JP6365231B2 - 検査装置、検査方法 - Google Patents
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Description
まず、検査装置10の構成を説明する。図1は、本実施形態に係る検査装置10の構成を示す概略図である。なお、下記の説明で用いるX方向、−X方向、上方(Y方向)、下方(−Y方向)、Z方向及び−Z方向は、図中に示す矢印方向である。また、図中の「○」の中に「×」が記載された記号は、紙面の手前から奥へ向かう矢印を意味し、図中の「○」の中に「・」が記載された記号は、紙面の奥から手前へ向かう矢印を意味する。
検査装置10の検査対象となるプリント基板200、300の上面には、図2(A)及び図2(B)に示されるように、基板の種類を識別するための識別子220(例えば、バーコード、二次元コード等)が設けられている。プリント基板200は、後述のように、コネクタ210が実装されるプリント基板であり、プリント基板200の識別子220には、コネクタ210が実装されるべき基板の種類であることが示されている。
設置部20は、図1に示されるように、本体プレート22と、プリント基板200、300(図2参照)が設置される設置プレート24と、可動部材の一例としてのスペーサ28と、スペーサ28を移動させる移動部30と、を備えている。
(下治具70)
下治具70は、図1に示されるように、下プレート72と、移動機構79と、通電部の一例としての複数のプローブピン74と、を有している。
上治具60は、上プレート62と、移動機構69と、通電部としてのプローブピン64と、押部66、63と、識別部の一例としての読取部68と、を有している。
検査装置10は、図10に示されるように、上治具60の移動機構69、下治具70の移動機構79及び移動部30のシリンダ32を含む各部の駆動を制御する制御部90を有している。この制御部90には、検出部80、82の受光部80B、82Bが接続されており、受光部80B、82Bでの反射光の検出結果の情報(コネクタ210の部分Pへの実装の有無情報)が、制御部90へ送られる。
次に、検査装置10を用いたプリント基板200、300の検査方法を説明する。図11には、検査方法のフローが示されている。
本実施形態では、スペーサ28とコネクタ210とは、厚み(上下方向長さ)が同じとされており、押部66で押された状態において、スペーサ28の上面の高さ方向の位置とコネクタ210の上面の高さ方向の位置と同じ高さとされていたが、これに限られない。
。例えば、スペーサ28の厚みを、コネクタ210の厚みの2倍以下の厚みとしてもよい。この場合では、コネクタ210の上面の高さと、プリント基板300の上面の高さとの差よりも、コネクタ210の上面の高さと、プリント基板300に押し付けられた状態のスペーサ28の上面の高さとの差が小さくなる。すなわち、押部66が、コネクタ210の上面に押す場合と、プリント基板300の上面に押す場合との高低差よりも、押部66が、コネクタ210の上面に押す場合と、スペーサ28の上面に押す場合との高低差が小さくなる。
以上のように、スペーサ28の厚みとコネクタ210の厚みとが異なっていてもよい。すなわち、スペーサ28の厚みが、コネクタ210の厚みよりも薄くてもよいし、厚くてもよくてもよい。
28 スペーサ(可動部材の一例)
30 移動部
46 圧縮ばね(弾性部材の一例)
66 押部
68 読取部(識別部の一例)
74 プローブピン(通電部の一例)
80、82 検出部
92 記憶部
94 警告部
200 プリント基板
210 コネクタ(部品の一例)
240 パッド(接触点の一例)
300 プリント基板
P 実装部
Claims (8)
- 基板上面の予め定められた部分に部品が実装されている場合、可動部材を該基板から離れた位置に位置させ、該部分に該部品が実装されていない場合、該可動部材を該位置から該部分に移動させる移動部と、
該部品又は該可動部材を介して該基板を下へ押す押部と、
該基板下面の接触点に接触して通電する通電部と、
を備える検査装置。 - 前記基板上面よりも高い高位置に弾性力によって前記可動部材を位置させる弾性部材を備え、
前記移動部は、前記部分に前記部品が実装されていない場合、前記可動部材を前記高位置に位置する状態で前記離れた位置から前記部分へ移動させ、
前記押部は、前記弾性力に対抗し、前記可動部材を介して前記基板を下へ押す
請求項1に記載の検査装置。 - 前記部品の前記部分への実装の有無を検出する検出部を備え、
前記移動部が、前記検出部の検出結果に応じて前記可動部材を前記離れた位置に位置させ、又は、前記部分に移動させる請求項1又は2に記載の検査装置。 - 前記基板の種類を識別する識別部と、
前記基板の種類と前記部品の前記部分への実装の有無との対応を記憶する記憶部と、
前記識別部により識別した基板の種類と前記検出部により検出された部品の前記部分への実装の有無との対応が、前記記憶部に記憶したものと相違する場合、警告を発する警告部と、
を備える請求項3に記載の検査装置。 - 基板上面の予め定められた部分に部品が実装されている場合、可動部材を該基板から離れた位置に位置させ、該部分に該部品が実装されていない場合、該可動部材を該位置から該部分に移動させる移動工程と、
該部品又は該可動部材を介して該基板を下へ押す押し工程と、
該基板下面の接触点に接触して通電する通電工程と、
を有する検査方法。 - 前記移動工程では、
前記部分に前記部品が実装されていない場合、前記可動部材が弾性部材の弾性力で前記基板上面よりも高い高位置に位置する状態で、前記可動部材を前記部分へ移動させ、
前記押し工程では、前記弾性力に対抗し、前記可動部材を介して前記基板を下へ押す
請求項5に記載の検査方法。 - 前記部品の前記部分への実装の有無を検出する検出工程と、
前記移動工程では、前記検出工程の検出結果に応じて、前記可動部材を前記離れた位置に位置させ、又は、前記部分に移動させる
請求項5又は6に記載の検査方法。 - 前記基板の種類を識別する識別工程と、
前記識別工程で識別した基板の種類と前記検出工程で検出した部品の前記部分への実装の有無との対応が、記憶部で記憶している基板の種類と部品の前記部分への実装の有無との対応と相違する場合、警告を発する警告工程と、
を有する請求項7に記載の検査方法。
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