JP2001004318A - 光路長測定装置 - Google Patents
光路長測定装置Info
- Publication number
- JP2001004318A JP2001004318A JP17657699A JP17657699A JP2001004318A JP 2001004318 A JP2001004318 A JP 2001004318A JP 17657699 A JP17657699 A JP 17657699A JP 17657699 A JP17657699 A JP 17657699A JP 2001004318 A JP2001004318 A JP 2001004318A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- laser light
- light
- transparent container
- path length
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 容器に収容された試料の深さ方向の光路長を
求める。 【解決手段】 レーザ光源１１によりレーザ光９を照射
しつつ、光源駆動機構１３によりレーザ光源１１を移動
させて、ウエル１ａへのレーザ光９の照射位置を垂直方
向に移動させる。ウエル１ａ内にレーザ光９が照射され
ると、試料３が存在する位置ではレーザ光９に直交する
方向に散乱光２３が生じる。試料３が存在しない位置で
はレーザ光９に直交する方向に光が生じない。光検出セ
ンサ７ａにより、ピンホールスリット８を介して、その
散乱光２３を検出する。光検出センサ７ａの検出信号及
びレーザ光源１１のＸ座標に基づいて各ウエル１ａに収
容された試料３の液面位置及び液底位置を検出し、さら
に試料３の深さ方向の光路長を算出する。
求める。 【解決手段】 レーザ光源１１によりレーザ光９を照射
しつつ、光源駆動機構１３によりレーザ光源１１を移動
させて、ウエル１ａへのレーザ光９の照射位置を垂直方
向に移動させる。ウエル１ａ内にレーザ光９が照射され
ると、試料３が存在する位置ではレーザ光９に直交する
方向に散乱光２３が生じる。試料３が存在しない位置で
はレーザ光９に直交する方向に光が生じない。光検出セ
ンサ７ａにより、ピンホールスリット８を介して、その
散乱光２３を検出する。光検出センサ７ａの検出信号及
びレーザ光源１１のＸ座標に基づいて各ウエル１ａに収
容された試料３の液面位置及び液底位置を検出し、さら
に試料３の深さ方向の光路長を算出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、透明容器に収容さ
れた液体試料（以下、単に試料という）の液面位置又は
液面位置及び液底位置を検出することにより試料の深さ
方向の光路長を測定する装置に関するものである。この
光路長測定装置は、マイクロプレートリーダ（ＭＴＰリ
ーダ）など、試料に光を照射してその光と試料中の測定
対象との相互作用を検出する測光器に適用することがで
きる。
れた液体試料（以下、単に試料という）の液面位置又は
液面位置及び液底位置を検出することにより試料の深さ
方向の光路長を測定する装置に関するものである。この
光路長測定装置は、マイクロプレートリーダ（ＭＴＰリ
ーダ）など、試料に光を照射してその光と試料中の測定
対象との相互作用を検出する測光器に適用することがで
きる。
【０００２】
【従来の技術】従来、生体試料などの試料と光との相互
作用を通じて測定対象を測定する際、各試料を個別に試
料セルに収容し、その試料セルを吸光光度計などの測光
器に設置して測定を行なっていた。しかし、多数の試料
について測定を行なう際、試料セルの交換及び洗浄など
煩雑な作業を伴っていた。そこで、例えば９６穴や３８
４穴のウエルをもつマイクロプレート（ＭＴＰ）に収容
された複数の試料について、吸光度や蛍光又は発光など
の測定を同時に行なうべく、試料をＭＴＰごと設置し、
特定波長の光を１つのウエルに、又は複数のウエルに同
時に照射して、複数の試料について測定が可能なＭＴＰ
リーダが使用されている。ＭＴＰにはウエルが数多く並
んでいるので、ＭＴＰリーダでは、測定用の光の照射を
垂直方向（ウエルの深さ方向）に行なっている。
作用を通じて測定対象を測定する際、各試料を個別に試
料セルに収容し、その試料セルを吸光光度計などの測光
器に設置して測定を行なっていた。しかし、多数の試料
について測定を行なう際、試料セルの交換及び洗浄など
煩雑な作業を伴っていた。そこで、例えば９６穴や３８
４穴のウエルをもつマイクロプレート（ＭＴＰ）に収容
された複数の試料について、吸光度や蛍光又は発光など
の測定を同時に行なうべく、試料をＭＴＰごと設置し、
特定波長の光を１つのウエルに、又は複数のウエルに同
時に照射して、複数の試料について測定が可能なＭＴＰ
リーダが使用されている。ＭＴＰにはウエルが数多く並
んでいるので、ＭＴＰリーダでは、測定用の光の照射を
垂直方向（ウエルの深さ方向）に行なっている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ＭＴＰリーダでは、Ｍ
ＴＰの各ウエルに収容された試料の深さ方向に光を照射
し、光と試料中の測定成分との相互作用を検出し、試料
の分注量が各ウエルについて一定である、すなわち試料
を透過する光の光路長が一定であることを前提として、
試料中の測定成分の濃度を算出している。しかし、ＭＴ
Ｐの各ウエルへの試料の分注はピペットなどにより行な
われるため、その分注量に誤差が生じることがあった。
試料の分注量に誤差がある場合、試料を透過する光の光
路長が異なるので、光と試料中の測定成分との相互作用
の検出値も異なり、誤った濃度を算出することがあっ
た。そのため、従来のＭＴＰリーダは定量性が悪く、例
えば１０％前後の誤差を含む場合があった。そこで本発
明は、容器に収容された試料の深さ方向の液長さ（光路
長）を求めることができる光路長測定装置を提供するこ
とを目的とするものである。
ＴＰの各ウエルに収容された試料の深さ方向に光を照射
し、光と試料中の測定成分との相互作用を検出し、試料
の分注量が各ウエルについて一定である、すなわち試料
を透過する光の光路長が一定であることを前提として、
試料中の測定成分の濃度を算出している。しかし、ＭＴ
Ｐの各ウエルへの試料の分注はピペットなどにより行な
われるため、その分注量に誤差が生じることがあった。
試料の分注量に誤差がある場合、試料を透過する光の光
路長が異なるので、光と試料中の測定成分との相互作用
の検出値も異なり、誤った濃度を算出することがあっ
た。そのため、従来のＭＴＰリーダは定量性が悪く、例
えば１０％前後の誤差を含む場合があった。そこで本発
明は、容器に収容された試料の深さ方向の液長さ（光路
長）を求めることができる光路長測定装置を提供するこ
とを目的とするものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、透明容器の側
面に水平方向から平行光束を照射する光学系と、透明容
器に対して光学系を相対的に垂直方向に移動させて、透
明容器への平行光束の照射位置を相対的に垂直方向に移
動させる照射位置移動機構と、透明容器の上方又は下方
に配置され、透明容器に収容された液体試料に平行光束
が入射されて生じる散乱光を検出する検出器と、照射位
置移動機構により透明容器に対して光学系を相対的に垂
直方向に移動させたときの検出器による散乱光検出信号
から試料の液面位置及び液底位置を検知し、その液面位
置と液底位置の間の距離から光路長を算出する算出手段
とを備える垂直方向の光路長測定装置である。
面に水平方向から平行光束を照射する光学系と、透明容
器に対して光学系を相対的に垂直方向に移動させて、透
明容器への平行光束の照射位置を相対的に垂直方向に移
動させる照射位置移動機構と、透明容器の上方又は下方
に配置され、透明容器に収容された液体試料に平行光束
が入射されて生じる散乱光を検出する検出器と、照射位
置移動機構により透明容器に対して光学系を相対的に垂
直方向に移動させたときの検出器による散乱光検出信号
から試料の液面位置及び液底位置を検知し、その液面位
置と液底位置の間の距離から光路長を算出する算出手段
とを備える垂直方向の光路長測定装置である。
【０００５】光学系により、試料を収容した透明容器に
平行光束を横方向から照射しつつ、照射位置移動機構に
より、透明容器もしくは光学系又はその両方を移動させ
て、透明容器の側面への平行光束の照射位置を相対的に
垂直方向に移動させる。平行光束が透明容器内を通過す
る際、試料が存在する位置、特に界面では散乱が生じ、
試料が存在しない位置では散乱は生じない。その散乱光
を検出器によって検出することにより、試料の液面位置
及び液底位置を知ることができる。光路長は、その液面
位置と液底位置の間の距離として算出することができ
る。
平行光束を横方向から照射しつつ、照射位置移動機構に
より、透明容器もしくは光学系又はその両方を移動させ
て、透明容器の側面への平行光束の照射位置を相対的に
垂直方向に移動させる。平行光束が透明容器内を通過す
る際、試料が存在する位置、特に界面では散乱が生じ、
試料が存在しない位置では散乱は生じない。その散乱光
を検出器によって検出することにより、試料の液面位置
及び液底位置を知ることができる。光路長は、その液面
位置と液底位置の間の距離として算出することができ
る。
【０００６】
【実施例】図１は、本発明をＭＴＰリーダに適用した一
実施例を表す概略構成図であり、（Ａ）は上面図、
（Ｂ）は側面図、（Ｃ）はウエル周辺を詳細に示す側面
図である。透明部材により形成され、その透明部材の一
表面に複数のウエル１ａ（透明容器）が形成されたＭＴ
Ｐ１が配置されている。各ウエル１ａにはそれぞれ試料
３が収容されている。吸光度を測定するための検出光５
を照射する光学系（図示は省略）がＭＰＴ１の上側（ウ
エル１ａの開口側）に配置されている。ＭＴＰ１を挾ん
でその光学系とは反対側（下側）に、ウエル１ａに対応
する位置に複数の光検出センサ７ａを備える検出器７が
設けられている。各光検出センサ７ａの検出信号は図示
しないＣＰＵにそれぞれ送られ、検出信号強度に基づい
て各ウエル１ａの試料成分の濃度の算出がなされる。
実施例を表す概略構成図であり、（Ａ）は上面図、
（Ｂ）は側面図、（Ｃ）はウエル周辺を詳細に示す側面
図である。透明部材により形成され、その透明部材の一
表面に複数のウエル１ａ（透明容器）が形成されたＭＴ
Ｐ１が配置されている。各ウエル１ａにはそれぞれ試料
３が収容されている。吸光度を測定するための検出光５
を照射する光学系（図示は省略）がＭＰＴ１の上側（ウ
エル１ａの開口側）に配置されている。ＭＴＰ１を挾ん
でその光学系とは反対側（下側）に、ウエル１ａに対応
する位置に複数の光検出センサ７ａを備える検出器７が
設けられている。各光検出センサ７ａの検出信号は図示
しないＣＰＵにそれぞれ送られ、検出信号強度に基づい
て各ウエル１ａの試料成分の濃度の算出がなされる。
【０００７】ウエル１ａに側方から水平方向に平行光束
としてレーザ光９を照射するレーザ光源１１がＭＴＰ１
の側方に配置されている。レーザ光源１１は、レーザ光
源１１をウエル１ａの深さ方向（図中Ｚ軸方向）に移動
させてウエル１ａへのレーザ光９の照射位置を移動する
光源駆動機構１３に取り付けられている。ＭＴＰ１と検
出器７との間には、各光検出センサ７ａに対応する位置
にピンホールがそれぞれ形成されたピンホールスリット
８が配置されている。ウエル１ａ内から検出器７側に向
かう光は、ピンホールを介して、対応する光検出センサ
７ａのみに照射される。このような光学系はピンホール
スリットに限定されるものではなく、例えば共焦点光学
系など他の光学系でもよい。
としてレーザ光９を照射するレーザ光源１１がＭＴＰ１
の側方に配置されている。レーザ光源１１は、レーザ光
源１１をウエル１ａの深さ方向（図中Ｚ軸方向）に移動
させてウエル１ａへのレーザ光９の照射位置を移動する
光源駆動機構１３に取り付けられている。ＭＴＰ１と検
出器７との間には、各光検出センサ７ａに対応する位置
にピンホールがそれぞれ形成されたピンホールスリット
８が配置されている。ウエル１ａ内から検出器７側に向
かう光は、ピンホールを介して、対応する光検出センサ
７ａのみに照射される。このような光学系はピンホール
スリットに限定されるものではなく、例えば共焦点光学
系など他の光学系でもよい。
【０００８】ＭＴＰ１表面を含む平面と平行な平面内
（水平面内）で、ＭＴＰ１、ピンホールスリット８及び
検出器７をレーザ光９に直交する方向（図中Ｙ軸方向）
に移動するＭＴＰ駆動機構（図示は省略）が備えられて
いる。光源駆動機構１３及びＭＴＰ駆動機構は上記のＣ
ＰＵにより制御される。また、光源駆動機構１３により
ウエル１ａへのレーザ光９の照射位置を垂直方向に移動
させたときの検出器７による散乱光検出信号から試料の
液面位置及び液底位置を検知し、その液面位置と液底位
置の間の距離から光路長を算出する算出手段も上記のＣ
ＰＵにより実現される。本発明の照射位置移動機構は、
光源駆動機構１３とＭＴＰ駆動機構により構成される。
（水平面内）で、ＭＴＰ１、ピンホールスリット８及び
検出器７をレーザ光９に直交する方向（図中Ｙ軸方向）
に移動するＭＴＰ駆動機構（図示は省略）が備えられて
いる。光源駆動機構１３及びＭＴＰ駆動機構は上記のＣ
ＰＵにより制御される。また、光源駆動機構１３により
ウエル１ａへのレーザ光９の照射位置を垂直方向に移動
させたときの検出器７による散乱光検出信号から試料の
液面位置及び液底位置を検知し、その液面位置と液底位
置の間の距離から光路長を算出する算出手段も上記のＣ
ＰＵにより実現される。本発明の照射位置移動機構は、
光源駆動機構１３とＭＴＰ駆動機構により構成される。
【０００９】図２は、ＭＴＰリーダの外観を表す斜視図
である。筐体１５の内部に、ＭＴＰ１、検出光５を照射
する光学系、検出器７、ピンホールスリット８、レーザ
光源１１、光源駆動機構１３、ＭＴＰ駆動機構及びＣＰ
Ｕが収容されている。筐体１５の前面に表示部１７及び
入力部１９が配置されており、ＣＰＵに接続されてい
る。筐体１５の上面には開閉窓２１が開閉可能に設けら
れており、ＭＴＰ１は開閉窓２１を介して所定の位置に
配置される。
である。筐体１５の内部に、ＭＴＰ１、検出光５を照射
する光学系、検出器７、ピンホールスリット８、レーザ
光源１１、光源駆動機構１３、ＭＴＰ駆動機構及びＣＰ
Ｕが収容されている。筐体１５の前面に表示部１７及び
入力部１９が配置されており、ＣＰＵに接続されてい
る。筐体１５の上面には開閉窓２１が開閉可能に設けら
れており、ＭＴＰ１は開閉窓２１を介して所定の位置に
配置される。
【００１０】次に、光路長測定時の動作を説明する。各
ウエル１ａに試料３が収容されたＭＴＰ１が所定の位置
に配置された後、光源駆動機構１３によりレーザ光源１
１をウエル１ａの開口に対応する位置に移動し、ＭＴＰ
駆動機構によりＭＴＰ１をレーザ光９の光軸方向に配列
された複数のウエル１ａにレーザ光９が照射される位置
に移動する。レーザ光源１１によりＭＴＰ１へのレーザ
光９の照射を開始する。レーザ光９は、レーザ光９の光
軸方向に配列された複数のウエル１ａを透過する。ＭＴ
Ｐ１にレーザ光９を照射しつつ、光源駆動機構１３によ
りレーザ光源１１を移動させて、レーザ光９をウエル１
ａの底側に移動する。（Ｃ）に示すように、ウエル１ａ
内にレーザ光９が照射されると、試料３が存在する位置
ではレーリー散乱が生じ、レーザ光９に直交する方向に
強い散乱光成分２３が生じる。試料３が存在しない位置
では散乱は生じないため、レーザ光９に直交する方向に
光がでない。光検出センサ７ａにより、スリット８のピ
ンホールを介して、その散乱光２３を検出する。
ウエル１ａに試料３が収容されたＭＴＰ１が所定の位置
に配置された後、光源駆動機構１３によりレーザ光源１
１をウエル１ａの開口に対応する位置に移動し、ＭＴＰ
駆動機構によりＭＴＰ１をレーザ光９の光軸方向に配列
された複数のウエル１ａにレーザ光９が照射される位置
に移動する。レーザ光源１１によりＭＴＰ１へのレーザ
光９の照射を開始する。レーザ光９は、レーザ光９の光
軸方向に配列された複数のウエル１ａを透過する。ＭＴ
Ｐ１にレーザ光９を照射しつつ、光源駆動機構１３によ
りレーザ光源１１を移動させて、レーザ光９をウエル１
ａの底側に移動する。（Ｃ）に示すように、ウエル１ａ
内にレーザ光９が照射されると、試料３が存在する位置
ではレーリー散乱が生じ、レーザ光９に直交する方向に
強い散乱光成分２３が生じる。試料３が存在しない位置
では散乱は生じないため、レーザ光９に直交する方向に
光がでない。光検出センサ７ａにより、スリット８のピ
ンホールを介して、その散乱光２３を検出する。
【００１１】ＣＰＵにより、光検出センサ７ａの検出信
号及びレーザ光源１１のＸ座標に基づいて各ウエル１ａ
に収容された試料３の液面位置及び液底位置を検出し、
さらに試料３の深さ方向の液長さを算出する。試料３の
深さ方向の液長さは、検出光５照射時の光路長と同じで
あるので、各ウエル１ａに収容された試料３における検
出光５の光路長をそれぞれ算出することができる。次
に、ＭＴＰ駆動機構によりＭＴＰ１をＹ軸方向に移動さ
せて、レーザ光９の光軸方向に配列された次の列の複数
のウエル１ａについて試料３の液面位置及び液底位置の
検出を行なう。この実施例では、レーザ光９の光軸方向
に配列された複数のウエル１ａについて同時に検出光５
の光路長を求めることができる。このように、すべての
ウエル１ａについて、検出光５の光路長を算出するの
で、ウエル１ａへの試料３の分注量に誤差が生じていて
も、算出した光路長及び検出光５照射時の検出信号に基
づいて試料成分の濃度を正確に求めることができる。
号及びレーザ光源１１のＸ座標に基づいて各ウエル１ａ
に収容された試料３の液面位置及び液底位置を検出し、
さらに試料３の深さ方向の液長さを算出する。試料３の
深さ方向の液長さは、検出光５照射時の光路長と同じで
あるので、各ウエル１ａに収容された試料３における検
出光５の光路長をそれぞれ算出することができる。次
に、ＭＴＰ駆動機構によりＭＴＰ１をＹ軸方向に移動さ
せて、レーザ光９の光軸方向に配列された次の列の複数
のウエル１ａについて試料３の液面位置及び液底位置の
検出を行なう。この実施例では、レーザ光９の光軸方向
に配列された複数のウエル１ａについて同時に検出光５
の光路長を求めることができる。このように、すべての
ウエル１ａについて、検出光５の光路長を算出するの
で、ウエル１ａへの試料３の分注量に誤差が生じていて
も、算出した光路長及び検出光５照射時の検出信号に基
づいて試料成分の濃度を正確に求めることができる。
【００１２】この実施例では、検出光及び散乱光の検出
を同じ光検出センサにより行なっているが、それぞれ別
の光検出センサを設けてもよい。また、この実施例では
ＭＴＰに検出光を上方から照射しているが下方から照射
してもよく、その場合には検出光及び散乱光を検出する
光検出センサを上方に設けてもよい。また、照射位置移
動機構は光源駆動機構とＭＴＰ駆動機構により構成され
ているが、本発明はこれに限定されるものではなく、例
えばレーザ光源を固定してＭＴＰをウエルの深さ方向に
移動させるなど、ウエルへのレーザ光の照射位置を垂直
方向に移動させる機能を備える機構であればどのような
ものでもよい。また、ＭＴＰの各ウエルへのレーザ光の
照射は、レーザ光源をＹ軸方向に移動させたり、複数の
レーザ光源をＹ軸方向に並べて設けることにより行なっ
てもよい。また、本発明の透明容器はＭＴＰに限定され
るものではなく、１つの透明容器又は複数の透明容器を
並べたものでもよい。また、レーザ光の代わりに、ラン
プからの光を光学系により平行光束としたものを照射し
てもよい。
を同じ光検出センサにより行なっているが、それぞれ別
の光検出センサを設けてもよい。また、この実施例では
ＭＴＰに検出光を上方から照射しているが下方から照射
してもよく、その場合には検出光及び散乱光を検出する
光検出センサを上方に設けてもよい。また、照射位置移
動機構は光源駆動機構とＭＴＰ駆動機構により構成され
ているが、本発明はこれに限定されるものではなく、例
えばレーザ光源を固定してＭＴＰをウエルの深さ方向に
移動させるなど、ウエルへのレーザ光の照射位置を垂直
方向に移動させる機能を備える機構であればどのような
ものでもよい。また、ＭＴＰの各ウエルへのレーザ光の
照射は、レーザ光源をＹ軸方向に移動させたり、複数の
レーザ光源をＹ軸方向に並べて設けることにより行なっ
てもよい。また、本発明の透明容器はＭＴＰに限定され
るものではなく、１つの透明容器又は複数の透明容器を
並べたものでもよい。また、レーザ光の代わりに、ラン
プからの光を光学系により平行光束としたものを照射し
てもよい。
【００１３】
【発明の効果】本発明の光路長測定装置では、透明容器
の側面に水平方向から平行光束を照射する光学系と、透
明容器に対して光学系を相対的に垂直方向に移動させ
て、透明容器への平行光束の照射位置を相対的に垂直方
向に移動させる照射位置移動機構と、透明容器の上方又
は下方に配置され、透明容器に収容された液体試料に平
行光束が入射されて生じる散乱光を検出する検出器とを
備え、試料を収容した透明容器に平行光束を横方向から
照射しつつ、透明容器の側面への平行光束の照射位置を
垂直方向に移動させ、レーザ光が試料を通過するときに
生じる散乱光を検出するようにしたので、散乱の有無に
より試料の液面位置又は液面位置及び液底位置を知るこ
とができ、容器に収容された試料の深さ方向の光路長を
求めることができる。
の側面に水平方向から平行光束を照射する光学系と、透
明容器に対して光学系を相対的に垂直方向に移動させ
て、透明容器への平行光束の照射位置を相対的に垂直方
向に移動させる照射位置移動機構と、透明容器の上方又
は下方に配置され、透明容器に収容された液体試料に平
行光束が入射されて生じる散乱光を検出する検出器とを
備え、試料を収容した透明容器に平行光束を横方向から
照射しつつ、透明容器の側面への平行光束の照射位置を
垂直方向に移動させ、レーザ光が試料を通過するときに
生じる散乱光を検出するようにしたので、散乱の有無に
より試料の液面位置又は液面位置及び液底位置を知るこ
とができ、容器に収容された試料の深さ方向の光路長を
求めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 ＭＴＰリーダに適用した一実施例を表す概略
構成図であり、（Ａ）は上面図、（Ｂ）は側面図、
（Ｃ）はウエル周辺を詳細に示す側面図である。
構成図であり、（Ａ）は上面図、（Ｂ）は側面図、
（Ｃ）はウエル周辺を詳細に示す側面図である。
【図２】 ＭＴＰリーダの外観を表す斜視図である。
１ マイクロプレート（ＭＴＰ） １ａ ウエル ３ 試料 ５ 検出光 ７ 検出器 ７ａ 光検出センサ ８ ピンホールスリット ９ レーザ光 １１ レーザ光源 １３ 光源駆動機構 １５ 筐体 １７ 表示部 １９ 入力部 ２１ 開閉窓 ２３ 散乱光
Claims (1)
- 【請求項１】 透明容器の側面に水平方向から平行光束
を照射する光学系と、 前記透明容器に対して前記光学系を相対的に垂直方向に
移動させて、前記透明容器への前記平行光束の照射位置
を相対的に垂直方向に移動させる照射位置移動機構と、 前記透明容器の上方又は下方に配置され、前記透明容器
に収容された液体試料に前記平行光束が入射されて生じ
る散乱光を検出する検出器と、 前記照射位置移動機構により前記透明容器に対して前記
光学系を相対的に垂直方向に移動させたときの前記検出
器による散乱光検出信号から前記液体試料の液面位置及
び液底位置を検知し、その液面位置と液底位置の間の距
離から光路長を算出する算出手段と、を備えたことを特
徴とする垂直方向の光路長測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17657699A JP3965831B2 (ja) | 1999-06-23 | 1999-06-23 | 光路長測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17657699A JP3965831B2 (ja) | 1999-06-23 | 1999-06-23 | 光路長測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001004318A true JP2001004318A (ja) | 2001-01-12 |
| JP3965831B2 JP3965831B2 (ja) | 2007-08-29 |
Family
ID=16015986
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17657699A Expired - Lifetime JP3965831B2 (ja) | 1999-06-23 | 1999-06-23 | 光路長測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3965831B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100458444C (zh) * | 2007-03-28 | 2009-02-04 | 山东轻工业学院 | 可作为超微孔分析板的微池阵列芯片加工方法 |
| JP2010261749A (ja) * | 2009-04-30 | 2010-11-18 | Toppan Printing Co Ltd | 包装容器内容物の凝固検査装置及び方法 |
| JP2011252804A (ja) * | 2010-06-02 | 2011-12-15 | Hitachi High-Technologies Corp | 生体試料の分析方法および分析装置 |
| JP2014066592A (ja) * | 2012-09-26 | 2014-04-17 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
-
1999
- 1999-06-23 JP JP17657699A patent/JP3965831B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100458444C (zh) * | 2007-03-28 | 2009-02-04 | 山东轻工业学院 | 可作为超微孔分析板的微池阵列芯片加工方法 |
| JP2010261749A (ja) * | 2009-04-30 | 2010-11-18 | Toppan Printing Co Ltd | 包装容器内容物の凝固検査装置及び方法 |
| JP2011252804A (ja) * | 2010-06-02 | 2011-12-15 | Hitachi High-Technologies Corp | 生体試料の分析方法および分析装置 |
| JP2014066592A (ja) * | 2012-09-26 | 2014-04-17 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3965831B2 (ja) | 2007-08-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US10670454B2 (en) | System for optically monitoring operating conditions in a sample analyzing apparatus | |
| JP2007322324A (ja) | 分析装置 | |
| JP2009186461A (ja) | 自動分析装置及び自動分析方法 | |
| KR20110137328A (ko) | 생물학적 샘플의 분석 장치 | |
| EP2466292B1 (en) | System for performing scattering and absorbance assays | |
| EP2587250B1 (en) | Automatic analysis device | |
| JP6208356B2 (ja) | 自動分析装置 | |
| EP2988111B1 (en) | Analyzer and automatic analyzer | |
| JP5557772B2 (ja) | 液面検知装置 | |
| US7202945B2 (en) | Device and method for analyzing samples | |
| JP2008008794A (ja) | 分析装置 | |
| EP3673256B1 (en) | A fluorescence measurement apparatus, a system and a method for determining composition of a sample | |
| JP3965831B2 (ja) | 光路長測定装置 | |
| JP4871025B2 (ja) | 自動分析装置およびその検体分注方法 | |
| JP6710535B2 (ja) | 自動分析装置 | |
| JPH04372861A (ja) | 液面検出装置 | |
| JPH0720037A (ja) | タイタプレート | |
| EP1715304A1 (en) | Fluid level detection by reflecting a beam at a meniscus | |
| JP4220879B2 (ja) | 吸光度測定装置及び吸光度測定方法 | |
| JP6012367B2 (ja) | 自動分析装置 | |
| JPWO2013161664A1 (ja) | 呈色解析装置 | |
| JP5205124B2 (ja) | 自動分析装置及びその管理方法 | |
| EP3673257A1 (en) | A fluorescence measurement apparatus, a system and a method for determining composition of a sample | |
| JP5685514B2 (ja) | 散乱光検出装置および散乱光検出方法 | |
| JP2003307448A (ja) | 境界位置検出装置および境界位置検出方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050803 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070426 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070508 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070521 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 3965831 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100608 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110608 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110608 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120608 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130608 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130608 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140608 Year of fee payment: 7 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |