JP6564537B1 - 単眼3次元走査システムによる3次元再構成法および装置 - Google Patents

単眼3次元走査システムによる3次元再構成法および装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6564537B1
JP6564537B1 JP2018560102A JP2018560102A JP6564537B1 JP 6564537 B1 JP6564537 B1 JP 6564537B1 JP 2018560102 A JP2018560102 A JP 2018560102A JP 2018560102 A JP2018560102 A JP 2018560102A JP 6564537 B1 JP6564537 B1 JP 6564537B1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
target
dimensional
stripe
plane equation
camera
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018560102A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2019526033A (ja
Inventor
増芸 劉
増芸 劉
文斌 王
文斌 王
暁波 趙
暁波 趙
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shining 3D Technology Co Ltd
Original Assignee
Shining 3D Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shining 3D Technology Co Ltd filed Critical Shining 3D Technology Co Ltd
Application granted granted Critical
Publication of JP6564537B1 publication Critical patent/JP6564537B1/ja
Publication of JP2019526033A publication Critical patent/JP2019526033A/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/50Depth or shape recovery
    • G06T7/521Depth or shape recovery from laser ranging, e.g. using interferometry; from the projection of structured light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • G01B11/2504Calibration devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • G01B11/2513Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object with several lines being projected in more than one direction, e.g. grids, patterns
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/04Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
    • G01B21/042Calibration or calibration artifacts
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/50Depth or shape recovery
    • G06T7/55Depth or shape recovery from multiple images
    • G06T7/586Depth or shape recovery from multiple images from multiple light sources, e.g. photometric stereo
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/80Analysis of captured images to determine intrinsic or extrinsic camera parameters, i.e. camera calibration
    • G06T7/85Stereo camera calibration
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10Image acquisition modality
    • G06T2207/10028Range image; Depth image; 3D point clouds

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Image Processing (AREA)

Abstract

本発明は、単眼3次元走査システムによる3次元再構成方法および装置を開示する。単眼3次元走査システムは、不可視構造の光走査モジュールと、カメラと、投影装置とを含み、該方法は、不可視構造の光走査モジュールを使用して測定対象物の深度マップを収集し、かつ深度マップを3次元データポイントセットに変換し、3次元データポイントセットは複数の3次元ポイントを含むことと、複数の3次元ポイント内のターゲットの3次元ポイントに対応するターゲット光平面方程式を決定することと、ターゲットの3次元ポイントを変調後のマルチラインのストライプ画像上に投影し、変調後のマルチラインのストライプ画像内のターゲット光平面方程式に対応するターゲットストライプを決定することと、ターゲット光平面方程式およびターゲットストライプの中心座標に従って、ターゲットストライプが前記カメラ座標系に再構成された3次元ポイントを取得すること、を含む。本発明は両眼立体視覚3次元再構成に遮断が存在し得るという技術的課題を解決する。

Description

本発明は、3次元走査領域に関し、具体的には、単眼3次元走査システムによる3次元再構成法および装置に関する。
近年、3次元デジタル技術は、国際的に活発な新学際的研究分野であり、リバースエンジニアリング、文化遺産保護、工業検査およびバーチャルリアリティなどの多くの分野で広く利用されている。ハンドヘルドポータブル3次元スキャナは、その利便性および柔軟性という利点により3次元走査の分野で広く使用されている。既存のハンドヘルド3次元スキャナの原理は、主として、構造光の能動立体視覚方式に基づく。構造光には様々なモードがあり、例えば、赤外線レーザスペックル、DLP投影スペックル、DLP投影のアナログレーザストライプ、レーザストライプなどである。これらの構造光モードのうち、DLP投影のアナログレーザストライプ、レーザストライプを構造光とするハンドヘルド3次元スキャナの精度が最も高く、走査詳細が最もよい。DLP投影のアナログレーザストライプ、レーザストライプを構造光とする例の基本的なワークフローは以下のとおりである:
(1)投影されたストライプに対して平面フィッティングを行い、
(2)収集されたストライプパターンに従ってマーカポイント抽出およびストライプ中心抽出を行い、
(3)ストライプ中心に対して連通領域分割を実行し、平面方程式に従って左右のカメラ画像上のストライプに対して対応するポイントのマッチングを行い、
(4)2つのカメラの極限制約関係を使用して左右のカメラ画像上の対応するマーカポイントの中心を見つけ、
(5)走査システムの較正パラメータに従って、3次元再構成アルゴリズムを使用してマッチングした対応するストライプおよび対応するマーカポイントの中心に対して3次元再構成を行い、
(6)マーカポイントのスプライシングおよびストライプ3次元ポイント回転によってハンドヘルドハンドヘルド3次元走査を実現する。
上記走査プロセスにおける左右のカメラ画像上の対応するストライプのマッチングは、主に光平面またはストライププレーン方程式のガイダンスに基づき、ストライプの数が15より大きい場合、カメラ画像上の対応するストライプのマッチングエラー率が大幅に改善され、さらにノイズを増加させ、走査データの精度を低減させる。ストライプの数が15より小さい場合、走査効率は効果的には向上しない。したがって、固有の走査フレームレート限界の下で走査効率を向上させる有効な方法は、ストライプの数を増加させると共にストライプマッチングの精度を向上させることである。
しかし、既存のハンドヘルドマルチストライプ両眼3次元スキャン技術では、走査プロセス中に、ストライプ数が増加すると、対応するポイントのマッチングエラー率が増加し、走査データノイズが増加する。さらに、走査前に、光平面を較正する必要があり、システム装置の取り付け精度および安定性に対する要求がより厳しい。また、ストライプの数が増加すると、左右の画像の対応するストライプの探索の複雑さが急速に増加する。そして、ストライプの数は限られ、カメラ視野の全範囲を完全に利用することができず、走査効率は改善されない。両眼遮断が原因となって、測定対象物の一部が遮断されて3次元再構成を行うことができなくなる。両眼立体視覚を採用するため、測定対象物の表面に段差があると、視差が不連続となり、ミスマッチングが生じる。
両眼立体視覚3次元再構成に遮断が存在し得るという問題に対して、効果的な解決策はまだ提案されていない。
本発明の少なくともいくつかの実施例は、両眼立体視覚3次元再構成における遮断という技術的課題を少なくとも解決するために、単眼3次元走査システムによる3次元再構成方法および装置を提供する。
本発明の一実施例によれば、単眼3次元走査システムによる3次元再構成方法を提供し、前記単眼3次元走査システムは、不可視構造の光走査モジュール、カメラ、投影装置を含む。前記方法は、前記不可視構造の光走査モジュールを使用して測定対象物の深度マップを収集し、かつ前記深度マップを、複数の3次元ポイントを含む3次元データポイントセットに変換することと、前記複数の3次元ポイント内のターゲットの3次元ポイントに対応するターゲット光平面方程式を決定することと、前記ターゲットの3次元ポイントを変調後のマルチラインのストライプ画像上に投影し、前記変調後のマルチラインのストライプ画像内の前記ターゲット光平面方程式に対応するターゲットストライプを決定することと、前記ターゲット光平面方程式および前記ターゲットストライプの中心座標に従って、前記ターゲットストライプが前記カメラ座標系に再構成された3次元ポイントを取得することと、を含む。ここで、前記変調後のマルチラインのストライプ画像は前記投影装置を用いてマルチラインのストライプ画像を測定対象物上に投影した後に前記カメラにより収集された画像である。
好ましくは、前記不可視構造の光走査モジュールを用いて前記測定対象物の深度マップを収集し、かつ前記深度マップを3次元データポイントセットに変換する前に、前記方法はさらに、前記単眼3次元走査システムを較正し、前記単眼3次元走査システムの構造パラメータを取得することを含む。
好ましくは、前記単眼3次元走査システムを較正し、前記単眼3次元走査システムの構造パラメータを取得することは、前記カメラを較正し、前記カメラの内部および外部のパラメータを取得することと、前記不可視構造の光走査モジュールと前記カメラとの間の相対位置関係に対応する回転平行移動行列を取得することと、前記マルチラインのストライプ画像における各ストライプに対応する光平面方程式を較正し、複数の較正後の光平面方程式を取得することと、を含む。
好ましくは、複数の3次元ポイント内のターゲットの3次元ポイントに対応するターゲット光平面方程式を決定することは、前記ターゲットの3次元ポイントから前記複数の較正後の光平面方程式へのユークリッド距離を取得し、かつ前記複数の較正後の光平面方程式から最短ユークリッド距離を有する光平面方程式を決定することと、前記ターゲットの3次元ポイントから前記最短ユークリッド距離の光平面方程式へのユークリッド距離が所定の距離よりも短い場合に、前記最短ユークリッド距離光平面方程式を前記ターゲット光平面方程式と決定することと、を含む。
好ましくは、前記ターゲットの3次元ポイントを変調後のマルチラインのストライプ画像上に投影し、前記変調後のマルチラインのストライプ画像内の前記ターゲット光平面方程式に対応するターゲットストライプを決定することは、前記ターゲットの3次元ポイントが前記変調後のマルチラインのストライプ画像内の投影ポイントのプリセット範囲内にストライプセグメントを有するか否かを判断することと、前記ターゲットの3次元ポイントが前記変調後のマルチラインのストライプ画像内の投影ポイントのプリセット範囲内にストライプセグメントを有する場合に、前記ストライプセグメントを前記ターゲット光平面方程式に対応する前記ターゲットストライプと決定することと、を含む。ここで、前記ストライプセグメントは前記変調後のマルチラインのストライプ画像に対して中心線を抽出した後に前記中心線連通領域を分割して形成されたセグメントである。
好ましくは、前記ターゲット光平面方程式および前記ターゲットストライプの中心座標に従って、前記ターゲットストライプが前記カメラ座標系に再構成された3次元ポイントを取得することは、AXi + BYi + CZi + D = 0、(u - cx) / fx = Xi / Zi、(v - cy) / fy = Yi / Ziの方程式に従って前記3次元ポイントの座標を決定することを含む。ここで、(Xi、Yi、Zi)は前記3次元ポイントの座標であり、A、B、C、Dは前記ターゲット光平面方程式の係数であり、(u、v)は前記ターゲットストライプの中心座標であり、(cx、cy)は前記カメラのメインポイント座標であり、fx、fyは前記カメラの等価焦点距離である。
本発明の一実施例によれば、さらに、記憶媒体を提供し、前記記憶媒体は、記憶されたプログラムを含む。ここで、前記プログラムが実行されるとき、上記のいずれかの前記方法を実行する。
本発明の一実施例によれば、さらに、プロセッサを提供し、前記プロセッサは、プログラムを実行するように設定される。ここで、前記プログラムが実行されるとき、上記のいずれかの前記方法を実行する。
本発明の一実施例によれば、さらに、単眼3次元走査システムによる3次元再構成装置を提供し、前記単眼3次元走査システムは、不可視構造の光走査モジュール、カメラ、投影装置を含む。ここで、前記装置は、前記不可視構造の光走査モジュールを使用して測定対象物の深度マップを収集し、かつ前記深度マップを3次元データポイントセット(ここで、前記3次元データポイントセットは複数の3次元ポイントを含む)に変換するように設定された収集ユニットと、前記複数の3次元ポイント内のターゲットの3次元ポイントに対応するターゲット光平面方程式を決定するように設定された決定ユニットと、前記ターゲットの3次元ポイントを変調後のマルチラインのストライプ画像上に投影し、前記変調後のマルチラインのストライプ画像(ここで、前記変調後のマルチラインのストライプ画像は前記投影装置を用いてマルチラインのストライプ画像を測定対象物上に投影した後に前記カメラにより収集された画像である)内の前記ターゲット光平面方程式に対応するターゲットストライプを決定するように設定された投影ユニットと、前記ターゲット光平面方程式および前記ターゲットストライプの中心座標に従って、前記ターゲットストライプが前記カメラ座標系に再構成された3次元ポイントを取得するように設定された取得ユニットと、を含む。
好ましくは、前記装置は、さらに、前記不可視構造の光走査モジュールを用いて前記測定対象物の深度マップを収集し、かつ前記深度マップを3次元データポイントセットに変換する前に、前記単眼3次元走査システムを較正し、前記単眼3次元走査システムの構造パラメータを取得するように設定された較正モジュールを含む。
本発明の少なくともいくつかの実施例では、不可視構造の光走査モジュールにより収集された深度マップに従って、深度マップ変換の3次元データポイントセット内のターゲットの3次元ポイントに対応するターゲット光平面方程式を決定し、続いて、単一のカメラによって取得された変調後のマルチラインのストライプ画像内のターゲット光平面方程式に対応するターゲットストライプを決定し、さらに、ターゲット光平面方程式およびターゲットストライプの中心座標に従ってカメラ座標系におけるターゲットストライプによって再構成された3次元ポイントを取得し、単眼3次元走査システムを用いて3次元ポイントの正確な再構成を実現し、3次元走査を完了し、両眼3次元走査システムが両眼立体視覚を採用し、測定対象物の表面に段差がある場合に視差が不連続となるという問題を回避し、かつ、測定対象物の一部が遮蔽され、両眼走査システムのデュアルカメラが遮蔽部分の画像を捕捉することができず、したがって遮蔽部分を3次元再構成することができず、両眼立体視覚3次元再構成に遮断が存在し得るという技術的課題を解決する。
ここで説明される図面は、本発明のさらなる理解を提供するために用いられ、本出願の一部を構成し、本発明の例示的な実施例およびその説明は、本発明を説明するために用いられ、本発明の過度の制限を構成するものではない。
図1は本発明の実施例による任意の単眼3次元走査システムによる3次元再構成方法のフローチャートである。 図2は本発明の実施例による任意のマルチラインストライプ復調パターンの概略図である。 図3は本発明の実施例による任意のストライプセグメント分割および3Dモジュールポイントクラウド逆投影の概略図である。 図4は本発明の実施例による任意の3次元ハンドヘルド赤外線構造光3次元モジュールと単眼マルチストライプを組み合わせた3次元走査システムの構造の概略図である。 図5は本発明の実施例による任意の単眼3次元走査システムによる3次元再構成装置の概略図である。
当業者が本発明の解決手段をよりよく理解できるようにするために、以下、本発明の実施例における図面を参照し、本発明の実施例における技術的解決手段を明確かつ完全に記載する。当然のことながら、記載された実施例は、本発明の実施例の一部であり、実施例の全てではない。本発明の範囲から逸脱することなく、本発明の実施例に基づいて当業者によって得られる他のすべての実施例は、いずれも本発明の保護範囲内に含まれるべきである。
本発明の明細書および特許請求の範囲および上記図面における「第一」、「第二」などの用語は、類似のオブジェクトを区別するために用いられ、必ずしも特定の順序または前後順序を記述するために使用されるものではないことに留意されたい。そのように使用されるデータは、本明細書に記載された本発明の実施例が本明細書に図示または記載された順序以外の順序で実施され得るように、必要に応じて交換可能であることを理解されたい。さらに、用語「含む」および「有する」およびその任意の変形は、非排他的な包含をカバーすることを意図し、例えば、一連のことまたはユニットを含むプロセス、方法、システム、製品または装置は、明確に列挙されたことまたはユニットに必ずしも限定されず、明確に列挙されないかまたはそのようなプロセス、方法、製品または装置固有の他のことまたはユニットを含むことができる。
本発明の実施例によれば、単眼3次元走査システムによる3次元再構成方法の実施例を提供し、添付図面のフローチャートに示されることは、コンピュータ実行可能命令のセットなどのコンピュータシステムで実行されてもよく、かつ、論理順序はフローチャートに示されるが、場合によっては、本明細書とは異なる順序で図示または記載されたことを実行してもよいことに留意されたい。
本発明の実施例における単眼3次元走査システムによる3次元再構成方法における単眼3次元走査システムは、不可視構造の光走査モジュール、カメラ、投影装置を含むことができ、図1は本発明の実施例による任意の単眼3次元走査システムによる3次元再構成方法のフローチャートであり、図1に示すとおり、該方法は以下のことを含む。
ステップS102において、不可視構造の光走査モジュールを使用して測定対象物の深度マップを収集し、かつ深度マップを3次元データポイントセットに変換する。ここで、3次元データポイントセットは複数の3次元ポイントを含む。
ステップS104において、複数の3次元ポイント内のターゲットの3次元ポイントに対応するターゲット光平面方程式を決定する。
ステップS106において、ターゲットの3次元ポイントを変調後のマルチラインのストライプ画像上に投影し、変調後のマルチラインのストライプ画像内のターゲット光平面方程式に対応するターゲットストライプを決定する。ここで、変調後のマルチラインのストライプ画像は投影装置を用いてマルチラインのストライプ画像を測定対象物上に投影した後にカメラにより収集された画像である。
ステップS108において、ターゲット光平面方程式およびターゲットストライプの中心座標に従って、ターゲットストライプがカメラ座標系に再構成された3次元ポイントを取得する。
上記ステップにより、不可視構造の光走査モジュールにより収集された測定対象物の深度マップに従って、深度マップ変換の3次元データポイントセット内のターゲットの3次元ポイントに対応するターゲット光平面方程式を決定し、続いて、単一のカメラによって取得された変調後のマルチラインのストライプ画像内のターゲット光平面方程式に対応するターゲットストライプを決定し、さらに、ターゲット光平面方程式およびターゲットストライプの中心座標に従ってカメラ座標系におけるターゲットストライプによって再構成された3次元ポイントを取得し、単眼3次元走査システムを用いて3次元ポイントの正確な再構成を実現し、3次元走査を完了し、両眼3次元走査システムが両眼立体視覚を採用することで測定対象物の表面に段差がある場合に視差が不連続となるという問題を回避し、かつ、測定対象物の一部が遮蔽されて両眼走査システムのデュアルカメラが遮蔽部分の画像を捕捉することができなくなり、遮蔽部分を3次元再構成することができなかったが、両眼立体視覚3次元再構成が遮断され得るという技術的課題を解決する。
好ましくは、投影装置は、デジタルプロジェクタであってもよく、対応する投影されたマルチラインのストライプ画像は、デジタルアナログレーザマルチラインのストライプ画像であってもよい。ここで、該デジタルアナログレーザマルチラインのストライプ画像は、単眼3次元走査システムのコンピュータによって生成され、かつデジタルプロジェクタによって測定対象物に投影することができる。好ましくは、投影装置はまた、レーザ投影装置であってもよく、対応する投影されたマルチラインのストライプ画像は、レーザマルチラインのストライプ画像であってもよく、該レーザマルチラインのストライプ画像はレーザ投影装置によって測定対象物上に直接投影することができる。なお、本発明の実施例では、投影装置はデジタルプロジェクタであり、投影されたマルチラインのストライプ画像はデジタルマルチラインのストライプ画像であることを例として説明したが、投影装置はデジタルプロジェクタのみに限定されず、投影されたマルチラインのストライプ画像はデジタルマルチラインのストライプ画像のみに限定されないことに留意されたい。
任意の実施例として、不可視構造の光走査モジュールを用いて測定対象物の深度マップを収集し、かつ深度マップを3次元データポイントセットに変換する前に、該実施はさらに、単眼3次元走査システムを較正し、単眼3次元走査システムの構造パラメータを取得することを含むことができる。
好ましくは、不可視構造の光走査モジュールは、赤外線構造光走査モジュールであってもよい。
本発明の上記実施例を採用し、まず単眼3次元走査システムを較正し、単眼3次元走査システムの構造パラメータを取得し、それにより、較正後に取得された正確な構造パラメータに従って、3次元ポイントを正確に再構成することができる。
任意の実施例として、単眼3次元走査システムを較正し、単眼3次元走査システムの構造パラメータを取得することは、カメラを較正し、カメラの内部および外部のパラメータを取得することと、不可視構造の光走査モジュールとカメラとの間の相対位置関係に対応する回転平行移動行列を取得することと、マルチラインのストライプ画像における各ストライプに対応する光平面方程式を較正し、複数の較正後の光平面方程式を取得することと、を含むことができる。
本発明の上記実施例を採用し、単眼3次元走査システムを較正するプロセス中に、カメラを較正することによって、カメラの内部および外部のパラメータを取得することができる。不可視構造の光走査モジュールとカメラとの間の相対位置関係を較正することによって、不可視構造の光走査モジュールとカメラとの間の相対位置関係に対応する回転平行移動行列を取得することができる。さらにマルチラインのストライプ画像における各ストライプに対応する光平面方程式を較正することによって、複数の較正後の光平面方程式を取得することができ、それにより、カメラの内部および外部のパラメータ、回転平行移動行列、光平面方程式に従って、3次元ポイントを正確に再構成することができる。
任意の実施例として、複数の3次元ポイント内のターゲットの3次元ポイントに対応するターゲット光平面方程式を決定することは、ターゲットの3次元ポイントから複数の較正後の光平面方程式へのユークリッド距離を取得し、かつ複数の較正後の光平面方程式から最短ユークリッド距離を有する光平面方程式を決定することと、ターゲットの3次元ポイントから最短ユークリッド距離の光平面方程式へのユークリッド距離が所定の距離よりも短い場合に、最短ユークリッド距離光平面方程式をターゲット光平面方程式と決定することと、を含むことができる。
本発明の上記実施例を採用し、ターゲットの3次元ポイントから複数の較正後の光平面方程式へのユークリッド距離、および複数の較正後の光平面方程式から最短ユークリッド距離を有する光平面方程式を取得することによって、ターゲットの3次元ポイントから最短ユークリッド距離の光平面方程式へのユークリッド距離が所定の距離よりも短い場合に、最短ユークリッド距離光平面方程式をターゲット光平面方程式と決定することができ、それにより、ターゲット光平面方程式に従って、3次元ポイントを正確に再構成することができる。
任意の実施例として、ターゲットの3次元ポイントを変調後のマルチラインのストライプ画像上に投影し、変調後のマルチラインのストライプ画像内のターゲット光平面方程式に対応するターゲットストライプを決定することは、ターゲットの3次元ポイントが変調後のマルチラインのストライプ画像内の投影ポイントのプリセット範囲内にストライプセグメントを有するか否かを判断することと、ターゲットの3次元ポイントが変調後のマルチラインのストライプ画像内の投影ポイントのプリセット範囲内にストライプセグメントを有する場合に、ストライプセグメントをターゲット光平面方程式に対応するターゲットストライプと決定することと、を含むことができる。ここで、ストライプセグメントは変調後のマルチラインのストライプ画像に対して中心線を抽出した後に中心線連通領域を分割して形成されたセグメントである。
本発明の上記実施例を採用し、ターゲットの3次元ポイントが変調後のマルチラインのストライプ画像内の投影ポイントのプリセット範囲内に変調後のマルチラインのストライプ画像に対して中心線を抽出した後に中心線連通領域を分割して形成されたセグメントを有するか否かを判断し、かつターゲットの3次元ポイントが変調後のマルチラインのストライプ画像内の投影ポイントのプリセット範囲内にストライプセグメントを有する場合に、ストライプセグメントをターゲット光平面方程式に対応するターゲットストライプと決定し、それにより、ストライプセグメント内のターゲット光平面方程式に対応するターゲットストライプを決定することができ、かつターゲット光平面方程式を用いて対応するターゲットストライプを計算し、3次元ポイントを正確に再構成する。
任意の実施例として、ターゲット光平面方程式およびターゲットストライプの中心座標に従って、ターゲットストライプがカメラ座標系に再構成された3次元ポイントを取得することは、AXi + BYi + CZi + D = 0、(u - cx) / fx = Xi / Zi、(v - cy) / fy = Yi / Ziの方程式に従って3次元ポイントの座標を決定するステップを含むことができる。ここで、(Xi、Yi、Zi)は3次元ポイントの座標であり、A、B、C、Dはターゲット光平面方程式の係数であり、(u、v)はターゲットストライプの中心座標であり、(cx、cy)はカメラのメインポイント座標であり、fx、fyはカメラの等価焦点距離である。
本発明の上記実施例を採用し、ターゲット光平面方程式の係数によれば、(u、v)はターゲットストライプの中心座標であり、(cx、cy)はカメラのメインポイント座標であり、fx、fyはカメラの等価焦点距離であり、(Xi、Yi、Zi)の3次元ポイントの座標を正確に取得し、3次元ポイントを正確に再構成することができる。
本発明はさらに、好ましい実施例を提供し、該好ましい実施例は、異なる帯域構造光を組み合わせた単眼マルチライン3次元走査方法を提供する。
本発明は、主に不可視光帯域(赤外線構造光)3次元モジュールと単眼可視光マルチラインストライプとの組み合わせの技術的改善を例とする。本発明の目的は、赤外線構造光3次元モジュールで再構成された3次元データを用いて単眼マルチラインストライプの3次元再構成をガイドすることであるが、重要なことは、赤外線構造光3次元モジュールの3次元再構成データが単眼マルチラインストライプと光平面方程式の正確なマッチングをガイドし、マルチストライプのマッチング正確度を向上させ、マッチングしたストライプ数を増加することによりハンドヘルド3次元走査システムの走査効率を向上させることである。解像度が130万画素のカメラに対して、100ストライプが達成され、同じフレームレートとカメラ解像度で、従来技術と比較して走査効率が10倍以上向上する。同時に、マーカポイントを使用せずに、特徴に応じてマルチストライプ走査のリアルタイムスプライシングを実現することができる。
本発明の提供する技術的解決手段は、装置構成、システム較正、デジタル投影および画像取得、ポイントラインPtS相関光平面方程式のシリアル番号の決定、マルチラインのストライプ画像内の対応するストライプのマッチングおよび3次元再構成のガイドを含む。
好ましくは、赤外線構造光3次元走査モジュールと1つのカメラとデジタルプロジェクタとからなる3次元デジタルイメージングセンサを構成し、かつ装置モジュール間の相対位置を固定することによって、測定対象物を測定範囲内に配置することができる。
好ましくは、システム較正部分は、カメラを較正することにより、カメラの内部および外部のパラメータ、内部パラメータA、外部パラメータR、Tを取得し、同時に赤外線構造光3次元走査モジュールとカメラとの間の相対位置関係に対応する回転平行移動行列Msを較正するステップを含む。
好ましくは、システム較正部分は、マルチラインストライプの光平面較正を行い、各ストライプに対応する光平面方程式plane(i) = {AXi + BYi + CZi + D = 0}を較正することをさらに含む。ここで、(Xi、Yi、Zi)はストライプセグメントがカメラ座標系で再構成された3次元ポイントである。
図2は本発明の実施例による任意のマルチラインストライプ復調パターンの概略図であり、図2に示すとおり、コンピュータによりストライプ数が15を超えるデジタルマルチラインストライプパターン(ストライプの数は最大100またはそれ以上にすることができる)を生成し、デジタルプロジェクタで測定対象物に投影すると、測定対象物の高さ変調によってデジタルレーザパターンが変形され、変調後のデジタルマルチラインストライプパターンを生成し、カメラは同時に変調後のマルチラインストライプパターンを取得する。
好ましくは、ポイントセットPtS関連光平面方程式のシリアル番号を決定し、赤外線構造光の3次元走査モードの3次元データPtSを取得した後、順にPtS3次元ポイントセット中の各3次元ポイントpt(i)(ターゲットの3次元ポイント)から各光平面方程式へのユークリッド距離を計算し、距離閾値vTHを0.5mmに設定する。pt(i)からn番目の光平面方程式への距離が最も短く、かつvTHの閾値範囲内にあると仮定し、3次元ポイントpt(i)に対応するn番目の光平面方程式を保持および記録する。pt(i)が光平面方程式に関連付けられない場合、このポイントを除去する。このときのポイントセットPtSの各3次元ポイントは、いずれも対応する光平面方程式に対応する。
図3は、本発明の実施例による任意のストライプセグメント分割および3Dモジュールポイントクラウド逆投影の概略図であり、図3に示すとおり、中心線は、変調後のマルチラインストライプパターンに対して中心線抽出を行い、続いて各中心線の連通領域フィールドを分割することによって複数本の独立セグメントを形成する。続いて赤外線構造光3次元モジュールの3次元データPtS内のPt(i)を、カメラの較正内部パラメータに従って復調後のマルチラインのストライプ画像上に順次投影し、pt(i)の投影ポイントが8近傍のマルチラインストライプの独立セグメントを有する場合に、該マルチラインストライプの独立セグメント(ターゲットストライプ)はn番目の光平面方程式(ターゲット光平面方程式)に対応して決定される。
好ましくは、AXi + BYi + CZi + D = 0、(u - cx) / fx = Xi / Zi、(v - cy) / fy = Yi / Ziの3つの方程式を連立して解くことによってカメラ座標系におけるマルチラインストライプの3次元ポイント(Xi、Yi、Zi)を解くことができる。ここで、既知量について、(A、B、C、D)は光平面方程式の係数であり、(u、v)はストライプの中心座標であり、(cx、cy)はカメラのメインポイント座標であり、fx、fyは等価焦点距離である。
図4は、本発明の実施例による任意の3次元ハンドヘルド赤外線構造光3次元モジュールと単眼マルチストライプを組み合わせた3次元走査システムの構造の概略図であり、図4に示すとおり、該システムは、デジタルプロジェクタ101、カメラ102、赤外線構造光三次元モジュール103、コンピュータ104、および測定対象サンプル105を含む。
好ましくは、カメラの内部パラメータは、
K1 = [ 2271.084 0 645.632
0 2265.112 511.553
0 0 1] である。
好ましくは、カメラの外部パラメータは、
R = [ -0.0917752 -0.942911 -0.32015
0.879959 0.0736946 -0.469298
0.4661 -0.324789 0.82296]、
T = [-1.77 -5.5 450] である。
好ましくは、赤外線構造光3次元モジュールの内部パラメータは、
Ks = [ 476.927, 0 , 312.208,
0 , 475.927, 245.949,
0, 0 , 1 ] である。
好ましくは、赤外線構造光3次元モジュールとカメラとの間のシステム構造パラメータは、
Rs = [ 0.9989 0.0445 -0.0113
-0.0454 0.9928 -0.1109
0.0063 0.1113 0.9938]、
Ts = [ 91.3387 28.1183 1.7905] である。
上記各部分により、マルチラインストライプの光平面方程式plane(i) = {AXi + BYi + CZi + D = 0}を事前に較正し、DLPは、測定対象サンプルに可視光帯域のマルチラインストライプを投影し、赤外線構造光3次元モジュールを同期的にトリガして測定対象物の3次元データを収集し、かつカメラはマルチラインストライプを収集し、収集された復調マルチラインストライプパターンに対して中心線抽出および連通領域分割を行う。赤外線3次元モジュールの3次元データから光平面方程式への距離を計算し、距離閾値内に光平面方程式のシリアル番号を保持および記録する。該3次元データをカメラ画像平面に逆投影し、例えばマルチラインストライプセグメントと交差点があれば、該セグメントに対応する光平面方程式を決定する。マルチラインのストライプ画像座標および対応する光平面方程式から較正されたカメラパラメータに従ってマルチラインストライプの3次元データを計算する。
本発明の提供する技術的解決手段は、不可視構造光帯域3次元再構成データを用いて可視光帯域構造光の単眼3次元再構成をガイドすることができる。可視光単眼マルチラインストライプと対応する光平面方程式との正確なマッチングを実現することができる。また、マーカポイントを使用せずに、特徴に応じて単眼マルチストライプ走査のリアルタイムスプライシングを実現することができる。
本発明の提供する技術的解決手段は、単眼マルチストライプと対応する光平面方程式とのマッチング難易度を単純化し、マッチング精度を改善できる。同時に従来技術における投影されたストライプの数の制限が除去され、走査速度は同じ条件下で10倍以上に増加することができる。両眼立体視覚遮断の問題は、単眼3次元再構成方式によって解決される。異なる帯域構造光は協調走査する。
本発明の他の態様によれば、本発明の実施例はさらに、記憶媒体を提供し、記憶媒体は、記憶されたプログラムを含む。ここで、プログラムが実行されるときに、記憶媒体が配置された装置に、上記した単眼3次元走査システムによる3次元再構成方法を実行させるように制御する。
本発明の他の態様によれば、本発明の実施例はさらに、プロセッサを提供し、プロセッサは、プログラムを実行するように設定される。ここで、プログラムが実行されるとき、上記した単眼3次元走査システムによる3次元再構成方法を実行する。
本発明の実施例によれば、さらに、単眼3次元走査システムによる3次元再構成装置の実施例を提供し、該単眼3次元走査システムによる3次元再構成装置は、本発明の実施例における単眼3次元走査システムによる3次元再構成方法を実行するように設定され、本発明の実施例における単眼3次元走査システムによる3次元再構成方法は、該単眼3次元走査システムによる3次元再構成装置で実行することができる。
本発明の実施例における単眼3次元走査システムによる3次元再構成装置中の単眼3次元走査システムは、不可視構造の光走査モジュール、カメラ、投影装置を含むことができ、図5は本発明の実施例による任意の単眼3次元走査システムによる3次元再構成装置の概略図であり、図5に示すとおり、該装置は、収集ユニット61と、決定ユニット63と、投影ユニット65と、取得ユニット67と、を含むことができる。
収集ユニット61は、不可視構造の光走査モジュールを使用して測定対象物の深度マップを収集し、かつ深度マップを3次元データポイントセットに変換するように設定される。ここで、3次元データポイントセットは複数の3次元ポイントを含む。決定ユニット63は、複数の3次元ポイント内のターゲットの3次元ポイントに対応するターゲット光平面方程式を決定するように設定される。投影ユニット65は、ターゲットの3次元ポイントを変調後のマルチラインのストライプ画像上に投影し、変調後のマルチラインのストライプ画像内のターゲット光平面方程式に対応するターゲットストライプを決定するように設定される。ここで、変調後のマルチラインのストライプ画像は、投影装置を用いてマルチラインのストライプ画像を測定対象物上に投影した後に前記カメラにより収集された画像である。取得ユニット67は、ターゲット光平面方程式およびターゲットストライプの中心座標に従って、ターゲットストライプがカメラ座標系に再構成された3次元ポイントを取得するように設定される。
なお、該実施例における収集ユニット61は、本出願の実施例におけるステップS102を実行するように設定され、該実施例における決定ユニット63は、本出願の実施例におけるステップS104を実行するように設定され、該実施例における投影ユニット65は、本出願の実施例におけるステップS106を実行するように設定され、該実施例における取得ユニット67は、本出願の実施例におけるステップS108を実行するように設定されることに留意されたい。上記モジュールは、対応するステップによって実現された例および適用シナリオと同じであるが、上記実施例に開示された内容に限定されない。
本発明の上記実施例は、不可視構造の光走査モジュールにより収集された深度マップに従って、深度マップ変換の3次元データポイントセット内のターゲットの3次元ポイントに対応するターゲット光平面方程式を決定し、続いて、単一のカメラによって取得された変調後のマルチラインのストライプ画像内のターゲット光平面方程式に対応するターゲットストライプを決定し、さらに、ターゲット光平面方程式およびターゲットストライプの中心座標に従ってカメラ座標系におけるターゲットストライプによって再構成された3次元ポイントを取得し、単眼3次元走査システムを用いて3次元ポイントの正確な再構成を実現し、3次元走査を完了し、両眼3次元走査システムが両眼立体視覚を採用し、測定対象物の表面に段差がある場合に視差が不連続となるという問題を回避し、かつ、測定対象物の一部が遮蔽され、両眼走査システムのデュアルカメラが遮蔽部分の画像を捕捉することができず、したがって遮蔽部分を3次元再構成することができず、両眼立体視覚3次元再構成に遮断が存在し得るという技術的課題を解決する。
任意の実施例として、上記装置は、さらに、不可視構造の光走査モジュールを用いて測定対象物の深度マップを収集し、かつ深度マップを3次元データポイントセットに変換する前に、単眼3次元走査システムを較正し、単眼3次元走査システムの構造パラメータを取得するように設定された較正モジュールを含む。
任意の実施例として、較正モジュールは、第一較正サブモジュールと、第一取得モジュールと、第二較正サブモジュールと、を含む。第一較正サブモジュールは、カメラを較正し、カメラの内部および外部のパラメータを取得するように設定される。第一取得モジュールは、不可視構造の光走査モジュールとカメラとの間の相対位置関係に対応する回転平行移動行列を取得するように設定される。第二較正サブモジュールは、マルチラインのストライプ画像における各ストライプに対応する光平面方程式を較正し、複数の較正後の光平面方程式を取得するように設定された
任意の実施例として、決定ユニットは、第二取得モジュールと第一決定ユニットとを含む。第二取得モジュールは、ターゲットの3次元ポイントから複数の較正後の光平面方程式へのユークリッド距離を取得し、かつ複数の較正後の光平面方程式から最短ユークリッド距離を有する光平面方程式を決定するように設定される。第一決定ユニットは、ターゲットの3次元ポイントから最短ユークリッド距離の光平面方程式へのユークリッド距離が所定の距離よりも短い場合に、最短ユークリッド距離光平面方程式をターゲット光平面方程式と決定するように設定された
任意の実施例として、投影ユニットは、ターゲットの3次元ポイントが変調後のマルチラインのストライプ画像内の投影ポイントのプリセット範囲内にストライプセグメントを有するか否かを判断する。ここで、ストライプセグメントは、判断モジュールと第二決定モジュールとを含む。判断モジュールは、変調後のマルチラインのストライプ画像に対して中心線を抽出した後に中心線連通領域を分割して形成されたセグメントであるように設定される。第二決定モジュールは、ターゲットの3次元ポイントが変調後のマルチラインのストライプ画像内の投影ポイントのプリセット範囲内にストライプセグメントを有する場合に、ストライプセグメントをターゲット光平面方程式に対応するターゲットストライプと決定するように設定される。
任意の実施例として、取得ユニットは、AXi + BYi + CZi + D = 0、(u - cx) / fx = Xi / Zi、(v - cy) / fy = Yi / Ziの方程式に従って3次元ポイントの座標を決定するように設定された計算モジュールを含む。ここで、(Xi、Yi、Zi)は前記3次元ポイントの座標であり、A、B、C、Dは前記ターゲット光平面方程式の係数であり、(u、v)は前記ターゲットストライプの中心座標であり、(cx、cy)は前記カメラのメインポイント座標であり、fx、fyは前記カメラの等価焦点距離である。
上記本発明の実施例における番号は、単に説明のためのものであり、実施例の長所と短所を表すものではない。
本発明の上記実施例で、様々な実施例に対する説明が異なり、ある実施例において詳述されない部分は、他の実施例の関連する説明を参照することができる。
本出願によって提供されるいくつかの実施例では、開示された技術内容が他の方法で実施されてもよいことを理解されたい。ここで、上述した実施例は単なる例示に過ぎず、例えば、前記ユニットの分割は、論理的な機能分割であってもよく、実際に実現するときに別の分割方式を有してもよく、例えば、複数のユニットまたはモジュールは、結合してもよく、または別のシステムに統合してもよく、または一部の機能を無視してもよく、または実行しなくてもよい。さらに、図示または説明した相互結合または直接結合または通信接続は、いくつかのインタフェース、ユニットまたはモジュールを介した間接結合または通信接続であってもよく、電気的または他の形式であってもよい。
前記分離部材として説明したユニットは、物理的に分離してもいなくてもよく、ユニットとして表示した部材は、物理ユニットであってもなくてもよく、すなわち、同じ場所に位置してもよく、または複数のユニットに分割してもよい。実際のニーズに応じてユニットの一部または全部を選択して本実施例の解決策の目的を実現することができる。
また、本発明の各実施例における各機能ユニットは、1つの処理ユニットに統合されてもよいし、物理的に別々に存在してもよいし、2つ以上のユニットを1つのユニットに統合してもよい。上記統合されたユニットは、ハードウェアの形態で実現することができ、またソフトウェア機能ユニットの形態で実現することができる。
前記統合されたユニットは、ソフトウェア機能ユニットの形態で実現され、かつ独立した製品として販売または使用されるとき、1つのコンピュータ可読記憶媒体に記憶することができる。このような理解に基づいて、本発明の技術的解決手段は、本質的に、または従来技術に寄与する部分または該技術的解決手段の全部または一部は、ソフトウェア製品の形態で具体化することができ、該コンピュータソフトウェア製品は1つの記憶媒体に記憶され、コンピュータ装置(パーソナルコンピュータ、サーバまたはネットワーク装置などであってもよい)に、本発明の様々な実施形態に記載された前記方法のステップの全部または一部を実行させるための複数の命令を含む。前記記憶媒体は、Uディスク、読み出し専用メモリ(ROM、Read−Only Memory)、ランダムアクセスメモリ(RAM、Random Access Memory)、モバイルハードディスク、ディスクまたは光ディスクなどのプログラムコードを格納することができる他の媒体を含む。
上記は本発明の好ましい実施例に過ぎず、当業者は本発明の原理から逸脱することなくいくつかの改良および修飾を行うことができ、これらの改良および修飾は本発明の保護範囲とみなされるべきであることに留意されたい。
前記のように、本発明の実施例が提供する単眼3次元走査システムによる3次元再構成方法および装置は、単眼3次元走査システムの使用によって3次元ポイントを正確に再構成して3次元走査を完成し、さらに両眼立体視覚3次元再構成での遮断を回避する有益な効果を有する。

Claims (10)

  1. 不可視構造の光走査モジュールと、カメラと、投影装置とを含む単眼3次元走査システムによる3次元再構成方法であって、
    前記不可視構造の光走査モジュールを使用して測定対象物の深度マップを収集し、かつ前記深度マップを、複数の3次元ポイントを含む3次元データポイントセットに変換することと、
    前記複数の3次元ポイント内のターゲットの3次元ポイントに対応するターゲット光平面方程式を決定することと、
    前記ターゲットの3次元ポイントを変調後のマルチラインのストライプ画像上に投影し、前記変調後のマルチラインのストライプ画像内の前記ターゲット光平面方程式に対応するターゲットストライプを決定することと、ここで、前記変調後のマルチラインのストライプ画像は、前記投影装置を用いてマルチラインのストライプ画像を測定対象物上に投影した後に前記カメラにより収集された画像であり、
    前記ターゲット光平面方程式および前記ターゲットストライプの中心座標に従って、前記ターゲットストライプが前記カメラの座標系に再構成された3次元ポイントを取得すること、
    を含むことを特徴とする単眼3次元走査システムによる3次元再構成方法。
  2. 前記不可視構造の光走査モジュールを用いて前記測定対象物の深度マップを収集し、かつ前記深度マップを3次元データポイントセットに変換する前に、前記3次元再構成方法はさらに、
    前記単眼3次元走査システムを較正し、前記単眼3次元走査システムの構造パラメータを取得すること
    を含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  3. 前記単眼3次元走査システムを較正し、前記単眼3次元走査システムの構造パラメータを取得することは、
    前記カメラを較正し、前記カメラの内部および外部のパラメータを取得することと、
    前記不可視構造の光走査モジュールと前記カメラとの間の相対位置関係に対応する回転平行移動行列を取得することと、
    前記マルチラインのストライプ画像における各ストライプに対応する光平面方程式を較正し、複数の較正後の光平面方程式を取得すること、
    を含むことを特徴とする請求項2に記載の方法。
  4. 前記複数の3次元ポイント内のターゲットの3次元ポイントに対応するターゲット光平面方程式を決定することは、
    前記ターゲットの3次元ポイントから前記複数の較正後の光平面方程式へのユークリッド距離を取得し、かつ前記複数の較正後の光平面方程式から最短ユークリッド距離を有する光平面方程式を決定することと、
    前記ターゲットの3次元ポイントから前記最短ユークリッド距離の光平面方程式へのユークリッド距離が所定の距離よりも短い場合に、前記最短ユークリッド距離の光平面方程式を前記ターゲット光平面方程式と決定すること、
    を含むことを特徴とする請求項3に記載の方法。
  5. 前記ターゲットの3次元ポイントを変調後のマルチラインのストライプ画像上に投影し、前記変調後のマルチラインのストライプ画像内の前記ターゲット光平面方程式に対応するターゲットストライプを決定することは、
    前記ターゲットの3次元ポイントが前記変調後のマルチラインのストライプ画像内の投影ポイントのプリセット範囲内にストライプセグメントを有するか否かを判断することと、ここで、前記ストライプセグメントは前記変調後のマルチラインのストライプ画像に対して中心線を抽出した後に前記中心線の連通領域を分割して形成されたセグメントであり、
    前記ターゲットの3次元ポイントが前記変調後のマルチラインのストライプ画像内の投影ポイントのプリセット範囲内にストライプセグメントを有する場合に、前記ストライプセグメントを前記ターゲット光平面方程式に対応する前記ターゲットストライプと決定すること、
    を含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  6. 前記ターゲット光平面方程式および前記ターゲットストライプの中心座標に従って、前記ターゲットストライプが前記カメラの座標系に再構成された3次元ポイントを取得することは、
    AXi + BYi + CZi + D = 0
    (u - cx) / fx = Xi / Zi
    (v - cy) / fy = Yi / Zi
    の方程式に従って前記3次元ポイントの座標を決定するステップを含み、
    ここで、(Xi、Yi、Zi)は前記3次元ポイントの座標であり、A、B、C、Dは前記ターゲット光平面方程式の係数であり、(u、v)は前記ターゲットストライプの中心座標であり、(cx、cy)は前記カメラのメインポイント座標であり、fx、fyは前記カメラの等価焦点距離であることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  7. 不可視構造の光走査モジュールとカメラと投影装置とを含む単眼3次元走査システムによる3次元再構成装置であって、
    前記不可視構造光の走査モジュールを使用して測定対象物の深度マップを収集し、かつ前記深度マップを3次元データポイントセット(ここで、前記3次元データポイントセットは複数の3次元ポイントを含む)に変換するように設定された収集ユニットと、
    前記複数の3次元ポイント内のターゲットの3次元ポイントに対応するターゲット光平面方程式を決定するように設定された決定ユニットと、
    前記ターゲットの3次元ポイントを変調後のマルチラインのストライプ画像上に投影し、前記変調後のマルチラインのストライプ画像(ここで、前記変調後のマルチラインのストライプ画像は前記投影装置を用いてマルチラインのストライプ画像を測定対象物上に投影した後に前記カメラにより収集された画像である)内の前記ターゲット光平面方程式に対応するターゲットストライプを決定するように設定された投影ユニットと、
    前記ターゲット光平面方程式および前記ターゲットストライプの中心座標に従って、前記ターゲットストライプが前記カメラの座標系に再構成された3次元ポイントを取得するように設定された取得ユニットと、
    を含むことを特徴とする単眼3次元走査システムによる3次元再構成装置。
  8. 前記3次元再構成装置は、さらに、
    前記不可視構造の光走査モジュールを用いて前記測定対象物の深度マップを収集し、かつ前記深度マップを3次元データポイントセットに変換する前に、前記単眼3次元走査システムを較正し、前記単眼3次元走査システムの構造パラメータを取得するように設定された較正モジュール、
    を含むことを特徴とする請求項7に記載の装置。
  9. 記憶されたプログラムを含み、前記プログラムが実行されるときに、記憶媒体が配置された装置に請求項1〜6のいずれか1項に記載の方法を実行させるように制御する、
    ことを特徴とする記憶媒体。
  10. プログラムを実行するように設定され、前記プログラムが実行されるとき、請求項1〜6のいずれかに記載の方法を実行する、
    ことを特徴とするプロセッサ。
JP2018560102A 2017-07-17 2017-10-24 単眼3次元走査システムによる3次元再構成法および装置 Active JP6564537B1 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710581213.1A CN108269279B (zh) 2017-07-17 2017-07-17 基于单目三维扫描***的三维重构方法和装置
CN201710581213.1 2017-07-17
PCT/CN2017/107506 WO2019015154A1 (zh) 2017-07-17 2017-10-24 基于单目三维扫描***的三维重构方法和装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP6564537B1 true JP6564537B1 (ja) 2019-08-21
JP2019526033A JP2019526033A (ja) 2019-09-12

Family

ID=62770883

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018560102A Active JP6564537B1 (ja) 2017-07-17 2017-10-24 単眼3次元走査システムによる3次元再構成法および装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10783651B2 (ja)
EP (1) EP3457078B1 (ja)
JP (1) JP6564537B1 (ja)
CN (1) CN108269279B (ja)
WO (1) WO2019015154A1 (ja)

Families Citing this family (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109186492B (zh) * 2018-08-14 2020-04-24 博众精工科技股份有限公司 基于单相机的三维重建方法、装置及***
CN110443888B (zh) * 2019-08-15 2021-03-26 华南理工大学 一种形成多次反射成像的结构光三维重建装置及方法
CN110634180B (zh) * 2019-08-16 2024-02-02 河南三维泰科电子科技有限公司 一种基于相移轮廓术的多运动物体三维重构方法
CN110599569B (zh) * 2019-09-16 2023-09-15 上海市刑事科学技术研究院 一种建筑物内部二维平面图的生成方法、存储设备及终端
CN110764841B (zh) * 2019-10-10 2024-01-19 珠海格力智能装备有限公司 3d视觉应用开发平台和开发方法
US12007224B2 (en) * 2019-10-24 2024-06-11 Shining 3D Tech Co., Ltd. Three-dimensional scanner and three-dimensional scanning method
TWI722703B (zh) * 2019-12-09 2021-03-21 財團法人工業技術研究院 投影設備與投影校正方法
CN113066117B (zh) * 2019-12-13 2024-05-17 顺丰科技有限公司 箱体体积测量方法、装置、计算机设备和存储介质
CN112147625B (zh) * 2020-09-22 2024-03-01 深圳市道通科技股份有限公司 一种标定方法、装置、单目激光测量设备及标定***
CN112179292B (zh) * 2020-11-20 2022-07-08 苏州睿牛机器人技术有限公司 一种基于投影仪的线结构光视觉传感器标定方法
CN112634377A (zh) * 2020-12-28 2021-04-09 深圳市杉川机器人有限公司 扫地机器人的相机标定方法、终端和计算机可读存储介质
CN112833816A (zh) * 2020-12-31 2021-05-25 武汉中观自动化科技有限公司 一种标志点定位与智能反向定位混合的定位方法和***
CN114681089B (zh) * 2020-12-31 2023-06-06 先临三维科技股份有限公司 三维扫描装置和方法
CN112767536A (zh) * 2021-01-05 2021-05-07 中国科学院上海微***与信息技术研究所 一种对象的三维重建方法、装置、设备及存储介质
CN113077503B (zh) * 2021-03-24 2023-02-07 浙江合众新能源汽车有限公司 盲区视频数据生成方法、***、设备和计算机可读介质
CN113034676A (zh) * 2021-03-29 2021-06-25 黑芝麻智能科技(上海)有限公司 三维点云图的生成方法、装置、计算机设备和存储介质
CN113012236B (zh) * 2021-03-31 2022-06-07 武汉理工大学 一种基于交叉式双目视觉引导的机器人智能打磨方法
CN112967348A (zh) * 2021-04-01 2021-06-15 深圳大学 基于一维扫描结构光***的三维重建方法及其相关组件
CN113129357B (zh) * 2021-05-10 2022-09-30 合肥工业大学 一种复杂背景下三维扫描测量光条中心提取方法
CN113706692B (zh) * 2021-08-25 2023-10-24 北京百度网讯科技有限公司 三维图像重构方法、装置、电子设备以及存储介质
CN113776785B (zh) * 2021-09-14 2024-01-30 中国石油大学(华东) 一种单目立体视觉***三维光路分析方法
CN113983933B (zh) * 2021-11-11 2022-04-19 易思维(杭州)科技有限公司 一种多线激光传感器的标定方法
CN114264253B (zh) * 2021-12-09 2023-08-11 北京科技大学 高温物体三维轮廓非接触测量装置及其测量方法
CN114565714B (zh) * 2022-02-11 2023-05-23 山西支点科技有限公司 一种单目视觉传感器混合式高精度三维结构恢复方法
CN114719775B (zh) * 2022-04-06 2023-08-29 新拓三维技术(深圳)有限公司 一种运载火箭舱段自动化形貌重建方法及***
CN114777671A (zh) * 2022-04-25 2022-07-22 武汉中观自动化科技有限公司 工件模型处理方法、服务器、前端设备及三维扫描***
CN114798360A (zh) * 2022-06-29 2022-07-29 深圳市欧米加智能科技有限公司 Pcb板点胶的实时检测方法及相关装置
CN115082815B (zh) * 2022-07-22 2023-04-07 山东大学 基于机器视觉的茶芽采摘点定位方法、装置及采摘***
CN115345994A (zh) * 2022-08-10 2022-11-15 先临三维科技股份有限公司 三维重建方法及装置、***
CN115127493B (zh) * 2022-09-01 2023-02-10 广东三姆森科技股份有限公司 一种用于产品测量的坐标标定方法及装置
CN115289974B (zh) * 2022-10-09 2023-01-31 思看科技(杭州)股份有限公司 孔位测量方法、装置、计算机设备和存储介质
CN115657061B (zh) * 2022-12-13 2023-04-07 成都量芯集成科技有限公司 一种室内墙面三维扫描装置及方法
CN115984512B (zh) * 2023-03-22 2023-06-13 成都量芯集成科技有限公司 一种平面场景三维重建装置及方法
CN115994954B (zh) * 2023-03-22 2023-06-27 浙江伽奈维医疗科技有限公司 一种高精度大视野近红外光学相机标定装置及标定方法
CN116664408B (zh) * 2023-07-31 2023-10-13 北京朗视仪器股份有限公司 一种彩色结构光的点云上采样方法及装置

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7023432B2 (en) * 2001-09-24 2006-04-04 Geomagic, Inc. Methods, apparatus and computer program products that reconstruct surfaces from data point sets
US7440590B1 (en) * 2002-05-21 2008-10-21 University Of Kentucky Research Foundation System and technique for retrieving depth information about a surface by projecting a composite image of modulated light patterns
EP1777485A4 (en) * 2004-08-03 2012-09-19 Techno Dream 21 Co Ltd METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THREE-DIMENSIONAL FORMS
US7864309B2 (en) * 2007-05-04 2011-01-04 Burke E. Porter Machinery Company Non contact wheel alignment sensor and method
EP2249286A1 (en) * 2009-05-08 2010-11-10 Honda Research Institute Europe GmbH Robot with vision-based 3D shape recognition
US8243289B2 (en) 2009-05-29 2012-08-14 Perceptron, Inc. System and method for dynamic windowing
CN101697233B (zh) * 2009-10-16 2012-06-06 长春理工大学 一种基于结构光的三维物体表面重建方法
CN102999939B (zh) 2012-09-21 2016-02-17 魏益群 坐标获取装置、实时三维重建***和方法、立体交互设备
US9251590B2 (en) * 2013-01-24 2016-02-02 Microsoft Technology Licensing, Llc Camera pose estimation for 3D reconstruction
US9083960B2 (en) * 2013-01-30 2015-07-14 Qualcomm Incorporated Real-time 3D reconstruction with power efficient depth sensor usage
CA2938104C (en) * 2014-02-05 2019-12-17 Creaform Inc. Structured light matching of a set of curves from two cameras
KR20170058365A (ko) * 2014-09-16 2017-05-26 케어스트림 헬스 인코포레이티드 레이저 투사를 사용한 치아 표면 이미징 장치
CN106568394A (zh) 2015-10-09 2017-04-19 西安知象光电科技有限公司 一种手持式三维实时扫描方法
CN106091984B (zh) * 2016-06-06 2019-01-25 中国人民解放军信息工程大学 一种基于线激光的三维点云数据获取方法
EP3258211B1 (en) * 2016-06-17 2023-12-13 Hexagon Technology Center GmbH Determining object reflection properties with respect to particular optical measurement
JP6691837B2 (ja) * 2016-06-27 2020-05-13 株式会社キーエンス 測定装置
TWI610059B (zh) * 2016-08-04 2018-01-01 緯創資通股份有限公司 三維量測方法及應用其之三維量測裝置
CN106524917B (zh) * 2016-12-09 2019-01-11 北京科技大学 一种运输带上物体体积测量方法
CN106802138B (zh) * 2017-02-24 2019-09-24 先临三维科技股份有限公司 一种三维扫描***及其扫描方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2019526033A (ja) 2019-09-12
US10783651B2 (en) 2020-09-22
EP3457078B1 (en) 2020-06-17
EP3457078A1 (en) 2019-03-20
US20190392598A1 (en) 2019-12-26
CN108269279B (zh) 2019-11-08
EP3457078A4 (en) 2019-05-22
WO2019015154A1 (zh) 2019-01-24
CN108269279A (zh) 2018-07-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6564537B1 (ja) 単眼3次元走査システムによる3次元再構成法および装置
CA3022442C (en) Three-dimensional reconstruction method and device based on monocular three-dimensional scanning system
EP3444560B1 (en) Three-dimensional scanning system and scanning method thereof
CN108267097B (zh) 基于双目三维扫描***的三维重构方法和装置
EP2972586B1 (en) Method for generating a panoramic image
CN108151671B (zh) 一种三维数字成像传感器、三维扫描***及其扫描方法
EP3531066B1 (en) Three-dimensional scanning method including a plurality of lasers with different wavelengths, and scanner
EP2870428B1 (en) System and method for 3d measurement of the surface geometry of an object
US20190051036A1 (en) Three-dimensional reconstruction method
JP5635218B1 (ja) 空間コード化スライド画像に対するパターンのアライメント方法およびシステム
CN108510540B (zh) 立体视觉摄像机及其高度获取方法
CN106875435B (zh) 获取深度图像的方法及***
CN110009672A (zh) 提升ToF深度图像处理方法、3D图像成像方法及电子设备
CN107860337B (zh) 基于阵列相机的结构光三维重建方法与装置
WO2020063987A1 (zh) 三维扫描方法、装置、存储介质和处理器
JP7489253B2 (ja) デプスマップ生成装置及びそのプログラム、並びに、デプスマップ生成システム
CN106934110B (zh) 一种由聚焦堆栈重建光场的反投影方法和装置
JP6591332B2 (ja) 放射線強度分布測定システム及び方法
CN108961378A (zh) 一种多目点云三维重建方法、装置及其设备
JPH11183142A (ja) 三次元画像撮像方法及び三次元画像撮像装置
IL224345A (en) A device and method for spatial separation

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20181114

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20181114

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20190621

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190717

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190726

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6564537

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250