JP6109665B2 - 画像診断装置 - Google Patents

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Description

本発明は、X線CT装置に係り、詳細には、ウェッジ(ボウタイフィルタ)に蓄積する埃を清掃するための構造及び制御に関する。
X線CT装置は、X線管とX線検出器とを対向配置させた状態で被検体の周囲を周回させ、被検体の周囲の複数の角度方向(ビュー方向)からX線を照射してビュー方向毎に被検体を透過したX線を検出し、検出した投影データに基づいて被検体の断層面の画像を再構成して表示する装置である。
また、従来よりX線CT装置では、X線管のX線照射出口近傍にX線の強度を調整するウェッジ(ボウタイフィルタともいう)を設けている。ウェッジはX線検出器に入射するX線の強度を予め定められた分布とするためのものであり、アルミニウム等のX線吸収材から構成される。ウェッジの形状は、例えば、中心部からX線管の回転方向(チャンネル方向)の端部へ向かうに伴って照射X線の減衰割合が大きくなるような断面形状となっている。特許文献1には、複数の断面形状を有するウェッジを用いて、被検体の各部位の形状に応じたウェッジ断面をX線照射位置に位置合わせする技術について記載されている。
ところで、X線CT装置を長年使用していると、ウェッジにも埃が蓄積する。ウェッジ表面に付着した埃に、金属片や鉛片、ゴム片、油分等が含まれると、X線減弱率が均一でなくなるため画像にアーチファクトが生じ、画質が劣化するという問題が生じる。そのため、埃を除去する必要がある。
特開平06−22951号公報
しかしながら、ウェッジは通常コリメータボックスの内部に収納されている。コリメータはX線管から放射されるX線の照射範囲を制限するものであるため、その性質上、一定値以上のX線漏えいが許されず、鉛等のX線遮蔽材で覆われている。したがってウェッジの埃を清掃するためには、綿棒等の清掃用具を使用できる程度にX線遮蔽材を取り外す分解作業が必要であった。また、清掃用具を使用して作業員が埃をふき取ると、その都度ウェッジ表面に傷がつく恐れがあった。ウェッジ表面に傷がつくと画像不良の原因となり、装置の信頼性を低下させることとなる。そのため、作業を非常に慎重に行わなくてはならなかった。また、コリメータやウェッジは精密に位置合わせされた状態で配設されているため、通常の保守点検では分解清掃までは実施できないことが多い。したがってウェッジの清掃は非常に困難であった。
本発明は、前述した問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とすることは、ウェッジに蓄積した埃を除去することが可能なX線CT装置を提供することである。
前述した目的を達成するために本発明は、被検体にX線を照射するX線源と、前記X線の照射範囲を制限するコリメータと、前記X線源に対向配置され、前記被検体を透過したX線を検出するX線検出器と、前記コリメータ内に収納され、前記X線検出器に入射するX線の強度が所定の分布になるように断面形状が形成されたウェッジと、前記X線源、前記コリメータ、前記ウェッジ、及び前記X線検出器を搭載し、前記被検体の周囲を回転する回転盤と、前記ウェッジを清掃する清掃部と、前記X線検出器により検出された透過X線に基づいて画像を再構成する画像再構成装置と、前記画像再構成装置により再構成された画像を表示する表示装置と、を備えることを特徴とするX線CT装置である。
本発明により、ウェッジに蓄積した埃を除去することが可能なX線CT装置を提供できる。
X線CT装置1の全体構成図 ウェッジ3の形状の一例を示す図 別の形状のウェッジ3Aの例を示す図 清掃部である送風部6(風集めノズル61)の設置例を示す図 送風部6が設けられたコリメータ103aの内部構造を示す図 図5のコリメータ103aをフィン62側から見た斜視図 送風経路について説明する図 送風経路について説明する図 集塵ネット64a,64bの設置例を示す図 集塵ネット64a(64b)の帯電に関する構成図 集塵ネット64a,64b及び集塵箱7a,7bの設置例 円形の風集めノズル61bの設置例を示す図 第2の実施の形態の清掃部(ブラシ8、集塵箱7、仕切り板9)の設置例と状態遷移図 ブラシ8の帯電及びシャッター開閉装置83に関する構成を示す図
以下、添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。
[第1の実施の形態]
まず、図1を参照して、X線CT装置1の全体構成について説明する。
図1に示すように、X線CT装置1は、スキャンガントリ部100と操作卓120とを備える。
スキャンガントリ部100は、被検体に対してX線を照射するとともに被検体を透過したX線を検出する装置であり、X線管101、回転盤102、コリメータ103、ウェッジ3、X線検出器106、データ収集装置107、ガントリ制御装置108、寝台制御装置109、X線制御装置110、及びコリメータ制御装置111を備える。
回転盤102には開口部104が設けられ、開口部104を介してX線管101とX線検出器105とが対向配置される。開口部104に寝台105に載置された被検体が挿入される。回転盤102は、ガントリ制御器108によって制御される回転盤駆動装置から駆動伝達系を通じて伝達される駆動力によって被検体の周囲を回転する。
操作卓120は、スキャンガントリ部100の各部を制御するとともにスキャンガントリ部100で計測した投影データを使用して画像の生成を行う装置であり、入力装置121、画像演算装置122、記憶装置123、システム制御装置124、及び表示装置125を備える。
X線管101はX線源であり、X線制御装置110に制御されて所定の強度のX線を連続的または断続的に照射する。X線制御装置110は、操作卓120のシステム制御装置124により決定されたX線管電圧及びX線管電流に従って、X線管101に印加または供給するX線管電圧及びX線管電流を制御する。X線管101のX線照射口にはコリメータ103が設けられる。コリメータ103は、X線管101から放射されたX線の照射範囲を制限する。例えばコーンビーム(円錐形または角錐形ビーム)等に成形する。コリメータ103の開口幅はコリメータ制御装置111により制御される。
コリメータ103の内部にはウェッジ3が設けられる。
ウェッジ3は、X線検出器106に入射するX線の強度分布を所定の分布にするフィルタであり、例えばアルミニウム等のX線を吸収する素材からなる。ウェッジ3は、チャンネル方向(回転盤102の回転方向)に厚さが異なる断面形状となっている。例えば、中心部からチャンネル方向の周辺部に向かって徐々に厚みを持つような断面形状である。
また、本実施の形態のX線CT装置1のコリメータ103には、ウェッジ3を清掃する清掃部が設けられる。
ウェッジ3、コリメータ103、及び清掃部の詳細については、後述する。
X線管101から照射され、ウェッジ3及びコリメータ103を通過し、被検体を透過したX線はX線検出器106に入射する。
X線検出器106は、例えばシンチレータとフォトダイオードの組み合わせによって構成されるX線検出素子群をチャネル方向(周回方向)に例えば1000個程度、列方向(体軸方向)に例えば1〜320個程度配列したものである。X線検出器106は、被検体を介してX線管101に対向するように配置される。X線検出器106はX線管101から照射されて被検体を透過したX線量を検出し、データ収集装置107に出力する。データ収集装置107は、X線検出器106の個々のX線検出素子により検出されるX線量を収集し、ディジタルデータに変換し、透過X線データとして操作卓120の画像演算装置122に順次出力する。
画像演算装置122は、データ収集装置107から入力された透過X線データを取得し、対数変換、感度補正等の前処理を行って再構成に必要な投影データセットを作成する。また、画像演算装置122は作成した投影データセットを用いて断層像等の画像を再構成する。画像演算装置122により再構成された画像データは、システム制御装置124に入力され、記憶装置123に保存される。
システム制御装置124は、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等を備えたコンピュータである。記憶装置123はハードディスク等のデータ記録装置であり、X線CT装置1の機能を実現するためのプログラムやデータ等が予め記憶される。
システム制御装置124は、操作者により設定された撮影条件に応じた制御信号をスキャンガントリ部100のX線制御装置110、コリメータ制御装置111、寝台制御装置109、及びガントリ制御装置108に送出し、上述の各部の動作を制御する。ウェッジ3が複数の断面形状を有し、スキャン中にウェッジ3の断面位置を移動してX線照射位置に位置合わせする場合は、システム制御装置124は、ウェッジ3の駆動系を制御する。
また、システム制御装置124は本実施の形態において、コリメータ103に設けられた清掃部の動作を制御する。例えば、清掃部に設けられる後述する集塵ネット64a,64bの帯電の切替え等を制御する。清掃部の動作については後述する。
表示装置125は、液晶パネル、CRTモニタ等のディスプレイ装置と、ディスプレイ装置と連携して表示処理を実行するための論理回路で構成され、システム制御装置124に接続される。表示装置125は画像演算装置122から出力される再構成画像、並びにシステム制御装置124が取り扱う種々の情報を表示する。
入力装置121は、例えば、キーボード、マウス等のポインティングデバイス、テンキー、及び各種スイッチボタン等により構成され、操作者によって入力される各種の指示や情報をシステム制御装置124に出力する。操作者は、表示装置125及び入力装置121を使用して対話的にX線CT装置1を操作する。入力装置121は表示装置125の表示画面と一体的に構成されるタッチパネル式の入力装置としてもよい。
次に、図2及び図3を参照して、ウェッジ3について説明する。
ウェッジ3は、アルミニウム等のX線を吸収する素材から構成され、X線管101から照射されたX線が、X線検出器106に所定のX線強度分布で入射するように成形されている。例えば、図2または図3に示すように、回転盤102の回転方向(X線検出器106のチャンネル方向)の中心部で厚さが最も薄く、周辺部に向かうに伴い厚くなるように成形される。
図2に示すウェッジ3は3種類の断面形状を組み合わせたものであり、スキャン部位に応じていずれかの形状を選択できるようになっている。この場合、ウェッジ3には3つの異なる形状の溝部2a、2b、2cが存在する。また、図3に示すウェッジ3Aのように、上面と下面とが凹形状となる共溝部2dを設けたものもある。X線CT装置1を長年使用すると、いずれの形状のウェッジ3,3Aにも埃4が付着する。特に、溝部2a、2b、2cや共溝部2dには埃4が蓄積しやすい。
そこで、本発明に係るX線CT装置1は、ウェッジ3,3Aに蓄積する埃4を除去する清掃部を備える。清掃部はコリメータ103に設けられる。
図4は、清掃部として送風部6が設けられたコリメータ103aの設置例を示す図であり、図5及び図6は、コリメータ103aの内部構造を示す図である。
なお、コリメータ103aはX線の照射範囲を制限するために開閉する扉部をコリメータボックス60の下面に有するが、図4〜図6では扉部等を省略して示す。また、図5及び図6では、コリメータ103aとX線管101との連結部や前面壁についても省略して示している。
コリメータ103aは、筐体(以下、コリメータボックス60という)に収納されたウェッジ3に対して送風する送風部6を備える。
送風部6は、図4〜図6に示すように、風集めノズル61を有することが望ましい。また、風集めノズル61は回転盤102の回転方向に開口していることが望ましい。回転盤102の回転方向は図4に示す矢印A方向である。風集めノズル61は、通風孔63に対して外気を集束して取り込むものである。より多くの風量を取り込むために、外部に向かって広く開口していることが望ましい。
また、図5及び図6に示すように、コリメータボックス60の内部にはフィン62が設けられる。風集めノズル61はコリメータボックス60に設けた通風孔63を介してフィン62と連結される。
フィン62は、風集めノズル61によりコリメータボックス60の内部に取り込まれた外気をウェッジ3の方向に送るものである。図5及び図6に示す例では、フィン62をウェッジ3の上部の一端側から突設させ、溝部2に対して斜め上方向から一方向に風を送っている。これは一例であり、フィン62の位置及び風を送る方向はこの例に限定されない。ただし、X線線の照射を妨げない位置とする。
また、通風孔63の形状は図5及び図6の例では横幅の広い形状であるが、この形状に限定されない。例えば、サイズを小さくしたり、円形や楕円形としてもよい。図5に示すように横幅が広い通風孔63とすると、風集めノズル61により集めた風を広範囲に送ることができる。通風孔63のサイズを小さくした場合は、風集めノズル61により集めた風をより狭い範囲に集束してコリメータボックス60の内部に送ることができるため、ウェッジ3に当たる風圧を大きくできる。
風集めノズル61をコリメータボックス60から回転方向に向かって開口させることで、回転盤102の回転により生じる風を効率よく集めることができる。また図5及び図6のように、通風孔63を覆うようにフィン62を設け、更にその素材を鉛等のX線遮蔽材とすることで、通風孔63からのX線の漏えいを防止できる。
また、図示しないが風集めノズル61に埃除去フィルタを設けることにより、コリメータ103a内への埃の侵入を防ぐこともできる。
送風部6(風集めノズル61及びフィン62)によりコリメータボックス60の取り込まれた外気を所定の風量の風5としてウェッジ3に当てることができる。
図7及び図8を参照して、ウェッジ3A(ウェッジ3)への送風経路について説明する。なお、図7及び図8は、上下面に共溝部2dを有するウェッジ3Aを例として説明する。
送風部6(風集めノズル61及びフィン62)によりコリメータボックス60の取り込まれた外気は、図7に示すように、所定の風量の風5となり、ウェッジ3Aの上面に当たる。図7の例では、共溝部2dの中央部に風5をあてるようにしている。ウェッジ3Aの共溝部2dには埃4が蓄積している。
ウェッジ3Aに当たった風5は、共溝部2dの形状に沿って送られる。図8に示すように、共溝部2dの中央部に送られた風5は共溝部2dの形状に沿って主に両方向5a,5bに送られる。埃4は風5a,5bとともに移動する(図8の埃4a,4b)。
これにより、ウェッジ3の表面に付着した埃を風5で除去することができる。
なお、埃4が共溝部2dの形状以外の方向(例えば、図8中X方向)に移動することも考えられる。その場合は、ウェッジ3AをX方向の両側から板材で挟み、送風経路を制限するようにしてもよい。これにより、埃を確実に溝部に沿った方向へ移動させることができる。
なお、図7及び図8の例では、ウェッジ3Aの溝部2dの中央部に斜め上方向から風5を当てる例を示したが、図5及び図6に示す送風部6のように、ウェッジ3の溝部2の曲面の延長の一端側から風5を当てるようにしてもよい。この場合、風5は溝部2の形状に沿って一端側から他端側へ流れる。このため、フィン62(風の吹き出し口)が設けられた位置と反対側の端部に埃4が移動される。
清掃部は、上述の送風部6に加え、ウェッジ3の表面から除去された埃を吸着する集塵ネット64a,64bを有することが望ましい。集塵ネット64a,64bは、風5を通すが埃4は通過させない程度の細かさの網目を有するフィルタである。
図9は、集塵ネット64a,64bの形状及び取り付け位置について説明する図である。
集塵ネット64a,64bは、ウェッジ3Aの近傍であって、送風経路5a,5b上(溝部2dの曲面を延長した位置)に設けられる。つまり、埃4a,4bの移動経路に設けられる。また、風5a,5bとともに移動した埃4a,4bを逃さず付着するに十分な面積で、かつコリメータボックス60の内部に収納されるサイズ及び形状とする。
送付経路5a,5bに沿って移動された埃4a,4bは集塵ネット64a、64bに付着する。これにより、埃が浮遊したり、ウェッジ3Aへ再付着するのを防ぐことができる。
また、図10に示すように集塵ネット64a,64bは電極65、及び電極65のオン・オフを切り替えるスイッチ66を備えることが望ましい。
電極65は、集塵ネット64a,64bを帯電させる。集塵ネット64a,64bをプラスに帯電させることにより、埃を吸着しやすくなる。スイッチ66による帯電のオン・オフの切り替えは、X線CT装置1の電源130のオン・オフと連動するようにしてもよいし、システム制御装置124に制御されるようにしてもよい。
X線CT装置1に電源130が投入されると、システム制御装置124は、集塵ネット64a,64bのスイッチ66をオンに切り替える。すると電極65により集塵ネット64a,64bがプラスに帯電し、埃を吸着する。X線CT装置1の電源がオフされると、システム制御装置124は、集塵ネット64a,64bのスイッチ66をオフに切り替える。集塵ネット64a,64bが帯電していない状態では、重力により埃4が集塵ネット64a,64bから離れ、落下する。
落下した埃4を受けるため、集塵ネット64a,64bの下部に集塵箱7a,7bをそれぞれ設置することが望ましい。電源オフの状態では、X線CT装置1の回転盤102は、通常、X線管101が上部、X線検出器106が下部となる位置をホームポジションとして停止する。そのため、図11に示すように、回転停止位置で集塵箱7a,7bが集塵ネット64a,64bの下部に位置するように配置する。
集塵箱7a,7bの底には脱脂綿等を敷き詰め、埃4を付着しやすくすることが望ましい。これにより、回転盤102の回転中に遠心力が働いても、集塵箱7a,7b内の埃が外部に放出されにくくなる。仮に、回転の遠心力で集塵箱7a,7bの埃4が外部に放出されたとしても、回転中はX線CT装置1が電源オンの状態であり、集塵ネット64a,64bが帯電しているため、集塵ネット64a,64bに埃4が吸着する。
集塵箱7a,7bは、コリメータボックス60内であって、できるだけウェッジ3から離れた位置に配置することが望ましい。コリメータ103はX線遮蔽材で覆われるため、集塵箱7a,7bの埃を取り除くためには作業員がX線遮蔽材を取り外す必要があるが、集塵箱7a,7bをできるだけウェッジ3から離れた位置に配置すれば、X線遮蔽材を取り外す範囲を極力小さくできる。また作業中にウェッジ3に触れないで済む。
以上説明したように、第1の実施の形態のX線CT装置1は、コリメータボックス60に送風部6を設け、送風部6により、回転盤102の回転により生じる風を集束してコリメータ103の内部へ取り込み、ウェッジ3に風5を当てる。これにより、ウェッジ3に直接触れることなく、ウェッジ表面から埃4を除去することが可能となる。
なお、上述の説明では送付部6の風集めノズル61の形状を角型として説明したが、これに限定されない。例えば、図12に示すように略円形の風集めノズル61bとしてもよい。また、通風孔63の面積を小さくすれば、取り込んだ風をより細く集束させ、風圧を高めることができる。これによりピンポイントに強い風を当てることが可能となる。
[第2の実施の形態]
第1の実施の形態では、送風部6として、コリメータボックス60に通風孔63を開け、風集めノズル61とフィン62とを設ける例について説明したが、送風部6はこれに限定されない。例えば、コリメータボックス60に通風孔63を設けず、内部にファンを設けるようにしてもよい。
ファンは、コリメータボックス60内であってウェッジ3の溝部2a〜2dに風を送るように配置される。ファンにより、コリメータボックス60の内部の空気が動き、風が生じる。これにより図7及び図8に示すようにウェッジ3A(3)の溝部2d(2a〜2c)に風を送ることができる。
ファンを用いてコリメータボックス60内に風をおこすため、第1の実施の形態と同様の効果を得ることができる。更に、コリメータボックス60に通風孔63を開ける必要がなく、埃の侵入そのものを防ぐことができる。
第2の実施の形態のX線CT装置1は、清掃部の送風部6をファンによって構成する以外は、第1の実施の形態と同様である。第2の実施の形態においても第1の実施の形態と同様に、送風経路上(埃4の移動経路上)に集塵ネット64a,64bを設けたり、電極65、スイッチ66、集塵箱7を設けることが望ましい。
以上説明したように、第2の実施の形態のX線CT装置1によれば、清掃部の送風部をファンで構成する。ファンにより、コリメータボックス60の内部で風をおこし、ウェッジ3に風5を当てる。これにより、清掃の際にウェッジ3に直接触れることなく、風を利用して埃をウェッジ表面から除去することが可能となる。また、コリメータボックス60内に外気が入らないため、埃の侵入そのものを防ぐことができる。
[第3の実施の形態]
次に、図13及び図14を参照して本発明の第3の実施の形態について説明する。
第3の実施の形態のX線CT装置1の清掃部は、ブラシ8と、ブラシ先端部をウェッジ3に接触させたり離したりするための駆動装置とを備える。清掃部は、ウェッジ3の表面の埃をブラシ8に付着させて除去する。
図13は、第3の実施の形態の清掃部の構成を示すとともに、清掃動作中の状態遷移を示す図である。図13(a)はスキャン中の状態、(b)はスキャン停止中の状態、(c)は再スキャン中の状態、(d)はX線CT装置1の電源がオフになっている状態を示す。また、図13の左右方向がX線検出器106のスライス方向(被検体の体軸方向)であり、右側の壁が回転盤102である。
図13では、コリメータ103を省略して示すが、実際は、ウェッジ3、ブラシ8、集塵箱7、及び仕切り板9はコリメータ103の内部に収納されている。
図13に示すように、ウェッジ3はX線焦点P(X線管)の真下(図13(a)、(c)等)と、非スキャン時の待機位置(図13(b))との間を移動する。X線焦点P(X線管)の真下であって、X線焦点Pから照射されたX線がウェッジ3を通過する位置をウェッジ有効位置と呼ぶ。ウェッジ3の移動は、ウェッジ駆動装置(不図示)によって行われ、システム制御装置124により制御される。
ブラシ8は、例えば、柔らかい布等をカーテンのように吊り下げたものであり、清掃時にブラシ8の先端部がウェッジ3の溝部2に接触する長さとする。
図14に示すように、ブラシ8は電極81及び電極81のオン・オフを切り替えるスイッチ82を備え、清掃動作中に帯電させて使用することが望ましい。
電極81は、ブラシ8を帯電させる。ブラシ8をプラスに帯電させることにより、埃を吸着しやすくなる。スイッチ82による帯電のオン・オフの切り替えは、X線CT装置1の電源130のオン・オフと連動するようにしてもよいし、システム制御装置124に制御されるようにしてもよい。
図13(a)はスキャン中のブラシ8とウェッジ3との配置を示す。図13(a)に示すように、スキャン中はX線焦点PからX線が放射され、ウェッジ3を通過する。ウェッジ3はウェッジ駆動装置(不図示)によりウェッジ有効位置に移動される。なお、図2に示すような複数の断面形状を有するウェッジ3であれば、選択された断面をX線が通過するようにウェッジ3の位置が移動される。
図13(a)の状態では、ブラシ8はウェッジ3とは離れている。
図13(b)はスキャンを行っていないときのブラシ8とウェッジ3との配置を示す。システム制御装置124は、図13(b)に示すように、スキャンを行っていないときにウェッジ3を回転盤102側に移動させる。この移動により、ウェッジ3の溝部2にブラシ8の先端部が届く。ブラシ8を帯電した状態とすれば、効率よく埃を吸着する。
図13(c)は、再びスキャンを行う際の配置である。ウェッジ3がウェッジ有効位置に移動された状態となる。このとき、ブラシ8はプラスの帯電しているため埃が付着した状態を保つ。
図13(d)は、X線CT装置1の電源130がオフとなった状態である。X線CT装置1の電源130がオフされると、システム制御装置124は、ブラシ8の電極81のスイッチ82をオフに切り替える。すると、ブラシ8が帯電しなくなる。ブラシ8が帯電していない状態では、図13(b)でブラシ8に付着した埃が重力方向であるy方向に落下する。ブラシ8の下部には、落下した埃を受けるための集塵箱7が設けられている。電源オフの状態では、X線CT装置1の回転盤102は、通常、X線管101が上部、X線検出器106が下部となる位置をホームポジションとして停止する。そのため、図13(d)に示すように、ホームポジションで集塵箱7がブラシ8の下部に位置するように配置する。
集塵箱7の底には脱脂綿等を敷き詰め、埃を吸着しやすくすることが望ましい。これにより、回転盤102の回転中に遠心力が働いても、集塵箱7内の埃が外部に放出されにくくなる。仮に、回転の遠心力で集塵箱7の埃4が外部に放出されたとしても、回転中はX線CT装置1が電源オンの状態であり、ブラシ8が帯電しているため、ブラシ8に埃4が吸着する。
第1の実施の形態と同様に、集塵箱7はコリメータボックス60内であって、できるだけウェッジ3から離れた位置に配置することが望ましい。
また、ブラシ8をカーテン状に吊り下げて構成する場合は、図13に示すように、ウェッジ3が有効となる空間とブラシ8との間に仕切り板9aを設けてもよい。これにより、回転盤102の回転によってブラシ8の先端部の揺れを抑える。
仕切り板9aの上下方向長さは、ブラシ8によるウェッジ3の清掃を妨げない長さ(ウェッジ3の移動を妨げない長さ)とする。仕切り板9aを設けることにより、ブラシ8の揺れによりX線照射を妨げたり、ブラシ8に付着した埃が再度ウェッジ3に付着することを防ぐ。
更に、ウェッジ3が有効となる空間と集塵箱7との間に仕切り板9bを設けてもよい。仕切り板9bによって、集塵箱7内の埃が外部へ放出するのを防ぐ。また、集塵箱7にシャッター(蓋)を設け、スキャン中はシャッターを閉じ、清掃時(スキャンしていない状態であって、ウェッジ3の埃をブラシに吸着し、ブラシから埃を落下させるまでの間)にシャッターを開けるシャッター開閉装置83を設けるようにしてもよい。図14に示すように、シャッター開閉装置83の開閉動作はシステム制御装置124により制御される。システム制御装置124は、スイッチ82のオン・オフ動作とシャッターの開閉動作とを連動させてもよい。例えば、電極をオンにするとシャッターを開き、スイッチ82が電極をオフにしてから数秒後にシャッターを閉じるようにしてもよい。
なお、図13の例では、ウェッジ3を駆動する駆動装置によりスライス方向(図の左右方向)に移動してブラシ8の先端部と接触するようにしたが、ウェッジ3の位置を固定し、ブラシ8を駆動装置により移動してウェッジ3の溝部2に接触させるようにしてもよい。
また、清掃のタイミングや清掃の回数等の条件は、システム制御装置124により制御される。例えば、1日に1回程度、X線CT装置1に電源を投入した直後等に清掃を行えばよい。
なお、電気的制限の観点から、ブラシ8を帯電させることが難しい場合は、電極81やスイッチ82を省き、ブラシ8をウェッジ3に接触させるだけでも、埃の除去は十分可能である。保守点検時には、ブラシ8を取り外し、洗浄または交換することが好ましい。
以上説明したように、第3の実施の形態のX線CT装置1では、ウェッジ3にブラシ8を接触させ、ウェッジ3表面の埃を除去する。ブラシ8はコリメータボックス60に収納される程度のサイズでよいため、第1の実施の形態と比較して、コンパクトに清掃部を設置可能である。
また、ウェッジ3に直接ブラシ8を接触させるため、埃4を確実に除去できる。直接ブラシ8を接触させた場合にも、ブラシ8を柔らかい布等で構成し、帯電させ、静電気によって埃を吸着するため、ウェッジ3を傷つけない。
なお、第1から第3の実施の形態のX線CT装置1において使用するウェッジ3,3Aは、予め埃の付着を防ぐような表面処理が施されていることが望ましい。例えば、ウェッジ3,3Aの表面を酸化チタン等でコーティングすることが好ましい。このような表面処理を施すことで表面の摩擦係数が小さくなり、埃が滑りやすくなる。これにより、埃等の付着物をより弱い風力で吹き飛ばしたり、ブラシ8で確実に除去することが可能となる。
また、ウェッジ3が取り付けられているコリメータ103の内部を密閉空間とし、出荷前にコリメータ103内部を真空状態とすることが望ましい。これにより、コリメータ103内部への埃4の侵入を防ぐことができる。保守点検時においてもウェッジを点検する必要がなく、恒久的に清掃が不要となる。
以上、本発明に係るX線CT装置の好適な実施形態について説明したが、本発明は、上述の実施形態に限定されるものではない。当業者であれば、本願で開示した技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
1・・・・・・・・・X線CT装置
100・・・・・・・スキャンガントリ部
101・・・・・・・X線源
102・・・・・・・回転盤
103・・・・・・・コリメータ
106・・・・・・・X線検出器
111・・・・・・・コリメータ制御装置
120・・・・・・・操作卓
121・・・・・・・入力装置
122・・・・・・・画像演算装置
123・・・・・・・記憶装置
124・・・・・・・システム制御装置
125・・・・・・・表示装置
3・・・・・・・・・ウェッジ
4・・・・・・・・・埃
5,5a,5b・・・風
6・・・・・・・・・送風部
60・・・・・・・・コリメータボックス
61・・・・・・・・風集めノズル
62・・・・・・・・フィン
63・・・・・・・・通風孔
64a,64b・・・集塵ネット
65・・・・・・・・電極
66・・・・・・・・スイッチ
7、7a,7b・・・集塵箱
8・・・・・・・・・ブラシ
81・・・・・・・・電極
82・・・・・・・・スイッチ
9a,9b・・・・・仕切り板

Claims (9)

  1. 被検体にX線を照射するX線源と、
    前記X線の照射範囲を制限するコリメータと、
    前記X線源に対向配置され、前記被検体を透過したX線を検出するX線検出器と、
    前記コリメータ内に収納され、前記X線検出器に入射するX線の強度が所定の分布になるように断面形状が形成されたウェッジと、
    前記X線源、前記コリメータ、前記ウェッジ、及び前記X線検出器を搭載し、前記被検体の周囲を回転する回転盤と、
    前記ウェッジを清掃する清掃部と、
    前記X線検出器により検出された透過X線に基づいて画像を再構成する画像再構成装置と、
    前記画像再構成装置により再構成された画像を表示する表示装置と、
    を備えることを特徴とするX線CT装置。
  2. 前記清掃部は、前記コリメータに収納されたウェッジに対して送風する送風部を備え、送風によりウェッジ表面の埃を除去することを特徴とする請求項1に記載のX線CT装置。
  3. 前記送風部は、
    前記回転盤の回転方向に開口し、前記コリメータの一部に設けられた通風孔に対して外気を集束して取り込むノズルと、
    前記ノズルにより取り込まれた外気を前記ウェッジの方向に送るフィンと、
    を備えることを特徴とする請求項2に記載のX線CT装置。
  4. 前記送風部は、前記コリメータ内に取り付けられたファンであることを特徴とする請求項2に記載のX線CT装置。
  5. 前記清掃部は、更に、
    前記ウェッジの近傍であって、前記送風部による送風経路上に設けられる集塵ネットと、
    前記集塵ネットを帯電させる電極部と、
    前記電極部のオン・オフを切り替えるスイッチと、
    前記集塵ネットの下部の配置され、前記集塵ネットから落ちる埃を受ける集塵箱と、
    を更に備えることを特徴とする請求項2から請求項4のいずれかに記載のX線CT装置。
  6. 前記清掃部は、
    前記コリメータ内に取り付けられたブラシと、
    前記ウェッジまたは前記ブラシを移動し、前記ウェッジと前記ブラシとを当接させる駆動装置と、を備え、
    ウェッジ表面の埃を前記ブラシにより除去することを特徴とする請求項1に記載のX線CT装置。
  7. 前記ブラシを帯電させる電極部と、
    前記電極部のオン・オフを切り替えるスイッチと、
    前記ブラシの下部の配置され、前記ブラシから落ちる埃を受ける集塵箱と、
    撮影動作を行わないときに前記駆動装置を駆動して前記ブラシと前記ウェッジとを当接させるとともに前記スイッチをオンに切り替え、所定時間経過後に前記駆動装置を駆動して前記ブラシと前記ウェッジとを離すとともに前記スイッチをオフに切り替える制御部と、
    を備えることを特徴とする請求項6に記載のX線CT装置。
  8. 撮影動作中のウェッジの位置と前記ブラシとの間であって、前記ウェッジと前記ブラシとの当接を妨げない位置に仕切り板を設けることを特徴とする請求項6または請求項7に記載のX線CT装置。
  9. 前記集塵箱は清掃時に開くシャッターを備えることを特徴とする請求項7または請求項8に記載のX線CT装置。
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