JP5854567B2 - 画像記録装置及び不良記録素子補償パラメータ最適化装置、方法、プログラム - Google Patents
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Description
図1は、不吐出補正の基本原理の説明図である。同図には、フルライン型のインクジェットヘッド120を用いて、インクジェットヘッド120と用紙Pとを用紙Pの搬送方向(図3に符号Sを付して図示する用紙搬送方向と同意義)に沿って相対的に移動させて、用紙Pの記録面に画像を形成している状態が模式的に図示されている。
次に、本発明の第1実施形態に係る不吐出補正パラメータ最適化処理について詳述する。
図2は、指定ノズル高速最適化処理の流れを示すフローチャートである。以下に説明する「指定ノズル高速最適化処理」は、最適化対象の指定ノズルに対する不吐出補正パラメータを高速に最適化するものである。
ステップS10に示す不吐出補正パラメータ読出工程は、予め記憶されている更新された最新の不吐出補正パラメータが読み出される工程である。
ステップS12に示す繰返処理完了判断工程は、指定ノズルに対する不吐出補正パラメータが最適化(更新)される際の繰り返し処理が完了したか否かを判断する工程である。指定ノズルに対する不吐出補正パラメータの更新は、指定ノズル高速最適化用テストチャートデータの生成(ステップS14)、指定ノズル高速最適化用テストチャートの出力(ステップS16)、指定ノズル高速最適化用テストチャートの読み取り(ステップS18)、指定ノズル高速最適化用テストチャート読取データの解析(ステップS20)、指定ノズル不吐出補正パラメータの更新(ステップS22)、更新された不吐出補正パラメータの記憶(ステップS10)の各工程が1回以上実行される。
ステップS14に示す指定ノズル高速最適化用テストチャートデータ生成工程は、図3に符号10を付して図示する指定ノズル高速最適化用テストチャート(第1テストチャート)に対応する指定ノズル高速最適化用テストチャートデータ(図2のd10)を生成する。
ステップS14に示す指定ノズル高速最適化用テストチャートデータ生成工程において指定ノズル高速最適化用テストチャートデータが生成されると、指定ノズル高速最適化用テストチャートが出力される。指定ノズル高速最適化用テストチャートは、インクジェットヘッド120(図1参照)を用いて用紙Pに出力される。
用紙Pに出力された指定ノズル高速最適化用テストチャートは、インラインセンサ(図6に符号140を付して図示)等の読取装置を用いて読み取られ、指定ノズル高速最適化用テストチャート読取データ(d12)が得られる。指定ノズル高速最適化用テストチャート読み取りには、フラットベッドスキャナ等の外部装置を用いてもよい。
指定ノズル高速最適化用テストチャート読取工程によって指定ノズル高速最適化用テストチャート読取データが取得されると、指定ノズル高速最適化用テストチャート読取データが解析される(詳細後述)。
指定ノズル高速最適化用テストチャート読取データ解析工程の解析結果に基づいて、指定ノズルの不吐出補正パラメータが更新される。更新された不吐出補正パラメータは予め決められた記憶部(例えば、図7の不吐出補正パラメータ記憶部152)に記憶される(ステップS10の不吐出補正パラメータ記憶工程)。
図3は、指定ノズル高速最適化処理に適用される指定ノズル高速最適化用テストチャートの概略構成図である。同図に示す指定ノズル高速最適化用テストチャート10は、非記録領域12、計測チャート領域14,16、及び均一濃度領域18から構成される。
図3及び図4に図示した指定ノズル高速最適化用テストチャート10は、光学式の読取装置(例えば、図6のインラインセンサ140)によって読み取られ、読取装置から指定ノズル高速最適化用テストチャート読取データが出力される。
次に、先に説明した指定ノズル高速最適化処理の応用例について説明する。図5は、本応用例に係る指定ノズル高速最適化用テストチャート10Aの概略構成図である。なお、図5中、図3及び図4と同一又は類似する部分には同一の符号を付し、その説明は省略する。
図6は、本発明に係る不吐出補正パラメータの最適化処理が適用されるインクジェット記録装置(画像記録装置)の全体構成図である。なお、以下の説明では、上述した「指定ノズル高速最適化用テストチャート10,10A」を単に「テストチャート」と記載することある。
次に、本発明の第2実施形態について説明する。以下に説明する第2実施形態に係る不吐出補正パラメータ最適化方法、装置では、第1実施形態で説明した指定ノズルを対象とする不吐出補正パラメータ高速最適化処理を利用して、既知の不吐出ノズルを考慮して全ノズルを対象として不吐出補正パラメータを最適化するものである。
まずは、不吐出ノズルが存在していない場合の全ノズル最適化処理について説明する。図8は、全ノズル最適化処理の流れを示すフローチャートである。以下の説明において、第1実施形態に係る指定ノズル最適化処理と共通する内容については、記載を省略する。
ステップS1に示す不吐出補正パラメータ読出工程では、予め記憶されている不吐出補正パラメータが読み出される。
ステップS2に示す繰返処理完了判断工程では、不吐出補正パラメータが最適化(更新)される際の繰り返し処理が完了したか否かを判定する。不吐出補正パラメータの更新は、全ノズル最適化用テストチャートデータ(d1)作成(ステップS3)、全ノズル最適化用テストチャート(第2テストチャート)出力(ステップS4)、全ノズル最適化用テストチャート読取(ステップS5)、全ノズル最適化用読取データ(d2)解析(ステップS6)、全ノズル不吐出補正パラメータ更新(ステップS7)、更新された不吐出補正パラメータの記憶(ステップS1)、の各工程が1回以上実行される。
テストチャートデータ生成部154(図7参照)は、不吐出補正パラメータ記憶部152から全ノズルについてのノズルごとの不吐出補正パラメータを読み出し、全ノズル最適化用テストチャートデータ(d1)を生成する。
テストチャートデータ生成部154(図7参照)において生成された全ノズル最適化用テストチャートデータは、テストチャートデータ記憶部156に記憶される。制御部150は、テストチャートデータ記憶部156に記憶された全ノズル最適化用テストチャートデータを読み出し、全ノズル最適化用テストチャートデータに基づいてインクジェットヘッド120の各ノズルを制御し、用紙Pの記録面に全ノズル最適化用テストチャート(図9に符号1を付して図示)を出力する。
用紙Pに出力された全ノズル最適化用テストチャートは、インラインセンサ140(図7参照)によって読み取られ、全ノズル最適化用テストチャート読取データ(d2)が生成される。
インラインセンサ140によって生成された全ノズル最適化用テストチャート読取データ(d2)は、テストチャート読取データ取得部158(図7参照)によって取得され、テストチャート読取データ記憶部160に記憶される。
不吐出補正パラメータ更新部164(図7参照)は、全ノズルテストチャート読取データの評価結果に基づいて、ノズルごとの不吐出補正パラメータを更新する。更新されたノズルごとの不吐出補正パラメータは、不吐出補正パラメータ記憶部152に記憶される。
図9は、全ノズル最適化処理に適用される全ノズル最適化用テストチャートの説明図である。
各模擬不吐出ノズルについて、模擬不吐出領域1Aの近傍の均一濃度領域1Dにおけるノズル配列方向Mの平均濃度を算出し、不吐出補正の強弱を表す補正強度評価値を算出する。補正強度評価値が正値であれば過補正、負値であれば弱補正、ゼロであれば最適な不吐出補正パラメータということとなる。
本実施形態では、不吐出補正パラメータ更新部164(図7参照)は、二分法などに代表される反復法を用いた一変数求根アルゴリズムに基づいて、ノズルごとの不吐出補正パラメータを更新していく。すなわち、模擬不吐出領域1A(図9参照)における補正強度評価値を最適化アルゴリズムの評価関数とみなし、不吐出補正パラメータを求根アルゴリズムの設計変数とみなすものとする。
ここで、g(x)、h(x)は、xを変数とした任意の関数とする。このように定義した上で、本実施形態における求根アルゴリズムの設計変数をxとすることで、左右で異なる補正パラメータで表された不吐出補正パラメータを最適化することが可能となる。
g(x)=x、h(x)=x …(式2)
とすることで、先に説明した全ノズル不吐出補正パラメータ更新処理と同様に、左右の不吐出補正ノズルについて同じ不吐出補正パラメータを適用するものとして扱うことができる。
とすることで、左右の不吐出補正ノズルでそれぞれ異なる補正パラメータを有する不吐出補正パラメータを生成することができる。
とすることで、左右のうちの一方(右側)の不吐出補正ノズルの補正パラメータを固定した上で、他方(左側)の不吐出補正ノズルの補正パラメータのみを最適化した不吐出補正パラメータを生成することも可能である。
ここで、上述した全ノズル最適化処理の課題について説明する。上述した全ノズル最適化処理は、既知の不吐出ノズルに関連して、以下の課題を有している。
既知の不吐出ノズルのみの不吐出補正パラメータを最適化すればよいと考えられる印刷系(例えば、インク吐出が安定している系)の場合、全ノズルの不吐出補正パラメータを最適化する処理は冗長な処理となる。既知の不吐出ノズルに対する不吐出補正パラメータのみが最適化されればよいので、より一層効率的な手法が望まれる。
既知の不吐出ノズルの近傍のノズルに対する不吐出補正パラメータが最適化されない。既知の不吐出ノズルが存在する場合、不吐出ノズルの近傍のノズルに対して既知の不吐出ノズルの影響を加味した不吐出補正パラメータの最適値を探索しようとする。
図12は、本発明の第2実施形態に係る不吐出補正パラメータ最適化処理の流れを示すフローチャートである。なお、以下に説明するフローチャートにおいて、これまでに説明した不吐出補正パラメータの最適化処理における各工程と同一又は類似する工程、各手段と同一又は類似する手段については、説明を省略又は簡略化する。
ステップS100に示す不吐出補正パラメータ読出工程では、予め記憶されている最新の不吐出補正パラメータが読み出される。
ステップS102に示す繰返処理完了判断工程では、繰返処理が完了したか否かが判断される。ステップS102において、繰返処理が完了していると判断されると(Yes判定)、当該不吐出補正パラメータ最適化処理は終了される。
ステップS104に示す指定ノズル高速最適化処理工程では、既知の不吐出ノズルを指定ノズルとして指定ノズル高速最適化処理が実行され、指定ノズル最適化済み不吐出補正パラメータ(d100)が生成される。
ステップS106に示す全ノズル最適化処理工程では、不吐出補正パラメータ記憶部152に記憶されている指定ノズル最適化済み不吐出補正パラメータを用いて、全ノズル最適化処理が実行される。ステップS106の全ノズル最適化処理は、先に説明した全ノズル最適化処理が適用される(図8参照)。
ステップS108に示す全ノズルについて不吐出補正パラメータが最適化されると、全ノズルの不吐出補正パラメータが更新される。
ステップS100に示す更新後の不吐出補正パラメータは、最新の不吐出補正パラメータとして図7の不吐出補正パラメータ記憶部152に記憶される。
次に、本発明の第3実施形態について説明する。以下に説明する第3実施形態は、第2実施形態に係る不吐出補正パラメータ最適化処理をさらに効率的にしたものである。なお、以下に説明するフローチャートにおいて、これまでに説明した不吐出補正パラメータ最適化処理における各工程と同一又は類似する工程、各手段と同一又は類似する手段については、説明を省略又は簡略化する。
ステップS200に示す不吐出補正パラメータ読出工程では、予め記憶されている最新の不吐出補正パラメータが読み出される。
ステップS202に示す繰返処理完了判断工程では、繰返処理が完了したか否かが判断される。ステップS202において、繰返処理が完了していると判断されると(Yes判定)、当該不吐出補正パラメータ最適化処理は終了される。
ステップS204に示す指定ノズル高速最適化完了判断工程では、指定ノズルに対する不吐出補正パラメータの最適化が完了しているか否かが判断される。ステップS204において指定ノズルに対する不吐出補正パラメータの最適化が完了していると判断されると(Yes判定)、ステップS208へ進む。
ステップS206に示す混成最適化用テストチャートデータ生成工程では、指定ノズル高速最適化用テストチャートと全ノズル最適化用テストチャートとを一体的に構成した混成最適化用テストチャートデータ(d200)が生成され、ステップS210へ進む。
ステップS208に示す全ノズル最適化用テストチャートデータ生成工程では、最適化されている指定ノズルに対する不吐出補正パラメータが考慮された、全ノズル最適化用テストチャートデータ(d202)が生成され、ステップS210へ進む。
ステップS210に示すテストチャート出力工程では、ステップS206において生成された混成最適化用テストチャートデータ(d200)に基づく混成最適化用テストチャート、又はステップS208において生成された全ノズル最適化用テストチャートデータ(d202)に基づく全ノズル最適化用テストチャートが出力され、出力されたテストチャートが読み取られ、テストチャート読取データ(d204)が生成され、ステップS212へ進む。
ステップS212に示す指定ノズル高速最適化完了判断工程では、指定ノズルに対する不吐出補正パラメータの最適化が完了しているか否かが判断される。ステップS212における判断結果は、ステップS204に示す指定ノズル高速最適化完了判断工程の判断結果を引用することができる。
ステップS220に示す全ノズル最適化アルゴリズム実行工程では、全ノズルに対する不吐出補正パラメータ最適化アルゴリズム(処理)が実行され、ステップS222へ進む。ここでは、図8を用いて説明した全ノズル最適化処理が適用されるので、詳細な説明は省略する。
ステップS222に示す全ノズル不吐出補正パラメータ更新工程では、すべてのノズルに対する不吐出補正パラメータが更新され、ステップS200へ進む。
ステップS230に示す混成最適化用アルゴリズム実行工程では、混成最適化用テストチャート(図14、図15に図示)を用いてノズルの種類を3種類に分類し、ノズルの種類ごとに個別の処理が施される。
ステップS232に示す指定ノズルの近傍ノズルを除く不吐出補正パラメータ更新工程では、指定ノズルの近傍ノズルを除くノズル(指定ノズル、不吐出補正ノズル、他のノズル)について不吐出補正パラメータが更新され、ステップS234へ進む。
ステップS234に示す指定ノズルの近傍ノズルの不吐出補正パラメータ最適化処理工程では、指定ノズルの近傍ノズルに対して不吐出補正パラメータの最適化処理、不吐出補正パラメータの更新処理が実行され、ステップS200へ進む。
不吐出補正パラメータ記憶工程では、すべてのノズルについて、更新された不吐出補正パラメータが図7の不吐出補正パラメータ記憶部152へ記憶される。
図14は、ステップS230に示す混成最適化アルゴリズムに使用される第1混成最適化用テストチャート20(第3テストチャート)の構成を模式的に図示した構成図である。
次に、本発明に係る不吐出補正パラメータ最適化処理が適用される他の装置構成例について説明する。
図16は、他の装置構成例のインクジェット記録装置の全体構成を示した構成図である。同図に示すインクジェット記録装置200は、色材を含有するインクと該インクを凝集させる機能を有する凝集処理液を用いて、所定の画像データに基づいて記録媒体214(用紙P)の記録面に画像を形成する二液凝集方式の記録装置である。
給紙部220は、給紙トレイ222と不図示の送り出し機構が設けられ、記録媒体214は給紙トレイ222から一枚ずつ送り出されるように構成されている。
処理液塗布部230は、給紙胴232から受け渡された記録媒体214を外周面に保持して記録媒体214を所定の搬送方向へ搬送する処理液胴234と、処理液胴234の外周面に保持された記録媒体214の記録面に処理液を付与する処理液塗布装置236と、含んで構成されている。
描画部240は、記録媒体214を保持して搬送する描画胴244と、記録媒体214を描画胴244に密着させるための用紙押さえローラ246と、記録媒体214にインクを付与するインクジェットヘッド248M,248K,248C,248Yを備えている。描画胴244の基本構造は先に説明した処理液胴234と共通している。
乾燥処理部250は、画像形成後の記録媒体214を保持して搬送する乾燥胴254と、該記録媒体214上の水分(液体成分)を蒸発させる乾燥処理を施す乾燥処理装置256を備えている。
定着処理部260は、記録媒体214を保持して搬送する定着胴(定着ドラム)264と、記録媒体214に加熱処理を施すヒータ266と、該記録媒体214を記録面側から押圧する定着ローラ268と、を備えて構成される。
図16に示すように、定着処理部260に続いて排出部270が設けられている。排出部270は、張架ローラ272A,272Bに巻きかけられた無端状の搬送チェーン274と、画像形成後の記録媒体214が収容される排出トレイ276と、を備えて構成されている。
次に、描画部240に具備されるインクジェットヘッド248M,248K,248C,248Yの構造の一例について説明する。なお、各色に対応するインクジェットヘッド248M,248K,248C,248Yの構造は共通しているので、以下、これらを代表して符号50によってインクジェットヘッド(ヘッド)を示すものとする。
図21は、インクジェット記録装置200の制御系の概略構成を示すブロック図である。インクジェット記録装置200は、通信インターフェース340、システム制御部342、搬送制御部344、画像処理部346、ヘッド駆動部348を備えるとともに、インライン検出部366、不吐出補正パラメータ最適化部386等を備えている。
上記に詳述した発明の実施形態についての記載から把握されるとおり、本明細書は少なくとも以下に示す発明を含む多様な技術思想の開示を含んでいる。
Claims (14)
- 複数の記録素子が具備される記録ヘッドを用いた画像記録に適用され、正常記録が不能となった不良記録素子による記録不良を前記不良記録素子以外の不良補償記録素子を用いて補償する際に前記不良補償記録素子に適用される不良記録素子補償パラメータを最適化する不良記録素子補償パラメータ最適化装置と、
予め指定された指定記録素子が既知の不良記録素子の場合の指定記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、又は予め指定された指定記録素子が正常記録素子の場合の指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、前記非記録領域の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置に複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが形成される計測チャート領域、及び処理対象濃度の均一濃度画像が記録される均一濃度領域を有する第1テストチャートを形成する形成手段と、
前記形成された第1テストチャートを読み取る読取手段と、
を備え、
前記不良記録素子補償パラメータ最適化装置は、前記読取手段によって得られた読取データを解析して、不良記録素子補償パラメータごとに前記計測チャートの濃度と前記均一濃度領域の濃度とを比較し、前記均一濃度領域との濃度差が最小となる前記計測チャートの濃度に対応する不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段であって、前記不良記録素子補償パラメータの最適値の評価指標として、前記計測チャート領域及び前記非記録領域における不良記録素子補償パラメータごとの領域である対象不良極近傍領域の平均濃度値と、前記均一濃度領域における前記対象不良極近傍領域に対応する領域である対象不良略近傍領域の平均濃度値との差分値を適用し、前記差分値が最小となる前記対象不良極近傍領域に与えられた不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段を備えた画像記録装置。 - 前記形成手段、前記読取手段、及び前記解析手段による処理を経る前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適化処理が複数回にわたって実行される際に、
前記形成手段は前記計測チャートに適用される複数の不良記録素子補償パラメータの範囲を前回よりも狭めて前記計測チャートを形成する請求項1に記載の画像記録装置。 - 前記指定記録素子が既知の不良記録素子の場合、前記形成手段は前記指定記録素子の記録位置を前記非記録領域とし、前記指定記録素子の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置を前記計測チャート領域として前記第1テストチャートを形成する請求項1又は2に記載の画像記録装置。
- 前記指定記録素子が正常記録素子の場合、前記形成手段は前記指定記録素子の記録位置を前記計測チャート領域とし、前記指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置を前記非記録領域として前記第1テストチャートを形成する請求項1又は2に記載の画像記録装置。
- 前記形成手段は、前記計測チャート領域に複数の不良記録素子補償パラメータのそれぞれに対応する小領域が連続する計測チャートを形成する請求項1から4のいずれか1項に記載の画像記録装置。
- 前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適化がされた後に前記指定記録素子の他の記録素子に対する不良記録素子補償パラメータを最適化する際に、
前記形成手段は、前記他の記録素子の中で不良記録素子とみなした模擬不良記録素子の記録位置が非記録とされた模擬不良記録領域、前記模擬不良記録素子の記録不良を補償する記録素子である不良補償記録素子の記録位置であり前記模擬不良記録素子に対する不良記録素子補償パラメータが適用された濃度値を有する補償パターンが形成される不良記録素子補償領域、及び処理対象の濃度値の均一濃度画像が形成される均一濃度領域を有するテストチャートであり、複数の前記模擬不良記録領域及び前記不良記録素子補償領域が第1の方向に予め決められた間隔で配置された1段分のパターンが前記第1の方向に直交する第2の方向について複数配置され、異なる段に属する前記模擬不良記録領域は前記第1の方向の位置がずらして配置される第2テストチャートを形成し、
前記読取手段は、前記形成された第2テストチャートを読み取り、
前記解析手段は、前記読取手段によって得られた前記第2テストチャートの読取データを解析して、前記記録素子ごとの不良記録素子補償パラメータの補正強度を評価し、前記評価した補正強度から反復法を用いた一変数求根アルゴリズムに基づいて前記他の記録素子のそれぞれの不良記録素子補償パラメータを最適化する請求項1から5のいずれか1項に記載の画像記録装置。 - 前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適化の際に、
前記形成手段は、前記第1テストチャートを形成する代わりに、前記第1テストチャートに対応する第1チャート及び前記第2テストチャートに対応する第2チャートが混成され、前記指定記録素子の記録位置及び前記指定記録素子の近傍の記録素子の記録位置に前記第1チャートが形成され、前記指定記録素子の記録位置及び前記指定記録素子の近傍の記録素子の他の記録素子の記録位置に前記第2チャートが形成された第3テストチャートを形成し、
前記読取手段は、前記形成された第3テストチャートを読み取り、
前記解析手段は、前記読取手段によって取得された前記第3テストチャートの読取データにおける前記第1テストチャートの読取データを解析して、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する請求項6に記載の画像記録装置。 - 前記解析手段は、前記第3テストチャートにおける前記第1チャートの均一濃度領域には処理をせずに、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータを最適化する請求項7に記載の画像記録装置。
- 前記第3テストチャートを用いた指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適化がされた後に前記指定記録素子の他の記録素子に対する不良記録素子補償パラメータを最適化する際に、
前記形成手段は、前記第3テストチャートにおける第1チャートの均一濃度領域に前記第2テストチャートに対応する第2チャートが形成された第4テストチャートを形成し、
前記読取手段は、前記形成された第4テストチャートを読み取り、
前記解析手段は、前記読取手段によって取得された前記第4テストチャートの読取データにおける前記第2チャートの読取データを解析して、前記指定記録素子の近傍の記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する請求項7又は8に記載の画像記録装置。 - 複数の記録素子が具備される記録ヘッドを用いた画像記録に適用され、正常記録が不能となった不良記録素子による記録不良を前記不良記録素子以外の不良補償記録素子を用いて補償する際に前記不良補償記録素子に適用される不良記録素子補償パラメータを最適化する不良記録素子補償パラメータ最適化方法であって、
予め指定された指定記録素子が既知の不良記録素子の場合の指定記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、又は予め指定された指定記録素子が正常記録素子の場合の指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、前記非記録領域の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置に複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが形成される計測チャート領域、及び処理対象濃度の均一濃度画像が記録される均一濃度領域を有する第1テストチャートを形成する形成工程と、
前記形成された第1テストチャートを読み取る読取工程と、
前記読取工程によって得られた読取データを解析して、不良記録素子補償パラメータごとに前記計測チャートの濃度と前記均一濃度領域の濃度とを比較し、前記均一濃度領域との濃度差が最小となる前記計測チャートの濃度に対応する不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析工程であって、前記不良記録素子補償パラメータの最適値の評価指標として、前記計測チャート領域及び前記非記録領域における不良記録素子補償パラメータごとの領域である対象不良極近傍領域の平均濃度値と、前記均一濃度領域における前記対象不良極近傍領域に対応する領域である対象不良略近傍領域の平均濃度値との差分値を適用し、前記差分値が最小となる前記対象不良極近傍領域に与えられた不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析工程と、
を含む不良記録素子補償パラメータ最適化方法。 - コンピュータに、
複数の記録素子が具備される記録ヘッドを用いた画像記録に適用され、正常記録が不能となった不良記録素子による記録不良を前記不良記録素子以外の不良補償記録素子を用いて補償する際に前記不良補償記録素子に適用される不良記録素子補償パラメータを最適化する不良記録素子補償パラメータ最適化装置と、
予め指定された指定記録素子が既知の不良記録素子の場合の指定記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、又は予め指定された指定記録素子が正常記録素子の場合の指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、前記非記録領域の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置に複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが形成される計測チャート領域、及び処理対象濃度の均一濃度画像が記録される均一濃度領域を有する第1テストチャートを形成する形成手段と、
前記形成された第1テストチャートを読み取る読取手段の機能を実現させる不良記録素子補償パラメータ最適化プログラムであって、
前記不良記録素子補償パラメータ最適化装置の機能として、前記読取手段によって得られた読取データを解析して、不良記録素子補償パラメータごとに前記計測チャートの濃度と前記均一濃度領域の濃度とを比較し、前記均一濃度領域との濃度差が最小となる前記計測チャートの濃度に対応する不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段であって、前記不良記録素子補償パラメータの最適値の評価指標として、前記計測チャート領域及び前記非記録領域における不良記録素子補償パラメータごとの領域である対象不良極近傍領域の平均濃度値と、前記均一濃度領域における前記対象不良極近傍領域に対応する領域である対象不良略近傍領域の平均濃度値との差分値を適用し、前記差分値が最小となる前記対象不良極近傍領域に与えられた不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段の機能を実現させる不良記録素子補償パラメータ最適化プログラム。 - 複数の記録素子が具備される記録ヘッドを用いた画像記録に適用され、正常記録が不能となった不良記録素子による記録不良を前記不良記録素子以外の不良補償記録素子を用いて補償する際に前記不良補償記録素子に適用される不良記録素子補償パラメータを最適化する不良記録素子補償パラメータ最適化装置であって、
予め指定された指定記録素子が既知の不良記録素子の場合の指定記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、又は予め指定された指定記録素子が正常記録素子の場合の指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、前記非記録領域の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置に複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが形成される計測チャート領域、及び処理対象濃度の均一濃度画像が記録される均一濃度領域を有する第1テストチャートを読み取って得られた読取データを解析して、不良記録素子補償パラメータごとに前記計測チャートの濃度と前記均一濃度領域の濃度とを比較し、前記均一濃度領域との濃度差が最小となる前記計測チャートの濃度に対応する不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段であって、前記不良記録素子補償パラメータの最適値の評価指標として、前記計測チャート領域及び前記非記録領域における不良記録素子補償パラメータごとの領域である対象不良極近傍領域の平均濃度値と、前記均一濃度領域における前記対象不良極近傍領域に対応する領域である対象不良略近傍領域の平均濃度値との差分値を適用し、前記差分値が最小となる前記対象不良極近傍領域に与えられた不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段を備えた不良記録素子補償パラメータ最適化装置。 - 複数の記録素子が具備される記録ヘッドを用いた画像記録に適用され、正常記録が不能となった不良記録素子による記録不良を前記不良記録素子以外の不良補償記録素子を用いて補償する際に前記不良補償記録素子に適用される不良記録素子補償パラメータを最適化する不良記録素子補償パラメータ最適化方法であって、
予め指定された指定記録素子が既知の不良記録素子の場合の指定記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、又は予め指定された指定記録素子が正常記録素子の場合の指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、前記非記録領域の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置に複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが形成される計測チャート領域、及び処理対象濃度の均一濃度画像が記録される均一濃度領域を有する第1テストチャートを読み取って得られた読取データを解析して、不良記録素子補償パラメータごとに前記計測チャートの濃度と前記均一濃度領域の濃度とを比較し、前記均一濃度領域との濃度差が最小となる前記計測チャートの濃度に対応する不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析工程であって、前記不良記録素子補償パラメータの最適値の評価指標として、前記計測チャート領域及び前記非記録領域における不良記録素子補償パラメータごとの領域である対象不良極近傍領域の平均濃度値と、前記均一濃度領域における前記対象不良極近傍領域に対応する領域である対象不良略近傍領域の平均濃度値との差分値を適用し、前記差分値が最小となる前記対象不良極近傍領域に与えられた不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析工程を含む不良記録素子補償パラメータ最適化方法。 - 複数の記録素子が具備される記録ヘッドを用いた画像記録に適用され、正常記録が不能となった不良記録素子による記録不良を前記不良記録素子以外の不良補償記録素子を用いて補償する際に前記不良補償記録素子に適用される不良記録素子補償パラメータを最適化する不良記録素子補償パラメータ最適化プログラムであって、
コンピュータに、
予め指定された指定記録素子が既知の不良記録素子の場合の指定記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域置、又は予め指定された指定記録素子が正常記録素子の場合の指定記録素子が記録不良を補償する不良記録素子の記録位置が非記録とされた非記録領域、前記非記録領域の記録不良を補償する不良補償記録素子の記録位置に複数の不良記録素子補償パラメータが連続的又は段階的に与えられた計測チャートが形成される計測チャート領域、及び処理対象濃度の均一濃度画像が記録される均一濃度領域を有する第1テストチャートの読取データを解析して、不良記録素子補償パラメータごとに前記計測チャートの濃度と前記均一濃度領域の濃度とを比較し、前記均一濃度領域との濃度差が最小となる前記計測チャートの濃度に対応する不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段であって、前記不良記録素子補償パラメータの最適値の評価指標として、前記計測チャート領域及び前記非記録領域における不良記録素子補償パラメータごとの領域である対象不良極近傍領域の平均濃度値と、前記均一濃度領域における前記対象不良極近傍領域に対応する領域である対象不良略近傍領域の平均濃度値との差分値を適用し、前記差分値が最小となる前記対象不良極近傍領域に与えられた不良記録素子補償パラメータを、前記指定記録素子に対する不良記録素子補償パラメータの最適値として導出する解析手段の機能を実行させる不良記録素子補償パラメータ最適化プログラム。
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