JP7054634B2 - measuring device - Google Patents

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Description

本発明は、生地片の単位面積当たりの質量を測定し出力する測定装置に関する。 The present invention relates to a measuring device that measures and outputs a mass per unit area of a piece of dough.

出願人は、特許文献１にて、線条検査方法及び線条検査装置を提案している。この線条検査方法及び線条検査装置では、織物の２次元空間的なテクスチャ特徴が抽出され、糸交差角度、経糸数及び緯糸数が数学的に求められる。前述のテクスチャ特徴の抽出アルゴリズムは、次の手順（１）～手順（５）を含む。即ち、（１）デジタルスチルカメラから織物のデジタル画像データを取得する。（２）デジタル画像データに窓関数処理を施す。（３）窓関数処理されたデジタル画像データを高速フーリエ変換し、フーリエスペクトルを取得する。（４）フーリエスペクトルのピークを抽出する。（５）各ピークの情報（角度、周波数）を織物のテクスチャ特徴量（糸交差角度、経糸数及び緯糸数）に対応させる。線条検査方法及び線条検査装置は、織物の他、印刷又はエッチングによってメッシュ状の線条が形成されたフィルム、シート、スクリーン又はプレートを検査対象とする。例えば、線条検査方法及び線条検査装置は、プラズマディスプレイ用の電磁波シールドフィルタ、生化学用の分離フィルタ、印刷用のスクリーン紗又は網戸を検査対象とする。 The applicant proposes a linear inspection method and a linear inspection apparatus in Patent Document 1. In this streak inspection method and streak inspection device, the two-dimensional spatial texture feature of the woven fabric is extracted, and the thread crossing angle, the number of warps and the number of wefts are mathematically obtained. The texture feature extraction algorithm described above includes the following steps (1) to (5). That is, (1) the digital image data of the woven fabric is acquired from the digital still camera. (2) Perform window function processing on the digital image data. (3) Fast Fourier transform is performed on the digital image data processed by the window function, and the Fourier spectrum is acquired. (4) Extract the peak of the Fourier spectrum. (5) The information (angle, frequency) of each peak corresponds to the texture feature amount (thread crossing angle, number of warps and number of wefts) of the woven fabric. The line inspection method and the line inspection device shall inspect not only woven fabrics but also films, sheets, screens or plates on which mesh-like lines are formed by printing or etching. For example, the linear inspection method and the linear inspection apparatus target an electromagnetic wave shield filter for a plasma display, a separation filter for biochemistry, a screen gauze for printing, or a screen door.

特許第４５２０７９４号公報Japanese Patent No. 4520794

生地の製造時又は生地製の所定の製品の製造時、製造現場では、製品又は素材としての生地の品質が管理される。例えば、製造現場では、生地の単位面積質量が管理される。単位面積質量は、単位面積当たりの質量である。そこで、発明者は、生地片の大きさ（面積）に関わらず、生地の単位面積質量をスムーズに測定し、単位面積質量を出力可能な測定装置について検討した。 At the time of manufacturing the dough or at the time of manufacturing a predetermined product made of the dough, the quality of the dough as the product or the material is controlled at the manufacturing site. For example, at the manufacturing site, the unit area mass of the dough is controlled. The unit area mass is the mass per unit area. Therefore, the inventor examined a measuring device capable of smoothly measuring the unit area mass of the dough and outputting the unit area mass regardless of the size (area) of the dough piece.

本発明は、生地の単位面積当たりの質量を測定し出力可能な測定装置を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide a measuring device capable of measuring and outputting a mass per unit area of a dough.

本発明の一側面は、生地片を載せ置く載置台と、前記載置台に載せ置かれた前記生地片の質量を測定する質量計と、前記載置台に載せ置かれた前記生地片を撮像するカメラと、前記カメラによる撮像範囲に赤外線を照射する照射器と、前記生地片の単位面積当たりの質量を示す単位面積質量を出力する出力器と、プロセッサと、を備え、前記プロセッサは、前記質量計によって測定された前記生地片の質量を取得する質量処理と、前記カメラによって撮像された前記生地片の画像部分を含む測定用の撮像データを取得する測定用撮像処理と、前記測定用撮像処理で取得された前記測定用の撮像データに含まれる前記生地片の画像部分から前記生地片に対応する領域の測定用面積を取得する測定用面積処理と、前記質量処理で取得された前記生地片の質量と、前記測定用面積処理で取得された前記測定用面積と、により前記単位面積質量を算出する算出処理と、前記算出処理で取得された前記単位面積質量を前記出力器で出力させる出力処理と、を実行し、前記カメラは、赤外線に対する感度を有するイメージセンサを含み、前記照射器から赤外線が照射されている状態で撮像し、前記測定用撮像処理は、前記生地片で反射した赤外線による前記生地片の画像部分を含む前記測定用の撮像データを取得する処理である、測定装置である。 One aspect of the present invention is to take an image of a pedestal on which a piece of dough is placed, a mass meter for measuring the mass of the piece of dough placed on the pedestal described above, and the piece of dough placed on the pedestal described above. It comprises a camera, an irradiator that irradiates an image pickup range by the camera with infrared rays, an output device that outputs a unit area mass indicating the mass per unit area of the cloth piece, and a processor, and the processor is the mass. Mass processing for acquiring the mass of the fabric piece measured by the meter, measurement imaging processing for acquiring measurement imaging data including an image portion of the fabric piece imaged by the camera, and measurement imaging processing. The measurement area processing for acquiring the measurement area of the region corresponding to the fabric piece from the image portion of the fabric piece included in the image pickup data for the measurement acquired in the above, and the fabric piece acquired by the mass processing. A calculation process for calculating the unit area mass by the mass of the above and the measurement area acquired by the measurement area process, and an output for outputting the unit area mass acquired by the calculation process by the output device. The camera includes an image sensor having sensitivity to infrared rays, and an image is taken in a state where infrared rays are emitted from the irradiator, and the image pickup process for measurement is an infrared ray reflected by the cloth piece. It is a measuring apparatus which is a process of acquiring the image pickup data for the measurement including the image portion of the cloth piece by the above .

測定装置では、前記載置台の前記生地片が載せ置かれる載置面は、前記生地片より低い赤外線反射率、前記生地片より高い赤外線吸収率、及び前記生地片より高い赤外線透過率の一部又は全部を有する、ようにしてもよい。また、測定装置は、前記載置台と前記カメラとの間に赤外線透過フィルタを備える、ようにしてもよい。更に、測定装置では、前記カメラは、赤外線カメラである、ようにしてもよい。 In the measuring device , the mounting surface on which the cloth piece of the above-mentioned stand is placed has an infrared reflectance lower than that of the cloth piece, an infrared absorption rate higher than that of the cloth piece, and an infrared transmittance higher than that of the cloth piece. It may have parts or all. Further, the measuring device may be provided with an infrared transmission filter between the above-mentioned stand and the camera. Further, in the measuring device, the camera may be an infrared camera.

このような測定装置によれば、生地片の単位面積質量を測定し、測定結果としてこれを出力することができる。測定用の撮像データに含まれる生地片の画像部分から生地片に対応する領域の測定用面積を取得することで、生地片の形状に関わらず、単位面積質量を測定することができる。例えば、単位面積質量を測定するに際し、生地から生地片を予め定めた形状に裁断する必要がない。例えば、生地の製造時又は生地製の所定の製品の製造時、製造現場で、製品又は素材としての生地の単位面積質量をスムーズに測定することができる。According to such a measuring device, it is possible to measure the unit area mass of a piece of dough and output it as a measurement result. By acquiring the measurement area of the region corresponding to the fabric piece from the image portion of the fabric piece included in the imaging data for measurement, the unit area mass can be measured regardless of the shape of the fabric piece. For example, when measuring the unit area mass, it is not necessary to cut the dough piece into a predetermined shape from the dough. For example, the unit area mass of the dough as a product or a raw material can be smoothly measured at the time of manufacturing the dough or at the time of manufacturing a predetermined product made of the dough, or at the manufacturing site.

更に、生地片の画像部分を安定的に検出することができる。測定用面積の精度を向上させることができる。生地片が次のような模様の生地の一部であるとする。前述の模様は、例えば、載置面と同一色の所定の形状を有する図形が生地の全体に複数配置された模様である。載置面は、生地片が載せ置かれる載置台の面である。このような模様としては、載置面と同一色の複数の水玉が適宜配置された水玉模様が例示される。前述の水玉模様を例として説明する。単位面積質量の測定に際し、水玉模様の生地を切り取り生地片を形成する場合、生地の切断位置が水玉上となることがある。生地片の撮像に可視光を用いる場合、この撮像による撮像データに対応する可視光画像では、背景色（載置面の色）と生地片の外縁における切断された水玉の部分の色が同一色となる。その結果、生地片の画像部分を適切に検出できない、又は前述の検出に特別な画像解析が必要となる、といったことが考えられる。これに対して、生地片の撮像に赤外線を用いた測定用の撮像データでは、生地片の画像部分における水玉模様の影響はなくなり又は低下する。その結果、背景（載置面）と生地片の画像部分の境界が安定し、背景から生地片の画像部分を区別することができる。生地の模様に合わせて載置台を変更するといった作業は、不要となる。 Further, the image portion of the fabric piece can be stably detected. The accuracy of the measurement area can be improved. It is assumed that the cloth piece is a part of the cloth having the following pattern. The above-mentioned pattern is, for example, a pattern in which a plurality of figures having a predetermined shape of the same color as the mounting surface are arranged on the entire fabric. The mounting surface is the surface of the mounting table on which the fabric pieces are placed. As such a pattern, a polka dot pattern in which a plurality of polka dots of the same color as the mounting surface are appropriately arranged is exemplified. The above-mentioned polka dot pattern will be described as an example. When measuring the unit area mass by cutting the dough with polka dots to form a piece of dough, the cutting position of the dough may be on the polka dots. When visible light is used to image the fabric piece, the background color (the color of the mounting surface) and the color of the cut polka dots on the outer edge of the fabric piece are the same color in the visible light image corresponding to the imaged data obtained by this imaging. It becomes. As a result, it is conceivable that the image portion of the fabric piece cannot be properly detected, or that special image analysis is required for the above-mentioned detection. On the other hand, in the imaging data for measurement using infrared rays for imaging the fabric piece, the influence of the polka dot pattern on the image portion of the fabric piece disappears or decreases. As a result, the boundary between the background (placement surface) and the image portion of the fabric piece is stable, and the image portion of the fabric piece can be distinguished from the background. The work of changing the mounting table according to the pattern of the fabric becomes unnecessary.

測定装置では、前記載置台には、面積が基準値に設定された基準試料が載せ置かれ、前記カメラは、前記載置台に載せ置かれた前記基準試料を撮像し、前記プロセッサは、前記カメラによって撮像された前記基準試料の画像部分を含む較正用の撮像データを取得する較正用撮像処理と、前記較正用撮像処理で取得された前記較正用の撮像データに含まれる前記基準試料の画像部分から前記基準試料に対応する領域の較正用面積を取得する較正用面積処理と、前記基準値と、前記較正用面積処理で取得された前記較正用面積と、の差に応じた補正係数を算出する補正係数処理と、を実行し、前記較正用撮像処理は、前記基準試料で反射した赤外線による前記基準試料の画像部分を含む前記較正用の撮像データを取得する処理であり、前記算出処理は、前記質量処理で取得された前記生地片の質量を、前記測定用面積処理で取得された前記測定用面積を前記補正係数処理で算出された前記補正係数によって補正した補正面積で除した前記単位面積質量を算出する処理である、ようにしてもよい。 In the measuring device, a reference sample whose area is set to a reference value is placed on the above-mentioned table, the camera takes an image of the reference sample placed on the above-mentioned table, and the processor is the camera. The calibration imaging process for acquiring the calibration imaging data including the image portion of the reference sample imaged by the above, and the image portion of the reference sample included in the calibration imaging data acquired in the calibration imaging process. Calculates a correction coefficient according to the difference between the calibration area processing for acquiring the calibration area of the region corresponding to the reference sample and the calibration area obtained by the reference value and the calibration area processing. The calibration imaging process is a process of acquiring the calibration imaging data including the image portion of the reference sample by the infrared rays reflected by the reference sample, and the calculation process is performed. , The unit obtained by dividing the mass of the dough piece obtained by the mass processing by the correction area obtained by the measurement area processing and corrected by the correction coefficient calculated by the correction coefficient processing. It may be a process of calculating the area mass.

この構成によれば、測定用面積を補正係数によって補正することができる。単位面積質量の測定精度を向上させることができる。 According to this configuration, the measurement area can be corrected by the correction coefficient. The measurement accuracy of unit area mass can be improved.

本発明によれば、生地の単位面積当たりの質量を測定し出力可能な測定装置を得ることができる。 According to the present invention, it is possible to obtain a measuring device capable of measuring and outputting the mass per unit area of the dough.

測定装置の概略構成の一例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows an example of the schematic structure of a measuring device. 操作画面としてのメイン画面の概略構成の一例を示す図である。上段は、単位面積質量の測定前の状態を示す。生地片が載置台に載せ置かれていない状態に対応する。下段は、単位面積質量の測定後の状態を示す。生地片が載置台に載せ置かれている状態に対応する。It is a figure which shows an example of the schematic structure of the main screen as an operation screen. The upper part shows the state before the measurement of the unit area mass. Corresponds to the state where the dough piece is not placed on the mounting table. The lower part shows the state after measuring the unit area mass. Corresponds to the state where the dough piece is placed on the mounting table. 操作画面としてのサブ画面の概略構成の一例を示す図である。基準試料が載置台に載せ置かれている状態に対応する。It is a figure which shows an example of the schematic structure of the sub screen as an operation screen. Corresponds to the state where the reference sample is placed on the mounting table. メイン処理のフローチャートである。It is a flowchart of the main process. キャリブレーション処理の第一部分のフローチャートである。It is a flowchart of the first part of the calibration process. キャリブレーション処理の第二部分のフローチャートである。It is a flowchart of the second part of the calibration process. 測定用面積処理のフローチャートである。It is a flowchart of area processing for measurement. 第一較正用面積処理のフローチャートである。It is a flowchart of the area processing for the first calibration. 第二較正用面積処理のフローチャートである。It is a flowchart of the area processing for the second calibration. 第三較正用面積処理のフローチャートである。It is a flowchart of the 3rd calibration area processing. 第四較正用面積処理のフローチャートである。It is a flowchart of the 4th calibration area processing. 第五較正用面積処理のフローチャートである。It is a flowchart of the 5th calibration area processing. 実測処理のフローチャートである。It is a flowchart of the actual measurement processing. 補正係数処理のフローチャートである。It is a flowchart of correction coefficient processing. 測定用撮像データを示す図である。上段は、第一態様を示す。第一態様では、撮像に赤外線が用いられる。下段は、第二態様を示す。第二態様では、撮像に可視光が用いられる。It is a figure which shows the imaging data for measurement. The upper part shows the first aspect. In the first aspect, infrared rays are used for imaging. The lower part shows the second aspect. In the second aspect, visible light is used for imaging.

本発明を実施するための実施形態について、図面を用いて説明する。本発明は、以下に記載の構成に限定されるものではなく、同一の技術的思想において種々の構成を採用することができる。例えば、以下に示す構成の一部は、省略し又は他の構成等に置換してもよい。他の構成を含むようにしてもよい。 An embodiment for carrying out the present invention will be described with reference to the drawings. The present invention is not limited to the configurations described below, and various configurations can be adopted in the same technical idea. For example, a part of the configuration shown below may be omitted or replaced with another configuration or the like. Other configurations may be included.

＜測定装置＞
測定装置１０について、図１を参照して説明する。図１は、測定装置１０を模式的に示したものである。従って、図１で、破線は、かくれ線であり、一点鎖線は、中心線（基準線）であり、二点鎖線は、想像線である。 <Measuring device>
The measuring device 10 will be described with reference to FIG. FIG. 1 schematically shows the measuring device 10. Therefore, in FIG. 1, the broken line is a hidden line, the one-dot chain line is the center line (reference line), and the two-dot chain line is an imaginary line.

測定装置１０は、単位面積質量Ｎを測定する装置である。実施形態では、単位面積質量Ｎの測定対象物は、生地片１５である。生地片１５は、例えば、生地から切り取られた生地の一部である。生地は、所定の製品の素材として用いられる。単位面積質量Ｎは、単位面積当たりの質量である。実施形態では、単位面積は、１ｍ２とする。但し、単位面積は、１ｍ２とは異なる面積としてもよい。単位面積は、諸条件を考慮して適宜決定される。測定装置１０は、例えば、生地の製造現場又は生地製の所定の製品の製造現場で用いられる。測定装置１０により、生地の品質が管理される。測定装置１０は、載置台２０と、質量計３０と、カメラ４０と、収容室４５と、照射器５０と、出力器６０と、制御器７０を備える。 The measuring device 10 is a device for measuring the unit area mass N. In the embodiment, the object to be measured with the unit area mass N is the dough piece 15. The dough piece 15 is, for example, a part of the dough cut from the dough. The dough is used as a material for a given product. The unit area mass N is the mass per unit area. In the embodiment, the unit area is 1 m 2 . However, the unit area may be different from 1 m 2 . The unit area is appropriately determined in consideration of various conditions. The measuring device 10 is used, for example, at a dough manufacturing site or a dough-made predetermined product manufacturing site. The quality of the dough is controlled by the measuring device 10. The measuring device 10 includes a mounting table 20, a mass meter 30, a camera 40, a storage chamber 45, an irradiator 50, an output device 60, and a controller 70.

載置台２０には、生地片１５が載せ置かれる。実施形態では、生地片１５が載せ置かれる載置台２０の面を「載置面２２」という。載置台２０では、載置面２２の赤外線反射率、赤外線吸収率及び赤外線透過率の何れか又は全部が生地片１５とは異なる状態とするとよい。例えば、載置台２０では、載置面２２の赤外線反射率は、生地片１５より低くするとよく、載置面２２の赤外線吸収率は、生地片１５より高くするとよく、載置面２２の赤外線透過率は、生地片１５より高くするとよい。一般的に、生地は、赤外線を反射する性質を有する。測定装置１０では、載置台２０として、次のような載置台を採用する。即ち、載置台２０は、アクリル製とし、載置面２２は、単一色のつや消し状態とした。載置面２２の色は、黒色とした。 The dough piece 15 is placed on the mounting table 20. In the embodiment, the surface of the mounting table 20 on which the fabric piece 15 is placed is referred to as a “mounting surface 22”. In the mounting table 20, any or all of the infrared reflectance, the infrared absorption rate, and the infrared transmittance of the mounting surface 22 may be in a state different from that of the fabric piece 15. For example, in the mounting table 20, the infrared reflectance of the mounting surface 22 may be lower than that of the fabric piece 15, and the infrared absorption rate of the mounting surface 22 may be higher than that of the fabric piece 15. The rate should be higher than the dough piece 15. Generally, the fabric has the property of reflecting infrared rays. In the measuring device 10, the following mounting table is adopted as the mounting table 20. That is, the mounting table 20 was made of acrylic, and the mounting surface 22 was in a single color matte state. The color of the mounting surface 22 was black.

質量計３０は、載置台２０に載せ置かれた物の質量Ｍを測定し、測定された質量Ｍを出力する。実施形態では、載置台２０には、生地片１５が載せ置かれる。この場合、質量計３０は、生地片１５の質量Ｍを出力する。この他、載置台２０には、基準試料１７が載せ置かれる（図３参照）。基準試料１７については、後述する。質量計３０は、例えば、電子天秤である。測定装置１０では、質量計３０として、公知の質量計を採用できる。従って、質量計３０に関するこの他の説明は、省略する。 The mass meter 30 measures the mass M of the object placed on the mounting table 20 and outputs the measured mass M. In the embodiment, the dough piece 15 is placed on the mounting table 20. In this case, the mass meter 30 outputs the mass M of the dough piece 15. In addition, the reference sample 17 is placed on the mounting table 20 (see FIG. 3). The reference sample 17 will be described later. The mass meter 30 is, for example, an electronic balance. In the measuring device 10, a known mass meter can be adopted as the mass meter 30. Therefore, other description of the mass meter 30 will be omitted.

カメラ４０は、デジタルカメラである。カメラ４０は、赤外線に対する感度を有するイメージセンサを含む。即ち、カメラ４０は、赤外線を撮像することができる。但し、イメージセンサは、可視光に対する感度も有する。従って、カメラ４０は、可視光を撮像することもできる。カメラ４０は、載置面２２の上方で載置面２２に対向した状態で設けられる。測定装置１０では、カメラ４０は、載置面２２と正対する。従って、カメラ４０の撮像方向は、載置面２２に対して垂直な方向となる。カメラ４０は、載置面２２を撮像範囲Ｒ１に含む。撮像範囲Ｒ１は、カメラ４０によって撮像される範囲である。図１で、載置面２２上に二点鎖線で示す２個の矩形枠のうち、内側の矩形枠は、撮像範囲Ｒ１を示す。実施形態では、生地片１５は、撮像範囲Ｒ１にその全体が含まれる。即ち、生地片１５は、撮像範囲Ｒ１より小さな任意の形状を有する。これに伴い、カメラ４０は、載置台２０に生地片１５が載せ置かれた状態で、生地片１５の表面の全体を撮像する。また、実施形態では、基準試料１７も、撮像範囲Ｒ１にその全体が含まれる。即ち、基準試料１７は、撮像範囲Ｒ１より小さな所定の形状を有する。これに伴い、カメラ４０は、載置台２０に載せ置かれた基準試料１７の表面の全体を撮像する。 The camera 40 is a digital camera. The camera 40 includes an image sensor having sensitivity to infrared rays. That is, the camera 40 can capture infrared rays. However, the image sensor also has sensitivity to visible light. Therefore, the camera 40 can also capture visible light. The camera 40 is provided above the mounting surface 22 and facing the mounting surface 22. In the measuring device 10, the camera 40 faces the mounting surface 22. Therefore, the imaging direction of the camera 40 is perpendicular to the mounting surface 22. The camera 40 includes the mounting surface 22 in the imaging range R1. The imaging range R1 is a range captured by the camera 40. In FIG. 1, of the two rectangular frames shown by the two-dot chain line on the mounting surface 22, the inner rectangular frame indicates the imaging range R1. In the embodiment, the entire fabric piece 15 is included in the imaging range R1. That is, the fabric piece 15 has an arbitrary shape smaller than the imaging range R1. Along with this, the camera 40 takes an image of the entire surface of the fabric piece 15 with the fabric piece 15 placed on the mounting table 20. Further, in the embodiment, the reference sample 17 is also included in the imaging range R1 as a whole. That is, the reference sample 17 has a predetermined shape smaller than the imaging range R1. Along with this, the camera 40 takes an image of the entire surface of the reference sample 17 placed on the mounting table 20.

収容室４５は、カメラ４０を収容する。収容室４５の底面には、赤外線透過フィルタ４７が設けられる。収容室４５は、底面の赤外線透過フィルタ４７を除く部分が遮光された構造を有する。カメラ４０が収容室４５に収容された状態で、赤外線透過フィルタ４７は、載置台２０とカメラ４０の間に設けられる。赤外線透過フィルタ４７は、紫外線及び可視光を吸収し、赤外線を透過するフィルタである。従って、生地片１５で反射した光のうち、可視光等は、赤外線透過フィルタ４７によって吸収され、カメラ４０に到達しない。換言すれば、生地片１５で反射した光のうち、赤外線は、赤外線透過フィルタ４７を透過してカメラ４０に到達する。測定装置１０では、赤外線透過フィルタ４７として、例えば、波長が８００ｎｍ以下の光を吸収する公知の赤外線透過フィルタを採用できる。従って、赤外線透過フィルタ４７に関するこの他の説明は、省略する。 The containment chamber 45 accommodates the camera 40. An infrared transmission filter 47 is provided on the bottom surface of the accommodation chamber 45. The accommodation chamber 45 has a structure in which a portion of the bottom surface excluding the infrared transmission filter 47 is shielded from light. With the camera 40 housed in the storage chamber 45, the infrared transmission filter 47 is provided between the mounting table 20 and the camera 40. The infrared transmission filter 47 is a filter that absorbs ultraviolet rays and visible light and transmits infrared rays. Therefore, of the light reflected by the fabric piece 15, visible light and the like are absorbed by the infrared transmission filter 47 and do not reach the camera 40. In other words, of the light reflected by the fabric piece 15, infrared rays pass through the infrared transmission filter 47 and reach the camera 40. In the measuring device 10, for example, a known infrared transmission filter that absorbs light having a wavelength of 800 nm or less can be adopted as the infrared transmission filter 47. Therefore, other description of the infrared transmission filter 47 will be omitted.

照射器５０は、赤外線を照射する。測定装置１０で採用可能な照射器５０としては、ピークの波長が８５０ｎｍである赤外線ＬＥＤが例示される。照射器５０は、載置面２２の上方から赤外線によって撮像範囲Ｒ１を照らす。測定装置１０では、赤外線の照射方向は、載置面２２に対して傾斜した方向である。従って、照射器５０は、載置面２２の斜め上方から赤外線によって撮像範囲Ｒ１を照らす。実施形態では、測定装置１０における照射器５０の台数は、２台である。２台の照射器５０は、カメラ４０の両側に設けられる。赤外線によって照らされる載置面２２上の範囲を「照明範囲Ｒ２」という。照明範囲Ｒ２は、撮像範囲Ｒ１を含む。測定装置１０では、２台の照射器５０は、各照射器５０による載置面２２上の照明範囲が共に照明範囲Ｒ２で一致した状態とされている。図１で、載置面２２上に二点鎖線で示す２個の矩形枠のうち、外側の矩形枠は、照明範囲Ｒ２を示す。 The irradiator 50 irradiates infrared rays. As the irradiator 50 that can be used in the measuring device 10, an infrared LED having a peak wavelength of 850 nm is exemplified. The irradiator 50 illuminates the imaging range R1 with infrared rays from above the mounting surface 22. In the measuring device 10, the infrared irradiation direction is a direction inclined with respect to the mounting surface 22. Therefore, the irradiator 50 illuminates the imaging range R1 with infrared rays from diagonally above the mounting surface 22. In the embodiment, the number of the irradiators 50 in the measuring device 10 is two. The two irradiators 50 are provided on both sides of the camera 40. The range on the mounting surface 22 illuminated by infrared rays is called "illumination range R2". The illumination range R2 includes the imaging range R1. In the measuring device 10, the two irradiators 50 are in a state where the illumination ranges on the mounting surface 22 by each irradiator 50 coincide with each other in the illumination range R2. In FIG. 1, of the two rectangular frames shown by the two-dot chain line on the mounting surface 22, the outer rectangular frame indicates the illumination range R2.

但し、上述したような赤外線の照射方向と照射器５０の台数及び配置は、例示である。赤外線の照射方向と照射器５０の台数及び配置は、諸条件を考慮して適宜決定される。例えば、照射器５０の台数を１台とし、１台の照射器５０によって照明範囲Ｒ２を照らすようにしてもよい。この他、複数の照射器５０がそれぞれ照らす載置面２２上の範囲を異なる範囲とし、複数の照射器５０によって照明範囲Ｒ２の全体を照らすようにしてもよい。この他、照射器５０を、載置台２０上で載置面２２に接近して配置し、撮像範囲Ｒ１の外周側から照明範囲Ｒ２の全体を照らすようにしてもよい。この場合、複数の照射器５０を前述した位置に環状に配置し、又は環状の照射器５０を前述した位置に配置してもよい。 However, the infrared irradiation direction and the number and arrangement of the irradiators 50 as described above are examples. The infrared irradiation direction and the number and arrangement of the irradiators 50 are appropriately determined in consideration of various conditions. For example, the number of the irradiators 50 may be one, and the illumination range R2 may be illuminated by one irradiator 50. In addition, the range on the mounting surface 22 illuminated by the plurality of irradiators 50 may be set to a different range, and the entire illumination range R2 may be illuminated by the plurality of irradiators 50. In addition, the irradiator 50 may be placed close to the mounting surface 22 on the mounting table 20 to illuminate the entire illumination range R2 from the outer peripheral side of the imaging range R1. In this case, the plurality of irradiators 50 may be arranged in a ring shape at the above-mentioned position, or the ring-shaped irradiator 50 may be arranged in the above-mentioned position.

出力器６０は、測定結果としての単位面積質量Ｎを出力する機器である。測定装置１０では、出力器６０は、表示器である。表示器としては、液晶ディスプレイが例示される。但し、出力器６０として採用される表示器は、液晶ディスプレイとは異なるディスプレイであってもよい。即ち、測定装置１０では、単位面積質量Ｎを含む操作画面が出力器６０としての表示器に表示される。図１では、操作画面の図示は、省略されている。操作画面については、後述する。 The output device 60 is a device that outputs a unit area mass N as a measurement result. In the measuring device 10, the output device 60 is a display device. An example of the display is a liquid crystal display. However, the display used as the output device 60 may be a display different from the liquid crystal display. That is, in the measuring device 10, the operation screen including the unit area mass N is displayed on the display as the output device 60. In FIG. 1, the illustration of the operation screen is omitted. The operation screen will be described later.

操作器６５は、測定装置１０に対する各種の指示の入力を受け付ける。測定装置１０では、操作器６５は、タッチパッドを含む仕様とする。この場合、操作器６５は、表示器である出力器６０と共に、タッチパネルとなる。測定装置１０の操作者は、出力器６０に操作画面が表示されている状態で、タッチパッドによる操作器６５に対して、所定の操作を行う。前述の操作としては、タップが例示される。操作器６５は、操作者による操作に応じた指示の入力を受け付ける。操作器６５は、受け付けられた指示を出力する。但し、操作器６５は、所定のハードキーを含むものであってもよい。この他、操作器６５は、キーボード及びマウスであってもよい。 The actuator 65 receives input of various instructions to the measuring device 10. In the measuring device 10, the operating device 65 is specified to include a touch pad. In this case, the actuator 65 becomes a touch panel together with the output device 60 which is a display. The operator of the measuring device 10 performs a predetermined operation on the operation device 65 by the touch pad while the operation screen is displayed on the output device 60. As the above-mentioned operation, a tap is exemplified. The actuator 65 receives an input of an instruction according to the operation by the operator. The actuator 65 outputs the received instruction. However, the actuator 65 may include a predetermined hard key. In addition, the controller 65 may be a keyboard and a mouse.

制御器７０は、プロセッサ７１と、ストレージ７２と、メモリ７３と、接続インターフェース７４を含む。実施形態では、接続インターフェース７４を「接続Ｉ／Ｆ７４」と記載する。プロセッサ７１は、演算処理を実行し、測定装置１０を制御する。プロセッサ７１は、例えば、ＣＰＵである。 The controller 70 includes a processor 71, a storage 72, a memory 73, and a connection interface 74. In the embodiment, the connection interface 74 is referred to as "connection I / F 74". The processor 71 executes arithmetic processing and controls the measuring device 10. The processor 71 is, for example, a CPU.

ストレージ７２は、フラッシュメモリである。但し、ストレージ７２は、フラッシュメモリとは異なる記憶媒体であってもよい。例えば、ストレージ７２は、ハードディスクであってもよい。ストレージ７２は、プログラムを記憶する。ストレージ７２に記憶されるプログラムは、メイン処理（図４参照）のプログラムを含む。メイン処理のプログラムは、図５～図１４に示す各処理のプログラムを含む。メイン処理のプログラムは、ストレージ７２に事前にインストールされる。 The storage 72 is a flash memory. However, the storage 72 may be a storage medium different from the flash memory. For example, the storage 72 may be a hard disk. The storage 72 stores the program. The program stored in the storage 72 includes a program for main processing (see FIG. 4). The program of the main processing includes the program of each processing shown in FIGS. 5 to 14. The main processing program is pre-installed in the storage 72.

メモリ７３は、プロセッサ７１がストレージ７２に記憶されたプログラムを実行する際の記憶領域となる。メモリ７３には、処理の実行途中に所定のデータが所定の記憶領域に記憶される。メモリ７３は、例えば、ＲＡＭである。測定装置１０では、制御器７０において、プロセッサ７１が、ストレージ７２に記憶されたプログラムを実行する。これに伴い、測定装置１０では、各種の処理が実行され、実行された処理に対応する機能が実現される。 The memory 73 serves as a storage area when the processor 71 executes a program stored in the storage 72. In the memory 73, predetermined data is stored in a predetermined storage area during execution of processing. The memory 73 is, for example, a RAM. In the measuring device 10, in the controller 70, the processor 71 executes the program stored in the storage 72. Along with this, the measuring device 10 executes various processes, and realizes a function corresponding to the executed processes.

接続Ｉ／Ｆ７４には、例えば、質量計３０、カメラ４０及び操作器６５が接続される。質量計３０から出力された質量Ｍは、接続Ｉ／Ｆ７４を介して制御器７０に入力される。質量計３０からの質量Ｍは、接続Ｉ／Ｆ７４からプロセッサ７１に出力される。プロセッサ７１は、接続Ｉ／Ｆ７４を介して質量Ｍを取得する。カメラ４０で撮像された撮像画像に対応する撮像信号は、接続Ｉ／Ｆ７４を介して制御器７０に入力される。カメラ４０からの撮像信号は、接続Ｉ／Ｆ７４からプロセッサ７１に出力される。プロセッサ７１は、接続Ｉ／Ｆ７４を介して撮像信号を取得する。これに伴い、プロセッサ７１は、撮像画像に対応する撮像データを取得する。即ち、プロセッサ７１は、取得された撮像信号を処理して撮像データを生成する。操作器６５から出力された指示は、接続Ｉ／Ｆ７４を介して制御器７０に入力される。操作器６５からの指示は、接続Ｉ／Ｆ７４からプロセッサ７１に出力される。プロセッサ７１は、接続Ｉ／Ｆ７４を介して前述の指示を取得する。この他、接続Ｉ／Ｆ７４には、照射器５０及び出力器６０が接続される。図１では、質量計３０、カメラ４０、照射器５０及び出力器６０と、接続Ｉ／Ｆ７４を接続する電気配線の図示は、省略されている。 For example, a mass meter 30, a camera 40, and an operator 65 are connected to the connection I / F 74. The mass M output from the mass meter 30 is input to the controller 70 via the connection I / F 74. The mass M from the mass meter 30 is output from the connection I / F 74 to the processor 71. The processor 71 acquires the mass M via the connection I / F 74. The image pickup signal corresponding to the image captured image captured by the camera 40 is input to the controller 70 via the connection I / F 74. The image pickup signal from the camera 40 is output from the connection I / F 74 to the processor 71. The processor 71 acquires an image pickup signal via the connection I / F 74. Along with this, the processor 71 acquires the captured data corresponding to the captured image. That is, the processor 71 processes the acquired image pickup signal to generate image pickup data. The instruction output from the actuator 65 is input to the controller 70 via the connection I / F 74. The instruction from the actuator 65 is output from the connection I / F 74 to the processor 71. The processor 71 acquires the above-mentioned instructions via the connection I / F 74. In addition, the irradiator 50 and the output device 60 are connected to the connection I / F74. In FIG. 1, the illustration of the electrical wiring connecting the mass meter 30, the camera 40, the irradiator 50 and the output device 60, and the connection I / F 74 is omitted.

＜操作画面＞
操作画面について、図２及び図３を参照して説明する。測定装置１０では、操作画面は、メイン画面８０とサブ画面９０を含む。実施形態では、メイン画面８０とサブ画面９０を区別しない場合、又はこれらを総称する場合、操作画面という。メイン画面８０は、メイン処理の開始に伴い出力器６０に表示される。メイン画面８０は、単位面積質量Ｎの測定に対応する操作画面で、生地片１５の単位面積質量Ｎを測定する場合に出力器６０に表示される。サブ画面９０は、キャリブレーション処理（図５及び図６参照）が実行される場合に表示される。 <Operation screen>
The operation screen will be described with reference to FIGS. 2 and 3. In the measuring device 10, the operation screen includes a main screen 80 and a sub screen 90. In the embodiment, when the main screen 80 and the sub screen 90 are not distinguished, or when they are collectively referred to, they are referred to as an operation screen. The main screen 80 is displayed on the output device 60 with the start of the main process. The main screen 80 is an operation screen corresponding to the measurement of the unit area mass N, and is displayed on the output device 60 when the unit area mass N of the dough piece 15 is measured. The sub screen 90 is displayed when the calibration process (see FIGS. 5 and 6) is executed.

キャリブレーション処理は、面積が基準値に設定された基準試料１７を用いて行われる。実施形態では、基準試料１７として、面積が異なる５種類の基準値に設定された第一サンプル、第二サンプル、第三サンプル、第四サンプル及び第五サンプルを例示する。第一サンプルは、面積が第一基準値「４００ｍｍ２」に設定された基準試料１７である。面積が第一基準値となる形状としては、１辺の寸法が２０ｍｍである正方形が例示される。第二サンプルは、面積が第二基準値「１６００ｍｍ２」に設定された基準試料１７である。面積が第二基準値となる形状としては、１辺の寸法が４０ｍｍである正方形が例示される。第三サンプルは、面積が第三基準値「３６００ｍｍ２」に設定された基準試料１７である。面積が第三基準値となる形状としては、１辺の寸法が６０ｍｍである正方形が例示される。第四サンプルは、面積が第四基準値「６４００ｍｍ２」に設定された基準試料１７である。面積が第四基準値となる形状としては、１辺の寸法が８０ｍｍである正方形が例示される。第五サンプルは、面積が第五基準値「１００００ｍｍ２」に設定された基準試料１７である。面積が第五基準値となる形状としては、１辺の寸法が１００ｍｍである正方形が例示される。実施形態では、第一サンプル、第二サンプル、第三サンプル、第四サンプル及び第五サンプルを区別しない場合、又はこれらを総称する場合、「基準試料１７」という。第一基準値、第二基準値、第三基準値、第四基準値及び第五基準値としての前述の各値は、例示である。基準試料１７の基準値は、諸条件を考慮して適宜決定される。基準試料１７の形状は、長方形、又は正方形及び長方形とは異なる多角形であってもよい。また、基準試料１７の形状は、円形、楕円形又は前述の各形状とは異なる任意の形状であってもよい。基準試料１７の形状は、諸条件を考慮して適宜決定される。 The calibration process is performed using the reference sample 17 whose area is set to the reference value. In the embodiment, as the reference sample 17, the first sample, the second sample, the third sample, the fourth sample, and the fifth sample set to five kinds of reference values having different areas are exemplified. The first sample is a reference sample 17 whose area is set to the first reference value "400 mm 2 ". As a shape whose area is the first reference value, a square having a side dimension of 20 mm is exemplified. The second sample is a reference sample 17 whose area is set to the second reference value "1600 mm 2 ". As a shape whose area is the second reference value, a square having a side dimension of 40 mm is exemplified. The third sample is a reference sample 17 whose area is set to the third reference value "3600 mm 2 ". As a shape whose area is the third reference value, a square having a side dimension of 60 mm is exemplified. The fourth sample is a reference sample 17 whose area is set to the fourth reference value "6400 mm 2 ". As a shape whose area is the fourth reference value, a square having a side dimension of 80 mm is exemplified. The fifth sample is a reference sample 17 whose area is set to the fifth reference value "10000 mm 2 ". As a shape whose area is the fifth reference value, a square having a side dimension of 100 mm is exemplified. In the embodiment, when the first sample, the second sample, the third sample, the fourth sample and the fifth sample are not distinguished, or when these are collectively referred to, it is referred to as "reference sample 17". The above-mentioned values as the first reference value, the second reference value, the third reference value, the fourth reference value, and the fifth reference value are examples. The reference value of the reference sample 17 is appropriately determined in consideration of various conditions. The shape of the reference sample 17 may be a rectangle, or a square and a polygon different from the rectangle. Further, the shape of the reference sample 17 may be a circular shape, an elliptical shape, or an arbitrary shape different from each of the above-mentioned shapes. The shape of the reference sample 17 is appropriately determined in consideration of various conditions.

基準試料１７は、生地片１５と同様、赤外線反射率、赤外線吸収率及び赤外線透過率の何れか又は全部を、載置面２２とは異なる状態とするとよい。例えば、基準試料１７は、赤外線反射率を載置面２２より高くするとよく、赤外線吸収率を載置面２２より低くするとよく、赤外線透過率を載置面２２より低くするとよい。例えば、基準試料１７は、生地片１５と同様、載置面２２より赤外線を反射する素材によって形成し、又は載置面２２より赤外線を反射する状態とすることができる。この他、基準試料１７を形成する素材は、皺又は反り等が発生しない又は発生し難い素材とするとよい。また、基準試料１７を面積が基準値より大きな素材を切断して形成する場合、基準試料１７を形成する素材としては、面積が基準値となる形状に容易に切断可能な素材を選択するとよい。例えば、基準試料１７を形成する素材は、切断箇所に毛羽立ちが生じない又は生じ難い素材としてもよく、伸縮性の低い素材としてもよい。例えば、基準試料１７は、紙製とすることができる。この場合、紙製の基準試料１７は、表面色を白色としてもよい。 As with the dough piece 15, the reference sample 17 may have any or all of the infrared reflectance, the infrared absorption rate, and the infrared transmittance in a state different from that of the mounting surface 22. For example, in the reference sample 17, the infrared reflectance may be higher than the mounting surface 22, the infrared absorption rate may be lower than the mounting surface 22, and the infrared transmittance may be lower than the mounting surface 22. For example, the reference sample 17 can be formed of a material that reflects infrared rays from the mounting surface 22 or can be in a state of reflecting infrared rays from the mounting surface 22 like the cloth piece 15. In addition, the material forming the reference sample 17 may be a material that does not cause wrinkles or warpage or is unlikely to occur. When the reference sample 17 is formed by cutting a material having an area larger than the reference value, it is preferable to select a material that can be easily cut into a shape having an area as the reference value as the material for forming the reference sample 17. For example, the material forming the reference sample 17 may be a material in which fluffing does not occur or is unlikely to occur at the cut portion, or a material having low elasticity may be used. For example, the reference sample 17 can be made of paper. In this case, the surface color of the reference sample 17 made of paper may be white.

メイン画面８０は、プレビュー領域８１と、測定結果領域８２と、キャリブレーションボタン８３を含む（図２参照）。プレビュー領域８１は、撮像範囲Ｒ１に対応する撮像画像を表示する領域である。測定装置１０では、プレビュー領域８１に表示される撮像画像は、動画である。測定結果領域８２は、生地片１５の単位面積質量Ｎ（ｇ／ｍ２）と、生地片１５の面積（ｍｍ２）及び質量（ｇ）を表示する領域である。キャリブレーションボタン８３は、キャリブレーション処理（図４のＳ１７、図５及び図６参照）の実行を指示する操作ボタンである。キャリブレーションボタン８３は、キャリブレーション指示に対応付けられる。キャリブレーション指示は、キャリブレーション処理の実行指示である。キャリブレーションボタン８３に対するタップが操作器６５で受け付けられた場合、プロセッサ７１は、キャリブレーション指示を取得する。これに伴い、プロセッサ７１は、キャリブレーション処理を開始する。 The main screen 80 includes a preview area 81, a measurement result area 82, and a calibration button 83 (see FIG. 2). The preview area 81 is an area for displaying the captured image corresponding to the imaging range R1. In the measuring device 10, the captured image displayed in the preview area 81 is a moving image. The measurement result region 82 is a region for displaying the unit area mass N (g / m 2 ) of the dough piece 15 and the area (mm 2 ) and mass (g) of the dough piece 15. The calibration button 83 is an operation button for instructing the execution of the calibration process (see S17, FIG. 5 and FIG. 6 in FIG. 4). The calibration button 83 is associated with a calibration instruction. The calibration instruction is an instruction to execute the calibration process. When the tap to the calibration button 83 is accepted by the actuator 65, the processor 71 acquires the calibration instruction. Along with this, the processor 71 starts the calibration process.

サブ画面９０は、プレビュー領域９１と、第一サンプルボタン９２と、第二サンプルボタン９３と、第三サンプルボタン９４と、第四サンプルボタン９５と、第五サンプルボタン９６と、補正係数ボタン９７と、戻るボタン９８を含む（図３参照）。プレビュー領域９１は、撮像範囲Ｒ１に対応する撮像画像を表示する領域である。測定装置１０では、プレビュー領域９１に表示される撮像画像は、動画である。 The sub screen 90 includes a preview area 91, a first sample button 92, a second sample button 93, a third sample button 94, a fourth sample button 95, a fifth sample button 96, and a correction coefficient button 97. , Includes a back button 98 (see Figure 3). The preview area 91 is an area for displaying the captured image corresponding to the imaging range R1. In the measuring device 10, the captured image displayed in the preview area 91 is a moving image.

第一サンプルボタン９２は、第一較正用撮像処理（図５のＳ３５参照）の実行を指示する操作ボタンである。第一サンプルボタン９２は、第一サンプル指示に対応付けられる。第一サンプル指示は、第一較正用撮像処理の実行指示である。操作者は、載置台２０に第一サンプルを載せ置く。その後、操作者は、載置台２０に第一サンプルが載せ置かれた状態で、第一サンプルボタン９２をタップする。第一サンプルボタン９２がタップされ、このタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、第一サンプル指示を取得する。これに伴い、プロセッサ７１は、第一較正用撮像処理を開始する。 The first sample button 92 is an operation button for instructing the execution of the first calibration imaging process (see S35 in FIG. 5). The first sample button 92 is associated with the first sample instruction. The first sample instruction is an execution instruction of the first calibration imaging process. The operator places the first sample on the mounting table 20. After that, the operator taps the first sample button 92 with the first sample placed on the mounting table 20. It is assumed that the first sample button 92 is tapped and this tap is accepted by the actuator 65. In this case, the processor 71 acquires the first sample instruction. Along with this, the processor 71 starts the first calibration imaging process.

第二サンプルボタン９３は、第二較正用撮像処理（図５のＳ４１参照）の実行を指示する操作ボタンである。第二サンプルボタン９３は、第二サンプル指示に対応付けられる。第二サンプル指示は、第二較正用撮像処理の実行指示である。操作者は、載置台２０に第二サンプルを載せ置く。その後、操作者は、載置台２０に第二サンプルが載せ置かれた状態で、第二サンプルボタン９３をタップする。第二サンプルボタン９３がタップされ、このタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、第二サンプル指示を取得する。これに伴い、プロセッサ７１は、第二較正用撮像処理を開始する。 The second sample button 93 is an operation button instructing the execution of the second calibration imaging process (see S41 in FIG. 5). The second sample button 93 is associated with the second sample instruction. The second sample instruction is an execution instruction of the second calibration imaging process. The operator places the second sample on the mounting table 20. After that, the operator taps the second sample button 93 with the second sample placed on the mounting table 20. It is assumed that the second sample button 93 is tapped and this tap is accepted by the actuator 65. In this case, the processor 71 acquires the second sample instruction. Along with this, the processor 71 starts the second calibration imaging process.

第三サンプルボタン９４は、第三較正用撮像処理（図５のＳ４７参照）の実行を指示する操作ボタンである。第三サンプルボタン９４は、第三サンプル指示に対応付けられる。第三サンプル指示は、第三較正用撮像処理の実行指示である。操作者は、載置台２０に第三サンプルを載せ置く。その後、操作者は、載置台２０に第三サンプルが載せ置かれた状態で、第三サンプルボタン９４をタップする。第三サンプルボタン９４がタップされ、このタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、第三サンプル指示を取得する。これに伴い、プロセッサ７１は、第三較正用撮像処理を開始する。 The third sample button 94 is an operation button for instructing the execution of the third calibration imaging process (see S47 in FIG. 5). The third sample button 94 is associated with the third sample instruction. The third sample instruction is an execution instruction of the third calibration imaging process. The operator places the third sample on the mounting table 20. After that, the operator taps the third sample button 94 with the third sample placed on the mounting table 20. It is assumed that the third sample button 94 is tapped and this tap is accepted by the actuator 65. In this case, the processor 71 acquires the third sample instruction. Along with this, the processor 71 starts the third calibration imaging process.

第四サンプルボタン９５は、第四較正用撮像処理（図６のＳ５３参照）の実行を指示する操作ボタンである。第四サンプルボタン９５は、第四サンプル指示に対応付けられる。第四サンプル指示は、第四較正用撮像処理の実行指示である。操作者は、載置台２０に第四サンプルを載せ置く。その後、操作者は、載置台２０に第四サンプルが載せ置かれた状態で、第四サンプルボタン９５をタップする。第四サンプルボタン９５がタップされ、このタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、第四サンプル指示を取得する。これに伴い、プロセッサ７１は、第四較正用撮像処理を開始する。 The fourth sample button 95 is an operation button for instructing the execution of the fourth calibration imaging process (see S53 in FIG. 6). The fourth sample button 95 is associated with the fourth sample instruction. The fourth sample instruction is an execution instruction of the fourth calibration imaging process. The operator places the fourth sample on the mounting table 20. After that, the operator taps the fourth sample button 95 with the fourth sample placed on the mounting table 20. It is assumed that the fourth sample button 95 is tapped and this tap is accepted by the actuator 65. In this case, the processor 71 acquires the fourth sample instruction. Along with this, the processor 71 starts the fourth calibration imaging process.

第五サンプルボタン９６は、第五較正用撮像処理（図６のＳ５９参照）の実行を指示する操作ボタンである。第五サンプルボタン９６は、第五サンプル指示に対応付けられる。第五サンプル指示は、第五較正用撮像処理の実行指示である。操作者は、載置台２０に第五サンプルを載せ置く。その後、操作者は、載置台２０に第五サンプルが載せ置かれた状態で、第五サンプルボタン９６をタップする。第五サンプルボタン９６がタップされ、このタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、第五サンプル指示を取得する。これに伴い、プロセッサ７１は、第五較正用撮像処理を開始する。 The fifth sample button 96 is an operation button for instructing the execution of the fifth calibration imaging process (see S59 in FIG. 6). The fifth sample button 96 is associated with the fifth sample instruction. The fifth sample instruction is an execution instruction of the fifth calibration imaging process. The operator places the fifth sample on the mounting table 20. After that, the operator taps the fifth sample button 96 with the fifth sample placed on the mounting table 20. It is assumed that the fifth sample button 96 is tapped and this tap is accepted by the actuator 65. In this case, the processor 71 acquires the fifth sample instruction. Along with this, the processor 71 starts the fifth calibration imaging process.

補正係数ボタン９７は、補正係数処理（図６のＳ６５及び図１４参照）の実行を指示する操作ボタンである。補正係数ボタン９７は、補正係数指示に対応付けられる。補正係数指示は、補正係数処理の実行指示である。操作者は、例えば、第一サンプルボタン９２、第二サンプルボタン９３、第三サンプルボタン９４、第四サンプルボタン９５及び第五サンプルボタン９６をそれぞれタップした後、補正係数ボタン９７をタップする。補正係数ボタン９７がタップされ、このタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、補正係数指示を取得する。これに伴い、プロセッサ７１は、補正係数処理を開始する。 The correction coefficient button 97 is an operation button for instructing the execution of the correction coefficient processing (see S65 and FIG. 14 in FIG. 6). The correction factor button 97 is associated with a correction factor indication. The correction coefficient instruction is an execution instruction of the correction coefficient processing. For example, the operator taps the first sample button 92, the second sample button 93, the third sample button 94, the fourth sample button 95, and the fifth sample button 96, and then taps the correction coefficient button 97. It is assumed that the correction coefficient button 97 is tapped and this tap is accepted by the actuator 65. In this case, the processor 71 acquires the correction coefficient instruction. Along with this, the processor 71 starts the correction coefficient processing.

戻るボタン９８は、キャリブレーション処理の終了を指示する操作ボタンである。戻るボタン９８は、リターン指示に対応付けられる。リターン指示は、キャリブレーション処理の終了指示である。操作者は、例えば、キャリブレーション処理を終了する場合、戻るボタン９８をタップする。戻るボタン９８がタップされ、このタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、リターン指示を取得する。これに伴い、プロセッサ７１は、キャリブレーション処理を終了する。 The back button 98 is an operation button for instructing the end of the calibration process. The back button 98 is associated with a return instruction. The return instruction is an instruction to end the calibration process. For example, the operator taps the back button 98 to end the calibration process. It is assumed that the back button 98 is tapped and this tap is accepted by the actuator 65. In this case, the processor 71 acquires the return instruction. Along with this, the processor 71 ends the calibration process.

＜メイン処理＞
メイン処理について、図４を参照して説明する。操作者は、測定装置１０の電源をオンする。これに伴い、プロセッサ７１は、ストレージ７２に記憶されたメイン処理のプログラムを起動し、メイン処理を開始する。照射器５０は、赤外線の照射を開始する。 <Main processing>
The main process will be described with reference to FIG. The operator turns on the power of the measuring device 10. Along with this, the processor 71 activates the main processing program stored in the storage 72 and starts the main processing. The irradiator 50 starts irradiation with infrared rays.

メイン処理を開始させたプロセッサ７１は、メイン画面８０を表示させる（Ｓ１１）。プロセッサ７１は、メイン画面８０の表示指令を出力器６０に出力する。出力器６０は、この表示指令に従い、メイン画面８０を表示する（図２上段参照）。プロセッサ７１は、Ｓ１１の実行に合わせ、カメラ４０を起動させる（Ｓ１３）。プロセッサ７１は、起動指令をカメラ４０に出力する。カメラ４０は、起動指令に従い起動し、撮像を開始する。プロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された撮像画像に対応する撮像データを取得する。プロセッサ７１は、前述の撮像データに対応する撮像画像をメイン画面８０のプレビュー領域８１に含める。メイン画面８０では、プレビュー領域８１に撮像範囲Ｒ１に一致する撮像画像が出力される（図２参照）。Ｓ１１とＳ１３の順序について、Ｓ１３を実行後、Ｓ１１を実行してもよい。 The processor 71 that has started the main process displays the main screen 80 (S11). The processor 71 outputs a display command of the main screen 80 to the output device 60. The output device 60 displays the main screen 80 according to this display command (see the upper part of FIG. 2). The processor 71 activates the camera 40 in accordance with the execution of S11 (S13). The processor 71 outputs a start command to the camera 40. The camera 40 is activated according to the activation command and starts imaging. The processor 71 acquires image pickup data corresponding to the image captured image captured by the camera 40. The processor 71 includes the captured image corresponding to the above-mentioned captured data in the preview area 81 of the main screen 80. On the main screen 80, an captured image matching the imaging range R1 is output to the preview area 81 (see FIG. 2). Regarding the order of S11 and S13, S11 may be executed after S13 is executed.

次に、プロセッサ７１は、キャリブレーション指示を取得したか否かを判断する（Ｓ１５）。操作者は、キャリブレーションボタン８３をタップする。キャリブレーションボタン８３のタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、操作器６５からキャリブレーション指示を取得する。キャリブレーション指示が取得された場合（Ｓ１５：Ｙｅｓ）、プロセッサ７１は、キャリブレーション処理を実行する（Ｓ１７）。キャリブレーション処理は、補正係数を取得する処理である。キャリブレーション処理及び補正係数については、後述する。キャリブレーション処理では、操作画面は、メイン画面８０からサブ画面９０へと切り替わる。Ｓ１７を実行した後、プロセッサ７１は、メイン画面８０を表示させる（Ｓ１９）。Ｓ１９は、Ｓ１１と同様に実行される。従って、Ｓ１９に関するこの他の説明は、省略する。Ｓ１９を実行した後、プロセッサ７１は、処理をＳ１５に戻す。その後、プロセッサ７１は、Ｓ１５以降の処理を繰り返して実行する。 Next, the processor 71 determines whether or not the calibration instruction has been acquired (S15). The operator taps the calibration button 83. It is assumed that the tap of the calibration button 83 is accepted by the actuator 65. In this case, the processor 71 acquires a calibration instruction from the actuator 65. When the calibration instruction is acquired (S15: Yes), the processor 71 executes the calibration process (S17). The calibration process is a process of acquiring a correction coefficient. The calibration process and correction coefficient will be described later. In the calibration process, the operation screen is switched from the main screen 80 to the sub screen 90. After executing S17, the processor 71 displays the main screen 80 (S19). S19 is executed in the same manner as S11. Therefore, other description of S19 will be omitted. After executing S19, the processor 71 returns the process to S15. After that, the processor 71 repeatedly executes the processes after S15.

キャリブレーション指示が取得されていない場合（Ｓ１５：Ｎｏ）、プロセッサ７１は、質量処理を実行する（Ｓ２１）。質量処理は、質量計３０によって測定された生地片１５の質量Ｍを取得する処理である。操作者は、載置台２０に生地片１５を載せ置く。質量計３０は、載置台２０に載せ置かれた生地片１５の質量Ｍを測定する。Ｓ２１でプロセッサ７１は、質量計３０によって測定された生地片１５の質量Ｍを取得する。プロセッサ７１は、質量Ｍをメモリ７３に記憶させる。プロセッサ７１は、質量計３０からの値が０より大きく、且つその値が設定時間一定値を示している場合に、質量計３０からの値を質量Ｍとして取得する。設定時間は、諸条件を考慮して適宜決定される。例えば、事前の実験により求められた次の時間を設定時間としてもよい。前述の時間は、生地片１５を載置台２０に載せ置いた後、質量計３０で測定される質量Ｍが安定するのに要する時間である。 If the calibration instruction has not been acquired (S15: No), the processor 71 executes mass processing (S21). The mass processing is a processing for acquiring the mass M of the dough piece 15 measured by the mass meter 30. The operator places the dough piece 15 on the mounting table 20. The mass meter 30 measures the mass M of the dough piece 15 placed on the mounting table 20. In S21, the processor 71 acquires the mass M of the dough piece 15 measured by the mass meter 30. The processor 71 stores the mass M in the memory 73. When the value from the mass meter 30 is larger than 0 and the value indicates a constant value for a set time, the processor 71 acquires the value from the mass meter 30 as the mass M. The set time is appropriately determined in consideration of various conditions. For example, the next time determined by the previous experiment may be set as the set time. The above-mentioned time is the time required for the mass M measured by the mass meter 30 to stabilize after the dough piece 15 is placed on the mounting table 20.

続けて、プロセッサ７１は、測定用撮像処理を実行する（Ｓ２３）。測定用撮像処理は、測定用の撮像データを取得する処理である。実施形態では、測定用の撮像データを「測定用撮像データ」という。測定用撮像データは、カメラ４０によって撮像された生地片１５の画像部分を含む画像データである。更に、測定用撮像データは、照射器５０からの赤外線が載置台２０上の生地片１５で反射した赤外線画像に対応する画像データである。測定装置１０では、測定用撮像データは、静止画の画像データである。Ｓ２３でプロセッサ７１は、撮像指令をカメラ４０に出力する。カメラ４０は、撮像指令に従い、撮像範囲Ｒ１を撮像する。プロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された撮像画像に対応する測定用撮像データを取得する。プロセッサ７１は、測定用撮像データをメモリ７３に記憶させる。Ｓ２１とＳ２３の順序について、Ｓ２３を実行後、Ｓ２１を実行してもよい。但し、プロセッサ７１は、質量計３０からの値が０より大きく、且つその値が設定時間一定値を示していることを条件として、Ｓ２３を実行するとよい。 Subsequently, the processor 71 executes a measurement imaging process (S23). The measurement imaging process is a process for acquiring measurement imaging data. In the embodiment, the imaging data for measurement is referred to as "imaging data for measurement". The image pickup data for measurement is image data including an image portion of the fabric piece 15 imaged by the camera 40. Further, the image pickup data for measurement is image data corresponding to an infrared image in which infrared rays from the irradiator 50 are reflected by the fabric piece 15 on the mounting table 20. In the measuring device 10, the imaging data for measurement is image data of a still image. In S23, the processor 71 outputs an image pickup command to the camera 40. The camera 40 takes an image of the image pickup range R1 according to the image pickup command. The processor 71 acquires measurement imaging data corresponding to the captured image captured by the camera 40. The processor 71 stores the measurement imaging data in the memory 73. Regarding the order of S21 and S23, S21 may be executed after S23 is executed. However, the processor 71 may execute S23 on condition that the value from the mass meter 30 is larger than 0 and the value indicates a constant value for a set time.

Ｓ２３を実行した後、プロセッサ７１は、測定用面積処理を実行する（Ｓ２５）。測定用面積処理は、Ｓ２３で取得された測定用撮像データに含まれる生地片１５の画像部分から生地片１５に対応する領域の測定用面積Ａを取得する処理である。測定用面積処理については、後述する。 After executing S23, the processor 71 executes measurement area processing (S25). The measurement area processing is a process of acquiring the measurement area A of the region corresponding to the fabric piece 15 from the image portion of the fabric piece 15 included in the measurement imaging data acquired in S23. The area processing for measurement will be described later.

次に、プロセッサ７１は、算出処理を実行する（Ｓ２７）。算出処理は、Ｓ２１で取得された質量ＭとＳ２５で取得された測定用面積Ａにより単位面積質量Ｎを算出する処理である。算出処理では、測定用面積Ａが補正係数（図１４のＳ１６３参照）を含む多項式近似曲線によって補正され、Ｓ２１で取得された質量Ｍを補正後の補正面積Ｂで除して、単位面積質量Ｎが算出される。実施形態では、前述の多項式近似曲線の次数は、４次とする。 Next, the processor 71 executes the calculation process (S27). The calculation process is a process of calculating the unit area mass N from the mass M acquired in S21 and the measurement area A acquired in S25. In the calculation process, the measurement area A is corrected by a polynomial approximation curve including a correction coefficient (see S163 in FIG. 14), and the mass M acquired in S21 is divided by the corrected correction area B to obtain a unit area mass N. Is calculated. In the embodiment, the degree of the above-mentioned polynomial approximation curve is 4th.

Ｓ２７で実行される算出処理について、更に説明する。プロセッサ７１は、メモリ７３から測定用面積Ａと補正係数を取得し、式（１）により補正率Ｊを算出する。測定用面積Ａは、後述する図７のＳ７３でメモリ７３に記憶される。補正係数は、後述する図１４のＳ１６３でメモリ７３に記憶される。また、プロセッサ７１は、式（２）により補正面積Ｂを算出する。これにより、プロセッサ７１は、式（３）により単位面積質量Ｎを取得する。
Ｊ＝Ｃｏｅｆｆ４×Ａ４＋Ｃｏｅｆｆ３×Ａ３＋Ｃｏｅｆｆ２×Ａ２＋Ｃｏｅｆｆ１×Ａ＋Ｃｏｅｆｆ０ ・・・（１）
Ｂ＝（Ｊ＋１）×Ａ ・・・（２）
Ｎ＝Ｍ／Ｂ ・・・（３）
Ｓ１７でキャリブレーション処理（図５及び図６参照）が未実行である場合、Ｓ２７では、補正面積Ｂは、測定用面積Ａと同一値となる。従って、式（３）は、実質的に「Ｎ＝Ｍ／Ａ」となる。補正率Ｊ又は後述する図１４のＳ１６３でメモリ７３に記憶される補正係数は、例えば、メイン処理のプログラムに登録するとよい。現在実行中のメイン処理を開始後、Ｓ１７が未実行で、補正係数がメモリ７３に記憶されていない場合（図１４のＳ１６３：未実行）、Ｓ３５でプロセッサ７１は、登録済みの補正率Ｊ又は補正係数を用いる。メイン処理のプログラムに登録される補正率Ｊ又は補正係数（Ｃｏｅｆｆ０，Ｃｏｅｆｆ１，Ｃｏｅｆｆ２，Ｃｏｅｆｆ３，Ｃｏｅｆｆ４）の初期値は、０に設定される。式（１）により補正率Ｊが算出された場合、プロセッサ７１は、メイン処理のプログラムに登録された補正率Ｊを、新たに算出された補正率Ｊへと更新する。 The calculation process executed in S27 will be further described. The processor 71 acquires the measurement area A and the correction coefficient from the memory 73, and calculates the correction factor J by the equation (1). The measurement area A is stored in the memory 73 in S73 of FIG. 7, which will be described later. The correction coefficient is stored in the memory 73 in S163 of FIG. 14, which will be described later. Further, the processor 71 calculates the correction area B by the equation (2). As a result, the processor 71 acquires the unit area mass N by the equation (3).
J = Coeff4 × A 4 ＋ Coeff3 × A 3 ＋ Coeff2 × A 2 ＋ Coeff1 × A ＋ Coeff0 ・ ・ ・ (1)
B = (J + 1) x A ... (2)
N = M / B ... (3)
When the calibration process (see FIGS. 5 and 6) has not been executed in S17, the correction area B has the same value as the measurement area A in S27. Therefore, the equation (3) is substantially “N = M / A”. The correction factor J or the correction coefficient stored in the memory 73 in S163 of FIG. 14 described later may be registered in, for example, the main processing program. If S17 is not executed and the correction coefficient is not stored in the memory 73 after starting the main process currently being executed (S163 in FIG. 14: not executed), the processor 71 in S35 has the registered correction factor J or Use the correction factor. The initial value of the correction factor J or the correction coefficient (Coeff0, Coeff1, Coeff2, Coeff3, Coeff4) registered in the main processing program is set to 0. When the correction factor J is calculated by the equation ( 1 ), the processor 71 updates the correction factor J registered in the program of the main process to the newly calculated correction factor J.

続けて、プロセッサ７１は、出力処理を実行する（Ｓ２９）。出力処理は、Ｓ２７で取得された単位面積質量Ｎを出力器６０で出力させる処理である。実施形態では、単位面積質量Ｎと共に、補正面積Ｂ及び質量Ｍも出力される。プロセッサ７１は、単位面積質量Ｎ、補正面積Ｂ及び質量Ｍの出力指令を出力器６０に出力する。出力器６０は、出力指令に従い、単位面積質量Ｎ、補正面積Ｂ及び質量Ｍを出力する。即ち、出力器６０は、測定結果領域８２に測定結果としての単位面積質量Ｎ、補正面積Ｂ及び質量Ｍを含むメイン画面８０を表示する（図２下段参照）。Ｓ２９を実行した後、プロセッサ７１は、処理をＳ１５に戻す。その後、プロセッサ７１は、Ｓ１５以降の処理を繰り返して実行する。メイン処理は、測定装置１０の電源オフにより終了する。照射器５０からの赤外線の照射は、測定装置１０の電源オフまで継続される。 Subsequently, the processor 71 executes the output process (S29). The output process is a process of outputting the unit area mass N acquired in S27 by the output device 60. In the embodiment, the corrected area B and the mass M are output together with the unit area mass N. The processor 71 outputs an output command of the unit area mass N, the correction area B, and the mass M to the output device 60. The output device 60 outputs the unit area mass N, the correction area B, and the mass M in accordance with the output command. That is, the output device 60 displays the main screen 80 including the unit area mass N, the correction area B, and the mass M as the measurement results in the measurement result region 82 (see the lower part of FIG. 2). After executing S29, the processor 71 returns the process to S15. After that, the processor 71 repeatedly executes the processes after S15. The main process ends when the power of the measuring device 10 is turned off. Irradiation of infrared rays from the irradiator 50 is continued until the power of the measuring device 10 is turned off.

＜キャリブレーション処理＞
図４のＳ１７で実行されるキャリブレーション処理について、図５及び図６を参照して説明する。キャリブレーション処理を開始させたプロセッサ７１は、サブ画面９０を表示させる（Ｓ３１）。プロセッサ７１は、サブ画面９０の表示指令を出力器６０に出力する。出力器６０は、この表示指令に従い、サブ画面９０を表示する（図３参照）。 <Calibration process>
The calibration process executed in S17 of FIG. 4 will be described with reference to FIGS. 5 and 6. The processor 71 that has started the calibration process displays the sub screen 90 (S31). The processor 71 outputs a display command of the sub screen 90 to the output device 60. The output device 60 displays the sub screen 90 according to this display command (see FIG. 3).

次に、プロセッサ７１は、第一サンプル指示を取得したか否かを判断する（Ｓ３３）。操作者は、第一サンプルボタン９２をタップする。但し、載置台２０に第一サンプルがセットされておらず、プレビュー領域９１に第一サンプルが表示されていないとする。この場合、操作者は、第一サンプルボタン９２をタップするに際し、載置台２０に第一サンプルを載せ置く。第一サンプルボタン９２のタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、操作器６５から第一サンプル指示を取得する。 Next, the processor 71 determines whether or not the first sample instruction has been acquired (S33). The operator taps the first sample button 92. However, it is assumed that the first sample is not set on the mounting table 20 and the first sample is not displayed in the preview area 91. In this case, the operator places the first sample on the mounting table 20 when tapping the first sample button 92. It is assumed that the tap of the first sample button 92 is accepted by the actuator 65. In this case, the processor 71 acquires the first sample instruction from the actuator 65.

第一サンプル指示が取得されていない場合（Ｓ３３：Ｎｏ）、プロセッサ７１は、処理をＳ３９に移行する。第一サンプル指示が取得された場合（Ｓ３３：Ｙｅｓ）、プロセッサ７１は、第一較正用撮像処理を実行する（Ｓ３５）。第一較正用撮像処理は、次の較正用の撮像データを取得する処理である。実施形態では、前述の較正用の撮像データを「第一較正用撮像データ」という。第一較正用撮像データは、カメラ４０によって撮像された第一サンプルの画像部分を含む画像データである。更に、第一較正用撮像データは、照射器５０からの赤外線が載置台２０上の第一サンプルで反射した赤外線画像に対応する画像データである。測定装置１０では、第一較正用撮像データは、静止画の画像データである。Ｓ３５でプロセッサ７１は、撮像指令をカメラ４０に出力する。カメラ４０は、撮像指令に従い、撮像範囲Ｒ１を撮像する。プロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された撮像画像に対応する第一較正用撮像データを取得する。プロセッサ７１は、第一較正用撮像データをメモリ７３に記憶させる。 When the first sample instruction is not acquired (S33: No), the processor 71 shifts the process to S39. When the first sample instruction is acquired (S33: Yes), the processor 71 executes the first calibration imaging process (S35). The first calibration imaging process is a process of acquiring the next calibration imaging data. In the embodiment, the above-mentioned imaging data for calibration is referred to as "first calibration imaging data". The first calibration imaging data is image data including an image portion of the first sample captured by the camera 40. Further, the first calibration imaging data is image data corresponding to the infrared image in which the infrared rays from the irradiator 50 are reflected by the first sample on the mounting table 20. In the measuring device 10, the first calibration imaging data is still image data. In S35, the processor 71 outputs an image pickup command to the camera 40. The camera 40 takes an image of the image pickup range R1 according to the image pickup command. The processor 71 acquires the first calibration image data corresponding to the image captured by the camera 40. The processor 71 stores the first calibration imaging data in the memory 73.

続けて、プロセッサ７１は、第一較正用面積処理を実行する（Ｓ３７）。第一較正用面積処理は、Ｓ３５で取得された第一較正用撮像データに含まれる第一サンプルの画像部分から第一サンプルに対応する領域の面積を取得する処理である。実施形態では、第一較正用面積処理によって取得される前述の面積を「第一較正用面積Ｘ１」という。第一較正用面積処理については、後述する。Ｓ３７を実行した後、プロセッサ７１は、処理をＳ３３に戻す。その後、プロセッサ７１は、Ｓ３３以降の処理を繰り返して実行する。 Subsequently, the processor 71 executes the first calibration area processing (S37). The first calibration area processing is a process of acquiring the area of the region corresponding to the first sample from the image portion of the first sample included in the first calibration imaging data acquired in S35. In the embodiment, the above-mentioned area acquired by the first calibration area processing is referred to as "first calibration area X1". The area processing for the first calibration will be described later. After executing S37, the processor 71 returns the process to S33. After that, the processor 71 repeatedly executes the processes after S33.

Ｓ３９でプロセッサ７１は、第二サンプル指示を取得したか否かを判断する。操作者は、第二サンプルボタン９３をタップする。但し、載置台２０に第二サンプルがセットされておらず、プレビュー領域９１に第二サンプルが表示されていないとする。この場合、操作者は、第二サンプルボタン９３をタップするに際し、載置台２０に第二サンプルを載せ置く。第二サンプルボタン９３のタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、操作器６５から第二サンプル指示を取得する。 In S39, the processor 71 determines whether or not the second sample instruction has been acquired. The operator taps the second sample button 93. However, it is assumed that the second sample is not set on the mounting table 20 and the second sample is not displayed in the preview area 91. In this case, the operator places the second sample on the mounting table 20 when tapping the second sample button 93. It is assumed that the tap of the second sample button 93 is accepted by the actuator 65. In this case, the processor 71 acquires the second sample instruction from the actuator 65.

第二サンプル指示が取得されていない場合（Ｓ３９：Ｎｏ）、プロセッサ７１は、処理をＳ４５に移行する。第二サンプル指示が取得された場合（Ｓ３９：Ｙｅｓ）、プロセッサ７１は、第二較正用撮像処理を実行する（Ｓ４１）。第二較正用撮像処理は、次の較正用の撮像データを取得する処理である。実施形態では、前述の較正用の撮像データを「第二較正用撮像データ」という。第二較正用撮像データは、カメラ４０によって撮像された第二サンプルの画像部分を含む画像データである。更に、第二較正用撮像データは、照射器５０からの赤外線が載置台２０上の第二サンプルで反射した赤外線画像に対応する画像データである。測定装置１０では、第二較正用撮像データは、静止画の画像データである。Ｓ４１でプロセッサ７１は、撮像指令をカメラ４０に出力する。カメラ４０は、撮像指令に従い、撮像範囲Ｒ１を撮像する。プロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された撮像画像に対応する第二較正用撮像データを取得する。プロセッサ７１は、第二較正用撮像データをメモリ７３に記憶させる。 If the second sample instruction has not been acquired (S39: No), the processor 71 shifts the process to S45. When the second sample instruction is acquired (S39: Yes), the processor 71 executes the second calibration imaging process (S41). The second calibration image pickup process is a process of acquiring the next calibration image pickup data. In the embodiment, the above-mentioned imaging data for calibration is referred to as "second calibration imaging data". The second calibration imaging data is image data including an image portion of the second sample captured by the camera 40. Further, the second calibration imaging data is image data corresponding to the infrared image in which the infrared rays from the irradiator 50 are reflected by the second sample on the mounting table 20. In the measuring device 10, the image data for the second calibration is image data of a still image. In S41, the processor 71 outputs an image pickup command to the camera 40. The camera 40 takes an image of the image pickup range R1 according to the image pickup command. The processor 71 acquires the second calibration image data corresponding to the image captured by the camera 40. The processor 71 stores the second calibration imaging data in the memory 73.

続けて、プロセッサ７１は、第二較正用面積処理を実行する（Ｓ４３）。第二較正用面積処理は、Ｓ４１で取得された第二較正用撮像データに含まれる第二サンプルの画像部分から第二サンプルに対応する領域の面積を取得する処理である。実施形態では、第二較正用面積処理によって取得される前述の面積を「第二較正用面積Ｘ２」という。第二較正用面積処理については、後述する。Ｓ４３を実行した後、プロセッサ７１は、処理をＳ３３に戻す。その後、プロセッサ７１は、Ｓ３３以降の処理を繰り返して実行する。 Subsequently, the processor 71 executes the second calibration area processing (S43). The second calibration area processing is a process of acquiring the area of the region corresponding to the second sample from the image portion of the second sample included in the second calibration imaging data acquired in S41. In the embodiment, the above-mentioned area acquired by the second calibration area processing is referred to as "second calibration area X2". The area processing for the second calibration will be described later. After executing S43, the processor 71 returns the process to S33. After that, the processor 71 repeatedly executes the processes after S33.

Ｓ４５でプロセッサ７１は、第三サンプル指示を取得したか否かを判断する。操作者は、第三サンプルボタン９４をタップする。但し、載置台２０に第三サンプルがセットされておらず、プレビュー領域９１に第三サンプルが表示されていないとする。この場合、操作者は、第三サンプルボタン９４をタップするに際し、載置台２０に第三サンプルを載せ置く。第三サンプルボタン９４のタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、操作器６５から第三サンプル指示を取得する。 In S45, the processor 71 determines whether or not the third sample instruction has been acquired. The operator taps the third sample button 94. However, it is assumed that the third sample is not set on the mounting table 20 and the third sample is not displayed in the preview area 91. In this case, the operator puts the third sample on the mounting table 20 when tapping the third sample button 94. It is assumed that the tap of the third sample button 94 is accepted by the actuator 65. In this case, the processor 71 acquires the third sample instruction from the actuator 65.

第三サンプル指示が取得されていない場合（Ｓ４５：Ｎｏ）、プロセッサ７１は、処理を図６のＳ５１に移行する。第三サンプル指示が取得された場合（Ｓ４５：Ｙｅｓ）、プロセッサ７１は、第三較正用撮像処理を実行する（Ｓ４７）。第三較正用撮像処理は、次の較正用の撮像データを取得する処理である。実施形態では、前述の較正用の撮像データを「第三較正用撮像データ」という。第三較正用撮像データは、カメラ４０によって撮像された第三サンプルの画像部分を含む画像データである。更に、第三較正用撮像データは、照射器５０からの赤外線が載置台２０上の第三サンプルで反射した赤外線画像に対応する画像データである。測定装置１０では、第三較正用撮像データは、静止画の画像データである。Ｓ４７でプロセッサ７１は、撮像指令をカメラ４０に出力する。カメラ４０は、撮像指令に従い、撮像範囲Ｒ１を撮像する。プロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された撮像画像に対応する第三較正用撮像データを取得する。プロセッサ７１は、第三較正用撮像データをメモリ７３に記憶させる。 If the third sample instruction has not been acquired (S45: No), the processor 71 shifts the process to S51 in FIG. When the third sample instruction is acquired (S45: Yes), the processor 71 executes the third calibration imaging process (S47). The third calibration image pickup process is a process of acquiring the next calibration image pickup data. In the embodiment, the above-mentioned imaging data for calibration is referred to as "third calibration imaging data". The third calibration imaging data is image data including an image portion of the third sample captured by the camera 40. Further, the image data for the third calibration is image data corresponding to the infrared image in which the infrared rays from the irradiator 50 are reflected by the third sample on the mounting table 20. In the measuring device 10, the image data for the third calibration is image data of a still image. In S47, the processor 71 outputs an image pickup command to the camera 40. The camera 40 takes an image of the image pickup range R1 according to the image pickup command. The processor 71 acquires the third calibration image data corresponding to the image captured by the camera 40. The processor 71 stores the third calibration imaging data in the memory 73.

続けて、プロセッサ７１は、第三較正用面積処理を実行する（Ｓ４９）。第三較正用面積処理は、Ｓ４７で取得された第三較正用撮像データに含まれる第三サンプルの画像部分から第三サンプルに対応する領域の面積を取得する処理である。実施形態では、第三較正用面積処理によって取得される前述の面積を「第三較正用面積Ｘ３」という。第三較正用面積処理については、後述する。Ｓ４９を実行した後、プロセッサ７１は、処理をＳ３３に戻す。その後、プロセッサ７１は、Ｓ３３以降の処理を繰り返して実行する。 Subsequently, the processor 71 executes the third calibration area processing (S49). The third calibration area process is a process of acquiring the area of the region corresponding to the third sample from the image portion of the third sample included in the third calibration image pickup data acquired in S47. In the embodiment, the above-mentioned area acquired by the third calibration area processing is referred to as "third calibration area X3". The area processing for the third calibration will be described later. After executing S49, the processor 71 returns the process to S33. After that, the processor 71 repeatedly executes the processes after S33.

図６のＳ５１でプロセッサ７１は、第四サンプル指示を取得したか否かを判断する。操作者は、第四サンプルボタン９５をタップする。但し、載置台２０に第四サンプルがセットされておらず、プレビュー領域９１に第四サンプルが表示されていないとする。この場合、操作者は、第四サンプルボタン９５をタップするに際し、載置台２０に第四サンプルを載せ置く。第四サンプルボタン９５のタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、操作器６５から第四サンプル指示を取得する。 In S51 of FIG. 6, the processor 71 determines whether or not the fourth sample instruction has been acquired. The operator taps the fourth sample button 95. However, it is assumed that the fourth sample is not set on the mounting table 20 and the fourth sample is not displayed in the preview area 91. In this case, the operator places the fourth sample on the mounting table 20 when tapping the fourth sample button 95. It is assumed that the tap of the fourth sample button 95 is accepted by the actuator 65. In this case, the processor 71 acquires the fourth sample instruction from the actuator 65.

第四サンプル指示が取得されていない場合（Ｓ５１：Ｎｏ）、プロセッサ７１は、処理をＳ５７に移行する。第四サンプル指示が取得された場合（Ｓ５１：Ｙｅｓ）、プロセッサ７１は、第四較正用撮像処理を実行する（Ｓ５３）。第四較正用撮像処理は、次の較正用の撮像データを取得する処理である。実施形態では、前述の較正用の撮像データを「第四較正用撮像データ」という。第四較正用撮像データは、カメラ４０によって撮像された第四サンプルの画像部分を含む画像データである。更に、第四較正用撮像データは、照射器５０からの赤外線が載置台２０上の第四サンプルで反射した赤外線画像に対応する画像データである。測定装置１０では、第四較正用撮像データは、静止画の画像データである。Ｓ５３でプロセッサ７１は、撮像指令をカメラ４０に出力する。カメラ４０は、撮像指令に従い、撮像範囲Ｒ１を撮像する。プロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された撮像画像に対応する第四較正用撮像データを取得する。プロセッサ７１は、第四較正用撮像データをメモリ７３に記憶させる。 If the fourth sample instruction has not been acquired (S51: No), the processor 71 shifts the process to S57. When the fourth sample instruction is acquired (S51: Yes), the processor 71 executes the fourth calibration imaging process (S53). The fourth calibration imaging process is a process of acquiring the next calibration imaging data. In the embodiment, the above-mentioned imaging data for calibration is referred to as "fourth calibration imaging data". The fourth calibration imaging data is image data including an image portion of the fourth sample captured by the camera 40. Further, the fourth calibration imaging data is image data corresponding to the infrared image in which the infrared rays from the irradiator 50 are reflected by the fourth sample on the mounting table 20. In the measuring device 10, the fourth calibration imaging data is still image data. In S53, the processor 71 outputs an image pickup command to the camera 40. The camera 40 takes an image of the image pickup range R1 according to the image pickup command. The processor 71 acquires the fourth calibration image data corresponding to the image captured by the camera 40. The processor 71 stores the fourth calibration image pickup data in the memory 73.

続けて、プロセッサ７１は、第四較正用面積処理を実行する（Ｓ５５）。第四較正用面積処理は、Ｓ５３で取得された第四較正用撮像データに含まれる第四サンプルの画像部分から第四サンプルに対応する領域の面積を取得する処理である。実施形態では、第四較正用面積処理によって取得される前述の面積を「第四較正用面積Ｘ４」という。第四較正用面積処理については、後述する。Ｓ５５を実行した後、プロセッサ７１は、処理を図５のＳ３３に戻す。その後、プロセッサ７１は、Ｓ３３以降の処理を繰り返して実行する。 Subsequently, the processor 71 executes the fourth calibration area processing (S55). The fourth calibration area processing is a process of acquiring the area of the region corresponding to the fourth sample from the image portion of the fourth sample included in the fourth calibration imaging data acquired in S53. In the embodiment, the above-mentioned area acquired by the fourth calibration area processing is referred to as "fourth calibration area X4". The fourth calibration area processing will be described later. After executing S55, the processor 71 returns the process to S33 in FIG. After that, the processor 71 repeatedly executes the processes after S33.

Ｓ５７でプロセッサ７１は、第五サンプル指示を取得したか否かを判断する。操作者は、第五サンプルボタン９６をタップする。但し、載置台２０に第五サンプルがセットされておらず、プレビュー領域９１に第五サンプルが表示されていないとする。この場合、操作者は、第五サンプルボタン９６をタップするに際し、載置台２０に第五サンプルを載せ置く。第五サンプルボタン９６のタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、操作器６５から第五サンプル指示を取得する。 In S57, the processor 71 determines whether or not the fifth sample instruction has been acquired. The operator taps the fifth sample button 96. However, it is assumed that the fifth sample is not set on the mounting table 20 and the fifth sample is not displayed in the preview area 91. In this case, the operator places the fifth sample on the mounting table 20 when tapping the fifth sample button 96. It is assumed that the tap of the fifth sample button 96 is accepted by the actuator 65. In this case, the processor 71 acquires the fifth sample instruction from the actuator 65.

第五サンプル指示が取得されていない場合（Ｓ５７：Ｎｏ）、プロセッサ７１は、処理をＳ６３に移行する。第五サンプル指示が取得された場合（Ｓ５７：Ｙｅｓ）、プロセッサ７１は、第五較正用撮像処理を実行する（Ｓ５９）。第五較正用撮像処理は、次の較正用の撮像データを取得する処理である。実施形態では、前述の較正用の撮像データを「第五較正用撮像データ」という。第五較正用撮像データは、カメラ４０によって撮像された第五サンプルの画像部分を含む画像データである。更に、第五較正用撮像データは、照射器５０からの赤外線が載置台２０上の第五サンプルで反射した赤外線画像に対応する画像データである。測定装置１０では、第五較正用撮像データは、静止画の画像データである。Ｓ５３でプロセッサ７１は、撮像指令をカメラ４０に出力する。カメラ４０は、撮像指令に従い、撮像範囲Ｒ１を撮像する。プロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された撮像画像に対応する第五較正用撮像データを取得する。プロセッサ７１は、第五較正用撮像データをメモリ７３に記憶させる。 If the fifth sample instruction has not been acquired (S57: No), the processor 71 shifts the process to S63. When the fifth sample instruction is acquired (S57: Yes), the processor 71 executes the fifth calibration imaging process (S59). The fifth calibration image pickup process is a process of acquiring the next calibration image pickup data. In the embodiment, the above-mentioned imaging data for calibration is referred to as "fifth calibration imaging data". The fifth calibration imaging data is image data including an image portion of the fifth sample captured by the camera 40. Further, the fifth calibration imaging data is image data corresponding to the infrared image in which the infrared rays from the irradiator 50 are reflected by the fifth sample on the mounting table 20. In the measuring device 10, the fifth calibration image pickup data is still image data. In S53, the processor 71 outputs an image pickup command to the camera 40. The camera 40 takes an image of the image pickup range R1 according to the image pickup command. The processor 71 acquires the fifth calibration image data corresponding to the image captured by the camera 40. The processor 71 stores the fifth calibration image pickup data in the memory 73.

続けて、プロセッサ７１は、第五較正用面積処理を実行する（Ｓ６１）。第五較正用面積処理は、Ｓ５９で取得された第五較正用撮像データに含まれる第五サンプルの画像部分から第五サンプルに対応する領域の面積を取得する処理である。実施形態では、第五較正用面積処理によって取得される前述の面積を「第五較正用面積Ｘ５」という。第五較正用面積処理については、後述する。Ｓ６１を実行した後、プロセッサ７１は、処理を図５のＳ３３に戻す。その後、プロセッサ７１は、Ｓ３３以降の処理を繰り返して実行する。 Subsequently, the processor 71 executes the fifth calibration area processing (S61). The fifth calibration area processing is a process of acquiring the area of the region corresponding to the fifth sample from the image portion of the fifth sample included in the fifth calibration imaging data acquired in S59. In the embodiment, the above-mentioned area acquired by the fifth calibration area processing is referred to as "fifth calibration area X5". The fifth calibration area processing will be described later. After executing S61, the processor 71 returns the process to S33 in FIG. After that, the processor 71 repeatedly executes the processes after S33.

Ｓ６３でプロセッサ７１は、補正係数指示を取得したか否かを判断する。操作者は、補正係数ボタン９７をタップする。補正係数ボタン９７のタップが操作器６５で受け付けられたとする。この場合、プロセッサ７１は、操作器６５から補正係数指示を取得する。 In S63, the processor 71 determines whether or not the correction coefficient instruction has been acquired. The operator taps the correction coefficient button 97. It is assumed that the tap of the correction coefficient button 97 is accepted by the actuator 65. In this case, the processor 71 acquires the correction coefficient instruction from the actuator 65.

補正係数指示が取得されていない場合（Ｓ６３：Ｎｏ）、プロセッサ７１は、処理をＳ６７に移行する。補正係数指示が取得された場合（Ｓ６３：Ｙｅｓ）、プロセッサ７１は、補正係数処理を実行する（Ｓ６５）。補正係数処理は、第一差値、第二差値、第三差値、第四差値及び第五差値に応じた補正係数を算出する処理である。第一差値は、第一基準値（４００ｍｍ２）と第一較正用面積Ｘ１の差である。第二差値は、第二基準値（１６００ｍｍ２）と第二較正用面積Ｘ２の差である。第三差値は、第三基準値（３６００ｍｍ２）と第三較正用面積Ｘ３の差である。第四差値は、第四基準値（６４００ｍｍ２）と第四較正用面積Ｘ４の差である。第五差値は、第五基準値（１００００ｍｍ２）と第五較正用面積Ｘ５の差である。補正係数処理では、ガウスの消去法により、図３のＳ２７で用いられる４次の多項式の係数（上述の式（１）参照）が取得される。補正係数処理については、後述する。その後、プロセッサ７１は、キャリブレーション処理を終了する。 When the correction coefficient instruction is not acquired (S63: No), the processor 71 shifts the process to S67. When the correction coefficient instruction is acquired (S63: Yes), the processor 71 executes the correction coefficient processing (S65). The correction coefficient processing is a process of calculating a correction coefficient according to the first difference value, the second difference value, the third difference value, the fourth difference value, and the fifth difference value. The first difference value is the difference between the first reference value (400 mm 2 ) and the first calibration area X1. The second difference value is the difference between the second reference value (1600 mm 2 ) and the second calibration area X2. The third difference value is the difference between the third reference value (3600 mm 2 ) and the third calibration area X3. The fourth difference value is the difference between the fourth reference value (6400 mm 2 ) and the fourth calibration area X4. The fifth difference value is the difference between the fifth reference value (10000 mm 2 ) and the fifth calibration area X5. In the correction coefficient processing, the coefficient of the fourth-order polynomial used in S27 of FIG. 3 (see the above equation (1)) is acquired by the Gauss-Jordan method. The correction coefficient processing will be described later. After that, the processor 71 ends the calibration process.

Ｓ６７でプロセッサ７１は、リターン指示を取得したか否かを判断する。リターン指示が取得されていない場合（Ｓ６７：Ｎｏ）、プロセッサ７１は、処理を図５のＳ３３に戻す。その後、プロセッサ７１は、Ｓ３３以降の処理を繰り返して実行する。リターン指示が取得された場合（Ｓ６７：Ｙｅｓ）、プロセッサ７１は、キャリブレーション処理を終了する。 In S67, the processor 71 determines whether or not the return instruction has been acquired. If the return instruction has not been acquired (S67: No), the processor 71 returns the process to S33 in FIG. After that, the processor 71 repeatedly executes the processes after S33. When the return instruction is acquired (S67: Yes), the processor 71 ends the calibration process.

＜測定用面積処理＞
図４のＳ２５で実行される測定用面積処理について、図７を参照して説明する。測定用面積処理を開始させたプロセッサ７１は、実測処理を実行する（Ｓ７１）。上記で測定用面積処理にて取得されるとした測定用面積Ａは、Ｓ７１で実行される実測処理によって取得される。実測処理については、後述する。Ｓ７１を実行した後、プロセッサ７１は、実測処理で取得された測定用面積Ａをメモリ７３に記憶させる（Ｓ７３）。その後、プロセッサ７１は、測定用面積処理を終了する。 <Area processing for measurement>
The area processing for measurement executed in S25 of FIG. 4 will be described with reference to FIG. 7. The processor 71 that has started the measurement area processing executes the actual measurement processing (S71). The measurement area A, which is assumed to be acquired by the measurement area process above, is acquired by the actual measurement process executed in S71. The actual measurement process will be described later. After executing S71, the processor 71 stores the measurement area A acquired in the actual measurement process in the memory 73 (S73). After that, the processor 71 ends the measurement area processing.

＜第一較正用面積処理＞
図５のＳ３７で実行される第一較正用面積処理について、図８を参照して説明する。第一較正用面積処理を開始させたプロセッサ７１は、実測処理を実行する（Ｓ８１）。上記で第一較正用面積処理にて取得されるとした第一較正用面積Ｘ１は、Ｓ８１で実行される実測処理によって取得される。実測処理については、後述する。Ｓ８１を実行した後、プロセッサ７１は、実測処理で取得された第一較正用面積Ｘ１をメモリ７３に記憶させる（Ｓ８３）。その後、プロセッサ７１は、第一較正用面積処理を終了する。 <Area processing for first calibration>
The first calibration area process performed in S37 of FIG. 5 will be described with reference to FIG. The processor 71 that has started the first calibration area processing executes the actual measurement processing (S81). The first calibration area X1, which is assumed to be acquired in the first calibration area process above, is acquired by the actual measurement process executed in S81. The actual measurement process will be described later. After executing S81, the processor 71 stores the first calibration area X1 acquired in the actual measurement process in the memory 73 (S83). After that, the processor 71 ends the first calibration area processing.

＜第二較正用面積処理＞
図５のＳ４３で実行される第二較正用面積処理について、図９を参照して説明する。第二較正用面積処理を開始させたプロセッサ７１は、実測処理を実行する（Ｓ９１）。上記で第二較正用面積処理にて取得されるとした第二較正用面積Ｘ２は、Ｓ９１で実行される実測処理によって取得される。実測処理については、後述する。Ｓ９１を実行した後、プロセッサ７１は、実測処理で取得された第二較正用面積Ｘ２をメモリ７３に記憶させる（Ｓ９３）。その後、プロセッサ７１は、第二較正用面積処理を終了する。 <Area processing for second calibration>
The second calibration area process performed in S43 of FIG. 5 will be described with reference to FIG. The processor 71 that has started the second calibration area processing executes the actual measurement processing (S91). The second calibration area X2, which is assumed to be acquired in the second calibration area process above, is acquired by the actual measurement process executed in S91. The actual measurement process will be described later. After executing S91, the processor 71 stores the second calibration area X2 acquired in the actual measurement process in the memory 73 (S93). After that, the processor 71 ends the second calibration area processing.

＜第三較正用面積処理＞
図５のＳ４９で実行される第三較正用面積処理について、図１０を参照して説明する。第三較正用面積処理を開始させたプロセッサ７１は、実測処理を実行する（Ｓ１０１）。上記で第三較正用面積処理にて取得されるとした第三較正用面積Ｘ３は、Ｓ１０１で実行される実測処理によって取得される。実測処理については、後述する。Ｓ１０１を実行した後、プロセッサ７１は、実測処理で取得された第三較正用面積Ｘ３をメモリ７３に記憶させる（Ｓ１０３）。その後、プロセッサ７１は、第三較正用面積処理を終了する。 <Area processing for third calibration>
The third calibration area process performed in S49 of FIG. 5 will be described with reference to FIG. The processor 71 that has started the third calibration area process executes the actual measurement process (S101). The third calibration area X3, which is assumed to be acquired in the third calibration area process above, is acquired by the actual measurement process executed in S101. The actual measurement process will be described later. After executing S101, the processor 71 stores the third calibration area X3 acquired in the actual measurement process in the memory 73 (S103). After that, the processor 71 ends the third calibration area processing.

＜第四較正用面積処理＞
図６のＳ５５で実行される第四較正用面積処理について、図１１を参照して説明する。第四較正用面積処理を開始させたプロセッサ７１は、実測処理を実行する（Ｓ１１１）。上記で第四較正用面積処理にて取得されるとした第四較正用面積Ｘ４は、Ｓ１１１で実行される実測処理によって取得される。実測処理については、後述する。Ｓ１１１を実行した後、プロセッサ７１は、実測処理で取得された第四較正用面積Ｘ４をメモリ７３に記憶させる（Ｓ１１３）。その後、プロセッサ７１は、第四較正用面積処理を終了する。 <Fourth calibration area processing>
The fourth calibration area process performed in S55 of FIG. 6 will be described with reference to FIG. The processor 71 that has started the fourth calibration area process executes the actual measurement process (S111). The fourth calibration area X4, which is assumed to be acquired in the fourth calibration area process above, is acquired by the actual measurement process executed in S111. The actual measurement process will be described later. After executing S111, the processor 71 stores the fourth calibration area X4 acquired in the actual measurement process in the memory 73 (S113). After that, the processor 71 ends the fourth calibration area processing.

＜第五較正用面積処理＞
図６のＳ６１で実行される第五較正用面積処理について、図１２を参照して説明する。第五較正用面積処理を開始させたプロセッサ７１は、実測処理を実行する（Ｓ１２１）。上記で第五較正用面積処理にて取得されるとした第五較正用面積Ｘ５は、Ｓ１２１で実行される実測処理によって取得される。実測処理については、後述する。Ｓ１２１を実行した後、プロセッサ７１は、実測処理で取得された第五較正用面積Ｘ５をメモリ７３に記憶させる（Ｓ１２３）。その後、プロセッサ７１は、第五較正用面積処理を終了する。 <Area processing for fifth calibration>
The fifth calibration area process performed in S61 of FIG. 6 will be described with reference to FIG. The processor 71 that has started the fifth calibration area processing executes the actual measurement processing (S121). The fifth calibration area X5, which is assumed to be acquired in the fifth calibration area process above, is acquired by the actual measurement process executed in S121. The actual measurement process will be described later. After executing S121, the processor 71 stores the fifth calibration area X5 acquired in the actual measurement process in the memory 73 (S123). After that, the processor 71 ends the fifth calibration area processing.

＜実測処理＞
図７のＳ７１、図８のＳ８１、図９のＳ９１、図１０のＳ１０１、図１１のＳ１１１及び図１２のＳ１２１で実行される実測処理について、図１３を参照して説明する。実施形態では、測定用撮像データ、第一較正用撮像データ、第二較正用撮像データ、第三較正用撮像データ、第四較正用撮像データ及び第五較正用撮像データを区別しない場合、又はこれらを総称する場合、単に「撮像データ」という。生地片１５と基準試料１７としての第一サンプル、第二サンプル、第三サンプル、第四サンプル及び第五サンプルを区別しない場合、又はこれらを総称する場合、「被検出物」という。測定用面積Ａ、第一較正用面積Ｘ１、第二較正用面積Ｘ２、第三較正用面積Ｘ３、第四較正用面積Ｘ４及び第五較正用面積Ｘ５を区別しない場合、又はこれらを総称する場合、単に「面積」又は「被検出物の面積」という。 <Actual measurement processing>
The actual measurement processing executed in S71 of FIG. 7, S81 of FIG. 8, S91 of FIG. 9, S101 of FIG. 10, S111 of FIG. 11, and S121 of FIG. 12 will be described with reference to FIG. In the embodiment, when the imaging data for measurement, the imaging data for the first calibration, the imaging data for the second calibration, the imaging data for the third calibration, the imaging data for the fourth calibration and the imaging data for the fifth calibration are not distinguished, or these When generically referred to, it is simply referred to as "imaging data". When the dough piece 15 and the first sample, the second sample, the third sample, the fourth sample and the fifth sample as the reference sample 17 are not distinguished, or when they are collectively referred to, they are referred to as "detected object". When the measurement area A, the first calibration area X1, the second calibration area X2, the third calibration area X3, the fourth calibration area X4 and the fifth calibration area X5 are not distinguished, or when they are collectively referred to. , Simply referred to as "area" or "area of object to be detected".

従って、実測処理が図７のＳ７１で実行されている場合、実測処理の説明中、撮像データは、測定用撮像データを指す。この場合、実測処理で検出される領域は、測定用撮像データに含まれる生地片１５の画像部分であり、面積は、測定用面積Ａである。実測処理が図８のＳ８１で実行されている場合、実測処理の説明中、撮像データは、第一較正用撮像データを指す。この場合、実測処理で検出される領域は、第一較正用撮像データに含まれる基準試料１７としての第一サンプルの画像部分であり、面積は、第一較正用面積Ｘ１である。実測処理が図９のＳ９１で実行されている場合、実測処理の説明中、撮像データは、第二較正用撮像データを指す。この場合、実測処理で検出される領域は、第二較正用撮像データに含まれる基準試料１７としての第二サンプルの画像部分であり、面積は、第二較正用面積Ｘ２である。実測処理が図１０のＳ１０１で実行されている場合、実測処理の説明中、撮像データは、第三較正用撮像データを指す。この場合、実測処理で検出される領域は、第三較正用撮像データに含まれる基準試料１７としての第三サンプルの画像部分であり、面積は、第三較正用面積Ｘ３である。実測処理が図１１のＳ１１１で実行されている場合、実測処理の説明中、撮像データは、第四較正用撮像データを指す。この場合、実測処理で検出される領域は、第四較正用撮像データに含まれる基準試料１７としての第四サンプルの画像部分であり、面積は、第四較正用面積Ｘ４である。実測処理が図１２のＳ１２１で実行されている場合、実測処理の説明中、撮像データは、第五較正用撮像データを指す。この場合、実測処理で検出される領域は、第五較正用撮像データに含まれる基準試料１７としての第五サンプルの画像部分であり、面積は、第五較正用面積Ｘ５である。 Therefore, when the actual measurement process is executed in S71 of FIG. 7, the imaging data refers to the measurement imaging data in the explanation of the actual measurement process. In this case, the region detected by the actual measurement process is the image portion of the fabric piece 15 included in the measurement imaging data, and the area is the measurement area A. When the actual measurement process is executed in S81 of FIG. 8, the imaging data refers to the first calibration imaging data in the explanation of the actual measurement process. In this case, the region detected by the actual measurement process is the image portion of the first sample as the reference sample 17 included in the first calibration imaging data, and the area is the first calibration area X1. When the actual measurement process is executed in S91 of FIG. 9, the imaging data refers to the second calibration imaging data in the explanation of the actual measurement process. In this case, the region detected by the actual measurement process is the image portion of the second sample as the reference sample 17 included in the second calibration imaging data, and the area is the second calibration area X2. When the actual measurement process is executed in S101 of FIG. 10, the image pickup data refers to the third calibration image pickup data in the explanation of the actual measurement process. In this case, the region detected by the actual measurement process is the image portion of the third sample as the reference sample 17 included in the third calibration imaging data, and the area is the third calibration area X3. When the actual measurement process is executed in S111 of FIG. 11, the image pickup data refers to the fourth calibration image pickup data in the explanation of the actual measurement process. In this case, the region detected by the actual measurement process is the image portion of the fourth sample as the reference sample 17 included in the fourth calibration imaging data, and the area is the fourth calibration area X4. When the actual measurement process is executed in S121 of FIG. 12, the image pickup data refers to the fifth calibration image pickup data in the explanation of the actual measurement process. In this case, the region detected by the actual measurement process is the image portion of the fifth sample as the reference sample 17 included in the fifth calibration imaging data, and the area is the fifth calibration area X5.

実測処理を開始させたプロセッサ７１は、撮像データを処理対象として、２値化処理を実行する（Ｓ１３１）。２値化処理は、撮像データを２値化する処理である。２値化処理により、撮像データは、白及び黒の２階調の画像データへと変換される。２値化処理は、既に実用化された公知の画像処理である。従って、Ｓ１３１に関するこの他の説明は、省略する。 The processor 71 that has started the actual measurement process executes the binarization process with the image pickup data as the processing target (S131). The binarization process is a process of binarizing the imaging data. By the binarization process, the imaging data is converted into two-gradation image data of white and black. The binarization process is a known image process that has already been put into practical use. Therefore, other description of S131 will be omitted.

続けて、プロセッサ７１は、Ｓ１３１で処理済みの撮像データを処理対象として、クロージング処理を実行する（Ｓ１３３）。クロージング処理は、膨張処理を所定回数実行し、その後、膨張処理と同じ回数だけ収縮処理を繰り返す処理である。膨張処理は、白画素の周囲（上下左右）に隣接する黒画素を、白画素へと変換する処理である。収縮処理は、黒画素の周囲（上下左右）に隣接する白画素を、黒画素へと変換する処理である。クロージング処理、膨張処理及び収縮処理は、既に実用化された公知の画像処理である。従って、Ｓ１３３に関するこの他の説明は、省略する。 Subsequently, the processor 71 executes the closing process with the image pickup data processed by S131 as the processing target (S133). The closing process is a process in which the expansion process is executed a predetermined number of times, and then the shrinkage process is repeated the same number of times as the expansion process. The expansion process is a process of converting black pixels adjacent to the periphery (up / down / left / right) of a white pixel into white pixels. The shrinkage process is a process of converting white pixels adjacent to the periphery (up / down / left / right) of a black pixel into black pixels. The closing process, expansion process, and contraction process are known image processes that have already been put into practical use. Therefore, other description of S133 will be omitted.

次に、プロセッサ７１は、Ｓ１３３で処理済みの撮像データを処理対象として、ラベリング処理を実行する（Ｓ１３５）。ラベリング処理は、黒画素及び白画素にそれぞれ異なるラベルを付与する処理である。ラベリング処理によれば、撮像データに対応する撮像画像を形成する画素のうち、次の第一画素に次の第二画素とは異なるラベルが付される。第一画素は、撮像データに含まれる被検出物の画像部分を形成する画素である。被検出物が生地片１５である場合を例とすると、第一画素は、後述する図１５上段右側に示す第一態様のラベリング処理後の測定用撮像データにおける黒色の画像部分（前述の測定用撮像データで符号「１５」を付した部分参照）を形成する。第二画素は、撮像データに含まれる被検出物を除く画像部分を形成する画素である。換言すれば、第二画素は、撮像データに対応する撮像画像を形成する画素のうち、第一画素以外の画素である。例えば、被検出物が素材自体を面積が基準値となる形状とした物である場合、第二画素は、撮像データに含まれる次の範囲の載置面２２の画像部分を形成する画素である。前述の範囲は、撮像範囲Ｒ１のうち、被検出物によって被覆されず露出した状態の載置面２２の範囲である。ラベリング処理は、既に実用化された公知の画像処理である。従って、Ｓ１３５に関するこの他の説明は、省略する。 Next, the processor 71 executes the labeling process with the image pickup data processed in S133 as the processing target (S135). The labeling process is a process of assigning different labels to black pixels and white pixels. According to the labeling process, among the pixels forming the captured image corresponding to the captured data, the next first pixel is labeled differently from the next second pixel. The first pixel is a pixel that forms an image portion of the object to be detected included in the image pickup data. Taking the case where the object to be detected is the fabric piece 15 as an example, the first pixel is a black image portion (for the above-mentioned measurement) in the image pickup data for measurement after the labeling process of the first aspect shown on the upper right side of FIG. 15, which will be described later. (See the portion with the reference numeral "15" in the image pickup data) is formed. The second pixel is a pixel that forms an image portion excluding the object to be detected included in the image pickup data. In other words, the second pixel is a pixel other than the first pixel among the pixels forming the captured image corresponding to the captured data. For example, when the object to be detected has a shape in which the material itself has an area as a reference value, the second pixel is a pixel that forms an image portion of the mounting surface 22 in the next range included in the imaging data. .. The above-mentioned range is the range of the mounting surface 22 in the imaging range R1 in a state where it is not covered by the object to be detected and is exposed. The labeling process is a known image process that has already been put into practical use. Therefore, other description of S135 will be omitted.

Ｓ１３５を実行した後、プロセッサ７１は、被検出物の面積を取得する（Ｓ１３７）。上記では説明を省略したが、メイン処理のプログラムに含まれる実測処理のプログラムには、１画素当たりの面積値が登録されている。Ｓ１３７でプロセッサ７１は、上述した第一画素の数を特定する。プロセッサ７１は、特定された数と前述の面積値の積により、被検出物の面積を取得する。例えば、第一画素の数がＣ個で、１画素当たりの面積値がＤｍｍ２／画素であるとする。この場合、プロセッサ７１は、「Ｃ×Ｄ」によって得られた値を被検出物の面積として取得する。その後、プロセッサ７１は、実測処理を終了する。 After executing S135, the processor 71 acquires the area of the object to be detected (S137). Although the description is omitted above, the area value per pixel is registered in the actual measurement processing program included in the main processing program. In S137, the processor 71 specifies the number of first pixels described above. The processor 71 acquires the area of the object to be detected by the product of the specified number and the above-mentioned area value. For example, assume that the number of first pixels is C and the area value per pixel is D mm 2 / pixel. In this case, the processor 71 acquires the value obtained by "C × D" as the area of the object to be detected. After that, the processor 71 ends the actual measurement process.

＜補正係数処理＞
図６のＳ６５で実行される補正係数処理について、図１４を参照して説明する。補正係数処理を開始させたプロセッサ７１は、メモリ７３から第一較正用面積Ｘ１を取得する（Ｓ１４１）。第一較正用面積Ｘ１は、図８のＳ８３でメモリ７３に記憶される。続けて、プロセッサ７１は、第一補正値Ｙ１を取得する（Ｓ１４３）。第一補正値Ｙ１は、次の式（４）により算出される。式（４）で値「４００ｍｍ２」は、第一基準値の４００ｍｍ２に対応する。プロセッサ７１は、算出された値を第一補正値Ｙ１として取得する。プロセッサ７１は、第一補正値Ｙ１をメモリ７３に記憶させる。
Ｙ１＝（４００－Ｘ１）／Ｘ１ ・・・（４）
Ｓ１４３を実行した後、プロセッサ７１は、メモリ７３から第二較正用面積Ｘ２を取得する（Ｓ１４５）。第二較正用面積Ｘ２は、図９のＳ９３でメモリ７３に記憶される。続けて、プロセッサ７１は、第二補正値Ｙ２を取得する（Ｓ１４７）。第二補正値Ｙ２は、次の式（５）により算出される。式（５）で値「１６００ｍｍ２」は、第二基準値の１６００ｍｍ２に対応する。プロセッサ７１は、算出された値を第二補正値Ｙ２として取得する。プロセッサ７１は、第二補正値Ｙ２をメモリ７３に記憶させる。
Ｙ２＝（１６００－Ｘ２）／Ｘ２ ・・・（５）
Ｓ１４７を実行した後、プロセッサ７１は、メモリ７３から第三較正用面積Ｘ３を取得する（Ｓ１４９）。第三較正用面積Ｘ３は、図１０のＳ１０３でメモリ７３に記憶される。続けて、プロセッサ７１は、第三補正値Ｙ３を取得する（Ｓ１５１）。第三補正値Ｙ３は、次の式（６）により算出される。式（６）で値「３６００ｍｍ２」は、第三基準値の３６００ｍｍ２に対応する。プロセッサ７１は、算出された値を第三補正値Ｙ３として取得する。プロセッサ７１は、第三補正値Ｙ３をメモリ７３に記憶させる。
Ｙ３＝（３６００－Ｘ３）／Ｘ３ ・・・（６）
Ｓ１５１を実行した後、プロセッサ７１は、メモリ７３から第四較正用面積Ｘ４を取得する（Ｓ１５３）。第四較正用面積Ｘ４は、図１１のＳ１１３でメモリ７３に記憶される。続けて、プロセッサ７１は、第四補正値Ｙ４を取得する（Ｓ１５５）。第四補正値Ｙ４は、次の式（７）により算出される。式（７）で値「６４００ｍｍ２」は、第四基準値の６４００ｍｍ２に対応する。プロセッサ７１は、算出された値を第四補正値Ｙ４として取得する。プロセッサ７１は、第四補正値Ｙ４をメモリ７３に記憶させる。
Ｙ４＝（６４００－Ｘ４）／Ｘ４ ・・・（７）
Ｓ１５５を実行した後、プロセッサ７１は、メモリ７３から第五較正用面積Ｘ５を取得する（Ｓ１５７）。第五較正用面積Ｘ５は、図１２のＳ１２３でメモリ７３に記憶される。続けて、プロセッサ７１は、第五補正値Ｙ５を取得する（Ｓ１５９）。第五補正値Ｙ５は、次の式（８）により算出される。式（８）で値「１００００ｍｍ２」は、第五基準値の１００００ｍｍ２に対応する。プロセッサ７１は、算出された値を第五補正値Ｙ５として取得する。プロセッサ７１は、第五補正値Ｙ５をメモリ７３に記憶させる。
Ｙ５＝（１００００－Ｘ５）／Ｘ５ ・・・（８）
次に、プロセッサ７１は、補正係数を算出する（Ｓ１６１）。補正係数の算出には、ガウスの消去法が用いられる。ガウスの消去法では、行列Ｘの入力値として、第一較正用面積Ｘ１、第二較正用面積Ｘ２、第三較正用面積Ｘ３、第四較正用面積Ｘ４及び第五較正用面積Ｘ５が用いられ、行列Ｙの入力値として、第一補正値Ｙ１、第二補正値Ｙ２、第三補正値Ｙ３、第四補正値Ｙ４及び第五補正値Ｙ５が用いられる。ここで、Ｓ１６１では、公知のプログラムにおける所定の関数が適宜用いられる。実施形態では、ガウスの消去法により、補正係数として、４次の配列が算出される。即ち、Ｓ１６１では、４次の補正係数が算出される。 <Correction coefficient processing>
The correction coefficient processing executed in S65 of FIG. 6 will be described with reference to FIG. The processor 71 that has started the correction coefficient processing acquires the first calibration area X1 from the memory 73 (S141). The first calibration area X1 is stored in the memory 73 in S83 of FIG. Subsequently, the processor 71 acquires the first correction value Y1 (S143). The first correction value Y1 is calculated by the following equation (4). The value "400 mm 2 " in the formula (4) corresponds to the first reference value of 400 mm 2 . The processor 71 acquires the calculated value as the first correction value Y1. The processor 71 stores the first correction value Y1 in the memory 73.
Y1 = (400-X1) / X1 ... (4)
After executing S143, the processor 71 acquires the second calibration area X2 from the memory 73 (S145). The second calibration area X2 is stored in the memory 73 in S93 of FIG. Subsequently, the processor 71 acquires the second correction value Y2 (S147). The second correction value Y2 is calculated by the following equation (5). The value "1600 mm 2 " in the formula (5) corresponds to the second reference value of 1600 mm 2 . The processor 71 acquires the calculated value as the second correction value Y2. The processor 71 stores the second correction value Y2 in the memory 73.
Y2 = (1600-X2) / X2 ... (5)
After executing S147, the processor 71 acquires the third calibration area X3 from the memory 73 (S149). The third calibration area X3 is stored in the memory 73 in S103 of FIG. Subsequently, the processor 71 acquires the third correction value Y3 (S151). The third correction value Y3 is calculated by the following equation (6). The value "3600 mm 2 " in the formula (6) corresponds to the third reference value of 3600 mm 2 . The processor 71 acquires the calculated value as the third correction value Y3. The processor 71 stores the third correction value Y3 in the memory 73.
Y3 = (3600-X3) / X3 ... (6)
After executing S151, the processor 71 acquires the fourth calibration area X4 from the memory 73 (S153). The fourth calibration area X4 is stored in the memory 73 in S113 of FIG. Subsequently, the processor 71 acquires the fourth correction value Y4 (S155). The fourth correction value Y4 is calculated by the following equation (7). The value "6400 mm 2 " in the formula (7) corresponds to the fourth reference value of 6400 mm 2 . The processor 71 acquires the calculated value as the fourth correction value Y4. The processor 71 stores the fourth correction value Y4 in the memory 73.
Y4 = (6400-X4) / X4 ... (7)
After executing S155, the processor 71 acquires the fifth calibration area X5 from the memory 73 (S157). The fifth calibration area X5 is stored in the memory 73 in S123 of FIG. Subsequently, the processor 71 acquires the fifth correction value Y5 (S159). The fifth correction value Y5 is calculated by the following equation (8). The value "10000 mm 2 " in the formula (8) corresponds to the fifth reference value of 10000 mm 2 . The processor 71 acquires the calculated value as the fifth correction value Y5. The processor 71 stores the fifth correction value Y5 in the memory 73.
Y5 = (10000-X5) / X5 ... (8)
Next, the processor 71 calculates the correction coefficient (S161). The Gauss-Jordan method is used to calculate the correction factor. In the Gaussian elimination method, the first calibration area X1, the second calibration area X2, the third calibration area X3, the fourth calibration area X4, and the fifth calibration area X5 are used as the input values of the matrix X. As the input values of the matrix Y, the first correction value Y1, the second correction value Y2, the third correction value Y3, the fourth correction value Y4, and the fifth correction value Y5 are used. Here, in S161, a predetermined function in a known program is appropriately used. In the embodiment, a fourth-order array is calculated as a correction coefficient by the Gauss-Jordan method. That is, in S161, a fourth-order correction coefficient is calculated.

続けて、プロセッサ７１は、Ｓ１６１で算出された補正係数「Ｃｏｅｆｆ［５］＝ｘｘ［５］」をメモリ７３に記憶させる（Ｓ１６３）。Ｃｏｅｆｆ［５］は、補正係数として、［Ｃｏｅｆｆ０，Ｃｏｅｆｆ１，Ｃｏｅｆｆ２，Ｃｏｅｆｆ３，Ｃｏｅｆｆ４］（０次，１次，２次，３次，４次）を含む。行列ｘｘ［５］は、［Ｃｏｅｆｆ０，Ｃｏｅｆｆ１，Ｃｏｅｆｆ２，Ｃｏｅｆｆ３，Ｃｏｅｆｆ４］に対応する値として、［ｘｘ０，ｘｘ１，ｘｘ２，ｘｘ３，ｘｘ４］（０次，１次，２次，３次，４次）を格納する。Ｓ１６３を実行した後、プロセッサ７１は、補正係数処理を終了する。 Subsequently, the processor 71 stores the correction coefficient “Coeff [5] = xx [5]” calculated in S161 in the memory 73 (S163). Coeff [5] includes [Coeff0, Coeff1, Coeff2, Coeff3, Coeff4] (0th order , 1st order , 2nd order, 3rd order, 4th order) as correction coefficients. The matrix xx [5] has [xx0, xx1, xx2, xx3, xx4] (0th order , 1st order , 2nd order, 3rd order, 4th order) as values corresponding to [Coeff0, Coeff1, Coeff2, Coeff3, Coeff4]. ) Is stored. After executing S163, the processor 71 ends the correction coefficient processing.

＜実施例＞
発明者は、今回、測定装置１０に対応する測定装置を用いて、上述したキャリブレーション処理を実施した。そこで、これについて、説明する。基準試料１７は、上述した第一サンプル、第二サンプル、第三サンプル、第四サンプル及び第五サンプルと同じとした。 <Example>
This time, the inventor carried out the above-mentioned calibration process using the measuring device corresponding to the measuring device 10. Therefore, this will be described. The reference sample 17 was the same as the first sample, the second sample, the third sample, the fourth sample and the fifth sample described above.

第一サンプル（第一基準値：４００ｍｍ２）を対象とした第一較正用面積処理（図８参照）では、Ｓ８１の実測処理にて、第一較正用面積Ｘ１「３８９．６ｍｍ２」が取得され（図１３のＳ１３７参照）、第一較正用面積Ｘ１として前述の値が記憶された（図８のＳ８３参照）。 In the first calibration area processing (see FIG. 8) for the first sample (first reference value: 400 mm 2 ), the first calibration area X1 "389.6 mm 2 " was acquired by the actual measurement processing of S81. (See S137 in FIG. 13), and the above-mentioned value was stored as the first calibration area X1 (see S83 in FIG. 8).

第二サンプル（第二基準値：１６００ｍｍ２）を対象とした第二較正用面積処理（図９参照）では、Ｓ９１の実測処理にて、第二較正用面積Ｘ２「１５８８．９ｍｍ２」が取得され（図１３のＳ１３７参照）、第二較正用面積Ｘ２として前述の値が記憶された（図９のＳ９３参照）。 In the second calibration area processing (see FIG. 9) for the second sample (second reference value: 1600 mm 2 ), the second calibration area X2 "1588.9 mm 2 " was acquired by the actual measurement processing of S91. (See S137 in FIG. 13), and the above-mentioned value was stored as the second calibration area X2 (see S93 in FIG. 9).

第三サンプル（第三基準値：３６００ｍｍ２）を対象とした第三較正用面積処理（図１０参照）では、Ｓ１０１の実測処理にて、第三較正用面積Ｘ３「３５９９．５ｍｍ２」が取得され（図１３のＳ１３７参照）、第三較正用面積Ｘ３として前述の値が記憶された（図１０のＳ１０３参照）。 In the third calibration area processing (see FIG. 10) for the third sample (third reference value: 3600 mm 2 ), the third calibration area X3 "3599.5 mm 2 " was acquired by the actual measurement processing of S101. (See S137 in FIG. 13), and the above-mentioned value was stored as the third calibration area X3 (see S103 in FIG. 10).

第四サンプル（第四基準値：６４００ｍｍ２）を対象とした第四較正用面積処理（図１１参照）では、Ｓ１１１の実測処理にて、第四較正用面積Ｘ４「６３７４．８ｍｍ２」が取得され（図１３のＳ１３７参照）、第四較正用面積Ｘ４として前述の値が記憶された（図１１のＳ１１３参照）。 In the fourth calibration area processing (see FIG. 11) for the fourth sample (fourth reference value: 6400 mm 2 ), the fourth calibration area X4 "6374.8 mm 2 " was acquired by the actual measurement processing of S111. (See S137 in FIG. 13), and the above-mentioned value was stored as the fourth calibration area X4 (see S113 in FIG. 11).

第五サンプル（第五基準値：１００００ｍｍ２）を対象とした第五較正用面積処理（図１２参照）では、Ｓ１２１の実測処理にて、第五較正用面積Ｘ５「９９７５．９ｍｍ２」が取得され（図１３のＳ１３７参照）、第五較正用面積Ｘ５として前述の値が記憶された（図１２のＳ１２３参照）。 In the fifth calibration area processing (see FIG. 12) for the fifth sample (fifth reference value: 10000 mm 2 ), the fifth calibration area X5 "9975.9 mm 2 " was acquired by the actual measurement processing of S121. (See S137 in FIG. 13), and the above-mentioned value was stored as the fifth calibration area X5 (see S123 in FIG. 12).

補正係数処理（図１４）では、第一補正値Ｙ１、第二補正値Ｙ２、第三補正値Ｙ３、第四補正値Ｙ４及び第五補正値Ｙ５として、次の各値が取得された。即ち、Ｓ１４３では、上述の式（４）から第一補正値Ｙ１「０．０２６６９４０４５」が取得された。第一差値（４００－Ｘ１）は、１０．４ｍｍ２であった。Ｓ１４７では、上述の式（５）から、第二補正値Ｙ２「０．００６９８５９６５」が取得された。第二差値（１６００－Ｘ２）は、１１．１ｍｍ２であった。Ｓ１５１では、上述の式（６）から、第三補正値Ｙ３「０．０００１３８９０８」が取得された。第三差値（３６００－Ｘ３）は、０．５ｍｍ２であった。Ｓ１５５では、上述の式（７）から、第四補正値Ｙ４「０．００３９５３０６５」が取得された。第四差値（６４００－Ｘ４）は、２５．２ｍｍ２であった。Ｓ１５９では、上述の式（８）から、第五補正値Ｙ５「０．００２４１５８２２」が取得された。第五差値（１００００－Ｘ５）は、２４．１ｍｍ２であった。 In the correction coefficient processing (FIG. 14), the following values were acquired as the first correction value Y1, the second correction value Y2, the third correction value Y3, the fourth correction value Y4, and the fifth correction value Y5. That is, in S143, the first correction value Y1 "0.026694045" was obtained from the above equation (4). The first difference value (400-X1) was 10.4 mm 2 . In S147, the second correction value Y2 "0.006985965" was obtained from the above equation (5). The second difference value (1600-X2) was 11.1 mm 2 . In S151, the third correction value Y3 "0.0001388908" was obtained from the above equation (6). The third difference value (3600-X3) was 0.5 mm 2 . In S155, the fourth correction value Y4 "0.003953065" was obtained from the above equation (7). The fourth difference value (6400-X4) was 25.2 mm 2 . In S159, the fifth correction value Y5 "0.002415822" was obtained from the above equation (8). The fifth difference value (10000-X5) was 24.1 mm 2 .

補正係数処理では、このような各値によるガウスの消去法によって、次のような補正係数が算出され、算出された補正係数が記憶された（図１４のＳ１６１，Ｓ１６３参照）。この場合、上述した式（１）は、次の式（９）となる。
Ｃｏｅｆｆ０＝0.0372790078891326000000000
Ｃｏｅｆｆ１＝0.0000303485836542386000000
Ｃｏｅｆｆ２＝0.0000000085293095598340900
Ｃｏｅｆｆ３＝0.0000000000009581917945669
Ｃｏｅｆｆ４＝0.0000000000000000373938979
Ｊ＝0.0000000000000000373938979×Ａ４＋0.0000000000009581917945669×Ａ３＋0.0000000085293095598340900×Ａ２＋0.0000303485836542386000000×Ａ＋0.0372790078891326000000000 ・・・（９）
＜実施形態の効果＞
実施形態によれば、次のような効果を得ることができる。 In the correction coefficient processing, the following correction coefficients were calculated by the Gauss-Jordan elimination method using each of these values, and the calculated correction coefficients were stored (see S161 and S163 in FIG. 14). In this case, the above-mentioned equation (1) becomes the following equation (9).
Coeff0 = 0.0372790078891326000000000
Coeff1 = 0.0000303485836542386000000
Coeff2 = 0.0000000085293095598340900
Coeff3 = 0.0000000000009581917945669
Coeff4 = 0.0000000000000000373938979
J = 0.0000000000000000373938979 × A 4 ＋0.0000000000009581917945669 × A 3 ＋0.0000000085293095598340900 × A 2 ＋0.0000303485836542386000000 × A ＋ 0.0372790078891326000000000 ・ ・ ・ (9)
<Effect of embodiment>
According to the embodiment, the following effects can be obtained.

（１）測定装置１０は、載置台２０と、質量計３０と、カメラ４０と、出力器６０と、制御器７０を備える（図１参照）。制御器７０は、プロセッサ７１を含む。測定装置１０では、プロセッサ７１がメイン処理（図４参照）を実行する。メイン処理では、プロセッサ７１は、質量処理と、測定用撮像処理と、測定用面積処理と、算出処理と、出力処理を実行する（図４のＳ２１～Ｓ２９参照）。即ち、質量処理でプロセッサ７１は、質量計３０によって測定された生地片１５の質量Ｍを取得する。測定用撮像処理でプロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された生地片１５の画像部分を含む測定用撮像データを取得する。測定用面積処理でプロセッサ７１は、測定用撮像データに含まれる生地片１５の画像部分から生地片１５に対応する領域の測定用面積Ａを取得する（図７のＳ７１及び図１３のＳ１３７参照）。算出処理でプロセッサ７１は、質量Ｍと測定用面積Ａにより単位面積質量Ｎを算出する。出力処理でプロセッサ７１は、単位面積質量Ｎを出力器６０で出力させる。 (1) The measuring device 10 includes a mounting table 20, a mass meter 30, a camera 40, an output device 60, and a controller 70 (see FIG. 1). The controller 70 includes a processor 71. In the measuring device 10, the processor 71 executes the main process (see FIG. 4). In the main processing, the processor 71 executes mass processing, measurement imaging processing, measurement area processing, calculation processing, and output processing (see S21 to S29 in FIG. 4). That is, in the mass processing, the processor 71 acquires the mass M of the dough piece 15 measured by the mass meter 30. In the measurement imaging process, the processor 71 acquires measurement imaging data including an image portion of the fabric piece 15 imaged by the camera 40. In the measurement area processing, the processor 71 acquires the measurement area A of the region corresponding to the fabric piece 15 from the image portion of the fabric piece 15 included in the measurement imaging data (see S71 in FIG. 7 and S137 in FIG. 13). .. In the calculation process, the processor 71 calculates the unit area mass N from the mass M and the measurement area A. In the output process, the processor 71 causes the output device 60 to output the unit area mass N.

そのため、生地片１５の単位面積質量Ｎを測定し、測定結果としてこれを出力することができる。即ち、出力器６０は、メイン画面８０の測定結果領域８２に単位面積質量Ｎを表示することができる（図２下段参照）。測定用撮像データに含まれる生地片１５の画像部分から生地片１５に対応する領域の測定用面積Ａを取得することで、生地片１５の形状に関わらず、単位面積質量Ｎを測定することができる。例えば、単位面積質量Ｎを測定するに際し、生地から生地片１５を予め定めた形状に裁断する必要がない。例えば、生地の製造時又は生地製の所定の製品の製造時、製造現場で、製品又は素材としての生地の単位面積質量Ｎをスムーズに測定することができる。 Therefore, the unit area mass N of the dough piece 15 can be measured and output as the measurement result. That is, the output device 60 can display the unit area mass N in the measurement result area 82 of the main screen 80 (see the lower part of FIG. 2). By acquiring the measurement area A of the region corresponding to the fabric piece 15 from the image portion of the fabric piece 15 included in the imaging data for measurement, the unit area mass N can be measured regardless of the shape of the fabric piece 15. can. For example, when measuring the unit area mass N, it is not necessary to cut the dough piece 15 into a predetermined shape from the dough. For example, the unit area mass N of the dough as a product or a raw material can be smoothly measured at the time of manufacturing the dough or at the time of manufacturing a predetermined product made of the dough, or at the manufacturing site.

（２）測定装置１０は、収容室４５と、照射器５０を備える（図１参照）。収容室４５は、カメラ４０を収容する。収容室４５の底面には、赤外線透過フィルタ４７が設けられる。カメラ４０が収容室４５に収容された状態で、赤外線透過フィルタ４７は、載置台２０とカメラ４０の間に設けられる。照射器５０は、撮像範囲Ｒ１に赤外線を照射する。カメラ４０は、赤外線に対する感度を有するイメージセンサを含む。カメラ４０は、照射器５０から赤外線が照射され且つ生地片１５で照射器５０からの赤外線が反射している状態で、生地片１５を撮像する。この場合、プロセッサ７１は、生地片１５で反射した赤外線による生地片１５の画像部分を含む測定用撮像データを取得する（図４のＳ２３参照）。 (2) The measuring device 10 includes a storage chamber 45 and an irradiator 50 (see FIG. 1). The containment chamber 45 accommodates the camera 40. An infrared transmission filter 47 is provided on the bottom surface of the accommodation chamber 45. With the camera 40 housed in the storage chamber 45, the infrared transmission filter 47 is provided between the mounting table 20 and the camera 40. The irradiator 50 irradiates the imaging range R1 with infrared rays. The camera 40 includes an image sensor having sensitivity to infrared rays. The camera 40 takes an image of the cloth piece 15 in a state where infrared rays are emitted from the irradiator 50 and the infrared rays from the irradiator 50 are reflected by the cloth piece 15. In this case, the processor 71 acquires measurement imaging data including an image portion of the fabric piece 15 due to infrared rays reflected by the fabric piece 15 (see S23 in FIG. 4).

そのため、生地片１５の画像部分を安定的に検出することができる。測定用面積Ａの精度を向上させることができる。実施形態の生地片１５とは異なり、生地片が次のような模様の生地の一部であるとする。前述の模様は、例えば、載置面２２と同一色の所定の形状を有する図形が生地の全体に複数配置された模様である。このような模様としては、載置面２２と同一色の複数の水玉が適宜配置された水玉模様が例示される。前述の水玉模様を例として説明する。単位面積質量Ｎの測定に際し、水玉模様の生地を切り取り生地片を形成する場合、生地の切断位置が水玉上となることがある。生地片の撮像に可視光を用いる場合、この撮像による撮像データに対応する可視光画像では、背景色（載置面２２の色）と生地片の外縁における切断された水玉の部分の色が同一色となる。その結果、生地片の画像部分を適切に検出できない、又は前述の検出に特別な画像解析が必要となる、といったことが考えられる。これに対して、生地片の撮像に赤外線を用いた測定用撮像データでは、生地片の画像部分における水玉模様の影響はなくなり又は低下する。その結果、背景（載置面２２）と生地片の画像部分の境界が安定し、背景から生地片の画像部分を区別することができる。生地の模様に合わせて載置台２０を変更するといった作業は、不要となる。収容室４５を、底面の赤外線透過フィルタ４７を除く部分が遮光された構造とすることで、測定装置１０が設置される環境の可視光等に影響されることなく、カメラ４０で赤外線を撮像することができる。 Therefore, the image portion of the fabric piece 15 can be stably detected. The accuracy of the measurement area A can be improved. Unlike the dough piece 15 of the embodiment, it is assumed that the dough piece is a part of the dough having the following pattern. The above-mentioned pattern is, for example, a pattern in which a plurality of figures having a predetermined shape of the same color as the mounting surface 22 are arranged on the entire fabric. As such a pattern, a polka dot pattern in which a plurality of polka dots of the same color as the mounting surface 22 are appropriately arranged is exemplified. The above-mentioned polka dot pattern will be described as an example. When measuring the unit area mass N, when the dough with a polka dot pattern is cut to form a dough piece, the cutting position of the dough may be on the polka dot. When visible light is used to image the fabric piece, the background color (color of the mounting surface 22) and the color of the cut polka dots on the outer edge of the fabric piece are the same in the visible light image corresponding to the imaged data obtained by this imaging. It becomes a color. As a result, it is conceivable that the image portion of the fabric piece cannot be properly detected, or that special image analysis is required for the above-mentioned detection. On the other hand, in the measurement imaging data using infrared rays for imaging the fabric piece, the influence of the polka dot pattern on the image portion of the fabric piece disappears or decreases. As a result, the boundary between the background (mounting surface 22) and the image portion of the fabric piece is stable, and the image portion of the fabric piece can be distinguished from the background. The work of changing the mounting table 20 according to the pattern of the fabric becomes unnecessary. By forming the accommodation chamber 45 in a structure in which the portion excluding the infrared transmission filter 47 on the bottom surface is shielded from light, the camera 40 captures infrared rays without being affected by visible light or the like in the environment in which the measuring device 10 is installed. be able to.

発明者は、図１３のＳ１３５でのラベリング処理により特定される生地片１５の画像部分を、次の第一態様及び第二態様で比較した。第一態様では、照射器５０は、撮像範囲Ｒ１に赤外線を照射する。第一態様の測定装置は、測定装置１０に対応する。測定用撮像データは、生地片１５で反射した赤外線による生地片１５の画像部分を含む（図１５上段左側に示す「測定用面積処理前」参照）。第二態様では、照射器として、可視光ＬＥＤを採用し、照射器は、撮像範囲Ｒ１に可視光を照射する。第二態様の測定装置では、赤外線透過フィルタ４７は、省略される。測定用撮像データは、生地片１５で反射した可視光による生地片１５の画像部分を含む（図１５下段左側に示す「測定用面積処理前」参照）。第一態様及び第二態様では、この他の条件は、同じとした。 The inventor compared the image portions of the fabric piece 15 identified by the labeling treatment in S135 of FIG. 13 in the following first and second aspects. In the first aspect, the irradiator 50 irradiates the imaging range R1 with infrared rays. The measuring device of the first aspect corresponds to the measuring device 10. The imaging data for measurement includes an image portion of the fabric piece 15 due to infrared rays reflected by the fabric piece 15 (see “Before measurement area processing” shown on the left side of the upper part of FIG. 15). In the second aspect, a visible light LED is adopted as the irradiator, and the irradiator irradiates the imaging range R1 with visible light. In the measuring device of the second aspect, the infrared transmission filter 47 is omitted. The imaging data for measurement includes an image portion of the fabric piece 15 due to visible light reflected by the fabric piece 15 (see “Before measurement area processing” shown on the lower left side of FIG. 15). In the first aspect and the second aspect, the other conditions are the same.

第一態様では、ラベリング処理によって特定される生地片１５の画像部分の外縁は、測定用面積処理（図７参照）前の測定用撮像データに含まれる生地片１５の画像部分の外縁と同等である（図１５上段参照）。即ち、第一態様では、生地片１５の実際の形状と同等又はこれに近似した生地片１５の画像部分を検出できる。第二態様では、ラベリング処理によって特定される生地片１５の画像部分の外縁は、第一態様と比較すると、測定用面積処理前の測定用撮像データに含まれる生地片１５の画像部分の外縁と相違する（図１５下段参照）。このような結果から、発明者は、測定装置の仕様の決定には、次の点を考慮するとよいと考える。即ち、発明者は、製造現場で、製品又は素材としての生地の単位面積質量Ｎを高精度に測定する必要がある場合、第一態様の測定装置に対応する測定装置１０を採用することが好ましいと考える。これに対して、発明者は、例えば、製造現場での単位面積質量Ｎの測定が簡易的である場合、第二態様の測定装置を採用可能であると考える。図１５で、次の各枠内に一点鎖線で示す矩形枠は、説明用の図示である。前述の各枠は、第一態様のラベリング処理後の測定用撮像データを含む枠と、第二態様のラベリング処理後の測定用撮像データを含む枠である。即ち、第一態様の一点鎖線で示す矩形枠は、第一態様の測定用面積処理前の測定用撮像データの図示範囲に対応し、第一態様のラベリング処理後の測定用撮像データを含む枠内の背景と、この測定用撮像データに含まれる載置面２２の境界線である。第二態様の一点鎖線で示す矩形枠は、第二態様の測定用面積処理前の測定用撮像データの図示範囲に対応し、第二態様のラベリング処理後の測定用撮像データを含む枠内の背景と、この測定用撮像データに含まれる載置面２２の境界線である。 In the first aspect, the outer edge of the image portion of the fabric piece 15 identified by the labeling process is equivalent to the outer edge of the image portion of the fabric piece 15 included in the measurement imaging data before the measurement area processing (see FIG. 7). Yes (see the upper part of FIG. 15). That is, in the first aspect, the image portion of the fabric piece 15 that is equal to or close to the actual shape of the fabric piece 15 can be detected. In the second aspect, the outer edge of the image portion of the fabric piece 15 specified by the labeling treatment is the outer edge of the image portion of the fabric piece 15 included in the measurement imaging data before the measurement area processing as compared with the first aspect. It is different (see the lower part of FIG. 15). Based on these results, the inventor considers that the following points should be taken into consideration when determining the specifications of the measuring device. That is, when it is necessary for the inventor to measure the unit area mass N of the fabric as a product or a material with high accuracy at the manufacturing site, it is preferable to adopt the measuring device 10 corresponding to the measuring device of the first aspect. I think. On the other hand, the inventor considers that, for example, when the measurement of the unit area mass N at the manufacturing site is simple, the measuring device of the second aspect can be adopted. In FIG. 15, the rectangular frame shown by the alternate long and short dash line in each of the following frames is an explanatory diagram. Each of the above-mentioned frames is a frame including the measurement imaging data after the labeling treatment of the first aspect and a frame including the measurement imaging data after the labeling processing of the second aspect. That is, the rectangular frame shown by the alternate long and short dash line in the first aspect corresponds to the illustrated range of the measurement imaging data before the measurement area processing in the first aspect, and includes the measurement imaging data after the labeling processing in the first aspect. It is a boundary line between the inner background and the mounting surface 22 included in this measurement imaging data. The rectangular frame shown by the alternate long and short dash line in the second aspect corresponds to the illustrated range of the measurement imaging data before the measurement area processing in the second aspect, and is included in the frame including the measurement imaging data after the labeling processing in the second aspect. It is a boundary line between the background and the mounting surface 22 included in the imaging data for measurement.

（３）測定装置１０では、プロセッサ７１がキャリブレーション処理（図５及び図６参照）を実行する。キャリブレーション処理が実行される場合、載置台２０には、基準試料１７が載せ置かれ、カメラ４０は、基準試料１７を撮像する（図３参照）。キャリブレーション処理では、プロセッサ７１は、第一較正用撮像処理及び第一較正用面積処理と、第二較正用撮像処理及び第二較正用面積処理と、第三較正用撮像処理及び第三較正用面積処理と、第四較正用撮像処理及び第四較正用面積処理と、第五較正用撮像処理及び第五較正用面積処理と、補正係数処理を実行する（図５のＳ３５，Ｓ３７，Ｓ４１，Ｓ４３，Ｓ４７，Ｓ４９及び図６のＳ５３，Ｓ５５，Ｓ５９，Ｓ６１，Ｓ６５参照）。 (3) In the measuring device 10, the processor 71 executes a calibration process (see FIGS. 5 and 6). When the calibration process is executed, the reference sample 17 is placed on the mounting table 20, and the camera 40 takes an image of the reference sample 17 (see FIG. 3). In the calibration process, the processor 71 includes a first calibration image pickup process and a first calibration area process, a second calibration image pickup process and a second calibration area process, and a third calibration image pickup process and a third calibration process. Area processing, image processing for fourth calibration, area processing for fourth calibration, image processing for fifth calibration, area processing for fifth calibration, and correction coefficient processing are executed (S35, S37, S41 in FIG. 5). See S43, S47, S49 and S53, S55, S59, S61, S65 in FIG. 6).

第一較正用撮像処理でプロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された基準試料１７としての第一サンプルの画像部分を含む第一較正用撮像データを取得する。第一較正用面積処理でプロセッサ７１は、第一較正用撮像データに含まれる第一サンプルの画像部分から第一サンプルに対応する領域の第一較正用面積Ｘ１を取得する（図８のＳ８１及び図１３のＳ１３７参照）。第二較正用撮像処理でプロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された基準試料１７としての第二サンプルの画像部分を含む第二較正用撮像データを取得する。第二較正用面積処理でプロセッサ７１は、第二較正用撮像データに含まれる第二サンプルの画像部分から第二サンプルに対応する領域の第二較正用面積Ｘ２を取得する（図９のＳ９１及び図１３のＳ１３７参照）。第三較正用撮像処理でプロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された基準試料１７としての第三サンプルの画像部分を含む第三較正用撮像データを取得する。第三較正用面積処理でプロセッサ７１は、第三較正用撮像データに含まれる第三サンプルの画像部分から第三サンプルに対応する領域の第三較正用面積Ｘ３を取得する（図１０のＳ１０１及び図１３のＳ１３７参照）。第四較正用撮像処理でプロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された基準試料１７としての第四サンプルの画像部分を含む第四較正用撮像データを取得する。第四較正用面積処理でプロセッサ７１は、第四較正用撮像データに含まれる第四サンプルの画像部分から第四サンプルに対応する領域の第四較正用面積Ｘ４を取得する（図１１のＳ１１１及び図１３のＳ１３７参照）。第五較正用撮像処理でプロセッサ７１は、カメラ４０によって撮像された基準試料１７としての第五サンプルの画像部分を含む第五較正用撮像データを取得する。第五較正用面積処理でプロセッサ７１は、第五較正用撮像データに含まれる第五サンプルの画像部分から第五サンプルに対応する領域の第五較正用面積Ｘ５を取得する（図１２のＳ１２１及び図１３のＳ１３７参照）。 In the first calibration imaging process, the processor 71 acquires the first calibration imaging data including the image portion of the first sample as the reference sample 17 imaged by the camera 40. In the first calibration area processing, the processor 71 acquires the first calibration area X1 of the region corresponding to the first sample from the image portion of the first sample included in the first calibration imaging data (S81 in FIG. 8 and See S137 in FIG. 13). In the second calibration imaging process, the processor 71 acquires the second calibration imaging data including the image portion of the second sample as the reference sample 17 imaged by the camera 40. In the second calibration area processing, the processor 71 acquires the second calibration area X2 of the region corresponding to the second sample from the image portion of the second sample included in the second calibration imaging data (S91 and S91 in FIG. 9). See S137 in FIG. 13). In the third calibration imaging process, the processor 71 acquires the third calibration imaging data including the image portion of the third sample as the reference sample 17 imaged by the camera 40. In the third calibration area processing, the processor 71 acquires the third calibration area X3 of the region corresponding to the third sample from the image portion of the third sample included in the third calibration imaging data (S101 in FIG. 10 and See S137 in FIG. 13). In the fourth calibration imaging process, the processor 71 acquires the fourth calibration imaging data including the image portion of the fourth sample as the reference sample 17 imaged by the camera 40. In the fourth calibration area processing, the processor 71 acquires the fourth calibration area X4 of the region corresponding to the fourth sample from the image portion of the fourth sample included in the fourth calibration imaging data (S111 in FIG. 11 and See S137 in FIG. 13). In the fifth calibration imaging process, the processor 71 acquires the fifth calibration imaging data including the image portion of the fifth sample as the reference sample 17 imaged by the camera 40. In the fifth calibration area processing, the processor 71 acquires the fifth calibration area X5 of the region corresponding to the fifth sample from the image portion of the fifth sample included in the fifth calibration imaging data (S121 in FIG. 12 and See S137 in FIG. 13).

補正係数処理でプロセッサ７１は、第一差値、第二差値、第三差値、第四差値及び第五差値に応じた補正係数を算出する（図１４のＳ１６１参照）。第一差値は、第一サンプルの第一基準値（４００ｍｍ２）と第一較正用面積Ｘ１の差である。第二差値は、第二サンプルの第二基準値（１６００ｍｍ２）と第二較正用面積Ｘ２の差である。第三差値は、第三サンプルの第三基準値（３６００ｍｍ２）と第三較正用面積Ｘ３の差である。第四差値は、第四サンプルの第四基準値（６４００ｍｍ２）と第四較正用面積Ｘ４の差である。第五差値は、第五サンプルの第五基準値（１００００ｍｍ２）と第五較正用面積Ｘ５の差である。即ち、補正係数処理でプロセッサ７１は、第一差値に応じた第一補正値Ｙ１と、第二差値に応じた第二補正値Ｙ２と、第三差値に応じた第三補正値Ｙ３と、第四差値に応じた第四補正値Ｙ４と、第五差値に応じた第五補正値Ｙ５を取得する（図１３のＳ１４３，Ｓ１４７，Ｓ１５１，Ｓ１５５，Ｓ１５９参照）。次に、プロセッサ７１は、第一較正用面積Ｘ１、第二較正用面積Ｘ２、第三較正用面積Ｘ３、第四較正用面積Ｘ４及び第五較正用面積Ｘ５を行列Ｘの入力値とし、第一補正値Ｙ１、第二補正値Ｙ２、第三補正値Ｙ３、第四補正値Ｙ４及び第五補正値Ｙ５を行列Ｙの入力値とした、ガウスの消去法を実行し、補正係数を算出する（図１４のＳ１６１参照）。 In the correction coefficient processing, the processor 71 calculates the correction coefficient according to the first difference value, the second difference value, the third difference value, the fourth difference value, and the fifth difference value (see S161 in FIG. 14). The first difference value is the difference between the first reference value (400 mm 2 ) of the first sample and the first calibration area X1. The second difference value is the difference between the second reference value (1600 mm 2 ) of the second sample and the second calibration area X2. The third difference value is the difference between the third reference value (3600 mm 2 ) of the third sample and the third calibration area X3. The fourth difference value is the difference between the fourth reference value (6400 mm 2 ) of the fourth sample and the fourth calibration area X4. The fifth difference value is the difference between the fifth reference value (10000 mm 2 ) of the fifth sample and the fifth calibration area X5. That is, in the correction coefficient processing, the processor 71 uses the first correction value Y1 according to the first difference value, the second correction value Y2 according to the second difference value, and the third correction value Y3 according to the third difference value. And the fourth correction value Y4 corresponding to the fourth difference value and the fifth correction value Y5 corresponding to the fifth difference value are acquired (see S143, S147, S151, S155, S159 in FIG. 13). Next, the processor 71 uses the first calibration area X1, the second calibration area X2, the third calibration area X3, the fourth calibration area X4, and the fifth calibration area X5 as the input values of the matrix X, and is the first. (1) The Gaussian elimination method is executed with the correction value Y1, the second correction value Y2, the third correction value Y3, the fourth correction value Y4, and the fifth correction value Y5 as the input values of the matrix Y, and the correction coefficient is calculated. (See S161 in FIG. 14).

そのため、測定用面積Ａを補正係数によって補正することができる。メイン処理の算出処理（図４のＳ２７参照）でプロセッサ７１は、質量Ｍを補正面積Ｂで除した単位面積質量Ｎを算出する。補正面積Ｂは、ガウスの消去法により算出された補正係数を含む補正率Ｊによって測定用面積Ａを補正した面積である。測定装置１０では、補正率Ｊは、４次の多項式近似曲線である。測定装置１０で、単位面積質量Ｎの測定精度を向上させることができる。このことは、上述した第二態様の測定装置でも、同様である。即ち、上述した第二態様の測定装置でキャリブレーション処理を実行することで、第二態様の測定装置でも、前述の効果を得ることができる。 Therefore, the measurement area A can be corrected by the correction coefficient. In the calculation process of the main process (see S27 in FIG. 4), the processor 71 calculates the unit area mass N obtained by dividing the mass M by the correction area B. The correction area B is an area obtained by correcting the measurement area A by the correction factor J including the correction coefficient calculated by the Gauss-Jordan method. In the measuring device 10, the correction factor J is a fourth-order polynomial approximation curve. The measuring device 10 can improve the measurement accuracy of the unit area mass N. This also applies to the measuring device of the second aspect described above. That is, by executing the calibration process with the measuring device of the second aspect described above, the above-mentioned effect can be obtained also with the measuring device of the second aspect.

＜変形例＞
実施形態は、次のようにすることもできる。以下に示す変形例のうちの幾つかの構成は、適宜組み合わせて採用することもできる。以下では、上記とは異なる点を説明することとし、同様の点についての説明は、適宜省略する。 <Modification example>
The embodiment can also be as follows. Some of the configurations shown in the following modifications can be adopted in combination as appropriate. In the following, points different from the above will be described, and description of the same points will be omitted as appropriate.

（１）測定装置１０は、収容室４５を備える（図１参照）。カメラ４０は、収容室４５に収容される。収容室４５の底面には、赤外線透過フィルタ４７が設けられる。測定装置では、収容室４５は、省略してもよい。赤外線透過フィルタは、カメラ４０のレンズ部に直接装着してもよい。このような構成によっても、測定装置では、載置台２０とカメラ４０の間に赤外線透過フィルタを設けることができる。上述の測定装置１０と同様、測定装置が設置される環境の可視光等に影響されることなく、カメラ４０で赤外線を撮像することができる。 (1) The measuring device 10 includes a storage chamber 45 (see FIG. 1). The camera 40 is housed in the containment chamber 45. An infrared transmission filter 47 is provided on the bottom surface of the accommodation chamber 45. In the measuring device, the accommodation chamber 45 may be omitted. The infrared transmission filter may be directly attached to the lens portion of the camera 40. Even with such a configuration, in the measuring device, an infrared transmission filter can be provided between the mounting table 20 and the camera 40. Similar to the above-mentioned measuring device 10, the camera 40 can capture infrared rays without being affected by visible light or the like in the environment in which the measuring device is installed.

（２）測定装置１０は、カメラ４０と、赤外線透過フィルタ４７を備える（図１参照）。測定装置では、カメラとして、赤外線カメラを採用してもよい。測定装置で採用可能な前述の赤外線カメラは、暗視カメラとも称されるカメラであり、温度測定用のサーモグラフィと称されるカメラは、含まない。この場合、測定装置１０でカメラ４０とは別体で設けられた赤外線透過フィルタ４７は、省略してもよい。 (2) The measuring device 10 includes a camera 40 and an infrared transmission filter 47 (see FIG. 1). In the measuring device, an infrared camera may be adopted as the camera. The above-mentioned infrared camera that can be used in the measuring device is a camera that is also called a night-vision camera, and does not include a camera called thermography for temperature measurement. In this case, the infrared transmission filter 47 provided separately from the camera 40 in the measuring device 10 may be omitted.

（３）測定装置１０では、出力器６０として、表示器を採用する（図１参照）。出力器は、表示器とは異なる機器としてもよい。例えば、出力器は、プリンタであってもよい。この場合、メイン処理（図４参照）のＳ２９で実行される出力処理では、単位面積質量Ｎは、所定の用紙に印刷される。また、出力器は、スピーカであってもよい。この場合、前述の出力処理では、単位面積質量Ｎは、音声出力される。この他、出力器は、表示器、プリンタ及びスピーカのうちの２個以上の機器を含むものであってもよい。 (3) In the measuring device 10, a display is adopted as the output device 60 (see FIG. 1). The output device may be a device different from the display device. For example, the output device may be a printer. In this case, in the output process executed in S29 of the main process (see FIG. 4), the unit area mass N is printed on a predetermined sheet of paper. Further, the output device may be a speaker. In this case, in the above-mentioned output processing, the unit area mass N is output as voice. In addition, the output device may include two or more devices of a display, a printer, and a speaker.

（４）基準試料１７として、第一サンプル、第二サンプル、第三サンプル、第四サンプル及び第五サンプルを例示した。この場合、サブ画面９０は、第一サンプルボタン９２と、第二サンプルボタン９３と、第三サンプルボタン９４と、第四サンプルボタン９５と、第五サンプルボタン９６を含む（図３参照）。キャリブレーション処理は、前述の５種類の基準試料１７に対応させた形式となる（図５及び図６参照）。即ち、キャリブレーション処理は、Ｓ３３～Ｓ３７と、Ｓ３９～Ｓ４３と、Ｓ４５～Ｓ４９と、Ｓ５１～Ｓ５５と、Ｓ５７～Ｓ６１を含み、図６のＳ６５で実行される補正係数処理は、Ｓ１４１及びＳ１４３と、Ｓ１４５及びＳ１４７と、Ｓ１４９及びＳ１５１と、Ｓ１５３及びＳ１５５と、Ｓ１５７及びＳ１５９を含む（図１４参照）。Ｓ３３～Ｓ３７、Ｓ１４１及びＳ１４３は、第一サンプルに対応する。Ｓ３９～Ｓ４３、Ｓ１４５及びＳ１４７は、第二サンプルに対応する。Ｓ４５～Ｓ４９、Ｓ１４９及びＳ１５１は、第三サンプルに対応する。Ｓ５１～Ｓ５５、Ｓ１５３及びＳ１５５は、第四サンプルに対応する。Ｓ５７～Ｓ６１、Ｓ１５７及びＳ１５９は、第五サンプルに対応する。図１４のＳ１６１では、第一較正用面積Ｘ１、第二較正用面積Ｘ２、第三較正用面積Ｘ３、第四較正用面積Ｘ４及び第五較正用面積Ｘ５を行列Ｘの入力値とし、且つ第一補正値Ｙ１、第二補正値Ｙ２、第三補正値Ｙ３、第四補正値Ｙ４及び第五補正値Ｙ５を行列Ｙの入力値としたガウスの消去法が実行される。 (4) As the reference sample 17, the first sample, the second sample, the third sample, the fourth sample, and the fifth sample are exemplified. In this case, the sub screen 90 includes a first sample button 92, a second sample button 93, a third sample button 94, a fourth sample button 95, and a fifth sample button 96 (see FIG. 3). The calibration process is in a format corresponding to the above-mentioned five types of reference samples 17 (see FIGS. 5 and 6). That is, the calibration processing includes S33 to S37, S39 to S43, S45 to S49, S51 to S55, and S57 to S61, and the correction coefficient processing executed in S65 of FIG. 6 is S141 and S143. , S145 and S147, S149 and S151, S153 and S155, and S157 and S159 (see FIG. 14). S33 to S37, S141 and S143 correspond to the first sample. S39 to S43, S145 and S147 correspond to the second sample. S45 to S49, S149 and S151 correspond to the third sample. S51 to S55, S153 and S155 correspond to the fourth sample. S57 to S61, S157 and S159 correspond to the fifth sample. In S161 of FIG. 14, the first calibration area X1, the second calibration area X2, the third calibration area X3, the fourth calibration area X4, and the fifth calibration area X5 are used as input values of the matrix X, and the first calibration area X5 is used. A Gaussian elimination method is executed in which one correction value Y1, a second correction value Y2, a third correction value Y3, a fourth correction value Y4, and a fifth correction value Y5 are input values of the matrix Y.

第一サンプル、第二サンプル、第三サンプル、第四サンプル及び第五サンプルとは異なるサンプルを、基準試料１７として採用してもよい。基準試料１７としてのサンプルは、例えば、３種類若しくは４種類、又は６種類以上としてもよい。キャリブレーション処理では、Ｓ３３～Ｓ３７とＳ３９～Ｓ４３とＳ４５～Ｓ４９とＳ５１～Ｓ５５とＳ５７～Ｓ６１のそれぞれと同様の一連の処理が、基準試料１７の数だけ繰り返される。補正係数処理では、Ｓ１４１及びＳ１４３とＳ１４５及びＳ１４７とＳ１４９及びＳ１５１とＳ１５３及びＳ１５５とＳ１５７及びＳ１５９のそれぞれと同様の一連の処理が、基準試料１７の数だけ繰り返される。また、Ｓ１６１で実行されるガウスの消去法では、基準試料１７の数に一致する数の較正用面積が行列Ｘの入力値とされ、基準試料１７の数に一致する数の補正値が行列Ｙの入力値とされる。 A sample different from the first sample, the second sample, the third sample, the fourth sample and the fifth sample may be adopted as the reference sample 17. The sample as the reference sample 17 may be, for example, 3 types, 4 types, or 6 or more types. In the calibration process, the same series of processes as those of S33 to S37, S39 to S43, S45 to S49, S51 to S55, and S57 to S61 are repeated for the number of reference samples 17. In the correction coefficient processing, the same series of processing as for each of S141, S143, S145, S147, S149, S151, S153, S155, S157, and S159 is repeated for the number of reference samples 17. Further, in the Gauss-Jordan method executed in S161, the calibration area of the number corresponding to the number of the reference sample 17 is set as the input value of the matrix X, and the correction value of the number matching the number of the reference sample 17 is the matrix Y. It is used as the input value of.

基準試料１７を、第一サンプル、第二サンプル及び第三サンプルの３種類とした場合を例として説明する。キャリブレーション処理では、Ｓ５１～Ｓ６１は、省略される。プロセッサ７１は、Ｓ４５が否定された場合（図５のＳ４５：Ｎｏ参照）、処理を図６のＳ６３に移行する。補正係数処理では、Ｓ１５３～Ｓ１５９は、省略される。Ｓ１６１でプロセッサ７１は、第一較正用面積Ｘ１、第二較正用面積Ｘ２及び第三較正用面積Ｘ３を行列Ｘの入力値とし、且つ第一補正値Ｙ１、第二補正値Ｙ２及び第三補正値Ｙ３を行列Ｙの入力値として、ガウスの消去法を実行し、補正係数を算出する。このような場合についても、ガウスの消去法により、４次の補正係数を算出することが可能である。但し、補正係数は、４次とは異なる次数としてもよい。補正係数の次数は、諸条件を考慮して適宜決定される。 The case where the reference sample 17 is divided into three types, the first sample, the second sample, and the third sample, will be described as an example. In the calibration process, S51 to S61 are omitted. If S45 is denied (see S45: No in FIG. 5), the processor 71 shifts processing to S63 in FIG. In the correction coefficient processing, S153 to S159 are omitted. In S161, the processor 71 uses the first calibration area X1, the second calibration area X2, and the third calibration area X3 as the input values of the matrix X, and the first correction value Y1, the second correction value Y2, and the third correction. Using the value Y3 as the input value of the matrix Y, the Gauss-Jordan method is executed and the correction coefficient is calculated. Even in such a case, it is possible to calculate the fourth-order correction coefficient by the Gauss-Jordan method. However, the correction coefficient may be a different order from the fourth order. The order of the correction coefficient is appropriately determined in consideration of various conditions.

（５）測定装置１０では、単位面積質量Ｎの測定中、載置台２０上で撮像範囲Ｒ１内に、測定対象外の異物が生地片１５と共に存在することが想定される。この場合、測定用撮像データは、生地片１５の画像部分と共に、前述の異物の画像部分を含む。メイン処理（図４参照）のＳ２５で実行される測定用面積処理では、次のような処理を実行するとよい。即ち、図７のＳ７１で実行される実測処理（図１３参照）では、Ｓ１３５のラベリング処理により、生地片１５の画像部分を形成する画素と、異物の画像部分を形成する画素に対して異なるラベルが付される。但し、異物は、生地片１５より小さいと想定される。異物が生地片１５より大きい場合、操作者は、異物に気が付くと考えられる。従って、Ｓ１３７でプロセッサ７１は、前述の各画素のうち、画素数が多いラベルが付された画素（上述の「第一画素」参照）を対象として、その数を特定する。これにより、生地片１５の単位面積質量Ｎをスムーズに測定することができる。この場合、異物の画像部分を形成する画素は、上述の第二画素となる。 (5) In the measuring device 10, it is assumed that, during the measurement of the unit area mass N, a foreign substance other than the measurement target is present together with the cloth piece 15 in the imaging range R1 on the mounting table 20. In this case, the image pickup data for measurement includes the image portion of the above-mentioned foreign matter together with the image portion of the fabric piece 15. In the measurement area processing executed in S25 of the main processing (see FIG. 4), the following processing may be executed. That is, in the actual measurement process (see FIG. 13) executed in S71 of FIG. 7, different labels are used for the pixels forming the image portion of the fabric piece 15 and the pixels forming the image portion of the foreign substance by the labeling process of S135. Is attached. However, the foreign matter is assumed to be smaller than the dough piece 15. If the foreign matter is larger than the dough piece 15, the operator is likely to notice the foreign matter. Therefore, in S137, the processor 71 specifies the number of the pixels labeled with a large number of pixels (see the above-mentioned "first pixel") among the above-mentioned pixels. As a result, the unit area mass N of the dough piece 15 can be smoothly measured. In this case, the pixel forming the image portion of the foreign substance is the second pixel described above.

（６）基準試料１７としては、赤外線を反射する素材自体を面積が基準値となる形状とした試料を採用できる（図２参照）。この他、基準試料１７は、面積が基準値に設定された図形を面積が基準値より大きな素材に表現した態様としてもよい。基準試料１７となる前述の図形の表現方法としては、印刷が例示される。この場合、撮像範囲Ｒ１内で、基準試料１７となる前述の図形が表現された領域とこれ以外の領域では、上記の基準試料１７と載置面２２の場合と同様、赤外線反射率、赤外線吸収率及び赤外線透過率の何れか又は全部が異なる状態とするとよい。例えば、基準試料１７となる前述の図形の部分は、撮像範囲Ｒ１内に配置されることとなるこの図形が表現されていない領域より赤外線を反射する状態とすることができる。前述の図形が表現されていない領域は、図形が表現された素材の面積が撮像範囲Ｒ１より大きい場合、図形が表現されていない素材の領域であり、図形が表現された素材の面積が撮像範囲Ｒ１より小さい場合、図形が表現されていない素材の領域と載置面２２を含む領域である。基準試料１７を、面積が基準値より大きな素材に面積が基準値に設定された図形を表現した態様とする場合、図８のＳ８１、図９のＳ９１、図１０のＳ１０１、図１１のＳ１１１及び図１２のＳ１２１で実行される実測処理（図１３参照）では、プロセッサ７１は、面積が第一基準値、第二基準値、第三基準値、第四基準値及び第五基準値に設定された前述の各図形の部分を被検出物とし、これの面積を上記同様に取得する（図１３のＳ１３７参照）。 (6) As the reference sample 17, a sample in which the material itself that reflects infrared rays has a shape whose area is a reference value can be adopted (see FIG. 2). In addition, the reference sample 17 may be an embodiment in which a figure whose area is set to a reference value is represented by a material having an area larger than the reference value. Printing is exemplified as a method of expressing the above-mentioned figure as the reference sample 17. In this case, in the region where the above-mentioned figure serving as the reference sample 17 is expressed and the other regions within the imaging range R1, the infrared reflectance and the infrared absorption are the same as in the case of the reference sample 17 and the mounting surface 22. It is preferable that any or all of the rate and the infrared transmittance are different. For example, the portion of the above-mentioned figure that becomes the reference sample 17 can be in a state of reflecting infrared rays from the region where this figure is not expressed, which is arranged in the imaging range R1. When the area of the material in which the figure is represented is larger than the imaging range R1, the area in which the figure is not represented is the area of the material in which the figure is not represented, and the area of the material in which the figure is represented is the imaging range. When it is smaller than R1, it is an area including a material area in which a figure is not represented and a mounting surface 22. When the reference sample 17 is a material having an area larger than the reference value and the area is set to the reference value, S81 in FIG. 8, S91 in FIG. 9, S101 in FIG. 10, S111 in FIG. 11 and so on. In the actual measurement process (see FIG. 13) executed in S121 of FIG. 12, the area of the processor 71 is set to the first reference value, the second reference value, the third reference value, the fourth reference value, and the fifth reference value. The portion of each of the above-mentioned figures is set as the object to be detected, and the area of the object is acquired in the same manner as described above (see S137 in FIG. 13).

（７）測定装置１０は、単位面積質量Ｎを測定する。メイン画面８０は、測定結果領域８２を含み、単位面積質量Ｎ、補正面積Ｂ及び質量Ｍが測定結果領域８２に出力される（図２下段参照）。測定装置１０では、生地片１５の経糸及び緯糸の糸交差角度を測定し、これを出力するようにしてもよい。また、測定装置１０では、生地片１５の単位長さ当たりの緯糸本数及び経糸本数を測定し、これらを出力するようにしてもよい。糸交差角度、経糸本数及び緯糸本数の測定には、上述した特許文献１に開示の処理アルゴリズムを採用できる。従って、糸交差角度、経糸本数及び緯糸本数の測定に関する説明は、省略する。 (7) The measuring device 10 measures the unit area mass N. The main screen 80 includes the measurement result area 82, and the unit area mass N, the correction area B, and the mass M are output to the measurement result area 82 (see the lower part of FIG. 2). The measuring device 10 may measure the thread crossing angles of the warp and weft of the fabric piece 15 and output them. Further, the measuring device 10 may measure the number of weft threads and the number of warp threads per unit length of the fabric piece 15 and output them. The processing algorithm disclosed in Patent Document 1 described above can be adopted for measuring the thread crossing angle, the number of warps and the number of wefts. Therefore, the description regarding the measurement of the thread crossing angle, the number of warp threads and the number of warp threads will be omitted.

１０ 測定装置、 １５ 生地片、 １７ 基準試料、 ２０ 載置台
２２ 載置面、 ３０ 質量計、 ４０ カメラ、 ４５ 収容室
４７ 赤外線透過フィルタ、 ５０ 照射器、 ６０ 出力器、 ６５ 操作器
７０ 制御器、 ７１ プロセッサ、 ７２ ストレージ、 ７３ メモリ
７４ 接続インターフェース（接続Ｉ／Ｆ）、 ８０ メイン画面
８１ プレビュー領域、 ８２ 測定結果領域、 ８３ キャリブレーションボタン
９０ サブ画面、 ９１ プレビュー領域、 ９２ 第一サンプルボタン
９３ 第二サンプルボタン、 ９４ 第三サンプルボタン
９５ 第四サンプルボタン、 ９６ 第五サンプルボタン、 ９７ 補正係数ボタン
９８ 戻るボタン、 Ａ 測定用面積、 Ｂ 補正面積、 Ｍ 質量
Ｎ 単位面積質量、 Ｒ１ 撮像範囲、 Ｒ２ 照明範囲、 Ｘ１ 第一較正用面積
Ｘ２ 第二較正用面積、 Ｘ３ 第三較正用面積、 Ｘ４ 第四較正用面積
Ｘ５ 第五較正用面積 10 Measuring device, 15 Fabric piece, 17 Reference sample, 20 Mounting table 22 Mounting surface, 30 Mass scale, 40 Camera, 45 Containment chamber 47 Infrared transmission filter, 50 Irradiator, 60 Output device, 65 Operator 70 Controller, 71 Processor, 72 Storage, 73 Memory 74 Connection interface (connection I / F), 80 Main screen 81 Preview area, 82 Measurement result area, 83 Calibration button 90 Sub screen, 91 Preview area, 92 First sample button 93 Second Sample button, 94 3rd sample button 95 4th sample button, 96 5th sample button, 97 Correction coefficient button 98 Back button, A Measurement area, B Correction area, M mass N Unit area mass, R1 Imaging range, R2 Illumination Range, X1 1st calibration area X2 2nd calibration area, X3 3rd calibration area, X4 4th calibration area X5 5th calibration area

Claims (5)

生地片を載せ置く載置台と、
前記載置台に載せ置かれた前記生地片の質量を測定する質量計と、
前記載置台に載せ置かれた前記生地片を撮像するカメラと、
前記カメラによる撮像範囲に赤外線を照射する照射器と、
前記生地片の単位面積当たりの質量を示す単位面積質量を出力する出力器と、
プロセッサと、を備え、
前記プロセッサは、
前記質量計によって測定された前記生地片の質量を取得する質量処理と、
前記カメラによって撮像された前記生地片の画像部分を含む測定用の撮像データを取得する測定用撮像処理と、
前記測定用撮像処理で取得された前記測定用の撮像データに含まれる前記生地片の画像部分から前記生地片に対応する領域の測定用面積を取得する測定用面積処理と、
前記質量処理で取得された前記生地片の質量と、前記測定用面積処理で取得された前記測定用面積と、により前記単位面積質量を算出する算出処理と、
前記算出処理で取得された前記単位面積質量を前記出力器で出力させる出力処理と、を実行し、
前記カメラは、
赤外線に対する感度を有するイメージセンサを含み、
前記照射器から赤外線が照射されている状態で撮像し、
前記測定用撮像処理は、前記生地片で反射した赤外線による前記生地片の画像部分を含む前記測定用の撮像データを取得する処理である、測定装置。 A place to put a piece of dough and
A mass meter that measures the mass of the dough piece placed on the above-mentioned stand, and
A camera that captures the above-mentioned piece of fabric placed on the above-mentioned stand, and
An irradiator that irradiates the imaging range of the camera with infrared rays,
An output device that outputs a unit area mass indicating the mass per unit area of the cloth piece, and
With a processor,
The processor
Mass processing to obtain the mass of the dough piece measured by the mass meter, and
A measurement imaging process for acquiring imaging data for measurement including an image portion of the fabric piece imaged by the camera, and a measurement imaging process.
Measurement area processing for acquiring a measurement area of a region corresponding to the fabric piece from an image portion of the fabric piece included in the measurement imaging data acquired by the measurement imaging process.
A calculation process for calculating the unit area mass by the mass of the dough piece acquired by the mass treatment and the measurement area acquired by the measurement area process.
The output process of outputting the unit area mass acquired by the calculation process to the output device is executed .
The camera
Including an image sensor with sensitivity to infrared rays, including
An image was taken in a state where infrared rays were emitted from the irradiator.
The measurement imaging process is a process for acquiring image pickup data for measurement including an image portion of the fabric piece by infrared rays reflected by the fabric piece . 前記載置台の前記生地片が載せ置かれる載置面は、前記生地片より低い赤外線反射率、前記生地片より高い赤外線吸収率、及び前記生地片より高い赤外線透過率の一部又は全部を有する、請求項１に記載の測定装置。 The mounting surface on which the fabric piece of the above-mentioned stand is placed has a lower infrared reflectance than the fabric piece, a higher infrared absorption rate than the fabric piece, and a part or all of the infrared transmittance higher than the fabric piece. , The measuring device according to claim 1. 前記載置台と前記カメラとの間に赤外線透過フィルタを備える、請求項１又は請求項２に記載の測定装置。 The measuring device according to claim 1 or 2, further comprising an infrared transmission filter between the above-mentioned stand and the camera. 前記カメラは、赤外線カメラである、請求項１又は請求項２に記載の測定装置。 The measuring device according to claim 1 or 2, wherein the camera is an infrared camera. 前記載置台には、面積が基準値に設定された基準試料が載せ置かれ、
前記カメラは、前記載置台に載せ置かれた前記基準試料を撮像し、
前記プロセッサは、
前記カメラによって撮像された前記基準試料の画像部分を含む較正用の撮像データを取得する較正用撮像処理と、
前記較正用撮像処理で取得された前記較正用の撮像データに含まれる前記基準試料の画像部分から前記基準試料に対応する領域の較正用面積を取得する較正用面積処理と、
前記基準値と、前記較正用面積処理で取得された前記較正用面積と、の差に応じた補正係数を算出する補正係数処理と、を実行し、
前記較正用撮像処理は、前記基準試料で反射した赤外線による前記基準試料の画像部分を含む前記較正用の撮像データを取得する処理であり、
前記算出処理は、前記質量処理で取得された前記生地片の質量を、前記測定用面積処理で取得された前記測定用面積を前記補正係数処理で算出された前記補正係数によって補正した補正面積で除した前記単位面積質量を算出する処理である、請求項１から請求項４の何れか１項に記載の測定装置。 A reference sample whose area is set to the reference value is placed on the above-mentioned stand.
The camera takes an image of the reference sample placed on the above-mentioned table.
The processor
A calibration imaging process for acquiring calibration imaging data including an image portion of the reference sample imaged by the camera, and a calibration imaging process.
Calibration area processing for acquiring a calibration area of a region corresponding to the reference sample from an image portion of the reference sample included in the calibration imaging data acquired in the calibration imaging process.
The correction coefficient processing for calculating the correction coefficient according to the difference between the reference value and the calibration area acquired in the calibration area processing is executed.
The calibration imaging process is a process for acquiring imaging data for calibration including an image portion of the reference sample due to infrared rays reflected by the reference sample.
In the calculation process, the mass of the dough piece acquired by the mass process is corrected by the correction coefficient calculated by the correction coefficient process for the measurement area acquired by the measurement area process. The measuring device according to any one of claims 1 to 4, which is a process of calculating the divided unit area mass.
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