JP6012367B2 - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6012367B2 JP6012367B2 JP2012211655A JP2012211655A JP6012367B2 JP 6012367 B2 JP6012367 B2 JP 6012367B2 JP 2012211655 A JP2012211655 A JP 2012211655A JP 2012211655 A JP2012211655 A JP 2012211655A JP 6012367 B2 JP6012367 B2 JP 6012367B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reaction
- reaction cell
- automatic analyzer
- optical axis
- vertical direction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
102…水吐出機構
103…光度計
104…廃液排出機構
105…試薬ディスク
106…検体サンプリング機構
107…検体
108…試薬サンプリング機構
109…反応ディスク
110…分析部
111…インターフェイス・制御部
201…光軸
202…光束
203…反応セル取り付け部
301…光源
302…レンズA
303…スリットA
304…スリットB
305…レンズB
306…スリットC
307…グレーティング
308…検知器
309…リニアモータ
401…光源
402…ミラーA
403…ミラーB
404…グレーティング
405…検知器
406…リニアモータ
501…レーザー測長器
Claims (7)
- 検体と試薬を混合する反応セルに光を照射する光源と、前記反応セルからの光を検出する検出器と、
複数の前記反応セルを載置する反応ディスクと、
前記反応ディスクを回転駆動させる第1機構と、
該光の光軸を鉛直方向に駆動させる第2機構と、
前記第1機構及び前記第2機構を制御する制御部と、
前記複数の反応セルの個々の反応セルの底の高さ情報を記憶する記憶部と、
を備え、
前記記憶部に記憶された前記高さ情報に応じて、前記制御部は、前記反応ディスクの回転駆動中に前記複数の反応セルの底の高さばらつきを低減させるように前記第2機構により該光軸を鉛直方向に駆動することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1に記載の自動分析装置において、前記制御部は、前記反応ディスクの回転駆動に従い、該光が照射される前記反応セル毎に該光軸を鉛直方向に駆動することを特徴とする自動分析装置。
- 請求項1に記載の自動分析装置において、前記制御部は、該光軸と前記反応セルの底の高さと距離を、前記反応ディスクの回転駆動中に前記複数の反応セル間で略一定に保つよう制御することを特徴とする自動分析装置。
- 請求項1〜3のいずれかに記載の自動分析装置において、さらに、前記高さ情報を測定する高さ情報測定手段を備えることを特徴とする機能を備える自動分析装置。
- 請求項4に記載の自動分析装置において、前記高さ情報測定手段における高さ測定を、装置のメンテナンス時、イニシャライズ時、反応セル交換時のいずれかで自動で実行する機能を備える自動分析装置。
- 請求項1〜5のいずれかに記載の自動分析装置において、さらに、前記反応セルと前記検出器との間にレンズを挟むように設けられた2枚のスリットを備え、前記制御部は、前記光源に対し相対的に前記2枚のスリットを鉛直方向に駆動することで、該光軸を鉛直方向に駆動することを特徴とする自動分析装置。
- 請求項1〜5のいずれかに記載の自動分析装置において、さらに、前記光源と前記反応セルとの間、および、前記反応セルと前記検出器との間に、それぞれミラーを備え、前記制御部は、前記光源に対し相対的に前記それぞれのミラーを鉛直方向に駆動することで、該光軸を鉛直方向に駆動することを特徴とする自動分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012211655A JP6012367B2 (ja) | 2012-09-26 | 2012-09-26 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012211655A JP6012367B2 (ja) | 2012-09-26 | 2012-09-26 | 自動分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014066592A JP2014066592A (ja) | 2014-04-17 |
JP6012367B2 true JP6012367B2 (ja) | 2016-10-25 |
Family
ID=50743145
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012211655A Expired - Fee Related JP6012367B2 (ja) | 2012-09-26 | 2012-09-26 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6012367B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6335054B2 (ja) * | 2014-07-14 | 2018-05-30 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 自動分析装置 |
JP6690143B2 (ja) * | 2015-07-10 | 2020-04-28 | 日立化成ダイアグノスティックス・システムズ株式会社 | 検出装置及び分析装置 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5946332B2 (ja) * | 1976-03-31 | 1984-11-12 | 株式会社島津製作所 | 分光測定装置 |
JPS6488135A (en) * | 1987-09-30 | 1989-04-03 | Hitachi Ltd | Atomic absorption photometer |
JP3136574B2 (ja) * | 1992-02-29 | 2001-02-19 | 株式会社島津製作所 | 微量液体試料の分光特性測定装置 |
JP2666656B2 (ja) * | 1992-05-11 | 1997-10-22 | 日本電気株式会社 | 化学分析方法 |
JP2000053242A (ja) * | 1998-08-17 | 2000-02-22 | Jeol Ltd | 分析装置における容器支持用ディスクの歪補正装置 |
JP3965831B2 (ja) * | 1999-06-23 | 2007-08-29 | 株式会社島津製作所 | 光路長測定装置 |
JP2003107096A (ja) * | 2001-09-28 | 2003-04-09 | Hitachi Ltd | 自動分析装置 |
JP2007205816A (ja) * | 2006-01-31 | 2007-08-16 | Olympus Corp | 分析装置と分析装置の測光方法 |
CN101482572B (zh) * | 2008-01-11 | 2012-07-04 | 株式会社东芝 | 自动分析装置以及自动分析方法 |
JP2010169468A (ja) * | 2009-01-21 | 2010-08-05 | Beckman Coulter Inc | 自動分析装置、測光装置および測光方法 |
JP5063620B2 (ja) * | 2009-01-23 | 2012-10-31 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
JP2010175342A (ja) * | 2009-01-28 | 2010-08-12 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置及び反応容器 |
-
2012
- 2012-09-26 JP JP2012211655A patent/JP6012367B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014066592A (ja) | 2014-04-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6653329B2 (ja) | 自動分析装置および自動分析方法 | |
EP2667182B1 (en) | Automatic analysis device taking into account thermal drift | |
JP2008281392A (ja) | 測光装置及び自動分析装置 | |
WO2018155300A1 (ja) | 自動分析装置および自動分析装置における洗浄機構 | |
JP6312313B2 (ja) | 自動分析装置及び自動分析方法 | |
JP6695343B2 (ja) | 自動分析装置 | |
WO2011090173A1 (ja) | 自動分析装置 | |
JP6012367B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP6429753B2 (ja) | 自動分析装置及び自動分析方法 | |
JP6766155B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP5487176B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP5086286B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP5958238B2 (ja) | 検査チップおよび検査装置 | |
JP2007322246A (ja) | 自動分析装置 | |
JP7123548B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP2022021863A (ja) | 自動分析装置 | |
JPH03183955A (ja) | 自動分析装置 | |
JP2007322245A (ja) | 自動分析装置 | |
JP2000180368A (ja) | 化学分析装置 | |
JP5975055B2 (ja) | 検査チップ | |
JP5808473B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP2013210388A (ja) | 自動分析装置 | |
JP7361575B2 (ja) | 検量線生成装置及び自動分析装置 | |
JP2007033130A (ja) | 自動分析装置 | |
JP2001004318A (ja) | 光路長測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150731 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150731 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160527 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160621 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160802 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160823 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160920 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6012367 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |