JP5822042B1 - 検査治具、基板検査装置、及び検査治具の製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
また、前記電流用挿通孔が前記対向面に開口する先端側電流孔開口端及び前記検出用挿通孔が前記対向面に開口する先端側検出孔開口端は、前記電流用挿通孔と前記検出用挿通孔との離間方向に長径方向が沿う略楕円形であることが好ましい。
また、前記電流用挿通孔が前記対向面とは反対側の反対面に開口する後端側電流孔開口端及び前記検出用挿通孔が前記反対面に開口する後端側検出孔開口端は、前記電流用挿通孔と前記検出用挿通孔との離間方向に長径方向が沿う略楕円形であり、前記電流用挿通孔の前記後端側電流孔開口端の長半径とその電流用挿通孔と対になる前記検出用挿通孔の前記後端側検出孔開口端の長半径との合計が、当該対となる前記電流用挿通孔の前記先端側電流孔開口端と前記検出用挿通孔の前記先端側検出孔開口端との中心間の距離より大きくされていることが好ましい。
また、本発明に係る検査治具の製造方法は、上述の検査治具における前記対向プレートの製造方法であって、前記対向プレートの前記反対面側からレーザ光を照射してレーザ加工を行うことにより前記各電流用挿通孔及び前記各検出用挿通孔を形成する検査治具の製造方法である。
(第1実施形態)
(第2実施形態)
4,4U,4L,4’,4U’,4L’ 検査治具
5,5’ 検査側支持体
6 電極側支持体
7 連結部材
9 電極プレート
20 制御部
51,51’ 対向プレート
52,53 案内プレート
61,62,63 支持プレート
81 導体部
82 絶縁部
91 電極
100 基板
110 基板固定装置
112 筐体
121 第1検査部
122 第2検査部
125 検査部移動機構
511 薄肉領域
512 外周部
531 薄肉部
B バンプ(検査点)
C 反対面
Ef1,Ef1’ 後端側電流孔開口端
Ef2,Ef2’ 先端側電流孔開口端
Es1,Es1’ 後端側検出孔開口端
Es2,Es2’ 先端側検出孔開口端
F 対向面
H52,H53 案内孔
H61,H62,H63 支持孔
Hf 電流用挿通孔
Hs 検出用挿通孔
L 距離
Pf プローブ(電流プローブ)
Ps プローブ(検出プローブ)
R 背面
Rf,Rs 傾斜角度
rf1,rf2,rf3,rs1,rs2,rs3 半径
rf1’,rf2’,rs1’,rs2’ 長半径
X 角部
Claims (12)
- 検査対象の基板に設けられる検査点一つに対し、電流を供給するための棒状の電流プローブと電圧を検出するための棒状の検出プローブとを接触させるための検査治具であって、
前記基板と対向配置されるための対向面を有する対向プレートと、
前記対向プレートの前記対向面とは反対側に対向配置される支持プレートとを備え、
前記対向プレートには、前記電流プローブを挿通するための電流用挿通孔と、前記検出プローブを挿通するための検出用挿通孔とを対にして、当該対が複数対形成され、
前記支持プレートには、前記各電流用挿通孔及び前記各検出用挿通孔に対応して設けられ、前記電流プローブを挿通するための電流用支持孔及び前記検出プローブを挿通するための検出用支持孔が形成され、
前記各電流用挿通孔及び前記各検出用挿通孔は、前記対向面から離れるにつれて拡径するテーパ形状を有し、
前記電流用挿通孔が前記対向面に開口する先端側電流孔開口端の半径とその電流用挿通孔と対になる前記検出用挿通孔が前記対向面に開口する先端側検出孔開口端の半径との合計が、当該対となる前記電流用挿通孔と前記検出用挿通孔との中心間の距離より小さくされ、かつ前記電流用挿通孔が前記対向プレートの前記対向面とは反対側の反対面に開口する後端側電流孔開口端の半径とその電流用挿通孔と対になる前記検出用挿通孔が前記反対面側に開口する後端側検出孔開口端の半径との合計が、当該対となる前記電流用挿通孔と前記検出用挿通孔との中心間の距離より大きくされ、当該対となる前記後端側電流孔開口端の端縁と前記後端側検出孔開口端の端縁とが連続しており、
当該対となる前記後端側電流孔開口端の端縁及び前記後端側検出孔開口端の端縁は、対にならない他の前記後端側電流孔開口端の端縁及び前記後端側検出孔開口端の端縁とは分離している検査治具。 - 前記対となる前記電流用挿通孔及び前記検出用挿通孔について、前記対向面と平行な方向に切断した前記電流用挿通孔の断面である電流孔断面の半径と、その方向に切断した前記検出用挿通孔の断面である検出孔断面の半径との合計は、その断面位置の前記対向面からの距離が、少なくとも前記電流用挿通孔及び前記検出用挿通孔の深さの3/4以下の範囲では前記電流用挿通孔と前記検出用挿通孔との中心間の距離より小さい請求項1記載の検査治具。
- 前記各電流用挿通孔及び前記各検出用挿通孔の内壁面の、前記対向プレートの板厚方向に対する傾斜角度は、1〜5度の範囲内である請求項1又は2に記載の検査治具。
- 検査対象の基板に設けられる検査点一つに対し、電流を供給するための棒状の電流プローブと電圧を検出するための棒状の検出プローブとを接触させるための検査治具であって、
前記基板と対向配置されるための対向面を有する対向プレートと、
前記対向プレートの前記対向面とは反対側に対向配置される支持プレートとを備え、
前記対向プレートには、前記電流プローブを挿通するための電流用挿通孔と、前記検出プローブを挿通するための検出用挿通孔とを対にして、当該対が複数対形成され、
前記支持プレートには、前記各電流用挿通孔及び前記各検出用挿通孔に対応して設けられ、前記電流プローブを挿通するための電流用支持孔及び前記検出プローブを挿通するための検出用支持孔が形成され、
前記各電流用挿通孔及び前記各検出用挿通孔は、前記対向面から離れるにつれて拡径するテーパ形状を有し、
対になる前記電流用挿通孔及び前記検出用挿通孔の前記各挿通孔は、互いの内壁面における他方の挿通孔に近い側の壁面が、前記対向プレートの板厚方向に沿って延びている検査治具。 - 前記電流用挿通孔が前記対向面に開口する先端側電流孔開口端及び前記検出用挿通孔が前記対向面に開口する先端側検出孔開口端は、前記電流用挿通孔と前記検出用挿通孔との離間方向に長径方向が沿う略楕円形である請求項4に記載の検査治具。
- 前記電流用挿通孔が前記対向面とは反対側の反対面に開口する後端側電流孔開口端及び前記検出用挿通孔が前記反対面に開口する後端側検出孔開口端は、前記電流用挿通孔と前記検出用挿通孔との離間方向に長径方向が沿う略楕円形であり、
前記電流用挿通孔の前記後端側電流孔開口端の長半径とその電流用挿通孔と対になる前記検出用挿通孔の前記後端側検出孔開口端の長半径との合計が、当該対となる前記電流用挿通孔の前記先端側電流孔開口端と前記検出用挿通孔の前記先端側検出孔開口端との中心間の距離より大きくされている請求項5に記載の検査治具。 - 前記対向プレートには、その対向プレートの外周部よりも板厚が薄い薄肉領域が形成されており、
前記各電流用挿通孔及び前記各検出用挿通孔は、前記薄肉領域を貫通している請求項1〜6のいずれか1項に記載の検査治具。 - 前記対向プレートの、前記反対面側には、前記各電流用挿通孔及び前記各検出用挿通孔とそれぞれ対応し、前記電流プローブ及び前記検出プローブをそれぞれ挿通可能な案内孔が形成された案内プレートが積層され、
対となる前記電流用挿通孔及び前記検出用挿通孔とそれぞれ対応する前記各案内孔は、その電流用挿通孔及び検出用挿通孔に挿通されて対となる前記電流プローブと前記検出プローブとを、前記対向面に近づくにつれて互いの離間距離が短くなるように傾斜させるべくその電流用挿通孔及び検出用挿通孔との位置関係が設定されている請求項1〜7のいずれか1項に記載の検査治具。 - 前記案内孔の内壁面の、前記対向プレートの板厚方向に対する傾斜角度は、前記各電流用挿通孔及び前記各検出用挿通孔の内壁面の、前記板厚方向に対する傾斜角度より小さい請求項8記載の検査治具。
- 前記電流用挿通孔に挿通された前記電流プローブと、
前記検出用挿通孔に挿通された前記検出プローブとをさらに備える請求項1〜9のいずれか1項に記載の検査治具。 - 請求項1〜10のいずれか1項に記載の検査治具を備えた基板検査装置。
- 請求項1〜10のいずれか1項に記載の検査治具の製造方法であって、
前記対向プレートの前記反対面側からレーザ光を照射してレーザ加工を行うことにより前記各電流用挿通孔及び前記各検出用挿通孔を形成する検査治具の製造方法。
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