JP6865010B2 - 顕微鏡システムおよび標本観察方法 - Google Patents
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Description
このような撮像システムでは、貼り合わせ中に相対位置関係、すなわち、ステージ位置を見失うと、既に生成されている貼り合わせ画像と、新たに取得された画像との相対位置関係を算出することでステージ位置を探索し、探索に成功すると再び貼り合わせ処理を再開するようになっている。
本発明は、標本を搭載し観察光軸に直交する方向に移動可能なステージと、該ステージ上の前記標本を撮影する撮像部と、該撮像部により取得されたライブ画像の複数画像間の移動量から前記ステージの位置を検出する位置検出部と、前記撮像部により取得された前記ライブ画像を前記位置検出部により検出された前記ステージの位置に基づいて貼り合わせて貼り合わせ画像を生成する画像生成部と、該画像生成部により生成された前記貼り合わせ画像を記憶する記憶部と、前記画像生成部により生成された前記貼り合わせ画像上における前記撮像部より取得された前記ライブ画像の位置を探索する位置探索部と、前記位置検出部による検出が失敗したときに、前記画像生成部における貼り合わせ処理を停止するとともに、前記記憶部に記憶されている前記貼り合わせ画像全体から、前記撮像部により前記貼り合わせ処理の停止後に新たに取得される前記ライブ画像の位置を前記位置探索部により探索させ、前記位置探索部による探索に成功したときには、前記位置探索部の探索位置を起点として前記画像生成部による前記貼り合わせ処理を再開するように制御する制御部とを備える顕微鏡システムを提供する。
これにより、画像の位置検出に失敗したまま、間違った位置に画像が貼り合わせられることがなく、探索に成功した場合にのみ貼り合わせ処理を再開させることで、適正な貼り合わせ画像を生成することができる。
このようにすることで、電動ステージやエンコーダ付きステージを用いることなく、撮像部により取得された画像に基づいて、ステージの現在位置を算出することができる。
このようにすることで、位置検出部により算出された検出結果の信頼性に基づいて、制御部が位置検出が失敗したか否かを簡易に判定することができる。
このようにすることで、位置探索部により算出された探索結果の信頼性に基づいて、制御部が位置探索が成功したか否かを簡易に判定することができる。
このようにすることで、類似する領域が多数存在する場合に、探索位置を誤検出する可能性が高くなるため、位置探索部により算出された信頼性が高い場合であっても、位置探索部により算出された誤検出の可能性が高い場合には、位置探索が失敗したと判定して、間違った位置から貼り合わせ処理が開始されるのを防止することができる。
このようにすることで、類似する領域を示す画素数が全画素数に比較して多い場合に、誤検出の可能性が高いとして、簡易に位置探索が失敗したと判定することができる。
このようにすることで、ヒストグラムの分布により、類似する領域を示す画素数が全画素数に比較して多いか否かを簡易に判定でき、誤検出の可能性が高い状態で貼り合わせ処理が再開されてしまうのをより確実に防止することができる。
本実施形態に係る顕微鏡システム1は、図1に示されるように、顕微鏡2と、該顕微鏡2により取得された画像を処理する画像処理部3と、該画像処理部3により生成された合成画像および顕微鏡2により取得されたライブ画像を表示する表示部(例えば、液晶ディスプレイ)4とを備えている。
撮像部6は、対物レンズ7により集光された標本Xからの光を撮影するカメラ8を備えている。
記憶部11はメモリ、HDDまたはSDD等の任意の記憶装置であって、画像生成部10により生成された新たな貼り合わせ画像Mが送られてくると、記憶している貼り合わせ画像Mを更新するようになっている。
本実施形態を用いて貼り合わせ画像Mを生成するには、図2に示されるように、貼り合わせ処理を開始させた後に、カメラ8から最初に送られて来た標本Xの観察像が画像生成部10に送られ、最初の貼り合わせ画像Mが生成される(ステップS1)。生成された貼り合わせ画像Mは記憶部11に送られて記憶されるとともに、画像生成部10において生成された貼り合わせ画像Mに、ステージ5の現在位置を表す枠が合成された合成画像が生成され、表示部4に出力されて、図3に示されるように表示される(ステップS2)。
位置探索部12による探索結果の信頼性が所定の閾値を越えると、位置探索が成功したと判定されて(ステップS6)、処理が終了したか否かが判定される(ステップS7)。
このようにすることで、電動ステージやエンコーダ付きステージを用いることなく、広画角の貼り合わせ画像Mと現在観察している視野範囲とを同時に把握することができるという利点がある。
1)Suを誤検出の可能性の指標とする、あるいは、
2)割合
Su/Stを誤検出の可能性の指標とする
のいずれかで誤検出の可能性を算出することができる。
例えば、下式で相関値を正規化・整数化を行った後にヒストグラムを作成する。
ev′=Max(0,Min(255,Round(255.0×ev/evmax)))
ここで、
evは、ZNCC相関値、
evmaxは、ZNCC相関値マップ内での相関値の最大値、
ev′は、符号なし8bit整数に正規化・整数化された相関値である。
これにより、ビン数256のヒストグラムを作成することができる(ここでは、例としてビン数を256としたが、任意のビン数で計算することができる。)。
1)ヒストグラムの上位Nビン分のカウント数Suを誤検出可能性の指標とする、あるいは、
2)ヒストグラムの上位Nビン分のカウント数Suと総ピクセル数Stとの比Rを誤検出可能性の指標とする
などの方法で誤検出の可能性を算出することができる。
なお、本実施形態では、類似度の計算としてZNCC利用する例を例示したが、SADやPOCなどを用いてもよい。
5 ステージ
6 撮像部
9 位置検出部
10 画像生成部
12 位置探索部
13 制御部
M 貼り合わせ画像
X 標本
Claims (8)
- 標本を搭載し観察光軸に直交する方向に移動可能なステージと、
該ステージ上の前記標本を撮影する撮像部と、
該撮像部により取得されたライブ画像の複数画像間の移動量から前記ステージの位置を検出する位置検出部と、
前記撮像部により取得された前記ライブ画像を前記位置検出部により検出された前記ステージの位置に基づいて貼り合わせて貼り合わせ画像を生成する画像生成部と、
該画像生成部により生成された前記貼り合わせ画像を記憶する記憶部と、
前記画像生成部により生成された前記貼り合わせ画像上における前記撮像部より取得された前記ライブ画像の位置を探索する位置探索部と、
前記位置検出部による検出が失敗したときに、前記画像生成部における貼り合わせ処理を停止するとともに、前記記憶部に記憶されている前記貼り合わせ画像全体から、前記撮像部により前記貼り合わせ処理の停止後に新たに取得される前記ライブ画像の位置を前記位置探索部により探索させ、前記位置探索部による探索に成功したときには、前記位置探索部の探索位置を起点として前記画像生成部による前記貼り合わせ処理を再開するように制御する制御部とを備える顕微鏡システム。 - 前記撮像部が、所定のフレームレートで複数のライブ画像を取得し、
前記位置検出部が、前記撮像部により連続して取得された前記ライブ画像間の相対位置を累積した累積値により前記ステージの位置を検出する請求項1に記載の顕微鏡システム。 - 前記位置検出部が、前記ステージの位置の検出結果の信頼性を算出し、
前記制御部が、前記位置検出部により算出された前記信頼性が所定の閾値を下回った場合に、位置検出に失敗したと判定する請求項1または請求項2に記載の顕微鏡システム。 - 前記位置探索部が、探索結果の信頼性を算出し、
前記制御部が、前記位置探索部により算出された前記信頼性が所定の閾値を上回った場合に、位置探索に成功したと判定する請求項1から請求項3のいずれかに記載の顕微鏡システム。 - 前記位置探索部が、位置探索時の類似度マップの分布から前記ステージの位置の誤検出の可能性を算出し、
前記制御部は、前記位置探索部により算出された前記信頼性が所定の第1閾値を上回り、かつ、前記位置探索部により算出された前記誤検出の可能性が所定の第2閾値を下回る場合にのみ、位置探索が成功したと判定する請求項4に記載の顕微鏡システム。 - 前記位置探索部が、位置探索時の類似度マップで所定の閾値を超える画素数を算出し、該画素数または該画素数の全画素数に対する割合を前記誤検出の可能性として算出する請求項5に記載の顕微鏡システム。
- 前記位置探索部が、位置探索時の類似度マップのヒストグラムの分布から位置の前記誤検出の可能性を算出する請求項5に記載の顕微鏡システム。
- 観察光軸に直交する方向に移動可能なステージ上の標本を撮影し、
取得した前記標本のライブ画像の複数画像間の移動量から前記ステージの位置を検出し、
検出した前記ステージの位置に基づいて前記ライブ画像を貼り合わせて貼り合わせ画像を生成し、
生成した前記貼り合わせ画像を記憶し、
前記ステージの位置検出が失敗したときに、貼り合わせ処理を停止するとともに、記憶している前記貼り合わせ画像全体から、前記貼り合わせ処理の停止後に新たに取得した前記ライブ画像の位置を探索し、探索に成功したときには、成功した探索位置を起点として前記貼り合わせ処理を再開する標本観察方法。
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