は、既に実用化された公知の画像処理である。従って、S135に関するこの他の説明は、省略する。
Next, the
S135を実行した後、プロセッサ71は、被検出物の面積を取得する(S137)。上記では説明を省略したが、メイン処理のプログラムに含まれる実測処理のプログラムには、1画素当たりの面積値が登録されている。S137でプロセッサ71は、上述した第一画素の数を特定する。プロセッサ71は、特定された数と前述の面積値の積により、被検出物の面積を取得する。例えば、第一画素の数がC個で、1画素当たりの面積値がDmm2/画素であるとする。この場合、プロセッサ71は、「C×D」によって得られた値を被検出物の面積として取得する。その後、プロセッサ71は、実測処理を終了する。
After executing S135, the
<補正係数処理>
図6のS65で実行される補正係数処理について、図14を参照して説明する。補正係数処理を開始させたプロセッサ71は、メモリ73から第一較正用面積X1を取得する(S141)。第一較正用面積X1は、図8のS83でメモリ73に記憶される。続けて、プロセッサ71は、第一補正値Y1を取得する(S143)。第一補正値Y1は、次の式(4)により算出される。式(4)で値「400mm2」は、第一基準値の400mm2に対応する。プロセッサ71は、算出された値を第一補正値Y1として取得する。プロセッサ71は、第一補正値Y1をメモリ73に記憶させる。
Y1=(400-X1)/X1 ・・・(4)
S143を実行した後、プロセッサ71は、メモリ73から第二較正用面積X2を取得する(S145)。第二較正用面積X2は、図9のS93でメモリ73に記憶される。続けて、プロセッサ71は、第二補正値Y2を取得する(S147)。第二補正値Y2は、次の式(5)により算出される。式(5)で値「1600mm2」は、第二基準値の1600mm2に対応する。プロセッサ71は、算出された値を第二補正値Y2として取得する。プロセッサ71は、第二補正値Y2をメモリ73に記憶させる。
Y2=(1600-X2)/X2 ・・・(5)
S147を実行した後、プロセッサ71は、メモリ73から第三較正用面積X3を取得する(S149)。第三較正用面積X3は、図10のS103でメモリ73に記憶される。続けて、プロセッサ71は、第三補正値Y3を取得する(S151)。第三補正値Y3は、次の式(6)により算出される。式(6)で値「3600mm2」は、第三基準値の3600mm2に対応する。プロセッサ71は、算出された値を第三補正値Y3として取得する。プロセッサ71は、第三補正値Y3をメモリ73に記憶させる。
Y3=(3600-X3)/X3 ・・・(6)
S151を実行した後、プロセッサ71は、メモリ73から第四較正用面積X4を取得する(S153)。第四較正用面積X4は、図11のS113でメモリ73に記憶される。続けて、プロセッサ71は、第四補正値Y4を取得する(S155)。第四補正値Y4は、次の式(7)により算出される。式(7)で値「6400mm2」は、第四基準値の6400mm2に対応する。プロセッサ71は、算出された値を第四補正値Y4として取得する。プロセッサ71は、第四補正値Y4をメモリ73に記憶させる。
Y4=(6400-X4)/X4 ・・・(7)
S155を実行した後、プロセッサ71は、メモリ73から第五較正用面積X5を取得する(S157)。第五較正用面積X5は、図12のS123でメモリ73に記憶される。続けて、プロセッサ71は、第五補正値Y5を取得する(S159)。第五補正値Y5は、次の式(8)により算出される。式(8)で値「10000mm2」は、第五基準値の10000mm2に対応する。プロセッサ71は、算出された値を第五補正値Y5として取得する。プロセッサ71は、第五補正値Y5をメモリ73に記憶させる。
Y5=(10000-X5)/X5 ・・・(8)
次に、プロセッサ71は、補正係数を算出する(S161)。補正係数の算出には、ガウスの消去法が用いられる。ガウスの消去法では、行列Xの入力値として、第一較正用面積X1、第二較正用面積X2、第三較正用面積X3、第四較正用面積X4及び第五較正用面積X5が用いられ、行列Yの入力値として、第一補正値Y1、第二補正値Y2、第三補正値Y3、第四補正値Y4及び第五補正値Y5が用いられる。ここで、S161では、公知のプログラムにおける所定の関数が適宜用いられる。実施形態では、ガウスの消去法により、補正係数として、4次の配列が算出される。即ち、S161では、4次の補正係数が算出される。
<Correction coefficient processing>
The correction coefficient processing executed in S65 of FIG. 6 will be described with reference to FIG. The
Y1 = (400-X1) / X1 ... (4)
After executing S143, the
Y2 = (1600-X2) / X2 ... (5)
After executing S147, the
Y3 = (3600-X3) / X3 ... (6)
After executing S151, the
Y4 = (6400-X4) / X4 ... (7)
After executing S155, the
Y5 = (10000-X5) / X5 ... (8)
Next, the
続けて、プロセッサ71は、S161で算出された補正係数「Coeff[5]=xx[5]」をメモリ73に記憶させる(S163)。Coeff[5]は、補正係数として、[Coeff0,Coeff1,Coeff2,Coeff3,Coeff4](0次,1次,2次,3次,4次)を含む。行列xx[5]は、[Coeff0,Coeff1,Coeff2,Coeff3,Coeff4]に対応する値として、[xx0,xx1,xx2,xx3,xx4](0次,1次,2次,3次,4次)を格納する。S163を実行した後、プロセッサ71は、補正係数処理を終了する。
Subsequently, the
<実施例>
発明者は、今回、測定装置10に対応する測定装置を用いて、上述したキャリブレーション処理を実施した。そこで、これについて、説明する。基準試料17は、上述した第一サンプル、第二サンプル、第三サンプル、第四サンプル及び第五サンプルと同じとした。
<Example>
This time, the inventor carried out the above-mentioned calibration process using the measuring device corresponding to the measuring
第一サンプル(第一基準値:400mm2)を対象とした第一較正用面積処理(図8参照)では、S81の実測処理にて、第一較正用面積X1「389.6mm2」が取得され(図13のS137参照)、第一較正用面積X1として前述の値が記憶された(図8のS83参照)。 In the first calibration area processing (see FIG. 8) for the first sample (first reference value: 400 mm 2 ), the first calibration area X1 "389.6 mm 2 " was acquired by the actual measurement processing of S81. (See S137 in FIG. 13), and the above-mentioned value was stored as the first calibration area X1 (see S83 in FIG. 8).
第二サンプル(第二基準値:1600mm2)を対象とした第二較正用面積処理(図9参照)では、S91の実測処理にて、第二較正用面積X2「1588.9mm2」が取得され(図13のS137参照)、第二較正用面積X2として前述の値が記憶された(図9のS93参照)。 In the second calibration area processing (see FIG. 9) for the second sample (second reference value: 1600 mm 2 ), the second calibration area X2 "1588.9 mm 2 " was acquired by the actual measurement processing of S91. (See S137 in FIG. 13), and the above-mentioned value was stored as the second calibration area X2 (see S93 in FIG. 9).
第三サンプル(第三基準値:3600mm2)を対象とした第三較正用面積処理(図10参照)では、S101の実測処理にて、第三較正用面積X3「3599.5mm2」が取得され(図13のS137参照)、第三較正用面積X3として前述の値が記憶された(図10のS103参照)。 In the third calibration area processing (see FIG. 10) for the third sample (third reference value: 3600 mm 2 ), the third calibration area X3 "3599.5 mm 2 " was acquired by the actual measurement processing of S101. (See S137 in FIG. 13), and the above-mentioned value was stored as the third calibration area X3 (see S103 in FIG. 10).
第四サンプル(第四基準値:6400mm2)を対象とした第四較正用面積処理(図11参照)では、S111の実測処理にて、第四較正用面積X4「6374.8mm2」が取得され(図13のS137参照)、第四較正用面積X4として前述の値が記憶された(図11のS113参照)。 In the fourth calibration area processing (see FIG. 11) for the fourth sample (fourth reference value: 6400 mm 2 ), the fourth calibration area X4 "6374.8 mm 2 " was acquired by the actual measurement processing of S111. (See S137 in FIG. 13), and the above-mentioned value was stored as the fourth calibration area X4 (see S113 in FIG. 11).
第五サンプル(第五基準値:10000mm2)を対象とした第五較正用面積処理(図12参照)では、S121の実測処理にて、第五較正用面積X5「9975.9mm2」が取得され(図13のS137参照)、第五較正用面積X5として前述の値が記憶された(図12のS123参照)。 In the fifth calibration area processing (see FIG. 12) for the fifth sample (fifth reference value: 10000 mm 2 ), the fifth calibration area X5 "9975.9 mm 2 " was acquired by the actual measurement processing of S121. (See S137 in FIG. 13), and the above-mentioned value was stored as the fifth calibration area X5 (see S123 in FIG. 12).
補正係数処理(図14)では、第一補正値Y1、第二補正値Y2、第三補正値Y3、第四補正値Y4及び第五補正値Y5として、次の各値が取得された。即ち、S143では、上述の式(4)から第一補正値Y1「0.026694045」が取得された。第一差値(400-X1)は、10.4mm2であった。S147では、上述の式(5)から、第二補正値Y2「0.006985965」が取得された。第二差値(1600-X2)は、11.1mm2であった。S151では、上述の式(6)から、第三補正値Y3「0.000138908」が取得された。第三差値(3600-X3)は、0.5mm2であった。S155では、上述の式(7)から、第四補正値Y4「0.003953065」が取得された。第四差値(6400-X4)は、25.2mm2であった。S159では、上述の式(8)から、第五補正値Y5「0.002415822」が取得された。第五差値(10000-X5)は、24.1mm2であった。 In the correction coefficient processing (FIG. 14), the following values were acquired as the first correction value Y1, the second correction value Y2, the third correction value Y3, the fourth correction value Y4, and the fifth correction value Y5. That is, in S143, the first correction value Y1 "0.026694045" was obtained from the above equation (4). The first difference value (400-X1) was 10.4 mm 2 . In S147, the second correction value Y2 "0.006985965" was obtained from the above equation (5). The second difference value (1600-X2) was 11.1 mm 2 . In S151, the third correction value Y3 "0.0001388908" was obtained from the above equation (6). The third difference value (3600-X3) was 0.5 mm 2 . In S155, the fourth correction value Y4 "0.003953065" was obtained from the above equation (7). The fourth difference value (6400-X4) was 25.2 mm 2 . In S159, the fifth correction value Y5 "0.002415822" was obtained from the above equation (8). The fifth difference value (10000-X5) was 24.1 mm 2 .
補正係数処理では、このような各値によるガウスの消去法によって、次のような補正係数が算出され、算出された補正係数が記憶された(図14のS161,S163参照)。この場合、上述した式(1)は、次の式(9)となる。
Coeff0=0.0372790078891326000000000
Coeff1=0.0000303485836542386000000
Coeff2=0.0000000085293095598340900
Coeff3=0.0000000000009581917945669
Coeff4=0.0000000000000000373938979
J=0.0000000000000000373938979×A4+0.0000000000009581917945669×A3+0.0000000085293095598340900×A2+0.0000303485836542386000000×A+0.0372790078891326000000000 ・・・(9)
<実施形態の効果>
実施形態によれば、次のような効果を得ることができる。
In the correction coefficient processing, the following correction coefficients were calculated by the Gauss-Jordan elimination method using each of these values, and the calculated correction coefficients were stored (see S161 and S163 in FIG. 14). In this case, the above-mentioned equation (1) becomes the following equation (9).
Coeff0 = 0.0372790078891326000000000
Coeff1 = 0.0000303485836542386000000
Coeff2 = 0.0000000085293095598340900
Coeff3 = 0.0000000000009581917945669
Coeff4 = 0.0000000000000000373938979
J = 0.0000000000000000373938979 × A 4 +0.0000000000009581917945669 × A 3 +0.0000000085293095598340900 × A 2 +0.0000303485836542386000000 × A + 0.0372790078891326000000000 ・ ・ ・ (9)
<Effect of embodiment>
According to the embodiment, the following effects can be obtained.
(1)測定装置10は、載置台20と、質量計30と、カメラ40と、出力器60と、制御器70を備える(図1参照)。制御器70は、プロセッサ71を含む。測定装置10では、プロセッサ71がメイン処理(図4参照)を実行する。メイン処理では、プロセッサ71は、質量処理と、測定用撮像処理と、測定用面積処理と、算出処理と、出力処理を実行する(図4のS21~S29参照)。即ち、質量処理でプロセッサ71は、質量計30によって測定された生地片15の質量Mを取得する。測定用撮像処理でプロセッサ71は、カメラ40によって撮像された生地片15の画像部分を含む測定用撮像データを取得する。測定用面積処理でプロセッサ71は、測定用撮像データに含まれる生地片15の画像部分から生地片15に対応する領域の測定用面積Aを取得する(図7のS71及び図13のS137参照)。算出処理でプロセッサ71は、質量Mと測定用面積Aにより単位面積質量Nを算出する。出力処理でプロセッサ71は、単位面積質量Nを出力器60で出力させる。
(1) The measuring
そのため、生地片15の単位面積質量Nを測定し、測定結果としてこれを出力することができる。即ち、出力器60は、メイン画面80の測定結果領域82に単位面積質量Nを表示することができる(図2下段参照)。測定用撮像データに含まれる生地片15の画像部分から生地片15に対応する領域の測定用面積Aを取得することで、生地片15の形状に関わらず、単位面積質量Nを測定することができる。例えば、単位面積質量Nを測定するに際し、生地から生地片15を予め定めた形状に裁断する必要がない。例えば、生地の製造時又は生地製の所定の製品の製造時、製造現場で、製品又は素材としての生地の単位面積質量Nをスムーズに測定することができる。
Therefore, the unit area mass N of the
(2)測定装置10は、収容室45と、照射器50を備える(図1参照)。収容室45は、カメラ40を収容する。収容室45の底面には、赤外線透過フィルタ47が設けられる。カメラ40が収容室45に収容された状態で、赤外線透過フィルタ47は、載置台20とカメラ40の間に設けられる。照射器50は、撮像範囲R1に赤外線を照射する。カメラ40は、赤外線に対する感度を有するイメージセンサを含む。カメラ40は、照射器50から赤外線が照射され且つ生地片15で照射器50からの赤外線が反射している状態で、生地片15を撮像する。この場合、プロセッサ71は、生地片15で反射した赤外線による生地片15の画像部分を含む測定用撮像データを取得する(図4のS23参照)。
(2) The measuring
そのため、生地片15の画像部分を安定的に検出することができる。測定用面積Aの精度を向上させることができる。実施形態の生地片15とは異なり、生地片が次のような模様の生地の一部であるとする。前述の模様は、例えば、載置面22と同一色の所定の形状を有する図形が生地の全体に複数配置された模様である。このような模様としては、載置面22と同一色の複数の水玉が適宜配置された水玉模様が例示される。前述の水玉模様を例として説明する。単位面積質量Nの測定に際し、水玉模様の生地を切り取り生地片を形成する場合、生地の切断位置が水玉上となることがある。生地片の撮像に可視光を用いる場合、この撮像による撮像データに対応する可視光画像では、背景色(載置面22の色)と生地片の外縁における切断された水玉の部分の色が同一色となる。その結果、生地片の画像部分を適切に検出できない、又は前述の検出に特別な画像解析が必要となる、といったことが考えられる。これに対して、生地片の撮像に赤外線を用いた測定用撮像データでは、生地片の画像部分における水玉模様の影響はなくなり又は低下する。その結果、背景(載置面22)と生地片の画像部分の境界が安定し、背景から生地片の画像部分を区別することができる。生地の模様に合わせて載置台20を変更するといった作業は、不要となる。収容室45を、底面の赤外線透過フィルタ47を除く部分が遮光された構造とすることで、測定装置10が設置される環境の可視光等に影響されることなく、カメラ40で赤外線を撮像することができる。
Therefore, the image portion of the
発明者は、図13のS135でのラベリング処理により特定される生地片15の画像部分を、次の第一態様及び第二態様で比較した。第一態様では、照射器50は、撮像範囲R1に赤外線を照射する。第一態様の測定装置は、測定装置10に対応する。測定用撮像データは、生地片15で反射した赤外線による生地片15の画像部分を含む(図15上段左側に示す「測定用面積処理前」参照)。第二態様では、照射器として、可視光LEDを採用し、照射器は、撮像範囲R1に可視光を照射する。第二態様の測定装置では、赤外線透過フィルタ47は、省略される。測定用撮像データは、生地片15で反射した可視光による生地片15の画像部分を含む(図15下段左側に示す「測定用面積処理前」参照)。第一態様及び第二態様では、この他の条件は、同じとした。
The inventor compared the image portions of the
第一態様では、ラベリング処理によって特定される生地片15の画像部分の外縁は、測定用面積処理(図7参照)前の測定用撮像データに含まれる生地片15の画像部分の外縁と同等である(図15上段参照)。即ち、第一態様では、生地片15の実際の形状と同等又はこれに近似した生地片15の画像部分を検出できる。第二態様では、ラベリング処理によって特定される生地片15の画像部分の外縁は、第一態様と比較すると、測定用面積処理前の測定用撮像データに含まれる生地片15の画像部分の外縁と相違する(図15下段参照)。このような結果から、発明者は、測定装置の仕様の決定には、次の点を考慮するとよいと考える。即ち、発明者は、製造現場で、製品又は素材としての生地の単位面積質量Nを高精度に測定する必要がある場合、第一態様の測定装置に対応する測定装置10を採用することが好ましいと考える。これに対して、発明者は、例えば、製造現場での単位面積質量Nの測定が簡易的である場合、第二態様の測定装置を採用可能であると考える。図15で、次の各枠内に一点鎖線で示す矩形枠は、説明用の図示である。前述の各枠は、第一態様のラベリング処理後の測定用撮像データを含む枠と、第二態様のラベリング処理後の測定用撮像データを含む枠である。即ち、第一態様の一点鎖線で示す矩形枠は、第一態様の測定用面積処理前の測定用撮像データの図示範囲に対応し、第一態様のラベリング処理後の測定用撮像データを含む枠内の背景と、この測定用撮像データに含まれる載置面22の境界線である。第二態様の一点鎖線で示す矩形枠は、第二態様の測定用面積処理前の測定用撮像データの図示範囲に対応し、第二態様のラベリング処理後の測定用撮像データを含む枠内の背景と、この測定用撮像データに含まれる載置面22の境界線である。
In the first aspect, the outer edge of the image portion of the
(3)測定装置10では、プロセッサ71がキャリブレーション処理(図5及び図6参照)を実行する。キャリブレーション処理が実行される場合、載置台20には、基準試料17が載せ置かれ、カメラ40は、基準試料17を撮像する(図3参照)。キャリブレーション処理では、プロセッサ71は、第一較正用撮像処理及び第一較正用面積処理と、第二較正用撮像処理及び第二較正用面積処理と、第三較正用撮像処理及び第三較正用面積処理と、第四較正用撮像処理及び第四較正用面積処理と、第五較正用撮像処理及び第五較正用面積処理と、補正係数処理を実行する(図5のS35,S37,S41,S43,S47,S49及び図6のS53,S55,S59,S61,S65参照)。
(3) In the measuring
第一較正用撮像処理でプロセッサ71は、カメラ40によって撮像された基準試料17としての第一サンプルの画像部分を含む第一較正用撮像データを取得する。第一較正用面積処理でプロセッサ71は、第一較正用撮像データに含まれる第一サンプルの画像部分から第一サンプルに対応する領域の第一較正用面積X1を取得する(図8のS81及び図13のS137参照)。第二較正用撮像処理でプロセッサ71は、カメラ40によって撮像された基準試料17としての第二サンプルの画像部分を含む第二較正用撮像データを取得する。第二較正用面積処理でプロセッサ71は、第二較正用撮像データに含まれる第二サンプルの画像部分から第二サンプルに対応する領域の第二較正用面積X2を取得する(図9のS91及び図13のS137参照)。第三較正用撮像処理でプロセッサ71は、カメラ40によって撮像された基準試料17としての第三サンプルの画像部分を含む第三較正用撮像データを取得する。第三較正用面積処理でプロセッサ71は、第三較正用撮像データに含まれる第三サンプルの画像部分から第三サンプルに対応する領域の第三較正用面積X3を取得する(図10のS101及び図13のS137参照)。第四較正用撮像処理でプロセッサ71は、カメラ40によって撮像された基準試料17としての第四サンプルの画像部分を含む第四較正用撮像データを取得する。第四較正用面積処理でプロセッサ71は、第四較正用撮像データに含まれる第四サンプルの画像部分から第四サンプルに対応する領域の第四較正用面積X4を取得する(図11のS111及び図13のS137参照)。第五較正用撮像処理でプロセッサ71は、カメラ40によって撮像された基準試料17としての第五サンプルの画像部分を含む第五較正用撮像データを取得する。第五較正用面積処理でプロセッサ71は、第五較正用撮像データに含まれる第五サンプルの画像部分から第五サンプルに対応する領域の第五較正用面積X5を取得する(図12のS121及び図13のS137参照)。
In the first calibration imaging process, the
補正係数処理でプロセッサ71は、第一差値、第二差値、第三差値、第四差値及び第五差値に応じた補正係数を算出する(図14のS161参照)。第一差値は、第一サンプルの第一基準値(400mm2)と第一較正用面積X1の差である。第二差値は、第二サンプルの第二基準値(1600mm2)と第二較正用面積X2の差である。第三差値は、第三サンプルの第三基準値(3600mm2)と第三較正用面積X3の差である。第四差値は、第四サンプルの第四基準値(6400mm2)と第四較正用面積X4の差である。第五差値は、第五サンプルの第五基準値(10000mm2)と第五較正用面積X5の差である。即ち、補正係数処理でプロセッサ71は、第一差値に応じた第一補正値Y1と、第二差値に応じた第二補正値Y2と、第三差値に応じた第三補正値Y3と、第四差値に応じた第四補正値Y4と、第五差値に応じた第五補正値Y5を取得する(図13のS143,S147,S151,S155,S159参照)。次に、プロセッサ71は、第一較正用面積X1、第二較正用面積X2、第三較正用面積X3、第四較正用面積X4及び第五較正用面積X5を行列Xの入力値とし、第一補正値Y1、第二補正値Y2、第三補正値Y3、第四補正値Y4及び第五補正値Y5を行列Yの入力値とした、ガウスの消去法を実行し、補正係数を算出する(図14のS161参照)。
In the correction coefficient processing, the
そのため、測定用面積Aを補正係数によって補正することができる。メイン処理の算出処理(図4のS27参照)でプロセッサ71は、質量Mを補正面積Bで除した単位面積質量Nを算出する。補正面積Bは、ガウスの消去法により算出された補正係数を含む補正率Jによって測定用面積Aを補正した面積である。測定装置10では、補正率Jは、4次の多項式近似曲線である。測定装置10で、単位面積質量Nの測定精度を向上させることができる。このことは、上述した第二態様の測定装置でも、同様である。即ち、上述した第二態様の測定装置でキャリブレーション処理を実行することで、第二態様の測定装置でも、前述の効果を得ることができる。
Therefore, the measurement area A can be corrected by the correction coefficient. In the calculation process of the main process (see S27 in FIG. 4), the
<変形例>
実施形態は、次のようにすることもできる。以下に示す変形例のうちの幾つかの構成は、適宜組み合わせて採用することもできる。以下では、上記とは異なる点を説明することとし、同様の点についての説明は、適宜省略する。
<Modification example>
The embodiment can also be as follows. Some of the configurations shown in the following modifications can be adopted in combination as appropriate. In the following, points different from the above will be described, and description of the same points will be omitted as appropriate.
(1)測定装置10は、収容室45を備える(図1参照)。カメラ40は、収容室45に収容される。収容室45の底面には、赤外線透過フィルタ47が設けられる。測定装置では、収容室45は、省略してもよい。赤外線透過フィルタは、カメラ40のレンズ部に直接装着してもよい。このような構成によっても、測定装置では、載置台20とカメラ40の間に赤外線透過フィルタを設けることができる。上述の測定装置10と同様、測定装置が設置される環境の可視光等に影響されることなく、カメラ40で赤外線を撮像することができる。
(1) The measuring
(2)測定装置10は、カメラ40と、赤外線透過フィルタ47を備える(図1参照)。測定装置では、カメラとして、赤外線カメラを採用してもよい。測定装置で採用可能な前述の赤外線カメラは、暗視カメラとも称されるカメラであり、温度測定用のサーモグラフィと称されるカメラは、含まない。この場合、測定装置10でカメラ40とは別体で設けられた赤外線透過フィルタ47は、省略してもよい。
(2) The measuring
(3)測定装置10では、出力器60として、表示器を採用する(図1参照)。出力器は、表示器とは異なる機器としてもよい。例えば、出力器は、プリンタであってもよい。この場合、メイン処理(図4参照)のS29で実行される出力処理では、単位面積質量Nは、所定の用紙に印刷される。また、出力器は、スピーカであってもよい。この場合、前述の出力処理では、単位面積質量Nは、音声出力される。この他、出力器は、表示器、プリンタ及びスピーカのうちの2個以上の機器を含むものであってもよい。
(3) In the measuring
(4)基準試料17として、第一サンプル、第二サンプル、第三サンプル、第四サンプル及び第五サンプルを例示した。この場合、サブ画面90は、第一サンプルボタン92と、第二サンプルボタン93と、第三サンプルボタン94と、第四サンプルボタン95と、第五サンプルボタン96を含む(図3参照)。キャリブレーション処理は、前述の5種類の基準試料17に対応させた形式となる(図5及び図6参照)。即ち、キャリブレーション処理は、S33~S37と、S39~S43と、S45~S49と、S51~S55と、S57~S61を含み、図6のS65で実行される補正係数処理は、S141及びS143と、S145及びS147と、S149及びS151と、S153及びS155と、S157及びS159を含む(図14参照)。S33~S37、S141及びS143は、第一サンプルに対応する。S39~S43、S145及びS147は、第二サンプルに対応する。S45~S49、S149及びS151は、第三サンプルに対応する。S51~S55、S153及びS155は、第四サンプルに対応する。S57~S61、S157及びS159は、第五サンプルに対応する。図14のS161では、第一較正用面積X1、第二較正用面積X2、第三較正用面積X3、第四較正用面積X4及び第五較正用面積X5を行列Xの入力値とし、且つ第一補正値Y1、第二補正値Y2、第三補正値Y3、第四補正値Y4及び第五補正値Y5を行列Yの入力値としたガウスの消去法が実行される。
(4) As the
第一サンプル、第二サンプル、第三サンプル、第四サンプル及び第五サンプルとは異なるサンプルを、基準試料17として採用してもよい。基準試料17としてのサンプルは、例えば、3種類若しくは4種類、又は6種類以上としてもよい。キャリブレーション処理では、S33~S37とS39~S43とS45~S49とS51~S55とS57~S61のそれぞれと同様の一連の処理が、基準試料17の数だけ繰り返される。補正係数処理では、S141及びS143とS145及びS147とS149及びS151とS153及びS155とS157及びS159のそれぞれと同様の一連の処理が、基準試料17の数だけ繰り返される。また、S161で実行されるガウスの消去法では、基準試料17の数に一致する数の較正用面積が行列Xの入力値とされ、基準試料17の数に一致する数の補正値が行列Yの入力値とされる。
A sample different from the first sample, the second sample, the third sample, the fourth sample and the fifth sample may be adopted as the
基準試料17を、第一サンプル、第二サンプル及び第三サンプルの3種類とした場合を例として説明する。キャリブレーション処理では、S51~S61は、省略される。プロセッサ71は、S45が否定された場合(図5のS45:No参照)、処理を図6のS63に移行する。補正係数処理では、S153~S159は、省略される。S161でプロセッサ71は、第一較正用面積X1、第二較正用面積X2及び第三較正用面積X3を行列Xの入力値とし、且つ第一補正値Y1、第二補正値Y2及び第三補正値Y3を行列Yの入力値として、ガウスの消去法を実行し、補正係数を算出する。このような場合についても、ガウスの消去法により、4次の補正係数を算出することが可能である。但し、補正係数は、4次とは異なる次数としてもよい。補正係数の次数は、諸条件を考慮して適宜決定される。
The case where the
(5)測定装置10では、単位面積質量Nの測定中、載置台20上で撮像範囲R1内に、測定対象外の異物が生地片15と共に存在することが想定される。この場合、測定用撮像データは、生地片15の画像部分と共に、前述の異物の画像部分を含む。メイン処理(図4参照)のS25で実行される測定用面積処理では、次のような処理を実行するとよい。即ち、図7のS71で実行される実測処理(図13参照)では、S135のラベリング処理により、生地片15の画像部分を形成する画素と、異物の画像部分を形成する画素に対して異なるラベルが付される。但し、異物は、生地片15より小さいと想定される。異物が生地片15より大きい場合、操作者は、異物に気が付くと考えられる。従って、S137でプロセッサ71は、前述の各画素のうち、画素数が多いラベルが付された画素(上述の「第一画素」参照)を対象として、その数を特定する。これにより、生地片15の単位面積質量Nをスムーズに測定することができる。この場合、異物の画像部分を形成する画素は、上述の第二画素となる。
(5) In the measuring
(6)基準試料17としては、赤外線を反射する素材自体を面積が基準値となる形状とした試料を採用できる(図2参照)。この他、基準試料17は、面積が基準値に設定された図形を面積が基準値より大きな素材に表現した態様としてもよい。基準試料17となる前述の図形の表現方法としては、印刷が例示される。この場合、撮像範囲R1内で、基準試料17となる前述の図形が表現された領域とこれ以外の領域では、上記の基準試料17と載置面22の場合と同様、赤外線反射率、赤外線吸収率及び赤外線透過率の何れか又は全部が異なる状態とするとよい。例えば、基準試料17となる前述の図形の部分は、撮像範囲R1内に配置されることとなるこの図形が表現されていない領域より赤外線を反射する状態とすることができる。前述の図形が表現されていない領域は、図形が表現された素材の面積が撮像範囲R1より大きい場合、図形が表現されていない素材の領域であり、図形が表現された素材の面積が撮像範囲R1より小さい場合、図形が表現されていない素材の領域と載置面22を含む領域である。基準試料17を、面積が基準値より大きな素材に面積が基準値に設定された図形を表現した態様とする場合、図8のS81、図9のS91、図10のS101、図11のS111及び図12のS121で実行される実測処理(図13参照)では、プロセッサ71は、面積が第一基準値、第二基準値、第三基準値、第四基準値及び第五基準値に設定された前述の各図形の部分を被検出物とし、これの面積を上記同様に取得する(図13のS137参照)。
(6) As the
(7)測定装置10は、単位面積質量Nを測定する。メイン画面80は、測定結果領域82を含み、単位面積質量N、補正面積B及び質量Mが測定結果領域82に出力される(図2下段参照)。測定装置10では、生地片15の経糸及び緯糸の糸交差角度を測定し、これを出力するようにしてもよい。また、測定装置10では、生地片15の単位長さ当たりの緯糸本数及び経糸本数を測定し、これらを出力するようにしてもよい。糸交差角度、経糸本数及び緯糸本数の測定には、上述した特許文献1に開示の処理アルゴリズムを採用できる。従って、糸交差角度、経糸本数及び緯糸本数の測定に関する説明は、省略する。
(7) The measuring
10 測定装置、 15 生地片、 17 基準試料、 20 載置台
22 載置面、 30 質量計、 40 カメラ、 45 収容室
47 赤外線透過フィルタ、 50 照射器、 60 出力器、 65 操作器
70 制御器、 71 プロセッサ、 72 ストレージ、 73 メモリ
74 接続インターフェース(接続I/F)、 80 メイン画面
81 プレビュー領域、 82 測定結果領域、 83 キャリブレーションボタン
90 サブ画面、 91 プレビュー領域、 92 第一サンプルボタン
93 第二サンプルボタン、 94 第三サンプルボタン
95 第四サンプルボタン、 96 第五サンプルボタン、 97 補正係数ボタン
98 戻るボタン、 A 測定用面積、 B 補正面積、 M 質量
N 単位面積質量、 R1 撮像範囲、 R2 照明範囲、 X1 第一較正用面積
X2 第二較正用面積、 X3 第三較正用面積、 X4 第四較正用面積
X5 第五較正用面積
10 Measuring device, 15 Fabric piece, 17 Reference sample, 20 Mounting table 22 Mounting surface, 30 Mass scale, 40 Camera, 45
Claims (5)
前記載置台に載せ置かれた前記生地片の質量を測定する質量計と、
前記載置台に載せ置かれた前記生地片を撮像するカメラと、
前記カメラによる撮像範囲に赤外線を照射する照射器と、
前記生地片の単位面積当たりの質量を示す単位面積質量を出力する出力器と、
プロセッサと、を備え、
前記プロセッサは、
前記質量計によって測定された前記生地片の質量を取得する質量処理と、
前記カメラによって撮像された前記生地片の画像部分を含む測定用の撮像データを取得する測定用撮像処理と、
前記測定用撮像処理で取得された前記測定用の撮像データに含まれる前記生地片の画像部分から前記生地片に対応する領域の測定用面積を取得する測定用面積処理と、
前記質量処理で取得された前記生地片の質量と、前記測定用面積処理で取得された前記測定用面積と、により前記単位面積質量を算出する算出処理と、
前記算出処理で取得された前記単位面積質量を前記出力器で出力させる出力処理と、を実行し、
前記カメラは、
赤外線に対する感度を有するイメージセンサを含み、
前記照射器から赤外線が照射されている状態で撮像し、
前記測定用撮像処理は、前記生地片で反射した赤外線による前記生地片の画像部分を含む前記測定用の撮像データを取得する処理である、測定装置。 A place to put a piece of dough and
A mass meter that measures the mass of the dough piece placed on the above-mentioned stand, and
A camera that captures the above-mentioned piece of fabric placed on the above-mentioned stand, and
An irradiator that irradiates the imaging range of the camera with infrared rays,
An output device that outputs a unit area mass indicating the mass per unit area of the cloth piece, and
With a processor,
The processor
Mass processing to obtain the mass of the dough piece measured by the mass meter, and
A measurement imaging process for acquiring imaging data for measurement including an image portion of the fabric piece imaged by the camera, and a measurement imaging process.
Measurement area processing for acquiring a measurement area of a region corresponding to the fabric piece from an image portion of the fabric piece included in the measurement imaging data acquired by the measurement imaging process.
A calculation process for calculating the unit area mass by the mass of the dough piece acquired by the mass treatment and the measurement area acquired by the measurement area process.
The output process of outputting the unit area mass acquired by the calculation process to the output device is executed .
The camera
Including an image sensor with sensitivity to infrared rays, including
An image was taken in a state where infrared rays were emitted from the irradiator.
The measurement imaging process is a process for acquiring image pickup data for measurement including an image portion of the fabric piece by infrared rays reflected by the fabric piece .
前記カメラは、前記載置台に載せ置かれた前記基準試料を撮像し、
前記プロセッサは、
前記カメラによって撮像された前記基準試料の画像部分を含む較正用の撮像データを取得する較正用撮像処理と、
前記較正用撮像処理で取得された前記較正用の撮像データに含まれる前記基準試料の画像部分から前記基準試料に対応する領域の較正用面積を取得する較正用面積処理と、
前記基準値と、前記較正用面積処理で取得された前記較正用面積と、の差に応じた補正係数を算出する補正係数処理と、を実行し、
前記較正用撮像処理は、前記基準試料で反射した赤外線による前記基準試料の画像部分を含む前記較正用の撮像データを取得する処理であり、
前記算出処理は、前記質量処理で取得された前記生地片の質量を、前記測定用面積処理で取得された前記測定用面積を前記補正係数処理で算出された前記補正係数によって補正した補正面積で除した前記単位面積質量を算出する処理である、請求項1から請求項4の何れか1項に記載の測定装置。 A reference sample whose area is set to the reference value is placed on the above-mentioned stand.
The camera takes an image of the reference sample placed on the above-mentioned table.
The processor
A calibration imaging process for acquiring calibration imaging data including an image portion of the reference sample imaged by the camera, and a calibration imaging process.
Calibration area processing for acquiring a calibration area of a region corresponding to the reference sample from an image portion of the reference sample included in the calibration imaging data acquired in the calibration imaging process.
The correction coefficient processing for calculating the correction coefficient according to the difference between the reference value and the calibration area acquired in the calibration area processing is executed.
The calibration imaging process is a process for acquiring imaging data for calibration including an image portion of the reference sample due to infrared rays reflected by the reference sample.
In the calculation process, the mass of the dough piece acquired by the mass process is corrected by the correction coefficient calculated by the correction coefficient process for the measurement area acquired by the measurement area process. The measuring device according to any one of claims 1 to 4, which is a process of calculating the divided unit area mass.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018028437A JP7054634B2 (en) | 2018-02-21 | 2018-02-21 | measuring device |
CN201910126155.2A CN110186802B (en) | 2018-02-21 | 2019-02-20 | Measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018028437A JP7054634B2 (en) | 2018-02-21 | 2018-02-21 | measuring device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019144105A JP2019144105A (en) | 2019-08-29 |
JP7054634B2 true JP7054634B2 (en) | 2022-04-14 |
Family
ID=67713616
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018028437A Active JP7054634B2 (en) | 2018-02-21 | 2018-02-21 | measuring device |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7054634B2 (en) |
CN (1) | CN110186802B (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113447104B (en) * | 2021-06-25 | 2023-03-31 | 成都理工大学 | Method for measuring fresh weight of miniature aquatic organisms, miniature device and application |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001228142A (en) | 2000-02-18 | 2001-08-24 | Nippon Paper Industries Co Ltd | Method for inspecting quality of cut surface of paper |
JP2003214827A (en) | 2002-01-29 | 2003-07-30 | Ohbayashi Corp | Method for measuring craze by image processing |
JP2006521544A (en) | 2003-03-27 | 2006-09-21 | マーロ ゲーエムベーハ ウント ツェーオー. カーゲー | Method for inspecting the quality criteria of a flat fabric structure embodied in a multi-layer format according to contours |
JP2008542570A (en) | 2005-06-03 | 2008-11-27 | ザ プロクター アンド ギャンブル カンパニー | Fabric of molded fiber |
CN201532241U (en) | 2009-09-24 | 2010-07-21 | 常州市开天纺织印染有限公司 | Full-automatic textile weighing instrument |
WO2011122277A1 (en) | 2010-03-30 | 2011-10-06 | 三井化学株式会社 | Nonwoven fabric |
CN204944457U (en) | 2015-08-24 | 2016-01-06 | 杨雪莲 | A kind of definite quantity measuring apparatus of cigarette paper |
US20160355950A1 (en) | 2015-06-03 | 2016-12-08 | The Procter & Gamble Company | Coforming Processes and Forming Boxes Used Therein |
JP2017538873A (en) | 2014-12-19 | 2017-12-28 | ザ プロクター アンド ギャンブル カンパニー | Composite filter substrate containing a mixture of fibers |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2259760A (en) * | 1991-09-17 | 1993-03-24 | Richard Edward Davies | Measuring weight per unit length of fibrous material |
JP4520794B2 (en) * | 2004-08-20 | 2010-08-11 | セーレン株式会社 | Line inspection method and apparatus |
JP5228439B2 (en) * | 2007-10-22 | 2013-07-03 | 三菱電機株式会社 | Operation input device |
CN202617249U (en) * | 2012-06-04 | 2012-12-19 | 美细耐斯(上海)电子有限公司 | Camera module for small size electronic equipment |
JP2015045587A (en) * | 2013-08-28 | 2015-03-12 | 株式会社キーエンス | Three-dimensional image processor, method of determining change in state of three-dimensional image processor, program for determining change in state of three-dimensional image processor, computer readable recording medium, and apparatus having the program recorded therein |
WO2015052842A1 (en) * | 2013-10-11 | 2015-04-16 | 株式会社島津製作所 | Mass spectrometry data analysis device |
JP6299668B2 (en) * | 2015-05-13 | 2018-03-28 | 信越半導体株式会社 | How to evaluate haze |
DE102015225962A1 (en) * | 2015-12-18 | 2017-06-22 | Voith Patent Gmbh | Method and device for determining the basis weight of a fibrous web |
-
2018
- 2018-02-21 JP JP2018028437A patent/JP7054634B2/en active Active
-
2019
- 2019-02-20 CN CN201910126155.2A patent/CN110186802B/en active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001228142A (en) | 2000-02-18 | 2001-08-24 | Nippon Paper Industries Co Ltd | Method for inspecting quality of cut surface of paper |
JP2003214827A (en) | 2002-01-29 | 2003-07-30 | Ohbayashi Corp | Method for measuring craze by image processing |
JP2006521544A (en) | 2003-03-27 | 2006-09-21 | マーロ ゲーエムベーハ ウント ツェーオー. カーゲー | Method for inspecting the quality criteria of a flat fabric structure embodied in a multi-layer format according to contours |
JP2008542570A (en) | 2005-06-03 | 2008-11-27 | ザ プロクター アンド ギャンブル カンパニー | Fabric of molded fiber |
CN201532241U (en) | 2009-09-24 | 2010-07-21 | 常州市开天纺织印染有限公司 | Full-automatic textile weighing instrument |
WO2011122277A1 (en) | 2010-03-30 | 2011-10-06 | 三井化学株式会社 | Nonwoven fabric |
JP2017538873A (en) | 2014-12-19 | 2017-12-28 | ザ プロクター アンド ギャンブル カンパニー | Composite filter substrate containing a mixture of fibers |
US20160355950A1 (en) | 2015-06-03 | 2016-12-08 | The Procter & Gamble Company | Coforming Processes and Forming Boxes Used Therein |
CN204944457U (en) | 2015-08-24 | 2016-01-06 | 杨雪莲 | A kind of definite quantity measuring apparatus of cigarette paper |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN110186802A (en) | 2019-08-30 |
CN110186802B (en) | 2022-07-19 |
JP2019144105A (en) | 2019-08-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2009294087A (en) | Resin material inspection testing device and program | |
JP6099115B2 (en) | Three-dimensional surface inspection apparatus and three-dimensional surface inspection method | |
JP7054634B2 (en) | measuring device | |
JP5612969B2 (en) | Appearance inspection apparatus and appearance inspection method | |
JP2011072538A (en) | X-ray imaging apparatus, imaging method, and imaging program | |
KR101146081B1 (en) | Detection of macro-defects using micro-inspection inputs | |
US10458924B2 (en) | Inspection apparatus and inspection method | |
JP2011058931A (en) | Device and method for detecting characteristics of photomask | |
JP5434385B2 (en) | Mesh inspection apparatus, mesh inspection method, program, and recording medium | |
JP2011149736A (en) | Appearance inspection apparatus and appearance inspection method | |
WO2016063381A1 (en) | Inspection device using electromagnetic wave detection unit and optical detection unit | |
KR101834812B1 (en) | Method and system for detecting defect of display using vision inspection | |
US8705698B2 (en) | X-ray analyzer and mapping method for an X-ray analysis | |
JP3989777B2 (en) | X-ray fluoroscopy system | |
KR20180087090A (en) | Machine vision system of automatic light setting using inspection standard image | |
JP2009243920A (en) | Reference plate, optical axis adjustment method of surface inspection apparatus and surface inspection apparatus | |
JP4520794B2 (en) | Line inspection method and apparatus | |
JP6323094B2 (en) | Anti-glare inspection apparatus, method, and program | |
JP7009171B2 (en) | Portable information processing equipment and programs | |
JP2009150792A (en) | Film inspecting apparatus | |
JP5647504B2 (en) | Image processing apparatus, inspection apparatus, measurement apparatus, image processing method, measurement method | |
JP2004150873A (en) | Printed matter measuring apparatus, image data correcting method, and program | |
JP7074400B2 (en) | Optical measuring device | |
WO2023032318A1 (en) | Image capturing system, and control method for same | |
EP4362482A1 (en) | Imaging system and method for controlling same |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210118 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20211129 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20211214 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220118 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220329 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220404 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7054634 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |