JP6308637B1 - 特徴量を用いた3次元計測方法およびその装置 - Google Patents
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Abstract
Description
そこで、本発明の目的は、上記問題を解決するものであり、3つ以上の特徴量の組を用いた3次元計測方法およびその装置を提供することである。
前記計測対象物表面に投影された前記パターンまたは前記パターンの変化を撮影するステップと、
基準物体を用いて予め求められた前記各3つ以上の特徴量の組と前記空間座標との関係を用いて、前記撮影して得られた画像を基に得られた3つ以上の特徴量の組から、前記空間座標を求めるステップと、
を含む前記計測対象物表面の空間座標を求める計測方法である。
上記一実施態様において、前記各3つ以上の特徴量の組と前記各空間座標との関係をテーブル化しておき、前記計測対象物表面の各空間座標の計測時には、前記テーブルを参照した値に基づいて前記計測対象物表面の空間座標を求める。
また、上記一実施態様において、前記各3つ以上の特徴量の組と前記各空間座標との関係の一部をテーブル化しておき、前記計測対象物表面の空間座標の計測時には、前記テーブルを参照した値を用いて補間することにより、前記計測対象物表面の空間座標を求める。
上記一実施態様において、前記複数の位置から投影される光の波長を複数にすることで同時に複数の特徴量を得る、前記計測対象物表面の空間座標を求める。
上記一実施態様において、前記複数の位置は、一列に並んで配置されている、前記計測対象物表面の空間座標を求める。
本発明の一実施態様において、3つ以上の特徴量の複数の組を含み、前記各3つ以上の特徴量の組が計測領域内もしくは前記計測領域内の部分領域内で各空間座標と1対1の対応関係となるように配置された複数の位置から基準物体表面に、前記複数の位置と前記基準物体との距離を変更して複数の間隔でパターンまたは前記パターンの変化を投影して、3つ以上の特徴量の組と前記空間座標との関係を求める。
上記の一実施態様において、前記基準物体表面に格子パターンあるいはマークを固定する。
上記一実施態様において、前記複数の位置から投影される光の波長を複数用いる。
上記一実施態様において、前記複数の位置は、一列に並んで配置されている。
前記計測対象物表面に投影された前記パターンまたは前記パターンの変化を撮影する撮像部と、
前記各3つ以上の特徴量の組と前記各空間座標との関係を記憶する記憶部と、
前記記憶手段に記憶された前記3つ以上の特徴量の組と前記各空間座標との関係を用いて、前記撮影して得られた画像を基に得られた3つ以上の特徴量の組から、前記空間座標を求める空間座標取得部と、
を備えた前記計測対象物表面の空間座標を求める計測装置である。
上記一実施態様において、前記各3つ以上の特徴量の組と前記各空間座標との関係はテーブル化して前記記憶部に記憶され、前記計測対象物表面の空間座標の計測時には、前記テーブルを参照した値に基づいて前記計測対象物表面の空間座標を求める。
上記一実施態様において、前記各3つ以上の特徴量の組と前記空間座標との関係の一部がテーブル化して前記記憶部に記憶され、前記計測対象物表面の空間座標の計測時には、前記テーブルを参照した値を用いて補間することにより、前記計測対象物表面の空間座標を求める。
上記一実施態様において、前記投影部の複数の位置から投影される光の波長を異なったものとすることで同時に複数の前記特徴量を得る。
上記一実施形態において、前記複数の位置は、一列に並んで配置されて、前記計測対象物表面の空間座標を求める。
本発明の一実施態様では、3つ以上の特徴量の複数の組を含み、前記各3つ以上の特徴量の組が計測領域内もしくは前記計測領域内の部分領域内で各空間座標と1対1の対応関係となるように配置された複数の位置からパターンまたは前記パターンの変化を投影する投影部と、
前記複数個と基準物体との間隔を変更する変更部と、
前記複数個の投影部と前記基準物体との距離を変更して複数の間隔で、前記パターンまたは前記パターンの変化を撮影する撮像部と、
前記撮像部により撮像された画像と、前記複数の投影部と前記基準物体との距離を基に、3つ以上の特徴量の組と前記空間座標との関係を求める計測装置である。
上記一実施態様において、前記複数の位置は、一列に並んで配置されていることを特徴とする、3つ以上の特徴量の組と前記空間座標との関係を求める。
上記一実施態様において、前記投影部は一つの投影ユニットからなり、前記撮像部は複数個のカメラからなり、前記複数個のカメラは前記投影ユニットに設けられている。
1.計測原理の説明
1.1 キャリブレーション
まず、本発明に係る計測原理について説明する。ここでは、説明を簡単にするため、2個の特徴量を用いて2次元の座標(x, z)を求めるとして説明する。実際は3次元空間の空間座標(x, y, z)を求めるために、3次元に拡張する必要があるが、下記に述べるプロジェクターの数を3個以上とし、そこから得られる特徴量を3個以上にすることで、3次元の空間座標を同様の方法で求めることができる。
図3に示すように、光源5Aが点灯すると、格子ガラス4Aに取り付けられている格子パターン8Aが、基準面7や物体6(計測対象物)に投影される。
図4に示すように、光源5Bと格子ガラス4Bについても同様に,光源5Bが点灯すると格子ガラス4Bに取り付けられている格子パターン8Bが基準面7や物体6(計測対象物)に投影される。
次に特徴量Aと特徴量Bの組(φA, φB)から座標(x, z)を求める特徴量−座標テーブルを作成する手順を示す。図11に示すように、まず前述のキャリブレーション手法によって、基準面7の位置ごとに、画素ごとの離散的な分布として取得された基準取得点を特徴量空間に射影する。ここで、特徴量空間は、特徴量Aと特徴量Bを座標軸とする空間である。基準取得点ごとにその点における特徴量の組(φA, φB)と座標(x, z)が得られているため、特徴量空間へ射影することができ、射影された基準取得点ごとに座標(x, z)が得られている状態となる。
次に、物体6(計測対象物)表面上の点の座標(x, z)を計測する手順を示す。まず、カメラ2を計測対象物体が撮影できる位置に設置する。このとき、カメラ1と基準面7は不要であるので、除去してもよい。
計測対象空間内に配置された計測対象物である物体6をカメラ12で撮影する場合は、各点ごとに3個の位相値が得られることになる。そして、対象物の3次元計測を行う場合には、カメラ12で撮影された画像から得られた3個以上の位相値から、そのテーブルを参照することで、3次元座標値を得ることができる。
また、コンピュータ30、記憶手段31、または、記憶媒体32が行なう演算処理または記憶処理は、それらの一部をインターネットなどの通信回線を経由し、図示しない別のコンピュータなどの処理装置で動作させてもよい。
なお本明細書において、以上に述べた複数個の特徴量と空間座標の対応関係をもとにして空間座標を求める手法を「特徴量型全空間計測手法」と呼び,その対応関係をテーブル化して空間座標を求める手法を「特徴量型全空間テーブル化手法」と呼ぶことにする。
以下、装置の構成例を示す。図19は、縦方向の格子を投影する格子投影部が左右に取り付けられており、中央部に横方向の格子を投影する格子投影部が取り付けられている形態である。このようにすることで、複数個の特徴量の組が計測領域内もしくはその部分領域内で一意になるようにできる。
また、格子投影部として液晶プロジェクターのように2方向格子パターンを投影できるものを用いることができる。この場合は、1個の投影部で2個の特徴量を得ることができる。そのため、このような投影部を用いる場合は、3次元の空間座標を求めるためには、少なくとも2個の格子投影部が必要となる。
(1)瞬時に3次元座標値を求めることができ、系統誤差も入らず精度よく座標が得られる。
(2)カメラの位置に無関係に3次元座標値が得られる。すなわち、カメラやレンズの位置が変化してもよく、ズームやピント調整も可能となる。カメラを複数個にしても、テーブルを増やす必要はない。
(3)振動下であっても,格子投影部分のみ強固にして振動対策をしておけばよい。
以下に、特徴量型全空間計測手法の実験例を示す。この実験では、簡単にするため、2個の特徴量を用いて(x, z)座標を求める実験を行った。図24に、2台のプロジェクターと基準面7、計測対象物体,テーブル作成用カメラであるカメラ1,計測用カメラであるカメラ2の配置を示す。
2 カメラ
3 格子投影ユニット
4A 格子ガラス
4B 格子ガラス
5A 光源
5B 光源
6 物体
7 基準面
8A 格子パターン
8B 格子パターン
9 リニアステージ
10 液晶モニタ
11 平板
12 カメラ
13 カメラ
14 移動ロボット
15A 格子パターン
15B 格子パターン
16 ズームレンズ付きカメラ
17 カメラ
18 カメラ
19 カメラ
20 カメラ
30 コンピュータ
31 記憶手段
32 記憶媒体
Claims (21)
- 3つ以上の特徴量の複数の組を含み、前記各3つ以上の特徴量の組が計測領域内もしくは前記計測領域内の部分領域内で各空間座標と1対1の対応関係となるように配置された複数の位置から、計測対象物表面に、パターンまたは前記パターンの変化を投影するステップと、
前記計測対象物表面に投影された前記パターンまたは前記パターンの変化を撮影するステップと、
基準物体を用いて予め求められた前記各3つ以上の特徴量の組と前記空間座標との関係を用いて、前記撮影して得られた画像を基に得られた3つ以上の特徴量の組から、前記空間座標を求めるステップと、
を含む前記計測対象物表面の空間座標を求める計測方法。 - 請求項1において、前記各3つ以上の特徴量の組と前記各空間座標との関係をテーブル化しておき、前記計測対象物表面の空間座標の計測時には、前記テーブルを参照した値に基づいて前記計測対象物表面の空間座標を求める計測方法。
- 請求項1において、前記各3つ以上の特徴量の組と前記各空間座標との関係の一部をテーブル化しておき、前記計測対象物表面の空間座標の計測時には、前記テーブルを参照した値を用いて補間することにより、前記計測対象物表面の空間座標を求める計測方法。
- 請求項1〜3の何れか一つにおいて、前記複数の位置から投影される光の波長を複数にすることで同時に複数の特徴量を得る、前記計測対象物表面の空間座標を求める計測方法。
- 請求項1〜4の何れか一つにおいて、前記複数の位置は、一列に並んで配置されている、前記計測対象物表面の空間座標を求める計測方法。
- 請求項1〜5の何れか一つにおいて、前記3つ以上の特徴量の組と前記各空間座標との関係は、前記複数の位置から前記基準物体の表面に、前記複数の位置と前記基準物体との距離を変更して複数の間隔で前記パターンまたは前記パターンの変化を投影して、3つ以上の特徴量の組と空間座標との関係を求める方法。
- 3つ以上の特徴量の複数の組を含み、前記各3つ以上の特徴量の組が計測領域内もしくは前記計測領域内の部分領域内で各空間座標と1対1の対応関係となるように配置された複数の位置から基準物体表面に、前記複数の位置と前記基準物体との距離を変更して複数の間隔でパターンまたは前記パターンの変化を投影して、3つ以上の特徴量の組と前記空間座標との関係を求める方法。
- 請求項6または7の何れか一つにおいて、前記基準物体表面に格子パターンあるいはマークを固定する、3つ以上の特徴量の組と空間座標との関係を求める方法。
- 請求項6〜8の何れか一つにおいて、前記複数の位置から投影される光の波長を複数にすることで、3つ以上の特徴量の組と空間座標との関係を求める方法。
- 請求項6〜9の何れか一つにおいて、前記複数の位置は、一列に並んで配置されていることを特徴とする、3つ以上の特徴量の組と前記空間座標との関係を求める方法。
- 3つ以上の特徴量の複数の組を含み、前記各3つ以上の特徴量の組が計測領域内もしくは前記計測領域内の部分領域内で各空間座標と1対1の対応関係となるように配置された複数の位置から、計測対象物表面に、パターンまたは前記パターンの変化を投影する投影部と、
前記計測対象物表面に投影された前記パターンまたは前記パターンの変化を撮影する撮像部と、
前記各3つ以上の特徴量の組と前記各空間座標との関係を記憶する記憶部と、
前記記憶手段に記憶された前記3つ以上の特徴量の組と前記各空間座標との関係を用いて、前記撮影して得られた画像を基に得られた3つ以上の特徴量の組から、前記空間座標を求める空間座標取得部と、
を備えた前記計測対象物表面の空間座標を求める計測装置。 - 請求項11において、前記各3つ以上の特徴量の組と前記各空間座標との関係はテーブル化して前記記憶部に記憶され、前記計測対象物表面の空間座標の計測時には、前記テーブルを参照した値に基づいて前記計測対象物表面の空間座標を求める計測装置。
- 請求項11において、前記各3つ以上の特徴量の組と前記空間座標との関係の一部がテーブル化して前記記憶部に記憶され、前記計測対象物表面の空間座標の計測時には、前記テーブルを参照した値を用いて補間することにより、前記計測対象物表面の空間座標を求める計測装置。
- 請求項11〜13の何れか一つにおいて、前記投影部の複数の位置から投影される光の波長を異なったものとすることで同時に複数の前記特徴量を得る、前記計測対象物表面の空間座標を求める計測装置。
- 請求項11〜14の何れか一つにおいて、前記複数の位置は、一列に並んで配置されている、前記計測対象物表面の空間座標を求める計測装置。
- 請求項11〜15の何れか一つにおいて、前記各3つ以上の特徴量と前記各空間座標との関係は、前記投影部の複数の位置から基準物体表面に、前記投影部と前記基準物体との距離を変更して複数の間隔で前記パターンまたは前記パターンの変化を投影して求める、3つ以上の特徴量の組と空間座標との関係を求める計測装置。
- 請求項11〜15の何れか一つにおいて、前記各3つ以上の特徴量と前記各空間座標との関係は、前記投影部と同じ構成を有する他の投影部を用い、前記他の投影部から基準物体表面に、前記他の投影部と前記基準物体との距離を変更して複数の間隔で前記パターンまたは前記パターンの変化を投影して求める、3つ以上の特徴量の組と空間座標との関係を求める計測装置。
- 3つ以上の特徴量の複数の組を含み、前記各3つ以上の特徴量の組が計測領域内もしくは前記計測領域内の部分領域内で各空間座標と1対1の対応関係となるように配置された複数の位置からパターンまたは前記パターンの変化を投影する投影部と、
前記複数個と基準物体との間隔を変更する変更部と、
前記複数個の投影部と前記基準物体との距離を変更して複数の間隔で、前記パターンまたは前記パターンの変化を撮影する撮像部と、
前記撮像部により撮像された画像と、前記複数の投影部と前記基準物体との距離を基に、3つ以上の特徴量の組と前記空間座標との関係を求める計測装置。 - 請求項17または18の何れか一つにおいて、前記基準物体表面に格子パターンあるいはマークを固定する、3つ以上の特徴量の組と空間座標との関係を求める計測装置。
- 請求項16〜18の何れか一つにおいて、前記複数の位置は、一列に並んで配置されていることを特徴とする、3つ以上の特徴量の組と前記空間座標との関係を求める計測装置。
- 請求項11から20の何れか一つにおいて、前記投影部は一つの投影ユニットからなり、前記撮像部は複数個のカメラからなり、前記複数個のカメラは前記投影ユニットに設けられている、計測装置。
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