JP5900398B2 - 加速度センサ - Google Patents

加速度センサ Download PDF

Info

Publication number
JP5900398B2
JP5900398B2 JP2013066064A JP2013066064A JP5900398B2 JP 5900398 B2 JP5900398 B2 JP 5900398B2 JP 2013066064 A JP2013066064 A JP 2013066064A JP 2013066064 A JP2013066064 A JP 2013066064A JP 5900398 B2 JP5900398 B2 JP 5900398B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
movable
acceleration
support substrate
lower electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2013066064A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014190808A (ja
Inventor
圭正 杉本
圭正 杉本
酒井 峰一
峰一 酒井
崇裕 宮▲崎▼
崇裕 宮▲崎▼
丸山 ユミ
ユミ 丸山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2013066064A priority Critical patent/JP5900398B2/ja
Priority to PCT/JP2014/001697 priority patent/WO2014156119A1/ja
Publication of JP2014190808A publication Critical patent/JP2014190808A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5900398B2 publication Critical patent/JP5900398B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Micromachines (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)

Description

本発明は、支持基板の面方向に対する法線方向に印加された加速度を検出する加速度センサに関するものである。
従来より、この種の加速度センサとして、次のような加速度センサが提案されている(例えば、特許文献1参照)。
すなわち、この加速度センサでは、支持基板には、支持基板と所定距離だけ離間して配置され、支持基板の面方向に対する法線方向に加速度が印加されると、加速度に応じて回転(シーソ運動)可能な第1、第2可動部が分離して備えられている。
具体的には、第1、第2可動部は、矩形枠状の枠部と、枠部に備えられ、可動部が回転する際の回転軸となるトーション梁とを有しており、同じ大きさとされている。そして、トーション梁がアンカー部を介して支持基板に支持されることによって支持基板に備えられている。また、枠部は、支持基板の面方向に対する加速度が印加されたとき、枠部(第1、第2可動部)がトーション梁を回転軸として回転することができるように、トーション梁を中心に対して非対称形状とされている。そして、第1、第2可動部は、支持基板上の所定の基準点を中心として回転対称に配置されている。
また、支持基板には、第1、第2可動部との間に所定の容量を形成するように、第1、第2可動部と対向する下部電極がそれぞれ配置されている。
このような加速度センサでは、支持基板の面方向に対する法線方向に加速度が印加されると、第1、第2可動部がトーション梁を回転軸として回転するため、第1、第2可動部と下部電極との間の容量が加速度に応じて変化する。したがって、容量の変化を検出することにより、加速度の検出が行われる。
また、上記加速度センサでは、支持基板に熱歪みが発生すると、熱歪みによっても第1、第2可動部と下部電極との間の距離が変化するが、第1、第2可動部が同じ大きさであると共に回転対称に配置されているため、第1、第2可動部が熱歪みによって同じように変位する。このため、第1、第2可動部と下部電極との間の容量を適宜減算することにより、熱歪みの影響を低減できる。
特開2012−517002号公報
しかしながら、上記加速度センサでは、第1、第2可動部という2つの可動部が分離して備えられているため、支持基板の法線方向に対する加速度や支持基板の面方向に対する加速度に対して、第1、第2可動部の変位がばらつくことがある。このため、検出精度が低下する可能性があるという問題がある。
本発明は上記点に鑑みて、熱歪みの影響を低減しつつ、検出精度の低下を抑制できる加速度センサを提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明では、支持基板(11)と、支持基板の面方向に対する法線方向に支持基板から離間して配置され、法線方向に加速度が印加されたとき、加速度に応じて回転可能とされた可動電極(25a、25b)を備える可動部(20)と、支持基板に可動電極と対向する状態で配置された下部電極(71、72)と、を備える加速度センサにおいて、以下の点を特徴としている。
すなわち、法線方向に下部電極から離間して配置され、加速度が印加されていないとき、可動電極と下部電極との間に構成される容量と等しい容量を下部電極との間に構成する固定電極(32、42)を有する固定部(30、40)を備え、可動電極と下部電極との間に構成される容量と固定電極と下部電極との間に構成される容量との差に基づいて加速度の検出を行うことを特徴としている。
これによれば、加速度によって変位しない固定電極を有する固定部を備えており、可動電極と下部電極の間の容量と固定電極と下部電極との間の容量との差に基づいて加速度を検出するため、複数の可動電極を備えなくても熱歪みの影響を低減できる。つまり、複数の可動部を備えないため、熱歪みの影響を低減しつつ、検出精度が低下することを抑制できる。
なお、この欄および特許請求の範囲で記載した各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。
本発明の第1実施形態における加速度センサの平面模式図である。 図1中のII−II線に沿った断面図である。 図1中のIII−III線に沿った断面図である。 図1に示す加速度センサの回路構成を示す図である。 (a)は可動部から支持基板側に向かう加速度が印加されたときの第1、第2可動電極と下部電極との関係を示す図、(b)は可動部から支持基板側に向かう加速度が印加されたときの第1、第2固定電極と下部電極との関係を示す図である。 図1に示すセンサ部の製造工程を示す断面図である。 本発明の第2実施形態におけるセンサ部の平面模式図である。 図7中のVIII−VIII線に沿った断面図である。 本発明の第3実施形態におけるセンサ部の平面模式図である。 図9に示すセンサ部を用いた加速度センサの回路構成を示す図である。 本発明の第4実施形態におけるセンサ部の平面模式図である。
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、同一符号を付して説明を行う。
(第1実施形態)
本発明の第1実施形態について図面を参照しつつ説明する。図1に示されるように、本実施形態の加速度センサは、加速度を検出するセンサ部10が回路部100に接続されて構成されている。まず、センサ部10の構成について説明する。
センサ部10は、図1〜図3に示されるように、支持基板11上に第1、第2絶縁膜12、13を介して半導体層14が配置された基板15を用いて構成されている。なお、支持基板11は、例えば、シリコン基板等が用いられ、第1、第2絶縁膜12、13はSiOやSiN等が用いられ、半導体層14はポリシリコン等が用いられる。
そして、半導体層14には、マイクロマシン加工が施されて第1、第2溝部16、17が形成され、第1溝部16によって可動部20、第1、第2固定部30、40が区画されていると共に、第2溝部17によって接続部51〜55が区画されている。また、半導体層14のうち、第1、第2溝部16、17で区画されていない部分は、周辺部60とされている。
ここで、図1〜図3中のx軸、y軸、z軸の各方向について説明する。図1〜図3中では、x軸方向は図1中紙面左右方向とし、y軸方向は支持基板11の面内においてx軸と直交する方向とし、z軸方向は支持基板11の面方向に対する法線方向としている。
可動部20は、平面矩形状の開口部21が形成された矩形枠状の枠部22と、開口部21の対向辺部を連結するように備えられたトーション梁23とを有している。そして、トーション梁23が第2絶縁膜13に支持されたアンカー部24と連結されることにより、支持基板11に支持されている。
なお、第2絶縁膜13のうち枠部22およびトーション梁23と対向する部分は除去されて開口部18とされている。つまり、枠部22は、支持基板11(第1絶縁膜12)からz軸方向に所定距離だけ離間して配置され、支持基板11(第1絶縁膜12)から浮遊した状態で支持基板11に支持されている。
トーション梁23は、z軸方向の加速度が印加されたとき、可動部20の回転中心となる回転軸となる部材であり、本実施形態では開口部21を2分割するように備えられている。
枠部22は、z軸方向の加速度が印加されたとき、トーション梁23を回転軸として回転できるように、トーション梁23を基準として非対称な形状とされている。本実施形態では、枠部22は、トーション梁23に沿って延びる仮想線Lから枠部22の第1部位22aにおけるトーション梁23から最も離れている部分の端部までのx軸方向の長さL1が、トーション梁23から枠部22の第2部位22bにおけるトーション梁23から最も離れている部分の端部までのx軸方向の長さL2より長くされている。このため、本実施形態では、第1部位22aの質量が第2部位22bの質量より大きくされている。つまり、トーション梁23は、可動部20の重心を通り、y軸方向に延びる重心線からx軸方向に平行に移動した線分と一致するように枠部22に備えられているともいえる。
なお、図1中では、枠部22のうちトーション梁23より紙面左側に位置する部分が第1部位22aに相当し、トーション梁23より紙面右側に位置する部分が第2部位22bに相当している。
また、枠部22には、開口部21のうちトーション梁23が備えられる対向辺部と異なる対向辺部に、それぞれx軸方向に突出した第1、第2可動電極25a、25bが5本ずつ備えられている。本実施形態では、第1、第2可動電極25a、25bは全て同じ大きさとされ、第1可動電極25aが枠部22の第1部位22aに備えられていると共に第2可動電極25bが枠部22の第2部位22bに備えられている。
そして、可動部20は、可動部用配線26を介して接続部51と接続されている。具体的には、可動部用配線26は、第1絶縁膜12のうちアンカー部24の直下に位置する部分から接続部51の直下に位置する部分まで延設された平面矩形状とされている。そして、アンカー部24(可動部20)および接続部51は、第2絶縁膜13に形成されたコンタクトホール13aを介して可動部用配線26と接続されている。
また、第1絶縁膜12のうち第2絶縁膜13が除去された部分であって第1、第2可動電極25a、25bと対向する部分には、それぞれ第1、第2下部電極71、72が形成されている。本実施形態では、第1下部電極71はトーション梁23に対して図1中紙面左側に形成されており、第2下部電極72はトーション梁23を介して図1中紙面右側に形成されている。そして、第1、第2下部電極71、72は、接続部52、53の直下に位置する部分まで延設された平面矩形状とされており、第2絶縁膜13に形成されたコンタクトホール13aを介して接続部52、53とそれぞれ接続されている。
第1、第2固定部30、40は、それぞれ第2絶縁膜13を介して支持基板11に支持される第1、第2支持部31、41を有している。本実施形態では、第1支持部31は、トーション梁23と第1下部電極71との間に位置するように配置され、第2支持部41は、トーション梁23と第2下部電極72との間に位置するように配置されている。つまり、第1、第2支持部31、41は、アンカー部24の近傍に配置されている。
また、第1固定部30は、第1下部電極71と対向し、第1支持部31に片持ち状に支持されると共に第1可動電極25aの櫛歯の隙間に噛み合うように櫛歯状に配列された5本の第1固定電極32を有している。なお、第1固定電極32は、加速度が印加されていないとき、第1可動電極25aと第1下部電極71との間に構成される容量と等しい容量を第1下部電極71との間に構成する形状とされている。
同様に、第2固定部40は、第2下部電極72と対向し、第2支持部41に片持ち状に支持されると共に第2可動電極25bの櫛歯の隙間に噛み合うように櫛歯状に配列された5本の第2固定電極42を有している。なお、第2固定電極42は、第2可動電極25bと第2下部電極72との間に構成される容量と等しい容量を第2下部電極72との間に構成する形状とされている。
本実施形態では、第1固定電極32は、加速度が印加されていないとき、第1固定電極32における第1下部電極71と対向する面積が第1可動電極25aにおける第1下部電極71と対向する面積と等しく、かつ、第1固定電極32と第1下部電極71との間の距離が第1可動電極25aと第1下部電極71との間の距離と等しくなるように形成されている。同様に、第2固定電極42は、加速度が印加されていないとき、第2固定電極42における第2下部電極72と対向する面積が第2可動電極25bにおける第2下部電極72と対向する面積と等しく、かつ、第1固定電極32と第1下部電極71との間の距離が第1可動電極25aと第1下部電極71との間の距離と等しくなるように形成されている。
なお、本実施形態では、第1、第2可動電極25a、25bは5本ずつ備えられて全て同じ大きさとされており、第1、第2固定電極32、42も5本ずつ備えられているため、第1、第2可動電極25a、25b、第1、第2固定電極32、42は全て同じ大きさとされているともいえる。また、第1、第2固定電極32、42は、第1、第2支持部31、41を介して支持基板11に支持され、z軸方向の加速度が印加されても変位しないようになっている。
そして、第1、第2固定部30、40は、それぞれ第1、第2固定部用配線33、43を介して接続部54、55と接続されている。具体的には、第1、第2固定部用配線33、43は、第1、第2支持部31、41の直下に位置する部分から接続部54、55の直下に位置する部分まで延設された平面矩形状とされている。そして、第1、第2支持部31、41(第1、第2固定電極32、42)および接続部54、55は、第2絶縁膜13に形成されたコンタクトホール13aを介して第1、第2固定部用配線33、43と接続されている。
また、半導体層14のうち、接続部51〜55および周辺部60にはそれぞれ回路部100と接続されるパッド81〜86が形成されており、各パッド81〜86はワイヤ91〜96を介して回路部100と電気的に接続されている。なお、周辺部60に形成されたパッド86は、周辺部60の電位を固定するために回路部100から所定の電位が印加されるものである。
以上が本実施形態におけるセンサ部10の構成である。次に、上記加速度センサの回路構成について図4を参照しつつ説明する。
図4に示されるように、回路部100には、演算増幅器101、第1、第2コンデンサ102a、102b、第1、第2スイッチ103a、103bによって構成される全差動型のC−V変換回路110が備えられている。
具体的には、第1コンデンサ102aおよび第1スイッチ103aは、演算増幅器101の反転入力端子と+側の出力端子との間に並列的に配置されている。同様に、第2コンデンサ102bおよび第2スイッチ103bは、演算増幅器101の非反転入力端子と−側の出力端子との間に並列的に配置されている。そして、演算増幅器101は、非反転入力端子がパッド82を介して第1下部電極71と電気的に接続され、反転入力端子がパッド83を介して第2下部電極72と電気的に接続されている。
また、第1、第2可動電極25a、25bには、回路部100から電圧Vcc(例えば5V)と0Vとの間で振幅し、所定の周波数を有するパルス状の第1搬送波P1がパッド81を介して入力されるようになっている。そして、第1、第2固定電極32、42には、回路部100から第1搬送波P1と振幅および周波数が同じであり、位相が180°異なる第2搬送波P2がパッド84、85を介して入力されるようになっている。
なお、図4では、第1可動電極25aと第1下部電極71との間に構成される容量を容量Cs1とし、第2可動電極25bと第2下部電極72との間に構成される容量を容量Cs2として示している。同様に、第1固定電極32と第1下部電極71との間に構成される容量を容量Ct1とし、第2固定電極42と第2下部電極72との間に構成される容量をCt2として示している。また、このような回路部100では、第1、第2スイッチ103a、103bがオフされているときに加速度の検出が行われ、第1、第2スイッチ103a、103bがオン(閉)されているときに第1、第2コンデンサ102a、102bのリセットが行われる。
続いて、上記加速度センサの作動について説明する。上記加速度センサは、第1、第2可動電極25a、25bに第1搬送波P1が入力され、第1、第2固定電極32、42に第2搬送波P2が入力された状態で加速度の検出が行われる。
そして、可動部20から支持基板11側に向かうz軸方向の加速度が印加されると、可動部20がトーション梁23を回転軸として加速度に応じた回転をする。具体的には、第1部位22aが支持基板11に近づくように回転するため、図5(a)に示されるように、第1可動電極25aと第1下部電極71との間の距離が短くなり、第2可動電極25bと第2下部電極72との間の距離が長くなる。これに対し、図5(b)に示されるように、第1、第2固定電極32、42は加速度に応じて変位しないため、第1固定電極32と第1下部電極71との間の距離および第2固定電極42と第2下部電極72との間の距離は変化しない。なお、図5では、加速度による第1、第2可動電極25a、25bの変位を点線で示している。
このとき、支持基板11に熱歪みが発生すると、第1可動電極25aと第1下部電極71との間に構成される容量Cs1、第2可動電極25bと第2下部電極72との間に構成される容量Cs2、第1固定電極32と第1下部電極71との間に構成される容量Ct1、第2固定電極42と第2下部電極72との間に構成される容量Ct2は次式で示される。
(数1)Cs1=C{+f(a)+g1(t)}
(数2)Cs2=C{−f(a)+g2(t)}
(数3)Ct1=C{g1(t)}
(数4)Ct2=C{g2(t)}
なお、Cは初期容量であり、f(a)は加速度に依存する加速度項、g(t)は熱歪み(温度)に依存する熱歪み項である。また、本実施形態では、アンカー部24の近傍に第1、第2支持部31、41が配置されており、第1、第2固定電極32、42は第1、第2可動電極25a、25bの櫛歯と噛み合うように櫛歯状に配列されている。つまり、第1可動電極25aおよび第1固定電極32、第2可動電極25bおよび第2固定電極42は、それぞれ熱歪みによってほぼ同じように変位する、このため、本実施形態では、Cs1およびCt1における熱歪み項を同じとし、Cs2およびCt2における熱歪み項を同じとしている。
したがって、演算増幅器101の反転入力端子の電位(電荷)は、(Cs1−Ct1)×Vccとなり、反転入力端子の電位は(電荷)は、(Cs2−Ct2)×Vccとなる。以上より、演算増幅器101から出力されるセンサ信号Vout(V1−V2)は、第1、第2コンデンサ102a、102bの容量をCfとすると、次式で示される。
(数5)Vout={(Cs1−Ct1)−(Cs2−Ct2)}・Vcc/Cf
=C{2f(a)}・Vcc/Cf
すなわち、加速度に応じたセンサ信号Voutとして、熱歪み項をキャンセルした信号が出力される。
次に、上記センサ部10の製造方法について図6を参照しつつ説明する。なお、図6は、図1中のII−II線に沿った断面図である。
まず、図6(a)に示されるように、支持基板11上にCVD(Chemical Vapor Deposition)法等によって第1絶縁膜12を形成する。
続いて、図6(b)に示されるように、第1絶縁膜12上にCVD法等によってポリシリコンや金属膜等を形成する。そして、図示しないマスク等を用いて適宜パターニングすることにより、可動部用配線26、第1、第2下部電極71、72、第1、第2固定部用配線33、43を形成する。
その後、図6(c)に示されるように、可動部用配線26、第1、第2下部電極71、72、第1、第2固定部用配線33、43を覆うように、CVD法等によって第2絶縁膜13を形成する。次に、第2絶縁膜13のうちアンカー部24、第1、第2支持部31、41、接続部51〜55と接続される部分と対応する部分にコンタクトホール13aを形成する。
続いて、図6(d)に示されるように、コンタクトホール13aを埋め込みつつ、第2絶縁膜13上にCVD法等で半導体層14を形成することにより、基板15を構成する。そして、半導体層14上にアルミニウム等を蒸着し、マスクを用いてパターニングすることにより、図6とは別断面にパッド81〜86を形成する。
次に、図6(e)に示されるように、図示しないマスクを用いて、半導体層14に第1、第2溝部16、17を形成することにより、可動部20、第1、第2固定部30、40、接続部51〜55を区画形成する。
その後、図6(f)に示されるように、第2絶縁膜13の所定領域を除去して可動部20および第1、第2固定電極32、42を支持基板11(第1絶縁膜12)からリリースすることにより、上記センサ部10が形成される。つまり、第2絶縁膜13は、いわゆる犠牲層となるものである。
以上説明したように、本実施形態では、加速度によって変位しない第1、第2固定電極32、42を備えている。そして、第1、第2可動電極25a、25bと第1、第2下部電極71、72との間の容量Cs1、Cs2から第1、第2固定電極32、42と第1、第2下部電極71、72との間の容量Ct1、Ct2を減算することにより、熱歪みの影響をキャンセルしている。つまり、加速度に応じて変位する可動部20を複数備える必要がないため、検出精度が低下することを抑制できる。
また、アンカー部24の近傍に第1、第2支持部31、41を配置し、第1、第2固定電極32、42を第1、第2可動電極25a、25bの櫛歯と噛み合うように櫛歯状に配列している。つまり、第1可動電極25aおよび第1固定電極32、第2可動電極25bおよび第2固定電極42を熱歪みによってほぼ同じように変位するようにしている。このため、熱歪みによる容量変化をほぼ同じようにすることができ、熱歪みによる影響をさらに低減できる。
(第2実施形態)
本発明の第2実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対してキャップ部を備えたものであり、その他に関しては第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
図7および図8に示されるように、本実施形態では、センサ部10にキャップ部200が備えられている。具体的には、キャップ部200は、シリコン基板等で構成され、センサ部10と対向する一面200aのうち可動部20、第1、第2固定部30、40と対向する部分に凹部201が形成されている。そして、センサ部10の周辺部60における接合部60aと接合部材210を介して接合され、可動部20および第1、第2固定部30、40を封止している。
なお、接合部材210は、例えば、酸化膜や低誘電ガラス、金属等が用いられる。そして、接合部材210として金属が用いられる場合には、センサ部10とキャップ部200とを絶縁するための絶縁膜が一面200aに形成される。
これによれば、可動部20、第1、第2固定部30、40に異物が付着することを抑制しつつ、上記第1実施形態と同様の効果を得ることができる。
(第3実施形態)
本発明の第3実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対して枠部22の形状を変更したものであり、その他に関しては第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
図9に示されるように、本実施形態では、枠部22における開口部21の1辺がトーション梁23にて構成されている。そして、枠部22には第1可動電極25aのみが備えられ、第1絶縁膜12上に第2固定部40および第2下部電極72は備えられていない。
また、回路部100には、図10に示されるように、演算増幅器101、第1コンデンサ102a、第1スイッチ103aによって構成されるC−V変換回路110が備えられている。そして、演算増幅器101は、非反転入力端子がパッド81を介して第1可動電極25aと電気的に接続され、反転入力端子にVcc/2の電圧が入力されるようになっている。
また、第1下部電極71には、回路部100から電圧Vcc(例えば5V)と0Vとの間で振幅し、所定の周波数を有するパルス状の第1搬送波P3がパッド82を介して入力されるようになっている。そして、第1固定電極32には、回路部100から第3搬送波P3と振幅および周波数が同じであり、位相が180°異なる第4搬送波P4がパッド84を介して入力されるようになっている。
このような加速度センサとしても、演算増幅器101から出力されるセンサ信号Voutは次式となる。
(数6)Vout={(Cs1−Ct1)}・Vcc/Cf
=C{f(a)}・Vcc/Cf
したがって、加速度に応じたセンサ信号Voutとして、熱歪み項をキャンセルした信号を出力でき、上記第1実施形態と同様の効果を得ることができる。
(第4実施形態)
本発明の第4実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対して枠部22の形状を変更したものであり、その他に関しては第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
図11に示されるように、本実施形態では、枠部22は、仮想線Lから枠部22の第1部位22aにおけるトーション梁23から最も離れている部分の端部までのx軸方向の長さL1と、トーション梁23から枠部22の第2部位22bにおけるトーション梁23から最も離れている部分の端部までのx軸方向の長さL2とが等しくされている。そして、第2部位22bは、枠部22を厚さ方向に貫通する貫通孔22cが形成されることにより、第1部位より質量が小さくされている。なお、本実施形態では、貫通孔22cが本発明の切り欠き部に相当している。
これによれば、支持基板11から可動部20側に向かう加速度が印加されて第2部位22bが支持基板11に近づくように回転する場合と、可動部20側から支持基板11側に向かう加速度が印加されて第1部位22aが支持基板11に近づくように回転する場合とで可動部20の回転可能範囲を等しくできる。このため、支持基板11から可動部20側に向かう加速度が印加された場合と可動部20から支持基板11側に向かう加速度が印加された場合とにおける検出範囲を等しくでき、ひいては応答性を等しくできる。
(他の実施形態)
本発明は上記した実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した範囲内において適宜変更が可能である。
例えば、上記各実施形態では、可動部20は矩形枠状の枠部22を備えているが、枠部22は矩形枠状でなくてもよい。
また、上記各実施形態において、第1、第2支持部31、41はアンカー部24から離間して配置されていてもよい。そして、第1、第2可動電極25a、25b、および第1、第2固定電極32、42は、櫛波状でなくてもよい。このような加速度センサとしても、第1、第2固定電極32、42を備えることにより、熱歪みの影響を低減しつつ、検出精度が低下することを抑制できる。
さらに、上記各実施形態において、加速度が印加されていないとき、容量Cs1〜Cs4が等しければ、第1、第2可動電極25a、25bと第1、第2下部電極71、72との間の距離および対向面積と、第1、第2固定電極32、42と第1、第2下部電極71、72との距離および対向面積が異なっていてもよい。
そして、上記第4実施形態において、第2部位22bに複数の貫通孔22cを備えるようにしてもよい。この場合は、第2部位22bの重心を通り、x軸方向に延びる延長線に対して各貫通孔22cが対称に配置されるようにすることが好ましい。また、例えば、第2部位22bに貫通孔22cを形成する変わりに、第2部位22bにおける端部に切り欠き部を形成することにより、第1部位22aの質量が第2部位22bの質量より大きくされていてもよい。
11 支持基板
20 可動部
25a、25b 可動電極
30、40 固定部
32、42 固定電極
71、72 下部電極

Claims (6)

  1. 支持基板(11)と、
    前記支持基板の面方向に対する法線方向に前記支持基板から離間して配置され、前記法線方向に加速度が印加されたとき、加速度に応じて回転可能とされた可動電極(25a、25b)を備える可動部(20)と、
    前記支持基板に前記可動電極と対向する状態で配置された下部電極(71、72)と、を備える加速度センサにおいて、
    前記法線方向に前記下部電極から離間して配置され、加速度が印加されていないとき、前記可動電極と前記下部電極との間に構成される容量と等しい容量を前記下部電極との間に構成する固定電極(32、42)を有する固定部(30、40)を備え、
    前記可動電極と前記下部電極との間に構成される容量と前記固定電極と前記下部電極との間に構成される容量との差に基づいて前記加速度の検出を行うことを特徴とする加速度センサ。
  2. 前記可動部はアンカー部(24)を介して前記支持基板に備えられ、
    前記固定電極は、前記下部電極と前記アンカー部との間に配置された支持部(31、41)を介して前記支持基板に備えられていることを特徴とする請求項1に記載の加速度センサ。
  3. 前記可動電極は櫛歯状に前記可動部に備えられ、
    前記固定電極は、前記可動電極の櫛歯に噛み合う櫛歯状に前記固定部に備えられていることを特徴とする請求項1または2に記載の加速度センサ。
  4. 前記固定電極は、加速度が印加されていないとき、前記下部電極と対向する面積が前記可動電極が前記下部電極と対向する面積と等しく、かつ、前記下部電極との間の距離が前記可動電極と前記下部電極との間の距離と等しくされていることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1つに記載の加速度センサ。
  5. 前記支持基板には、前記可動電極および前記固定電極を覆うキャップ部(200)が備えられていることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1つに記載の加速度センサ。
  6. 前記可動部は、前記可動部が回転する際の回転軸となると共に前記支持基板に支持されたトーション梁(23)を有し、前記トーション梁に沿った仮想線(L)によって分割される一方の部位を第1部位(22a)とすると共に他方の部位を第2部位(22b)としたとき、前記トーション梁から前記第1部位のうち前記トーション梁から最も離れている端部までの長さ(L1)と、前記トーション梁から前記第2部位のうち前記トーション梁から最も離れている端部までの長さ(L2)とが等しくされており、
    前記第2部位は、切り欠き部(22c)が形成されることによって前記第1部位より質量が小さくされていることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1つに記載の加速度センサ。


JP2013066064A 2013-03-27 2013-03-27 加速度センサ Expired - Fee Related JP5900398B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013066064A JP5900398B2 (ja) 2013-03-27 2013-03-27 加速度センサ
PCT/JP2014/001697 WO2014156119A1 (ja) 2013-03-27 2014-03-25 物理量センサ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013066064A JP5900398B2 (ja) 2013-03-27 2013-03-27 加速度センサ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014190808A JP2014190808A (ja) 2014-10-06
JP5900398B2 true JP5900398B2 (ja) 2016-04-06

Family

ID=51837200

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013066064A Expired - Fee Related JP5900398B2 (ja) 2013-03-27 2013-03-27 加速度センサ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5900398B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6575187B2 (ja) * 2015-07-10 2019-09-18 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー、物理量センサー装置、電子機器および移動体
JP2019149762A (ja) * 2018-02-28 2019-09-05 株式会社日立製作所 逐次比較型ad変換器およびセンサ装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI119299B (fi) * 2005-06-17 2008-09-30 Vti Technologies Oy Menetelmä kapasitiivisen kiihtyvyysanturin valmistamiseksi ja kapasitiivinen kiihtyvyysanturi
WO2008133183A1 (ja) * 2007-04-20 2008-11-06 Alps Electric Co., Ltd. 静電容量型加速度センサ
JP5083635B2 (ja) * 2009-11-12 2012-11-28 三菱電機株式会社 加速度センサ
JP5622105B2 (ja) * 2010-12-28 2014-11-12 セイコーエプソン株式会社 機能素子、機能素子の製造方法、物理量センサー及び電子機器
US8539836B2 (en) * 2011-01-24 2013-09-24 Freescale Semiconductor, Inc. MEMS sensor with dual proof masses

Also Published As

Publication number Publication date
JP2014190808A (ja) 2014-10-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6020392B2 (ja) 加速度センサ
JP2007139505A (ja) 容量式力学量センサ
EP2336788B1 (en) Inertial sensor
WO2013179647A2 (ja) 物理量センサ
JP6401868B2 (ja) 加速度センサ
JP2005083799A (ja) 容量式力学量センサ装置
JP6020341B2 (ja) 容量式物理量センサおよびその製造方法
JP6372361B2 (ja) 複合センサ
JP5967018B2 (ja) 容量式物理量センサ
JP5900398B2 (ja) 加速度センサ
US7225675B2 (en) Capacitance type dynamic quantity sensor
JP2008275325A (ja) センサ装置
JP5783222B2 (ja) 加速度センサ
WO2014156119A1 (ja) 物理量センサ
JP2011196966A (ja) 慣性センサ
JP2012220262A (ja) 半導体マイクロデバイス
JP6354603B2 (ja) 加速度センサおよび加速度センサの実装構造
JP5783201B2 (ja) 容量式物理量センサ
JP5900439B2 (ja) 容量式物理量センサ
JP2014190807A (ja) 加速度センサ
JP4466283B2 (ja) ジャイロセンサ
JP2012247204A (ja) 加速度センサおよび加速度の測定方法
US20160091526A1 (en) Sensor
JP6531281B2 (ja) 加速度センサ
JP5141545B2 (ja) 力学量センサ装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150319

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150929

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20151021

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160209

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160222

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5900398

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees