JP6179600B2 - 質量分析データ解析装置 - Google Patents
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Description
a)測定領域内の各測定点に対するマススペクトルデータに基づいて、所定の質量電荷比範囲内の質量電荷比値毎に作成される信号強度値の2次元分布を示す画像に対しそれぞれテクスチャ解析を実行し、該画像中の局所的な模様及び/又はパターンの特徴を反映した特徴量を求めるテクスチャ解析実行部と、
b)前記テクスチャ解析実行部により質量電荷比値毎に求められた特徴量に基づいて特徴量スペクトルを作成する特徴量スペクトル作成部と、
c)前記特徴量スペクトル作成部により作成された特徴量スペクトルに対しピーク検出を行い、得られた複数のピークの中で強度順に所定個数のピークを解析対象ピークとして抽出する解析対象ピーク決定部と、
を備え、前記解析対象ピーク決定部により決定された解析対象ピークを参照して前記測定領域内の各測定点におけるマススペクトルデータからデータを選択して処理することを特徴としている。
なお、所定の質量電荷比範囲は予めその範囲(つまり上限値と下限値)が例えばデフォルト値として定められていてもよいし、その都度、分析者により指定されるようにしてもよい。
図2は本実施例のイメージング質量分析装置におけるデータ解析処理動作の概略説明図、図3は本実施例のイメージング質量分析装置における特徴的なデータ解析処理の手順を示すフローチャートである。また、図4〜図7はこのデータ解析処理を適用した実測例の結果である。図2〜図7を参照して、本発明の特徴であるデータ解析処理の一例を説明する。
例えば分析者が操作部6から解析対象であるデータ(例えば目的の測定領域に対する質量分析イメージングデータが格納されたファイル)を指定した上で解析開始を指示すると、データ解析処理部2においてテクスチャ解析部21は、データ記憶部3から指定された測定領域中の全てのマススペクトルデータを読み込む(ステップS1)。図2(b)に示すように、或る1つの測定点(微小領域又はピクセル)におけるマススペクトルは、各質量電荷比値に対する信号強度値から構成される。以下の説明では、マススペクトルにおいて信号強度値が得られている質量電荷比値をデータポイントといい、質量電荷比の小さい順にデータポイントを並べたときに各データポイントに付す連続番号をポイント番号ということとする。
具体的には、まず、指定されている質量電荷比範囲の下限値に対応するポイント番号smzを初期値として、マススペクトルデータのポイント番号を示す変数iに設定する(ステップS2)。そして、図2(c)に示すように、ポイント番号が変数iである信号強度値データを全ての測定点から収集し、それを再構成することでそのポイント番号に対する、つまりはそのポイント番号に対応する質量電荷比値に対する画像を作成する。その画像に対して所定の統計的テクスチャ解析を実行する(ステップS3)。
空間濃度レベル依存法は、画像における濃度がiである一つの画素から角度θ方向に距離dだけ離れた別の画素の濃度がjである確率P(i,j)を要素とする同時生起行列を求め、その行列から特徴量を算出する手法である。特徴量の一つである相関値aは、画素ペアの同時発生確率で重み付けされた相関の統計的な尺度であり、次の式で得られる。
a=Σ{(i−μi)(j−μj)P(i,j)}/σiσj
ここで、Σはi、jに関する総和であり、μi、σiはそれぞれ、濃度がiである確率P(i)の平均、標準偏差、μj、σjはそれぞれ、濃度がjである確率P(j)の平均、標準偏差である。ただし、P(i)=ΣjP(i,j)、P(j)=ΣiP(i,j)で、Σjはjに関する総和、Σiはiに関する総和である。画像の均質性が高い(つまり濃度の変化が小さい)場合には、相関値は低くなる。
c=Σk2P(k)
ここで、Σはkが0からn−1までの総和である。
以下、図2、図3に基づいて説明したデータ解析処理を実際に分析を行って得られた質量分析イメージングデータに適用した実測例について説明する。
実測例1として、生姜をスライスした切片を試料として正イオンモードでイメージング質量分析して得られたデータを解析処理した例について説明する。
図4はこのときのピーク抽出結果と各ピークの質量電荷比値における質量分析イメージング画像を示す図である。ここでは、平均スペクトル、ベースピークスペクトル(これら二つは従来法)、及び、空間濃度レベル依存法で算出した相関値に基づいて作成した特徴量スペクトル(図中では「SGLDM-corrスペクトル」と記載)それぞれに基づいて、強度が大きい順に200個のピークを解析対象ピークとして選出した。
実測例2として、マウスの足裏部皮膚をスライスした切片を試料として正イオンモードでイメージング質量分析して得られたデータを解析処理した例について説明する。
図6はこのときのピーク抽出結果と各ピークの質量電荷比値における質量分析イメージング画像を示す図である。実測例1と同様に、平均スペクトル、ベースピークスペクトル、及びSGLDM-corrスペクトルに基づいて、強度上位200個のピークを解析対象ピークとして選出した。
例えば上記実施例では、通常の質量分析によって得られたマススペクトルデータを集めた質量分析イメージングデータに対し特徴的なデータ解析処理を適用したが、特定のプリカーサイオンを衝突誘起解離などによって開裂させて生じたプロダクトイオンを質量分析して得られたMSnスペクトルデータを集めた質量分析イメージングデータに対し特徴的なデータ解析処理を適用してもよい。
2…データ処理部
21…テクスチャ解析部
22…特徴量スペクトル作成部
23…解析対象ピーク決定部
24…データ抽出部
25…多変量解析処理部
3…データ記憶部
4…顕微画像処理部
5…制御部
6…操作部
7…表示部
Claims (6)
- 試料上の2次元的な測定領域内に設定された複数の測定点に対してそれぞれ質量分析を実行することにより収集されたマススペクトルデータを解析処理する質量分析データ解析装置であって、
a)測定領域内の各測定点に対するマススペクトルデータに基づいて、所定の質量電荷比範囲内の質量電荷比値毎に作成される信号強度値の2次元分布を示す画像に対しそれぞれテクスチャ解析を実行し、該画像中の局所的な模様及び/又はパターンの特徴を反映した特徴量を求めるテクスチャ解析実行部と、
b)前記テクスチャ解析実行部により質量電荷比値毎に求められた特徴量に基づいて特徴量スペクトルを作成する特徴量スペクトル作成部と、
c)前記特徴量スペクトル作成部により作成された特徴量スペクトルに対しピーク検出を行い、得られた複数のピークの中で強度順に所定個数のピークを解析対象ピークとして抽出する解析対象ピーク決定部と、
を備え、前記解析対象ピーク決定部により決定された解析対象ピークを参照して前記測定領域内の各測定点におけるマススペクトルデータからデータを選択して処理することを特徴とする質量分析データ解析装置。
- 請求項1に記載の質量分析データ解析装置であって、
前記テクスチャ解析実行部は統計的テクスチャ解析を実行することを特徴とする質量分析データ解析装置。 - 請求項2に記載の質量分析データ解析装置であって、
前記テクスチャ解析実行部は空間濃度レベル依存法によるテクスチャ解析を実行することを特徴とする質量分析データ解析装置。 - 請求項3に記載の質量分析データ解析装置であって、
前記テクスチャ解析実行部は特徴量として相関値を用いることを特徴とする質量分析データ解析装置。 - 請求項2に記載の質量分析データ解析装置であって、
前記テクスチャ解析実行部は濃度レベル差分法によるテクスチャ解析を実行することを特徴とする質量分析データ解析装置。 - 請求項5に記載の質量分析データ解析装置であって、
前記テクスチャ解析実行部は特徴量としてコントラスト値を用いることを特徴とする質量分析データ解析装置。
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