JP6479803B2 - テラヘルツ画像の高コントラスト準リアルタイム取得のためのシステム及び方法 - Google Patents
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Description
−Nuss(Lucent Technologies Inc.)に対して1997年4月22日付けで発行された「Method and apparatus for terahertz imaging」という名称の米国特許第5,623,145号明細書
−Nuss(Lucent Technologies Inc.)に対して1998年1月20日付けで発行された「Method and apparatus for terahertz imaging」という名称の米国特許第5,710,430号明細書
−Nuss(Lucent Technologies Inc.)に対して1998年8月4日付けで発行された「Optical system employing terahertz radiation」という名称の米国特許第5,789,750号明細書
−Brener他(Lucent Technologies Inc.)に対して1997年8月18日付けで発行された「Near field terahertz imaging」という名称の米国特許第5,894,125号明細書
−Jacobsen他(Lucent Technologies Inc.)に対して1999年8月17日付けで発行された「Systems and methods for processing and analyzing terahertz waveforms」という名称の米国特許第5,939,721号明細書
−Zhang他(Rensselaer Polytechnic Institute)に対して1999年9月14日付けで発行された「Electro−optical sensing apparatus and method for characterizing free−space electromagnetic radiation」という名称の米国特許第5,952,721号明細書
−Mittleman他(Lucent Technologies Inc.)に対して2000年6月20日付けで発行された「Method and apparatus for terahertz tomographic imaging」という名称の米国特許第6,078,047号明細書
−Zhang他(Rensselaer Polytechnic Institute)に対して2002年7月2日付けで発行された「electro−optic/magneto−optic measurement of electromagnetic radiation using chirped optical pulse」という名称の米国特許第6,414,473号明細書
−Ferguson他(Rensselaer Polytechnic Institute)の名義において2003年5月22日付けで公開された「Method and system for performing three−dimensional terahertz imaging on an object」という名称の国際特許出願公開第2003/042670号パンフレット
−Hayes他に対して2007年9月18日付けで発行された「Highly efficient waveguide pulsed THz electromagnetic radiation source and group−matched waveguide THz electromagnetic radiation source」という名称の米国特許第7,272,158号明細書
−Vodopyanov他(Microtech Instruments、Oregon State University、Stanford University)に対して2008年3月4日付けで発行された「Generation of terahertz radiation in orientation−patterned semiconductors」という名称の米国特許第7,339,718号明細書
−Vodopyanov他に対して2008年3月25日付けで発行された「Terahertz radiation generation and methods therefor」という名称の米国特許第7,349,609号明細書
−Moeller(Alcatel−Lucent USA Inc.)に対して2011年4月19日付けで発行された「Inexpensive Terahertz Pulse Wave Generator」という名称の米国特許第7,929,580号明細書
−Kozlov他(Microtech Instruments Inc.)に対して2011年10月11日付けで発行された「Terahertz tunable sources,spectrometers,and imaging systems」という名称の米国特許第8,035,083号明細書
−Khan他(Massachusetts Institute of Technology)の名義において2012年1月12日付けで公開された「Terahertz sensing system and method」という名称の米国特許出願公開第2012/0008140号(現在では、2013年8月20日付けで発行された米国特許第8,514,393号)明細書
−Kozlov他(Microtech Instruments)に対して2013年12月3日付けで発行された「Alignment and optimization of a synchronously pumped optical parametric oscillator for nonlinear optical generation」という名称の米国特許第8,599,474号明細書
−Kozlov他(Microtech Instruments)に対して2013年12月3日付けで発行された「Alignment and optimization of a synchronously pumped optical parametric oscillator for nonlinear optical generation」という名称の米国特許第8,599,475号明細書
−Kozlov et al (Microtech Instruments)に対して2013年12月3日付けで発行された「Alignment and optimization of a synchronously pumped optical parametric oscillator for nonlinear optical generation」という名称の米国特許第8,599,476号明細書
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−Jiang et al;“Improvement of terahertz imaging with a dynamic subtraction technique”;Applied Optics Vol.39 No.17 p.2982(2000)
−Nahata et al;“Two−dimensional imaging of continuous−wave terahertz radiation using electro−optic detection”;Applied Physics Letters Vol.81 No.6 p.963(2002)
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−Tekavec et al;“Video Rate 3D THz tomography’:post−deadline paper,Conference on Lasers and Electro−optics(June 8−13,2014,San Jose,California)
−アップコンバージョンビーム:1064nmにおける約600mWの平均パワー、約0.15nmのスペクトル幅、約10psのパルス持続時間、約80MHzの反復レート、直径が約7mmである非線形光学媒質36内におけるビームサイズ
−テラヘルツ撮像ビーム21:1.55THzにおける約700μWの平均パワー、約80GHzのスペクトル幅、約8psのパルス持続時間、約80MHzの反復レート、直径が約20mmである物体10におけるビームサイズ
−図2と同一の構成、f1=75mm、f2=250mm
−テラヘルツ画像ビーム20:直径が約1mmである非線形光学媒質36内におけるビームサイズ
−非線形光学媒質36:それぞれの厚さが約300μmである6枚のGaAsプレートの積層体
−偏光器39:グランレーザー偏光器、少なくとも10−4の減衰、いくつかの例においては、恐らくは、10−5程度に良好
−フィルタ38:ロングパスフィルタ、1064nmにおいて約6であるOD、1070nmにおいて0.1未満であるOD
−検出器アレイ40:CMOS検出器アレイ(Thorlabs(登録商標) P/N DCC3240N)、1280×1024ピクセル、8.69mm×5.43mmのセンサ面積、5.3μmのピクセルサイズ、正方形
Claims (30)
- 物体のアップコンバージョンされたテラヘルツ画像を取得する方法において、
(a)約0.1THz〜約10THzのテラヘルツ周波数、テラヘルツ帯域幅、テラヘルツ平均パワー、テラヘルツピークパワー、テラヘルツパルス持続時間、及びパルス反復レートによって特徴付けられたテラヘルツ撮像ビームによって前記物体を照射するステップと、
(b)前記物体によって又はその周りにおいて透過されるか又は前記物体から反射又は散乱された前記テラヘルツ撮像ビームの少なくとも一部分を収集し、且つ、非線形光学媒質を通じてテラヘルツ画像ビームとして伝播するように、その部分を導くステップであって、前記テラヘルツ画像ビームは、前記非線形光学媒質におけるテラヘルツ画像ビームサイズによって特徴付けられる、ステップと、
(c)前記非線形光学媒質を通じて伝播するようにアップコンバージョンビームを導くステップであって、前記アップコンバージョンビームは、前記非線形光学媒質内において前記テラヘルツ画像ビームと少なくとも部分的に空間的にオーバーラップしており、且つ、アップコンバージョン波長、アップコンバージョン帯域幅、アップコンバージョンパルス持続時間、アップコンバージョン平均パワー、アップコンバージョンピークパワー、パルスレート、前記非線形光学媒質におけるアップコンバージョンビームサイズによって特徴付けられている、ステップと、
(d)前記非線形光学媒質内における前記テラヘルツ画像ビームと前記アップコンバージョンビームの非線形光学相互作用により、前記テラヘルツ画像ビームと前記アップコンバージョンビームの間の和又は差周波数生成によって生成される一方又は両方の波長によって特徴付けられたアップコンバージョンされた画像ビームを形成するべく、前記テラヘルツ画像ビームの少なくとも一部分をアップコンバージョンするステップと、
(e)画像検出器を使用して前記アップコンバージョンされた画像ビームの少なくとも一部分を受け取り、且つ、前記画像検出器により、前記アップコンバージョンされた画像ビームによって前記画像検出器において形成されたアップコンバージョンされた画像を検出するステップと、
(f)画像フィルタリング要素を使用することにより、前記アップコンバージョンビームの約108分の1未満が前記画像検出器に到達することを許容するステップと、
を有し、
(g)前記パルス反復レートは、約1MHzを上回り、前記アップコンバージョン波長は、約400nm〜約3500nmであり、前記アップコンバージョン帯域幅は、約5nm未満であり、前記アップコンバージョンパルス持続時間は、約100ps未満であることを特徴とする方法。 - 請求項1に記載の方法において、前記パルス反復レートは、約50MHz〜約150MHzであり、前記アップコンバージョン波長は、約1000nm〜約1100nmであり、前記アップコンバージョン帯域幅は、約2nm未満であり、且つ、前記アップコンバージョンパルス持続時間は、約10ps未満であることを特徴とする方法。
- 請求項1に記載の方法において、空洞内テラヘルツ生成媒質を含む同期ポンピング型の光学パラメトリック発振器を使用して前記テラヘルツ撮像ビームを生成するステップを更に有し、空洞内信号及びアイドラビームは、前記テラヘルツ生成媒質内における差周波数生成によって前記テラヘルツ撮像ビームを生成することを特徴とする方法。
- 請求項3に記載の方法において、前記空洞内テラヘルツ生成媒質は、前記空洞内信号及びアイドラビームの準位相整合された差周波数生成のために構成された非線形光学材料の2枚以上の光学的に接触したプレートの積層体を有することを特徴とする方法。
- 請求項1に記載の方法において、前記画像フィルタリング要素は、1つ又は複数の波長依存フィルタを含むことを特徴とする方法。
- 請求項5に記載の方法において、前記1つ又は複数の波長依存フィルタのうちの少なくとも1つは、前記アップコンバージョン波長と前記アップコンバージョンされた画像波長のうちの1つの間の公称カットオフ波長を有するショートパス又はロングパスフィルタを有することを特徴とする方法。
- 請求項1に記載の方法において、前記アップコンバージョンビーム及び前記アップコンバージョンされた画像ビームは、相互の関係において実質的に直交するように偏光されており、且つ、前記画像フィルタリング要素は、前記アップコンバージョンビームを実質的に遮断するように構成された1つ又は複数の偏光器を含むことを特徴とする方法。
- 請求項1に記載の方法において、前記非線形光学媒質は、前記非線形光学相互作用が、準位相整合されたプロセスとなるように構成されていることを特徴とする方法。
- 請求項8に記載の方法において、前記非線形光学媒質は、非線形光学材料の2枚以上の光学的に接触したプレートの積層体を有することを特徴とする方法。
- 請求項8に記載の方法において、前記非線形光学媒質は、厚さが約300μmのGaAsの6〜12枚の光学的に接触したプレートの積層体を有し、前記テラヘルツ周波数は、約1.55THzであり、且つ、前記アップコンバージョン波長は、約1064nmであることを特徴とする方法。
- 請求項1に記載の方法において、(i)第1合焦要素が、前記テラヘルツ撮像ビームの前記部分を収集し、且つ、前記非線形光学媒質を通じて伝播するように、前記テラヘルツ画像ビームを導き、(ii)前記物体及び前記非線形光学媒質は、前記テラヘルツ画像ビームが前記非線形光学媒質において前記物体のテラヘルツ画像を形成するように、前記第1合焦要素の個々の共役平面において位置決めされており、(iii)第2合焦要素が、前記アップコンバージョンされた画像ビームの前記部分を収集し、且つ、前記画像検出器に伝播するように、前記アップコンバージョンされた画像ビームを導き、且つ、(iv)前記非線形光学媒質及び前記画像検出器は、前記アップコンバージョンされた画像ビームが前記画像検出器において前記アップコンバージョンされた画像を形成するように、前記第2合焦要素の個々の共役平面において位置決めされていることを特徴とする方法。
- 請求項1に記載の方法において、(i)有効焦点距離f1によって特徴付けられた第1合焦要素が、前記テラヘルツ撮像ビームの前記部分を収集し、且つ、前記非線形光学媒質を通じて伝播するように、前記テラヘルツ画像ビームを導き、(ii)前記物体及び前記非線形光学媒質は、前記テラヘルツ画像ビームが前記非線形光学媒質において前記物体のテラヘルツ画像の空間フーリエ変換を形成するように、それぞれ、前記第1合焦要素から約f1の距離において位置決めされており、(iii)有効焦点距離f2によって特徴付けられた第2合焦要素が、前記アップコンバージョンされた画像ビームの前記部分を収集し、且つ、前記画像検出器に伝播するように、前記アップコンバージョンされた画像ビームを導き、且つ、(iv)前記非線形光学媒質及び前記画像検出器は、前記アップコンバージョンされた画像ビームが前記画像検出器において前記アップコンバージョンされた画像を形成するように、それぞれ、前記第2合焦要素から約f2の距離において位置決めされていることを特徴とする方法。
- 請求項1に記載の方法において、前記画像検出器は、撮像検出器アレイを有し、且つ、前記アップコンバージョンされた画像を検出するステップは、前記撮像検出器アレイの複数の対応した検出器要素上において前記アップコンバージョンされた画像ビームの異なる空間的部分を同時に受け取るステップを有することを特徴とする方法。
- 請求項1に記載の方法において、前記テラヘルツ画像ビームのパルストレーンと前記アップコンバージョンビームのパルストレーンの間において前記非線形光学媒質において対応した異なる時間的オフセットを有する複数のアップコンバージョンされたテラヘルツ画像を取得するステップを更に有し、(i)前記テラヘルツ画像ビームは、前記物体から反射又は散乱された前記テラヘルツ撮像ビームの前記部分を有し、且つ、(ii)前記複数のアップコンバージョンされたテラヘルツ画像のそれぞれの画像は、前記物体内の異なる深さに対応しており、これにより、前記物体のテラヘルツ断層撮影を可能にすることを特徴とする方法。
- 請求項1に記載の方法において、テラヘルツ基準ビームを形成するべく前記テラヘルツ撮像ビームの一部分を分割するステップと、前記非線形光学媒質を通じて一緒に伝播するように、前記テラヘルツ基準ビームと前記テラヘルツ画像ビームを組み合わせるステップと、前記テラヘルツ画像ビーム及び前記テラヘルツ基準ビームの対応した異なる相対的位相を有する複数のアップコンバージョンされたテラヘルツ画像を取得するステップと、を更に有し、それぞれのアップコンバージョンされた画像の位置依存強度は、前記テラヘルツ画像ビーム及び前記テラヘルツ基準ビームの前記対応した相対的位相に少なくとも部分的に依存していることを特徴とする方法。
- 物体のアップコンバージョンされたテラヘルツ画像を取得する装置において、
(a)約0.1THz〜約10THzのテラヘルツ周波数、テラヘルツ帯域幅、テラヘルツ平均パワー、テラヘルツピークパワー、テラヘルツパルス持続時間、及びパルス反復レートによって特徴付けられたテラヘルツ撮像ビームによって前記物体を照射するように構成されたテラヘルツ供給源と、
(b)前記物体によって又はその周りにおいて透過されるか又は前記物体から反射又は散乱された前記テラヘルツ撮像ビームの少なくとも一部分を収集し、且つ、非線形光学媒質を通じてテラヘルツ画像ビームとして伝播するように、その部分を導くように構成された1つ又は複数のテラヘルツ光学コンポーネントであって、前記テラヘルツ画像ビームは、前記非線形光学媒質におけるテラヘルツ画像ビームサイズによって特徴付けられている、コンポーネントと、
(c)アップコンバージョンビームを放出するように構成された光源と、
(d)前記非線形光学媒質を通じて伝播するように、前記アップコンバージョンビームを導くように構成された1つ又は複数の光学コンポーネントであって、前記アップコンバージョンビームは、前記非線形光学媒質内において前記テラヘルツ画像ビームと少なくとも部分的に空間的にオーバーラップしており、且つ、アップコンバージョン波長、アップコンバージョン帯域幅、アップコンバージョンパルス持続時間、アップコンバージョン平均パワー、アップコンバージョンピークパワー、パルスレート、及び前記非線形光学媒質におけるアップコンバージョンビームサイズによって特徴付けられている、コンポーネントと、
(e)前記非線形光学媒質であって、前記非線形光学媒質内における前記テラヘルツ画像ビームと前記アップコンバージョンビームの非線形光学相互作用により、前記テラヘルツ画像ビームと前記アップコンバージョンビームの間の和又は差周波数生成によって生成される一方又は両方の波長によって特徴付けられたアップコンバージョンされた画像ビームを形成するべく、前記テラヘルツ画像ビームの少なくとも一部分をアップコンバージョンするように構成されている非線形光学媒質と、
(f)画像検出器であって、前記アップコンバージョンされた画像ビームの少なくとも一部分を受け取るとともに、前記アップコンバージョンされた画像ビームによって当該画像検出器において形成されたアップコンバージョンされた画像を検出するように構成された画像検出器と
(g)前記アップコンバージョンビームの約108分の1未満が前記画像検出器に到達することを許容するように構成された画像フィルタリング要素と、
を有し、
(h)前記パルス反復レートは、約1MHzを上回り、前記アップコンバージョン波長は、約400nm〜約3500nmであり、前記アップコンバージョン帯域幅は、約5nm未満であり、前記アップコンバージョンパルス持続時間は、約100ps未満であることを特徴とする装置。 - 請求項16に記載の装置において、前記パルス反復レートは、約50MHz〜約150MHzであり、前記アップコンバージョン波長は、約1000nm〜約1100nmであり、前記アップコンバージョン帯域幅は、約2nm未満であり、前記アップコンバージョンパルス持続時間は、約10ps未満であることを特徴とする装置。
- 請求項16に記載の装置において、前記テラヘルツ供給源は、空洞内テラヘルツ生成媒質を含む同期ポンピング型の光学パラメトリック発振器を含み、前記空洞内テラヘルツ生成媒質は、当該テラヘルツ生成媒質内における差周波数生成によって前記テラヘルツ撮像ビームを空洞内信号及びアイドラビームから生成するように構成されていることを特徴とする装置。
- 請求項18に記載の装置において、前記空洞内テラヘルツ生成媒質は、前記空洞内信号及びアイドラビームの準位相整合された差周波数生成のために構成された非線形光学材料の2枚以上の光学的に接触したプレートの積層体を有することを特徴とする装置。
- 請求項16に記載の装置において、前記画像フィルタリング要素は、1つ又は複数の波長依存フィルタを含むことを特徴とする装置。
- 請求項20に記載の装置において、前記1つ又は複数の波長依存フィルタの少なくとも1つは、前記アップコンバージョン波長と前記アップコンバージョンされた画像波長のうちの1つの間の公称カットオフ波長を有するショートパス又はロングパスフィルタを有することを特徴とする装置。
- 請求項16に記載の装置において、前記アップコンバージョンビーム及び前記アップコンバージョンされた画像ビームは、相互の関係において実質的に直交するように偏光されており、且つ、前記画像フィルタリング要素は、前記アップコンバージョンビームを実質的に遮断するように構成された1つ又は複数の偏光器を含むことを特徴とする装置。
- 請求項16に記載の装置において、前記非線形光学媒質は、前記非線形光学相互作用が、準位相整合されたプロセスとなるように、構成されていることを特徴とする装置。
- 請求項23に記載の装置において、前記非線形光学媒質は、非線形光学材料の2枚以上の光学的に接触したプレートの積層体を有することを特徴とする装置。
- 請求項23に記載の装置において、前記非線形光学媒質は、厚さが約300μmのGaAsの6〜12枚の光学的に接触したプレートの積層体を有し、前記テラヘルツ周波数は、約1.55THzであり、且つ、前記アップコンバージョン波長は、約1064nmであることを特徴とする装置。
- 請求項16に記載の装置において、(i)前記1つ又は複数のテラヘルツ光学コンポーネントは、前記テラヘルツ撮像ビームの前記部分を収集し、且つ、前記非線形光学媒質を通じて伝播するように、前記テラヘルツ画像ビームを導くように構成された第1合焦要素を含み、(ii)前記物体及び前記非線形光学媒質は、前記テラヘルツ画像ビームが、前記非線形光学媒質において前記物体のテラヘルツ画像を形成するように、前記第1合焦要素の個々の共役平面において位置決めされており、(iii)前記1つ又は複数の光学コンポーネントは、前記アップコンバージョンされた画像ビームの前記部分を収集し、且つ、前記画像検出器に伝播するように、前記アップコンバージョンされた画像ビームを導くように構成された第2合焦要素を含み、且つ、(iv)前記非線形光学媒質及び前記画像検出器は、前記アップコンバージョンされた画像ビームが前記画像検出器において前記アップコンバージョンされた画像を形成するように、前記第2合焦要素の個々の共役平面において位置決めされていることを特徴とする装置。
- 請求項16に記載の装置において、(i)前記1つ又は複数のテラヘルツ光学コンポーネントは、前記テラヘルツ撮像ビームの前記部分を収集し、且つ、前記非線形光学媒質を通じて伝播するように、前記テラヘルツ画像ビームを導くように構成された有効焦点距離f1によって特徴付けられた第1合焦要素を含み、(ii)前記物体及び前記非線形光学媒質は、前記テラヘルツ画像ビームが前記非線形光学媒質において前記物体のテラヘルツ画像の空間フーリエ変換を形成するように、それぞれ、前記第1合焦要素から約f1の距離において位置決めされており、(iii)前記1つ又は複数の光学コンポーネントは、前記アップコンバージョンされた画像ビームの前記部分を収集し、且つ、前記画像検出器に伝播するように前記アップコンバージョンされた画像ビームを導くように構成された有効焦点距離f2によって特徴付けられた第2合焦要素を含み、且つ、(iv)前記非線形光学媒質及び前記前記画像検出器は、前記アップコンバージョンされた画像ビームが前記画像検出器において前記アップコンバージョンされた画像を形成するように、それぞれ、前記第2合焦要素から約f2の距離において位置決めされていることを特徴とする装置。
- 請求項16に記載の装置において、前記画像検出器は、前記撮像検出器アレイの複数の対応した検出器要素上において前記アップコンバージョンされた画像ビームの異なる空間的部分を同時に受け取るように位置決め及び構成された撮像検出器アレイを有することを特徴とする装置。
- 請求項16に記載の装置において、(i)前記1つ又は複数のテラヘルツ光学コンポーネントは、前記テラヘルツ画像ビームが、前記物体から反射又は散乱された前記テラヘルツ撮像ビームの前記部分を有するように、構成されており、(ii)前記1つ又は複数のテラヘルツ光学コンポーネント又は前記1つ又は複数の光学コンポーネントの一方又は両方は、前記テラヘルツ画像ビームのパルストレーンと前記アップコンバージョンビームのパルストレーンの間において前記非線形光学媒質において異なる時間的オフセットを提供するように構成された光学遅延ラインを含み、且つ、(iii)前記1つ又は複数のテラヘルツ光学コンポーネント又は前記1つ又は複数の光学コンポーネントの一方又は両方は、対応した異なる時間的オフセットにおいて取得されたそれぞれのアップコンバージョンされたテラヘルツ画像が、前記物体内の異なる深さに対応しており、これにより、前記物体のテラヘルツ断層撮影を可能にするように、構成されていることを特徴とする装置。
- 請求項16に記載の装置において、前記1つ又は複数のテラヘルツ光学コンポーネントは、テラヘルツ基準ビームを形成するべく前記テラヘルツ撮像ビームの一部分を分割し、且つ、前記テラヘルツ画像ビーム及び前記テラヘルツ基準ビームの異なる相対的位相を伴って前記非線形光学媒質を通じて一緒に伝播するように、前記テラヘルツ基準ビーム及び前記テラヘルツ画像ビームを組み合せるように構成されており、且つ、それぞれのアップコンバージョンされた画像の位置依存強度は、前記テラヘルツ画像ビーム及び前記テラヘルツ基準ビームの前記対応した相対的位相に少なくとも部分的に依存していることを特徴とする装置。
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