JP6557516B2 - 3次元測量装置及び3次元測量方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 158
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 70
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 65
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 42
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 15
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 18
- 230000008569 process Effects 0.000 description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 5
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 4
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 4
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 4
- 238000012951 Remeasurement Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
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- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/08—Systems determining position data of a target for measuring distance only
- G01S17/10—Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of interrupted, pulse-modulated waves
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C15/00—Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
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- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/42—Simultaneous measurement of distance and other co-ordinates
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/86—Combinations of lidar systems with systems other than lidar, radar or sonar, e.g. with direction finders
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/88—Lidar systems specially adapted for specific applications
- G01S17/89—Lidar systems specially adapted for specific applications for mapping or imaging
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
- G01S7/483—Details of pulse systems
- G01S7/486—Receivers
- G01S7/4868—Controlling received signal intensity or exposure of sensor
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/02—Details
- G01C3/06—Use of electric means to obtain final indication
- G01C3/08—Use of electric radiation detectors
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Description
又、前記水平回転部4が前記托架部5を水平方向に回転させることで、前記測距光36は前記水平回転軸11を中心に水平方向に回転照射される。従って、前記走査ミラー7の鉛直方向の回転と、前記托架部5の水平方向の回転との協働により、測定範囲全域を前記測距光36により走査できる。
又、前記内部参照光路45を経た内部参照光が、前記光路結合部43を介して前記受光素子44に受光される。
前記水平角検出器14及び前記鉛直角検出器18により、前記測距光軸37の方向を検出する角度検出部が構成される。
5 托架部
7 走査ミラー
13 水平駆動部
14 水平角検出器
15 制御演算部
17 鉛直駆動部
18 鉛直角検出器
22 測距部
23 第1撮像部
24 第2撮像部
29 走査部
31 測距光源部
33 投光光学部
34 ズーム機構
36 測距光
41 受光光学部
47 第1フィルタ部
48 第2フィルタ部
52 記憶部
59 測距光画像
Claims (7)
- パルス状の測距光を発光する光源部と、該光源部からの前記測距光を測定対象物を含む所要の範囲に走査する走査部と、前記測定対象物からの反射光に基づき測距を行う測距部と、前記測定対象物の画像を撮像する少なくとも1つの撮像部と、該撮像部の撮像光軸上に設けられたフィルタ部と、測定モードを変更可能な制御演算部とを具備し、前記フィルタ部は少なくとも前記測距光を透過させる測距光透過フィルタと、可視光を透過させる可視光透過フィルタを有し、前記制御演算部は前記測距光透過フィルタを介して前記撮像部で撮像された測距光画像と、前記可視光透過フィルタを介して前記撮像部で撮像された可視光画像との比較に基づき前記測定対象物の反射率情報を演算することを特徴とする3次元測量装置。
- 前記測距光は不可視領域の赤外光であり、前記制御演算部は前記測距光透過フィルタを介して撮像された赤外光のみの前記測距光画像と、前記可視光画像との比較に基づき前記測定対象物の反射率情報を演算する請求項1に記載の3次元測量装置。
- 前記測距光は可視領域の所定帯域の可視光であり、前記制御演算部は前記測距光透過フィルタを介して撮像された所定帯域の可視光のみの前記測距光画像と、前記可視光画像との比較に基づき前記測定対象物の反射率情報を演算する請求項1に記載の3次元測量装置。
- 前記光源部は赤外光である前記測距光を撮影光として用いる様構成され、前記測距光透過フィルタは赤外光透過フィルタであり、前記測定対象物からの反射光を前記測距光透過フィルタを介して前記撮像部に受光させて前記測距光画像を撮像する請求項1に記載の3次元測量装置。
- 前記制御演算部は、前記測定対象物の反射率情報に基づき測定モードを選択する請求項1〜請求項4のうちいずれか1つに記載の3次元測量装置。
- ズーム機構を更に具備し、該ズーム機構により前記測距光のビーム径を変更可能とした請求項1〜請求項5のうちいずれか1つに記載の3次元測量装置。
- 測定対象物の3次元情報を測定する3次元測量方法であって、前記測定対象物の測定を行う前段階として、測距光を透過させる測距光透過フィルタを介して測距光画像を撮像し、可視光を透過させる可視光透過フィルタを介して可視光画像を撮像し、前記測距光画像と前記可視光画像とに基づき前記測定対象物の反射率情報を演算し、該反射率情報を基に前記測定対象物を測定可能な測定モードを選択する工程を有することを特徴とする3次元測量方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015114219A JP6557516B2 (ja) | 2015-06-04 | 2015-06-04 | 3次元測量装置及び3次元測量方法 |
US15/163,731 US10261186B2 (en) | 2015-06-04 | 2016-05-25 | Three-dimensional surveying instrument and three-dimensional surveying method |
EP16172251.7A EP3101389B1 (en) | 2015-06-04 | 2016-05-31 | Three-dimensional surveying instrument and three-dimensional surveying method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015114219A JP6557516B2 (ja) | 2015-06-04 | 2015-06-04 | 3次元測量装置及び3次元測量方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017003284A JP2017003284A (ja) | 2017-01-05 |
JP6557516B2 true JP6557516B2 (ja) | 2019-08-07 |
Family
ID=56131323
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015114219A Active JP6557516B2 (ja) | 2015-06-04 | 2015-06-04 | 3次元測量装置及び3次元測量方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10261186B2 (ja) |
EP (1) | EP3101389B1 (ja) |
JP (1) | JP6557516B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6423032B2 (ja) * | 2017-03-29 | 2018-11-14 | 株式会社トプコン | 3次元測量装置 |
JP6959068B2 (ja) * | 2017-08-22 | 2021-11-02 | 株式会社トプコン | 転がり軸受への予圧付与構造および三次元測量装置 |
WO2019098263A1 (ja) | 2017-11-16 | 2019-05-23 | 日本電気株式会社 | 測距装置、測距方法及びプログラム |
JP7240834B2 (ja) * | 2018-08-03 | 2023-03-16 | 株式会社トプコン | 測量装置 |
JP7344732B2 (ja) * | 2019-09-25 | 2023-09-14 | 株式会社トプコン | 測量装置及び測量装置システム |
JP2021117036A (ja) * | 2020-01-23 | 2021-08-10 | 株式会社日立エルジーデータストレージ | 測距装置の測定値補正方法 |
CN113702985B (zh) * | 2021-06-28 | 2024-04-02 | 盎锐(杭州)信息科技有限公司 | 用于实测实量的测量方法及激光雷达 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7190465B2 (en) * | 2001-08-30 | 2007-03-13 | Z + F Zoller & Froehlich Gmbh | Laser measurement system |
US6922234B2 (en) * | 2002-01-23 | 2005-07-26 | Quantapoint, Inc. | Method and apparatus for generating structural data from laser reflectance images |
DE10361870B4 (de) * | 2003-12-29 | 2006-05-04 | Faro Technologies Inc., Lake Mary | Laserscanner und Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung des Laserscanners |
JP2007057498A (ja) * | 2005-08-26 | 2007-03-08 | Matsushita Electric Works Ltd | レーザ地形観測システム |
JP5173017B2 (ja) | 2008-03-20 | 2013-03-27 | トリムブレ、アクチボラグ | 効率が向上した測地スキャナ |
JP2010085205A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Topcon Corp | レーザ装置および距離測定装置 |
US8902408B2 (en) * | 2011-02-14 | 2014-12-02 | Faro Technologies Inc. | Laser tracker used with six degree-of-freedom probe having separable spherical retroreflector |
JP6120521B2 (ja) | 2012-10-19 | 2017-04-26 | 株式会社トプコン | 3次元測量装置及び3次元測量システム |
JP6045963B2 (ja) | 2013-04-05 | 2016-12-14 | 日立マクセル株式会社 | 光測距装置 |
EP2789972B1 (de) * | 2013-04-12 | 2017-08-16 | Hexagon Technology Center GmbH | Vermessungsgerät mit verformbarem optischem Element |
CN106463565B (zh) | 2013-11-22 | 2018-06-01 | 优步技术公司 | 激光雷达扫描仪校准 |
-
2015
- 2015-06-04 JP JP2015114219A patent/JP6557516B2/ja active Active
-
2016
- 2016-05-25 US US15/163,731 patent/US10261186B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2016-05-31 EP EP16172251.7A patent/EP3101389B1/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10261186B2 (en) | 2019-04-16 |
US20160356888A1 (en) | 2016-12-08 |
EP3101389A1 (en) | 2016-12-07 |
EP3101389B1 (en) | 2020-07-08 |
JP2017003284A (ja) | 2017-01-05 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180511 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190130 |
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