JP6112605B2 - 溶接電源のくびれ検出制御方法 - Google Patents

溶接電源のくびれ検出制御方法 Download PDF

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Description

本発明は、複数の溶接電源によって共通のワークに各々アークを発生させて溶接し、これらの溶接電源の内の少なくとも1台は、短絡状態からアークが再発生する前兆現象である溶滴のくびれを検出し、このくびれを検出すると短絡負荷に通電する溶接電流を減少させてアークを再発生させる溶接電源のくびれ検出制御方法に関するものである。
特許文献1の発明では、溶接ワイヤとワークとの間でアーク発生状態と短絡状態とを繰り返す消耗電極アーク溶接において、短絡状態からアークが再発生する前兆現象である溶滴のくびれを溶接ワイヤとワークとの間の電圧値又は抵抗値の変化がくびれ検出基準値に達したことによって検出し、このくびれを検出すると短絡負荷に通電する溶接電流を急減させて小電流値の状態でアークが再発生するように出力制御(くびれ検出制御)している。このようにすると、アーク再発生時の電流値を小さくすることができるので、スパッタ発生量を低減することができる。
ところで、複数の溶接個所を有するワークに対して、複数の溶接電源を使用して同時に溶接を行うことがある。以下、このような場合におけるくびれ検出制御について図面を参照して説明する。
図7は、2台の溶接電源を使用して1つのワークの2つの溶接個所を同時に溶接するための溶接装置の構成図である。2台の溶接電源は共にくびれ検出制御機能を内蔵している。以下、同図を参照して各構成物について説明する。
第1溶接電源PS1は、第1溶接電圧Vw1及び第1溶接電流Iw1を出力すると共に、第1送給機FD1に第1送給制御信号Fc1を出力する。第1送給機FD1は、この第1送給制御信号Fc1を入力として、第1溶接ワイヤ11を第1溶接トーチ41内を通って送給する。第1溶接ワイヤ11とワーク2との間には第1アーク31が発生する。第1溶接ワイヤ11とワーク2との間では、短絡状態とアーク状態とが交互に繰り返されて溶接が行われる。第1溶接トーチ41は、ロボット(図示は省略)に把持されている。ワーク2は治具5に設置されている。
第1溶接電源PS1のプラス端子と第1溶接トーチ41内の第1給電チップ61とは、ケーブルを介して接続されている。また、第1溶接電源PS1のマイナス端子と治具5とは、ケーブルを介して接続されている。第1溶接電圧Vw1は、第1給電チップ61とワーク2の表面との間に印加される電圧である。第1給電チップ61に電圧検出線を接続することは容易であるが、ワーク2の表面に電圧検出線を接続することは難しいために、治具5に接続することになる。このために、第1溶接電圧検出回路VD1は、第1給電チップ61と治具5との間の電圧を検出して、第1溶接電圧検出信号Vd1を出力する。この第1溶接電圧検出信号Vd1は、第1溶接電源PS1に入力される。この第1溶接電圧検出信号Vd1を使用して第1溶接ワイヤ11の溶滴に形成されるくびれを検出する。
第2溶接電源PS2は、第2溶接電圧Vw2及び第2溶接電流Iw2を出力すると共に、第2送給機FD2に第2送給制御信号Fc2を出力する。第2送給機FD2は、この第2送給制御信号Fc2を入力として、第2溶接ワイヤ12を第2溶接トーチ42内を通って送給する。第2溶接ワイヤ12とワーク2との間には第2アーク32が発生する。第2溶接ワイヤ12とワーク2との間では、短絡状態とアーク状態とが交互に繰り返されて溶接が行われる。第2溶接トーチ42は、ロボット(図示は省略)に把持されている。
第2溶接電源PS2のプラス端子と第2溶接トーチ42内の第2給電チップ62とは、ケーブルを介して接続されている。また、第2溶接電源PS2のマイナス端子と治具5とは、ケーブルを介して接続されている。第2溶接電圧Vw2は、第2給電チップ62とワーク2の表面との間に印加される電圧である。第2給電チップ62に電圧検出線を接続することは容易であるが、ワーク2の表面に電圧検出線を接続することは難しいために、治具5に接続することになる。このために、第2溶接電圧検出回路VD2は、第2給電チップ62と治具5との間の電圧を検出して、第2溶接電圧検出信号Vd2を出力する。この第2溶接電圧検出信号Vd2は、第2溶接電源PS2に入力される。この第2溶接電圧検出信号Vd2を使用して第2溶接ワイヤ12の溶滴に形成されるくびれを検出する。
第1溶接電流Iw1は、第1溶接電源PS1のプラス端子→第1給電チップ61→第1溶接ワイヤ11→ワーク2→治具5→第1溶接電源PS1のマイナス端子経路で通電する。第2溶接電流Iw2は、第2溶接電源PS2のプラス端子→第2給電チップ62→第2溶接ワイヤ12→ワーク2→治具5→第2溶接電源PS2のマイナス端子経路で通電する。したがって、ワーク2及び治具5中を第1溶接電流Iw1及び第2溶接電流Iw2が通電する。これら第1溶接電流Iw1と第2溶接電流Iw2を合算した電流を、以下合算溶接電流Igと呼ぶことにする。そして、この合算溶接電流Igが通電するワーク2及び治具5を共通通電路と呼ぶことにする。この共通通電路は、抵抗値及びインダクタンス値L(μH)を有している。一般的に抵抗値は小さな値であるので、無視することができる。このために、共通通電路は、インダクタンス値Lのみを有していることになる。
上記の第1溶接電圧検出信号Vd1及び第2溶接電圧検出信号Vd2は、下式のように表すことができる。
Vd1=Vw1+L・dIg/dt …(11)式
Vd2=Vw2+L・dIg/dt …(12)式
したがって、第1溶接電圧検出信号Vd1は、第1溶接電圧Vw1に合算溶接電流Igの変化によって共通通電路のインダクタンス値Lに発生する電圧が重畳した値となる。第2溶接電圧検出信号Vd2についても同様である。
図8は、図7の溶接装置において、くびれ検出制御が正常に動作したときの波形図である。同図(A)は第1溶接電流Iw1の波形を示し、同図(B)は第1溶接電圧検出信号Vd1の波形を示し、同図(C)は第2溶接電流Iw2の波形を示し、同図(D)は第2溶接電圧検出信号Vd2の波形を示す。同図は、第1溶接ワイヤ11とワーク2とが短絡状態にある時刻t1〜t3の期間と、第2溶接ワイヤ12とワーク2とが短絡状態にある時刻t5〜t6の期間とが重なっていない場合である。このような状態であるために、理由は後述するが、くびれ検出制御は誤動作せずに正常に動作している。以下、同図を参照して説明する。
第1溶接ワイヤ11とワーク2とが短絡状態にある時刻t1〜t3の期間中は、第2溶接ワイヤ12とワーク2との間はアーク状態にある。このために、同図(C)に示すように、第2溶接電流Iw2は、アーク期間中であるので短絡期間中よりも電流変化の速度は緩やかである。
(1)時刻t1の第1溶接ワイヤ11の短絡発生から時刻t2のくびれ検出時点までの動作
時刻t1において第1溶接ワイヤ11がワーク2と接触すると短絡状態になり、同図(B)に示すように、第1溶接電圧検出信号Vd1は数V程度の短絡電圧値に急減する。同図(A)に示すように、第1溶接電流Iw1は、時刻t1においてアーク期間の溶接電流から減少し、時刻t1〜t11の予め定めた初期期間中は予め定めた初期電流値となり、時刻t11〜t12の期間中は予め定めた短絡時傾斜で上昇し、時刻t12〜t2の期間中は予め定めたピーク値となる。同図(B)に示すように、第1溶接電圧検出信号Vd1は、第1溶接電流Iw1がピーク値となる時刻t12あたりから上昇する。これは、溶滴にくびれが次第に形成されるためである。時刻t12からの期間がくびれを検出する期間となる。このくびれを検出する期間においては、同図(A)に示すように、第1溶接電流Iw1はピーク値で略一定値である。かつ、同図(C)に示すように、第2溶接電流Iw2はアーク期間中であるので急速な変化はない。この結果、上述した(11)式において、L・dIg/dtは小さな値となり、無視することができる。したがって、、Vd1=Vw1となるので、溶滴のくびれを誤動作することなく、正常に検出することができる。上記の初期期間は1ms程度に設定され、上記の初期電流値は50A程度に設定され、上記の短絡時傾斜は100〜300A/ms程度に設定され、上記のピーク値は300〜400A程度に設定される。
(2)時刻t2のくびれ検出時点から時刻t3のアーク再発生時点までの動作
時刻t2において、同図(B)に示すように、第1溶接電圧検出信号Vd1が急上昇して初期期間中の電圧値からの電圧上昇値ΔVが予め定めたくびれ検出基準値Vtnと等しくなったことによってくびれを検出する。くびれを検出すると、同図(A)に示すように、第1溶接電流Iw1はピーク値から予め定めた低レベル電流値Ilへと急減し、時刻t3のアーク再発生まではその値を維持する。この電流急減速度は、3000A/ms程度と非常に早い値である。同図(B)に示すように、第1溶接電圧検出信号Vd1は、第1溶接電流Iw1が低レベル電流値Ilになるので時刻t2から一旦減少した後に急上昇する。上記の低レベル電流値Ilは30A程度に設定される。
(3)時刻t3のアーク再発生時点から時刻t4の遅延期間Tdの終了時点までの動作
時刻t3においてアークが再発生すると、同図(B)に示すように、第1溶接電圧検出信号Vd1の値は短絡/アーク判別値Vta以上となる。同図(A)に示すように、第1溶接電流Iw1は、時刻t3から予め定めたアーク時傾斜で上昇し、予め定めた高レベル電流値に達するとその値を時刻t4まで維持する。同図(B)に示すように、第1溶接電圧検出信号Vd1は、時刻t3〜t4の予め定めた遅延期間Td中は高レベル電圧値の状態にある。この遅延期間Tdは2ms程度に設定される。
(4)時刻t4の遅延期間Td終了時点から時刻t5の次の短絡発生までのアーク期間の動作
時刻t4において、同図(A)に示すように、第1溶接電流Iw1は高レベル電流値から次第に減少する。同様に、同図(B)に示すように、第1溶接電圧検出信号Vd1は高レベル電圧値から次第に減少する。
(5)時刻t5の第2溶接ワイヤ12の短絡発生から時刻t6のアーク再発生までの動作
同図(C)に示す第2溶接電流Iw2及び同図(D)に示す第2溶接電圧検出信号Vd2の波形は、上記(1)〜(2)の波形と同様であるので、説明を省略する。
上述したように、互いの短絡期間が重なっていない場合には、共通通電路のインダクタンス値Lによって発生する電圧値が小さいために無視することができるので、くびれを正確に検出することができる。
図9は、図7の溶接装置において、くびれ検出制御が誤動作したときの波形図である。同図(A)は第1溶接電流Iw1の波形を示し、同図(B)は第1溶接電圧検出信号Vd1の波形を示し、同図(C)は第2溶接電流Iw2の波形を示し、同図(D)は第2溶接電圧検出信号Vd2の波形を示す。同図は、第1溶接ワイヤ11とワーク2とが短絡状態にある時刻t1〜t3の期間と、第2溶接ワイヤ12とワーク2とが短絡状態にある時刻t0〜t14の期間とが一部重なっている場合である。このような状態であるために、理由は後述するが、くびれ検出制御が誤動作している。同図は、上述した図8と対応しており、同一の動作については説明は繰り返さない。以下、同図を参照して説明する。
第1溶接ワイヤ11とワーク2とが短絡状態にある時刻t1〜t3の期間中は、第2溶接ワイヤ12とワーク2との間も短絡状態にある。このために、同図(C)に示すように、第2溶接電流Iw2は急激な変化をしている。
(1)時刻t0の第2溶接ワイヤ12の短絡発生から時刻t13の第2溶接ワイヤ12のくびれ検出時点までの動作
時刻t0において第2溶接ワイヤ12がワーク2と接触すると短絡状態になり、同図(D)に示すように、第2溶接電圧検出信号Vd2は数V程度の短絡電圧値に急減する。同図(C)に示すように、第2溶接電流Iw2は、時刻t0においてアーク期間の溶接電流から減少し、初期期間中は初期電流値となり、短絡時傾斜で上昇し、その後はピーク値となる。同図(D)に示すように、第2溶接電圧検出信号Vd2は、初期期間中の電圧値からの電圧上昇値が時刻t13においてくびれ検出基準値に達する。これにより、くびれを検出する。くびれを検出すると、同図(C)に示すように、第2溶接電流Iw2はピーク値から低レベル電流値へと急減する。
他方、時刻t1において第1溶接ワイヤ11がワーク2と接触すると短絡状態になり、同図(B)に示すように、第1溶接電圧検出信号Vd1は数V程度の短絡電圧値に急減する。同図(A)に示すように、第1溶接電流Iw1は、時刻t1においてアーク期間の溶接電流から減少し、時刻t1〜t11の初期期間中は初期電流値となり、時刻t11〜t12の期間中は短絡時傾斜で上昇し、時刻t12からの期間中はピーク値となる。同図(B)に示すように、第1溶接電圧検出信号Vd1は、第1溶接電流Iw1がピーク値となる時刻t12あたりから上昇する。これは、溶滴にくびれが次第に形成されるためである。時刻t12からの期間がくびれを検出する期間となる。このくびれを検出する期間においては、同図(A)に示すように、第1溶接電流Iw1はピーク値で略一定値である。しかし、同図(C)に示すように、第2溶接電流Iw2は上述したように時刻t13においてくびれが検出されたために電流は急減している。この結果、上述した(11)式において、L・dIg/dt=dIw1/dt+dIw2/dtについては、dIw1/dtは小さな値であり、dIw2/dtは負の大きな値となる。このために、同図(B)に示すように、第1溶接電圧検出信号Vd1は、くびれの形成に伴って時刻t12から次第に上昇し、この上昇がくびれ検出基準値Vtnに達する前の時刻t13において第2溶接電流Iw2の急減に伴い逆に減少することになり、くびれの検出に失敗することになる。
(2)時刻t13のくびれの誤検出時点から時刻t3のアーク再発生時点までの動作
時刻t13において、同図(B)に示すように、第1溶接電圧検出信号Vd1が減少してくびれ検出基準値Vtnに達しないので、同図(A)に示すように、第1溶接電流Iw1はピーク値を時刻t3の第1アーク31が再発生するまで維持する。他方、時刻t3よりも前の時刻t14において、第2アーク32が発生するので、同図(D)に示すように、第2溶接電圧検出信号Vd2はアーク電圧値に上昇する。同図(C)に示すように、第2溶接電流Iw2は、時刻t14の低レベル電流値から高レベル電流値までアーク時傾斜で上昇する。
(3)時刻t3のアーク再発生時点から時刻t4の遅延期間Tdの終了時点までの動作
時刻t3においてアークが再発生すると、同図(B)に示すように、第1溶接電圧検出信号Vd1の値は短絡/アーク判別値Vta以上となる。同図(A)に示すように、第1溶接電流Iw1は、時刻t3のピーク値からアーク時傾斜で上昇し、高レベル電流値に達するとその値を時刻t4まで維持する。同図(B)に示すように、第1溶接電圧検出信号Vd1は、時刻t3〜t4の遅延期間Td中は高レベル電圧値の状態にある。
(4)時刻t4の遅延期間Td終了時点から時刻t5の次の短絡発生までのアーク期間の動作
時刻t4において、同図(A)に示すように、第1溶接電流Iw1は高レベル電流値から次第に減少する。同様に、同図(B)に示すように、第1溶接電圧検出信号Vd1は高レベル電圧値から次第に減少する。
上述したように、互いの短絡期間が重なっている場合には、共通通電路のインダクタンス値Lによって発生する電圧値が大きくなるので、くびれを誤検出する可能性が高まる。同図では、第1溶接ワイヤ11のくびれを検出する期間において、第2溶接電流Iw2が急減したために生じたくびれの誤検出について説明したが、短絡時傾斜で上昇している場合にも誤検出が生じるおそれがある。さらには、アーク期間中に溶融池からのガスの噴出等によってアーク長が急変し、これに伴って第2溶接電流Iw2が急速に変化する場合がある。このような場合にも、くびれの誤検出が生じるおそれがある。
特許文献2の発明では、第2溶接電源PS2がくびれを検出して第2溶接電流Iw2が変化しているときは第1溶接電源PS1のくびれの検出を禁止するものである。これにより、くびれの誤検出を防止している。しかし、くびれ検出を禁止しているので、当然ながらくびれを正常に検出することはできない。
特開2006−281219号公報 特許第4815966号公報
そこで、本発明では、複数の溶接電源によって共通のワークに各々アークを発生させて溶接し、これらの溶接電源の内の少なくとも1台はくびれ検出制御機能を有しており、共通通電路に通電する合算溶接電流が変化してもくびれ検出が誤動作することなく正常に動作することができる溶接電源のくびれ検出制御方法を提供することを目的とする。
上述した課題を解決するために、請求項1の発明は、複数の溶接電源によって共通のワークに各々アークを発生させて溶接し、
前記溶接電源の内の少なくとも1台は、短絡状態からアークが再発生する前兆現象である溶滴のくびれを溶接電圧検出値Vdを用いて検出し、このくびれを検出すると短絡負荷に通電する溶接電流を減少させてアークを再発生させる、溶接電源のくびれ検出制御方法において、
前記溶接電圧検出値Vdには、合算した溶接電流Igが通電する共通通電路のインダクタンス値Lによって発生する電圧値を含んでおり、
前記合算した溶接電流Igを検出し、溶接電圧修正値Vf=Vd−L・dIg/dtを算出し、前記くびれの検出を前記溶接電圧検出値Vdに代えてこの溶接電圧修正値Vfを用いて行う、
ことを特徴とする溶接電源のくびれ検出制御方法である。
請求項2の発明は、nを2以上の整数とし、前記溶接電源に通電する各溶接電流Iw(1)…Iw(n)を検出し、前記合算した溶接電流IgをIg=Iw(1)+…+Iw(n)によって算出する、
ことを特徴とする請求項1記載の溶接電源のくびれ検出制御方法である。
請求項3の発明は、mを1以上の整数とし、他の前記溶接電源に通電する各溶接電流Iw(1)…Iw(m)を検出し、前記合算した溶接電流IgをIg=Iw(1)+…+Iw(m)によって算出する、
ことを特徴とする請求項1記載の溶接電源のくびれ検出制御方法である。
請求項4の発明は、前記共通通電路のインダクタンス値Lを、溶接を施工する前に測定して設定する、
ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の溶接電源のくびれ検出制御方法である。
本発明によれば、溶接電圧修正値Vfは、共通通電路のインダクタンス値Lに通電する合算溶接電流Igの変化によって発生する電圧値をキャンセルすることができるので、真正の溶接電圧を検出することができる。このために、本発明では、複数の溶接電源によって共通のワークに各々アークを発生させて溶接し、これらの溶接電源の内の少なくとも1台はくびれ検出制御機能を有しており、共通通電路に通電する合算溶接電流が変化してもくびれ検出が誤動作することなく正常に動作することができる。
本発明の実施の形態1に係る2台の溶接電源を使用して1つのワークの2つの溶接個所を同時に溶接するための溶接装置の構成図である。 図1の溶接装置を構成する第1溶接電源PS1の詳細ブロック図である。 図2の第1溶接電源PS1における各信号のタイミングチャートである。 本発明の実施の形態2に係る2台の溶接電源を使用して1つのワークの2つの溶接個所を同時に溶接するための溶接装置の構成図である。 図4の溶接装置を構成する第1溶接電源PS1の詳細ブロック図である。 実施の形態3に係る第1溶接電源PS1の詳細ブロック図である。 従来技術において、2台の溶接電源を使用して1つのワークの2つの溶接個所を同時に溶接するための溶接装置の構成図である。 図7の溶接装置において、くびれ検出制御が正常に動作したときの波形図である。 図7の溶接装置において、くびれ検出制御が誤動作したときの波形図である。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
[実施の形態1]
図1は、本発明の実施の形態1に係る2台の溶接電源を使用して1つのワークの2つの溶接個所を同時に溶接するための溶接装置の構成図である。2台の溶接電源は共にくびれ検出制御機能を内蔵している。同図は上述した図7と対応しており、同一の構成物については同一符号を付して、それらの説明は繰り返さない。同図は、図7に合算溶接電流検出回路IGD、第1溶接電圧修正回路VF1及び第2溶接電圧修正回路VF2を追加したものである。以下、同図を参照してこれらの構成物について説明する。
合算溶接電流検出回路IGDは、共通通電路に通電する合算溶接電流Igを検出して、合算溶接電流検出信号Igdを出力する。
第1溶接電圧修正回路VF1は、第1溶接電圧検出信号Vd1及び上記の合算溶接電流検出信号Igdを入力として、後述する(21)式に基づいて第1溶接電圧修正信号Vf1=Vd1−L・dIgd/dtを演算して、第1溶接電源PS1に出力する。この演算式の意味については、後述する。
第2溶接電圧修正回路VF2は、第2溶接電圧検出信号Vd2及び上記の合算溶接電流検出信号Igdを入力として、後述する(22)式に基づいて第2溶接電圧修正信号Vf2=Vd2−L・dIgd/dtを演算して、第2溶接電源PS2に出力する。この演算式の意味については、後述する。
(11)式で上述したように、第1溶接電圧検出信号Vd1は、第1溶接電圧Vw1に共通通電路のインダクタンス値Lによって発生する電圧が頂上された値となっている。本来測定したいのは第1給電チップ61とワーク2の表面との電圧である第1溶接電圧Vw1である。このために、(11)式を、第1溶接電圧Vw1によって整理すると下式となる。
Vw1=Vd1−dIgd/dt
ここで、第1溶接電圧修正信号Vf1=Vw1とすると、下式となる。
Vf1=Vd1−dIgd/dt …(21)式
この式が上記の第1溶接電圧修正回路VF1で使用される演算式である。
同様に、第2溶接電圧修正回路VF2で使用される演算式は、下式となる。
Vf2=Vd2−dIgd/dt …(22)式
共通通電路のインダクタンス値Lは、溶接装置を現場に設置して使用状態とした状態で、溶接施工前に測定して設定する。測定方法の例としては、市販のLCRメータ等の測定器を使用して行うことができる。また、下記のような手順によっても測定することができる。
1) 第1給電チップ61をワーク2と接触状態にする。
2) 第1溶接電源PS1から一定の電流Ipを通電する。
3) このときの第1溶接電圧検出信号Vd1の値をVpとする。
4) 電流Ipの通電を停止させて、その減少波形から時定数を測定する。停止させた時刻T0から計時を開始し、時定数に該当する電流減少量となる電流値ΔIp(=Ip×36.8%)に到達した時刻をT1として計時する。そして、時刻T0〜T1間の時間を時定数τとして算出する。
5) L=Ve・τ/Ipでインダクタンス値を演算する。
図2は、図1の溶接装置を構成する第1溶接電源PS1の詳細ブロック図である。以下、同図を参照して各ブロックについて説明する。
電源主回路PMは、3相200V等の商用電源(図示は省略)を入力として、後述する誤差増幅信号Eaに従ってインバータ制御等の出力制御を行い、第1溶接電圧Vw1及び第1溶接電流Iw1を出力する。この電源主回路PMは、図示は省略するが、商用電源を整流する1次整流器、整流された直流を平滑する平滑コンデンサ、平滑された直流を高周波交流に変換するインバータ回路、高周波交流を溶接に適した電圧値に降圧する高周波変圧器、降圧された高周波交流を直流に整流する2次整流器、整流された直流を平滑するリアクトル、誤差増幅信号Eaを入力としてパルス幅変調制御を行う変調回路、パルス幅変調制御信を入力としてインバータ回路のスイッチング素子を駆動するインバータ駆動回路を備えている。
減流抵抗器Rは、上記の電源主回路PMと第1溶接トーチ41との間に挿入される。この減流抵抗器Rの値は、短絡負荷(0.01〜0.03Ω程度)の10倍以上大きな値(0.5〜3Ω程度)に設定される。このために、くびれ検出制御によって減流抵抗器Rが通電路に挿入されると、溶接電源内の直流リアクトル及び外部ケーブルのリアクトルに蓄積されたエネルギーが急放電される。トランジスタTRは、減流抵抗器Rと並列に接続されて、後述する駆動信号Drに従ってオン又はオフ制御される。
第1溶接ワイヤ11は、第1送給機FD1によって第1溶接トーチ41内を送給されて、ワーク2との間に第1アーク31が発生する。ワーク2は、治具5上に設置されている。第1溶接トーチ41内の第1給電チップ(図示は省略)とワーク2の表面との間には第1溶接電圧Vw1が印加し、第1溶接電流Iw1が通電する。そして、ワーク2及び治具5等の共通通電路を合算溶接電流Igが通電する。
第1溶接電流検出回路ID1は、上記の第1溶接電流Iw1を検出して、第1溶接電流検出信号Id1を出力する。図1で上述したように、外部に設けられた合算溶接電流検出回路IGDは、上記の合算溶接電流Igを検出して、合算溶接電流検出信号Igdを出力する。図1で上述したように、外部に設けられた第1溶接電圧検出回路VD1は、第1溶接トーチ41内の第1給電チップと治具5との間の電圧を検出して、第1溶接電圧検出信号Vd1を出力する。図1で上述したように、外部に設けられた第1溶接電圧修正回路VF1は、この第1溶接電圧検出信号Vd1及び上記の合算溶接電流検出信号Igdを入力として、上述した(21)式に基づいて第1溶接電圧修正信号Vf1=Vd1−L・dIgd/dtを演算して出力する。上記の第1溶接電圧検出回路VD1及び上記の第1溶接電圧修正回路VF1を内部に設けるようにしても良い。
短絡判別回路SDは、上記の第1溶接電圧修正信号Vf1を入力として、その値が予め定めた短絡/アーク判別値未満であるときは短絡状態にあると判別してHighレベルとなり、以上のときはアーク発生状態にあると判別してLowレベルになる短絡判別信号Sdを出力する。
くびれ検出基準値設定回路VTNは、予め定めたくびれ検出基準値信号Vtnを出力する。溶接法、送給速度、第1溶接ワイヤ11の材質、直径等の溶接条件に応じて、このくびれ検出基準値信号Vtnの値は適正値に設定される。くびれ検出回路NDは、このくびれ検出基準値信号Vtn、上記の第1溶接電圧修正信号Vf1及び上記の第1溶接電流検出信号Id1を入力として、短絡期間中の第1溶接電圧修正信号Vf1の電圧上昇値がくびれ検出基準値信号Vtnの値に達した時点でくびれが形成されたと判別してHighレベルとなり、アークが再発生して第1溶接電圧修正信号Vf1の値が上記の短絡/アーク判別値以上になった時点でLowレベルになるくびれ検出信号Ndを出力する。また、短絡期間中の第1溶接電圧修正信号Vf1の微分値がそれに対応したくびれ検出基準値信号Vtnの値に達した時点でくびれ検出信号NdをHighレベルに変化させるようにしても良い。さらに、第1溶接電圧修正信号Vf1の値を第1溶接電流検出信号Id1の値で除算して溶滴の抵抗値を算出し、この抵抗値の微分値がそれに対応するくびれ検出基準値信号Vtnの値に達した時点でくびれ検出信号NdをHighレベルに変化させるようにしても良い。
低レベル電流設定回路ILRは、予め定めた低レベル電流設定信号Ilrを出力する。電流比較回路CMは、この低レベル電流設定信号Ilr及び上記の第1溶接電流検出信号Id1を入力として、Id1<IlrのときはHighレベルになり、Id1≧IlrのときはLowレベルになる電流比較信号Cmを出力する。駆動回路DRは、この電流比較信号Cm及び上記のくびれ検出信号Ndを入力として、くびれ検出信号NdがHighレベルに変化するとLowレベルに変化し、その後に電流比較信号CmがHighレベルに変化するとHighレベルに変化する駆動信号Drを上記のトランジスタTRのベース端子に出力する。したがって、この駆動信号Drはくびれが検出されるとLowレベルになり、トランジスタTRがオフ状態になり通電路に減流抵抗器Rが挿入されるので、短絡負荷を通電する第1溶接電流Iw1は急減する。そして、急減した第1溶接電流Iw1の値が低レベル電流設定信号Ilrの値まで減少すると、駆動信号DrはHighレベルになり、トランジスタTRがオン状態になるので、減流抵抗器Rは短絡されて通常の状態に戻る。
電流制御設定回路ICRは、上記の短絡判別信号Sd、上記の低レベル電流設定信号Ilr及び上記のくびれ検出信号Ndを入力として、以下の処理を行い、電流制御設定信号Icrを出力する。
1)短絡判別信号SdがHighレベル(短絡)に変化した時点から予め定めた初期期間中は、予め定めた初期電流設定値を電流制御設定信号Icrとして出力する。
2)その後は、電流制御設定信号Icrの値を、上記の初期電流設定値から予め定めた短絡時傾斜で予め定めたピーク設定値まで上昇させ、その値を維持する。
3)くびれ検出信号NdがHighレベル(くびれ検出)に変化すると、電流制御設定信号Icrの値を低レベル電流設定信号Ilrの値に切り換えて維持する。
4)短絡判別信号SdがLowレベル(アーク)に変化すると、電流制御設定信号Icrを、予め定めたアーク時傾斜で予め定めた高レベル電流設定値まで上昇させ、その値を維持する。
オフディレイ回路TDSは、上記の短絡判別信号Sdを入力として、この信号がHighレベルからLowレベルに変化する時点を予め定めた遅延時間だけオフディレイさせて遅延信号Tdsを出力する。したがって、この遅延信号Tdsは、短絡期間になるとHighレベルとなり、アークが再発生してから遅延時間だけオフディレイしてLowレベルになる信号である。電圧設定回路VRは、アーク期間中の溶接電圧を設定するための予め定めた電圧設定信号Vrを出力する。電流誤差増幅回路EIは、上記の電流制御設定信号Icr(+)と上記の第1溶接電流検出信号Id1(−)との誤差を増幅して、電流誤差増幅信号Eiを出力する。電圧誤差増幅回路EVは、上記の電圧設定信号Vr(+)と上記の第1溶接電圧修正信号Vf1(−)との誤差を増幅して、電圧誤差増幅信号Evを出力する。制御切換回路SWは、上記の電流誤差増幅信号Ei、上記の電圧誤差増幅信号Ev及び上記の遅延信号Tdsを入力として、遅延信号TdsがHighレベル(短絡開始からアークが再発生して遅延時間が経過するまでの期間)のときは電流誤差増幅信号Eiを誤差増幅信号Eaとして出力し、Lowレベル(アーク)のときは電圧誤差増幅信号Evを誤差増幅信号Eaとして出力する。この回路により、短絡期間+遅延期間中は定電流制御となり、それ以外のアーク期間中は定電圧制御となる。
送給速度設定回路FRは、予め定めた送給速度設定信号Frを出力する。第1送給制御回路FC1は、この送給速度設定信号Frを入力として、この設定値に相当する送給速度で第1溶接ワイヤ11を送給するための第1送給制御信号Fc1を上記の第1送給機FD1に出力する。
図3は、図2の第1溶接電源PS1における各信号のタイミングチャートである。同図(A)は第1溶接電流Iw1の時間変化を示し、同図(B)は第1溶接電圧修正信号Vf1の時間変化を示し、同図(C)はくびれ検出信号Ndの時間変化を示し、同図(D)は駆動信号Drの時間変化を示し、同図(E)は遅延信号Tdsの時間変化を示し、同図(F)は電流制御設定信号Icrの時間変化を示し、同図(G)は第2溶接電流Iw2の時間変化を示す。同図は上述した図9と対応しており、第1溶接ワイヤ11の短絡期間と第2溶接ワイヤ12の短絡期間とが重なっている場合である。同図(G)に示す第2溶接電流Iw2の波形は、図9(C)に示す波形と同一である。すなわち、第1溶接ワイヤ11が短絡状態にあり、くびれを正に検出しようとする期間において、第2溶接電流Iw2が急減した場合である。以下、同図を参照して説明する。
(1)時刻t1の短絡発生から時刻t2のくびれ検出時点までの動作
時刻t1において第1溶接ワイヤ11がワーク2と接触すると短絡状態になり、同図(B)に示すように、第1溶接電圧修正信号Vf1は数V程度の短絡電圧値に急減する。この第1溶接電圧修正信号Vf1が短絡/アーク判別値Vta未満になったことを判別して、同図(E)に示すように、遅延信号TdsはLowレベルからHighレベルに変化する。これに応動して、同図(F)に示すように、電流制御設定信号Icrは時刻t1において予め定めた高レベル電流設定値から小さな値である予め定めた初期電流設定値に変化する。時刻t1〜t11の予め定めた初期期間中は上記の初期電流設定値となり、時刻t11〜t12の期間中は予め定めた短絡時傾斜で上昇し、時刻t12〜t2の期間中は予め定めたピーク設定値となる。短絡期間中は上述したように定電流制御されているので第1溶接電流Iw1は電流制御設定信号Icrに相当する値に制御される。このために、同図(A)に示すように、第1溶接電流Iw1は、時刻t1においてアーク期間の溶接電流から急減し、時刻t1〜t11の初期期間中は初期電流値となり、時刻t11〜t12の期間中は短絡時傾斜で上昇し、時刻t12〜t2の期間中はピーク値となる。同図(C)に示すように、くびれ検出信号Ndは、後述する時刻t2〜t3の期間はHighレベルとなり、それ以外の期間はLowレベルとなる。同図(D)に示すように、駆動信号Drは、後述する時刻t2〜t21の期間はLowレベルとなり、それ以外の期間はHighレベルとなる。したがって、同図において時刻t2以前の期間中は、駆動信号DrはHighレベルとなり、図2のトランジスタTRがオン状態となるので、減流抵抗器Rは短絡されて通常の消耗電極アーク溶接電源と同一の状態となる。
同図(B)に示すように、第1溶接電圧修正信号Vf1は、第1溶接電流Iw1がピーク値となる時刻t12あたりから上昇する。これは、溶滴にくびれが次第に形成されるためである。時刻t12からの期間がくびれを検出する期間となる。このくびれを検出する期間においては、同図(A)に示すように、第1溶接電流Iw1はピーク値で略一定値である。しかし、同図(G)に示すように、第2溶接電流Iw2は時刻t13においてくびれが検出されたために電流は急減している。この結果、上述した(11)式において、L・dIg/dt=dIw1/dt+dIw2/dtについては、dIw1/dtは小さな値であり、dIw2/dtは負の大きな値となる。ここで、上述した(21)式によって、Vf1=Vd1−L・dIg/dt=(Vw1+L・dIg/dt)−dIg/dt=Vw2となり、共通通電路のインダクタンス値Lによって発生する電圧をキャンセルすることができる。このために、同図(B)に示すように、第1溶接電圧修正信号Vf1は、くびれの形成に伴って時刻t12から次第に上昇し、時刻t13において第2溶接電流Iw2の急減に伴って発生した電圧はキャンセルされるので上昇を続けることになる。
(2)時刻t2のくびれ検出時点から時刻t3のアーク再発生時点までの動作
時刻t2において、同図(B)に示すように、第1溶接電圧修正信号Vf1が急上昇して初期期間中の電圧値からの電圧上昇値ΔVが予め定めたくびれ検出基準値Vtnと等しくなったことによってくびれを検出すると、同図(C)に示すように、くびれ検出信号NdはHighレベルに変化する。これに応動して、同図(D)に示すように、駆動信号DrはLowレベルになるので、図2のトランジスタTRはオフ状態となり減流抵抗器Rが通電路に挿入される。同時に、同図(F)に示すように、電流制御設定信号Icrは低レベル電流設定信号Ilrの値へと小さくなる。このために、同図(A)に示すように、第1溶接電流Iw1はピーク値から低レベル電流値Ilへと急減する。そして、時刻t21において第1溶接電流Iw1が低レベル電流値Ilまで減少すると、同図(D)に示すように、駆動信号DrはHighレベルに戻るので、図2のトランジスタTRはオン状態となり減流抵抗器Rは短絡される。同図(A)に示すように、第1溶接電流Iw1は、電流制御設定信号Icrが低レベル電流設定信号Ilrのままであるので、時刻t3のアーク再発生までは低レベル電流値Ilを維持する。したがって、トランジスタTRは、時刻t2にくびれが検出されてから時刻t21に第1溶接電流Iw1が低レベル電流値Ilに減少するまでの期間のみオフ状態となる。同図(B)に示すように、第1溶接電圧修正信号Vf1は、第1溶接電流Iw1が小さくなるので時刻t2から一旦減少した後に急上昇する。
(3)時刻t3のアーク再発生時点から時刻t4の遅延期間Tdの終了時点までの動作
時刻t3において第1アーク31が再発生すると、同図(B)に示すように、第1溶接電圧修正信号Vf1の値は短絡/アーク判別値Vta以上となる。これに応動して、同図(F)に示すように、電流制御設定信号Icrの値は、低レベル電流設定信号Ilrの値から予め定めたアーク時傾斜で上昇し、上記の高レベル電流設定値に達するとその値を維持する。同図(E)に示すように、遅延信号Tdsは、時刻t3にアークが再発生してから予め定めた遅延期間Tdが経過する時刻t4までHighレベルのままである。したがって、溶接電源は時刻t4まで定電流制御されているので、同図(A)に示すように、第1溶接電流Iw1は、時刻t3からアーク時傾斜で上昇し、高レベル電流値に達するとその値を時刻t4まで維持する。同図(B)に示すように、第1溶接電圧修正信号Vf1は、時刻t3〜t4の遅延期間Td中は高レベル電圧値の状態にある。同図(C)に示すように、くびれ検出信号Ndは、時刻t3にアークが再発生するので、Lowレベルに変化する。
(4)時刻t4の遅延期間Td終了時点から時刻t5の次の短絡発生までのアーク期間の動作
同図(E)に示すように、遅延信号TdsがLowレベルに変化する。この結果、溶接電源は定電流制御から定電圧制御へと切り換えられる。このために、同図(A)に示すように、第1溶接電流Iw1は高レベル電流値から次第に減少する。同様に、同図(B)に示すように、第1溶接電圧修正信号Vf1は高レベル電圧値から次第に減少する。
このように、くびれ検出制御では、時刻t2にくびれを検出すると通電路に減流抵抗器を挿入することによって第1溶接電流Iw1を急減させて、時刻t3に第1アーク31が再発生した時点における電流値を小さな値に制御することができる。このために、スパッタ発生量を大幅に低減することができる。
上述した実施の形態1によれば、溶接電圧検出値Vdには、合算した溶接電流Igが通電する共通通電路のインダクタンス値Lによって発生する電圧値を含んでおり、合算した溶接電流Igを検出し、溶接電圧修正値Vf=Vd−L・dIg/dtを算出し、くびれの検出を溶接電圧検出値Vdに代えてこの溶接電圧修正値Vfを用いて行う。この溶接電圧修正値Vfは、共通通電路のインダクタンス値Lに通電する合算溶接電流Igの変化によって発生する電圧値をキャンセルすることができるので、真正の溶接電圧を検出することができる。このために、本実施の形態では、複数の溶接電源によって共通のワークに各々アークを発生させて溶接し、これらの溶接電源の内の少なくとも1台はくびれ検出制御機能を有しており、共通通電路に通電する合算溶接電流Igが変化してもくびれ検出が誤動作することなく正常に動作することができる。この結果、スパッタ発生量の少ない高品質の溶接を行うことができる。
[実施の形態2]
実施の形態2の発明は、nを2以上の整数とし、溶接電源に通電する各溶接電流Iw(1)…Iw(n)を検出し、実施の形態1における合算した溶接電流IgをIg=Iw(1)+…+Iw(n)によって算出するものである。すなわち、実施の形態1における合算溶接電流Igを、全ての溶接電源の各溶接電流を検出して、その合算値として算出するものである。
図4は、本発明の実施の形態2に係る2台の溶接電源を使用して1つのワークの2つの溶接個所を同時に溶接するための溶接装置の構成図である。2台の溶接電源は共にくびれ検出制御機能を内蔵している。同図は上述した図1と対応しており、同一の構成物については同一符号を付して、それらの説明は繰り返さない。同図は、図1の合算溶接電流検出回路IGD、第1溶接電圧修正回路VF1、第2溶接電圧修正回路VF2、第1溶接電圧検出回路VD1及び第2溶接電圧検出回路VD2を削除したものである。以下、同図を参照して異なる点について説明する。
第1給電チップ61と治具5との間の電圧を第1溶接電源PS1に入力し、第2給電チップ62と治具5との間の電圧を第2溶接電源PS2に入力する。第2溶接電源PS2からの第2溶接電流検出信号Id2が第1溶接電源PS1に入力される。また、第1溶接電源PS1からの第1溶接電流検出信号Id1が第2溶接電源PS2に入力される。
図5は、図4の溶接装置を構成する第1溶接電源PS1の詳細ブロック図である。同図は上述した図2と対応しており、同一のブロックには同一符号を付して、それらの説明は繰り返さない。同図は、図2の第1溶接電流検出回路ID1からの第1溶接電流検出信号Id1を第2溶接電源PS2に出力するようにし、図2の第1溶接電圧検出回路VD1を新第1溶接電圧検出回路VND1に置換し、図2の第1溶接電圧修正回路VF1を新第1溶接電圧修正回路VNF1に置換し、溶接電流合算回路ADを追加したものである。以下、同図を参照してこれらのブロックについて説明する。
第1溶接電流検出回路ID1は、第1溶接電流Iw1を検出して、第1溶接電流検出信号Id1を出力する。この第1溶接電流検出信号Id1は、図4で上述したように、第2溶接電源PS2にも出力される。図1とは異なり内部に設けられた新第1溶接電圧検出回路VND1は、第1溶接トーチ41内の第1給電チップと治具5との間の電圧を検出して、第1溶接電圧検出信号Vd1を出力する。
溶接電流合算回路ADは、図4の第2溶接電源PS2からの第2溶接電流検出信号Id2及び上記の第1溶接電流検出信号Id1を入力として、これらの信号を合算して、合算溶接電流検出信号Igd=Id1+Id2を出力する。
同図は溶接電源が2台の場合であるが、n(2以上の整数)台の場合は、以下のようにすれば良い。n台の溶接電源に通電する各溶接電流Id(1)…Id(n)を検出し、合算溶接電流検出信号IgdをIgd=Id(1)+…+Id(n)によって算出する。
図1とは異なり内部に設けられた新第1溶接電圧修正回路VNF1は、上記の第1溶接電圧検出信号Vd1及び上記の合算溶接電流検出信号Igdを入力として、上述した(21)式に基づいて第1溶接電圧修正信号Vf1=Vd1−L・dIgd/dtを演算して出力する。
図5の第1溶接電源PS1における各信号のタイミングチャートは、図3と同様であるので、説明は繰り返さない。
上述した実施の形態2では、実施の形態1とは異なり合算溶接電流検出信号Igdを算出するために、共通通電路に合算溶接電流検出回路IGDを設ける必要がない。このために、設置工数を低減することができる。各溶接電源には元々出力を制御するために溶接電流検出回路を内蔵している。したがって、実施の形態2では、この内蔵された溶接電流検出回路を有効に活用している。これにより、実施の形態2は、実施の形態1と同様の効果を奏する。
[実施の形態3]
実施の形態3の発明は、mを1以上の整数とし、他の溶接電源に通電する各溶接電流Iw(1)…Iw(m)を検出し、実施の形態1における合算した溶接電流IgをIg=Iw(1)+…+Iw(m)によって算出するものである。すなわち、実施の形態1における合算溶接電流Igを、他の溶接電源の各溶接電流を検出して、その合算値として算出するものである。実施の形態2では全ての溶接電源の溶接電流を合算していたが、実施の形態3では自らを除く他の溶接電源の溶接電流を合算している点が異なる。
実施の形態3に係る溶接装置の構成は、上述した図4と同一であるので、説明は繰り返さない。
図6は、実施の形態3に係る第1溶接電源PS1の詳細ブロック図である。同図は上述した図5と対応しており、同一のブロックには同一符号を付して、それらの説明は繰り返さない。同図は、図5の溶接電流合算回路ADを新溶接電流合算回路NADに置換したものである。以下、同図を参照してこのブロックについて説明する。
新溶接電流合算回路NADは、第2溶接電源PS2からの第2溶接電流検出信号Id2を入力として、合算溶接電流検出信号Igd=Id2を出力する。
同図は溶接電源が2台の場合(他の溶接電源が1台の場合、m=1の場合)であるが、他の溶接電源がm(1以上の整数)台の場合は、以下のようにすれば良い。他の溶接電源m台に通電する各溶接電流Id(1)…Id(m)を検出し、合算溶接電流検出信号IgdをIgd=Id(1)+…+Id(m)によって算出する。
図6の第1溶接電源PS1における各信号のタイミングチャートは、図3と同様であるので、説明は繰り返さない。
上述した実施の形態3では、実施の形態2とは異なり合算溶接電流検出信号Igdを算出するために、自らの溶接電流を除く他の溶接電源を通電する溶接電流を合算している。これにより、溶接電流合算回路の入力信号を少なくすることができるので、回路がシンプルになる。くびれを検出する期間においては、自らの溶接電流はピーク値で一定であることが多いので、この溶接電流を除いても共通通電路のインダクタンス値Lによって発生する電圧値をキャンセルする効果には大きな差はない。したがって、実施の形態3は、実施の形態2と同様の効果を奏する。
上述した実施の形態1〜3においては、溶接電源が2台の場合を例示したが、3台以上であっても同様である。また、実施の形態1〜3において、2台の溶接電源が共にくびれ検出制御機能を有している場合を例示したが、複数の溶接電源の中の少なくとも1台がくびれ検出制御機能を有しておれば、くびれ検出制御機能を有する溶接電源に対して本発明を適用することができる。
11 第1溶接ワイヤ
12 第2溶接ワイヤ
2 ワーク
31 第1アーク
32 第2アーク
41 第1溶接トーチ
42 第2溶接トーチ
5 治具
61 第1給電チップ
62 第2給電チップ
AD 溶接電流合算回路
CM 電流比較回路
Cm 電流比較信号
DR 駆動回路
Dr 駆動信号
Ea 誤差増幅信号
EI 電流誤差増幅回路
Ei 電流誤差増幅信号
EV 電圧誤差増幅回路
Ev 電圧誤差増幅信号
FC1 第1送給制御回路
Fc1 第1送給制御信号
Fc2 第2送給制御信号
FD1 第1送給機
FD2 第2送給機
FR 送給速度設定回路
Fr 送給速度設定信号
ICR 電流制御設定回路
Icr 電流制御設定信号
ID1 第1溶接電流検出回路
Id1 第1溶接電流検出信号
Id2 第2溶接電流検出信号
Ig 合算溶接電流
IGD 合算溶接電流検出回路
Igd 合算溶接電流検出信号
Il 低レベル電流値
ILR 低レベル電流設定回路
Ilr 低レベル電流設定信号
Ip 一定の電流
Iw1 第1溶接電流
Iw2 第2溶接電流
L 共通通電路のインダクタンス値
m、n 整数
NAD 新溶接電流合算回路
ND くびれ検出回路
Nd くびれ検出信号
PM 電源主回路
PS1 第1溶接電源
PS2 第2溶接電源
R 減流抵抗器
SD 短絡判別回路
Sd 短絡判別信号
SW 制御切換回路
Td 遅延期間
TDS オフディレイ回路
Tds 遅延信号
TR トランジスタ
Vd 溶接電圧検出値
VD1 第1溶接電圧検出回路
Vd1 第1溶接電圧検出信号
VD2 第2溶接電圧検出回路
Vd2 第2溶接電圧検出信号
Vf 溶接電圧修正値
VF1 第1溶接電圧修正回路
Vf1 第1溶接電圧修正信号
VF2 第2溶接電圧修正回路
Vf2 第2溶接電圧修正信号
VND1 新第1溶接電圧検出回路
VNF1 新第1溶接電圧修正回路
Vp 一定の電流を通電したときの電圧値
VR 電圧設定回路
Vr 電圧設定信号
Vta 短絡/アーク判別値
VTN くびれ検出基準値設定回路
Vtn くびれ検出基準(値/信号)
Vw1 第1溶接電圧
Vw2 第2溶接電圧
ΔIp 時定数に該当する電流減少量となる電流値
ΔV 電圧上昇値
τ 時定数

Claims (4)

  1. 複数の溶接電源によって共通のワークに各々アークを発生させて溶接し、
    前記溶接電源の内の少なくとも1台は、短絡状態からアークが再発生する前兆現象である溶滴のくびれを溶接電圧検出値Vdを用いて検出し、このくびれを検出すると短絡負荷に通電する溶接電流を減少させてアークを再発生させる、溶接電源のくびれ検出制御方法において、
    前記溶接電圧検出値Vdには、合算した溶接電流Igが通電する共通通電路のインダクタンス値Lによって発生する電圧値を含んでおり、
    前記合算した溶接電流Igを検出し、溶接電圧修正値Vf=Vd−L・dIg/dtを算出し、前記くびれの検出を前記溶接電圧検出値Vdに代えてこの溶接電圧修正値Vfを用いて行う、
    ことを特徴とする溶接電源のくびれ検出制御方法。
  2. nを2以上の整数とし、前記溶接電源に通電する各溶接電流Iw(1)…Iw(n)を検出し、前記合算した溶接電流IgをIg=Iw(1)+…+Iw(n)によって算出する、
    ことを特徴とする請求項1記載の溶接電源のくびれ検出制御方法。
  3. mを1以上の整数とし、他の前記溶接電源に通電する各溶接電流Iw(1)…Iw(m)を検出し、前記合算した溶接電流IgをIg=Iw(1)+…+Iw(m)によって算出する、
    ことを特徴とする請求項1記載の溶接電源のくびれ検出制御方法。
  4. 前記共通通電路のインダクタンス値Lを、溶接を施工する前に測定して設定する、
    ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の溶接電源のくびれ検出制御方法。
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