JP7020437B2 - シリコン単結晶の製造方法 - Google Patents
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Description
上記実施例とは別にシリコン単結晶の製造を以下のようにして行った。まず、原料溶融工程、パワー放置工程を行った。シリコン単結晶引き上げ中に有転位が生じたため、再溶融工程を行った。再溶融工程完了後及びシリコン単結晶取り出し完了後に積分値の計算を行わずに直径300mmのシリコン単結晶の引き上げを行った。上記操業から得られた直径300mmのシリコン単結晶について、各直胴位置からサンプルを切り出し、PL法を用いて炭素濃度の定量を実施した。その結果、図4に示す通り、固化率20%以降の領域でCs≧1.0×1014atoms/cm3となり、規格上限値を超えていることがわかった。
Claims (9)
- ルツボ内に収容されたシリコン原料をヒーターで加熱することにより溶融して原料融液とする原料溶融工程と、前記原料融液を前記ヒーターで加熱しながら、前記原料融液からシリコン単結晶を引き上げる引き上げ工程とを有するシリコン単結晶の製造方法において、
前記ヒーターのヒーターパワーPower及び時間tの差分である時間差分Δtから算出される積分値ΣPower×Δtに基づいて、前記引き上げ後に得られるシリコン単結晶中の炭素濃度Csを推定することを、
前記シリコン単結晶を引き上げる前に、予め、前記炭素濃度Csと、前記積分値ΣPower×Δtの相関関係を求めておき、
前記シリコン単結晶を引き上げた後、該シリコン単結晶を引き上げた際の前記積分値ΣPower×Δtの値を算出し、該算出値及び前記相関関係から、前記引き上げたシリコン単結晶の炭素濃度Csを推定することによって行い、
該推定した炭素濃度Csに基づいて、前記引き上げ後に得られたシリコン単結晶の炭素濃度が満たす規格を決定することを特徴とするシリコン単結晶の製造方法。 - 前記予め求める相関関係を、前記シリコン単結晶を引き上げる引き上げ機別に求めておくことを特徴とする請求項1に記載のシリコン単結晶の製造方法。
- 前記シリコン単結晶の引き上げ後に、該シリコン単結晶の引き上げの際のヒーターパワーPower及び時間tから積分値ΣPower×Δtを算出し、
該算出した積分値ΣPower×Δtが2861kW・h未満の場合は、前記引き上げたシリコン単結晶の固化率20~60%におけるシリコン単結晶を炭素濃度CsがCs<1.0×1014atoms/cm3の規格を満たす製品として振り分け、
該算出した積分値ΣPower×Δtが2861kW・h以上の場合は、前記引き上げたシリコン単結晶の固化率20~60%におけるシリコン単結晶を炭素濃度CsがCs≧1.0×1014atoms/cm3の規格を満たす製品として振り分けることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のシリコン単結晶の製造方法。 - 前記積分値ΣPower×Δtを算出する際に用いるヒーターパワーPowerを、前記原料溶融工程におけるヒーターパワー、前記原料溶融工程の終了後から前記引き上げ工程の開始前までのヒーターパワー、及び、一旦前記引き上げ工程の途中まで行ったシリコン単結晶を再溶融する場合の再溶融工程におけるヒーターパワーとすることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のシリコン単結晶の製造方法。
- 前記積分値ΣPower×Δtの算出に用いる前記時間tを、前記シリコン原料の温度が900℃以上である時間とすることを特徴とする請求項4に記載のシリコン単結晶の製造方法。
- 前記積分値ΣPower×Δtの算出に用いる前記時間差分Δtを、10秒以上10分以下の範囲とすることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載のシリコン単結晶の製造方法。
- 前記積分値Power×Δtを、区間[t,t+Δt]における2点のヒーターパワーPower及び時間Δtで形成される台形の面積から算出することを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載のシリコン単結晶の製造方法。
- 前記シリコン原料として半導体グレードの高純度原料を使用することを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載のシリコン単結晶の製造方法。
- ルツボ内に収容されたシリコン原料をヒーターで加熱することにより溶融して原料融液とする原料溶融工程と、前記原料融液を前記ヒーターで加熱しながら、前記原料融液からシリコン単結晶を引き上げる引き上げ工程とを有するシリコン単結晶の製造方法において、
前記シリコン単結晶を引き上げる前に、予め、前記ヒーターのヒーターパワーPower及び時間tの差分である時間差分Δtから算出される積分値ΣPower×Δtと、前記引き上げ後に得られるシリコン単結晶中の炭素濃度Csの間の相関関係を求めておき、
該相関関係に基づいて、前記ヒーターのヒーターパワーPowerと、前記時間tを調節することにより、前記シリコン単結晶を引き上げた際の該シリコン単結晶の炭素濃度Csを制御することを特徴とするシリコン単結晶の製造方法。
Priority Applications (1)
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006104107A1 (ja) | 2005-03-29 | 2006-10-05 | Kyocera Corporation | 多結晶シリコン基板及びその製造方法、多結晶シリコンインゴット、光電変換素子、並びに光電変換モジュール |
JP2009221062A (ja) | 2008-03-18 | 2009-10-01 | Sumco Corp | 炭素ドープ単結晶製造方法 |
US20120210931A1 (en) | 2007-12-04 | 2012-08-23 | Bender David L | Methods for controlling melt temperature in a czochralski grower |
JP2015017019A (ja) | 2013-07-12 | 2015-01-29 | グローバルウェーハズ・ジャパン株式会社 | シリコン単結晶及びその製造方法 |
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JP2015017019A (ja) | 2013-07-12 | 2015-01-29 | グローバルウェーハズ・ジャパン株式会社 | シリコン単結晶及びその製造方法 |
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