JP6210300B2 - 液体消費装置 - Google Patents

Description

本発明は、液体消費装置に関する。

液体消費装置の一例であるインクジェット方式の印刷装置には、一般的に、取り外し可能な液体収容容器であるインクカートリッジが装着される。インクカートリッジ内部のインクの残存状態を検出するため、プリズムが設けられたインクカートリッジと、インクカートリッジが装着されプリズムに対応する位置に開口部が設けられたホルダー（キャリッジ）と、発光部および受光部を有する検出部と、を備えた印刷装置が開示されている（例えば、特許文献１参照）。

インクの残存状態の検出は、発光部で照射されホルダーの開口部から入射した光がプリズムの斜面で反射する際に、斜面がインクと接しているか否かで反射状態が異なることを利用して、受光部に入射する反射光の強度のレベル等に基づいて行われる。そのため、例えば、プリズムの底面やホルダー等で反射された反射光は、ノイズ光としてインクの残存状態の正確な検出を阻害する要因となる場合がある。

そこで、特許文献１に記載の印刷装置では、ホルダーの開口部に遮光部が設けられており、ホルダーが発光部と受光部とが並ぶ方向に沿って移動する際に、発光部から照射された光の一部を遮光部で遮ることにより、プリズムの底面での反射の抑制を図っている。また、遮光部の底面（検出部と対向する面）を発光部と受光部とが並ぶ方向に沿った傾斜面とすることで、遮光部に入射する光を受光部と異なる方向へ反射させることにより、ノイズ光の低減を図っている。

特開２０１３−９９８９０号公報

ところで、インクの残存状態の検出はプリズムと検出部との相対的な位置が所定の位置となったときに行われるが、所定の位置とされた検出位置が本来想定している検出位置からずれてしまう場合がある。そのため、例えば、インクの残存状態の検出を行う前に、ホルダーを検出部に対して相対的に移動させ、受光部が受光した反射光の強度のレベル等に基づいて、検出位置の補正が行われる。しかしながら、特許文献１に記載の印刷装置において、検出位置の補正のためにホルダーを検出部に対して相対的に移動させると、発光部で照射された光がホルダーの底部（検出部と対向する面）で反射されて受光部に入射するおそれがある。また、遮光部の底面（検出部と対向する面）が発光部と受光部とが並ぶ方向に沿った傾斜面となっているため、発光部から照射される光のうちプリズムの底面の法線方向に対して斜めに進む光が、遮光部の傾斜面で反射されて受光部に入射してしまうおそれがある。このようなホルダーの底部や遮光部で反射された反射光は、ノイズ光として、検出位置の補正精度やインクの残存状態の検出精度を低下させる要因となる。

本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。

［適用例１］本適用例に係る液体消費装置は、発光部と受光部とが第１の方向に沿って配置された検出部と、前記第１の方向と交差する方向に沿った稜線と前記検出部に対向する面とを有するプリズムが配置された液体収容部と、前記液体収容部が着脱可能に装着され、前記検出部に対向する部分の前記プリズムの前記面と対向する位置に開口部を有するホルダーと、前記ホルダーを前記検出部に対して前記第１の方向に沿って相対的に移動させる移動部と、を備え、前記ホルダーの前記部分は、前記検出部に対向する側に、前記第１の方向以外の第２の方向に沿って傾斜する第１の傾斜面を有することを特徴とする。

本適用例の構成によれば、液体消費装置において液体収容部を保持するホルダーは、検出部に対向する部分（以下では、底部という）に、第１の方向以外の第２の方向に沿って傾斜する第１の傾斜面を有している。そのため、発光部から照射され底部の第１の傾斜面で反射された反射光は、発光部と受光部とが並ぶ方向以外の方向に向かう。これにより、ホルダーの底部で反射される反射光（ノイズ光）の受光部への入射が抑制されるので、ホルダーを検出部に対して相対的に移動させ、ホルダーと検出部の相対位置の変化に対する受光部が受光した反射光の強度のレベル等に基づいて、検出位置の補正を行う際の補正精度を向上できる。また、インクの残存状態の検出を行う際に、発光部から照射されプリズムの検出部に対向する面（以下では、底面という）の法線方向に対して斜めに進む光がホルダーの底部で反射されても、発光部と受光部とが並ぶ方向以外の方向に向かい反射光（ノイズ光）の受光部への入射が抑制されるので、インクの残存状態の検出精度を向上できる。

［適用例２］上記適用例に係る液体消費装置であって、前記ホルダーは、複数の前記液体収容部を着脱可能に保持し、前記開口部は、前記複数の液体収容部の前記プリズムの各々に対応して設けられ、前記第１の傾斜面は、隣り合う前記開口部同士の間に配置されていることが好ましい。

本適用例の構成によれば、ホルダーが保持する複数の液体収容部のプリズムの各々に対応して開口部が設けられ、隣り合う開口部同士の間に第１の傾斜面が配置されている。そのため、検出位置の補正やインクの残存状態の検出を行う際に、複数の液体収容部のプリズムの各々が検出部と対向するようにホルダーを検出部に対して相対的に移動させても、ホルダーの底部で反射された反射光（ノイズ光）の受光部への入射が抑制される。これにより、検出位置の補正精度やインクの残存状態の検出精度を向上できる。

［適用例３］上記適用例に係る液体消費装置であって、前記部分は、複数の前記第１の傾斜面が前記第２の方向に沿って並ぶように設けられた、のこぎり刃状の断面形状を有することが好ましい。

本適用例の構成によれば、ホルダーの底部は、第２の方向に沿って複数の第１の傾斜面が並ぶように設けられて、のこぎり刃状の断面形状を有している。第２の方向においてホルダーに対する検出部の相対的な位置がずれた場合、検出部と対向する底部が第１の傾斜面を有するため、ずれた位置によって底部と検出部との距離に差異が生じる。発光部から発せられる照射光が比較的広い指向角を有する場合、底部と検出部との距離が長くなるほど、開口部を通過する照射光及び反射光（プリズムの底面で反射された光）の光量が多くなる。したがって、第２の方向においてホルダーに対する検出部の相対的な位置がずれると、反射光の強度のレベルがばらついて検出位置の補正精度やインクの残存状態の検出精度の低下を招くこととなる。ここで、ホルダーの底部に第２の方向に沿って複数の第１の傾斜面が並ぶように設けられているので、第２の方向においてこれらの複数の第１の傾斜面が設けられた範囲に、第１の傾斜面と同じ傾斜角度で一つの傾斜面が設けられている場合と比べて、ホルダーに対する検出部の相対的な位置がずれたときの底部と検出部との距離の差異は小さくなる。これにより、開口部を通過する照射光及び反射光の光量のばらつきが小さくなるので、反射光の強度レベルのばらつきによる検出位置の補正精度やインクの残存状態の検出精度の低下を抑えることができる。

［適用例４］上記適用例に係る液体消費装置であって、前記ホルダーは、前記開口部の一部を塞ぐように設けられた遮光部を有し、前記遮光部は、前記検出部に対向する側に、前記第１の方向以外の第３の方向に沿って傾斜する第２の傾斜面を有することが好ましい。

本適用例の構成によれば、開口部の一部を塞ぐように遮光部が設けられているので、プリズムの底面に入射する光の一部が遮光され、プリズムの底面での反射光が抑えられる。また、遮光部が検出部に対向する側に、第１の方向以外の第３の方向に沿って傾斜する第２の傾斜面を有しているので、発光部からの照射光が第２の傾斜面で反射されても、反射光（ノイズ光）の受光部への入射を抑制できる。

［適用例５］上記適用例に係る液体消費装置であって、前記第２の方向及び前記第３の方向は、前記第１の方向と直交する方向であり、前記第１の傾斜面と前記第２の傾斜面とは、互いに逆向きに傾斜していることが好ましい。

本適用例の構成によれば、底部の第１の傾斜面と遮光部の第２の傾斜面とは、発光部と受光部とが並んで配置された方向と直交する方向に沿って、互いに逆向きに傾斜している。そのため、発光部と受光部とが並んで配置された方向においてホルダーに対する検出部の相対的な位置がずれる範囲において、底部と検出部との距離が大きくなる位置では遮光部と検出部との距離は小さくなり、底部と検出部との距離が小さくなる位置では遮光部と検出部との距離は大きくなる。これにより、開口部を通過する照射光及び反射光の光量のばらつきが小さくなるので、反射光の強度レベルのばらつきによる検出位置の補正精度やインクの残存状態の検出精度の低下を抑えることができる。

第１の実施形態に係る印刷装置の要部を示す斜視図。 第１の実施形態に係る印刷装置の概略構成図。 検出部の電気的構成を示す説明図。 インクカートリッジの斜視図。 第１の実施形態に係るホルダーの構成を説明する図。 第１の実施形態に係るホルダーの傾斜面を説明する図。 インクニアエンドの判定方法を説明する図。 インクニアエンドの判定方法を説明する図。 位置補正処理を説明する図。 位置補正処理を説明する図。 インクニアエンド判定処理を示すフローチャート。 位置補正処理を示すフローチャート。 第１の実施形態に係る傾斜面での反射光を説明する図。 第２の実施形態に係るホルダーの傾斜面を説明する図。 第２の実施形態に係るホルダーの効果を説明する図。 第２の実施形態に係るホルダーの効果を説明する図。 第３の実施形態に係るホルダーの傾斜面を説明する図。 第３の実施形態に係るホルダーの効果を説明する図。 変形例１に係るホルダーの傾斜面を説明する図。 変形例２に係るホルダーの構成を説明する図。

以下、本発明を具体化した実施形態について図面を参照して説明する。使用する図面は、説明する部分が認識可能な状態となるように、適宜拡大、縮小、あるいは誇張して表示している。また、説明に必要な構成要素以外は図示を省略する場合がある。

（第１の実施形態）
＜印刷装置の基本構成＞
第１の実施形態に係る液体消費装置としての印刷装置の基本構成について、図１及び図２を参照して説明する。図１は、第１の実施形態に係る印刷装置の要部を示す斜視図である。図２は、第１の実施形態に係る印刷装置の概略構成図である。

図１には、第１の方向としてのＹ軸方向と、Ｙ軸方向と直交する第２の方向及び第３の方向としてのＸ軸方向と、Ｘ軸方向およびＹ軸方向と直交するＺ軸方向と、を示している。本実施形態において、印刷装置１０の使用姿勢では、Ｚ軸方向（＋Ｚ方向及び−Ｚ方向）が鉛直方向であり、＋Ｘ方向が印刷装置１０の正面である。また、Ｙ軸方向（＋Ｙ方向及び−Ｙ方向）が印刷装置１０の主走査方向ＨＤであり、Ｘ軸方向（＋Ｘ方向及び−Ｘ方向）が印刷装置１０の副走査方向ＶＤである。

図１に示すように、印刷装置１０は、液体収容部としての複数のインクカートリッジＩＣと、ホルダー２０を備えるキャリッジＣＲと、紙送りモーター３０と、移動部としてのキャリッジモーター３３と、ケーブルＦＦＣ１と、検出部９０と、制御ユニット４０とを備えている。各インクカートリッジＩＣには、例えば、シアン、マゼンタ、イエロー、ブラック等のインクが一色ずつ収容されている。ホルダー２０には、各インクカートリッジＩＣが装着される。なお、ホルダー２０はキャリッジＣＲと一体の部材として形成されてもよいし、別体の部材として形成されてキャリッジＣＲに組み付けられてもよい。

図２に示すように、キャリッジＣＲは、ホルダー２０と印刷ヘッド３５とを備えている。キャリッジＣＲは、キャリッジモーター３３に駆動されることにより印刷媒体ＰＡ上を主走査方向ＨＤに沿って往復移動する。紙送りモーター３０は、印刷媒体ＰＡを副走査方向ＶＤに搬送する。印刷ヘッド３５は、キャリッジＣＲに搭載されて、各インクカートリッジＩＣから供給されたインクを吐出する。なお、図１及び図２では、キャリッジＣＲは、ホームポジションに位置している。

検出部９０は、インクカートリッジＩＣのインク残存状態を検出するための信号を制御ユニット４０に出力する。検出部９０は、インクカートリッジＩＣ内のプリズム１７０（図４参照）へ光を照射する発光部９２（発光素子）と、プリズム１７０からの反射光を受光して電気信号に変換する受光部９４（受光素子）と、を備えている。

図３は、検出部の電気的構成を示す説明図である。検出部９０は、例えば、発光部９２（発光素子）としてＬＥＤ（Light Emitting Diode）を備え、受光部９４（受光素子）としてフォトトランジスターを備えている。受光部９４のエミッター端子は接地され、コレクター端子は抵抗器Ｒ１を介して電源電位Ｖｃｃに接続されている。残量判定部４２（詳細は後述）には、抵抗器Ｒ１とコレクター端子との間の電位が、検出部９０の出力電圧Ｖｃ（検出電圧）として入力される。

発光部９２が照射する光の発光量は、発光部９２に印加されるＰＷＭ（Pulse Width Modulation）信号のデューティー比（オン時間とオフ時間の割合）が制御ユニット４０によって調整されることにより設定される。発光部９２から照射された照射光が、インクカートリッジＩＣ内のプリズム１７０で反射されて反射光が受光部９４に受光されると、その受光量に応じた出力電圧Ｖｃが、出力信号として残量判定部４２に入力される。本実施形態では、受光部９４が受光する光量が多くなる程、検出部９０から出力される出力電圧Ｖｃは低くなる。

図１及び図２に示すように、検出部９０の備える発光部９２及び受光部９４は、ホルダー２０が移動する主走査方向ＨＤ（Ｙ軸方向）に沿って並ぶように配置されている。ホルダー２０は、キャリッジモーター３３によって、検出部９０に対して主走査方向ＨＤに沿って相対的に移動する。発光部９２及び受光部９４は、ホルダー２０が、キャリッジモーター３３によって移動させられて検出部９０上に位置したときに、ホルダー２０の開口部２２（図５（ｂ）参照）を介してインクカートリッジＩＣ内のプリズム１７０と対向するように配置されている。

制御ユニット４０は、残量判定部４２及び位置補正部４４を有している。制御ユニット４０には、印刷装置１０の動作状態等が表示される表示部４６が接続されている。制御ユニット４０には、インターフェイス（Ｉ／Ｆ）４７を介してコンピューター４８が接続されている。また、制御ユニット４０には、ケーブルＦＦＣ１を介してキャリッジＣＲが接続され、ケーブルＦＦＣ２を介して検出部９０が接続されている。

制御ユニット４０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等（図示省略）を備えている。ＣＰＵは、ＲＯＭに予め記憶された制御プログラムをＲＡＭ上に展開して実行することで、残量判定部４２及び位置補正部４４として機能する。また、制御ユニット４０は、紙送りモーター３０やキャリッジモーター３３、印刷ヘッド３５を制御することにより、印刷媒体ＰＡに対しての印刷を制御する。

残量判定部４２は、インクカートリッジＩＣ内のインクの残存状態を、プリズム１７０を用いて判定する。残量判定部４２は、プリズム１７０が検出部９０に対して所定の位置（検出位置）にあるときの出力電圧Ｖｃ（検出電圧）を、検出部９０からケーブルＦＦＣ２を介して取得する。そして、残量判定部４２は、取得した出力電圧Ｖｃと所定の閾値とに基づき、インクカートリッジＩＣ内のインクが所定量以下となったか否かを判定する。インクの残量が所定量以下になったことを、以降では「インクニアエンド」ともいう。

インクニアエンドであると判定されたインクカートリッジＩＣについては、制御ユニット４０は、印刷装置１０の表示部４６やコンピューター４８の表示部にインク交換を知らせるアラームを表示させる指示を出力し、ユーザーにインクカートリッジＩＣの交換を促す。制御ユニット４０は、インクニアエンド判定がなされた後に所定量のインクが消費された場合に、インクカートリッジＩＣが空であると判定する。制御ユニット４０は、インクニアエンドと判定された場合に、インクカートリッジＩＣが空であると判定してもよい。制御ユニット４０は、インクカートリッジＩＣが空であると判定した場合、インクカートリッジＩＣが交換されるまで印刷を実行しない。

位置補正部４４は、検出部９０からの検出電圧（出力電圧Ｖｃ）に基づいて、主走査方向ＨＤにおける検出部９０に対するプリズム１７０の位置情報を補正する。検出部９０に対するプリズム１７０の実際の相対位置と、その設計上の相対位置にずれが生じていると、インクカートリッジＩＣのインクニアエンドの判定における精度が低下してしまう。そこで、詳細は後述するが、各インクカートリッジＩＣについて検出部９０からの検出電圧に対してピーク検出を行い、その検出したピーク位置に基づいて、インクニアエンド判定を行う際の、検出部９０に対するホルダー２０（プリズム１７０）の相対位置を補正する。

キャリッジＣＲ（ホルダー２０）の位置は、キャリッジモーター３３に搭載されたロータリーエンコーダーの出力に基づいて把握される。即ち、ロータリーエンコーダーは、例えばキャリッジＣＲのホームポジションを基準位置として、その基準位置からの移動量に応じたカウント値を出力する。各インクカートリッジＩＣのプリズム１７０の中心位置には、それぞれロータリーエンコーダーの所定のカウント値が対応している。位置補正前においては、その各位置に対応するカウント値は、設計値に基づいてメカ的に設定されており、例えば制御ユニット４０のＥＥＰＲＯＭ（不揮発性メモリー）に記憶されている。位置補正部４４は、この各位置に対応するカウント値を、位置補正処理により補正し、その補正されたカウント値をＲＡＭに書き込む。

＜インクカートリッジの構成＞
図４は、インクカートリッジの斜視図である。インクカートリッジＩＣは、インクを内部に収容する略直方体形状のインク収容室１３０と、回路基板１５０と、ホルダー２０にインクカートリッジＩＣを着脱するためのレバー１２０とを備えている。回路基板１５０は、インク収容室１３０の−Ｘ方向側の面の−Ｚ方向側に設けられており、レバー１２０は、インク収容室１３０の−Ｘ方向側の面の＋Ｚ方向側に設けられている。

インク収容室１３０の底部には、直角二等辺三角柱状のプリズム１７０が配置されている。プリズム１７０の検出部９０に対向する面である底面１７０ｃは、発光部９２（図２参照）からの照射光が入射する入射面であり、インクカートリッジＩＣの−Ｚ方向側の面をなす底面１０１から露出している。

インクカートリッジＩＣの底面１０１には、インクカートリッジＩＣがホルダー２０に装着されたときに、ホルダー２０に設けられたインク受給針（図示省略）が挿入されるインク供給口１１０が形成されている。インクカートリッジＩＣの使用前の状態では、インク供給口１１０はフィルムによって封止されている。ホルダー２０（図１参照）にインクカートリッジＩＣを上方から装着すると、インク受給針によってフィルムが破れ、インク供給口１１０を通じてインク収容室１３０から印刷ヘッド３５にインクが供給される。

回路基板１５０の裏面には、インクカートリッジＩＣに関する情報を記録するための記憶装置１５１が実装されている。回路基板１５０の表面には、記憶装置１５１に電気的に接続された複数の端子１５２が配置されている。複数の端子１５２は、インクカートリッジＩＣがホルダー２０に装着されたときに、ホルダー２０に設けられた複数の本体側端子（図示省略）と電気的に接触する。

これらの本体側端子は、ケーブルＦＦＣ１によって、制御ユニット４０に電気的に接続されている。これにより、インクカートリッジＩＣがホルダー２０に装着されたとき、制御ユニット４０は、記憶装置１５１に電気的に接続されて記憶装置１５１に対してデータの読み書きが可能になる。記憶装置１５１としては、例えば、ＥＥＰＲＯＭ等の不揮発性メモリーを用いることができる。

＜ホルダーの構成＞
図５は、第１の実施形態に係るホルダーの構成を説明する図である。図５（ａ）は、検出部９０側から見たホルダー２０の底部２１の模式図である。図５（ｂ）は、インクカートリッジＩＣが装着されたホルダー２０のＹＺ断面の模式図である。図５（ｂ）は、図５（ａ）のＡ−Ａ’線に沿った断面図に相当する。図５（ａ），（ｂ）に示すように、ホルダー２０の検出部９０に対向する部分である底部２１には、主走査方向ＨＤ（Ｙ軸方向）以外の方向に沿って傾斜する傾斜面２１ａが設けられている。本実施形態では、傾斜面２１ａは、副走査方向ＶＤ（Ｘ軸方向）に沿って傾斜している。

また、ホルダー２０の底部２１には、主走査方向ＨＤに沿って並ぶように、例えば、４つの開口部２２が設けられている。各開口部２２は、主走査方向ＨＤにおいて傾斜面２１ａの間に挟まれるように配置されている。換言すれば、主走査方向ＨＤにおいて隣り合う開口部２２同士の間と、４つの開口部２２の主走査方向ＨＤにおける両外側とに傾斜面２１ａが配置されている。ホルダー２０には、各開口部２２に対応する位置に４つのインクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４が装着される。

インクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４の各インク収容室１３０内に設けられた各プリズム１７０は、傾斜面１７０ａと傾斜面１７０ｂとを有している。傾斜面１７０ａと傾斜面１７０ｂとで、主走査方向ＨＤ（Ｙ軸方向）と交差する副走査方向ＶＤ（Ｘ軸方向）に沿ったプリズム１７０の稜線が構成される。プリズム１７０は、Ｘ軸方向からみて、傾斜面１７０ａと傾斜面１７０ｂとで頂角を形成した、直角二等辺三角形状である。

プリズム１７０は、発光部９２からの照射光を透過する、例えばポリプロピレン等の部材によって形成されている。発光部９２から各プリズム１７０に入射する照射光が反射される状態は、傾斜面１７０ａ，１７０ｂのそれぞれに接する流体（インク又は空気）の屈折率によって異なる。各開口部２２は、ホルダー２０の往復移動によってインクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４の各プリズム１７０が検出部９０の直上に位置したときに、検出部９０の備える発光部９２及び受光部９４と対向する位置に配置されている。

ホルダー２０を備えたキャリッジＣＲが主走査方向ＨＤ（Ｙ軸方向）に沿って移動すると、インクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４が、順次、検出部９０の上（＋Ｚ方向）を通過する。そして、開口部２２を通して、発光部９２からの照射光が各インクカートリッジＩＣのプリズム１７０で反射され、反射光が受光部９４により受光される。検出部９０は、受光部９４の受光結果を、キャリッジＣＲ（プリズム１７０）の位置に対応した出力信号として出力する。本実施形態では、このキャリッジＣＲの位置に対応した検出部９０の出力信号に基づいて、各インクカートリッジＩＣのインクニアエンドの判定と、インクニアエンド判定を行う際の検出位置の補正とが行われる。

各開口部２２の中央には、開口部２２の一部を塞ぐように、発光部９２からの照射光を遮光する遮光部２３が設けられている。開口部２２の中央とは、インクカートリッジＩＣがホルダー２０に装着されたときに、プリズム１７０の稜線（中心）に対応する位置である。隣り合う開口部２２同士の中央位置から中央位置までは、ｂ１の距離だけ離れている。したがって、隣り合う遮光部２３同士の中央位置から中央位置までは、ｂ１の距離だけ離れている。この距離ｂ１は、設計値に基づいてメカ的に設定されたものである。

遮光部２３は、主走査方向ＨＤ（Ｙ軸方向）に交差する副走査方向ＶＤ（Ｘ軸方向）に沿って設けられており、ホルダー２０の開口部２２を開口部２２ａと開口部２２ｂとの２つに分割している（図７（ａ）及び（ｂ）参照）。遮光部２３は、プリズム１７０の稜線と対向する位置に配置されている。インクニアエンド判定を行う際の検出位置において、遮光部２３によって２つに分割された各開口部２２の一方の開口部２２ａは発光部９２と傾斜面１７０ａとが対向する位置に配置され、他方の開口部２２ｂは受光部９４と傾斜面１７０ｂとが対向する位置に配置される。

遮光部２３の検出部９０側には、主走査方向ＨＤ（Ｙ軸方向）以外の方向に沿って傾斜する傾斜面２３ａが設けられている。本実施形態では、傾斜面２３ａは、副走査方向ＶＤ（Ｘ軸方向）に沿って傾斜している。遮光部２３は、光を吸収する材質からなり、例えば、黒色で着色したポリスチレンによって形成されている。本実施形態では、遮光部２３はホルダー２０と同材質で一体的に形成されている。なお、遮光部２３の材質は、上記に限定されず、反射光が受光部９４に入射するのを抑制可能であれば、任意の材質を適用してもよい。また、遮光部２３が、ホルダー２０と別体で形成されホルダー２０に取り付けられた構成としてもよい。

図６は、第１の実施形態に係るホルダーの傾斜面を説明する図である。図６（ａ）は、図５（ａ）のＤ部を拡大した斜視図である。図６（ｂ）は、底部２１のＸＺ断面の模式図であり、図５（ａ）のＢ−Ｂ’線に沿った断面図に相当する。図６（ｃ）は、遮光部２３のＸＺ断面の模式図であり、図５（ａ）のＣ−Ｃ’線に沿った断面図に相当する。図６（ａ）に示すように、ホルダー２０の底部２１の傾斜面２１ａと、遮光部２３の傾斜面２３ａとは、副走査方向ＶＤ（Ｘ軸方向）における同じ向きに傾斜している。

図６（ｂ）に示すように、ホルダー２０の底部２１の傾斜面２１ａの、Ｘ軸方向とＹ軸方向とで構成される面（プリズム１７０の底面１７０ｃに平行な面）に対する傾斜角度をθ１とする。また、図６（ｃ）に示すように、遮光部２３の傾斜面２３ａの、Ｘ軸方向とＹ軸方向とで構成される面に対する傾斜角度をθ２とする。本実施形態では、傾斜角度をθ１と傾斜角度をθ２とは、同じ角度であり、例えば３０度程度である。

＜インクニアエンド判定方法＞
次に、本実施形態に係るインクニアエンドの判定方法について説明する。図７および図８は、インクニアエンドの判定方法を説明する図である。図７（ａ）及び（ｂ）には、インクカートリッジＩＣのプリズム１７０を通過するＹＺ平面の断面を示す。図７（ａ）および（ｂ）では、プリズム１７０と検出部９０の位置関係が、インクニアエンド判定のためのインク残量検出が可能な位置関係（検出位置）となったときの状態を示している。

図８（ａ）には、インクカートリッジＩＣのプリズム１７０を通過するＹＺ平面の断面を示す。図８（ａ）では、プリズム１７０と検出部９０との位置関係が、インクニアエンド判定のためのインク残量検出が可能な位置関係でないときの状態を示している。また、図８（ｂ）には、１個のインクカートリッジＩＣが検出部９０の上を通過した場合の検出電圧の特性例を示している。

図７（ａ）に示すように、プリズム１７０の傾斜面１７０ａ，１７０ｂはインク収容室１３０の内側を向いている。傾斜面１７０ａは例えば傾斜面１７０ｂと直交する面であり、傾斜面１７０ａと傾斜面１７０ｂとは、Ｘ−Ｚ平面に平行な平面に対して対称となるように配置されている。インク収容室１３０にインクＩＫが満たされている場合には傾斜面１７０ａ，１７０ｂはインクＩＫに接する。

インクカートリッジＩＣにインクＩＫが満たされている場合、発光部９２からプリズム１７０に入射した照射光Ｌｅは、傾斜面１７０ａからインクＩＫ内に入射する。この場合、傾斜面１７０ａ，１７０ｂで反射される反射光Ｌｒは非常に少なくなるため、受光部９４はほとんど光を受光しない。例えば、インクの屈折率を水の屈折率とほぼ同様の１．５と仮定し、プリズム１７０をポリプロピレンにより構成する場合、傾斜面１７０ａ，１７０ｂにおける全反射の臨界角は約６４度である。入射角は４５度なので、傾斜面１７０ａ，１７０ｂでは全反射されず、照射光ＬｅはインクＩＫ内に入射する。

図７（ｂ）に示すように、インクカートリッジＩＣ内のインクＩＫが印刷のために消費され、インクカートリッジＩＣにインクＩＫが満たされていない場合を考える。プリズム１７０の傾斜面１７０ａ，１７０ｂのうち、少なくとも発光部９２からの照射光Ｌｅが入射する部分が空気に接しているとする。この場合、発光部９２からプリズム１７０に入射した照射光Ｌｅは、傾斜面１７０ａ，１７０ｂで全反射され、反射光Ｌｒとしてプリズム１７０の外へ射出される。

したがって、インクカートリッジＩＣにインクＩＫが満たされていない場合、受光部９４が全反射した反射光Ｌｒを受光するため、強い検出電圧が得られる。例えば、空気の屈折率を１とし、プリズム１７０をポリプロピレンにより構成する場合、傾斜面１７０ａ，１７０ｂにおける全反射の臨界角は約４３度である。入射角は４５度なので、プリズム１７０に入射する照射光Ｌｅは傾斜面１７０ａ，１７０ｂで全反射される。

図８（ｂ）において、横軸は、プリズム１７０と検出部９０との相対的な位置を表し、縦軸は、横軸の各位置において検出部９０から出力される検出電圧を表す。プリズム１７０の中心と検出部９０の中心とが一致したときの位置（例えば図７（ａ）に示すインクカートリッジＩＣと検出部９０との位置関係）を、横軸の“０”としている。検出部９０の中心とは、主走査方向ＨＤにおける発光部９２と受光部９４との中央である。

また、図８（ａ）に示すインクカートリッジＩＣと検出部９０との位置関係のように、位置“０”から、プリズム１７０の中心と検出部９０の中心との相対位置が主走査方向ＨＤにずれた位置であって、ホルダー２０の開口部２２ｂに対応する位置を位置ＰＫ１とする。同様に、位置“０”から、プリズム１７０の中心と検出部９０の中心との相対位置が主走査方向ＨＤに沿ってずれた位置であって、ホルダー２０の開口部２２ａに対応する位置を位置ＰＫ２とする。

図８（ｂ）に示すように、受光部９４の受光量がゼロに近いほど検出電圧が上限電圧Ｖｍａｘに近くなり、受光部９４の受光量が大きいほど検出電圧が下限電圧Ｖｍｉｎに近くなる。受光量が所定値を越えると、検出電圧が飽和して下限電圧Ｖｍｉｎとなる。上限電圧Ｖｍａｘと下限電圧Ｖｍｉｎは、例えば、図３において受光部９４がコレクター端子に出力する電圧範囲の上限電圧と下限電圧に対応する。

検出部９０から出力される検出電圧は、検出部９０とプリズム１７０との相対位置に応じて変化する。ＳＩＫは、図７（ａ）で説明したインクカートリッジＩＣがインクＩＫで満たされている場合の検出電圧特性である。この場合、受光部９４の受光量は小さいため、位置“０”において検出電圧はＶｍａｘに近くなる。位置“０”から、プリズム１７０の中心と検出部９０の中心との相対位置が主走査方向ＨＤにずれた位置ＰＫ１，ＰＫ２には、プリズム１７０の底面１７０ｃからの反射光ＬｒによってピークＳｐｋ１，Ｓｐｋ２が生じる。このピークＳｐｋ１，Ｓｐｋ２については後述する。

ＳＥＰは、図７（ｂ）で説明したインクカートリッジＩＣがインクＩＫで満たされていない場合の検出電圧特性である。この場合、受光部９４の受光量が大きいため、位置“０”において検出電圧はＶｍｉｎに達する（あるいは、Ｖｍｉｎに近くなる）。このように、インクカートリッジＩＣがインクＩＫで満たされているか否かによって検出電圧の特性が大きく異なっており、本実施形態では、この検出電圧の特性の違いを検出することにより、インクカートリッジＩＣのインクニアエンドの判定を行う。

具体的には、検出電圧特性ＳＩＫのピーク値Ｖｐｋ１に基づいて、ピーク値Ｖｐｋ１と下限電圧Ｖｍｉｎとの間に閾値Ｖｔｈを設定する。そして、インクカートリッジＩＣが検出部９０の上を通る検出範囲ＤＰＲとなったときに、検出部９０の検出電圧が閾値Ｖｔｈよりも小さい場合には、インクニアエンドであると判定し、検出電圧が閾値Ｖｔｈ以上である場合には、インクが残存していると判定する。

図８（ａ）に示すように、ホルダー２０の開口部２２の中央には、発光部９２からの光を遮光する遮光部２３が設けられている。発光部９２からプリズム１７０の底面１７０ｃに入射した照射光Ｌｅは、その一部が底面１７０ｃで反射され反射光Ｌｒとして受光部９４に受光される。この反射光Ｌｒの底面１７０ｃでの反射角は、照射光Ｌｅの底面１７０ｃへの入射角と等しい。図８（ｂ）の検出電圧特性ＳＩＫに示すように、位置“０”では遮光部２３が存在するため底面１７０ｃからの反射光Ｌｒは検出されず、位置ＰＫ１，ＰＫ２では、遮光部２３が存在しないためピークＳｐｋ１，Ｓｐｋ２が検出される。

ここで、位置ＰＫ１は、主走査方向ＨＤにおける開口部２２ｂの中央と検出部９０の中央とが一致する位置であり、位置ＰＫ２は、主走査方向ＨＤにおける開口部２２ａの中央と検出部９０の中央とが一致する位置である。なお、プリズム１７０から全反射光が返ってくる場合にも底面１７０ｃからの反射光Ｌｒは検出されているが、検出電圧特性ＳＥＰに示すように全反射光の信号に埋もれるため、ピークＳｐｋ１，Ｓｐｋ２は生じない。

＜位置補正方法＞
さて、インクカートリッジＩＣの位置は、種々の公差によって位置ずれを生じる。公差としては、例えば、キャリッジＣＲの傾きや取り付けのずれ、ロータリーエンコーダーの誤差、電子回路（例えば検出部９０）の応答速度、例えばキャリッジ駆動等のメカ的な位置ずれ等が想定される。制御ユニット４０は、ロータリーエンコーダーのカウント値に基づいてインクカートリッジの位置を把握しているが、この制御ユニット４０が把握する位置が、公差により実際のインクカートリッジＩＣの位置からずれてしまうことがある。

この位置ずれを補正しない場合には、想定される全ての公差を含めた位置ずれ範囲を考慮し、その範囲内で正しくインクニアエンド検出が行えるように図８（ｂ）の検出範囲ＤＰＲを決める必要がある。そうすると、検出範囲ＤＰＲが２つのピークＳｐｋ１，Ｓｐｋ２の間隔よりも広くなり、閾値ＶｔｈをピークＳｐｋ１，Ｓｐｋ２のピーク電圧Ｖｐｋ１に近づけることができなくなる。

そうすると、ＳＥＰで示すインクが無くなった場合のピークが、プリズム入射面からの反射光によるピークＳｐｋ１，Ｓｐｋ２とほぼ同じ大きさ（Ｖｐｋ１）となる場合には、閾値Ｖｔｈにより正しくインクニアエンドを検出できないことになる。このような状況は、例えば検出部９０にインクミストが付着して発光量や受光量が低下し、ピークＳｐｋ１，Ｓｐｋ２を含めたノイズと全反射による検出電圧との比（いわゆるＳ／Ｎ比）が小さくなった場合等に生じうる。

そこで本実施形態では、ロータリーエンコーダーのカウント値に基づいて把握されるインクカートリッジＩＣの位置を、プリズム１７０に底面１７０ｃからの反射光（以下では、入射面反射ともいう）によるピークＳｐｋ１，Ｓｐｋ２に基づいて補正する。この補正により、公差による位置ずれが補正されるため、インクカートリッジＩＣの位置とロータリーエンコーダーのカウント値とを高精度に対応付けることができる。

次に、本実施形態における位置補正処理の方法について詳細に説明する。図９及び図１０は、位置補正処理方法を説明する図である。図９には、キャリッジＣＲが、ホームポジションＰＨから主走査方向ＨＤに沿って移動したときの検出部９０とインクカートリッジＩＣとの位置関係を示している。位置Ｐ１〜Ｐ４は、インクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４の各々のプリズム１７０に発光部９２からの光が当たる位置である。インクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４には、例えば、それぞれシアン、マゼンタ、イエロー、ブラックのインクが充填されており、各インクカートリッジＩＣについてインクニアエンド検出が行われる。

これらの位置Ｐ１〜Ｐ４はロータリーエンコーダーのカウント値に対応しており、キャリッジＣＲの設計値に基づくカウント値が不図示のＥＥＰＲＯＭに記憶されている。位置補正処理では、カウント値Ｐ１〜Ｐ４を補正し、補正後のカウント値Ｐ１’〜Ｐ４’を求める。インクニアエンド判定の際には、位置Ｐ１’〜Ｐ４’を特定するための情報（カウント値）を、検出位置情報と呼ぶ）。

この位置Ｐ１〜Ｐ４は、上述のような種々の公差によって実際のインクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４の位置とずれを生じているものとする。本実施形態では、この位置ずれを有する位置Ｐ１〜Ｐ４に対して補正処理を行い、その補正後の位置に対応するカウント値を、補正された検出位置情報として制御ユニット４０（図２参照）のＲＡＭに記憶する処理を行う。

図１０には、キャリッジＣＲが、ホームポジションＰＨから主走査方向ＨＤに移動したときの位置Ｐ１〜Ｐ４における検出電圧の特性例を示している。図１０に示すように、位置補正部４４（図２参照）は、補正前の位置に基づいてインクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４の検出電圧を取得するための位置範囲ＡＤ１を設定し、その位置範囲ＡＤ１をキャリッジＣＲが通過したときの検出電圧を求める。

位置補正部４４は、各インクカートリッジＩＣの検出電圧に対してピーク検出処理を行い、ピーク電圧が最も小さい第１のピークと、その次にピーク電圧が小さい第２のピークとを検出する。インクカートリッジＩＣ１を例にとると、位置補正部４４は、位置Ｐ１ａの第１のピークと位置Ｐ１ｂの第２のピークとを検出し、それらのピークの中心Ｐ１ｃ（Ｐ１ａ、Ｐ１ｂの平均値）を求める。インクカートリッジＩＣ２，ＩＣ４についても中心位置Ｐ２ｃ、Ｐ４ｃを求め、差分Ｐ１−Ｐ１ｃ、Ｐ２−Ｐ２ｃ、Ｐ４−Ｐ４ｃを求め、それらの差分の平均値（補正値）を求める。その差分の平均値をＰ１〜Ｐ４に加算し、インクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４の最終的な補正された位置Ｐ１’〜Ｐ４’とする。

ここで、図９のインクカートリッジＩＣ３のように、プリズム１７０に気泡ＢＡＢが付着する場合がある。例えば、ユーザーがインクカートリッジＩＣを床に落としてしまった場合等にプリズム１７０に気泡が付着し、そのままホルダー２０に装着されると、気泡が付着したまま検出電圧がサンプリングされる。気泡が付着すると、インクＩＫが満たされている場合であってもプリズム１７０と空気が接するため、入射光の一部が全反射されてしまう。

そうすると、図１０のインクカートリッジＩＣ３の検出電圧に示すように、気泡によるピークＳｐｂａｂが発生する。このピークＳｐｂａｂの大きさは、気泡ＢＡＢの付着量や付着位置によって変化し、入射面反射によるピークよりも大きくなる場合がある。このような場合には、位置補正処理において入射面反射によるピークの中心位置を算出できないので、気泡ＢＡＢが付着したと判定されたインクカートリッジＩＣについては、上述した補正値の算出対象から除外する。

具体的には、図１０のインクカートリッジＩＣ３を例にとると、ピーク検出において、ピーク電圧が最小のピークとしてピークＳｐｂａｂが検出され、２番目にピーク電圧が小さいピークとして入射面反射によるピークの一方が検出される。これらの２つのピークの間隔Ｐ３ｂ−Ｐ３ａが所定値よりも小さい場合には、気泡が付着していると判断し、ピークの中心位置を算出せず、上述した補正値の算出対象から除外する。

このように、本実施形態に係る印刷装置１０の構成によれば、検出部９０に対するプリズム１７０の検出位置に位置ずれが生じていても、位置ずれを高精度に補正することができる。これにより、位置補正しない場合と比べて、インクニアエンドを検出する範囲ＤＰＲをより狭く設定できるので、より高精度にインクニアエンドの判定を行うことができる。

また、本実施形態に係る印刷装置１０の構成によれば、ホルダー２０にインクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４が装着された状態で、ホルダー２０の底部２１におけるプリズム１７０の底面１７０ｃに対向する位置に配置された開口部２２に遮光部２３が設けられている。そのため、位置“０”では底面１７０ｃからの反射光が検出されないので、検出電圧（検出電圧特性ＳＩＫ）に第１のピークＳｐｋ１と第２のピークＳｐｋ２を発生させることができる。これにより、第１のピークＳｐｋ１と第２のピークＳｐｋ２とを検出し、これら２つのピークの中心位置（平均値）を算出することで、検出位置情報を補正することができる。

なお、検出位置の補正は、往路と復路とのそれぞれで行うようにしてもよい。ここで往路は、キャリッジＣＲと検出部９０の相対的な位置が離れていく移動のことであり、復路は、キャリッジＣＲと検出部９０の相対的な位置が近づいていく移動のことである。往路と復路では、受光部９４の回路的な（例えばフォトトランジスター等の）応答速度が異なるが、往路と復路でそれぞれ検出位置情報を補正することで、その応答速度の違いによる位置ずれを補正できる。

＜インクニアエンド判定処理、及び位置補正処理＞
次に、本実施形態に係る印刷装置１０のインクニアエンド判定処理、及び位置補正処理の手順を説明する。図１１は、インクニアエンド判定処理を示すフローチャートである。図１２は、位置補正処理を示すフローチャートである。インクニアエンド判定処理及び位置補正処理は、例えば、印刷装置１０の起動時やインクカートリッジＩＣの交換時等のタイミングで実行される。

図１１に示すように、インクニアエンド判定処理において、まず、制御ユニット４０（位置補正部４４）は、インクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４の各プリズム１７０について、主走査方向ＨＤにおける位置補正処理を行う（ステップＳ１０）。

各プリズム１７０の位置補正処理の詳細について説明する。制御ユニット４０は、キャリッジＣＲをホームポジションＰＨから主走査方向ＨＤに走査して、検出部９０に対するホルダー２０（インクカートリッジＩＣ）の相対的な位置を移動させる（ステップＳ１１）。ステップＳ１１では、制御ユニット４０は、図９に示す補正前の位置Ｐ１〜Ｐ４において、発光部９２から照射されインクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４のプリズム１７０で反射された反射光を受光部９４で受光させる。

続いて、制御ユニット４０は、位置Ｐ１〜Ｐ４においてインクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４の各プリズム１７０からの反射光の光量に対応する検出部９０（受光部９４）の検出電圧（出力電圧Ｖｃ）を読み取る（ステップＳ１２）。ステップＳ１２により、図１０に示すような検出電圧波形が得られる。

続いて、制御ユニット４０は、ステップＳ１２で得られた検出電圧波形から、インクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４のそれぞれについて２つのピークを検出する（ステップＳ１３）。そして、制御ユニット４０は、対象とするインクカートリッジＩＣに対応してステップＳ１３で検出された２つのピークの間隔が妥当であるか否かを判定する（ステップＳ１４）。

２つのピークの間隔が妥当であると判定された場合（ステップＳ１４：ＹＥＳ）、制御ユニット４０は、対象とするインクカートリッジＩＣに対応する２つのピークの中心位置（平均値）を算出する（ステップＳ１５）。そして、算出された中心位置（平均値）に基づいて、設計上の中心位置とのずれ量を算出する（ステップＳ１６）。

一方、ステップＳ１４において、２つのピークの間隔が妥当ではないと判定された場合（ステップＳ１４：ＮＯ）、制御ユニット４０は、対象とするインクカートリッジＩＣについてはピークの中心位置を算出せず、処理をステップＳ１７に移行する。

ステップＳ１７では、インクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４の全部について、ステップＳ１６までの処理が終了したか否かを判定する。全インクカートリッジＩＣについて処理が終了したと判定された場合（ステップＳ１７：ＹＥＳ）、制御ユニット４０は、各インクカートリッジＩＣについて算出された設計上の中心位置とのずれ量に基づいて、検出位置情報を補正するための補正量を決定する（ステップＳ１８）。そして、制御ユニット４０は、処理を図１１のステップＳ２０に移行する。

一方、ステップＳ１７において、全インクカートリッジＩＣについて処理が終了していないと判定された場合（ステップＳ１７：ＮＯ）、制御ユニット４０は、処理をステップＳ１３に戻す。

次に、図１１のフローチャートに戻って、ステップＳ２０では、制御ユニット４０は、インクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４の各プリズム１７０が検出部９０上を通過するようにホルダー２０を主走査方向ＨＤに移動させる。ここでは、ステップＳ１８で決定された補正量に基づいて補正した補正後の位置Ｐ１’〜Ｐ４’（図１０参照）において、発光部９２から照射されインクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４のプリズム１７０で反射された反射光を受光部９４で受光させる。

続いて、制御ユニット４０は、補正後の位置Ｐ１’〜Ｐ４’を含む検出範囲においてインクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４の各プリズム１７０からの反射光の光量に対応する検出部９０（受光部９４）の検出電圧（出力電圧Ｖｃ）を読み取る（ステップＳ３０）。

次に、制御ユニット４０（残量判定部４２）は、ステップＳ３０における検出電圧の測定結果に基づいて、判定対象となるインクカートリッジＩＣの検出電圧とインクニアエンド判定用の検出電圧の閾値とを比較する（ステップＳ４０）。

判定対象のインクカートリッジＩＣの検出電圧が当該閾値よりも小さい場合（ステップＳ４０：ＹＥＳ）は、制御ユニット４０は、その判定対象のインクカートリッジＩＣを「インクニアエンド」であると判定する（ステップＳ５０）。一方、判定対象のインクカートリッジＩＣの検出電圧が当該閾値よりも小さくない場合（ステップＳ４０：ＮＯ）は、制御ユニット４０は、その判定対象のインクカートリッジＩＣを「インク有り」であると判定する（ステップＳ６０）。

次に、制御ユニット４０は、インクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４の全てについてインクニアエンドの判定が終了したか否かを判定する（ステップＳ７０）。全てのインクカートリッジＩＣについてインクニアエンドの判定が終了した場合（ステップＳ７０：ＹＥＳ）は、制御ユニット４０は、印刷装置１０に備えられた表示部４６や印刷装置１０に接続されたコンピューター４８に、各インクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４の残存状態（インクニアエンドか否か）を表示する（ステップＳ８０）。

一方、インクニアエンドの判定が終了していないインクカートリッジＩＣが残っている場合（ステップＳ７０：ＮＯ）は、ステップＳ４０に戻り、残りのインクカートリッジＩＣについてインクニアエンドの判定を行う。このようにして、各インクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４について、インクニアエンドか否かの判定が順次行われる。

＜傾斜面の効果＞
次に、第１の実施形態に係る印刷装置１０のホルダー２０が底部２１に備える傾斜面２１ａと、遮光部２３に備える傾斜面２３ａとの効果を説明する。図１３は、第１の実施形態に係る傾斜面での反射光を説明する図である。図１３（ａ）には、本実施形態のホルダー２０を通過するＹＺ平面の断面を示す。図１３（ｂ）には、比較例として従来のホルダー８０を通過するＹＺ平面の断面を示す。図１３（ｃ）には、本実施形態のホルダー２０と従来のホルダー８０とでホルダーからの反射光を比較した図である。

図１３（ａ）に示す本実施形態のホルダー２０では、上述したように、底部２１にＸ軸方向に沿って傾斜する傾斜面２１ａが設けられ、遮光部２３にＸ軸方向に沿って傾斜する傾斜面２３ａが設けられている。また、検出部９０が備える発光部９２及び受光部９４は、ホルダー２０が移動する主走査方向ＨＤ（Ｙ軸方向）に沿って並ぶように配置されている。

上述したように、本実施形態に係る印刷装置１０では、受光部９４が受光するプリズム１７０（傾斜面１７０ａ，１７０ｂ、又は底面１７０ｃ）からの反射光Ｌｒの大きさに基づいて、インクカートリッジＩＣのインクニアエンド判定と、位置補正とを行う構成となっている。そのため、プリズム１７０以外の部分、例えば、ホルダー２０の底部２１や遮光部２３の底面で反射された反射光（以下ではノイズ光Ｌｎという）を受光部９４が受光すると、インクニアエンド判定処理、及び位置補正処理における精度の低下を招くこととなる。

発光部９２が備える発光素子が比較的広い指向角を有する場合、発光部９２から照射される照射光Ｌｅには、図７（ａ）及び（ｂ）に示すように＋Ｚ方向に進む照射光Ｌｅだけでなく、図１３（ａ）に示すように＋Ｚ方向以外の方向に斜めに進む照射光Ｌｅも存在する。したがって、発光部９２から照射される照射光Ｌｅの中から、ホルダー２０の底部２１や遮光部２３で反射されてノイズ光Ｌｎとなる光が生じてしまう。

図１３（ｂ）に示す従来のホルダーの一例であるホルダー８０には、特許文献１に記載の印刷装置と同様に、遮光部８３にＹ軸方向に沿って傾斜する傾斜面８３ａが設けられている。また、ホルダー８０の底部８１にも、Ｙ軸方向に沿って傾斜する傾斜面８１ａが設けられている。傾斜面８１ａ及び傾斜面８３ａに入射する照射光Ｌｅは、傾斜面８１ａ及び傾斜面８３ａに対する入射角と等しい反射角で反射されるが、傾斜面８１ａ及び傾斜面８３ａの法線方向はＺ軸方向とは異なる方向である。そのため、ノイズ光Ｌｎの多くは、図１３（ｂ）に示す遮光部８３の傾斜面８３ａで反射されるノイズ光Ｌｎ１のように、受光部９４とは異なる方向に進む。

しかしながら、傾斜面８１ａ及び傾斜面８３ａが、発光部９２及び受光部９４が並ぶ方向と同じＹ軸方向に沿って傾斜しているため、発光部９２から照射される照射光Ｌｅの角度によっては、図１３（ｂ）に示す傾斜面８１ａで反射されるノイズ光Ｌｎ２のように、受光部９４で受光されてしまうこともある。

これに対して、図１３（ａ）に示す本実施形態のホルダー２０では、底部２１の傾斜面２１ａ及び遮光部２３の傾斜面２３ａが、発光部９２及び受光部９４が並ぶ方向と交差するＸ軸方向に沿って傾斜している。そのため、傾斜面２１ａ及び傾斜面２３ａで反射されたノイズ光Ｌｎは受光部９４とは異なる方向に進むので、従来のホルダー８０と比べて、受光部９４で受光されるノイズ光Ｌｎを大幅に低減できる。

図１３（ｃ）には、ホルダー２０，８０を検出部９０に対して主走査方向ＨＤ（Ｙ軸方向）に沿って走査したときの、ホルダー２０，８０で反射され受光部９４で受光されたノイズ光Ｌｎの光量を比較して示している。図１３（ｃ）に示すように、従来のホルダー８０では、ホルダー８０の相対的な位置によってノイズ光Ｌｎが多くなるピークが見られる。これに対して、本実施形態のホルダー２０では、このようなピークがなく、従来のホルダー８０と比べて、ホルダー２０の相対的な位置に関わらずノイズ光Ｌｎの光量が低くなっている。

このように、第１の実施形態に係る印刷装置１０のホルダー２０は、底部２１及び遮光部２３に、Ｘ軸方向に沿って傾斜する傾斜面２１ａ及び傾斜面２３ａが設けられているので、傾斜面２１ａ及び傾斜面２３ａで反射され受光部９４で受光されるノイズ光Ｌｎを少なくすることができる。これにより、印刷装置１０は、従来のホルダー８０を備える印刷装置と比べて、インクニアエンド判定処理、及び位置補正処理における精度を向上させることができる。

なお、本実施形態では、傾斜面２１ａの傾斜角度θ１及び傾斜面２３ａの傾斜角度θ２が３０度程度であることとしたが、傾斜角度θ１，θ２は３０度以外の角度であってもよいし、傾斜角度θ１と傾斜角度θ２とが互いに異なる角度であってもよい。

（第２の実施形態）
第２の実施形態に係る印刷装置は、ホルダーの構成が異なる点以外は、第１の実施形態とほぼ同様の構成を有している。ここでは、第１の実施形態のホルダー２０に対する相違点を説明する。図１４は、第２の実施形態に係るホルダーの傾斜面を説明する図である。図１４（ａ）は、第２の実施形態に係るホルダー５０における図５（ａ）のＤ部を拡大した斜視図に相当する。図１４（ｂ）は、底部５１のＸＺ断面の模式図であり、図５（ａ）のＢ−Ｂ’線に沿った断面図に相当する。図１４（ｃ）は、遮光部５３のＸＺ断面の模式図であり、図５（ａ）のＣ−Ｃ’線に沿った断面図に相当する。第１の実施形態と共通する構成要素については、同一の符号を付しその説明を省略する。

＜ホルダーの構成と効果＞
図１４（ａ）に示すように、第２の実施形態に係るホルダー５０は、底部５１に副走査方向ＶＤ（Ｘ軸方向）に沿って傾斜する複数の傾斜面５１ａが設けられている。また、ホルダー５０には、開口部５２を副走査方向ＶＤ（Ｘ軸方向）に沿って開口部５２ａと開口部５２ｂとに２分割する遮光部５３が設けられ、遮光部５３には副走査方向ＶＤ（Ｘ軸方向）に沿って傾斜する複数の傾斜面５３ａが設けられている。

図１４（ｂ）に示すように、底部５１にはＸ軸方向に沿って、例えば３つの傾斜面５１ａがのこぎり刃状に並ぶように設けられている。各傾斜面５１ａのＸ軸方向における長さ及び傾斜角度は略同一である。図１４（ｃ）に示すように、遮光部５３にもＸ軸方向に沿って、例えば３つの傾斜面５３ａがのこぎり刃状に並ぶように設けられている。各傾斜面５３ａのＸ軸方向における長さ及び傾斜角度は略同一である。なお、傾斜面５１ａ及び傾斜面５３ａが傾斜する向きは、Ｘ軸方向において第１の実施形態における傾斜面２１ａ及び傾斜面２３ａ（図６（ｂ），（ｃ））が傾斜する向きとは逆の向きとなっているが、同じ向きであってもよい。

第２の実施形態に係るホルダー５０のように、のこぎり刃状に並ぶ複数の傾斜面５１ａ及び傾斜面５３ａを備えることによる効果を説明する。図１５及び図１６は、第２の実施形態に係るホルダーの効果を説明する図である。図１５（ａ）には、図１４（ｂ）と同様に、ホルダー５０の底部５１のＸＺ断面を示している。検出部９０（図示省略）は、底部５１の傾斜面５１ａが設けられた側に配置される。

図１５（ａ）において、底部５１に設けられた３つの傾斜面５１ａは、Ｘ軸方向の範囲Ｒｘ０に配置されているものとする。横軸の位置“０”は、設計上の副走査方向ＶＤ（Ｘ軸方向）における検出部９０の中心位置に対応するホルダー５０の位置である。そして、ホルダー５０に対する検出部９０の相対的な位置が、例えば、位置“０”から＋Ｘ方向に位置“＋１”まで、及び−Ｘ方向に位置“−１”までの範囲Ｒｘ内でずれる可能性があるものとする。

図１５（ａ）に示すように、第２の実施形態に係るホルダー５０では、Ｘ軸方向の範囲Ｒｘにおいて、検出部９０と傾斜面５１ａとのＺ軸方向における距離は、範囲Ｒｚ２内でばらつくこととなる。Ｘ軸方向の範囲Ｒｘにおける底部５１の傾斜面５１ａの−Ｚ方向の最下点を５１ｂとし、最上点を５１ｃとする。遮光部５３のＸＺ断面も底部５１のＸＺ断面と同様の形状であり、Ｘ軸方向の範囲Ｒｘにおける遮光部５３の傾斜面５３ａの−Ｚ方向の最下点を５３ｂとし、最上点を５３ｃとする。

図１５（ｂ）には、図６（ｂ）と同様に、第１の実施形態に係るホルダー２０の底部２１のＸＺ断面を比較して示している。ホルダー２０の底部２１に設けられた傾斜面２１ａは、Ｘ軸方向の範囲Ｒｘ０に配置されているものとする。ホルダー２０では、範囲Ｒｘにおいて、検出部９０と傾斜面２１ａとのＺ軸方向における距離は、範囲Ｒｚ１内でばらつくこととなる。Ｘ軸方向の範囲Ｒｘにおける底部２１の傾斜面２１ａにおける−Ｚ方向の最下点を２１ｂとし、最上点を２１ｃとする。遮光部２３の傾斜面２３ａにおけるＸＺ断面も底部２１のＸＺ断面と同様の形状であり、Ｘ軸方向の範囲Ｒｘにおける遮光部２３の傾斜面２３ａにおける−Ｚ方向の最下点を２３ｂとし、最上点を２３ｃとする。

ここで、傾斜面５１ａの傾斜角度と傾斜面２１ａの傾斜角度とが同じであるものとすると、図１５（ａ）に示す範囲Ｒｚ２は図１５（ｂ）に示す範囲Ｒｚ１よりも小さくなる。そして、図１５（ａ）に示す傾斜面５１ａの最下点５１ｂ、最上点５１ｃと検出部９０とのＺ軸方向における距離は、それぞれ図１５（ｂ）に示す傾斜面２１ａの最下点２１ｂ、最上点２１ｃと検出部９０とのＺ軸方向における距離よりも小さくなる。

図１６（ａ）には、第１の実施形態に係るホルダー２０（底部２１）の傾斜面２１ａの位置“＋１”におけるＹＺ断面を実線で示し、位置“−１”におけるＹＺ断面を破線で示している。図１６（ａ）に示すように、発光部９２から照射される照射光Ｌｅのうち、ホルダー２０の開口部２２ａを通過してプリズム１７０の底面１７０ｃで反射され、反射光Ｌｒが受光部９４で受光される。換言すれば、発光部９２から照射される照射光Ｌｅのうち、底部２１で遮られる照射光Ｌｅはプリズム１７０の底面１７０ｃに入射しない。また、底面１７０ｃで反射された反射光Ｌｒのうち遮光部２３で遮られる反射光Ｌｒは受光部９４で受光されない。

ホルダー２０が検出部９０に対して＋Ｘ方向の位置“＋１”に相対的にずれている場合（実線で示す最下点２１ｂ）と、−Ｘ方向の位置“−１”に相対的にずれている場合（破線で示す最上点２１ｃ）とを比較すると、底部２１の最上点２１ｃでは最下点２１ｂよりも検出部９０とのＺ軸方向における距離が大きくなる。したがって、破線で示すホルダー２０が−Ｘ方向の位置“−１”に相対的にずれている場合の方が底部２１で遮られる照射光Ｌｅが少なくなるので、プリズム１７０の底面１７０ｃに入射する照射光Ｌｅが多くなる。

また、同様に、遮光部２３の最上点２３ｃでは最下点２３ｂよりも検出部９０とのＺ軸方向における距離が大きくなる。したがって、破線で示すホルダー２０が−Ｘ方向の位置“−１”に相対的にずれている場合の方が遮光部２３で遮られる反射光Ｌｒが少なくなるので、受光部９４で受光される反射光Ｌｒが多くなる。

図１６（ｂ）には、第２の実施形態に係るホルダー５０（底部５１）及び遮光部５３の位置“＋１”におけるＹＺ断面を実線で示し、位置“−１”におけるＹＺ断面を破線で示している。ホルダー５０では、底部５１の最上点５１ｃが図１６（ａ）に示す底部２１の最上点２１ｃよりも−Ｚ方向側となるため、最上点５１ｃと検出部９０とのＺ軸方向における距離は、最上点２１ｃと検出部９０とのＺ軸方向における距離よりも小さくなる。

そして、底部５１の最下点５１ｂが図１６（ａ）に示す底部２１の最下点２１ｂよりも−Ｚ方向側となるため、最下点５１ｂと検出部９０とのＺ軸方向における距離も、最下点２１ｂと検出部９０とのＺ軸方向における距離よりも小さくなる。遮光部５３についても、図１６（ｂ）に示す最上点５３ｃ、最下点５３ｂが、図１６（ａ）に示す最上点２１ｃ、最下点２１ｂよりも−Ｚ方向側となるため、検出部９０とのＺ軸方向における距離は小さくなる。したがって、第２の実施形態に係るホルダー５０では、第１の実施形態に係るホルダー２０と比べて、プリズム１７０の底面１７０ｃに入射する照射光Ｌｅが少なくなり、かつ、受光部９４で受光される反射光Ｌｒも少なくなる。

また、範囲Ｒｚ２（図１５（ａ）参照）が範囲Ｒｚ１（図１５（ｂ）参照）よりも小さいため、ホルダー５０における最上点５１ｃと最下点５１ｂとのＺ軸方向における距離、及び最上点５３ｃと最下点５３ｂとのＺ軸方向における距離は、第１の実施形態に係るホルダー２０と比べて小さくなる。そのため、ホルダー５０における＋Ｘ方向の位置“＋１”にずれた場合と−Ｘ方向の位置“−１”にずれた場合との、プリズム１７０の底面１７０ｃに入射する照射光Ｌｅ及び受光部９４で受光される反射光Ｌｒの光量の差異は、第１の実施形態に係るホルダー２０と比べて小さくなる。

図１６（ｃ）は、第１の実施形態に係るホルダー２０が検出部９０に対して、位置“０”、位置“＋１”、位置“−１”のそれぞれにあるときに、ホルダー２０を主走査方向ＨＤ（Ｙ軸方向）に沿って移動させて、受光部９４で受光された反射光Ｌｒの光量を比較したグラフである。上述したように、位置“０”に対して位置“＋１”及び位置“−１”では検出部９０とのＺ軸方向における距離に差があるため、反射光Ｌｒの受光光量に大きな差が生じている。

図１６（ｄ）は、第２の実施形態に係るホルダー５０が検出部９０に対して、位置“０”、位置“＋１”、位置“−１”のそれぞれにあるときに、ホルダー５０を主走査方向ＨＤ（Ｙ軸方向）に沿って移動させて、受光部９４で受光された反射光Ｌｒの光量を比較したグラフである。上述したように、第２の実施形態に係るホルダー５０では第１の実施形態に係るホルダー２０と比べて、受光光量が全体的に小さくなっており、かつ、位置“０”、位置“＋１”、及び位置“−１”での受光光量の差は小さくなっている。

ここで、プリズム１７０の底面１７０ｃからの反射光Ｌｒの受光光量が多くなると、底面１７０ｃからの反射光Ｌｒがインクニアエンド判定におけるノイズ光となる場合がある。そのため、底面１７０ｃからの反射光Ｌｒの受光光量が過度に大きくなったり、受光光量のばらつきが大きくなったりすると、インクニアエンド判定の精度を低下させてしまうおそれがある。したがって、第２の実施形態に係るホルダー５０の構成によれば、検出部９０に対するホルダー５０の相対的な位置が副走査方向ＶＤ（Ｘ軸方向）にずれた場合でも、インクニアエンド判定の精度の低下を抑えることができる。

（第３の実施形態）
第３の実施形態に係る印刷装置は、ホルダーの構成が異なる点以外は、第１の実施形態とほぼ同様の構成を有している。ここでは、第１の実施形態のホルダー２０に対する相違点を説明する。図１７は、第３の実施形態に係るホルダーの傾斜面を説明する図である。図１７（ａ）は、第３の実施形態に係るホルダー６０における図５（ａ）のＤ部を拡大した斜視図に相当する。図１７（ｂ）は、底部６１のＸＺ断面の模式図であり、図５（ａ）のＢ−Ｂ’線に沿った断面図に相当する。図１７（ｃ）は、遮光部６３のＸＺ断面の模式図であり、図５（ａ）のＣ−Ｃ’線に沿った断面図に相当する。第１の実施形態と共通する構成要素については、同一の符号を付しその説明を省略する。

＜ホルダーの構成と効果＞
図１７（ａ）に示すように、第３の実施形態に係るホルダー６０は、底部６１に副走査方向ＶＤ（Ｘ軸方向）に沿って傾斜する傾斜面６１ａが設けられている。また、開口部６２を副走査方向ＶＤ（Ｘ軸方向）に沿って開口部６２ａと開口部６２ｂとに２分割する遮光部６３が設けられ、遮光部６３には副走査方向ＶＤ（Ｘ軸方向）に沿って傾斜する傾斜面６３ａが設けられている。図１７（ｂ）および（ｃ）に示すように、傾斜面６１ａと傾斜面６３ａとは傾斜の向きが互いに逆向きとなっている。したがって、ホルダー６０には、主走査方向ＨＤ（Ｙ軸方向）に沿って互いに逆向きの傾斜面６１ａと傾斜面６３ａとが交互に配置されている。

図１８は、第３の実施形態に係るホルダー６０の効果を説明する図である。図１８（ａ）には、図１７（ｂ）と同様にホルダー６０の底部６１のＸＺ断面を実線で示し、さらに、図１７（ｃ）と同様に遮光部６３のＸＺ断面を破線で重ねて示している。底部６１の傾斜面６１ａの位置“＋１”での最上点を６１ｃとし、位置“−１”での最下点を６１ｂとする。また、遮光部６３の傾斜面６３ａの位置“＋１”での最下点を６３ｂとし、位置“−１”での最上点を６３ｃとする。

図１８（ｂ）には、第３の実施形態に係るホルダー６０（底部６１）及び遮光部６３の位置“＋１”におけるＹＺ断面を実線で示し、位置“−１”におけるＹＺ断面を破線で示している。ホルダー６０では、実線で示す位置“＋１”において、底部６１は最下点６１ｂとなるのに対して遮光部６３は最上点６３ｃとなる。一方、位置“−１”においては、底部６１が最上点６１ｃとなるのに対して遮光部６３は最下点６３ｂとなる。したがって、ホルダー６０における＋Ｘ方向の位置“＋１”にずれた場合と−Ｘ方向の位置“−１”にずれた場合とで、プリズム１７０の底面１７０ｃに入射する照射光Ｌｅの光量及び受光部９４で受光される反射光Ｌｒの光量はほぼ同じとなる。

図１８（ｃ）は、第３の実施形態に係るホルダー６０が検出部９０に対して、位置“０”、位置“＋１”、位置“−１”のそれぞれにあるときに、ホルダー６０を主走査方向ＨＤ（Ｙ軸方向）に沿って移動させて、受光部９４で受光された反射光Ｌｒの光量を比較したグラフである。上述したように、第３の実施形態に係るホルダー６０では第１の実施形態に係るホルダー２０と比べて、受光光量が過度に大きくならず、かつ、位置“０”、位置“＋１”、及び位置“−１”での受光光量の差が小さくなっている。

したがって、第３の実施形態に係るホルダー６０の構成によれば、第３の実施形態と同様に、検出部９０に対するホルダー６０の相対的な位置が副走査方向ＶＤ（Ｘ軸方向）にずれた場合でも、インクニアエンド判定の精度の低下を抑えることができる。

上述した実施形態は、あくまでも本発明の一態様を示すものであり、本発明の範囲内で任意に変形及び応用が可能である。変形例としては、例えば、以下のようなものが考えられる。

（変形例１）
第２の実施形態に係るホルダー５０では、底部５１及び遮光部５３に副走査方向ＶＤ（Ｘ軸方向）に沿って同じ向きに傾斜する複数の傾斜面５１ａ，傾斜面５３ａが設けられた構成を有していたが、本発明はこのような形態に限定されない。例えば、底部の複数の傾斜面と遮光部の複数の傾斜面とが互いに逆の向きに傾斜した構成であってもよい。

図１９は、変形例１に係るホルダーの傾斜面を説明する図である。図１９（ａ）は、変形例１に係るホルダー７０における図５（ａ）のＤ部を拡大した斜視図に相当する。図１９（ｂ）は、底部７１のＸＺ断面の模式図であり、図５（ａ）のＢ−Ｂ’線に沿った断面図に相当する。図１９（ｃ）は、遮光部７３のＸＺ断面の模式図であり、図５（ａ）のＣ−Ｃ’線に沿った断面図に相当する。図１９（ａ），（ｂ），（ｃ）に示すように、変形例１に係るホルダー７０は、第２の実施形態に係るホルダー５０と同様に、底部７１に複数の傾斜面７１ａが設けられ、遮光部７３に複数の傾斜面７３ａが設けられているが、傾斜面７１ａと傾斜面７３ａとは互いに逆の向きに傾斜している。このような構成によれば、第２の実施形態における効果と第３の実施形態における効果とを併せ持つことができる。なお、底部７１又は遮光部７３のいずれか一方に、複数の傾斜面の代わりに一つの傾斜面が設けられた構成としてもよい。

（変形例２）
また、例えば、第１の実施形態に係るホルダー２０において、開口部２２から主走査方向ＨＤに所定の距離離れた位置に反射部が設けられた構成としてもよい。図２０は、変形例２に係るホルダーの構成を説明する図である。図２０（ａ）は、検出部９０側から見たホルダー２０Ａの底部２１の模式図である。図２０（ｂ）は、インクカートリッジＩＣが装着されたホルダー２０ＡのＹＺ断面の模式図である。

図２０（ａ）及び（ｂ）に示すように、変形例２に係るホルダー２０Ａは、開口部２２から主走査方向ＨＤに所定の距離ｂ０だけ離れた位置に反射部２４が設けられている。反射部２４は、ホルダー２０Ａの往復移動によって反射部２４が検出部９０の直上に位置したときに、発光部９２及び受光部９４と対向する場所に設けられている。反射部２４は、例えば、入射光を全反射可能なミラーで形成されている。ホルダー２０Ａの底部２１に反射材をコーティングすることによって反射部２４としてもよい。

反射部２４が検出部９０の直上に位置するとき、発光部９２からの照射光が反射部２４に入射すると、反射部２４で全反射された反射光が受光部９４に入射する。反射部２４の位置はロータリーエンコーダーの所定のカウント値に対応しており、キャリッジＣＲの設計値に基づくカウント値が制御ユニット４０のＲＯＭに記憶されている。位置補正処理の際には、検出部９０から出力される検出電圧から、反射部２４で全反射された反射光によるピークを検出し、その検出したピーク位置（反射部２４の中心位置）を基準としてプリズム１７０の中心位置を補正する一次補正処理を行う。そして、一次補正した位置において、さらに上記実施形態の各インクカートリッジＩＣの検出電圧に対してピーク検出を行い、その検出したピーク位置に基づいてプリズム１７０の中心位置を補正する二次補正処理を行うことで、位置補正処理の精度をより向上させることが可能となる。

また、反射部２４で全反射された反射光による検出電圧に基づいて、発光部９２をＰＷＭ制御して調光を行うことにより、インクニアエンド判定処理、及び位置補正処理における発光部９２からの発光量を調整することができる。さらに、例えば、反射部２４からの反射光が検出されない場合に検出部９０が故障していると判定するというように、検出部９０の故障検出を行うことができる。変形例２のようにホルダー２０Ａに反射部２４を備えた構成においても、底部２１に傾斜面２１ａを有することにより、反射部２４による上述の効果を阻害するおそれがある反射部２４以外での反射光の影響を抑えることができる。したがって、インクニアエンド判定処理、及び位置補正処理における精度をより向上させることができる。なお、変形例２の構成は、上記実施形態及び変形例１に係るホルダー５０，６０，７０にも適用できる。

（変形例３）
また、上記実施形態及び変形例に係るホルダー２０，２０Ａ，５０，６０，７０は開口部２２，５２，６２，７２に遮光部２３，５３，６３，７３が設けられた構成を有していたが、本発明はこのような形態に限定されない。遮光部２３，５３，６３，７３が設けられていない構成であってもよい。例えば、変形例２のように反射部２４を備えた構成であれば、プリズム１７０の底面１７０ｃからの反射光からピークＳｐｋ１，Ｓｐｋ２を検出しなくても、反射部２４からの反射光により検出したピーク位置に基づいてプリズム１７０の中心位置を補正することができる。

（変形例４）
また、上記実施形態及び変形例に係るホルダー２０，２０Ａ，５０，６０，７０では、底部２１，５１，６１，７１の傾斜面２１ａ，５１ａ，６１ａ，７１ａと、遮光部２３，５３，６３，７３の傾斜面２３ａ，５３ａ，６３ａ，７３ａと、がＸ軸方向に沿って傾斜する構成を有していたが、本発明はこのような形態に限定されない。傾斜面２１ａ，５１ａ，６１ａ，７１ａが傾斜する第２の方向と、傾斜面２３ａ，５３ａ，６３ａ，７３ａが傾斜する第３の方向とは、発光部９２及び受光部９４が並ぶ方向（Ｙ軸方向）以外の方向であればいずれの方向であってもよい。また、第２の方向と第３の方向とが互いに異なる方向であってもよい。

（変形例５）
また、上記実施形態及び変形例に係るホルダー２０，２０Ａ，５０，６０，７０では、開口部２２，５２，６２，７２が底部２１，５１，６１，７１に設けられた構成を有していたが、本発明はこのような形態に限定されない。開口部２２，５２，６２，７２は、プリズム１７０と検出部９０とが対向する位置に設けられていればよく、例えば、ホルダー２０，２０Ａ，５０，６０，７０の側部に設けられていてもよい。

（変形例６）
また、上記の実施形態及び変形例では、上記実施形態及び変形例に係るホルダー２０，２０Ａ，５０，６０，７０は、４つのインクカートリッジＩＣが装着され、それぞれのプリズム１７０に対応する数の開口部２２，５２，６２，７２を有する構成であったが、本発明はこのような形態に限定されない。装着されるインクカートリッジＩＣの数とそれに対応する開口部２２，５２，６２，７２の数とは、４つ以外であってもよい。

（変形例７）
また、上記の実施形態及び変形例では、検出部９０の備える発光部９２及び受光部９４は、キャリッジＣＲが移動する主走査方向ＨＤ（Ｙ軸方向）に沿って並ぶように配置された構成を有していたが、本発明はこのような形態に限定されない。例えば、発光部９２及び受光部９４が主走査方向ＨＤと直交する方向（Ｘ軸方向）に沿って並ぶように配置された構成を有していてもよい。

（変形例８）
また、上記の実施形態及び変形例では、インクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４を着脱可能なホルダー２０，２０Ａ，５０，６０，７０を搭載したキャリッジＣＲが移動し、検出部９０が印刷装置本体に固定される場合を例に説明したが、本発明はこのような形態に限定されない。例えば、検出部９０を搭載したキャリッジＣＲが移動し、インクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４を着脱可能なホルダー２０，２０Ａ，５０，６０，７０が印刷装置本体に固定されてもよく、インクカートリッジＩＣ１〜ＩＣ４と検出部９０とが相対的に移動する構成であればよい。また、ホルダー２０，２０Ａ，５０，６０，７０が固定されており、印刷ヘッド３５を備えるキャリッジＣＲに検出部９０が配置された構成であってもよい。

（変形例９）
また、上記の実施形態及び変形例では、本発明を印刷装置とインクカートリッジとに適用した例を説明したが、本発明はこのような形態に限定されない。本発明は、例えば、インク以外の他の液体を噴射したり吐出したりする液体消費装置に用いてもよく、また、そのような液体を収容した液体容器にも適用可能である。また、本発明の液体容器は、微小量の液滴を吐出させる液体噴射ヘッド等を備える各種の液体消費装置に流用可能である。「液滴」とは、上記液体消費装置から吐出される液体の状態をいい、粒状、涙状、糸状に尾を引くものも含むものとする。また、ここでいう「液体」とは、液体消費装置が噴射させることができるような材料であれよい。例えば、物質が液相であるときの状態のものであればよく、粘性の高い又は低い液状態、ゾル、ゲル水、その他の無機溶剤、有機溶剤、溶液、液状樹脂、液状金属（金属融液）のような流状態、また物質の一状態としての液体のみならず、顔料や金属粒子等の固形物からなる機能材料の粒子が溶媒に溶解、分散又は混合されたもの等を含む。また、液体の代表的な例としては上記実施形態で説明したようなインクや、液晶等が挙げられる。ここで、インクとは一般的な水性インク及び油性インク並びにジェルインク、ホットメルトインク等の各種液体組成物を包含するものとする。液体消費装置の具体例としては、例えば、液晶ディスプレイ、ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）ディスプレイ、面発光ディスプレイ、カラーフィルターの製造等に用いられる電極材や色材等の材料を分散又は溶解のかたちで含む液体を噴射する液体消費装置、バイオチップ製造に用いられる生体有機物を噴射する液体消費装置、精密ピペットとして用いられ試料となる液体を噴射する液体消費装置であってもよい。更に、時計やカメラ等の精密機械にピンポイントで潤滑油を噴射する液体消費装置、光通信素子等に用いられる微小半球レンズ（光学レンズ）等を形成するために紫外線硬化樹脂等の透明樹脂液を基板上に噴射する液体消費装置、基板等をエッチングするために酸又はアルカリ等のエッチング液を噴射する液体消費装置を採用してもよい。

１０…印刷装置（液体消費装置）、２０，５０，６０，７０，８０…ホルダー、２１，５１，６１，７１，８１…底部（部分）、２１ａ，５１ａ，６１ａ，７１ａ，８１ａ…傾斜面（第１の傾斜面）、２２，５２，６２，７２…開口部、２３，５３，６３，７３，８３…遮光部、２３ａ，５３ａ，６３ａ，７３ａ，８３ａ…傾斜面（第２の傾斜面）、３３…キャリッジモーター（移動部）、９０…検出部、９２…発光部、９４…受光部、１７０…プリズム、１７０ｃ…底面（面）、ＩＣ，ＩＣ１〜ＩＣ４…インクカートリッジ（液体収容部）。

Claims (5)

1. 発光部と受光部とが第１の方向に沿って配置された検出部と、
   前記第１の方向と交差する方向に沿った稜線と前記検出部に対向する面とを有するプリズムが配置された液体収容部と、
   前記液体収容部が着脱可能に装着され、前記検出部に対向する部分の前記プリズムの前記面と対向する位置に開口部を有するホルダーと、
   前記ホルダーを前記検出部に対して前記第１の方向に沿って相対的に移動させる移動部と、を備え、
   前記ホルダーの前記部分は、前記検出部に対向する側に、前記第１の方向以外の第２の方向に沿って傾斜する第１の傾斜面を有することを特徴とする液体消費装置。
2. 請求項１に記載の液体消費装置であって、
   前記ホルダーは、複数の前記液体収容部を着脱可能に保持し、
   前記開口部は、前記複数の液体収容部の前記プリズムの各々に対応して設けられ、
   前記第１の傾斜面は、隣り合う前記開口部同士の間に配置されていることを特徴とする液体消費装置。
3. 請求項１または２に記載の液体消費装置であって、
   前記部分は、複数の前記第１の傾斜面が前記第２の方向に沿って並ぶように設けられた、のこぎり刃状の断面形状を有することを特徴とする液体消費装置。
4. 請求項１から３のいずれか一項に記載の液体消費装置であって、
   前記ホルダーは、前記開口部の一部を塞ぐように設けられた遮光部を有し、
   前記遮光部は、前記検出部に対向する側に、前記第１の方向以外の第３の方向に沿って傾斜する第２の傾斜面を有することを特徴とする液体消費装置。
5. 請求項４に記載の液体消費装置であって、
   前記第２の方向及び前記第３の方向は、前記第１の方向と直交する方向であり、
   前記第１の傾斜面と前記第２の傾斜面とは、互いに逆向きに傾斜していることを特徴とする液体消費装置。

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