JP6697302B2 - 探傷装置、及び探傷装置による欠陥検出方法 - Google Patents
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Description
10 被検査物
16 カメラ(入力装置)
30 検出装置
31 第1の抽出部
32 検査領域生成部
33 第2の抽出部
34 欠陥判定部
40 第1の欠陥候補部
41 検査領域
42 第2の欠陥候補部
43 欠陥候補部
50 欠陥
C 重心(図心)
Lc 幅算出領域
s1、s2 直線
w 幅
Claims (14)
- 被検査物を撮影する入力装置と、
前記入力装置によって取得された原画像から前記被検査物の欠陥を検出する検出装置と
を備える探傷装置において、
前記検出装置は、
前記原画像から抽出された欠陥候補部の長軸方向に予め定められた長さを有した幅算出領域において、前記欠陥候補部の両外側に前記欠陥候補部の前記長軸方向と平行な2直線が生成され、前記2直線を平行を保ったまま前記欠陥候補部に向かって、前記欠陥候補部の輪郭と最初に交わる交点が形成されるまで近づけたときの前記2直線の間の距離(幅)が予め定められた範囲内である場合に、前記欠陥候補部を前記欠陥と判定する欠陥判定部を有することを特徴とする
探傷装置。 - 前記幅算出領域は、前記欠陥候補部の重心を含むことを特徴とする
請求項1に記載の探傷装置。 - 前記検出装置は、
前記原画像を第1の閾値で二値化して第1の欠陥候補部を抽出する第1の抽出部と、
前記第1の欠陥候補部が含まれるように検査領域を生成する検査領域生成部と、
前記検査領域を前記第1の閾値よりも小である第2の閾値で二値化して第2の欠陥候補部を抽出する第2の抽出部と
を更に有し、
前記欠陥候補部は、前記第2の欠陥候補部が膨張処理された領域であることを特徴とする
請求項1乃至2のいずれか1項に記載の探傷装置。 - 前記検査領域は、前記第1の欠陥候補部が含まれる最小の長方形から予め定められた幅だけ拡大させた長方形によって囲われる領域であることを特徴とする
請求項3に記載の探傷装置。 - 前記膨張処理は、前記第2の欠陥候補部をそれぞれの少なくとも長軸方向へ膨張させる処理であることを特徴とする
請求項3乃至4のいずれか1項に記載の探傷装置。 - 前記探傷装置は、
前記被検査物に磁粉を適用する磁粉散布装置と、
前記被検査物を磁化して漏えい磁束による磁粉指示模様を形成する磁化装置と
を更に備える磁粉探傷装置であることを特徴とする
請求項1乃至5のいずれか1項に記載の探傷装置。 - 前記幅算出領域の前記長さは、0.3 mm以上、10 mm以下であることを特徴とする
請求項1乃至6のいずれか1項に記載の探傷装置。 - 入力装置が、被検査物を撮影し、
検出装置が、前記入力装置によって取得された原画像から前記被検査物の欠陥を検出する探傷装置による欠陥検出方法において、
前記検出装置が有する欠陥判定部が、前記原画像から抽出された欠陥候補部の長軸方向に予め定められた長さを有した幅算出領域において、前記欠陥候補部の両外側に前記欠陥候補部の前記長軸方向と平行な2直線が生成され、前記2直線を平行を保ったまま前記欠陥候補部に向かって、前記欠陥候補部の輪郭と最初に交わる交点が形成されるまで近づけたときの前記2直線の間の距離(幅)が予め定められた範囲内である場合に、前記欠陥候補部を前記欠陥と判定することを特徴とする
探傷装置による欠陥検出方法。 - 前記幅算出領域は、前記欠陥候補部の重心を含むことを特徴とする
請求項8に記載の探傷装置による欠陥検出方法。 - 前記検出装置が更に有する第1の抽出部が、前記原画像を第1の閾値で二値化して第1の欠陥候補部を抽出し、
検査領域生成部が、前記第1の欠陥候補部が含まれるように検査領域を生成し、
第2の抽出部が、前記検査領域を前記第1の閾値よりも小である第2の閾値で二値化して第2の欠陥候補部を抽出し、
前記欠陥候補部は、前記第2の欠陥候補部が膨張処理された領域であることを特徴とする
請求項8乃至9のいずれか1項に記載の探傷装置による欠陥検出方法。 - 前記検査領域は、前記第1の欠陥候補部が含まれる最小の長方形から予め定められた幅だけ拡大させた長方形によって囲われる領域であることを特徴とする
請求項10に記載の探傷装置による欠陥検出方法。 - 前記膨張処理は、前記第2の欠陥候補部をそれぞれの少なくとも長軸方向へ膨張させる処理であることを特徴とする
請求項10乃至11のいずれか1項に記載の探傷装置による欠陥検出方法。 - 前記探傷装置は、
前記被検査物に磁粉を適用する磁粉散布装置と、
前記被検査物を磁化して漏えい磁束による磁粉指示模様を形成する磁化装置と
を更に備える磁粉探傷装置であることを特徴とする
請求項8乃至12のいずれか1項に記載の探傷装置による欠陥検出方法。 - 前記幅算出領域の前記長さは、0.3 mm以上、10 mm以下であることを特徴とする
請求項8乃至13のいずれか1項に記載の探傷装置による欠陥検出方法。
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