JP6894285B2 - Resin molding equipment and manufacturing method of resin molded products - Google Patents
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Description
本発明は、樹脂成形対象物を樹脂成形する樹脂成形装置及び樹脂成形品の製造方法に関する。 The present invention relates to a resin molding apparatus for resin-molding a resin-molded object and a method for manufacturing a resin-molded product.
従来技術として、例えば、特許文献1には、被成形品(5)の供給部(8)と、被成形品(5)を支持するプレート治具(10)の供給部(20)と、被成形品(5)に設けられた位置決め用の識別部を検知して被成形品(5)をプレート治具(10)の所定位置に装着する装着部(30)と、被成形品(5)が装着されたプレート治具(10)を樹脂モールド金型(50、51)に位置決めする位置決め手段が設けられ、プレート治具(10)とともに被成形品(5)をクランプして樹脂モールドする樹脂モールド金型(50、51)が装着されたプレス装置(40)と、樹脂モールド金型(50、51)により樹脂成形された成形品(62)の収納部(60)と、被成形品(5)、成形品(62)およびプレート治具(10)を、被成形品(5)の供給部(8)、プレート治具(10)の供給部(20)、装着部(30)、プレス装置(40)および成形品(62)の収納部(60)に給排する給排機構(70,72)とを備えている樹脂モールド装置が開示されている。
As a conventional technique, for example, in
さらに、特許文献1には、位置決め手段として、例えば、その図6に示されるように、下型44に設けられた位置決めピン45に、プレート治具10を当接させることが記載されている(段落[0023]参照)。
Further,
特許文献1には、位置決めピン45にプレート治具10を当接させる位置決めにおいて、適切に位置決めが行なわれているか否かを確認することは記載されていない。すると、成形後の成形品から位置決めに起因する成形不良が判明することになる。
本発明は上記の課題を解決するもので、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる樹脂成形装置及び樹脂成形品の製造方法を提供することを目的とする。 The present invention solves the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a resin molding apparatus and a method for manufacturing a resin molded product, which can suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
上記の課題を解決するために、本発明に係る樹脂成形装置は、互いに対向して配置される第1型及び第2型を有する成形型と、第1型及び第2型のいずれか一方の型の型面に樹脂成形対象物を供給する供給機構と、型面において樹脂成形対象物をガイド部材に位置決めする位置決め機構と、成形型を型締めする型締機構と、照射光を発する発光素子と、供給機構に設けられ照射光を受光可能な第1受光素子と、樹脂成形対象物の位置決めに関して判断する判断部とを備え、一方の型は、発光素子からの照射光を通過させる第1出射用通過孔が設けられ、判断部は、第1出射用通過孔を通過した照射光に対する第1受光素子による検知に基づいて、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する。 In order to solve the above problems, the resin molding apparatus according to the present invention has a molding mold having a first mold and a second mold arranged opposite to each other, and one of the first mold and the second mold. A supply mechanism that supplies the resin molding object to the mold surface, a positioning mechanism that positions the resin molding object on the mold surface to the guide member, a mold clamping mechanism that molds the mold, and a light emitting element that emits irradiation light. A first light receiving element provided in the supply mechanism capable of receiving the irradiation light and a determination unit for determining the positioning of the resin molded object are provided, and one of the molds is a first type that allows the irradiation light from the light emitting element to pass through. An exit through hole is provided, and the determination unit determines whether or not the resin molded object is normally positioned on the guide member based on the detection by the first light receiving element for the irradiation light passing through the first exit through hole. To judge.
上記の課題を解決するために、本発明に係る樹脂成形品の製造方法は、互いに対向して配置される第1型及び第2型を有する成形型のいずれか一方の型の型面に樹脂成形対象物を供給機構によって供給する供給工程と、型面において樹脂成形対象物をガイド部材に位置決めする位置決め工程と、一方の型に設けられた第1出射用通過孔を通過する照射光を発光素子から発する照射工程と、供給機構に設けられた第1受光素子が第1出射用通過孔を通過した照射光に関して検知する検知工程と、検知工程での検知に基づいて、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する判断工程と、判断工程において、樹脂成形対象物が正常に位置決めされていると判断した場合は成形型を型締めして樹脂成形する樹脂成形工程とを含む。
In order to solve the above problems, in the method for producing a resin molded product according to the present invention, a resin is formed on the mold surface of either a mold having a
本発明によれば、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to the present invention, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
以下、本発明に係る実施形態について、図面を参照して説明する。本出願書類におけるいずれの図についても、わかりやすくするために、適宜省略し又は誇張して模式的に描かれている。同一の構成要素については、同一の符号を付して説明を適宜省略する。なお、本出願書類において、「樹脂成形」とは、成形型により樹脂を成形することを意味し、成形型により封止樹脂部を成形する「樹脂封止」を含む概念の表現である。また、「樹脂成形品」とは、少なくとも樹脂成形された樹脂部分を含む製品を意味し。後述するような基板に装着された半導体チップが成形型により樹脂成形されて樹脂封止された形態の封止済基板を含む概念の表現である。 Hereinafter, embodiments according to the present invention will be described with reference to the drawings. All figures in the application documents are schematically drawn with omission or exaggeration for the sake of clarity. The same components are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted as appropriate. In addition, in this application document, "resin molding" means molding a resin by a molding die, and is an expression of a concept including "resin sealing" which molds a sealing resin part by a molding die. Further, the "resin molded product" means a product containing at least a resin molded resin portion. It is an expression of a concept including a sealed substrate in which a semiconductor chip mounted on a substrate as described later is resin-molded by a molding die and resin-sealed.
〔実施形態1〕
(樹脂成形ユニットの構成)
図1を参照して、本発明に係る樹脂成形装置において用いられる樹脂成形ユニットの構成を説明する。図1に示される樹脂成形ユニット1は、例えば、圧縮成形法又はトランスファ成形法を使用した樹脂成形ユニットである。樹脂成形ユニット1は基盤2を有する。基盤2の四隅において、4本の保持部材であるタイバー3が固定される。上方に向かって伸びる4本のタイバー3の上部に、基盤2に対向する固定プラテン4が固定される。基盤2と固定プラテン4との間において、基盤2と固定プラテン4のそれぞれに対向する可動プラテン5が、4本のタイバー3にはめ込まれる。基盤2の上には、可動プラテン5を昇降させる型締機構6が設けられる。型締機構6は、可動プラテン5を昇降させて成形型の型開きと型締めとを行う。型締機構6は、駆動源7と伝達部材8との組合せで構成される。例えば、型締機構6として、サーボモータとボールねじとの組合せ、油圧シリンダとロッドとの組合せなどが使用される。型締め機構としてトグルリンク機構を使用することもできる。
[Embodiment 1]
(Structure of resin molding unit)
The configuration of the resin molding unit used in the resin molding apparatus according to the present invention will be described with reference to FIG. The
固定プラテン4の下面には上型9が固定される。上型9の真下には、上型9に対向して下型10が設けられる。下型10は、可動プラテン5の上面に固定される。上型9と下型10とは、併せて成形型11を構成する。上型9及び下型10には加熱手段であるヒータ(図示なし)が適宜設けられる。
The
上型9と下型10との間には、例えば、上型9の型面に樹脂成形対象物12を供給する供給機構13が配置される。樹脂成形対象物12としては、例えば、半導体チップが装着された基板、半導体チップが装着されたリードフレームなどが上型9の型面に供給される。この場合には、上型9の型面に樹脂成形対象物12を供給する場合を示すが、下型10の型面に樹脂成形対象物12を供給しても良い。
Between the
(樹脂成形品の製造方法)
図1〜2を参照して、樹脂成形装置(図14参照)に設けられた樹脂成形ユニット1において、例えば、樹脂成形対象物として基板に装着された半導体チップを樹脂成形して樹脂成形品を製造する方法の工程について説明する。
(Manufacturing method of resin molded products)
With reference to FIGS. 1 and 2, in the
図2(a)に示されるように、まず、樹脂成形装置において、上型9と下型10とを型開きする。次に、供給機構13を使用して、半導体チップ14が装着された基板である成形前基板15を、上型9と下型10との間に搬送する。この場合には、成形前基板15を上型9の型面に供給するので、半導体チップ14が装着された面を下側にして搬送する。次に、供給機構13を上昇させて成形前基板15を上型9の型面に供給する。
As shown in FIG. 2A, first, in the resin molding apparatus, the
次に、後述するように、上型9の型面において、成形前基板15を位置決め機構によってガイド部材に位置決めする(図3(a)参照)。成形前基板15が上型9の型面に正常に位置決めされているか否かを、供給機構13に設けられた受光素子(図3(b)、(c)参照)を用いて検証する。成形前基板15を上型9の型面に位置決めする動作、及び、成形前基板15が上型9の型面に正常に位置決めされているか否かを判断する動作は、後述する(図3〜6参照)。
Next, as will be described later, the
次に、成形前基板15が上型9の型面に正常に位置決めされていると判断した場合には、離型フィルム供給機構(図14参照)を使用して、下型10に設けられたキャビティ16に離型フィルム17を供給する。離型フィルム17として、フィルム供給リールから巻き取りリールまで連続して供給される長尺状の離型フィルム、又は、短冊状にカットされた離型フィルムのいずれかが使用される。あるいは、離型フィルムを使用しないことも可能である。
Next, when it is determined that the
次に、図2(b)に示されるように、例えば、樹脂供給機構としてディスペンサを使用し、樹脂材料として液状樹脂をキャビティ16に供給する場合を説明する。図2(b)に示されるディスペンサ18は、予め主剤と硬化剤とが混合された液状樹脂を使用する1液タイプのディスペンサである。主剤として、例えば、熱硬化性を有するシリコーン樹脂又はエポキシ樹脂が使用される。液状樹脂を供給する際に主剤と硬化剤とを混合して使用する2液混合タイプのディスペンサを使用しても良い。
Next, as shown in FIG. 2B, for example, a case where a dispenser is used as a resin supply mechanism and a liquid resin is supplied to the
次に、移動機構19によってディスペンサ18を上型9と下型10との間に移動させる。次に、ディスペンサ18の吐出口からキャビティ16に液状樹脂20を吐出する。このことによって、キャビティ16に液状樹脂20が供給される。この場合には、ディスペンサ18を使用して液状樹脂20をキャビティ16に供給した。これに限らず、樹脂材料として、粉末状、顆粒状、シート状、固形状の樹脂材料などを使用してキャビティに供給することができる。
Next, the moving
次に、図2(c)に示されるように、型締機構6(図1参照)を使用して可動プラテン5を上昇させる。このことによって、上型9と下型10とを型締めする。型締めすることによって、成形前基板15に装着された半導体チップ14を、キャビティ16に供給された液状樹脂20に浸漬させる。このとき、下型10に設けられたキャビティ底面部材(図示なし)を使用して、キャビティ16内の液状樹脂20に一定の樹脂圧力を加えることができる。
Next, as shown in FIG. 2 (c), the mold clamping mechanism 6 (see FIG. 1) is used to raise the
なお、型締めする工程において、真空引き機構(図示なし)を使用してキャビティ16内を吸引しても良い。このことによって、キャビティ16内に残留する空気や液状樹脂20中に含まれる気泡などが成形型11の外部に排出される。加えて、キャビティ16内が一定の真空度に設定される。
In the mold clamping step, the inside of the
次に、下型10に設けられたヒータ(図示なし)を使用して、液状樹脂20を硬化させるために必要な時間だけ、液状樹脂20を加熱する。液状樹脂20を硬化させて硬化樹脂21を成形する。このことによって、成形前基板15に装着された半導体チップ14を、キャビティ16の形状に対応して成形された硬化樹脂21によって樹脂成形(樹脂封止)する。
Next, a heater (not shown) provided on the
次に、図2(d)に示されるように、硬化樹脂21を成形した後に、型締機構6を使用して可動プラテン5を下降させる。このことによって、上型9と下型10とを型開きする。上型9の型面には樹脂成形された成形済基板である樹脂成形品22が固定されている。次に、樹脂成形品22を上型9から離型する。この段階において、樹脂成形(樹脂封止)が完了する。
Next, as shown in FIG. 2D, after molding the cured
(基板の位置決め検証機構)
図3を参照して、成形型11に供給された成形前基板15の位置決めを検証する位置決め検証機構について説明する。位置決め検証機構は発光素子と受光素子とを備え、発光素子が発した照射光を受光素子が検知するか否かによって、成形前基板15の位置決めを検証する。本実施形態では、固定プラテン4に発光素子を設け、供給機構13に受光素子を設けた場合について説明する。
(Board positioning verification mechanism)
A positioning verification mechanism for verifying the positioning of the
図3(a)に示されるように、上型9の型面(下面)には、例えば、成形前基板15をX方向に位置決めするための位置決め部材としてガイド部材23が設けられる。ガイド部材23として、例えば、ガイドピンなどのピン状の形状を有する部材が使用される。同様に、成形前基板15をY方向に位置決めするためのガイド部材24が、上型9の型面に設けられる。ガイド部材23及び24は、例えば、Y方向及びX方向に沿ってそれぞれ少なくとも2個設けられることが好ましい。この場合には、ピン状の形状を有する部材をガイド部材として使用した。ガイド部材として、X方向及びY方向に沿って伸びる直方体の形状を有する部材を使用しても良い。
As shown in FIG. 3A, a
上型9又は固定プラテン4には、例えば、成形前基板15の端面をガイド部材23及び24に押し当てて位置決めするための位置決め機構25及び26がそれぞれ設けられる。位置決め機構25によって成形前基板15がX方向に位置決めされる。同様に、位置決め機構26によって成形前基板15がY方向に位置決めされる。位置決め機構25、26によって、成形前基板15は上型9の型面に配置される。この場合には、位置決め機構25、26を上型9又は固定プラテン5に設ける構成とした。これに限らず、位置決め機構を供給機構13に設ける構成にしても良い。
The
本出願書類においては、図3(a)に示されるように、成形前基板15の長手方向がX方向に沿うようにして配置され、成形前基板15の短手方向がY方向に沿うようにして配置される場合を示す。以下、成形前基板15の長手方向に沿う端面を成形前基板15のX方向に沿う端面という。同様に、成形前基板15の短手方向に沿う端面を成形前基板15のY方向に沿う端面という。
In the present application documents, as shown in FIG. 3A, the
図3(a)、(b)に示されるように、例えば、成形前基板15のX方向及びY方向の位置決めを検証するための構成要素として、固定プラテン4の内部に発光素子27及び28が設けられる。発光素子27、28としては、例えば、発光ダイオード(LED)やレーザーダイオード(LD)等が使用される。発光素子27、28は耐熱性を有することが好ましい。上型9には、発光素子27及び28が発する照射光を通過させるための第1出射用通過孔29及び30がそれぞれ設けられる。なお、「出射用」とは、上型9側から外部の受光素子側に照射光を出射するとの意味合いである。
As shown in FIGS. 3A and 3B, for example,
図3(a)に示されるように、第1出射用通過孔29及び30は、成形前基板15がガイド部材23及び24に接触した状態において、成形前基板15が上型9の型面に配置される領域にそれぞれ設けられる。より詳しく述べると、成形前基板15がガイド部材23に接触した状態において、第1出射用通過孔29は、成形前基板15のY方向に沿う端面から内側の領域に対応するようにして上型9に設けられる。同様に、成形前基板15がガイド部材24に接触した状態において、第1出射用通過孔30は、成形前基板15のX方向に沿う端面から内側の領域に対応するようにして上型9に設けられる。
As shown in FIG. 3A, in the first exit passage holes 29 and 30, the
図3(b)、(c)に示されるように、供給機構13には、発光素子27及び28が発した照射光を検知するための第1受光素子31及び32がそれぞれ設けられる。第1受光素子31及び32は、成形前基板15のX方向及びY方向の位置決めを検証するための受光素子である。第1受光素子31、32としては、例えば、フォトダイオード(PD)等が使用される。成形前基板15がガイド部材23、24に位置決めされた状態において、平面視して第1受光素子31が発光素子27及び第1出射用通過孔29に重なり、第1受光素子32が発光素子28及び第1出射用通過孔30に重なるようにして設けられる。第1出射用通過孔29、30の径は、第1受光素子31、32が受光する光の強度に対応して任意に設定することができる。成形前基板15がガイド部材23及び24に位置決めされた状態において、発光素子27及び28が発した照射光を第1受光素子31及び32が検知するか否かによって、成形前基板15が上型9の型面に正常に位置決めされたか否かを検証する。例えば、第1出射用通過孔29、30の径を0.01〜0.1mm程度の大きさにすることにより、成形前基板15の位置決めに対する検証精度を向上することができる。
As shown in FIGS. 3B and 3C, the
なお、成形型11が型開きされた状態では、ガイド部材23、24は上型9の型面から突出している。成形型11が型締めされた状態では、ガイド部材23、24は下型10の型面に押し上げられて上型9の内部に収納されるように構成される。それには、例えば、ガイド部材23、24を、ばね等の弾性部材により支持する構成とすればよい。また、ガイド部材23、24を可動させず、下型10に設けられた開口穴(図示なし)に退避させるようにしても良い。
In the state where the molding die 11 is opened, the
(基板の位置決め動作及び位置決め検証動作(樹脂成形品の製造方法))
図3〜4を参照して、成形型11に供給された成形前基板15の位置決め動作と、成形型11に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する動作とについて説明する。本実施形態においては、成形型11の上型9に成形前基板15を供給して位置決めする場合を示す。なお、ここの説明は、樹脂成形品の製造方法の説明も兼ねる。
(Substrate positioning operation and positioning verification operation (manufacturing method of resin molded product))
With reference to FIGS. 3 to 4, the positioning operation of the
(基板の位置決め動作)
図3を参照して、成形前基板15を上型9の型面に位置決めする動作について説明する。まず、図3(b)に示されるように、成形前基板15を保持した供給機構13を上型9と下型10との間に移動させる。次に、供給機構13を上昇させ、供給機構13から上型9の型面に成形前基板15を受け渡す。
(Board positioning operation)
The operation of positioning the
次に、例えば、上型9又は固定プラテン4に設けられた位置決め機構25及び26を使用して、成形前基板15の端面をそれぞれガイド部材23及び24に押し当てる。まず、図3(a)に示されるように、位置決め機構25を使用して成形前基板15のY方向に沿う端面を2個のガイド部材23に押し当てる。このことによって、成形前基板15のY方向に沿う端面が、上型9の型面に位置決めされる。次に、位置決め機構26を使用して成形前基板15のX方向に沿う端面を2個のガイド部材24に押し当てる。このことによって、成形前基板15のX方向に沿う端面が、上型9の型面に位置決めされる。
Next, for example, using the
位置決め機構25及び26を使用して成形前基板15をガイド部材23及び24に押し当てることによって、成形前基板15を上型9の型面に位置決めする。成形前基板15を位置決めした後に、吸着機構(図示なし)によって成形前基板15を吸着して上型9の型面に固定する。この状態で、成形前基板15の上型9への位置決めが完了する。
The
この場合には、上型9又は固定プラテン4に設けられた位置決め機構25及び26を使用して、成形前基板15のX方向及びY方向への位置決めをそれぞれ独立して行った。これに限らず、位置決め機構25及び26を連動させる構成にすることができる。このことによって、成形前基板15のX方向及びY方向への位置決めを同時に行うことができる。
In this case, the
(基板の位置決め検証動作)
図3〜4を参照して、上型9に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する動作ついて説明する。まず、図4(a)に示されるように、供給機構13によって成形前基板15を上型9の型面に供給する。次に、位置決め機構25、26を使用して成形前基板15を上型9の型面に位置決めする。この状態で、平面視して発光素子27、第1出射用通過孔29及び第1受光素子31は重なるようにして配置される。同様に、平面視して発光素子28、第1出射用通過孔30及び第1受光素子32は重なるようにして配置される。
(Board positioning verification operation)
With reference to FIGS. 3 to 4, an operation for verifying whether or not the
次に、図4(b)に示されるように、発光素子27及び28から照射光33を発する。発光素子27及び28から発せられた照射光33は、上型9に形成された第1出射用通過孔29及び30を通過して成形前基板15の基板側の面に到達する。
Next, as shown in FIG. 4 (b), the
成形前基板15が上型9に設けられたガイド部材23、24に正常に位置決めされている場合、例えば、図4(b)に示されるように、成形前基板15のY方向に沿う端面がガイド部材23に接触している場合には、ガイド部材23と成形前基板15のY方向に沿う端面との間には隙間が生じない。したがって、発光素子27が発した照射光33は成形前基板15によって遮断される。そのため、照射光33は供給機構13に設けられた第1受光素子31まで到達しない。したがって、第1受光素子31は照射光33を検知しない。
When the
同様に、成形前基板15のX方向に沿う端面がガイド部材24(図3(a)参照)に接触している場合には、ガイド部材24と成形前基板15のX方向に沿う端面との間には隙間が生じない。したがって、発光素子28(図3(a)参照)が発した照射光33は成形前基板15によって遮断される。そのため、照射光33は供給機構13に設けられた第1受光素子32(図3(c)参照)まで到達しない。したがって、第1受光素子32は照射光33を検知しない。
Similarly, when the end face of the
第1受光素子31及び32の双方が照射光33を検知しなかった場合には、樹脂成形装置の制御部に設けられた判断部(図14参照)が、X方向及びY方向に対して成形前基板15が正常に位置決めされていると判断する。第1受光素子31及び32の双方が照射光33を検知しなかった場合には、成形前基板15がガイド部材23、24に正常に位置決めされていると判断し、次の工程である樹脂成形工程へ進める。
When neither of the first
成形前基板15がガイド部材23、24に正常に位置決めされていない場合、例えば、図4(c)に示されるように、成形前基板15のY方向に沿う端面がガイド部材23に接触していない場合には、ガイド部材23と成形前基板15のY方向に沿う端面との間に隙間34が発生する。ガイド部材23と成形前基板15のY方向に沿う端面との間に隙間34が発生すると、発光素子27から発せられた照射光33がこの隙間34を通過する。この隙間34を通過した照射光33は第1受光素子31に到達する。このことによって、第1受光素子31は照射光33を検知する。第1受光素子31が照射光33を検知した場合には、判断部(図14参照)がX方向に対して成形前基板15が正常に位置決めされていないと判断する。したがって、判断部は次の工程へ進めることを停止する。そして、成形前基板15の位置決めをやり直す。
When the
同様に、成形前基板15のX方向に沿う端面がガイド部材24に接触していない場合には、ガイド部材24と成形前基板15のX方向に沿う端面との間に隙間が発生する。発光素子28から発せられた照射光33は、この隙間を通過して第1受光素子32に到達する。このことによって、第1受光素子32は照射光33を検知する。第1受光素子32が照射光33を検知した場合には、判断部がY方向に対して成形前基板15が正常に位置決めされていないと判断する。この場合にも、判断部が成形前基板15は正常に位置決めされていないと判断し、次の工程へ進めることを停止する。そして、成形前基板15の位置決めをやり直す。
Similarly, when the end face of the
成形前基板15が上型9の型面に位置決めされた状態において、第1受光素子31又は32のいずれか一方が照射光33を検知した場合には、判断部がX方向又はY方向のいずれかが正常に位置決めされていないと判断する。この場合には、次の工程へ進めることを停止して、成形前基板15の位置決めをやり直す。第1受光素子31及び32の双方が照射光33を検知しなかった場合には、判断部は成形前基板15が正常に位置決めされていると判断して、次の工程へ進める。したがって、第1受光素子31又は32が照射光33を検知するか否かによって、成形前基板15の位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。
When the
なお、成形前基板15の位置決めに関して、理想的には、成形前基板15によって照射光33が完全に遮断された場合には、第1受光素子31、32は照射光33を検知しない。しかしながら、照射光33の一部が回折光として成形前基板15を回り込み第1受光素子31又は32に到達したり、外部のノイズ光が第1受光素子31又は32に到達する場合がある。したがって、第1受光素子31又は32が回折光又はノイズ光を検知する場合も考慮して、設定したしきい値(例えば、ある大きさの光強度)を超えた照射光を検知した場合には、第1受光素子31、32は照射光33を検知したと判断部が判断する。しきい値以下の照射光を検知した場合には、第1受光素子31、32は照射光33を検知しなかったと判断部が判断する。このようにして、成形前基板15が上型9の型面に正常に位置決めされているか否かを、判断部が判断する。一例としては、受光素子の電流値を測定し、光照射による光電流が生じることを利用して光検知を行う場合には、測定される電流値に対してしきい値を設定すればよい。このことは、他の実施形態においても同様であり、他の受光素子を用いた検知においても同様である。
Regarding the positioning of the
(ガイド部材の異常又は基板の変形を検証する機構及び動作(樹脂成形品の製造方法含む))
図5〜6を参照して、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常が発生しているか否か、及び、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生しているか否かの少なくとも一方を検証する機構及び動作について説明する。成形前基板の変形に関して、ここでは主に一例として反りについて説明するが、これ以外に皺又は折り目が発生するように基板が屈曲する場合についても、同様の機構を用いて同様の動作を行うことができる。成形前基板の変形には、少なくとも一部に樹脂を含む樹脂性基板において発生しやすい変形として、熱的影響により基板の一部が反るような変形も含まれる。なお、ここの説明は、樹脂成形品の製造方法の説明も兼ねる。
(Mechanism and operation for verifying abnormality of guide member or deformation of substrate (including manufacturing method of resin molded product))
With reference to FIGS. 5 to 6, whether or not the
図5に示されるように、ガイド部材23、24の異常又は成形前基板15の変形を検証する機構は、成形前基板15の端面がガイド部材23、24に接触している状態で、成形前基板15が配置された領域に対応して、発光素子27、28、第1出射用通過孔29、30及び第1受光素子31、32が設けられた位置と反対側の位置に、発光素子35、36、第2出射用通過孔37、38及び第2受光素子39、40がそれぞれ設けられる。したがって、成形前基板15がガイド部材23、24に位置決めされた状態において、平面視して第2受光素子39が発光素子35及び第2出射用通過孔37に重なり、第2受光素子40が発光素子36及び第2出射用通過孔38に重なるようにして、第2受光素子39及び40が供給機構13にそれぞれ設けられる。
As shown in FIG. 5, the mechanism for verifying the abnormality of the
図6を参照して、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常が発生しているか否か、又は、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生しているか否かを検証する動作について説明する。
With reference to FIG. 6, it is verified whether or not the
図6(a)は、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常及び成形前基板15の反り、屈曲等の変形がなく、成形前基板15が上型9の型面に正常に位置決めされている状態を示している。図6(a)に示されるように、成形前基板15が上型9の型面に正常に位置決めされている場合には、4個の発光素子27、28、35、36から発せられた照射光33はすべて成形前基板15によって遮断される。したがって、4個の受光素子(第1受光素子31、32及び第2受光素子39、40)はすべて照射光33を検知しない。
In FIG. 6A, the
第1受光素子31及び32が照射光33を検知しないことによって、成形前基板15がガイド部材23及び24に正常に接触していると判断部が判断する。第2受光素子39及び40が照射光33を検知しないことによって、ガイド部材23及び24に磨耗又は欠け等の異常が発生していない、かつ、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生していないと判断部が判断する。このように、4個の受光素子31、32、39、40がすべて照射光33を検知しなかった場合には、判断部は何も異常がなく成形前基板15が上型9の型面に正常に位置決めされていると判断し、次の工程へ進める。
When the first
第1受光素子31又は32が照射光33を検知した場合には、成形前基板15がガイド部材23又は24に正常に接触していないと判断部が判断し、次の工程へ進めることを停止する。そして、成形前基板15の位置決めをやり直す。
When the first
図6(b)は、ガイド部材23、24に磨耗又は欠け等の異常が発生している状態を示している。例えば、Y方向に配置されたガイド部材に磨耗又は欠けが発生している状態を示す。
FIG. 6B shows a state in which the
図6(b)に示されるように、位置決め機構25(図3(b)参照)によって、成形前基板15の端部を磨耗又は欠けが発生しているガイド部材23Xに押し当てる。ガイド部材23Xは磨耗又は欠けが発生して通常より小さくなっているので、成形前基板15は正常な位置よりも+X方向側に押し出される。このことにより、第1出射用通過孔29は成形前基板15によって遮断されるが、第2出射用通過孔37の一部は成形前基板15によって遮断されなくなる。したがって、発光素子27から発せられた照射光33は、成形前基板15によって遮断されるが、発光素子35から発せられた照射光33は、成形前基板15を通過して第2受光素子39に到達する。このことによって第2受光素子39は照射光33を検知する。第2受光素子39が照射光33を検知した場合には、判断部がガイド部材23Xに磨耗又は欠け等の異常が発生している可能性があると判断する。したがって、判断部が次の工程へ進めることを停止する。そして、ガイド部材の異常について調査する。
As shown in FIG. 6B, the positioning mechanism 25 (see FIG. 3B) presses the end portion of the
同様に、第2受光素子40(図5(a)参照)が照射光33を検知した場合には、判断部がガイド部材24に磨耗又は欠け等の異常が発生している可能性があると判断する。したがって、判断部が次の工程へ進めることを停止する。このように、第2受光素子39又は40のいずれかが照射光33を検知した場合には、ガイド部材23又は24に磨耗又は欠け等の異常が発生している可能性があると判断して次の工程へ進めることを停止する。このことにより、ガイド部材23又は24の異常に起因する成形不良の発生を抑制することができる。
Similarly, when the second light receiving element 40 (see FIG. 5A) detects the
図6(c)は、成形前基板15に変形の1種である反りが発生している状態を示している。例えば、成形前基板15が半導体チップ14を装着した側に反っている状態を示す。
FIG. 6C shows a state in which the unmolded
図6(c)に示されるように、位置決め機構25(図3(b)参照)によって、例えば、反りが発生している成形前基板15の端部をガイド部材23に押し当てる。成形前基板15は反りが発生しているので、成形前基板15のY方向に沿う両端部が上型9の型面から浮き上がった状態で、成形前基板15が上型9に配置される。このことにより、第1出射用通過孔29は成形前基板15によって遮断されるが、第2出射用通過孔37の一部は成形前基板15によって遮断されなくなる。したがって、発光素子27から発せられた照射光33は、成形前基板15によって遮断されるが、発光素子35から発せられた照射光33は、成形前基板15を通過して第2受光素子39に到達する。このことによって、第2受光素子39は照射光33を検知する。第2受光素子39が照射光33を検知した場合には、判断部が成形前基板15に反りが発生している可能性があると判断する。したがって、判断部が次の工程へ進めることを停止する。そして、成形前基板15の状態について調査する。
As shown in FIG. 6 (c), the positioning mechanism 25 (see FIG. 3 (b)) presses, for example, the end portion of the
同様に、第2受光素子40(図5(a)参照)が照射光33を検知した場合には、判断部が成形前基板15に反りが発生している可能性があると判断する。したがって、判断部が次の工程へ進めることを停止する。このように、第2受光素子39又は40のいずれかが照射光33を検知した場合には、成形前基板15に反りが発生している可能性があると判断して次の工程へ進めることを停止する。このことにより、成形前基板15に反りが発生していることに起因する成形不良の発生を抑制することができる。
Similarly, when the second light receiving element 40 (see FIG. 5A) detects the
第2受光素子39又は40のいずれかが照射光33を検知した場合には、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常が発生しているか、又は、成形前基板15に反りが発生している可能性がある。これらの異常については原因を確認する必要があるが、いずれの場合でも、判断部が何らかの異常が発生している可能性があると判断して次の工程へ進めることを停止する。このことにより、成形前基板15の位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。
When any of the second
以上のように、供給機構13に設けられた4個の受光素子(第1受光素子31、32及び第2受光素子39、40)のいずれかが照射光33を検知した場合には、成形前基板15の位置決めに関して異常が発生していると判断することができる。第1受光素子31又は32が照射光33を検知した場合には、成形前基板15がガイド部材23又は24に正常に接触していないと判断する。第2受光素子39又は40が照射光33を検知した場合には、ガイド部材23又は24に磨耗、欠け等の異常が発生しているか、あるいは、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生している可能性があると判断する。ここでは、第2受光素子39又は40が照射光33を検知した場合には、ガイド部材23又は24に磨耗、欠け等の異常が発生しているか、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生している可能性があるか、あるいはこれらガイド部材23又は24の異常と成形前基板15に変形との両方が発生している可能性があると判断することになる。これらの場合には、次の工程へ進めることを停止する。
As described above, when any one of the four light receiving elements (first
4個の受光素子31、32、39、40のすべてが照射光33を検知しなかった場合には、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常及び成形前基板15に反り、屈曲等の変形がなく、成形前基板15が上型9の型面に正常に位置決めされていると判断する。この場合には、次の工程へ進める。したがって、成形前基板15が正常に位置決めされていることを検証した状態で樹脂成形することができ、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。
If all of the four
上型9に設けられる4個の出射用通過孔(第1出射用通過孔29、30及び第2出射用通過孔37、38)の径は、4個の受光素子(第1受光素子31、32及び第2受光素子39、40)が受光する光の強度に対応して任意に設定することができる。これらの出射用通過孔の径が小さい場合には、樹脂材料や異物等によって出射用通過孔が塞がれることがある。したがって、4個の出射用通過孔に樹脂詰り等の異常が発生しているか否かを定期的に検証することが好ましい。例えば、成形前基板15を上型9に供給しない状態で、4個の発光素子27、28、35、36から照射光33をそれぞれ発する。4個の受光素子31、32、39、40のそれぞれが照射光33を検知した場合には、4個の出射用通過孔29、30、37、38のいずれにも樹脂詰り等の異常は発生していないと判断することができる。4個の受光素子31、32、39、40のいずれかが照射光33を検知しなかった場合には、照射光33を検知しなかった受光素子に対応する出射用通過孔に異常が発生していると判断することができる。このようにして、上型9に設けられる4個の出射用通過孔29、30、37、38の異常についても検証することができる。
The diameters of the four exit passage holes (first exit passage holes 29, 30 and second exit passage holes 37, 38) provided in the
なお、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常が発生しているか否か、又は、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生しているか否かを検証する機構を他の実施形態においても適用することができる。
Another mechanism for verifying whether or not the
(作用効果)
本実施形態では、樹脂成形装置は、互いに対向して配置される第1型である上型9及び第2型である下型10を有する成形型11と、上型9及び下型10のいずれか一方の型である上型9又は下型10の型面に樹脂成形対象物である成形前基板15を供給する供給機構13と、型面において成形前基板15をガイド部材23、24に位置決めする位置決め機構25、26と、成形型11を型締めする型締機構6と、照射光33を発する発光素子27、28と、供給機構13に設けられ照射光33を受光可能な第1受光素子31、32と、成形前基板15の位置決めに関して判断する判断部とを備え、上型9は、発光素子27、28からの照射光33を通過させる第1出射用通過孔29、30が設けられ、判断部は、第1出射用通過孔29、30を通過した照射光33に対する第1受光素子31、32による検知に基づいて、成形前基板15がガイド部材23、24に正常に位置決めされているか否かを判断する構成としている。
(Action effect)
In the present embodiment, the resin molding apparatus is either a
本実施形態の樹脂成形品の製造方法は、互いに対向して配置される第1型である上型9及び第2型である下型10を有する成形型11のいずれか一方の型である上型9又は下型10の型面に樹脂成形対象物である成形前基板15を供給機構13によって供給する供給工程と、型面において成形前基板15をガイド部材23、24に位置決めする位置決め工程と、上型9に設けられた第1出射用通過孔29、30を通過する照射光33を発光素子27、28から発する照射工程と、供給機構13に設けられた第1受光素子31、32が第1出射用通過孔29、30を通過した照射光33に関して検知する検知工程と、検知工程での検知に基づいて、成形前基板15がガイド部材23、24に正常に位置決めされているか否かを判断する判断工程と、判断工程において、成形前基板15が正常に位置決めされていると判断した場合は成形型11を型締めして樹脂成形する樹脂成形工程とを含む。
The method for producing a resin molded product of the present embodiment is one of a
この構成によれば、成形型11に供給された樹脂成形対象物である成形前基板15がガイド部材23、24に正常に位置決めされていることを検証した状態で樹脂成形することができ、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。したがって、成形前基板15が正常に位置決めされていると判断した場合には、樹脂成形する。成形前基板15が正常に位置決めされていないと判断した場合には、樹脂成形を停止する。
According to this configuration, resin molding can be performed in a state where it is verified that the
より詳細には、本実施形態によれば、樹脂成形対象物である成形前基板15が成形型の上型9に設けられたガイド部材23、24に正常に位置決めされているか否かを検証するために、発光素子27、28と第1受光素子31、32とを設ける。成形前基板15をガイド部材23、24に接触させることによって上型9に位置決めする。成形前基板15がガイド部材23、24に正常に位置決めされている場合には、成形前基板15の端面とガイド部材23、24との間に隙間が発生しない。このことにより、成形前基板15が発光素子27、28から発せられた照射光33を遮断する。したがって、第1受光素子31、32は照射光33を検知しない。第1受光素子31、32の双方が照射光33を検知しない場合には、成形前基板15がガイド部材23、24に正常に位置決めされていると判断部が判断する。成形前基板15が正常に位置決めされていると判断した場合には、樹脂成形する。
More specifically, according to the present embodiment, it is verified whether or not the
成形前基板15がガイド部材23又は24に正常に位置決めされていない場合には、成形前基板15の端面とガイド部材23又は24との間に隙間が発生する。隙間が発生した場合には、発光素子27、28から発せられた照射光33が、この隙間を通過して第1受光素子31又は32に到達する。第1受光素子31又は32のいずれかが照射光33を検知した場合には、成形前基板15がガイド部材23又は24に正常に位置決めされていないと判断部が判断する。成形前基板15が正常に位置決めされていないと判断した場合には、樹脂成形を停止する。したがって、成形前基板15の位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。
When the
さらに、本実施形態によれば、ガイド部材23、24の異常又は成形前基板15の変形を検証するために、発光素子35、36、第2出射用通過孔37、38及び第2受光素子39、40をそれぞれ設ける。第2受光素子39又は40のいずれかが照射光33を検知した場合には、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常が発生しているか、又は、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生している可能性があると判断する。これらの場合には、次の工程へ進めることを停止して、ガイド部材23、24の異常又は成形前基板15の変形を調査する。このことにより、ガイド部材23、24の異常又は成形前基板15の変形に起因する成形不良の発生を抑制することができる。
Further, according to the present embodiment, in order to verify the abnormality of the
さらに、本実施形態によれば、成形前基板15を上型9に供給しない状態において、4個の発光素子27、28、35、36からそれぞれ照射光33を発する。4個の受光素子31、32、39、40のそれぞれが照射光33を検知した場合には、4個の出射用通過孔29、30、37、38のいずれにも樹脂詰まり等の異常は発生していないと判断する。受光素子31、32、39、40のいずれかが照射光33を検知しなかった場合には、照射光33を検知しなかった受光素子に対応する出射用通過孔に異常が発生していると判断する。この場合には、照射光33を検知しなかった受光素子に対応する出射用通過孔の詰り等を調査して清掃する。このことにより、出射用通過孔29、30、37、38の異常に起因する成形不良の発生を抑制することができる。
Further, according to the present embodiment, the
以上のように、本実施形態によれば、樹脂成形対象物である成形前基板15がガイド部材23、24に正常に接触していない場合、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常が発生している場合、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生している場合、第1出射用通過孔29、30、第2出射用透過孔37、38に樹脂詰まり等が発生している場合など、位置決めに起因する異常が発生している場合には、次の工程へ進めることを停止する。これらのことにより、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。したがって、成形前基板15が正常に位置決めされていることを検証した状態で樹脂成形することができる。
As described above, according to the present embodiment, when the
本実施形態においては、成形前基板15を位置決めする手段として、上型9又は固定プラテン4に設けられた位置決め機構25、26を使用した。これに限らず、供給機構13に位置決め機構を設けても良い。供給機構13が成形前基板15を上型9の型面に受け渡した後に、供給機構13に設けられた位置決め機構を使用して成形前基板15をガイド部材23、24にそれぞれ押し当てる。このことによって、成形前基板15を上型9の型面に位置決めすることができる。供給機構13に位置決め機構を設けることにより、樹脂成形装置の構成をより簡略化することができる。
In the present embodiment, the
さらに、供給機構13自体を位置決め機構として使用することができる。供給機構13自体を位置決め機構として使用する場合には、成形前基板15を上型9の型面に受け渡すと共に、供給機構13を使用して成形前基板15をX方向及びY方向に移動させることによって成形前基板15の端面をガイド部材23及び24にそれぞれ押し当てる。このことにより、成形前基板15を上型9の型面に位置決めすることができる。供給機構13自体を位置決め機構として使用することにより、樹脂成形装置の構成をいっそう簡略化することができる。
Further, the
〔実施形態2〕
図7を参照して、実施形態2において、上型9に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する機構について説明する。実施形態1との違いは、発光素子27を固定プラテン4の外部に設けたこと、及び、固定プラテン4に設けた導光部に照射光33を反射する光学部材を設けたことである。これ以外の構成及び動作については、実施形態1と同じなので説明を省略する。なお、以下の実施形態においては、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常がなく、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生していない場合について述べる。
[Embodiment 2]
A mechanism for verifying whether or not the
図7(a)、(b)に示されるように、固定プラテン4には第1出射用通過孔29につながりX方向に沿って伸びる導光部41、及び、第1出射用通過孔30につながりY方向に沿って伸びる導光部42がそれぞれ設けられる。X方向に沿って伸びる導光部41の延長上に発光素子27が配置される。同様に、Y方向に沿って伸びる導光部42の延長上に発光素子28が配置される。
As shown in FIGS. 7A and 7B, the fixed
図7(b)に示されるように、発光素子27から−X方向に向かって発せられた照射光33の進行方向を90度変える反射鏡43が導光部41に設けられる。反射鏡43によって進行方向を−Z方向に変えられた照射光33は、第1出射用通過孔29を通過して成形前基板15に到達する。同様に、発光素子30から−Y方向に向かって発せられた照射光33の進行方向を90度変える反射鏡44が導光部42に設けられる。反射鏡44によって進行方向を−Z方向に変えられた照射光33は、第1出射用通過孔30を通過して成形前基板15に到達する。
As shown in FIG. 7B, the
図7(c)に示されるように、供給機構13に設けられた第1受光素子31及び32の配置は実施形態1と同じである。成形前基板15の位置決めを検証する動作は実施形態1と同様である。したがって、本実施形態においても実施形態1と同様の効果を奏する。
As shown in FIG. 7C, the arrangement of the first
〔実施形態3〕
図8を参照して、実施形態3において、上型に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する機構及び動作について説明する。実施形態1との違いは、発光素子27、28を供給機構に設けたこと、及び、固定プラテンに設けた導光部に光学部材として2枚の反射鏡を設けたことである。この変更に伴い、上型、下型及び固定プラテンの構成が実施形態1〜2と異なる。
[Embodiment 3]
With reference to FIG. 8, in the third embodiment, a mechanism and an operation for verifying whether or not the
(基板の位置決め検証機構)
図8を参照して、上型に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する機構について説明する。図8(b)、(c)に示されるように、成形前基板15のX方向の位置決めを検証するための構成要素である発光素子27及び第1受光素子31が供給機構45に設けられる。同様に、成形前基板15のY方向の位置決めを検証するための構成要素である発光素子28及び第1受光素子32が供給機構45に設けられる。
(Board positioning verification mechanism)
With reference to FIG. 8, a mechanism for verifying whether or not the
図8(a)、(b)、(c)に示されるように、供給機構45に設けられた発光素子27及び28から発せられた照射光33を通過させるための入射用通過孔46及び47が、上型48にそれぞれ設けられる。平面視して発光素子27と入射用通過孔46とは重なるようにして配置される。同様に、平面視して発光素子28と入射用通過孔47とは重なるようにして配置される。なお、「入射用」とは、外部の発光素子27,28から上型48側の導光部50、51(後述)に照射光33を入射するとの意味合いである。
As shown in FIGS. 8A, 8B, and 8C, incident passage holes 46 and 47 for passing the
固定プラテン49には、第1出射用通過孔29及び入射用通過孔46につながる導光部50がX方向に沿って設けられる。同様に、第1出射用通過孔30及び入射用通過孔47につながる導光部51がY方向に沿って設けられる。導光部50には、光学部材として照射光33の進行方向を90度変える反射鏡43a、43bがそれぞれ設けられる。同様に、導光部51には、光学部材として照射光33の進行方向を90度変える反射鏡44a、44bがそれぞれ設けられる。
The fixed
(基板の位置決め検証動作(樹脂成形品の製造方法))
図8を参照して、上型に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する動作について説明する。なお、ここの説明は、樹脂成形品の製造方法の説明も兼ねる。
(Substrate positioning verification operation (manufacturing method of resin molded products))
With reference to FIG. 8, an operation for verifying whether or not the
図8(b)に示されるように、発光素子27から+Z方向に向かって発せられた照射光33は、入射用通過孔46を通過して反射鏡43aに入射する。反射鏡43aに入射した照射光33は、反射鏡43aにより進行方向を90度変更され導光部50内を−X方向に進行して反射鏡43bに入射する。反射鏡43bに入射した照射光33は、反射鏡43bにより進行方向を90度変更され−Z方向に進行して第1出射用通過孔29を通過する。第1出射用通過孔29を通過した照射光33は、成形前基板15に到達する。
As shown in FIG. 8B, the
供給機構45に設けられた第1受光素子31が、発光素子27から発せられ入射用通過孔46、導光部50及び第1出射用通過孔29を順次通過した照射光33を検知するか否かによって、成形前基板15がX方向に正常に位置決めされているか否かを判断する。同様に、第2受光素子32が、発光素子28から発せられ入射用通過孔47、導光部51及び第1出射用通過孔30を順次通過した照射光33を検知するか否かによって、成形前基板15がY方向に正常に位置決めされているか否かを判断する。このようにして、成形前基板15の位置決めを検証することができる。この場合には、発光素子27、28及び第1受光素子31、32をすべて供給機構45に設けるので、それらの信号線を樹脂成形装置の制御部及び判断部に配線することが容易になる。作用効果については実施形態1と同様の効果を奏するので、説明を省略する。
Whether or not the first
〔実施形態4〕
図9を参照して、実施形態4において、上型48に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する機構について説明する。実施形態3との違いは、光学部材として反射鏡ではなく光ファイバーを使用することである。それ以外の構成及び動作は実施形態3と同じなので説明を省略する。
[Embodiment 4]
With reference to FIG. 9, a mechanism for verifying whether or not the
図9(a)、(b)に示されるように、固定プラテン49に設けられた導光部50、51には光ファイバー52、53がそれぞれ設けられる。光ファイバー52、53は耐熱性を有する光ファイバーであることが好ましい。光ファイバー52、53は、中心部のコアとその周囲を囲むクラッドとの2重構造を有する。耐熱性を保持するためにコア及びクラッドを石英ガラスで構成し、その周囲を耐熱性のポリイミドで被覆した光ファイバーを使用することが好ましい。
As shown in FIGS. 9A and 9B,
第1出射用通過孔29、30及び入射用通過孔46、47の径に対応して、光ファイバーが1本である単心光ファイバー、又は、単心光ファイバーを複数本束ねて被覆した光ファイバー束を使用することができる。さらに、光ファイバーの両端に光ファイバー用のレンズを組み込むことができる。レンズとして、コリメータレンズ、集光レンズ、非球面レンズなどが適切に使用される。図9においては、発光素子27、28から発せられた照射光33を受け入れる側に光ファイバー用のレンズ54をそれぞれ設けた場合を示す。光ファイバー52、53は伝送損失が小さく、配線の自由度が高いという特徴を有する。なお、光ファイバーとしては、耐熱性光ファイバーを用いることが好ましく、例えばポリイミド樹脂により被覆した石英製光ファイバーを用いることができる。
A single-core optical fiber having one optical fiber or a bundle of optical fibers coated by bundling a plurality of single-core optical fibers is used according to the diameters of the first exit passage holes 29 and 30 and the incident passage holes 46 and 47. can do. Further, lenses for optical fibers can be incorporated at both ends of the optical fiber. As the lens, a collimator lens, a condenser lens, an aspherical lens and the like are appropriately used. FIG. 9 shows a case where a
成形前基板15の位置決めを検証する動作は実施形態1と同じであるので、説明を繰り返さない。本実施形態においても実施形態1と同様の効果を奏する。
Since the operation for verifying the positioning of the
〔実施形態5〕
図10を参照して、実施形態5において、上型48に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する機構について説明する。実施形態4との違いは、光ファイバーを上型48に設けられた導光部に設けたことである。それ以外の構成及び動作は実施形態4と同じなので説明を省略する。
[Embodiment 5]
With reference to FIG. 10, a mechanism for verifying whether or not the
図10(a)、(b)に示されるように、上型48に設けられた導光部55、56には実施形態4に示した光ファイバー52、53がそれぞれ設けられる。光ファイバー52、53は耐熱性を有する光ファイバーである。
As shown in FIGS. 10A and 10B, the
成形前基板15の位置決めを検証する動作は実施形態1と同じである。本実施形態においても実施形態1と同様の効果を奏する。
The operation of verifying the positioning of the
〔実施形態6〕
図11を参照して、実施形態6において、上型9に供給された成形前基板15がガイド部材23、24に正常に位置決めされているか否か、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常が発生しているか否か、又は、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生しているか否かを同時に検証する機構について説明する。ここまで説明してきた実施形態との違いは、第1出射用通過孔29及び30を設ける位置が異なることである。
[Embodiment 6]
With reference to FIG. 11, in the sixth embodiment, whether or not the
図11(a)に示されるように、成形前基板15がガイド部材23及び24に接触した状態において、例えば、成形前基板15が上型9の型面に配置される領域における対角線上の角部に(図11においては右上と左下とに)、第1出射用通過孔29及び30がそれぞれ設けられる。第1出射用通過孔29及び30がこの位置に設けられた状態において、平面視して発光素子27及び第1受光素子31が第1出射用通過孔29に重なり、発光素子28及び第1受光素子32が第1出射用通過孔30に重なるようにして設けられる。
As shown in FIG. 11A, when the
発光素子27及び28から発せられた照射光33を、第1受光素子31及び32の双方が検知しなかった場合には、成形前基板15の位置決め不良、ガイド部材23、24の異常、及び、成形前基板15の変形が発生していないと判断することができる。第1受光素子31又は32のいずれかが照射光33を検知した場合には、成形前基板15の位置決め不良、ガイド部材23、24の異常、又は、成形前基板15の変形のいずれかが発生して正常な位置決めがされていないと判断することができる。
When both the first
このような構成とすることにより、発光素子及び受光素子の数を増やすことなく、成形前基板15の位置決め不良、ガイド部材23、24の異常、及び、成形前基板15の変形を同時に検証することができる。したがって、樹脂成形装置において、位置決め機構のコストを抑制することができる。
With such a configuration, it is possible to simultaneously verify the positioning failure of the
〔実施形態7〕
図12を参照して、実施形態7において、上型9に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する機構について説明する。実施形態1との違いは、成形前基板15のY方向及びX方向に沿う端部おいて、それぞれ2個の発光素子と2個の受光素子とを設けて成形前基板15の位置決めを検証することである。このことにより、X方向及びY方向だけでなくθ方向も含めて、成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証することができる。それ以外の構成については、実施形態1と同じなので説明を省略する。
[Embodiment 7]
A mechanism for verifying whether or not the
(基板の位置決め検証機構)
図12を参照して、実施形態7において、上型9に供給された成形前基板15の位置決めを検証する機構について説明する。図12(a)に示されるように、実施形態1と同様に、上型9の型面には、成形前基板15をX方向に位置決めするガイド部材23、及び、成形前基板15をY方向に位置決めするガイド部材24がそれぞれ設けられる。
(Board positioning verification mechanism)
A mechanism for verifying the positioning of the
図12(a)、(b)に示されるように、成形前基板15のX方向の位置決めを検証するために、固定プラテン4の内部に2個の発光素子27a、27bが設けられる。同様に、成形前基板15のY方向の位置決めを検証するために、固定プラテン4の内部に2個の発光素子28a、28bが設けられる。
As shown in FIGS. 12A and 12B, two
上型9には、発光素子27a及び27bが発する照射光を通過させるための第1出射用通過孔29a及び29bがそれぞれ設けられる。図12(a)に示されるように、第1出射用通過孔29a、29bは、成形前基板15がガイド部材23に接触した状態において、成形前基板15が上型9の型面に配置される領域にそれぞれ設けられる。第1出射用通過孔30a、30bは、成形前基板15がガイド部材24に接触した状態において、成形前基板15が上型9の型面に配置される領域にそれぞれ設けられる。
The
図12(c)に示されるように、供給機構13には、発光素子27a、27bが発した照射光33を検知する第1受光素子31a、31bがそれぞれ設けられる。第1受光素子31a、31bは、成形前基板15のX方向の位置決めを検証する受光素子である。同様に、供給機構13には、発光素子28a、28bが発した照射光33を検知するための第1受光素子32a、32bがそれぞれ設けられる。第1受光素子32a、32bは、成形前基板15のY方向の位置決めを検証する受光素子である。
As shown in FIG. 12 (c), the
Y方向に沿って2個の第1受光素子31a、31bを設け、X方向に沿って2個の第1受光素子32a、32bを設けるので、X方向及びY方向だけでなくθ方向も含めて、成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証することができる。このことにより、いっそう精度良く成形前基板15の位置決めを検証することができる。
Since the two first
本実施形態においては、Y方向に沿って2個の第1受光素子31a、31b、X方向に沿って2個の第1受光素子32a、32bをそれぞれ設けた。これに限らず、Y方向に沿って2個の第1受光素子及びX方向に沿って1個の第1受光素子を設ける構成にしても良い。あるいは、X方向に沿って2個の第1受光素子及びY方向に沿って1個の第1受光素子を設ける構成にしても良い。これらの場合においても、X方向及びY方向だけでなくθ方向も含めて、成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証することができる。
In the present embodiment, two first
本実施形態における成形前基板15の位置決め検証動作は、基本的に実施形態1と同じであるので説明を繰り返さない。作用効果についても、実施形態1と同様の効果を奏する。また、ガイド部材の異常又は成形前基板15の変形を検証する機構についても実施形態1と同様にして検証することができる。
Since the positioning verification operation of the
〔実施形態8〕
図13を参照して、実施形態8において、上型9に供給された成形前基板15の位置決めを検証する機構について説明する。実施形態7との違いは、X方向及びY方向の位置決めを検証するためにそれぞれ1個の発光素子と2個の第1受光素子とを設けたことである。固定プラテン4内の導光部に設けた光ファイバーを介して発光素子が発した照射光33を2個の第1受光素子が受光する。それ以外の構成及び動作については、実施形態7と同じなので説明を省略する。
[Embodiment 8]
A mechanism for verifying the positioning of the
図13(a)、(b)に示されるように、成形前基板15のX方向の位置決めを検証するために、固定プラテン4の内部にT字型の形状を有する導光部57が設けられる。T字型の導光部57には、光ファイバー58と光ファイバー58内を進行する光を分岐させる分岐部材59と分岐された光ファイバー58a、58bとが設けられる。発光素子27が発した照射光33は、光ファイバー58、分岐部材59を経由して、光ファイバー58a、58b、第1出射用通過孔29a、29bを順次通過して第1受光素子31a、31bによってそれぞれ検知される。
As shown in FIGS. 13A and 13B, a
同様に、成形前基板15のY方向の位置決めを検証するために、固定プラテン4の内部にT字型の形状を有する導光部60が設けられる。T字型の導光部60には、光ファイバー61と光ファイバー61内を進行する光を分岐させる分岐部材62と分岐された光ファイバー61a、61bとが設けられる。発光素子28が発した照射光33は、光ファイバー61、分岐部材62を経由して、光ファイバー61a、61b、第1出射用通過孔30a、30bを順次通過して第1受光素子32a、32bによってそれぞれ検知される。
Similarly, in order to verify the positioning of the
このような構成とすることにより、発光素子の数を削減して、X方向及びY方向だけでなくθ方向も含めて、成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証することができる。したがって、いっそう精度良く成形前基板15の位置決めを検証することができ、かつ位置決め機構のコストを抑制することができる。
With such a configuration, it is possible to reduce the number of light emitting elements and verify whether or not the
ここでは、共通の発光素子28から発せられた照射光33を、2つの第1出射用通過孔30a、30bに分岐させるようにしたが、第1出射用通過孔と第2出射用通過孔とに分岐させることもできる。
Here, the
本実施形態においては、発光素子が発した照射光33を分岐させるために、光ファイバー及び分岐部材を使用する構成とした。これに限らず、発光素子から発せられた照射光を分岐させる光学部材を採用するのであれば特に限定しない。
In the present embodiment, an optical fiber and a branching member are used to branch the
〔実施形態9〕
(樹脂成形装置の構成)
本発明に係る樹脂成形装置の構成について、図14を参照して説明する。図14に示される樹脂成形装置は、例えば、圧縮成形法を使用した樹脂成形装置である。実施形態1に示したように、樹脂成形対象物として成形前基板15を使用し、樹脂材料として液状樹脂を使用する例を示す。
[Embodiment 9]
(Structure of resin molding equipment)
The configuration of the resin molding apparatus according to the present invention will be described with reference to FIG. The resin molding apparatus shown in FIG. 14 is, for example, a resin molding apparatus using a compression molding method. As shown in the first embodiment, an example is shown in which the
樹脂成形装置63は、基板供給・収納モジュール64と、3つの成形モジュール65A、65B、65Cと、樹脂供給モジュール66とを、それぞれ構成要素として備える。構成要素である基板供給・収納モジュール64と、成形モジュール65A、65B、65Cと、樹脂供給モジュール66とは、それぞれ他の構成要素に対して、互いに着脱されることができ、かつ、交換されることができる。
The
基板供給・収納モジュール64には、成形前基板15を供給する成形前基板供給部67と、成形済基板である樹脂成形品22を収納する成形済基板収納部68と、成形前基板15及び樹脂成形品22を受け渡しする基板載置部69と、成形前基板15を成形型11に供給する供給機構13とが設けられる。この場合には、例えば、実施形態1に示された供給機構13(図3(b)、(c)参照)が設けられる。供給機構13には、成形前基板15の位置決めを検証するための第1受光素子31、32が設けられる。本実施形態では、実施形態1で説明した位置決め検証機構を示すが、他の実施形態で説明した位置決め検証機構を採用しても良い。
The substrate supply /
各成形モジュール65A、65B、65Cには、図1に示した樹脂成形ユニット1がそれぞれ設けられる。樹脂成形ユニット1には、昇降可能な下型10と、下型10に対向して配置された上型9(図3(a)、(b)参照)とが設けられる。上型9と下型10とは併せて成形型11(図2参照)を構成する。各成形モジュール65A、65B、65Cは、上型9と下型10とを型締め及び型開きする型締機構6を有する(図の二点鎖線で示される部分)。液状樹脂20(図2(b)参照)が供給され硬化する空間であるキャビティ16が下型10に設けられる。下型10には、長尺状の離型フィルム(図2(a)参照)を供給する離型フィルム供給機構70が設けられる。なお、ここでは、下型10にキャビティ16が設けられた構成について説明するが、キャビティは上型に設けられても良いし、上型と下型との両方に設けられても良い。
The
樹脂供給モジュール66には、成形型11に液状樹脂20を供給するディスペンサ18とディスペンサ18を移動させる移動機構19とが設けられる。ディスペンサ18は先端部に液状樹脂を吐出する樹脂吐出部を備える。
The
樹脂供給モジュール66には、判断部71を有する制御部72が設けられる。判断部71は、供給機構13に設けられた第1受光素子31、32が照射光33を検知するか否かによって、成形前基板15が成形型11に正常に位置決めされているか否かを判断する。さらに、判断部71は、ガイド部材に異常が発生しているか否か、又は、成形前基板15に変形が発生しているか否かも判断する。制御部72は、成形前基板15及び樹脂成形品22の搬送、成形前基板15の位置決め、液状樹脂20の供給、成形型11の加熱、成形型11の開閉などを制御する。言い換えれば、制御部72は、基板供給・収納モジュール64、成形モジュール65A、65B、65C、樹脂供給モジュール66における各動作の制御を行う。
The
制御部72が配置される位置はどこでも良く、基板供給・収納モジュール64、成形モジュール65A、65B、65C、樹脂供給モジュール66のうちの少なくとも一つに配置することもできるし、各モジュールの外部に配置することもできる。また、制御部72は、制御対象となる動作に応じて、少なくとも一部を分離させた複数の制御部として構成することもできる。判断部71も制御部の構成に対応して設けることができる。
The
樹脂成形装置63の動作については、図2で示した樹脂成形品の製造方法において概略を説明しているので、ここでは繰り返さない。
Since the operation of the
本実施形態においては、基板供給・収納モジュール64と樹脂供給モジュール66との間に、3個の成形モジュール65A、65B、65CをX方向に並べて装着した。基板供給・収納モジュール64と樹脂供給モジュール66とを1つのモジュールにして、そのモジュールに1個の成形モジュール65AをX方向に並べて装着してもよい。さらに、その成形モジュール65Aに他の成形モジュール65Bを装着してもよい。これらのことによって、生産形態又は生産量に対応して、成形モジュール65A、65B、・・・を増減することができる。したがって、樹脂成形装置63の構成を最適にすることができるので、生産性の向上を図ることができる。
In this embodiment, three
各実施形態においては、成形型の上型に成形前基板15を供給し、供給機構に設けられた受光素子が照射光33を検知することによって上型に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証した。これに限らず、成形型の下型に成形前基板15を供給し、下型の型面に位置決めする場合においても、本発明を適用することができる。この場合においても各実施形態で示した同様の効果を奏する。
In each embodiment, the
各実施形態においては、圧縮成形法を使用した樹脂成形装置の成形型において、上型に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する場合を示した。これに限らず、トランスファ成形法を使用した樹脂成形装置の成形型においても、本発明を適用することができる。
In each embodiment, a case is shown in which it is verified whether or not the
各実施形態においては、樹脂成形対象物として半導体チップ14が装着された成形前基板15を使用した例を示した。成形前基板としては、ガラスエポキシ基板、セラミック基板、樹脂基板、金属基板等の一般的な基板及びリードフレームなどを使用することができる。さらには、樹脂成形対象物として、特許文献1に記載されたようなプレート治具に
装着された構成とすることもできる。
In each embodiment, an example in which the
各実施形態においては、半導体チップを樹脂成形する際に使用される樹脂成形装置及び樹脂成形品の製造方法を説明した。樹脂成形する対象はIC、トランジスタなどの半導体チップでもよく、半導体を用いない非半導体チップでもよく、半導体チップと非半導体チップとが混在するチップ群でもよい。ガラスエポキシ基板、セラミック基板、リードフレームなどの基板に装着された1個又は複数個のチップを硬化樹脂によって樹脂成形する際に本発明を適用することができる。 In each embodiment, a resin molding apparatus used for resin molding a semiconductor chip and a method for manufacturing a resin molded product have been described. The object to be resin-molded may be a semiconductor chip such as an IC or a transistor, a non-semiconductor chip that does not use a semiconductor, or a group of chips in which a semiconductor chip and a non-semiconductor chip coexist. The present invention can be applied when one or more chips mounted on a substrate such as a glass epoxy substrate, a ceramic substrate, or a lead frame are resin-molded with a cured resin.
以上のように、上記実施形態の樹脂成形装置では、互いに対向して配置される第1型及び第2型を有する成形型と、第1型及び第2型のいずれか一方の型の型面に樹脂成形対象物を供給する供給機構と、型面において樹脂成形対象物をガイド部材に位置決めする位置決め機構と、成形型を型締めする型締機構と、照射光を発する発光素子と、供給機構に設けられ照射光を受光可能な第1受光素子と、樹脂成形対象物の位置決めに関して判断する判断部とを備え、一方の型は、発光素子からの照射光を通過させる第1出射用通過孔が設けられ、判断部は、第1出射用通過孔を通過した照射光に対する第1受光素子による検知に基づいて、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する構成としている。 As described above, in the resin molding apparatus of the above embodiment, the molding dies having the first mold and the second mold arranged to face each other and the mold surface of either the first mold or the second mold. A supply mechanism that supplies the resin molded object to the mold, a positioning mechanism that positions the resin molded object on the mold surface to the guide member, a mold clamping mechanism that molds the molding mold, a light emitting element that emits irradiation light, and a supply mechanism. It is provided with a first light receiving element capable of receiving irradiation light and a determination unit for determining the positioning of a resin molded object, and one of the molds has a first exit hole for passing irradiation light from the light emitting element. Is provided, and the determination unit determines whether or not the resin molded object is normally positioned on the guide member based on the detection by the first light receiving element for the irradiation light passing through the first exit hole. It is supposed to be.
この構成によれば、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされていることを検証した状態で樹脂成形することができる。したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to this configuration, resin molding can be performed in a state where it is verified that the resin molding target is normally positioned on the guide member. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
さらに、上記実施形態の樹脂成形装置では、判断部は、第1受光素子が照射光を検知しない場合は樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされていると判断し、第1受光素子が照射光を検知した場合は樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされていないと判断する構成としている。 Further, in the resin molding apparatus of the above embodiment, when the first light receiving element does not detect the irradiation light, the determination unit determines that the resin molding object is normally positioned on the guide member, and the first light receiving element is When the irradiation light is detected, it is determined that the resin molded object is not properly positioned on the guide member.
この構成によれば、第1受光素子が照射光を検知するか否かによって、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する。したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to this configuration, it is determined whether or not the resin molded object is normally positioned on the guide member depending on whether or not the first light receiving element detects the irradiation light. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
さらに、上記実施形態の樹脂成形装置では、樹脂成形対象物がガイド部材に接触した状態において、ガイド部材側の樹脂成形対象物が配置される領域に第1出射用通過孔が設けられる構成としている。 Further, in the resin molding apparatus of the above embodiment, when the resin molding object is in contact with the guide member, the first exit hole is provided in the region where the resin molding object is arranged on the guide member side. ..
この構成によれば、第1出射用通過孔を通過した照射光を第1受光素子が検知するか否かによって、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する。したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to this configuration, it is determined whether or not the resin molded object is normally positioned on the guide member depending on whether or not the first light receiving element detects the irradiation light that has passed through the first exit hole. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
さらに、上記実施形態の樹脂成形装置では、一方の型又は一方の型が取り付けられたプラテンに発光素子から発せられた照射光を第1出射用通過孔に導くための導光部が設けられ、導光部において照射光を通過させる光学部材が設けられる構成としている。 Further, in the resin molding apparatus of the above embodiment, one mold or a platen to which the one mold is attached is provided with a light guide portion for guiding the irradiation light emitted from the light emitting element to the first exit through hole. The light guide portion is provided with an optical member that allows the irradiation light to pass through.
この構成によれば、導光部に光学部材を設けることによって、発光素子から発せられた照射光を第1通過孔に導くことができる。 According to this configuration, by providing the light guide portion with an optical member, the irradiation light emitted from the light emitting element can be guided to the first passage hole.
さらに、上記実施形態の樹脂成形装置では、光学部材は光ファイバー、反射鏡、プリズムのいずれかを含む構成としている。 Further, in the resin molding apparatus of the above embodiment, the optical member is configured to include any one of an optical fiber, a reflector, and a prism.
この構成によれば、光ファイバー、反射鏡、プリズムのいずれかを使用することによって、照射光を第1出射用通過孔に導くことができる。 According to this configuration, the irradiation light can be guided to the first exit hole by using any of the optical fiber, the reflector, and the prism.
さらに、上記実施形態の樹脂成形装置では、発光素子は供給機構に設けられ、一方の型は、発光素子から発せられた照射光を通過させて導光部に導く入射用通過孔が設けられる構成としている。 Further, in the resin molding apparatus of the above embodiment, the light emitting element is provided in the supply mechanism, and one mold is provided with an incident passage hole for passing the irradiation light emitted from the light emitting element and guiding it to the light guide portion. It is said.
この構成によれば、供給機構に設けられた発光素子から発せられた照射光を、入射用通過孔及び光学部材を経由して第1出射用通過孔に導くことができる。 According to this configuration, the irradiation light emitted from the light emitting element provided in the supply mechanism can be guided to the first exit passage hole via the incident passage hole and the optical member.
さらに、上記実施形態の樹脂成形装置では、樹脂成形対象物がガイド部材に接触した状態において、ガイド部材の反対側の樹脂成形対象物が配置される領域に発光素子又は別の発光素子から発せられた照射光を通過させる第2出射用通過孔が設けられ、供給機構に照射光を受光可能な第2受光素子が設けられる構成としている。 Further, in the resin molding apparatus of the above embodiment, when the resin molding object is in contact with the guide member, it is emitted from a light emitting element or another light emitting element in a region where the resin molding object is arranged on the opposite side of the guide member. A second exit hole for passing the irradiation light is provided, and a second light receiving element capable of receiving the irradiation light is provided in the supply mechanism.
この構成によれば、第2受光素子がガイド部材の反対側に設けられた第2出射用通過孔を通過した照射光を検知するか否かによって、ガイド部材の異常及び樹脂成形対象物に変形が発生しているか否かの少なくとも一方を判断することができる。したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to this configuration, depending on whether or not the second light receiving element detects the irradiation light that has passed through the second exit hole provided on the opposite side of the guide member, the guide member is abnormal and the object is deformed into a resin molded object. It is possible to determine at least one of whether or not is occurring. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
上記実施形態の樹脂成形品の製造方法は、互いに対向して配置される第1型及び第2型を有する成形型のいずれか一方の型の型面に樹脂成形対象物を供給機構によって供給する供給工程と、型面において樹脂成形対象物をガイド部材に位置決めする位置決め工程と、一方の型に設けられた第1出射用通過孔を通過する照射光を発光素子から発する照射工程と、供給機構に設けられた第1受光素子が第1出射用通過孔を通過した照射光に関して検知する検知工程と、検知工程での検知に基づいて、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する判断工程と、判断工程において、樹脂成形対象物が正常に位置決めされていると判断した場合は成形型を型締めして樹脂成形する樹脂成形工程とを含む。 In the method for producing a resin molded product of the above embodiment, a resin molded object is supplied to the mold surface of one of the molds having the first mold and the second mold arranged so as to face each other by a supply mechanism. A supply step, a positioning step of positioning a resin molding object on a mold surface to a guide member, an irradiation step of emitting irradiation light passing through a first exit hole provided in one mold from a light emitting element, and a supply mechanism. Whether the resin molded object is normally positioned on the guide member based on the detection step in which the first light receiving element provided in the above detects the irradiation light passing through the first exit hole and the detection in the detection step. It includes a determination step of determining whether or not, and a resin molding step of molding and resin molding the molding die when it is determined that the resin molding object is normally positioned in the determination step.
この方法によれば、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされていることを検証した状態で樹脂成形することができる。したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to this method, resin molding can be performed in a state where it is verified that the resin molding target is normally positioned on the guide member. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
さらに、上記実施形態の樹脂成形品の製造方法では、判断工程は、検知工程において第1受光素子が照射光を検知しない場合は樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされていると判断し、検知工程において第1受光素子が照射光を検知した場合は樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされていないと判断する。 Further, in the method for manufacturing a resin molded product of the above embodiment, in the determination step, if the first light receiving element does not detect the irradiation light in the detection step, it is determined that the resin molded object is normally positioned on the guide member. When the first light receiving element detects the irradiation light in the detection step, it is determined that the resin molded object is not normally positioned on the guide member.
この方法によれば、第1受光素子が照射光を検知するか否かによって、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する。したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to this method, it is determined whether or not the resin molded object is normally positioned on the guide member depending on whether or not the first light receiving element detects the irradiation light. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
さらに、上記実施形態の樹脂成形品の製造方法では、検知工程は、樹脂成形対象物がガイド部材に接触した状態において、ガイド部材側の樹脂成形対象物が配置される領域に設けられた第1出射用通過孔を通過した照射光に関して検知する。 Further, in the method for manufacturing a resin molded product of the above embodiment, the detection step is provided in a region where the resin molded object on the guide member side is arranged in a state where the resin molded object is in contact with the guide member. Detects the irradiation light that has passed through the exit hole.
この方法によれば、第1出射用通過孔を通過した照射光を第1受光素子が検知するか否かによって、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する。したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to this method, it is determined whether or not the resin molded object is normally positioned on the guide member depending on whether or not the first light receiving element detects the irradiation light that has passed through the first exit hole. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
さらに、上記実施形態の樹脂成形品の製造方法では、照射工程は、一方の型又は一方の型が取り付けられたプラテンに設けられた導光部に向かって照射光を発し、検知工程は、導光部を経由して第1出射用通過孔を通過した照射光に関して検知する。 Further, in the method for producing a resin molded product of the above embodiment, the irradiation step emits irradiation light toward a light guide portion provided on one mold or a platen to which the one mold is attached, and the detection step guides the light. The irradiation light that has passed through the first exit hole via the light unit is detected.
この方法によれば、導光部を経由して第1出射用通過孔を通過した照射光を第1受光素子が検知するか否かによって、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する。したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to this method, the resin molded object is normally positioned on the guide member depending on whether or not the first light receiving element detects the irradiation light that has passed through the first exit hole via the light guide portion. Judge whether or not. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
さらに、上記実施形態の樹脂成形品の製造方法では、発光素子は供給機構に設けられ、照射光は、発光素子から一方の型に設けられた入射用通過孔、導光部、第1出射用通過孔を順次経由して第1受光素子によって検知される。 Further, in the method for manufacturing a resin molded product of the above embodiment, the light emitting element is provided in the supply mechanism, and the irradiation light is provided from the light emitting element to the incident passage hole, the light guide portion, and the first exit provided in one mold. It is detected by the first light receiving element via the passing holes in sequence.
この方法によれば、供給機構に設けられた発光素子が発し、入射用通過孔、導光部、第1出射用通過孔を順次通過した照射光を第1受光素子が検知するか否かによって、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する。したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to this method, it depends on whether or not the first light receiving element detects the irradiation light emitted by the light emitting element provided in the supply mechanism and sequentially passing through the incident passage hole, the light guide unit, and the first exit passage hole. , It is determined whether or not the resin molding object is normally positioned on the guide member. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
さらに、上記実施形態の樹脂成形品の製造方法では、検知工程は、樹脂成形対象物がガイド部材に接触した状態において、さらに、ガイド部材の反対側の樹脂成形対象物が配置される領域に設けられた第2出射用通過孔を通過した発光素子又は別の発光素子から発せられた照射光に関して第2受光素子が検知する工程を含み、判断工程は、検知工程における第2受光素子による検知に基づいて、ガイド部材の異常及び樹脂成形対象物の変形の少なくとも一方に関して判断する。 Further, in the method for manufacturing a resin molded product of the above embodiment, the detection step is provided in a region where the resin molded object is arranged on the opposite side of the guide member in a state where the resin molded object is in contact with the guide member. The determination step includes the step of detecting the irradiation light emitted from the light emitting element or another light emitting element that has passed through the second light emitting passing hole, and the determination step is the detection by the second light receiving element in the detection step. Based on this, it is determined regarding at least one of the abnormality of the guide member and the deformation of the resin molded object.
この方法によれば、第2受光素子がガイド部材の反対側に設けられた第2出射用通過孔を通過した照射光を検知するか否かによって、ガイド部材の異常及び樹脂成形対象物に変形が発生しているか否かの少なくとも一方を判断することができる。
したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。
According to this method, depending on whether or not the second light receiving element detects the irradiation light that has passed through the second exit hole provided on the opposite side of the guide member, the guide member is abnormally deformed and the object is deformed into a resin molded object. It is possible to determine at least one of whether or not is occurring.
Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
本発明は、上述した各実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で、必要に応じて、任意にかつ適宜に組み合わせ、変更し、又は選択して採用できるものである。 The present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be arbitrarily and appropriately combined, modified, or selected and adopted as necessary without departing from the spirit of the present invention. Is.
1 樹脂成形ユニット
2 基盤
3 タイバー
4、49 固定プラテン(プラテン)
5 可動プラテン(プラテン)
6 型締機構
7 起動源
8 伝達部材
9、48 上型(第1型、第2型、一方の型)
10 下型(第2型、第1型、一方の型)
11 成形型
12 樹脂成形対象物
13 供給機構
14 半導体チップ
15 成形前基板(樹脂成形対象物)
16 キャビティ
17 離型フィルム
18 ディスペンサ
19 駆動機構
20 液状樹脂
21 硬化樹脂
22 樹脂成形品
23、23X、24 ガイド部材
25、26 位置決め機構
27、27a、27b、28、28a、28b、35、36 発光素子
29、29a、29b、30、30a、30b 第1出射用通過孔
31、31a、31b、32、32a、32b 第1受光素子
33 照射光
34 隙間
37、38 第2出射用通過孔
39、40 第2受光素子
41、42、50、51、55、56、57、60 導光部
43、43a、43b、44、44a、44b 反射鏡(光学部材)
45 供給機構
46、47 入射用通過孔
52、53、58、58a、58b、61、61a、61b 光ファイバー(光学部材)
54 光ファイバー用のレンズ(光学部材)
59、62 分岐部材(光学部材)
63 樹脂成形装置
64 基板供給・収納モジュール
65A、65B、65C 成形モジュール
66 樹脂供給モジュール
67 成形前基板供給部
68 樹脂成形品収納部
69 基板載置部
70 離型フィルム供給機構
71 判断部
72 制御部
1
5 Movable platen (platen)
6
10 Lower mold (2nd type, 1st type, 1 type)
11
16
45
54 Lens for optical fiber (optical member)
59, 62 Branch member (optical member)
63
Claims (7)
前記第1型及び前記第2型のいずれか一方の型の型面に樹脂成形対象物を供給する供給機構と、
前記型面において前記樹脂成形対象物をガイド部材に位置決めする位置決め機構と、
前記成形型を型締めする型締機構と、
前記供給機構に設けられ照射光を発する発光素子と、
前記供給機構に設けられ前記照射光を受光可能な第1受光素子と、
前記樹脂成形対象物の位置決めに関して判断する判断部とを備え、
前記一方の型又は前記一方の型が取り付けられたプラテンには、前記照射光を通過させる導光部が設けられ、
前記一方の型は、前記発光素子から発せられた前記照射光を通過させて前記導光部に導く入射用通過孔及び前記導光部を通過した前記照射光を通過させる第1出射用通過孔が設けられ、
前記判断部は、前記第1出射用通過孔を通過した前記照射光に対する前記第1受光素子による検知に基づいて、前記樹脂成形対象物が前記ガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断することで前記ガイド部材の異常に起因する成形不良の発生を抑制する樹脂成形装置。 Molds having a first mold and a second mold arranged opposite to each other,
A supply mechanism for supplying a resin molding object to the mold surface of either the first mold or the second mold, and
A positioning mechanism for positioning the resin molding object on the mold surface as a guide member,
A mold clamping mechanism for molding the molding mold and
A light emitting element provided in the supply mechanism and emitting irradiation light,
A first light receiving element provided in the supply mechanism and capable of receiving the irradiation light,
It is provided with a determination unit for determining the positioning of the resin molded object.
The one mold or the platen to which the one mold is attached is provided with a light guide portion for passing the irradiation light.
The one type has an incident passage hole that allows the irradiation light emitted from the light emitting element to pass through and leads to the light guide portion, and a first exit passage hole that allows the irradiation light that has passed through the light guide portion to pass through. Is provided,
The determination unit determines whether or not the resin molded object is normally positioned on the guide member based on the detection by the first light receiving element for the irradiation light that has passed through the first exit hole. A resin molding apparatus that suppresses the occurrence of molding defects due to abnormalities in the guide member.
前記導光部において前記照射光を通過させる光学部材が設けられる請求項1から3のいずれか1項に記載の樹脂成形装置。 The light guide unit is for guiding the irradiation light emitted from the light emitting element to the first exit hole.
The resin molding apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein an optical member for passing the irradiation light is provided in the light guide portion.
前記供給機構に前記第2出射用通過孔を通過した前記照射光を受光可能な第2受光素子が設けられる請求項1から4のいずれか1項に記載の樹脂成形装置。 In a state where the resin molding object is in contact with the guide member, the irradiation light emitted from the light emitting element or another light emitting element is passed through the region where the resin molding target is arranged on the opposite side of the guide member. A second exit hole is provided in one of the molds.
The resin molding apparatus according to any one of claims 1 to 4 , wherein the supply mechanism is provided with a second light receiving element capable of receiving the irradiation light that has passed through the second exit hole.
前記型面において前記樹脂成形対象物をガイド部材に位置決めする位置決め工程と、
前記一方の型に設けられた第1出射用通過孔を通過する照射光を前記供給機構に設けられた発光素子から発する照射工程と、
前記供給機構に設けられた第1受光素子が前記第1出射用通過孔を通過した前記照射光に関して検知する検知工程と、
前記検知工程での検知に基づいて、前記ガイド部材の異常に起因する成形不良の発生を抑制するために、前記樹脂成形対象物が前記ガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する判断工程と、
前記判断工程において、前記樹脂成形対象物が正常に位置決めされていると判断した場合は前記成形型を型締めして樹脂成形する樹脂成形工程とを含み、
前記照射工程では、前記一方の型又は前記一方の型が取り付けられたプラテンに設けられた導光部に向かって前記照射光を発し、
前記照射光は、前記発光素子から前記一方の型に設けられた入射用通過孔、前記導光部、前記第1出射用通過孔を順次経由して前記第1受光素子によって検知される樹脂成形品の製造方法。 A supply process in which a resin molding object is supplied by a supply mechanism to the mold surface of either a mold having a first mold or a mold having a second mold arranged opposite to each other, and a supply step.
A positioning step of positioning the resin molding object on the guide member on the mold surface, and
An irradiation step of emitting irradiation light passing through the first exit hole provided in one of the molds from a light emitting element provided in the supply mechanism, and an irradiation step.
A detection step in which the first light receiving element provided in the supply mechanism detects the irradiation light that has passed through the first exit hole.
Based on the detection in the detection step, it is determined whether or not the resin molding object is normally positioned on the guide member in order to suppress the occurrence of molding defects due to the abnormality of the guide member. Process and
In the determination step, when it is determined that the resin molding object is normally positioned, the resin molding step of molding and resin molding the molding die is included.
In the irradiation step, the irradiation light is emitted toward the light guide portion provided on the one mold or the platen to which the one mold is attached.
The irradiation light is resin molded from the light emitting element through the incident passage hole, the light guide portion, and the first exit passage hole provided in the one mold in order, and is detected by the first light receiving element. How to manufacture the product.
前記判断工程では、前記検知工程における前記第2受光素子による検知に基づいて、前記ガイド部材の異常及び前記樹脂成形対象物の変形の少なくとも一方に関して判断する請求項6のいずれか1項に記載の樹脂成形品の製造方法。 In the detection step, in a state where the resin molding object is in contact with the guide member, a second exit hole provided in a region on the opposite side of the guide member where the resin molding object is arranged is formed. Including a step in which the second light receiving element detects the irradiation light emitted from the light emitting element or another light emitting element that has passed through.
The method according to any one of claims 6, wherein in the determination step, the determination is made regarding at least one of the abnormality of the guide member and the deformation of the resin molded object based on the detection by the second light receiving element in the detection step. A method for manufacturing a resin molded product.
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JP2005154201A (en) * | 2003-11-26 | 2005-06-16 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | Mold assembly, press apparatus, handling apparatus and method, and positioning method |
JP4290177B2 (en) * | 2005-06-08 | 2009-07-01 | キヤノン株式会社 | Mold, alignment method, pattern forming apparatus, pattern transfer apparatus, and chip manufacturing method |
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