JP6281421B2 - 振動型角速度センサ - Google Patents

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Description

本発明は、振動型角速度センサに関するものである。
従来、特許文献1において、振動型の角速度センサが提案されている。この角速度センサでは、角速度センサに備えられる可動部の駆動振動や検出振動方向がxy平面上である場合において、z軸方向への不要振動が発生したときに、検出信号に不要振動に起因する不要信号が含まれることから、これを補正するようにしている。具体的には、可動部に補正電極を形成し、この補正電極によって検出信号に含まれる不要信号と逆位相の補正信号を取り出し、検出信号に対して付加することで、不要信号を減衰するようにしている。
特開2011−59040号公報
上記した特許文献1に記載されているように、不要振動は、本来可動部を振動させたい方向以外の方向に振動するものであり、この不要振動によって検出信号にノイズが付加され、振動型角速度センサの検出精度を低下させている。特許文献1に示されるように、補正電極によって逆位相の補正信号を取り出して検出信号から不要信号を減衰することができたとしても、不要振動を抑制することができないため、不要振動自体を抑制することが望まれる。
また、従来では、可動部の剛性向上や周波数設計によって不要振動が生じ難くなるようにすることも行われているが、不要振動の方向や大きさが変わるような場合、つまりゆらぎを持つ場合には対応できない。
そこで、本発明者らは、不要振動を抑制することが可能な振動型角速度センサとして、以下のように構成される振動型角速度センサについて試作検討を行った。この振動型角速度センサは、センサ構造体が構成される基板の平面上における一方向をx軸、それに対する垂直方向をy軸、基板の平面に対する法線方向をz軸として、センサ構造体をxy平面上に構成し、z軸方向の不要振動を抑制する機能を備えている。
例えば、基板に含まれる半導体層をパターニングすることで固定部と可動部を形成すると共に、可動部を支持する検出梁や駆動梁を含む梁部を形成することでセンサ構造体を形成し、上記した振動型角速度センサを構成している。
具体的には、固定部を中心としてy軸方向に検出梁を延設すると共に、固定部を挟んでx軸方向の両側に可動部となる駆動錘と検出錘を兼ねる駆動兼検出用錘を配置し、駆動兼検出用錘を中心としてy軸方向に駆動梁を延設している。そして、検出梁のうち固定部と反対側の先端および駆動梁のうち駆動兼検出用錘と反対側の先端を支持部材で連結し、駆動梁と支持部材および駆動兼検出用錘によって四角形の枠体を構成している。駆動梁には電圧印加に基づいて駆動梁と共に駆動兼検出用錘をx軸方向に駆動振動させる駆動部と、電圧印加に基づいてz軸方向への不要振動を抑制するための制御部を配置している。また、検出梁には角速度印加時における検出梁の変位を電気的に取り出すことで角速度検出を行う検出部を配置している。
このような構成において、角速度検出時には、駆動部に対して駆動用電圧の印加を行うことで、固定部を挟んで両側に位置する駆動梁および駆動兼検出用錘を互いに逆方向に駆動振動させる。この状態で角速度が印加されると、xy平面上において、y軸方向への移動を含む固定部を中心とした回転方向に変位する変位振動が生じる。このため、検出梁が変位し、その変位を検出梁に備えられた検出部から電気信号として取り出すことで角速度検出を行うことが可能となる。
また、z軸方向において不要振動が発生したときには、制御部に対して不要振動を抑制するための電圧を印加し、不要振動と逆位相の振動を発生させることで、不要振動を打ち消す。これにより、不要振動を抑制することが可能となる。このように不要振動をフィードバックし、不要振動を打ち消すように制御部を駆動して振動を発生させることができることから、不要振動の方向や大きさが変わったとしても、それに対応することも可能となる。
しかしながら、このような構成において不要振動を的確に抑制するためには、z軸方向に生じる不要振動をx軸方向に生じる駆動振動やx軸およびy軸方向に生じる検出振動から分離することが重要である。つまり、振動の軸を分離してz軸方向の不要振動を的確に検出できるようにすることが必要となる。
なお、ここでは不要振動を抑制するために、駆動梁に対して制御部を備えた構造とする場合を例に挙げたが、不要振動の抑制については他の形態もあるし、角速度の検出信号から不要振動成分を取り除いて角速度検出の精度を高めることも可能である。これらのいずれの形態を適用する場合にも、不要振動を的確に検出することが重要である。
本発明は上記点に鑑みて、振動型角速度センサに発生する振動の軸を分離して、不要振動を的確に検出できるようにすることを目的とする。
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明にかかる振動型角速度センサでは、基板(1)に対して固定された固定部(20、100)と、駆動錘(31、32、122)および検出錘(31、32、121)とを有する可動部(30、120)と、駆動錘を基板の平面と平行な平面上において移動可能としつつ固定部に対して支持する駆動梁(42、114)、および、検出錘を基板の平面と平行な平面上において移動可能としつつ固定部に対して支持する検出梁(41、113)を有する梁部(40、110)と、を備え、駆動錘を基板の平面上における一方向に駆動振動させ、角速度の印加に伴って検出錘が基板の平面上において一方向に対する垂直方向にも振動することに基づき角速度検出を行う。
このような構成において、駆動錘を駆動振動させる駆動部(51、131)と、角速度の印加に伴う検出梁の変位を検出する検出素子(53、133)と、振動方向をx軸方向、基板の平面と平行な平面上におけるx軸方向に対する垂直方向をy軸方向、x軸方向およびy軸方向に対する垂直方向をz軸方向として、駆動錘のx軸方向の振動を検出するx軸振動検出部(61、65、141、145)、駆動錘のy軸方向の振動を検出するy軸振動検出部(62、67、142、147)、および、駆動錘のz軸方向の振動を検出するz軸振動検出部(63、143)を備えた不要振動検出部(60、140)と、を有していることを特徴としている。
このように、x軸振動検出部、y軸振動検出部およびz軸振動検出部を備えた不要振動検出部を備えている。このような構成では、駆動錘のx軸方向の振動をx軸振動検出部にて検出すると共に、y軸方向の振動をy軸振動検出部にて検出し、z軸方向の振動からx軸方向およびy軸方向の振動に基づいて発生しているz軸方向の振動成分を除去することができる。これにより、z軸方向の振動に含まれる不要振動成分を抽出することが可能となる。したがって、振動型角速度センサに発生する振動の軸を分離して、不要振動を的確に検出することが可能となる。
なお、上記各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係の一例を示すものである。
本発明の第1実施形態にかかる振動型角速度センサの上面図である。 図1に示す振動型角速度センサの斜視図である。 図1におけるIII−III’断面図である。 図1におけるIV−IV’断面図である。 図1における二点鎖線で囲んだ領域の詳細拡大図である。 図5中VI−VI’断面図である。 図1に示す振動型角速度センサの駆動振動時の様子を示した上面図である。 図1に示す振動型角速度センサの角速度印加時の様子を示した上面図である。 第2実施形態で説明する振動型角速度センサの断面図である。 図9に示す振動型角速度センサの製造工程を示した図である。 図10に続く振動型角速度センサの製造工程を示した図である。 図11に続く振動型角速度センサの製造工程を示した図である。 本発明の第3実施形態にかかる振動型角速度センサの斜視図である。 図13における二点鎖線で囲んだ領域の詳細拡大図である。 他の実施形態で説明する不要振動検出部60の構成例の一例を示した拡大図である。 他の実施形態で説明する不要振動検出部60の構成例の一例を示した拡大図である。
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、同一符号を付して説明を行う。
(第1実施形態)
本発明の第1実施形態について説明する。本実施形態で説明する振動型角速度センサ(ジャイロセンサ)は、物理量として角速度を検出するためのセンサであり、例えば車両の上下方向に平行な中心線周りの回転角速度の検出に用いられるが、勿論、振動型角速度センサを車両用以外に適用することもできる。
以下、図1〜図8を参照して、本実施形態にかかる振動型角速度センサについて説明する。なお、図1および図2では、図面を簡略化してあるが、図1の二点鎖線で囲んだ部分を拡大すると、図5に示す構造になっている。
振動型角速度センサは、図1中のxy平面が車両水平方向に向けられ、z軸方向が車両の上下方向と一致するようにして車両に搭載される。振動型角速度センサは、板状の基板10を用いて形成されている。本実施形態では、基板10は、支持基板11と半導体層12とで犠牲層となる埋込酸化膜13を挟み込んだ構造とされたSOI(Silicon on insulator)基板にて構成されている。この基板10の平面の一方向がx軸、この平面上におけるx軸に対する垂直方向がy軸、この平面の法線方向かつx軸およびy軸に対する垂直方向がz軸となり、この基板10の平面がxy平面と平行な平面をなしている。このような基板10を用いて振動型角速度センサが構成されており、図2に示すように、例えば半導体層12側をセンサ構造体のパターンにエッチングしたのち埋込酸化膜13を部分的に除去し、センサ構造体の一部をリリースすることで構成されている。なお、図中では支持基板11を簡略化して記載してあるが、実際には平面板状で構成されている。また、図2は断面図ではないが、図を見やすくするために、支持基板11および埋込酸化膜13にハッチングを示してある。
半導体層12は、固定部20と可動部30および梁部40とにパターニングされている。固定部20は、図2に示すように、少なくともその裏面の一部に埋込酸化膜13が残されており、支持基板11からリリースされることなく、埋込酸化膜13を介して支持基板11に固定された状態とされている。可動部30および梁部40は、振動型角速度センサにおける振動子を構成するものである。可動部30は、その裏面側において埋込酸化膜13が除去されており、支持基板11からリリースされている。梁部40は、可動部30を支持すると共に角速度検出を行うために可動部30をx軸方向およびy軸方向において変位させるものである。これら固定部20と可動部30および梁部40の具体的な構造を説明する。
固定部20は、可動部30を支持すると共に、図示しないが駆動用電圧の印加用のパッドや角速度検出に用いられる検出信号の取り出し用のパッドが形成される部分である。本実施形態では、これら各機能を1つの固定部20によって実現しているが、例えば可動部30を支持するための支持用固定部、駆動用電圧が印加される駆動用固定部、角速度検出に用いられる検出用固定部に分割した構成とされても良い。その場合、例えば図1に示した固定部20を支持固定部とし、支持固定部に連結されるように駆動用固定部と検出用固定部を備え、駆動用固定部に駆動用電圧の印加用のパッドを備えると共に検出用固定部に検出信号取り出し用のパッドを備えればよい。
具体的には、固定部20は、例えば上面形状が四角形で構成されており、相対する二辺の中央部に梁部40における後述する検出梁41が連結された構造とされている。固定部20の下方には埋込酸化膜13が残されており、埋込酸化膜13を介して固定部20が支持基板11に固定されている。
可動部30は、角速度印加に応じて変位する部分であり、駆動用電圧の印加によって駆動振動させられる駆動用錘と駆動振動時に角速度が印加されたときにその角速度に応じて振動させられる検出用錘とを有した構成とされる。本実施形態の場合、可動部30として、駆動用錘と検出用錘の役割を同じ錘によって担う駆動兼検出用錘31、32が備えられている。駆動兼検出用錘31、32は、x軸方向において、固定部20を挟んだ両側に配置されており、固定部20から等間隔の場所に配置されている。各駆動兼検出用錘31、32は、同寸法(同質量)で構成され、本実施形態の場合、上面形状が四角形で構成されている。そして、各駆動兼検出用錘31、32は、それぞれ相対する二辺において梁部40に備えられる後述する駆動梁42に連結させられることで、両持ち支持されている。各駆動兼検出用錘31、32の下方においては、埋込酸化膜13が除去されており、支持基板11から各駆動兼検出用錘31、32がリリースされている。このため、各駆動兼検出用錘31、32は、駆動梁42の変形によってx軸方向に駆動振動可能とされ、角速度印加の際には駆動梁42などの変形によってy軸方向を含む固定部20を中心とした回転方向へも振動可能とされている。
また、本実施形態では、駆動兼検出用錘31、32およびその周囲に、振動型角速度センサに生じた不要振動を的確に検出できる不要振動検出部60を備えている(図5参照)。この不要振動検出部60の構造については後述する。
梁部40は、検出梁41と、駆動梁42および支持部材43を有した構成とされている。
検出梁41は、固定部20と支持部材43とを連結するy軸方向に延設された直線状の梁とされている。検出梁41のx軸方向の寸法は、z軸方向の寸法よりも薄くされており、x軸方向に変形可能とされている。
駆動梁42は、駆動兼検出用錘31、32と支持部材43とを連結するy軸方向、つまり検出梁41と平行な方向に延設された直線状の梁とされている。各駆動兼検出用錘31、32に備えられた駆動梁42から検出梁41までは等距離とされている。駆動梁42のx軸方向の寸法も、z軸方向の寸法よりも薄くされており、x軸方向に変形可能とされている。これにより、駆動兼検出用錘31、32をxy平面状において変位可能としている。
支持部材43は、x軸方向に延設された直線状の部材とされ、支持部材43の中心位置において検出梁41が連結されており、両端位置において各駆動梁42が連結されている。支持部材43は、y軸方向の寸法が検出梁41や駆動梁42におけるx軸方向の寸法よりも大きくされている。このため、駆動振動時には駆動梁42が主に変形し、角速度印加時には検出梁41および駆動梁42が主に変形するようになっている。
このような構造により、駆動梁42と支持部材43および駆動兼検出用錘31、32によって上面形状が四角形の枠体が構成され、その内側に検出梁41および固定部20が配置された振動型角速度センサが構成されている。
さらに、駆動梁42には、図1および図3に示すように駆動部51が形成されていると共に制御部52が形成されており、検出梁41には、図4に示すように、振動検出部53が形成されている。これら駆動部51、制御部52および振動検出部53が外部に備えられた図示しない制御装置に電気的に接続されることで、振動型角速度センサの駆動が行われるようになっている。
駆動部51は、図1に示すように、各駆動梁42のうち支持部材43との連結部近傍に備えられており、各場所に2本ずつ所定距離を空けて配置され、y軸方向に延設されている。図3に示すように、駆動部51は、駆動梁42を構成する半導体層12の表面に下層電極51aと駆動用薄膜51bおよび上層電極51cが順に積層された構造とされている。下層電極51aおよび上層電極51cは、例えばAl電極などによって構成されている。これら下層電極51aおよび上層電極51cは、図1に示した支持部材43および検出梁41を経て固定部20まで引き出された配線部51d、51eを通じて、図示しない駆動用電圧の印加用のパッドやGND接続用のパッドに接続されている。また、駆動用薄膜51bは、例えばチタン酸ジルコン酸鉛(PZT)膜によって構成されている。
このような構成において、下層電極51aと上層電極51cとの間に電位差を発生させることで、これらの間に挟まれた駆動用薄膜51bを変位させ、駆動梁42を強制振動させることで駆動兼検出用錘31、32をx軸方向に沿って駆動振動させる。例えば、各駆動梁42のx軸方向の両端側に1本ずつ駆動部51を備えるようにし、一方の駆動部51の駆動用薄膜51bを圧縮応力で変位させると共に他方の駆動部51の駆動用薄膜51bを引張応力で変位させる。このような電圧印加を各駆動部51に対して交互に繰り返し行うことで、駆動兼検出用錘31、32をx軸方向に沿って駆動振動させている。
制御部52は、図1および図3に示すように、各駆動梁42のうち支持部材43との連結部近傍に備えられており、当該場所に2本ずつ配置された駆動部51の間において、各駆動部51から所定距離空けて配置され、y軸方向に延設されている。図3に示すように、制御部52は、駆動梁42を構成する半導体層12の表面に下層電極52aと制御用薄膜52bおよび上層電極52cが順に積層された構造とされている。下層電極52aおよび上層電極52cや制御用薄膜52bは、それぞれ、駆動部51を構成する下層電極51aおよび上層電極51cや駆動用薄膜51bと同様の構成とされている。下層電極52aおよび上層電極52cは、図1に示した支持部材43および検出梁41を経て固定部20まで引き出された配線部52d、52eを通じて、図示しない制御用電圧の印加用のパッドやGND接続用のパッドに接続されている。
このような構成において、下層電極52aと上層電極52cとの間に電位差を発生させることで、これらの間に挟まれた制御用薄膜52bを変位させ、駆動梁42に対して所望の振動を印加できる。これにより、駆動兼検出用錘31、32の振動を制御でき、不要振動を抑制する振動を印加することが可能となっている。
振動検出部53は、図1および図4に示すように、検出梁41のうちの固定部20との連結部近傍に備えられており、検出梁41におけるx軸方向の両側それぞれに設けられ、y軸方向に延設されている。図4に示すように、振動検出部53は、検出梁41を構成する半導体層12の表面に下層電極53aと検出用薄膜53bおよび上層電極53cが順に積層された構造とされている。下層電極53aおよび上層電極53cや検出用薄膜53bは、それぞれ、振動検出部53を構成する下層電極51aおよび上層電極51cや駆動用薄膜51bと同様の構成とされている。下層電極53aおよび上層電極53cは、図1に示した固定部20まで引き出された配線部53d、53eを通じて、図示しない検出信号出力用のパッドに接続されている。
このように構成された振動型角速度センサでは、角速度の印加に伴って検出梁41が変位すると、それに伴って検出用薄膜53bが変形する。これにより、例えば下層電極53aと上層電極53cとの間の電気信号(定電圧駆動の場合の電流値、定電流駆動の場合の電流値)が変化することから、それを角速度を示す検出信号として図示しない検出信号出力用のパッドを通じて外部に出力している。
また、駆動兼検出用錘31、32およびその周囲には、図5および図6に示したように不要振動検出部60が備えられている。この不要振動検出部60の詳細構造について説明する。なお、図5および図6では、駆動兼検出用錘32およびその周囲に備えられる不要振動検出部60を示しているが、駆動兼検出用錘31およびその周囲にも同様の構造のものが備えられている。
図5に示すように、駆動兼検出用錘32は、四角形で構成されており、x軸と平行な相対する二辺において駆動梁42に連結されている。この駆動兼検出用錘32のうち駆動梁42と連結されている部位の両側において、x軸と平行な辺からy軸方向に沿って複数の可動櫛歯電極61が形成されている。また、駆動兼検出用錘32のうちy軸と平行な相対する二辺それぞれにもx軸方向に沿って複数の可動櫛歯電極62が形成されている。そして、駆動兼検出用錘32のうち駆動梁42と連結されている部位は、x軸方向において幅広とされており、この表面にz軸振動検出部63が形成されている。z軸振動検出部63は、図6に示すように、半導体層12の表面に下層電極63aと圧電膜によって構成された検出用薄膜63bおよび上層電極63cが順に積層された構造とされている。これら下層電極63aと圧電膜によって構成された検出用薄膜61bおよび上層電極63cは、それぞれ、駆動部51を構成する下層電極51aおよび上層電極51cや駆動用薄膜51bと同様の構成とされている。
一方、駆動兼検出用錘32のうちx軸と平行な辺と対向する位置には、櫛歯固定部64が形成されており、この櫛歯固定部64には複数の可動櫛歯電極61と対向する固定櫛歯電極65が形成されている。また、駆動兼検出用錘32のうちy軸と平行な辺と対向する位置には、櫛歯固定部66が形成されており、この櫛歯固定部66には複数の可動櫛歯電極62と対向する固定櫛歯電極67が形成されている。
これらのうち、可動櫛歯電極61と固定櫛歯電極65とが、駆動兼検出用錘32におけるx軸方向の振動を検出するx軸振動検出部として機能する。可動櫛歯電極62と固定櫛歯電極67とが、駆動兼検出用錘32におけるy軸方向の振動を検出するy軸振動検出部として機能する。
具体的には、図中には記載していないが、櫛歯固定部64、66は、例えば支持基板11を通じて制御装置に引き出される配線部と電気的に接続されている。可動櫛歯電極61、62は駆動兼検出用錘32に電気的に接続されており、駆動兼検出用錘32は、駆動梁42や支持部材43および検出梁41を通じて固定部20に引き出された配線を通じて制御装置に電気的に接続されている。また、z軸振動検出部63における下層電極63aおよび上部電極63cは、駆動梁42や支持部材43および検出梁41を通じて固定部20に引き出された配線を通じて制御装置に電気的に接続されている。
そして、駆動兼検出用錘32がx軸方向に振動すると、櫛歯固定部64を通じて可動櫛歯電極61と固定櫛歯電極65との間に構成される容量変化が制御装置に出力される。また、駆動兼検出用錘32がy軸方向に振動すると、櫛歯固定部66を通じて可動櫛歯電極62と固定櫛歯電極67との間に構成される容量変化が制御装置に出力される。同様に、駆動兼検出用錘32がz軸方向に振動すると、検出用薄膜63bが変位し、下層電極63aおよび上層電極63cの間の電気信号が変化することから、それが制御装置に出力される。このようにして、x、y、z振動駆動部それぞれにより、駆動兼検出用錘32のx軸、y軸、z軸方向の振動が検知可能とされている。
以上のようにして、本実施形態にかかる振動型角速度センサが構成されている。次に、このように構成される振動型角速度センサの作動について説明する。
まず、図3に示すように、駆動梁42に備えられた駆動部51に対して駆動用電圧の印加を行う。具体的には、下層電極51aと上層電極51cとの間に電位差を発生させることで、これらの間に挟まれた駆動用薄膜51bを変位させる。そして、2本並んで設けられた2つの駆動部51のうち、一方の駆動部51の駆動用薄膜51bを圧縮応力で変位させると共に他方の駆動部51の駆動用薄膜51bを引張応力で変位させる。このような電圧印加を各駆動部51に対して交互に繰り返し行うことで、駆動兼検出用錘31、32をx軸方向に沿って駆動振動させる。これにより、図7に示すように、駆動梁42によって両持ち支持された駆動兼検出用錘31、32が固定部20を挟んでx軸方向において互いに逆方向に移動させられる駆動モードとなる。つまり、駆動兼検出用錘31、32が共に固定部20が近づく状態と遠ざかる状態とが繰り返されるモードとなる。
この駆動振動が行われているときに、振動型角速度センサに対して角速度、つまり固定部20を中心軸としたx軸周りの振動が印加されると、図8に示すように駆動兼検出用錘31、32がy軸方向を含む固定部20を中心とした回転方向へも振動する検出モードとなる。したがって、検出梁41も変位し、この検出梁41の変位に伴って、振動検出部53に備えられた検出用薄膜53bが変形する。これにより、例えば下層電極53aと上層電極53cとの間の電気信号が変化し、この電気信号が外部に備えられる図示しない制御装置などに入力されることで、発生した角速度を検出することが可能となる。
このような動作を行うに際し、例えば振動型角速度センサ以外の部分から伝わる振動(車両振動など)、軸配向ズレ、加工の非対称性、結晶欠陥の存在の有無など、何らかの原因でz軸方向への不要振動が発生することがある。
その場合、z軸方向への不要振動によってz軸振動検出部63に備えられた検出用薄膜63bが変形し、それに起因して下層電極63aと上層電極63bとの間の電気信号が変化する。それが駆動兼検出用錘31の不要振動を示す検出信号として外部に備えられた図示しない制御装置に入力される。
ただし、z軸振動検出部63に備えられた検出用薄膜63bは、駆動兼検出用錘31、32のx軸もしくはy軸方向の振動によっても変形し得る。このため、駆動兼検出用錘31、32のx軸方向の振動をx軸振動検出部にて検出すると共に、y軸方向の振動をy軸振動検出部にて検出し、z軸方向の振動からx軸方向およびy軸方向の振動に基づいて発生しているz軸方向の振動成分を除去する。これにより、z軸方向の振動に含まれる不要振動成分を抽出する。
具体的には、駆動兼検出用錘31、32におけるx軸方向の振動により、x軸振動検出部を構成する可動櫛歯電極61と固定櫛歯電極65との間の距離が変化することで、可動櫛歯電極61と固定櫛歯電極65との間の電気信号が変化する。それが駆動兼検出用錘31のx軸方向の振動を示す検出信号として外部に備えられた図示しない制御装置に入力される。同様に、駆動兼検出用錘31、32におけるy軸方向の振動により、y軸振動検出部を構成する可動櫛歯電極62と固定櫛歯電極67との間の距離が変化することで、可動櫛歯電極62と固定櫛歯電極67との間の電気信号が変化する。それが駆動兼検出用錘31、32のy軸方向の振動を示す検出信号として外部に備えられた図示しない制御装置に入力される。このようにして、駆動兼検出用錘31、32におけるx軸およびy軸方向の振動を検出することが可能となる。
そして、z軸方向の振動に含まれるx軸およびy軸方向の振動成分を除去する。例えば、駆動兼検出用錘31、32の振動に伴うz軸振動検出部63の下層電極63aと上層電極63bとの間の電気信号の変化が電圧変化で表されるとして、検出用薄膜63bが変形していないときからの電圧変化量をΔVとする。また、駆動兼検出用錘31、32がx軸やy軸方向へ振動することに基づくz軸振動検出部63の検出用薄膜63bの変形による電圧変化量を、それぞれΔVx、ΔVyし、z軸方向への不要振動のみに基づく検出用薄膜63bの変形による電圧変化量をΔVzとすると、ΔV=ΔVx+ΔVy+ΔVzである。このため、ΔVに加えてΔVx、ΔVyを求めることができれば、Δzを求めることができる。
これに対して、ΔVについては、z軸振動検出部63の電気信号に基づいて求めることができる。また、ΔVx、ΔVyについては、x軸振動検出部およびy軸振動検出部において、x軸およびy軸方向の振動を検出できることから、この振動に起因して、z軸振動検出部63の検出用薄膜63bがどの程度変形するかを実験結果などに基づいて求めることができる。したがって、z軸振動検出部63の検出結果から得られるΔVから、x軸振動検出部およびy軸振動検出部の検出結果から得られるΔVx、ΔVyを差し引くことで、ΔVzを求めることができる。これにより、z軸方向への不要振動のみを抽出することが可能となる。したがって、振動型角速度センサに発生する振動の軸を分離して、不要振動を的確に検出することが可能となる。
(第2実施形態)
本発明の第2実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対してz軸振動検出部63の構成などを変更したものであり、その他については第1実施形態と同様であるため、第1実施形態と異なる部分についてのみ説明する。
本実施形態では、z軸振動検出部63を圧電膜による振動検出ではなく、容量変化による振動検出が行える形態としている。
本実施形態でも、センサ構造体の基本構造は第1実施形態と同様である。ただし、センサ構造体のうちの駆動兼検出用錘31、32と駆動梁42との連結部に、z軸振動検出部63の一部として、下層電極63aや検出用薄膜63bおよび上層電極63cに代えて可動表面電極63dを備えている。
また、センサ構造体から離間した位置に、可動表面電極63dに対向配置された固定表面電極63eが備えられ、これら可動表面電極63dおよび固定表面電極63eによって容量式のz軸振動検出部63が構成されている。
具体的には、センサ構造体が形成された基板10は、図9に示すように、センサ構造体の周囲を囲むように半導体層12や埋込酸化膜13が残されている。そして、センサ構造体のうち固定部20を除く下方位置において埋込酸化膜13や半導体層2の表層部が除去されることでキャビティ14が形成されている。また、センサ構造体を囲んでいる部分において、半導体層12の表面には、絶縁膜15を介してパターン配線16が形成されており、この上に、キャップ部材17が配置されることでセンサ構造体が覆われている。
キャップ部材17は、例えばシリコン基板などの半導体基板17aに対して配線などを形成したものである。半導体基板17aには複数の貫通孔17bが形成されており、複数の貫通孔17b内を含めて半導体基板17aの表面を覆うように絶縁膜17cが形成されている。貫通孔17b内および半導体基板17aのうち基板10と反対側の一面には、絶縁膜17cを介して導体層17dが形成され、導体層17dがパターニングされることでセンサ構造体の各部と図示しない制御装置との電気的接続用のパッド17eが備えられている。このように、貫通孔17b内に導体層17dが形成されることで、いわゆるTSV(Through-Silicon Via)構造とされている。導体層17dの表面には保護膜17fが形成されており、保護膜17fに開口部が形成されることでパッド17eが外部に露出させられている。また、半導体基板17aのうちのセンサ構造体側の面にも、絶縁膜17cを介して導体層17gが形成されている。半導体基板17aのうちセンサ構造体側の面には、センサ構造体と対応する部分が凹まされた凹部17hが形成されており、センサ構造体がキャップ部材17と接触しないようにされている。そして、導体層17gの一部が凹部17h内まで延設され。この部分によって固定表面電極68が構成されている。このように構成される固定表面電極68については、可動表面電極63dが移動しても常に対向した状態となるように、可動表面電極63dの移動量を加味して面積を広く設定すると好ましい。
なお、図9では、導体層17d、17gの一部しか図示していないが、実際には、センサ構造体の各部に対してそれぞれ電気的に接続されるように、所望のレイアウトにパターニングされている。
このように、z軸振動検出部63を可動表面電極63dおよび固定表面電極63eによって構成される容量式のものとしても良い。
続いて、上記構成の振動型角速度センサの製造方法について、図10〜図12を参照して説明する。
〔図10(a)に示す工程〕
シリコン基板などで構成される支持基板11を用意したのち、例えば熱酸化によって支持基板11の表面に埋込酸化膜13を形成する。続いて、埋込酸化膜13の上に図示しないレジストを成膜したのち、フォトリソグラフィ・エッチング工程を行うことで、埋込酸化膜13をパターニングする。そして、レジストおよび埋込酸化膜13をマスクとして支持基板11を部分的にエッチングしてキャビティ14を形成する。このとき、固定部20となる部分(図中右側部分)においては埋込酸化膜13を残すようにし、支持基板11が除去されないようにする。
なお、ここでは埋込酸化膜13を形成してからキャビティ14を形成しているが、支持基板11の表面に配置したレジストをマスクとしてキャビティ14を形成したのち、キャビティ14内を含めて支持基板11の表面に埋込酸化膜13を成膜しても良い。
〔図10(b)に示す工程〕
埋込酸化膜13を介して支持基板上に半導体層12を貼り付ける。例えば、SiO2によって構成される埋込酸化膜13の上にシリコン基板を配置し、アニール処理を行うことでSi−Si直接結合により埋込酸化膜13上にシリコン基板を貼り付ける。そして、シリコン基板を研削研磨することで所定厚さの半導体層12を形成することができる。
〔図10(c)に示す工程〕
図中では簡略化して記載してあるが、半導体層12の表面に電極層と圧電膜と電極層を順に成膜したのち、これらをパターニングすることで、駆動部51や制御部52および検出部53を構成する。
〔図10(d)に示す工程〕
駆動部51や制御部52および検出部53を形成した半導体層12の表面に絶縁膜15を形成したのち、これをパターニングする。さらに、絶縁膜15の上を含む半導体層17の上にAl層などの配線材料を成膜したのち、これをパターニングすることで、パターン配線16や各種配線部51d、51e、52d、52e、53d、53eなどを形成する。
〔図10(e)に示す工程〕
半導体層12の上に図示しないマスクを配置したのち、半導体層12をパターニングすることで、センサ構造体のうち固定部20を除く部分、すなわち可動部30および梁部40を支持基板11からリリースする。これにより、センサ構造体が構成される。
〔図11(a)に示す工程〕
キャップ部材17の形成用として、基板10とは別に半導体基板17aを用意する。そして、半導体基板17aの裏面に図示しないマスクを配置したのち、フォトリソグラフィ・エッチング工程を行うことで、半導体基板17aの裏面に凹部17hを形成する。
〔図11(b)に示す工程〕
凹部17hを形成した半導体基板17aの表面全面を覆うように、例えば熱酸化などによって絶縁膜17cを形成する。その後、絶縁膜17cの上に、Alなどの配線材料を成膜したのち、図示しないマスクを用いてパターニングすることで導体層17gを形成する。これにより、貫通孔17bなどが形成される前のキャップ部材17が構成される。
〔図12(a)に示す工程〕
図10(a)〜図10(e)の工程を経てセンサ構造体を形成した基板10と、図11(a)、(b)の工程を経たキャップ部材17を貼り付ける。例えば、基板10の表面に形成されたパターン配線16とキャップ部材17の裏面に形成された導体層17gとを金属接合によって接合することで、キャップ部材17を基板10に対して貼り付けることができる。
〔図12(b)に示す工程〕
キャップ部材17の表面に図示しないマスクを配置したのち、フォトリソグラフィ・エッチング工程を行うことで、半導体基板17aの表裏を貫通する貫通孔17bを形成する。これにより、半導体基板17aの裏面に形成された導体層17が貫通孔17bから露出させられる。また、必要に応じて、貫通孔17b内も絶縁膜17cで覆う。
〔図12(c)に示す工程〕
貫通孔17b内を含めて、半導体基板17aの表面に形成された絶縁膜17cの上に導体層17dを形成し、さらに図示しないマスクを用いて導体層17dをパターニングする。これにより、導体層17dが各貫通孔17bから露出させられた半導体基板17aの裏面側の導体層17gと電気的に接続される。
この後の工程については図示しないが、導体層17dの上を含めて、半導体基板17aの表面上に形成された絶縁膜17cの上に保護膜17fを形成したのち、これをパターニングすることで、導体層17dを部分的に露出させたパッド17eが構成される。以上のようにして、本実施形態にかかる振動型角速度センサが構成される。
(第3実施形態)
本発明の第3実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対して振動型角速度センサの形状を変更したものであり、その他については第1実施形態と同様であるため、第1実施形態と異なる部分についてのみ説明する。
図13に示す本実施形態の振動型角速度センサも、支持基板11の上に埋込酸化膜13を介して形成された半導体層12をパターニングし、固定部100、梁部110および可動部120などを形成することによって製造される。具体的には、本実施形態の振動型角速度センサは次のように構成されている。
上面形状が四角形状の固定部100の一辺から片持ちの支持梁111が形成されており、この支持梁111に対して垂直方向に支持部材112が延設されている。具体的には、支持部材112の中央位置において、支持梁111が連結されている。そして、支持部材112を挟んで支持梁111と反対側には検出梁113が形成され、その先端に検出錘121が備えられていると共に、支持部材112の両端において支持梁111と同方向に駆動梁114が形成され、その先端に駆動錘122が備えられている。
これらのうち、固定部100は第1実施形態における固定部20と対応するものである。支持部材112、検出梁113および駆動梁114は、第1実施形態における支持部材43、検出梁102および検出梁41にそれぞれ対応していて同様の役割を果たし、支持部材111と共に梁部110を構成している。検出錘121と駆動錘122とは可動部120を構成するものである。これらを別体で構成しているが、駆動兼検出用錘31、32の役割を別々に行う。
なお、支持梁111は、支持部材112を介して検出梁113や検出錘121および駆動梁114や駆動錘122を支持するものであり、固定部100に固定されている。
また、各種配線については図示していないが、駆動梁114には駆動部131が形成されていると共に制御部132が形成されており、検出梁113には振動検出部133が形成されている。これら駆動部131、制御部132および振動検出部133は、第1実施形態における駆動部51、制御部52および振動検出部53と同様の役割を果たす。
このように、可動部120および梁部110が固定部100に片持ち支持される構造の振動型角速度センサにおいても、駆動部51、振動検出部53に加えて制御部52を備えた構造とすることができる。
このような構成において、図14に示すように、駆動錘122に対してx軸、y軸およびz軸方向の振動検出を行うことで不要振動を検出する不要振動検出部140が備えられている。
図14に示すように、駆動錘122は、四角形で構成されており、x軸と平行な一辺において駆動梁114に連結されている。この駆動錘122のうち駆動梁114と連結されている部位の両側において、x軸と平行な辺からy軸方向に沿って複数の可動櫛歯電極141が形成されている。また、駆動錘122のうちy軸と平行な相対する二辺それぞれにもx軸方向に沿って複数の可動櫛歯電極142が形成されている。そして、駆動錘122のうち駆動梁114と連結されている部位は、x軸方向において幅広とされており、この表面にz軸振動検出部143が形成されている。
一方、駆動錘122のうちx軸と平行な辺と対向する位置には、櫛歯固定部144が形成されており、この櫛歯固定部144には複数の可動櫛歯電極141と対向する固定櫛歯電極145が形成されている。また、駆動錘122のうちy軸と平行な辺と対向する位置には、櫛歯固定部146が形成されており、この櫛歯固定部146には複数の可動櫛歯電極142と対向する固定櫛歯電極147が形成されている。
これらのうち、可動櫛歯電極141と固定櫛歯電極145とが、駆動錘122におけるx軸方向の振動を検出するx軸振動検出部として機能する。可動櫛歯電極142と固定櫛歯電極147とが、駆動錘122におけるy軸方向の振動を検出するy軸振動検出部として機能する。可動櫛歯電極141や櫛歯固定部144および固定櫛歯電極145は、第1実施形態で示した可動櫛歯電極61や櫛歯固定部64および固定櫛歯電極65と同様の構成とされている。また、可動櫛歯電極142や櫛歯固定部146および固定櫛歯電極147は、第1実施形態で示した可動櫛歯電極62や櫛歯固定部66および固定櫛歯電極67と同様の構成とされている。また、z軸振動検出部143も、第1実施形態で説明したz軸振動検出部63と同様の構成とされている。
このように、検出錘121や駆動錘122を片持ちする構成の振動型角速度センサとしても、駆動部122におけるx軸、y軸およびz軸方向の振動を検出することで、不要振動を抽出でき、上記第1実施形態と同様の効果を得ることができる。
(他の実施形態)
本発明は上記した実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した範囲内において適宜変更が可能である。
例えば、上記各実施形態では、不要振動検出部60、140におけるz軸振動検出部63、163を構成する検出素子として、駆動部51、131や制御部52、132と同様の圧電膜を用いた構造のもの、もしくは、容量式のものを用いている。しかしながら、圧電膜や容量式以外にも、駆動梁42、114の変位を電気信号として取り出すことができる検出素子であれば、他の検出素子を用いても良い。例えば、駆動梁42、114を構成する半導体層12にピエゾ抵抗(ゲージ抵抗)を構成し、このピエゾ抵抗を検出素子としても良い。例えば、半導体層12の表層部にp+型層もしくはn+型層を形成することで、ピエゾ抵抗とすることができる。
同様に、上記各実施形態では、不要振動検出部60、140におけるx軸振動検出部やy軸振動検出部を構成する検出素子として、容量式のものを例に挙げているが、他の構成のものであっても良い。例えば、駆動梁42、114の側面、つまりz軸に対して平行な平面に下層電極と圧電膜および上層電極をスパッタなどによって積層形成し、圧電膜を用いた検出素子を構成しても良い。また、駆動梁42、114を構成する半導体層12の側面に対して斜めイオン注入などによって不純物を注入し、p+型層もしくはn+型層を形成することでピエゾ抵抗を構成し、このピエゾ抵抗を検出素子として用いても良い。
さらに、不要振動検出部60、140におけるx軸振動検出部やy軸振動検出部を構成する検出素子として容量式の検出素子を用いつつ、上記と異なる構成のものとしても良い。例えば、上記各実施形態では、図15(a)に示したように、可動櫛歯電極61と固定櫛歯電極65との間の距離が変化することによって容量変化を生じるスクイズタイプの容量センサにてx軸振動検出部を構成している。これに対して、図15(b)に示すように、可動櫛歯電極61が長手方向にスライドし、可動櫛歯電極61と固定櫛歯電極65との対向面積が変化することによって容量変化を生じるスライドタイプの容量センサにてx軸振動検出部を構成しても良い。勿論、x軸振動検出部に限らず、y軸振動検出部についても、同様にスクイズタイプに限らずスライドタイプの容量センサとすることができる。
また、検出梁41、113に櫛歯電極を設けると共に、検出用固定部として検出梁41、113に設けた櫛歯電極と対向する櫛歯電極を備えた容量センサを検出素子とし、各櫛歯電極の間に構成される容量の変化を電気信号として取り出すようにしても良い。
なお、上記各実施形態では、不要振動検出部60の各振動検出部をそれぞれx軸、y軸、z軸に平行な直線を中心とした線対称形状で形成したが、必ずしも線対称形状にする必要はない。ただし、線対称形状にすると、対称配置された各素子それぞれから検出信号を得て、それらの差動を取ることで、不要振動成分のキャンセルが可能になるなど、より精度良い角速度検出を行うことが可能になる。
また、検出梁41、113にも制御部52、132と同様の制御部を備え、検出梁41、113に不要振動が印加されたときに、その不要振動を抑制することもできる。
また、上記実施形態では、検出梁41、113や駆動梁42、114のうち支持部材43、112の近傍にのみ、駆動部51、131、制御部52、132、振動検出部53、133を備えた構造とした。これについても単なる一例を示したに過ぎず、例えば検出梁41、113や駆動梁42、114の全域にこれらを設けるようにしても良い。
さらに、上記実施形態では、駆動部51、131として、圧電膜を用いて駆動振動を行わせる圧電タイプのものを用いたが、静電気力を用いて駆動振動を行わせる静電タイプのものを用いても良い。
10 基板
20、100 固定部
30、120 可動部
31、32 駆動兼検出用錘
40、110 梁部
41、113 検出梁
42、114 駆動梁
51、131 駆動部
52、132 制御部
53、133 振動検出部
60、140 不要振動検出部
121 検出錘
122 駆動錘

Claims (10)

  1. 基板(1)に対して固定された固定部(20、100)と、
    駆動錘(31、32、122)および検出錘(31、32、121)とを有する可動部(30、120)と、
    前記駆動錘を前記基板の平面と平行な平面上において移動可能としつつ前記固定部に対して支持する駆動梁(42、114)、および、前記検出錘を前記基板の平面と平行な平面上において移動可能としつつ前記固定部に対して支持する検出梁(41、113)を有する梁部(40、110)と、を備え、
    前記駆動錘を前記基板の平面上における一方向に駆動振動させ、角速度の印加に伴って前記検出錘が前記基板の平面上において前記一方向に対する垂直方向にも振動することに基づき角速度検出を行う振動型角速度センサであって、
    前記駆動錘を駆動振動させる駆動部(51、131)と、
    前記角速度の印加に伴う前記検出梁の変位を検出する検出素子(53、133)と、
    前記振動方向をx軸方向、前記基板の平面と平行な平面上における前記x軸方向に対する垂直方向をy軸方向、前記x軸方向および前記y軸方向に対する垂直方向をz軸方向として、前記駆動錘の前記x軸方向の振動を検出するx軸振動検出部(61、65、141、145)、前記駆動錘の前記y軸方向の振動を検出するy軸振動検出部(62、67、142、147)、および、前記駆動錘の前記z軸方向の振動を検出するz軸振動検出部(63、143)を備えた不要振動検出部(60、140)と、を有していることを特徴とする振動型角速度センサ。
  2. 前記固定部を中心として、前記駆動振動の方向と同方向の両側において前記駆動錘と前記検出錘を兼ねる駆動兼検出用錘(31、32)が配置され、
    前記検出梁(41)は、前記固定部を中心として、前記駆動振動の方向に対する垂直な方向の両側に延設され、
    前記駆動梁(42)は、前記駆動兼検出用錘を中心として、前記駆動振動の方向に対する垂直な方向の両側に延設され、
    前記検出梁のうち前記固定部と反対側および前記駆動梁のうち前記駆動兼検出用錘と反対側が直線状の支持部材(43)に連結されていることを特徴とする請求項1に記載の振動型角速度センサ。
  3. 前記固定部、前記可動部および前記梁部は、前記基板に備えられる半導体層(12)をパターニングすることにより形成されており、
    前記x軸振動検出部は、前記半導体層をパターニングして形成され、前記駆動兼検出用錘から延設された可動櫛歯電極(61)と前記基板に対して固定された固定櫛歯電極(65)とを有し、前記可動櫛歯電極と前記固定櫛歯電極との間の容量の変化に基づいて前記x軸方向の振動を検出し、
    前記y軸振動検出部は、前記半導体層をパターニングして形成され、前記駆動兼検出用錘から延設された可動櫛歯電極(62)と前記基板に対して固定された固定櫛歯電極(67)とを有し、前記可動櫛歯電極と前記固定櫛歯電極との間の容量の変化に基づいて前記y軸方向の振動を検出し、
    前記z軸振動検出部は、前記駆動兼検出用錘のうち前記駆動梁との連結部に形成され、前記半導体層の上に下層電極(63a)と圧電膜にて構成される検出用薄膜(63b)および上層電極(63c)が積層された構成とされ、前記下層電極と前記上層電極との間に配置された前記検出用薄膜の変形に基づいて前記z軸方向の振動を検出することを特徴とする請求項2に記載の振動型角速度センサ。
  4. 前記固定部、前記可動部および前記梁部は、前記基板に備えられる半導体層(12)をパターニングすることにより形成されており、
    前記x軸振動検出部は、前記半導体層をパターニングして形成され、前記駆動兼検出用錘から延設された可動櫛歯電極(61)と前記基板に対して固定された固定櫛歯電極(65)とを有し、前記可動櫛歯電極と前記固定櫛歯電極との間の容量の変化に基づいて前記x軸方向の振動を検出し、
    前記y軸振動検出部は、前記半導体層をパターニングして形成され、前記駆動兼検出用錘から延設された可動櫛歯電極(62)と前記基板に対して固定された固定櫛歯電極(67)とを有し、前記可動櫛歯電極と前記固定櫛歯電極との間の容量の変化に基づいて前記y軸方向の振動を検出し、
    前記z軸振動検出部は、前記駆動兼検出用錘のうち前記駆動梁との連結部に形成され、前記半導体層の表面に形成された可動表面電極(63d)および前記可動表面電極に対して対向配置された固定表面電極(63e)とを有し、前記可動表面電極と前記固定表面電極との間の容量の変化に基づいて前記z軸方向の振動を検出することを特徴とする請求項2に記載の振動型角速度センサ。
  5. 前記基板のうち前記半導体層側を覆うキャップ部材(17)を備え、
    前記キャップ部材のうち前記半導体層側となる裏面に、前記固定表面電極が形成されていることを特徴とする請求項4に記載の振動型角速度センサ。
  6. 前記キャップ部材は、半導体基板(17a)と、前記半導体基板のうち前記基板と反対側となる表面側と前記基板側となる裏面側とを貫通させた貫通孔(17b)と、前記半導体基板の表面側より前記貫通孔内を含めて配置された導体層(17d)と、前記半導体基板の裏面側に設けられると共に前記貫通孔内に配置された前記導体層に接続された導体層(17g)と、を含み、
    前記固定表面電極は、前記半導体基板の裏面側に設けられた前記導体層によって構成されていることを特徴とする請求項5に記載の振動型角速度センサ。
  7. 前記駆動梁に配置され、前記駆動錘が前記基板の平面に対する法線方向に移動する不要振動を抑制する振動を発生させる圧電膜にて構成される制御用薄膜(52b)を含む制御部(52、132)を備え、
    前記制御部は、前記z軸振動検出部で検出される前記z軸方向の振動から、前記x軸振動検出部と前記y軸振動検出部で検出される前記x軸方向と前記y軸方向の振動に基づいて発生している前記z軸方向の振動成分を除去した、前記z軸方向の振動に含まれる不要振動成分を抑制する振動を発生させることを特徴とする請求項1ないし6のいずれか1つに記載の振動型角速度センサ。
  8. 前記固定部、前記可動部および前記梁部は、前記基板に備えられる半導体層(12)をパターニングすることにより形成されており、
    前記駆動部は、前記駆動梁に配置され、前記半導体層の上に下層電極(51a)と前記駆動錘を駆動振動させる圧電膜にて構成される駆動用薄膜(51b)および上層電極(51c)が積層された構成とされ、前記下層電極と前記上層電極との間に駆動用電圧が印加されることで前記駆動用薄膜を変形させて前記駆動錘を駆動振動させ、
    前記制御部は、前記半導体層の上に下層電極(52a)と前記制御用薄膜および上層電極(52c)が積層された構成とされ、前記下層電極と前記上層電極との間に制御用電圧が印加されることで前記制御用薄膜を変形させて前記不要振動を抑制する振動を発生させることを特徴とする請求項7に記載の振動型角速度センサ。
  9. 前記梁部(110)は、前記固定部に固定された支持梁(111)を有し、
    前記支持梁を挟んで前記固定部と反対側には前記駆動振動の方向に延設された直線状の支持部材(112)が備えられ、
    前記検出梁(113)は、前記支持部材を挟んで前記固定部と反対側に、前記駆動振動の方向に対する垂直な方向に延設されていると共に、前記支持部材と反対側の端部において前記検出錘(121)が連結されており、
    前記駆動梁(42)は、前記支持部材を挟んで前記固定部と反対側に、前記駆動振動の方向に対する垂直な方向に延設されていると共に、前記支持部材と反対側の端部において前記駆動錘(122)が連結されていることを特徴とする請求項1に記載の振動型角速度センサ。
  10. 前記固定部、前記可動部および前記梁部は、前記基板に備えられる半導体層(12)をパターニングすることにより形成されており、
    前記x軸振動検出部は、前記半導体層をパターニングして形成され、前記駆動錘から延設された可動櫛歯電極(141)と前記基板に対して固定された固定櫛歯電極(145)とを有し、前記可動櫛歯電極と前記固定櫛歯電極との間の容量の変化に基づいて前記x軸方向の振動を検出し、
    前記y軸振動検出部は、前記半導体層をパターニングして形成され、前記駆動錘から延設された可動櫛歯電極(142)と前記基板に対して固定された固定櫛歯電極(147)とを有し、前記可動櫛歯電極と前記固定櫛歯電極との間の容量の変化に基づいて前記y軸方向の振動を検出し、
    前記z軸振動検出部は、前記駆動錘のうち前記駆動梁との連結部に形成され、前記半導体層の上に下層電極と圧電膜にて構成される検出用薄膜および上層電極が積層された構成とされ、前記下層電極と前記上層電極との間に配置された前記検出用薄膜の変形に基づいて前記z軸方向の振動を検出することを特徴とする請求項9に記載の振動型角速度センサ。
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