JP6435532B2 - 旋光度及び屈折率の測定装置 - Google Patents
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Description
測定対象物が収容される試料室と、試料室内に収容された測定対象物の旋光度を測定する旋光度測定部と、試料室内に収容された測定対象物の屈折率に対応した情報を測定する屈折率測定部とを備え、試料室は、一方側の外部から入射する分析対象光を、収容している測定対象物内を透過させ、該測定対象物を透過した分析対象光を他方側の外部に出射させるように構成されているとともに、測定対象物を収容する空間の壁部または底部の一部が、プリズムの一つの面によって構成されており、旋光度測定部は、分析対象光を発する光源と、この分析対象光を偏光変調させて試料室に入射させる偏光変調部と、試料室を経た分析対象光の光強度を検出する強度検出部と、この強度検出部により検出された光強度情報に基づいて分析対象光の偏光特性要素を算出し測定対象物の旋光度を算出する旋光度演算部とを有し、屈折率測定部は、分析対象光を発し試料室の壁部または底部の一部をなすプリズムに入射させる光源と、プリズムに入射され試料室の壁部または底部の一部をなすプリズムの一つの面を経てプリズムから出射する分析対象光の位置情報を検出する位置検出部と、この位置検出部により検出された測定対象物の屈折率に対応した位置情報に基づいて屈折率、または、濃度を算出する屈折率(濃度)演算部とを有する
ことを特徴とするものである。
構成1を有する旋光度及び屈折率の測定装置において、旋光度演算部により算出された旋光度と、屈折率(濃度)演算部により算出された屈折率、または、濃度とに基づいて、第3パラメータの算出を行うことを特徴とするものである。
構成2を有する旋光度及び屈折率の測定装置において、屈折率(濃度)演算部は、ブリックス値を算出し、第3パラメータは、測定対象物の純糖率であることを特徴とするものである。
図1は、本発明に係る旋光度及び屈折率の測定装置の構成を示すブロック図である。
旋光度測定部2の光源10には、発光波長590nm付近の単色LEDを使用した。φ0.4mmのピンホールを通した分析対象光9を焦点距離9mmの両凸レンズ14にて平行光束とし、偏光子15及び2枚の液晶セル16,17にて構成された偏光変調部11により、偏光変調を行った。偏光子15と2枚の液晶セル16,17の方位は、それぞれ0°、45°、0°に設定した。液晶セル16,17は、信号発生部18からの交流電圧によって駆動した。液晶セル16,17には、Δn0.2、セルギャップ5.5μmのネマティック液晶を使用した。
純糖率は以下の式にて定義される。
純糖率〔%〕=(ショ糖量/全可溶性固形分)×100
ショ糖量=(26.016/100mlの液の質量(密度))×国際糖度
2 旋光度測定部
3 屈折率測定部
4,5,9,24 分析対象光
8 プリズム
8a 一つの面
10,25 光源
11 偏光変調部
12 強度検出部
13 旋光度演算部、屈折率(濃度)演算部
26 位置検出部
101 測定対象物
Claims (6)
- 測定対象物が収容される試料室と、
前記試料室内に収容された測定対象物の旋光度を測定する旋光度測定部と、
前記試料室内に収容された測定対象物の屈折率に対応した情報を測定する屈折率測定部と
を備え、
前記試料室は、一方側の外部から入射する分析対象光を、収容している測定対象物内を透過させ、該測定対象物を透過した分析対象光を他方側の外部に出射させるように構成されているとともに、測定対象物を収容する空間の壁部または底部の一部が、プリズムの一つの面によって構成されており、
前記旋光度測定部は、分析対象光を発する光源と、この分析対象光を偏光変調させて前記試料室に入射させる偏光変調部と、前記試料室を経た分析対象光の光強度を検出する強度検出部と、この強度検出部により検出された光強度情報に基づいて分析対象光の偏光特性要素を算出し前記測定対象物の旋光度を算出する旋光度演算部とを有し、
屈折率測定部は、分析対象光を発し前記試料室の壁部または底部の一部をなすプリズムに入射させる光源と、前記プリズムに入射され前記試料室の壁部または底部の一部をなす前記プリズムの一つの面で内面反射され前記プリズムの他の面から出射する分析対象光の位置情報を検出する位置検出部と、この位置検出部により検出された前記測定対象物の屈折率に対応した位置情報に基づいて屈折率、または、濃度を算出する屈折率(濃度)演算部とを有し、
前記偏光変調部は、液晶素子を含み、
前記試料室は、測定対象物を直接注入可能なように、底部に対向する上部が外気に開放されており、
前記旋光度演算部により算出された旋光度と、前記屈折率(濃度)演算部により算出された屈折率、または、濃度とに基づいて、第3パラメータの算出を行い、
前記旋光度測定部の光源と、前記屈折率測定部の光源とは、それぞれ独立したLEDを含む
旋光度及び屈折率の測定装置。 - 前記液晶素子には、液晶素子の温度を測定するための温度センサが取り付けられている請求項1の旋光度及び屈折率の測定装置。
- 測定対象物が収容される試料室と、
前記試料室内に収容された測定対象物の旋光度を測定する旋光度測定部と、
前記試料室内に収容された測定対象物の屈折率に対応した情報を測定する屈折率測定部と
を備え、
前記試料室は、一方側の外部から入射する分析対象光を、収容している測定対象物内を透過させ、該測定対象物を透過した分析対象光を他方側の外部に出射させるように構成されているとともに、測定対象物を収容する空間の壁部または底部の一部が、プリズムの一つの面によって構成されており、
前記旋光度測定部は、分析対象光を発する光源と、この分析対象光を偏光変調させて前記試料室に入射させる偏光変調部と、前記試料室を経た分析対象光の光強度を検出する強度検出部と、この強度検出部により検出された光強度情報に基づいて分析対象光の偏光特性要素を算出し前記測定対象物の旋光度を算出する旋光度演算部とを有し、
屈折率測定部は、分析対象光を発し前記試料室の壁部または底部の一部をなすプリズムに入射させる光源と、前記プリズムに入射され前記試料室の壁部または底部の一部をなす前記プリズムの一つの面で内面反射され前記プリズムの他の面から出射する分析対象光の位置情報を検出する位置検出部と、この位置検出部により検出された前記測定対象物の屈折率に対応した位置情報に基づいて屈折率、または、濃度を算出する屈折率(濃度)演算部とを有し、
前記偏光変調部は、液晶素子を含み、
前記プリズムは、前記試料室の底部の一部をなし、試料室は、測定対象物を直接注入可能なように、底部と側部のみを有し、
前記旋光度演算部により算出された旋光度と、前記屈折率(濃度)演算部により算出された屈折率、または、濃度とに基づいて、第3パラメータの算出を行い、
前記旋光度測定部の光源と、前記屈折率測定部の光源とは、それぞれ独立したLEDを含む
旋光度及び屈折率の測定装置。 - 前記試料室における分析対象光の光路は、前記プリズムの一つの面と平行である請求項1に記載の旋光度及び屈折率の測定装置。
- 前記屈折率(濃度)演算部は、ブリックス値を算出し、
前記第3パラメータは、前記測定対象物の純糖率である
ことを特徴とする請求項1乃至4の何れかに記載の旋光度及び屈折率の測定装置。 - 測定対象物が収容される試料室と、
前記試料室内に収容された測定対象物の旋光度を測定する旋光度測定部と、
前記試料室内に収容された測定対象物の屈折率に対応した情報を測定する屈折率測定部と
を備え、
前記試料室は、一方側の外部から入射する分析対象光を、収容している測定対象物内を透過させ、該測定対象物を透過した分析対象光を他方側の外部に出射させるように構成されているとともに、測定対象物を収容する空間の壁部または底部の一部が、プリズムの一つの面によって構成されており、
前記旋光度測定部は、分析対象光を発する光源と、この分析対象光を偏光変調させて前記試料室に入射させる偏光変調部と、前記試料室を経た分析対象光の光強度を検出する強度検出部と、この強度検出部により検出された光強度情報に基づいて分析対象光の偏光特性要素を算出し前記測定対象物の旋光度を算出する旋光度演算部とを有し、
屈折率測定部は、分析対象光を発し前記試料室の壁部または底部の一部をなすプリズムに入射させる光源と、前記プリズムに入射され前記試料室の底部の一部をなす前記プリズムの一つの面で内面反射され前記プリズムの他の面から出射する分析対象光の位置情報を検出する位置検出部と、この位置検出部により検出された前記測定対象物の屈折率に対応した位置情報に基づいて屈折率、または、濃度を算出する屈折率(濃度)演算部とを有し、
前記偏光変調部は、液晶素子を含み、
前記液晶素子には、液晶素子の温度を測定するための温度センサが取り付けられており、
前記試料室における分析対象光の光路は、前記プリズムの一つの面と平行であり、且つ、当該分析対象光は平行光であり、
前記屈折率測定部の光源から、前記プリズムの一つの面に入射する分析対象光は発散光であり、
前記旋光度演算部により算出された旋光度と、前記屈折率(濃度)演算部により算出された屈折率、または、濃度とに基づいて、第3パラメータの算出を行い、
前記旋光度測定部の光源と、前記屈折率測定部の光源とは、それぞれ独立したLEDを含む
旋光度及び屈折率の測定装置。
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