JP7047050B1 - エレベータのロープ検査システム - Google Patents

Abstract

【課題】マーク欠損が発生した場合でも、マーク間隔の測定を継続可能とし、その測定結果からローブ伸びを判断して信頼性の高い強度管理を行う。【解決手段】エレベータのロープ検査システムは、巻上機のトラクションシーブ２２を介して乗りかごとカウンタウェイト２１を吊持し、表面が樹脂被覆された構造を有するロープを備え、前記ロープの表面上に一定の間隔で設けられた複数のマークの間隔を測定する。前記ロープ検査システムは、前記ロープに対するマーク間隔の基準値を有し、測定結果として得られたマーク間隔が前記基準値の整数倍で規定される許容範囲内にある場合に当該測定結果を有効とし、当該測定結果からロープ伸びを判断する制御手段を備える。【選択図】図１

Description

本発明の実施形態は、エレベータのロープ検査システムに関する。

巻上機等のエレベータ機器を昇降路内に収めることで省スペース化を図るマシンルームレスタイプのエレベータが一般的になっている。マシンルームレスタイプのエレベータでは、巻上機のシーブ（トラクションシーブ）が小型化されている。このため、曲げ疲労に強く、高強度のロープ構造を有するメインロープとして、抗張力部材の表面をポリウレタンのような耐摩耗性と高摩擦係数を有する樹脂材で被覆したワイヤロープが用いられる。

この種のワイヤロープは、内部の抗張力部材を目視できず、一般的なワイヤロープのように、素線の摩耗状態や断線数の目視点検で強度管理を行うことはできない。そこで、ロープの表面に略一定の間隔でマークを施しておき、ロープの送り量に対するマーク間隔をロープ伸びとして測定することにより、その測定結果から劣化状態を判定して強度管理を行うロープ検査システムが提案されている。

特許第６２７１６８０号公報

上述したマークは、ロープが移動しているときに、光電センサによって光学的に検知される。ところが、ロープの使用環境や経年劣化などで、ロープ上の各マークの一部を光電センサで検知できない状態になる。この状態を「マーク欠損」と呼ぶ。このような場合、マーク間隔の測定結果からロープの劣化状態（ロープ伸び）を正しく判断できないので、ロープを交換するしかない。

なお、１本のロープに対して、複数の光電センサを配置しておけば、マークの検知率が高くなるので、マーク欠損を防ぐことができる。しかし、昇降路内の限られたスペースに複数の光電センサを配置することは難しく、また、システムのコストアップにも繋がる。

本発明が解決しようとする課題は、マーク欠損が発生した場合でも、マーク間隔の測定を継続可能とし、その測定結果からローブ伸びを判断して信頼性の高い強度管理を行うことのできるエレベータのロープ検査システムを提供することである。

一実施形態に係るロープ検査システムは、巻上機のトラクションシーブを介して乗りかごとカウンタウェイトを吊持し、表面が樹脂被覆された構造を有するロープを備え、前記ロープの表面上に一定の間隔で設けられた複数のマークの間隔を測定する。

前記エレベータのロープ検査システムは、センサと、マーク検知手段と、マーク間隔演算手段と、制御手段とを備える。前記センサは、前記ロープの近傍に設けられる。前記マーク検知手段は、前記ロープの移動に伴い、前記センサから出力される信号と前記乗りかごの昇降位置を示すデータとに基づいて、前記各マークの位置を検知する。前記マーク間隔演算手段は、前記マーク検知手段によって検知された前記各マークの位置に基づいてマーク間隔を演算する。前記制御手段は、前記ロープに対するマーク間隔の基準値を有し、前記マーク間隔演算手段によって測定結果として得られたマーク間隔が前記基準値の整数倍で規定される許容範囲内にある場合に当該測定結果を有効とし、当該測定結果からロープ伸びを判断する。

図１は第１の実施形態に係るエレベータの概略構成を示す図である。 図２は同実施形態におけるエレベータに用いられるメインロープの構造を示す断面図である。 図３は同実施形態におけるエレベータに用いられるメインロープの外観を示す斜視図である。 図４は同実施形態におけるパルス信号とマーク間隔の関係を説明するための図であり、図４（ａ）はメインロープの移動に同期して出力されるパルス信号、同図（ｂ）は据付け時のマーク間隔、同図（ｃ）は経年変化によりロープ伸びしているときのマーク間隔である。 図５は同実施形態におけるロープの劣化に伴う伸び率と残存強度と関係を示す図である。 図６は同実施形態におけるセンサを用いたマーク間隔の測定方法を説明するための図であり、図６（ａ）はセンサの出力電圧、同図（ｂ）はセンサの出力電圧とマーク位置との関係を示す図である。 図７は同実施形態におけるマーク間隔の演算結果の例を示す図であり、マーク欠損なしの場合のマーク間隔の演算結果を示している。 図８は同実施形態におけるマーク間隔の演算結果の例を示す図であり、１カ所にマーク欠損が発生した場合のマーク間隔の演算結果を示している。 図９は同実施形態におけるマーク間隔の演算結果の例を示す図であり、連続的にマーク欠損が発生した場合のマーク間隔の演算結果を示している。 図１０は同実施形態におけるロープ検査システムのメインルーチンの処理動作を説明するためのフローチャートである。 図１１は前記メインルーチンに含まれる測長運転処理を説明するためのフローチャートである。 図１２は前記メインルーチンに含まれるマーク検知処理を説明するためのフローチャートである。 図１３は前記メインルーチンに含まれるマーク間隔演算処理を説明するためのフローチャートである。 図１４は前記メインルーチンに含まれるマーク間隔演算処理を説明するためのフローチャートである。 図１５は第２の実施形態における閾値電圧調整方法を説明するための図であり、マーク検知数が少ない場合の閾値電圧調整方法を示す図である。 図１６は第２の実施形態における閾値電圧調整方法を説明するための図であり、マーク検知数が多い場合の閾値電圧調整方法を示す図である。 図１７は第２の実施形態におけるマーク検知処理を説明するためのフローチャートである。 図１８は第２の実施形態におけるマーク検知処理を説明するためのフローチャートである。 図１９は第３の実施形態におけるマーク検知処理を説明するためのフローチャートである。 図２０は第３の実施形態におけるマーク検知処理を説明するためのフローチャートである。

以下、図面を参照して実施形態を説明する。

まず、本発明の実施形態をする前に、図５を参照してロープの伸び率と強度との関係について説明する。

例えば、エレベータのメインロープなどに用いられるワイヤロープは、抗張力部材であるストランドと心綱が張力により絞られ、かつ、シーブ等から受ける曲げにより互いに擦れ合う。このため、ロープ劣化の形態は、心綱付近部の素線の摩耗と断線が支配的である。この部分の劣化によりストランドは心綱の方向（ロープ径が減少する方向）に移動するため、ロープ構造として伸びが生じる。

このような構造を有するワイヤロープに対して検証を行った結果、伸び率と強度との間に図５に示すような相関性があることが判明した。図５において、横軸はロープの伸び率を表している。機密上、具体的な数値は省略するが、図中のλは数％程度であり、距離にして数ｍｍ程度である。縦軸はロープの強度率（これを残存強度率と言う）を表している。ロープが据付け時の新品の状態から経年劣化により徐々に伸びてくると、それに伴い強度も低下する。通常、強度率８０％を基準強度として定められ、ロープの伸び率がλになった時点を交換時期とすることで安全性が得られる。

ロープ伸びの測定は、点検運転によってロープを一定量送り、その間にロープの表面に付された複数のマークをセンサで検出し、その検出タイミングでエンコーダのパルス信号をカウントすることで行う。

マーク測定用のパルス信号を発生する方法として、例えば回転部材をガイドレールに当接させるロータリーエンコーダを用いた場合には、レール継目の段差や付着物等によって一定のロープ送り量に対するパルス数にバラつきがあり、マーク間隔の測定に誤差が生じやすい。また、調速機にエンコーダを設けておく方法もあるが、点検作業スペースも含めて余分なスペースを要する。

そこで、トラクションシーブの回転と同期する巻上機の回転制御用のエンコーダを利用することを考える。このエンコーダを用いれば、調速機にエンコーダのような余分なスペースを要することなく、コスト的にも抑えられる。

ところが、ロープ使用環境や経年劣化などで、マーク部の反射率が低下するとともに、マーク検知手段の出力が低下し、一定のマーク検知閾値ではマーク欠損が発生し、マーク間隔測定ができなくなる。ここで、マーク検知手段を複数設けて、マーク検知を補償することは可能だが、システムのコストアップに繋がる。また、マーク検知手段に、例えば廉価なフォト・マイクロセンサを使用する場合、センサの個体差による出力差が生じ、一定のマーク検知閾値では、マーク欠損が頻発してマーク間隔を測定できない。この対策として出力差が小さい高精度のセンサを用いると、更にコストアップする。

以下では、マーク欠損が発生した場合でも、測定精度を損なうことなく、マーク間隔の測定を継続するための方法について詳しく説明する。

（第１の実施形態）
図１は第１の実施形態に係るエレベータの概略構成を示す図である。図１の例では、機械室を持たないマシンルームレスタイプのエレベータを想定している。

乗りかご２０とカウンタウェイト２１は、それぞれに昇降路１０内に立設されたガイドレール１１，１２に昇降可能に支持されている。更に、トラクションシーブ２２を有する巻上機２３が昇降路１０の上部に設置されている。乗りかご２０およびカウンタウェイト２１は、複数本のメインロープ２４により昇降路１０内に吊り下げられている。なお、図１では、一本のメインロープ２４のみを示し、その他のメインロープ２４については図示を省略している。

メインロープ２４の両端部は、それぞれに昇降路１０の上端にロープヒッチ２５ａ，２５ｂを介して固定されている。また、メインロープ２４は中間部でカーシーブ２６、トラクションシーブ２２およびカウンタウェイトシーブ２７に連続的に巻き掛けられている。これにより、乗りかご２０とカウンタウェイト２１を２：１ローピンク形式で支持している。巻上機２３の駆動によりトラクションシーブ２２が回転すると、そのトラクションシーブ２２の回転に伴い、乗りかご２０とカウンタウェイト２１がメインロープ２４を介して昇降路１０内をつるべ式に昇降動作する。

なお、機械室がないマシンルームレスタイプのエレベータでは、巻上機２３が昇降路１０内に設置されるが、本発明は特にこの構成に限定されるものではなく、機械室を有するエレベータであってもよい。機械室を有するエレベータでは、巻上機２３が機械室に設置される。また、ローピングについても、図１に示したような２：１ローピングに限らず、例えば１：１ローピングなどの他の方式であっても良い。

ここで、本実施形態のロープ検査システムは、センサ２８と、エンコーダ２９と、演算装置３０と、表示装置３１と、制御盤４０とを備える。

センサ２８は、検査対象とするメインロープ２４の近くに設置され、このメインロープ２４の長手方向に一定間隔で設けられた複数のマーク４５（図３参照）を光学的に検出する。エンコーダ２９は、トラクションシーブ２２の回転に同期してパルス信号を発生する。このエンコーダ２９は、かご位置や速度を検出するためにエレベータに組み込まれた既設のエンコーダである。このエンコーダ２９をマーク間隔の測定に用いることで、例えば調速機にエンコーダを設置する構成で問題となるレイアウト上の不都合を回避できる。

演算装置３０は、一定周期でセンサ２８の出力電圧をサンプリングしてメモリ３０ａに記憶するとともに、エンコーダ２９が発生するパルス信号をカウントしてメモリ３０ａに記憶する。なお、実際にはメインロープ２４が複数本のロープから構成されているので、演算装置３０は、各ロープ毎に一定周期でセンサ２８の出力電圧とパルス信号のカウント値をメモリ３０ａに記憶する。

演算装置３０は、メモリ３０ａに記憶されたセンサ２８の出力電圧Ｖと閾値電圧Ｖｓとに基づいて各マーク４５の位置を検知し、エンコーダ２９が発生するパルス信号のカウント値からマーク間隔を演算する機能を備える。また、演算装置３０は、マーク間隔からメインロープ２４の伸び量を求める機能を備える。表示装置３１は、演算装置３０によって得られたマーク間隔やロープ伸び量などを表示する。なお、演算装置３０と表示装置３１は、汎用のコンピュータからなる。この演算装置３０の機能を制御盤４０に持たせて、制御盤４０だけでマーク間隔の測定に関わる一連の処理を行う構成としても良い。

制御盤４０は、巻上機２３の駆動制御を含め、エレベータ全体の制御を行うための制御装置である。制御盤４０は、エンコーダ２９のパルス信号に基づいて乗りかご２０の位置を検出し、乗りかご２０を目的階まで所定の速度で移動させるなどの制御を行う。本実施形態では、演算装置３０を制御盤４０に接続して、演算装置３０がエンコーダ２９のパルス信号を制御盤４０から取得するように構成されている。

制御盤４０は、通信ネットワーク５０を介して監視センタ５１に接続されている。監視センタ５１は、監視対象とする各物件のエレベータの状態を通信ネットワーク５０を介して遠隔監視しており、何らかの異常等が発生した場合に保守員を現場に派遣するなどの対応を行う。保守員は、保守点検用の端末装置５２を所持している。この端末装置５２には、制御盤４０及び監視センタ５１との間で無線通信を行う機能が備えられている。

図中の３２は着床検出部材である。着床検出部材３２は、「着検板」とも呼ばれ、昇降路１０内に乗りかご２０の昇降方向に沿って各階床毎に設けられている。着床検出部材３２は、乗りかご２０が各階に停止するときに、非接触スイッチ３３と連動して停止位置を検出するために用いられる。

ここで、図２および図３を参照してメインロープ２４の構造について説明する。
メインロープ２４として、樹脂被覆されたワイヤロープが用いられる。図２に示すように、メインロープ２４は、抗張力部材としてのロープ本体４１と、ロープ本体４１を全面的に被覆した外部被覆層４２とを主要な要素として備えている。

ロープ本体４１は、複数本の鋼鉄製ストランド４３を所定のピッチで撚り合わせることで構成されている。外部被覆層４２は、例えばポリウレタンのような耐摩耗性および高摩擦係数を有する熱可塑性の樹脂材で形成されている。外部被覆層４２は、メインロープ２４の外表面を規定する外周面４４ａを有している。外周面４４ａは、円形の断面形状を有するとともに、各シーブ２２，２６，２７に巻き掛けられた際に、摩擦を伴いながら接触する。

更に、外部被覆層４２を形成する樹脂材は、隣り合うストランド４３の間の隙間に充填されている。そのため、外部被覆層４２は、ロープ本体４１の周方向に隣り合うストランド４３の間に入り込む複数の充填部４４を有している。充填部４４は、外部被覆層４２の外周面４４ａの内側に位置されている。

図３に示すように、メインロープ２４の表面（つまり外部被覆層４２の外周面４４ａ）に複数のマーク４５が設けられている。これらのマーク４５は、メインロープ２４の劣化による伸び量を検出するための要素であって、メインロープ２４の全長に亘って長手方向に一定の間隔（例えば５００ｍｍ間隔）で並んでいる。これらのマーク４５の１つ１つは、メインロープ２４の周方向に連続的な直線あるいは間欠的な点線で形成されている。

ところで、メインロープ２４は、使用期間の経過に伴ってストランド４３の間の隙間およびストランド４３を構成する複数の素線間の隙間が減少する。これにより、ストランド４３や素線が互いに摩擦を繰り返し、ストランド４３や素線の摩耗・断線が進行する。

特に、メインロープ２４が各シーブ２２，２６，２７と接触する部分では、摩擦を繰り返し受ける。このため、メインロープ２４の摩耗・断線の進行度合いは、メインロープ２４がシーブ２２，２６，２７を通過しない部分に比べて大きく、これによりロープ径が減少したり、局部的な伸びが生じる。したがって、ロープ伸びと強度低下率との関係を明確化し、メインロープ２４の中でも劣化が最大となる部分の伸びを検出することで、メインロープ２４の強度を管理することができる。

センサ２８は、例えば巻上機２３の近傍でメインロープ２４に対向させるようにして固定しておく。これにより、点検運転で最上階と最下階の間で乗りかご２０を昇降させると、ロープヒッチ２５ａ，２５ｂに近い部分を除き、メインロープ２４の全長の大部分はセンサ２８を通過し、その通過時に連続的にマーク４５を検出することができる。

センサ２８は、応答性に鑑みてレーザ反射光を用いた光電センサで構成することが望ましいが、より廉価なＬＥＤ反射光を用いたフォト・マイクロセンサなどで構成しても良い。市販の光電センサでは、近年レーザ光などを対象物に照射し、反射光強度（反射率）の差によって表面の色（反射率）の変化を検出するセンサが普及している。

エンコーダ２９は、乗りかご２０の移動に同期してパルス信号を出力するため、略ロープ送り量に応じたパルス出力となる。エレベータ据付け時には、メインロープ２４の長手方向にマーク４５が等間隔で配列されている。したがって、メインロープ２４の劣化による伸びがない場合には、前記パルス信号のカウント値は据付け時のマーク間隔に対応した基準値と略同じになる。一方、メインロープ２４の劣化によりメインロープ２４が伸びている場合には、前記パルス信号のカウント値は据付け時のマーク間隔に対応した基準値を超えることになる。

この様子を図４に示す。
図４はパルス信号とマーク間隔の関係を説明するためのであり、図４（ａ）はメインロープ２４の移動に同期して出力されるパルス信号、同図（ｂ）は据付け時のマーク間隔、同図（ｃ）は経年劣化によりロープ伸びしているときのマーク間隔である。

据付け時のマーク間隔でパルス信号をカウントしたときの基準値をｎパルスとすると、メインロープ２４が劣化していない場合には、点検運転で得られるカウント値は据付け時のｎパルスと多少の誤差を含み略同じである。しかし、劣化によりメインロープ２４が伸びた状態にあると、点検運転で得られるカウント値は据付け時のマーク間隔に対応したｎパルスよりも多くなる。

ここで、マーク間隔の測定について、図６を用いて説明する。
図６はセンサ２８を用いたマーク間隔の測定方法を説明するための図であり、図６（ａ）はセンサ２８の出力電圧、同図（ｂ）はセンサ２８の出力電圧とマーク位置Ｐとの関係を示す図である。

いま、メインロープ２４が図１に示す矢印Ａ方向に送られているとする。センサ２８は、アナログ電圧出力機能を有しており、メインロープ２４の非マーク部とマーク部分の反射率に応じた出力電圧Ｖを出力する。このセンサ２８の出力電圧Ｖと、エンコーダ２９から出力されるパルスを積算した積算パルス数を一定周期で演算装置３０のメモリ３０ａに記憶する。このメモリ３０ａに記憶された出力電圧Ｖと閾値電圧Ｖｓとを比較する。そして、出力電圧Ｖが閾値電圧Ｖｓを超えたときの立上りのタイミングで、その間にカウントされた積算パルス数にパルスレートを乗じた昇降位置をマーク位置Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３…Ｐｎとして求め、メモリ３０ａに順次記憶する。これにより、乗りかご２０の昇降位置とマーク間隔は、以下の式（１），式（２ａ）～（２ｃ）のように求められる。

昇降位置＝積算パルス数×パルスレート …（１）
マーク間隔Ｌ１＝｜Ｐ１－Ｐ２｜ …（２ａ）
マーク間隔Ｌ２＝｜Ｐ２－Ｐ３｜ …（２ｂ）
マーク間隔Ｌｎ-1＝｜Ｐn-1－Ｐｎ｜ …（２ｃ）

図７乃至図９にマーク間隔の演算結果の例を示す。
図７はマーク欠損なしの場合のマーク間隔の演算結果を示している。図８は１カ所にマーク欠損が発生した場合のマーク間隔の演算結果を示している。図９は連続的にマーク欠損が発生した場合のマーク間隔の演算結果を示している。

いま、エレベータ設置時にメインロープ２４の長手方向に５００ｍｍ間隔で複数のマーク４５が設けられていたとする。この場合、マーク間隔の基準値は、５００ｍｍに設定される。メインロープ２４上の各マーク４５がセンサ２８によって正しく検出されていれば、図７に示すように、マーク間隔が略５００ｍｍで算出される。

ここで、経年劣化などにより、各マーク４５の一部がセンサ２８によって検出されない状態、つまり、マーク欠損が発生することがある。図８に示すように、マーク欠損が１カ所あれば、その欠損箇所に対応したマーク間隔は５００ｍｍの略２倍になる。図９に示すように、マーク欠損が連続して３カ所あれば、その欠損箇所に対応したマーク間隔は５００ｍｍの略４倍になる。したがって、マーク欠損時には、マーク間隔が基準値の整数倍で長くなることがわかる。

また、ロープ移動距離は物件毎に決まるため、ロープ１本あたりのマーク検知の期待数は、ロープ移動距離をマーク間隔の基準値で除して求めることができる。この期待数に尤度を持たせることで、測定時に得られるマーク検知数の期待範囲を以下のように定めておく。

検知数小＜期待範囲＜検知数大
なお、検知数小は、マーク検知時の測定誤差などを考慮して、前記マーク検知の期待数よりも若干少なく設定されている。検知数大は、マーク検知時の測定誤差などを考慮して、前記マーク検知の期待数よりも若干多く設定されている。

以下に、本システムの動作について、（ａ）メインルーチン、（ｂ）測長運転処理、（ｃ）マーク検知処理、（ｄ）マーク間隔演算処理に分けて詳しく説明する。

（ａ）メインルーチン
図１０は第１の実施形態におけるロープ検査システムのメインルーチンの処理動作を説明するためのフローチャートであり、メインロープ２４に付された複数のマーク４５の間隔を自動測定するための全体的な流れを示す。このフローチャートで示される処理は、主として制御盤４０によって実行される。

なお、実際にはメインロープ２４は複数本のロープから構成されているため、各ロープ毎にマーク間隔の測定処理が行われる。以下では、説明を簡単にするため、メインロープ２４に含まれる任意の１本のロープに対するマーク間隔の測定処理について説明する。

まず、制御盤４０は、初期設定として、例えば昇降範囲、運転速度などを含め、マーク間隔の測定に関わる各種条件を設定しておく（ステップＳ１０１）。マーク間隔の測定は、例えば夜間など、エレベータ利用者に対する運転サービスが終了した後に行われる。制御盤４０は、巻上機２３の駆動により乗りかご２０を所定の速度で昇降動作させ、メインロープ２４を一方向に送りながら測長運転処理を行う（ステップＳ１０２）。この測長運転処理によって、メインロープ２４の移動に伴って、センサ２８から出力される信号（電圧Ｖ）と、エンコーダ２９から出力されるパルス信号の積算値（積算パルス数）が演算装置３０のメモリ３０ａに一定周期毎に記憶される。詳しくは、後に図１１を用いて説明する。

何らかの原因で乗りかご２０の運転が一時停止して、測長運転処理が正常に終了しなかった場合（ステップＳ１０２のＮｏ）、制御盤４０は、リトライカウンタＲＣの値を更新する（ステップＳ１０３）。リトライカウンタＲＣは、測定運転処理のリトライ回数をカウントするためのカウンタであり、制御盤４０内に設けられている。後述する各種カウンタも同様であり、制御盤４０内に設けられている。

リトライカウンタＲＣを設けておくのは、測定運転処理を何度も繰り返すことを回避するためである。このリトライカウンタＲＣの値（リトライ回数）に対する制限値は、予め定められている。リトライカウンタＲＣの値が予め定めた制限内であれば（ステップＳ１０４のＮｏ）、制御盤４０は、測長運転処理を再実行する（ステップＳ２００）。リトライカウンタＲＣの値が前記制限外であれば（ステップＳ１０４のＹｅｓ）、制御盤４０は、リトライ異常を設定し（ステップＳ１０５）、所定の発報先にリトライ異常を発報する（ステップＳ１０９）。「所定の発報先」とは、保守員が持つ端末装置５２、あるいは、遠隔地の監視センタ５１などが含まれる。

測長運転処理が正常に終了した場合には（ステップＳ１０２のＹｅｓ）、制御盤４０は、演算装置３０を通じてマーク検知処理を実行する（ステップＳ３００）。このマーク検知処理では、センサ２８から出力される信号（電圧Ｖ）と乗りかご２０の昇降位置を示すデータ（累積パルス数）を用いて、メインロープ２４上に付された各マーク４５の位置と、各マーク４５の数（マーク検知数）が求められる。詳しくは、後に図１２を用いて説明する。

マーク検知数が異常であった場合（ステップＳ１０６のＮｏ）、制御盤４０は、測定結果（マーク検知位置）を無効として、マーク間隔演算処理を中止する。その際、制御盤４０は、前記所定の発報先にマーク検知数の異常を発報する（ステップＳ１０９）。

マーク検知数が正常であった場合（ステップＳ１０６のＹｅｓ）、制御盤４０は、マーク間隔演算処理を実行する（ステップＳ４００）。このマーク間隔演算処理では、前記ステップＳ３００で検知されたマーク位置を基にマーク間隔が演算される。詳しくは、後に図１３および図１４を用いて説明する。

前記ステップＳ４００のマーク間隔演算処理において、マーク間隔が正常である旨が設定された場合には（ステップＳ１０７のＹｅｓ）、制御盤４０は、マーク間隔の測定結果を有効として、その測定結果からロープ伸びを判断する。その際、制御盤４０は、前記所定の発報先に正常に測定できた旨を発報する（ステップＳ１０８）。一方、マーク間隔に異常がある場合には（ステップＳ１０７のＮｏ）、制御盤４０は、マーク間隔の測定結果を無効として、前記所定の発報先にマーク間隔の異常を発報する（ステップＳ１０９）。

（ｂ）測長運転処理
図１１は図１０のステップＳ２００で実行される測長運転処理を説明するためのフローチャートである。

制御盤４０は、初期設定として、例えば測長開始位置、測長終了位置などを含め、測長運転処理に関わる各種条件を設定しておく（ステップＳ２０１）。制御盤４０は、乗りかご２０を測長開始位置（例えば最下階）まで移動させた後、演算装置３０に測長運転の開始を指示する（ステップＳ２０２）。

乗りかご２０が所定の運転速度で測長開始位置から移動すると、エンコーダ２９からパルス信号が出力され、制御盤４０を介して演算装置３０に与えられる。また、センサ２８からメインロープ２４の表面反射に応じた電圧信号が出力される。この電圧信号は、図示せぬＡ／Ｄ変換器を介してデジタルデータとして演算装置３０に与えられる。

ここで、測長運転中に、演算装置３０によって乗りかご２０の昇降位置に相当するエンコーダ２９の積算パルス数が演算され、センサ２８の出力電圧Ｖ（デジタルデータ）と共にメモリ３０ａに一定の周期毎に記憶される（ステップＳ２０３）。乗りかご２０が測長終了位置（例えば最上階）に到着してなければ（ステップＳ２０４のＮｏ）、制御盤４０は、所定の待機処理を行う（ステップＳ２０５）。

乗りかご２０が測長終了位置に到着し、測長運転処理が正常に終了すると（ステップＳ２０６のＹｅｓ）、制御盤４０は、正常終了設定を行った後（ステップＳ２０７）、測長運転処理を終える。一方、何らかの原因で測長運転処理に正常に終了しなかった場合には（ステップＳ２０６のＮｏ）、制御盤４０は、異常終了設定を行った後（ステップＳ２０８）、測長運転処理を終える。

図１０で説明したように、測長運転処理が正常に終了しなかった場合には、予め定めた制限内で測長運転処理が再実行される。測長運転処理が正常に終了した場合には、後述するマーク検知処理が実行される。

（ｃ）マーク検知処理
図１２は図１０のステップＳ３００で実行されるマーク検知処理を説明するためのフローチャートである。

制御盤４０は、初期設定として、例えば昇降範囲に対するマーク検知数の期待範囲など、マーク検知処理に関わる各種条件を設定しておく（ステップＳ３０１）。マーク検知処理は、制御盤４０の制御の下で演算装置３０を通じて実行される。

演算装置３０は、メモリ３０ａに一定周期で記憶されたセンサ２８の出力電圧Ｖを予め設定された閾値電圧Ｖｓと比較することで、メインロープ２４上に付されたマーク４５の位置を検知する。詳しくは、演算装置３０は、出力電圧Ｖが閾値電圧Ｖｓを超えたときの電圧信号の立上り時刻あるいは配列指標を求め、その立上り時刻あるいは配列指標に対応したエンコーダ２９の積算パルス数をメモリ３０ａから抽出する。そして、演算装置３０は、その積算パルス数にパルスレートを乗じて得られる昇降位置をマーク４５の位置として求め、メモリ３０ａに記憶する（ステップＳ３０２）。

また、演算装置３０は、マーク４５の位置を検知する毎にマーク検知数を更新して、メモリ３０ａに記憶する（ステップＳ３０３）。検知対象とするデータが終了するまで（ステップＳ３０４のＮｏ）、演算装置３０は、上述したマーク位置の演算とマーク検知数の更新を繰り返す。

データ終了後、制御盤４０は、演算装置３０からマーク検知数を取得し、そのマーク検知数が予め定めた期待範囲内にあるか否かを判定する（ステップＳ３０５）。メインロープ２４上の各マーク４５を検知できていれば、マーク検知数は期待範囲内にある。しかし、例えば経年劣化などで各マーク４５の一部を検知できなかった場合、あるいは、ノイズの影響で誤検知が生じている場合には、マーク検知数は期待範囲外になる。

マーク検知数が期待範囲内であれば（ステップＳ３０５のＹｅｓ）、制御盤４０は、マーク検知数が正常であることを設定した後（ステップＳ３０６）、マーク検知処理を終了する。一方、マーク検知数が期待範囲よりも少なかった場合には（ステップＳ３０７のＹｅｓ）、制御盤４０は、マーク検知数小の異常を設定した後（ステップＳ３０８）、マーク検知処理を終了する。また、マーク検知数が期待範囲よりも多かった場合には（ステップＳ３０７のＮｏ）、制御盤４０は、マーク検知数大の異常を設定した後（ステップＳ３０９）、マーク検知処理を終える。

なお、図１２では、データ終了後にマーク検知数の判定を行うシーケンスとしたが、例えばマーク検知数を更新したときに、少なくともマーク検知数がマーク検知の期待範囲よりも多いか否かを判定し、マーク検知数がマーク検知の期待範囲より多ければ、異常設定してからマーク検知処理を終了することでも良い。これにより、マーク位置を記憶するメモリ３０ａの容量と不必要な処理時間を抑制することができる。また、このマーク検知処理は、メインロープ２４を構成する各ロープに用いられるセンサ２８毎に行うことが望ましい。

このように、マーク検知数の判定を行うことで、少なくともマーク検知数が期待範囲内であったメインロープ２４に関しては、後述するマーク間隔演算処理を行うことが可能となる。一方、マーク検知数が期待範囲外であったメインロープ２４に関しては、マーク４５の反射率の低下や、昇降路内の粉塵、路内コンクリート紛の付着などが考えられる。したがって、異常発報を行うことで、メインロープ２４の詳細点検や清掃指示などの対応を取ることができる。

（ｄ）マーク間隔演算処理
図１３および図１４は、図１０のステップＳ４００で実行されるマーク間隔演算処理を説明するためのフローチャートである。

制御盤４０は、初期設定として、例えばマーク間隔の基準値や許容範囲などを設定するとともに、マーク間隔に関する各種カウンタＭＣ１～ＭＣ４を初期化しておく（ステップＳ４０１）。

マーク間隔演算処理は、制御盤４０の制御の下で演算装置３０を通じて実行される。演算装置３０は、前記マーク検知処理で求めた各マーク４５の位置に基づいてマーク間隔を演算する（ステップＳ４０２）。制御盤４０は、この演算装置３０で演算されたマーク間隔のデータを読み込み、以下のような判定処理を行う。

すなわち、まず、制御盤４０は、演算装置３０から読み込んだマーク間隔が基準値に対して予め定められた正常範囲内にあるか否かを判定する（ステップＳ４０３）。マーク間隔が正常範囲内にあれば（ステップＳ４０３のＹｅｓ）、制御盤４０は、当該マーク間隔を有効と判定して、マーク間隔正常カウンタＭＣ１の値を更新する（ステップＳ４０４）。

例えばセンサ２８の出力電圧Ｖに閾値電圧Ｖｓ以上のノイズが含まれていると、そのノイズの影響でマーク４５の位置が誤検知され、マーク間隔が正常範囲よりも短くなることがある。したがって、演算装置３０から読み込んだマーク間隔が正常範囲よりも短い場合には（ステップＳ４０５のＹｅｓ）、制御盤４０は、当該マーク間隔を無効とし、マーク間隔小カウンタＭＣ２の値を更新する（ステップＳ４０６）。

また、各マーク４５の一部が検知できない状態つまりマーク欠損が生じている場合に、マーク間隔が正常範囲よりも長くなる。一般的には、マーク欠損があった場合にはマーク間隔の測定処理が中止されていたが、本実施形態では、マーク欠損時のリカバリー用に新たに許容範囲Ｌtempを定めておくことで、マーク間隔の測定処理の継続を実現する。後述するように、この許容範囲Ｌtempは、マーク欠損が基準値の整数倍で発生することに着目して設定されている。

演算装置３０から読み込んだマーク間隔が許容範囲Ｌtemp内であれば（ステップＳ４０７のＹｅｓ）、制御盤４０は、当該マーク間隔を有効と判定して、マーク欠損カウンタＭＣ３の値を更新する（ステップＳ４０８）。一方、演算装置３０から読み込んだマーク間隔が許容範囲Ｌtemp外であったならば（ステップＳ４０７のＮｏ）、制御盤４０は、当該マーク間隔を無効と判定し、マーク間隔大カウンタＭＣ４の値を更新する（ステップＳ４０９）。

ここで、許容範囲Ｌtempについて詳しく説明する。
前記式（２ａ）～（２ｃ）により、マーク位置を基にマーク間隔が求められる。このマーク間隔は、表示装置３１に表示されるとともに、図７に示したような配列で演算装置３０内のメモリ３０ａに順次記憶される。制御盤４０は、このマーク間隔が以下のように定められる許容範囲Ｌtemp内にあるか否かを判定する。

・許容範囲Ｌtemp
マーク間隔の基準値をＬｂとする。この基準値Ｌｂに対する縮み側マーク間隔の許容値をΔｍ、伸び側マーク間隔の許容値をΔｐとすると、許容範囲Ｌtempは、下記の式（３）で表せる。

Ｍ×（Ｌｂ－Δｍ）＜Ｌtemp＜Ｍ×（Ｌｂ＋Δｐ） …（３）
但し、１≦Ｍ≦Ｍｍａｘであり、Ｍは正の整数、Ｍｍａｘは予め定めた最大値。

つまり、許容範囲Ｌtempは、マーク間隔の基準値Ｌｂ（例えば５００ｍｍ）のＭ倍で規定される。許容範囲Ｌtempの下限値は、基準値Ｌｂに第１の許容値Δｍを減算した値をＭ倍した値である。許容範囲Ｌtempの上限値は、基準値Ｌｂに第２の許容値Δｐを加算した値をＭ倍した値である。

許容値Δｍ，Δｐは、測定誤差の範囲で任意に設定され、同じ値でも良いし、異なる値であっても良い。Ｍの最低値は１であり、Ｍの最大値（Ｍｍａｘ）は５～１０である。最大値Ｍｍａｘは、ロープ移動距離と階床間隔との関係からマーク欠損時のマーク間隔が１階床分以内に収まるように定められる。

例えば、昇降行程１００ｍの建物に設けられるメインロープ２４の場合、図１のような２：１ロービング形式であれば、メインロープ２４の移動距離は２００ｍである。また、メインロープ２４が適用される建物の階床間隔は、一般的に４ｍ程度である。メインロープ２４の移動距離２００ｍを考慮した場合に、１階床分の４ｍ程度のマーク欠損であれば、マーク欠損以外で連続して検知可能なマーク４５の位置を用いてマーク間隔の測定処理を継続しても、特に支障はないと考えられる。

なお、メインロープ２４の強度管理を行う上で、図５のロープの伸び率がλになった時点を交換時期とすることで、安全性が得られる。したがって、伸び側マーク間隔の許容値Δｐは、下記の式（４）で求めることが望ましい。また、伸び側マーク間隔の許容値Δｐを縮み側マーク間隔の許容値Δｍとともに、初期設定（ステップ４０１）で、Ｍｍａｘ個のデータテーブルとして予め求めておくことでも良い。

Ｍ×Ｌｂ×λ … （４）
また、一般的には、交換時期に到達する前に、交換作業の作業員割当や、ロープ調達期間などを考慮した作業日程調整が必要なため、これらを考慮して、伸び率λより小さい係数を要観察用の係数αとして定めておき、λ及びαでロープ伸びを管理しても良い。

メインロープ２４が伸びていなければ、演算装置３０で算出されたマーク間の距離は据付け時にメインロープ２４に付されたマーク間隔（例えば５００ｍｍ）と同じである。経年劣化によりメインロープ２４が伸びると、演算装置３０で算出されたマーク間の距離は据付け時のマーク間隔（例えば５００ｍｍ）よりも長くなる。

ここで、エレベータ据付け時には、メインロープ２４の長手方向にマーク４５が等間隔で配列されている。したがって、メインロープ２４の劣化による伸びがない場合には、前記パルス信号のカウント値は据付け時のマーク間隔に対応した基準値と略同じになる。一方、メインロープ２４の劣化により伸びている場合には、前記パルス信号のカウント値は据付け時のマーク間隔に対応した基準値を超えることになる（図４参照）。

マーク間隔の判定処理後、判定対象となるマーク位置のデータが残っている場合には（ステップＳ４１０のＮｏ）、マーク間隔の演算から判定までの処理が繰り返される（ステップＳ４０２～ステップＳ４０９）。すべてのデータに対する処理が終了すると（ステップＳ４１０のＹｅｓ）は、制御盤４０は、マーク間隔小カウンタＭＣ２の値とマーク間隔大カウンタＭ４の値をチェックする（ステップＳ４１１）。カウンタＭＣ２，Ｍ４がともに初期値のままであったならば（ステップＳ４１１のＹｅｓ）、制御盤４０は、マーク間隔の測定結果が正常である旨を設定した後（ステップＳ４１２）、マーク間隔演算処理を終了する。

一方、カウンタＭＣ２，ＭＣ４がともに初期値でなければ（ステップＳ４１１のＮｏ）、制御盤４０は、マーク間隔の測定結果に異常がある旨を設定した後（ステップＳ４１３）、マーク間隔演算処理を終了する。

マーク間隔演算処理が終了すると、演算装置３０は、メモリ３０ａに測定結果として記憶された各マーク間隔の距離に基づいてメインロープ２４の伸び量を算出し、その結果を表示装置３１に表示する。その際、前記許容範囲Ｌtemp内でマーク欠損が生じている場合には、マーク欠損部分を除いた各マーク間隔の距離に基づいて伸び量を算出すれば、伸び量の測定精度を上げることができる。マーク欠損部分（図８の例ではＬ２２，図９の例ではＬ２３）は、マーク欠損カウンタＭＣ３が更新されるタイミングから判断できる。

なお、演算装置３０で伸び量を算出せずに、マーク間隔だけを表示装置３１に表示することでも良い。この場合、マーク間隔の測定結果に応じて、図１０のステップＳ１０８では正常発報がなされ、図１０のステップＳ１０９では異常発報がなされる。異常発報時には、どの箇所のマーク間隔に異常が発生しているのかを具体的に知らせるようにしても良い。マーク間隔の異常箇所は、マーク間隔小カウンタＭＣ２が更新されるタイミングと、マーク間隔大カウンタＭＣ４が更新されるタイミングから判断できる。

また、例えばマーク間隔が基準値を超えていた場合に、例えば表示装置３１に警告メッセージを表示したり、アラーム音を発するなどして、保守員にロープ交換時期が近付いている旨を知らせるようにしても良い。制御盤４０から保守員が持つ端末装置５２に警告メッセージを送ることでも良い。これにより、保守員による点検作業を削減でき、ロープ交換が必要な時期を把握して対処することができる。

また、マーク間隔の測定結果を遠隔地の監視センタ５１に定期的に送るようにすれば、監視センタ５１側では各物件のメインロープ２４の劣化状態を一元管理できるようになり、ロープ交換時期が近い物件を保守員に知らせることができる。

なお、前記実施形態では、マーク間隔の基準値をＬｂとし、２個のマーク間隔を基本として、マーク欠損補償とマーク間隔を演算する構成としたが、予め定めた２個以上のマーク間隔を基本とし、移動平均を求めてマーク欠損補償とマーク間隔を演算する構成としても良い。これにより、測定誤差を抑制して、マーク間隔の測定精度向上が見込める。

また、前記実施形態では、測長運転処理（ステップＳ２００）の後に、マーク検知処理（ステップＳ３００）及びマーク間隔演算処理（ステップＳ４００）を行う構成としたが、予め定めた昇降範囲に対するメモリ３０ａに記憶されたデータブロック単位で一連の処理を分割して行っても良い。これにより、演算装置３０に実装するメモリ３０ａの容量を抑制できる。

また、マーク検知処理に関し、例えば比較素子を用いてセンサ２８の出力電圧Ｖとマーク検知の閾値電圧Ｖｓとを比較し、その比較素子の出力の立上りをトリガにして、エンコーダ２９の積算パルス数をメモリ３０ａに記憶し、その積算パルス数から昇降位置をマーク位置として求める構成としても良い。これにより、センサ２８の出力電圧Ｖとエンコーダ２９からの積算パルスを一定周期毎に記憶する必要がなくなり、演算装置３０の負荷が軽減されて高速処理可能になるとともに、メモリ３０ａの容量をさらに抑制できる。

このように第１の実施形態によれば、ロープの経年劣化などでマーク欠損が発生した場合であっても、予め定めた許容範囲内でマーク間隔の測定を継続でき、高精度な測定結果を得ることができる。また、ロープの周囲に複数のセンサ２８を配置しなくても、マーク欠損に対応でき、コスト増加を抑制できる。

（第２の実施形態）
次に、第２の実施形態について説明する。
前記第１の実施形態では、マーク検知処理で得られたマーク検知数が予め定めた期待範囲外であった場合に異常として判断して処理を終えていた（図１２のステップＳ３０８，Ｓ３０９参照）。これに対し、第２の実施形態では、マーク検知数が予め定めた期待範囲外であった場合に閾値電圧Ｖｓを微調整して、マーク検知処理を再実行する構成としたものである。

図１５および図１６は第２の実施形態における閾値電圧調整方法を説明するための図であり、図１５はマーク検知数が少ない場合の閾値電圧調整方法、図１６はマーク検知数が多い場合の閾値電圧調整方法を示している。

マーク検知数が期待範囲より少ない場合には、図１５に示すように、マーク検知の閾値電圧Ｖｓを所定の電圧値分だけ減少させて、新たな閾値電圧Ｖｓ１に調整する。また、マーク検知数が期待範囲より多い場合には、マーク検知の閾値電圧Ｖｓを所定の電圧値分だけ増加させて、新たな閾値電圧Ｖｓ１に調整する。

図１７および図１８は第２の実施形態におけるマーク検知処理を説明するためのフローチャートである。このマーク検知処理（ステップＳ５００）は、図１０のステップＳ３００に代えて実行される。なお、メインルーチン（図１０）、測長運転処理（図１１）、マーク間隔演算処理（図１３）に関しては、前記第１の実施形態と同様であるため、ここではその説明を省略する。

制御盤４０は、初期設定として、例えば昇降範囲に対するマーク検知数の期待範囲の他、閾値電圧Ｖｓの調整範囲や閾値電圧変更カウンタＶＣなど、マーク検知処理に関わる各種条件を設定しておく（ステップＳ５０１）。マーク検知処理は、制御盤４０の制御の下で演算装置３０を通じて実行される。

ここで、第２の実施形態におけるマーク検知処理において、図１７のステップＳ５０２～Ｓ５０６までの処理は、図１２のステップＳ３０２～Ｓ３０６までの処理と同様である。すなわち、演算装置３０は、メモリ３０ａに一定周期で記憶されたセンサ２８の出力電圧Ｖを閾値電圧Ｖｓと比較することで、メインロープ２４上に付されたマーク４５の位置を検知して、メモリ３０ａに記憶する（ステップＳ５０２）。また、演算装置３０は、マーク４５の位置を検知する毎にマーク検知数を更新する（ステップＳ５０３）。検知対象とするデータが終了するまで、演算装置３０は、上述したマーク位置の演算とマーク検知数の更新を繰り返す（ステップＳ５０４）。

データ終了後、制御盤４０は、演算装置３０からマーク検知数を取得し、そのマーク検知数が予め定めた期待範囲内にあるか否かを判定する（ステップＳ５０５）。その結果、マーク検知数が期待範囲内であれば（ステップＳ５０５のＹｅｓ）、制御盤４０は、マーク検知数が適正であることを示す正常状態情報を設定する。

ここで、第２の実施形態では、マーク検知数が期待範囲外であったとき、制御盤４０は、演算装置３０に現在設定されているマーク検知の閾値電圧Ｖｓを微調整する（ステップＳ５０７）。「閾値電圧Ｖｓの微調整」とは、閾値電圧Ｖｓを一定の電圧単位で段階的に増減する調整のことを言う。

詳しくは、マーク検知数が期待範囲より少ない場合（検知数小の場合）、制御盤４０は、閾値電圧Ｖｓを所定の電圧値分だけ減少させて、新たな閾値電圧Ｖｓ１に調整する（図１５参照）。また、マーク検知数が期待範囲より多い場合（検知数大の場合）、制御盤４０は、閾値電圧Ｖｓを所定の電圧値分だけ増加させて、新たな閾値電圧Ｖｓ１に調整する（図１６参照）。

このようにして、閾値電圧Ｖｓを新たな閾値電圧Ｖｓ１に微調整したとき、制御盤４０は、その閾値電圧Ｖｓ１が予め定めた調整範囲内にあるか否かを判定する（ステップＳ５０８）。閾値電圧Ｖｓ１が調整範囲外であった場合（ステップＳ５０８のＮｏ）、制御盤４０は、閾値電圧の調整処理に関する異常を設定した後（ステップＳ５０９）、マーク検知処理を終了する。

一方、閾値電圧Ｖｓ１が調整範囲内であった場合には（ステップＳ５０８のＹｅｓ）、制御盤４０は、マーク検知数を初期値に戻した後（ステップＳ５１０）、閾値電圧変更カウンタＶＣを更新するとともに（ステップＳ５１１）、新たな閾値電圧Ｖｓ１を演算装置３０に設定する（ステップＳ５１２）。

このとき、制御盤４０は、閾値電圧変更カウンタＶＣの値が予め定めた制限範囲内であるか否かを判定する（ステップＳ５１３）。閾値電圧変更カウンタＶＣの値が制限範囲内であれば（ステップＳ５１３のＹｅｓ）、制御盤４０は、演算装置３０に新たな閾値電圧Ｖｓ１を用いたマーク検知処理を実行させる（ステップＳ５０２）。一方、閾値電圧変更カウンタＶＣの値が制限範囲外ならば（ステップＳ５１３のＮｏ）、制御盤４０は、マーク検知数の異常を設定した後（ステップＳ５１４）、マーク検知処理を終了する。

このように第２の実施形態によれば、マーク検知処理時に、マーク検知数が予め定めたマーク検知数範囲を外れた場合に閾値電圧Ｖｓが微調整される。これにより、センサ２８の個体差による検知精度を調整でき、乗りかご２０を再運転しなくても、メモリ３０ａに既記憶済みの積算パルス数と出力電圧Ｖを用いてマーク検知処理を再実行できる。

（第３の実施形態）
次に、第３の実施形態について説明する。
第３の実施形態では、前記第２の実施形態で説明した閾値電圧Ｖｓの微調整の前に、閾値電圧Ｖｓを概調整しておく構成としたものである。「閾値電圧Ｖｓの概調整」とは、閾値電圧Ｖｓを段階的に微調整するのではなく、ある程度定めた値に調整することを言う。

図１９および図２０は第３の実施形態におけるマーク検知処理を説明するためのフローチャートである。このマーク検知処理（ステップＳ５００）は、図１０のステップＳ３００に代えて実行される。なお、メインルーチン（図１０）、測長運転処理（図１１）、マーク間隔演算処理（図１３）に関しては、前記第１の実施形態と同様であるため、ここではその説明を省略する。また、前記第２の実施形態と重複する処理に関しては、同じステップ番号を付して、その説明を省略するものとする。

制御盤４０は、初期設定として、例えば昇降範囲に対するマーク検知数の期待範囲の他、閾値電圧Ｖｓの調整範囲や閾値電圧変更カウンタＶＣなど、マーク検知処理に関わる各種条件を設定しておく（ステップＳ５０１）。

ここで、第３の実施形態におけるマーク検知処理では、まず、図２０に示すように閾値電圧調整処理が実行される（ステップＳ６００）。
すなわち、制御盤４０は、メモリ３０ａに一定周期毎に記憶されている出力電圧Ｖの平均値Ｖａを演算する（ステップＳ６０１）。制御盤４０は、出力電圧Ｖの平均値Ｖａが予め定めた電圧変化の許容範囲内であるか否かを判定する（ステップＳ６０２）。出力電圧Ｖの平均値Ｖａが電圧変化の許容範囲内であれば（ステップＳ６０２のＹｅｓ）、制御盤４０は、閾値電圧（初期設定時の閾値電圧Ｖｓ）が正常である旨を設定して（ステップＳ６０６）、閾値電圧調整処理を終了する。

一方、出力電圧Ｖの平均値Ｖａが電圧変化の許容範囲外であれば（ステップＳ６０２のＮｏ）、制御盤４０は、以下のようにして閾値電圧Ｖｓを概調整する（ステップＳ６０３）。

・閾値電圧Ｖｓの概調整
出力電圧Ｖの平均値Ｖａには、メインロープ２４上のマーク４５の長さ分の電圧が含まれる。理想的には、出力電圧Ｖの平均値Ｖａは、マーク４５の長さ分の電圧を除いた範囲で演算することが望ましい。しかし、マーク間隔に対し、マーキングされるマーク４５の長さは微小であり、図３に示したマーク４５と外周面４４ａとのセンサ２８の出力電圧Ｖの比を考慮しても、マーク４５の長さ分の電圧については略無視することができる。

ここで、図１５に示した出力電圧Ｖに含まれるピーク電圧（マーク４５の部分に対応した電圧）をＶｐ、ピーク電圧Ｖｐの平均値Ｖｐa、閾値電圧の調整係数をｋとした場合に、新たな閾値電圧Ｖｓ１は下記の式（５）で求められる。

Ｖｓ１＝Ｖａ＋ｋ×（Ｖｐａ－Ｖａ）／２ …（５）
なお、ピーク電圧Ｖｐの算出が困難な場合には、式（６）に示すように、出力電圧Ｖの平均値Ｖｐａに調整係数ｋを乗じて新たな閾値電圧Ｖｓ１を求めても良い。

Ｖｓ１＝ｋ×Ｖｐａ …（６）
また、ここではピーク電圧Ｖｐの平均値Ｖｐａあるいは出力電圧Ｖの平均値Ｖａを使用して閾値電圧Ｖｓ１を演算したが、ピーク電圧Ｖｐと出力電圧Ｖの分散値を考慮して、例えばピーク電圧Ｖｐの中央値あるいは出力電圧Ｖの中央値を使用して閾値電圧Ｖｓ１を演算することでも良い。

このような概調整によって新たな閾値電圧Ｖｓ１が求められると、制御盤４０は、その閾値電圧Ｖｓ１が予め定めた閾値電圧変更範囲内であるか否かを判定する（ステップＳ６０４）。閾値電圧Ｖｓ１が電圧変更範囲内であれば（ステップＳ６０４のＹｅｓ）、制御盤４０は、閾値電圧Ｖｓを閾値電圧Ｖｓ１に更新し（ステップＳ６０５）、閾値電圧（更新後の閾値電圧Ｖｓ１）が正常である旨を設定して（ステップＳ６０６）、閾値電圧調整処理を終了する。

一方、閾値電圧Ｖｓ１が電圧変更範外であれば（ステップＳ６０４のＮｏ）、制御盤４０は、閾値電圧（更新後の閾値電圧Ｖｓ１）が異常である旨を設定して（ステップＳ６０７）、閾値電圧調整処理を終了する。

図１９に戻って、閾値電圧が正常に設定されていれば（ステップＳ６０１のＮｏ）、ステップＳ５０２～Ｓ５０７の処理が実行される。ステップＳ５０２～Ｓ５０７の処理については、前記第２の実施形態で説明済みのため、ここでは省略する。

このように第３の実施形態によれば、出力電圧Ｖの平均値や中央値などを用いて、マーカ検知に必要な閾値電圧Ｖｓを事前に調整しておくことで、昇降範囲に対するマーク検知数の過大や過小が発生したときの閾値電圧の微調整回数を抑制することができる。

以上述べた少なくとも１つの実施形態によれば、マーク欠損が発生した場合でも、マーク間隔の測定を継続可能とし、その測定結果からローブ伸びを判断して信頼性の高い強度管理を行うことのできるエレベータのロープ検査システムを提供することができる。

なお、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１０…昇降路、１１，１２…ガイドレール、２０…乗りかご、２１…カウンタウェイト、２２…トラクションシーブ、２３…巻上機、２４…メインロープ、２５ａ，２５ｂ…ロープヒッチ、２６…カーシーブ、２７…カウンタウェイトシーブ、２８…センサ、２９…エンコーダ、３０…演算装置、３０ａ…メモリ、３１…表示装置、３２…着床検出部材、３３…非接触スイッチ、４０…制御盤、５０…通信ネットワーク、５１…監視センタ、５２…端末装置。

Claims (10)

1. 巻上機のトラクションシーブを介して乗りかごとカウンタウェイトを吊持し、表面が樹脂被覆された構造を有するロープを備え、前記ロープの表面上に一定の間隔で設けられた複数のマークの間隔を測定するエレベータのロープ検査システムにおいて、
   前記ロープの近傍に設けられたセンサと、
   前記ロープの移動に伴い、前記センサから出力される信号と前記乗りかごの昇降位置を示すデータとに基づいて、前記各マークの位置を検知するマーク検知手段と、
   前記マーク検知手段によって検知された前記各マークの位置に基づいてマーク間隔を演算するマーク間隔演算手段と、
   前記ロープに対するマーク間隔の基準値を有し、前記マーク間隔演算手段によって測定結果として得られたマーク間隔が前記基準値の整数倍で規定される許容範囲内にある場合に当該測定結果を有効とし、当該測定結果からロープ伸びを判断する制御手段と
   を具備したことを特徴とするエレベータのロープ検査システム。
2. 前記許容範囲の下限値は、前記基準値に第１の許容値を減算した値を前記整数倍した値であり、
   前記許容範囲の上限値は、前記基準値に第２の許容値を加算した値を前記整数倍した値であることを特徴とする請求項１記載のエレベータのロープ検査システム。
3. 前記整数倍の最低値は、１であり、
   前記整数倍の最大値は、前記ロープの移動距離と階床間隔との関係からマーク欠損時のマーク間隔が１階床分以内に収まるように定められることを特徴とする請求項１記載のエレベータのロープ検査システム。
4. 前記制御手段は、
   前記マーク間隔が前記許容範囲外であった場合に異常発報を行うことを特徴とする請求項１記載のエレベータのロープ検査システム。
5. 前記マーク検知手段によって検知された前記各マークの数をカウントするカウント手段を備え、
   前記制御手段は、
   前記ロープの移動距離と前記基準値との関係から求められるマーク検知の期待数を有し、前記カウント手段によって得られた前記各マークの数が前記期待数に尤度を持たせた期待範囲内にある場合に、前記マーク間隔演算手段によるマーク間隔の演算処理を実行することを特徴とする請求項１記載のエレベータのロープ検査システム。
6. 前記制御手段は、
   前記各マークの数が前記期待範囲外であった場合に異常発報を行うことを特徴とする請求項５記載のエレベータのロープ検査システム。
7. 前記制御手段は、
   前記各マークの数が前記期待範囲外であった場合に、前記センサの信号レベルに対する閾値を予め定めた許容範囲内で微調整することを特徴とする請求項６記載のエレベータのロープ検査システム。
8. 前記制御手段は、
   前記閾値を微調整する前に、前記センサの信号レベルの平均値あるいは中央値に基づいて前記閾値を概調整することを特徴とする請求項７記載のエレベータのロープ検査システム。
9. 前記制御手段は、
   前記閾値を微調整する前に、前記センサの信号レベルに含まれるピーク値の平均値あるいは中央値に基づいて前記閾値を概調整することを特徴とする請求項７記載のエレベータのロープ検査システム。
10. 少なくとも、前記センサから出力される信号と前記乗りかごの昇降位置を示すデータを一定周期毎に記憶する記憶手段を具備したことを特徴とする請求項１記載のエレベータのロープ検査システム。

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