JP5811912B2 - Mass spectrometer - Google Patents
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Description
本発明は、液体クロマトグラフ等により成分分離されサンプルプレートなどの上にスポッティングされることで調製されたサンプルを質量分析する質量分析装置に関し、さらに詳しくは、試料成分に由来する特定の質量電荷比を有するイオンに対するMSn分析(nは2以上の整数)を行うことが可能なMSn型質量分析装置に関する。 The present invention relates to a mass spectrometer for mass-analyzing a sample prepared by separating components by a liquid chromatograph or the like and spotting on a sample plate or the like, and more specifically, a specific mass-to-charge ratio derived from a sample component. The present invention relates to an MS n- type mass spectrometer capable of performing MS n analysis (n is an integer of 2 or more) on ions having s.
タンパク質の網羅的解析などのプロテオミクスの分野では、液体クロマトグラフ(LC)とマトリクス支援レーザ脱離イオン化(MALDI=Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization)質量分析装置とをオフラインで接続するLC/MALDI-MSの構成がよく用いられる。オフラインLC/MALDI-MSでは、液体クロマトグラフのカラムで成分分離された試料溶液をその溶出の時間順序に従って分画し、スポッティング装置によりMALDI用マトリクスと混合させた上でサンプルプレート上の異なるウェルにスポットする(非特許文献1参照)。そうして多数のサンプルが調製されたサンプルプレートをMALDI質量分析装置にセットし、各サンプルに対する質量分析を順次行うことでマススペクトル(以下MSスペクトルと称す)又はMSnスペクトルをそれぞれ求め、そのMSスペクトル又はMSnスペクトルをデータベース検索などの手法で処理することにより目的成分を同定する。 In the field of proteomics such as comprehensive analysis of proteins, LC / MALDI-MS, which connects a liquid chromatograph (LC) and a matrix-assisted laser desorption / ionization (MALDI) mass spectrometer offline. A configuration is often used. In offline LC / MALDI-MS, the sample solution separated in the liquid chromatographic column is fractionated according to the elution time sequence, mixed with the MALDI matrix using a spotting device, and then separated into different wells on the sample plate. Spot (see Non-Patent Document 1). A sample plate on which a large number of samples are prepared is set in a MALDI mass spectrometer, and mass spectrometry (hereinafter referred to as MS spectrum) or MS n spectrum is obtained by sequentially performing mass analysis on each sample, and the MS The target component is identified by processing the spectrum or the MS n spectrum by a technique such as database search.
含有成分の網羅的解析を行う際には、カラム出口からの溶出液中に混じっている各種成分を漏れなく分取してサンプルを調製する必要がある。そこで、スポッティング装置では、一定量(又はその量に見合った一定時間)毎に溶出液を異なるウェルに分注する分画が実施される。こうした分画では、カラムにおける試料保持の時間幅がスポッティングの時間間隔を上回ると、図3に示すように、クロマトグラム上で1つのピークに相当する成分(1つの成分又は複数の混合成分)が複数のウェルに分散された状態でスポッティングされることになる。図3の例では、(i)、(ii)、(iii)なる3個のウェル中に形成されたサンプルに、1つのピークに相当する成分が含まれる。 When performing a comprehensive analysis of the contained components, it is necessary to prepare a sample by separating various components mixed in the eluate from the column outlet without omission. Therefore, in the spotting device, fractionation is performed in which the eluate is dispensed into different wells for every fixed amount (or a fixed time corresponding to the amount). In such fractionation, when the sample holding time width in the column exceeds the spotting time interval, as shown in FIG. 3, a component (one component or a plurality of mixed components) corresponding to one peak on the chromatogram is obtained. Spotting is performed while being distributed in a plurality of wells. In the example of FIG. 3, a component formed in three wells (i), (ii), and (iii) includes a component corresponding to one peak.
一般的に、LC/MALDI-MSにおいて自動的にMS2分析を実行する際には、スループット向上と検出感度向上のために、衝突誘起解離(CID)等のイオンに対する解離操作を伴わない通常の質量分析により得られたMSスペクトルを参照して、同一成分が分散している連続した複数のウェルの中からイオン量が最も多い(イオン強度が最大である)ウェルを選択し、該ウェルのみを用いてMS2分析を行う。 In general, when performing MS 2 analysis automatically in LC / MALDI-MS, in order to improve throughput and detection sensitivity, a normal operation without ion dissociation such as collision-induced dissociation (CID) is required. Referring to the MS spectrum obtained by mass spectrometry, select the well having the highest ion content (the ion intensity is the maximum) from a plurality of consecutive wells in which the same component is dispersed. To perform MS 2 analysis.
例えばカラムでの成分分離が適切に行われ、1つのピークが1つの成分のみに対応したものである場合には、MSスペクトルには該成分由来の1本の明瞭なピークが現れる。そこで、そのピークの質量電荷比における信号強度が最大であるウェルを選択し、該ウェルに対し上記ピークをプリカーサイオンとするMS2分析を行う。 For example, when component separation on a column is appropriately performed and one peak corresponds to only one component, one clear peak derived from the component appears in the MS spectrum. Therefore, a well having the maximum signal intensity in the mass-to-charge ratio of the peak is selected, and MS 2 analysis is performed using the peak as a precursor ion for the well.
一方、保持時間がほぼ同一である複数の成分が試料に含まれている場合には、これら複数の成分はカラムで分離されずに混合した状態で溶出する。そのため、クロマトグラム上でこれら複数の成分は1つのピークとして観測され、各成分の量比がほぼ維持された状態で連続する複数のウェルにスポッティングされることになる。このようにして調製されたサンプルに対し質量分析を行うと、MSスペクトル上には成分毎に異なる質量電荷比においてピークが現れる。図3の例では、3つの成分が混在しており、MSスペクトルには各成分に対応した3本の明瞭なピークa、b、cが現れる。MS2分析を行う際には、分散してスポッティングされた複数のウェルの中から、各成分毎にイオン量が最も多い(信号強度が最大である)ウェルを選択し、そのウェルに対し各成分由来のピークをプリカーサイオンとするMS2分析を行う。 On the other hand, when a sample contains a plurality of components having substantially the same retention time, the plurality of components are eluted in a mixed state without being separated by the column. Therefore, the plurality of components are observed as one peak on the chromatogram and spotted on a plurality of continuous wells in a state in which the quantity ratio of each component is substantially maintained. When mass spectrometry is performed on the sample prepared in this manner, peaks appear at different mass-to-charge ratios for each component on the MS spectrum. In the example of FIG. 3, three components are mixed, and three clear peaks a, b, and c corresponding to each component appear in the MS spectrum. When performing MS 2 analysis, select the well with the highest ion content (the signal intensity is the maximum) for each component from the dispersed and spotted wells. MS 2 analysis is performed using the derived peak as a precursor ion.
上述したように、試料溶液に含まれる成分のうち、複数成分の保持時間がほぼ同一である場合、複数のウェルにおける各成分の量比はほぼ維持される。そのため、図3に示したように、MSスペクトル上で3つの成分に対応するピークa、b、cの信号強度が最大になるのは同一のウェルである。したがって、3つの成分についてはいずれもウェル(ii)を用いたMS2分析が実行されることになる。また、MALDIイオン源では1回のレーザ照射で以て必ずしも十分な量のイオンが発生しないことも多いため、或る1つの成分に対する質量分析結果を得るために複数回レーザ照射を行ってそれにより得られたイオン強度を積算するのが一般的である。同一のウェルに対し複数の成分のMS2分析をそれぞれ複数回実行しようとすると、サンプルの消費量が多くなり、前半のMS2分析時にサンプルが枯渇してしまい、後半のMS2分析時に有意なデータが得られなくなる場合もある。 As described above, among the components contained in the sample solution, when the retention times of the plurality of components are substantially the same, the amount ratio of each component in the plurality of wells is substantially maintained. Therefore, as shown in FIG. 3, the same well has the maximum signal intensity of peaks a, b, and c corresponding to the three components on the MS spectrum. Therefore, MS 2 analysis using well (ii) is performed for all three components. In addition, in a MALDI ion source, a sufficient amount of ions are not always generated by a single laser irradiation, so that a plurality of laser irradiations are performed in order to obtain a mass analysis result for a certain component. Generally, the obtained ionic strength is integrated. If for the same well and trying to run multiple more components of MS 2 analysis each time, the number of consumption of the sample, would then samples depleted during the first half of the MS 2 analysis, significant in the latter half of the MS 2 during analysis Data may not be available.
上記のように分析しようとするサンプルが枯渇すると、一部又は全ての成分について良好な、つまり高S/N、高感度のMS2スペクトルが得られなくなり、例えばこのMS2スペクトルを用いて成分同定を行う場合には同定精度が低下することになる。なお、上述したようにサンプルの枯渇のおそれがある場合でも、従来の質量分析装置では、選択されなかったウェルはMS2分析の対象とはされずに廃棄されることになり、該ウェルに含まれる試料成分は全く無駄になる。 When the sample to be analyzed is depleted as described above, good or high-sensitivity MS 2 spectrum cannot be obtained for some or all components. For example, component identification using this MS 2 spectrum When performing the above, the identification accuracy is lowered. Even when there is a risk of sample depletion as described above, in the conventional mass spectrometer, wells that were not selected will be discarded without being subjected to MS 2 analysis, and are contained in the wells. The sample components are completely wasted.
本発明は上記課題に鑑みて成されたものであり、その目的とするところは、複数のウェルに分散した複数の成分についてのMSn分析を実行する際に、試料を有効に利用して、各成分に対し高いS/N、高い感度でMSn分析を実行することができる質量分析装置を提供することである。 The present invention has been made in view of the above problems, and its object is to effectively use a sample when performing MS n analysis on a plurality of components dispersed in a plurality of wells. To provide a mass spectrometer capable of performing MS n analysis with high S / N and high sensitivity for each component.
上記課題を解決するために成された本発明は、クロマトグラフィにより成分分離された試料をその溶出の時間順序に従って分画することで調製された複数のサンプルに対しMSn分析(nは2以上の整数)を実施する質量分析装置であって、クロマトグラフィにより成分分離されなかった複数の成分が溶出の時間順序で連続するM個(Mは2以上の整数)のサンプルに含まれる状態である該サンプルに対してMSn分析を行う質量分析装置において、
a)前記M個のサンプルのうちの少なくとも1個のサンプルに対し、解離操作を伴わない質量分析を実施してMSスペクトルを取得するMSスペクトル取得手段と、
b)前記MSスペクトル取得手段により得られた少なくとも1つのMSスペクトルに基づいて、前記M個のサンプルに含まれる複数の成分由来のピークをそれぞれ抽出するピーク抽出手段と、
c)前記ピーク抽出手段により抽出された複数のピークの中で強度が最小であるピークに対し前記M個のサンプルの中で総イオン量が最大であるサンプルを割り当て、前記抽出された複数のピークの中で強度が最大であるピークに対しては前記M個のサンプルの中で総イオン量が最大でないいずれかのサンプルを割り当て、且つ、前記抽出された複数のピークの中で強度が最小及び最大であるピーク以外のピークについて、強度が大きくなる順に、前記M個のサンプルの中で総イオン量が同一である又は減少するサンプルを割り当てるように、各ピークの強度と各サンプルの総イオン量とに基づいて、各ピークをプリカーサイオンとするMSn分析を実行する対象のサンプルを決定するサンプル割当て処理手段と、
d)前記サンプル割当て処理手段により決定された割当てに従って、前記複数の成分毎に、前記M個のサンプルのうちのいずれかに対し前記複数のピークのいずれかをプリカーサイオンに設定したMSn分析を実行してMSnスペクトルを取得するMSnスペクトル取得手段と、
を備えることを特徴としている。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention is directed to MS n analysis (n is 2 or more) for a plurality of samples prepared by fractionating a sample separated by chromatography according to the time sequence of elution . The mass spectrometer is a state in which a plurality of components not separated by chromatography are included in M samples (M is an integer of 2 or more) that are consecutive in the elution time sequence. In a mass spectrometer that performs MS n analysis on
a) MS spectrum acquisition means for acquiring an MS spectrum by performing mass spectrometry without dissociation operation on at least one of the M samples;
b) peak extraction means for extracting peaks derived from a plurality of components contained in the M samples based on at least one MS spectrum obtained by the MS spectrum acquisition means;
c) assigning the sample having the maximum total ion amount among the M samples to the peak having the smallest intensity among the plurality of peaks extracted by the peak extracting means, and Among the M samples, the sample having the smallest total ion content is assigned to the peak with the highest intensity, and the intensity is the lowest among the extracted peaks. For the peaks other than the peak that is the largest, the intensity of each peak and the total ion amount of each sample are assigned so that the samples having the same or decreased total ion amount among the M samples are assigned in order of increasing intensity. A sample assignment processing means for determining a sample to be subjected to MS n analysis using each peak as a precursor ion based on
d) MS n analysis in which any one of the plurality of peaks is set as a precursor ion for any of the M samples for each of the plurality of components according to the assignment determined by the sample assignment processing means. and MS n spectra acquisition means for acquiring MS n spectra run,
It is characterized by having.
本発明に係る質量分析装置において、「クロマトグラフィ」は典型的には液体クロマトグラフィ又はキャピラリ電気泳動である。また、当該質量分析装置がMALDIイオン源やLDI(=Laser Desorption/Ionization)イオン源などによるイオン源を搭載したものである場合には、「サンプル」とはサンプルプレート上の各ウェルに形成されたサンプルである。 In the mass spectrometer according to the present invention, “chromatography” is typically liquid chromatography or capillary electrophoresis. When the mass spectrometer is equipped with an ion source such as a MALDI ion source or an LDI (= Laser Desorption / Ionization) ion source, a “sample” is formed in each well on the sample plate. It is a sample.
本発明に係る質量分析装置では、異なる成分由来のピークをプリカーサイオンとしたMSn分析をそれぞれ実施するサンプルを決める際に、複数の成分に対する各ピークの強度の大小関係をサンプルの選択に利用する。クロマトグラフィにより成分分離されない複数の成分が含まれる連続したM個のサンプルでは、含有量の絶対値はサンプル毎に異なるものの、複数の成分の量比はほぼ一定であると想定される。したがって、M個のサンプルの中の或るサンプル(通常はクロマトグラム上のピークトップの位置に対応したサンプル)において含有量が相対的に多い成分、つまりはMSスペクトル上で高い強度を示すピークに対応した成分は、そのM個のサンプル中の他のサンプルにおいても含有量が他の成分に比べて相対的に多い筈である。逆に、M個のサンプルの中の或るサンプルにおいて含有量が相対的に少ない成分、つまりはMSスペクトル上で低い強度を示すピークに対応した成分は、そのM個のサンプル中の他のサンプルにおいても含有量が他の成分に比べて相対的に低い筈である。こうしたことから、混在している複数の成分の中で含有量が相対的に多い成分については、必ずしも含有量が最大であるサンプルに対してMSn分析を実行しなくても或る程度良好なMSnスペクトルが得られる。一方、混在している複数の成分の中で含有量が相対的に少ない成分については、含有量が最大であるサンプルであってもその含有量の絶対値は相対的に少ない筈であるから、良好なMSnスペクトルを得るためには、含有量ができるだけ多いサンプルを優先的に割り当てる必要がある。 In the mass spectrometer according to the present invention, when determining samples for performing MS n analysis using peaks derived from different components as precursor ions, the magnitude relationship of the intensity of each peak for a plurality of components is used for sample selection. . In consecutive M samples including a plurality of components that are not separated by chromatography, the absolute value of the content varies from sample to sample, but the amount ratio of the plurality of components is assumed to be substantially constant. Therefore, in a sample of M samples (usually the sample corresponding to the position of the peak top on the chromatogram), a component having a relatively high content, that is, a peak showing high intensity on the MS spectrum. The corresponding component should have a relatively high content in other samples in the M samples as compared to the other components. On the contrary, a component having a relatively low content in a certain sample among M samples, that is, a component corresponding to a peak showing a low intensity on the MS spectrum, is the other sample in the M samples. In addition, the content should be relatively low compared to other components. For this reason, a component having a relatively high content among a plurality of mixed components does not necessarily need to be subjected to MS n analysis on a sample having the maximum content. An MS n spectrum is obtained. On the other hand, for a component having a relatively small content among a plurality of mixed components, the absolute value of the content should be relatively small even if the sample has the largest content. In order to obtain a good MS n spectrum, it is necessary to preferentially assign samples with as much content as possible.
そこで、含有量が少ない成分に対して含有量が多いサンプルを優先的に割り当てるために、サンプル割当て処理手段は、抽出された複数のピークの中で強度が最小であるピークに対しM個のサンプルの中で総イオン量が最大であるサンプルを割り当て、抽出された複数のピークの中で強度が最大であるピークに対してはM個のサンプルの中で総イオン量が最大でないいずれかのサンプルを割り当て、且つ、抽出された複数のピークの中で強度が最小及び最大であるピーク以外のピークについて、強度が大きくなる順に、M個のサンプルの中で総イオン量が同一である又は減少するサンプルを割り当てる。 Therefore, in order to preferentially assign a sample with a high content to a component with a low content, the sample assignment processing means has M samples for the peak having the smallest intensity among the plurality of extracted peaks. A sample having the maximum total ion amount is assigned, and any of the M samples having the maximum total ion amount is not the maximum for the peak having the maximum intensity among the plurality of extracted peaks. And for the peaks other than the peak having the minimum and maximum intensities among the extracted peaks, the total ion amount is the same or decreases in the M samples in order of increasing intensity. Assign a sample.
ここで、「M個のサンプルの中で総イオン量が同一である」サンプルとは、M個のサンプルの中で総イオン量が同一である別々のサンプルであってもよいが、M個のサンプルの中で同一のサンプルであってもよい。即ち、同じサンプルに対して複数のピークが対応付けられる、つまりは、同じサンプルについて異なるプリカーサイオンを設定した複数のMSn分析が実行されるようにしてもよい。ただし、本発明に係る質量分析装置では、従来のように、混在している複数の成分の全てについて同じサンプルに対するMSn分析が実行されることはあり得ず、最低でも2個のサンプルに対してMSn分析が実行されることになる。換言すれば、MSn分析が実施される対象のサンプルは1つに片寄ることはなく、少なくとも2以上のサンプルに分散したMSn分析が実施される。 Here, the sample having the same total ion amount in the M samples may be a separate sample having the same total ion amount in the M samples. The same sample may be used among the samples. That is, a plurality of peaks may be associated with the same sample, that is, a plurality of MS n analyzes may be performed in which different precursor ions are set for the same sample. However, in the mass spectrometer according to the present invention, as in the prior art, MS n analysis cannot be performed on the same sample for all of a plurality of mixed components, and at least for two samples. MS n analysis will be performed. In other words, the sample for which the MS n analysis is performed is not shifted to one, and the MS n analysis dispersed in at least two or more samples is performed.
また、本発明に係る質量分析装置において、好ましくは、前記ピーク抽出手段で抽出されたピークの数NがM以下である場合、前記サンプル割当て処理手段は、M個のサンプルから総イオン量が多い順にN個のサンプルを選択し、N本のピークのうち強度が最小であるピークから強度が大きくなる順に、N個のサンプルの中で総イオン量が大きいサンプルを一対一で割り当てる構成とするとよい。 In the mass spectrometer according to the present invention, preferably, when the number N of peaks extracted by the peak extraction means is M or less, the sample assignment processing means has a large total ion amount from M samples. It is preferable that N samples are selected in order, and a sample having a large total ion amount among N samples is assigned in a one-to-one order from the peak having the smallest intensity among the N peaks. .
この構成によれば、混在している成分の数がサンプルの数M以下である場合には、1つのサンプルに対し1つの成分についてのMSn分析しか実行されず、サンプルの枯渇の問題は殆ど生じない。 According to this configuration, when the number of mixed components is less than or equal to the number M of samples, only MS n analysis for one component is performed for one sample, and there is almost no problem of sample depletion. Does not occur.
また本発明に係る質量分析装置では、前記ピーク抽出手段で抽出されたピークの数NがMの倍数である場合、前記サンプル割当て処理手段は、N本のピークのうち強度が最小であるピークから、強度が大きくなる順にN/M本ずつ組にして、M個のサンプルの中で総イオン量が大きいサンプルを一対一で割り当てる構成とするとよい。 In the mass spectrometer according to the present invention, when the number N of peaks extracted by the peak extraction unit is a multiple of M, the sample allocation processing unit starts from the peak having the smallest intensity among the N peaks. It is preferable that N / M pairs are arranged in order of increasing intensity, and a sample having a large total ion amount among the M samples is assigned on a one-to-one basis.
この構成によれば、混在している成分の数がサンプルの数Mの2倍数である場合に、MSn分析が実行されるサンプルが片寄らずバランス良く割り振られ、サンプルの枯渇の問題は殆ど生じない。 According to this configuration, when the number of mixed components is twice the number M of samples, the sample on which MS n analysis is performed is allocated in a well-balanced manner, and there is almost no problem of sample depletion. Absent.
本発明に係る質量分析装置によれば、複数の成分が混在して複数のサンプルに分散している場合に、含有量が最大である特定の1つのサンプルのみ集中的に各成分についてのMSn分析が実行されることがなく、MSn分析結果、つまりはMSnスペクトルのS/Nや感度が十分に確保できるような状態でMSn分析実行対象のサンプルが分散される。それにより、データ積算などを目的とした繰り返し分析に際してもサンプルの枯渇を防止することができ、サンプルの枯渇による分析結果の不具合を回避することができる。また、従来は利用されていなかったサンプルを有効に利用することで、分析感度の向上にも繋がる。 According to the mass spectrometer of the present invention, when a plurality of components are mixed and dispersed in a plurality of samples, only a specific sample having the maximum content is concentrated on the MS n for each component. without analysis is performed, MS n analysis, that is, MS n spectra of S / n and the sensitivity of the MS n analysis executed in a state that allows sufficient samples are dispersed. Thereby, it is possible to prevent the sample from being exhausted even during the repeated analysis for the purpose of data integration and the like, and it is possible to avoid problems in the analysis result due to the sample exhaustion. In addition, effective use of a sample that has not been conventionally used leads to an improvement in analysis sensitivity.
以下、本発明に係る質量分析装置の一実施例であるLC/MALDI−IT−TOFMS(液体クロマトグラフ/マトリクス支援レーザ脱離イオン化イオントラップ飛行時間型質量分析装置)について、添付図面を参照して説明する。図1は本実施例のLC/MALDI−IT−TOFMSの概略構成図である。 Hereinafter, an LC / MALDI-IT-TOFMS (liquid chromatograph / matrix-assisted laser desorption / ionization ion trap time-of-flight mass spectrometer) which is an embodiment of a mass spectrometer according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. explain. FIG. 1 is a schematic configuration diagram of the LC / MALDI-IT-TOFMS of this embodiment.
本実施例のLC/MALDI−IT−TOFMSは、液体試料中の各種成分を保持時間に応じて分離するLC部1と、LC部1で分離された成分を含む試料を分取・分画してサンプルプレート上のそれぞれ異なるウェルに分注することで分画試料(サンプル)を調製するスポッティング装置2と、分析対象のサンプルプレートが複数である場合にはその中の1つを選択した上で、1枚のサンプルプレートを後述のMS部4のステージ上に搬送する試料搬送部3と、サンプルに対する質量分析(MS分析、及びnが2以上であるMSn分析)を実行するMS部4と、MS部4により得られたデータを処理するデータ処理部5と、LC部1やスポッティング装置2等の各部の動作を制御する分析制御部6と、を備える。
The LC / MALDI-IT-TOFMS of this embodiment sorts and fractionates the
LC部1は、移動相が貯留された移動相容器11、移動相を吸引して一定流量で送る送液ポンプ12、移動相中に試料を注入するインジェクタ13と、移動相に乗って導入される試料中の各種成分を時間方向に分離するカラム14と、カラム14からの溶出液中に含まれる成分を順次検出する吸光検出器などの検出器15と、を含む。検出器15は溶出液の流れを乱さず、LC部1から出てくる溶出液中に含まれる各種成分は時間経過に伴って変化する。
The
スポッティング装置2は、上記溶出液を所定の時間間隔で分画し、分取した溶出液に所定量のMALDI用マトリクスを混合させた上でサンプルプレート21上に形成された異なるウェル22に順次滴下し、各ウェル22にサンプルを調製する。即ち、各ウェル22に形成されたサンプルは、順次異なる保持時間、より厳密に言えば、カラム14での保持時間が或る保持時間の範囲に入る1乃至複数の成分を含む。もちろん、上述したように溶出液中で或る1つの成分が溶出してくる時間には幅があり、分画時間間隔がこの幅よりも狭い場合には、1つの成分(又は保持時間がほぼ同じである複数成分の混合物)は時間的に連続する複数のウェル22中のサンプルに含まれる。
The
MS部4は、ステージ41上のサンプルプレートにレーザ光を照射するレーザ光源部42を含むMALDIイオン源、イオンを内部に保持するとともに質量電荷比m/zに応じてイオンを分離する機能や衝突誘起解離(CID)によりイオンを解離させる機能を有するイオントラップ43、イオントラップ43から放出された各種イオンを質量電荷比に応じて分離する飛行時間型質量分析器44、分離されたイオンを順次検出する検出器45などを含むMALDI-IT-TOFMSであり、MS分析だけでなく、イオン選択とイオン解離とを1乃至複数回繰り返すMSn分析が可能である。
The MS unit 4 includes a MALDI ion source including a laser light source unit 42 that irradiates a sample plate on the
データ処理部5は、LC部1の検出器15で得られたクロマトグラムデータをサンプルプレートの番号やサンプルプレート上での各サンプルの位置情報などと関連付けて記憶するクロマトグラムデータ収集部51と、MS部4の検出器45で得られるMSスペクトルデータ、MS2スペクトルデータをそれぞれ記憶するMSスペクトルデータ収集部52、MS2スペクトルデータ収集部53と、MSスペクトルに基づいてMS2分析のプリカーサイオンを抽出するプリカーサイオン抽出部54と、後述するような特徴的な処理を実行してMS2分析の実行対象であるウェルを決定するウェル/プリカーサイオン割当て処理部55と、を機能ブロックとして含む。
The
データ処理部5や分析制御部6は、例えばパーソナルコンピュータをハードウエア資源とし、該パーソナルコンピュータにインストールされた専用の制御・処理ソフトウエアを実行することにより、上記のような各機能ブロックが具現化される構成とすることができる。
The
上記構成のLC/MALDI−IT−TOFMSでは、上述したようにスポッティング装置2において多数のサンプルが搭載されたサンプルプレートは試料搬送部3によりMS部4のステージ41上にセットされる。元の試料中に含まれる各種成分を網羅的に同定するために、MS部4ではサンプルプレート上のウェルに形成されたサンプルに対するMS分析やMSn分析が行われるが、その際の処理及び制御動作は以下のように実行される。
図2はこの網羅的な同定処理及び制御の動作手順を示すフローチャートである。
In the LC / MALDI-IT-TOFMS having the above-described configuration, the sample plate on which a large number of samples are mounted in the
FIG. 2 is a flowchart showing an operation procedure of this comprehensive identification process and control.
データ処理部5においてクロマトグラムデータ収集部51には、試料に対するクロマトグラムとそのクロマトグラム上の時間とサンプルプレート上のウェルの位置情報(つまりはサンプルの位置情報)とが対応付けて記憶されている。そのため、クロマトグラム上で1つのピークの期間(ピーク開始点からピーク終了点までの期間)に対応するサンプルの位置は既知である。そこで、データ処理部5は、クロマトグラムデータ収集部51に格納されている情報に基づいて、クロマトグラム上の或る1つのピークに対応する1乃至複数の成分が含まれるウェルを特定し、そのウェルの数Mを求める(ステップS1)。なお、クロマトグラム上において処理対象のピークは自動的に順次指定されるようにしてもよいし、或いは、図示しない入力部からユーザが手動で指定するようにしてもよい。
In the
1つのピークに対応する1乃至複数の成分が含まれるウェルを特定されると、そのM個のウェルの位置情報(サンプルプレート自体の入れ替えが必要である場合にはサンプルプレートを特定する情報も)が分析制御部6に送られる。分析制御部6の制御の下で、MS部4は指定されたM個のウェルに対するMS分析をそれぞれ実行し、MSスペクトルデータ収集部52はMSスペクトルデータを取得する(ステップS2)。その結果、例えば図3に示したようなMSスペクトルが得られる。上述したように図3は、3つの成分がほぼ同じ保持時間を有し、成分分離されずに1つのピークとして観測される例である。このような場合、時間的に連続する3つのウェルに対する各MSスペクトルに上記3つの成分にそれぞれ対応する3本のピークa、b、cが現れ、それらピークの強度比はほぼ等しくなる。
When a well containing one or more components corresponding to one peak is identified, the position information of the M wells (and information for identifying the sample plate when the sample plate itself needs to be replaced) Is sent to the
次に、プリカーサイオン抽出部54は例えば総イオン量が最大であるウェルに対するMSスペクトル又は全てのウェルに対して得られたMSスペクトルを積算することで作成した積算MSスペクトル上でピークピッキングを行い、各成分に対応したピークをそれぞれ抽出する(ステップS3)。いま、ここでは混在している成分の数がNであり、N本のピークが抽出されたものとする。もちろん、ピークピッキングを実施する前に適宜のノイズ除去、バックグラウンド除去などのデータ処理を行うことにより、試料に含まれる分析対象成分とは無関係のノイズを除去することができる。したがって、MSスペクトルからN本のピークが抽出された場合には、混在している成分の数はNであると高い確度で推定することができる。
Next, the precursor
次に、ウェル/プリカーサイオン割当て処理部55において、ウェル数Mがピーク数N以上であるか否かが判定される(ステップS4)。ここでYesと判定された場合には、ステップS5へと進み、M個のウェルの中で質量電荷比に依らない総イオン量が多い順にN個のウェルを選択する。つまり、ピーク数Nと同数のウェルを選択する。もちろん、N=Mである場合には選択の余地はなく、M個全てのウェルを指定することになる。そして、N本のピークの中でイオン強度の低いピークから順に、総イオン量の多いウェルに一対一で割り当てを行う(ステップS6)。
Next, the well / precursor ion
一例として、ピーク数N=4、ウェル数M=6である場合を考える。4本のピークa、b、c、dのピーク強度がd>c>b>aであり、6個のウェルA、B、C、D、E、Fの総イオン量がA>B>C>D>E>Fであるものとする。この場合、ステップS4でYesと判定され、ステップS5において、6個のウェルの中から総イオン量が多い4個のウェル、即ち、A、B、C、Dが選択される。そして、ステップS6の処理により、各ウェルに割り当てられるピークは、ピークa→ウェルA、ピークb→ウェルB、ピークc→ウェルC、ピークd→ウェルD、となる。 As an example, consider a case where the number of peaks N = 4 and the number of wells M = 6. The peak intensity of the four peaks a, b, c, d is d> c> b> a, and the total ion amount of the six wells A, B, C, D, E, F is A> B> C It is assumed that> D> E> F. In this case, it is determined Yes in step S4, and in step S5, four wells having a large total ion amount, that is, A, B, C, and D are selected from the six wells. Then, by the processing in step S6, the peaks assigned to each well are changed from peak a → well A, peak b → well B, peak c → well C, peak d → well D.
上記のようにしてピーク、つまりプリカーサイオンとウェルとの割当てが決まったならば、この結果が分析制御部6に与えられ、分析制御部6の制御の下、MS部4はN個のウェルに対してそれぞれ1つずつ割り当てられたピークをプリカーサイオンとするMS2分析を実行する(ステップS7)。なお、MS2分析に際しては、例えば同一ウェルへのレーザ照射を複数回繰り返して得られたイオンをイオントラップ43に一旦捕捉した後に、該イオンをCIDにより開裂させ、開裂により生じた多量のプロダクトイオンを飛行時間型質量分析器44に導入して質量分析するとよい。こうしたMS2分析により得られたMS2スペクトルデータはMS2スペクトルデータ収集部53に格納され、図示しない同定処理部はMS2スペクトルを用いたデータベース検索又はデノボシーケンスサーチなどを行うことにより、ペプチドなどの目的成分を同定する(ステップS8)。
If the assignment of peaks, ie, precursor ions and wells, is determined as described above, this result is given to the
一方、ステップS4でNoと判定された場合にはステップS11へと進み、ウェル/プリカーサイオン割当て処理部55はまず、N/Mを計算する。そして、この計算値の小数点以下を繰り上げた整数値αと、αから1を減じた整数値β(=α−1)とを算出する。
On the other hand, if it is determined No in step S4, the process proceeds to step S11, and the well / precursor ion
次に、α本のピークについてMS2分析を実行するウェルの数をx、β本のピークについてMS2分析を実行するウェルの数をyと置き、次の連立方程式(1)を解く(ステップS12)。
x+ y=M
αx+βy=N …(1)
Then, the number of roux E Le perform the MS 2 analysis for α present peak x, the number of wells to perform MS 2 analysis for β present peak placed and y, the following simultaneous equations (1) Solve (step S12).
x + y = M
αx + βy = N (1)
N、M、α、βの値に基づいてx、yが求まったならば、その後に、N本のピークの中でイオン強度が低いピークからβ本ずつ、総イオン量が多いウェルから順番にy個のウェルに割当てを行う。これにより、N本のピークの中でβy本のピークの割当てが決まる。そのあと、残りのピーク(N−βy本)については、イオン強度が低いピークから順にα本ずつ、残りの総イオン量が多いウェルから順番にx個のウェルに割当てを行う。これにより、N本の全てのピークについて、MS2分析を実行する対象のウェルの割当てが決まる(ステップS13)。
If x and y are obtained based on the values of N, M, α, and β, then β of the N peaks from the peak with the lowest ionic strength, in order from the well with the highest total ion content. Assign to y wells. This determines the assignment of βy peaks among the N peaks. After that, the remaining peaks (N− βy ) are assigned to x wells in order from the peak with the lowest total ion content, sequentially from the peak with the lowest ionic strength. As a result, the assignment of wells to be subjected to MS 2 analysis is determined for all N peaks (step S13).
上述したステップS11〜S13による割当て処理は、ピーク数Nがウェル数Mの2倍数である場合を除き、ピーク強度が低いピークのMS2分析を優先するために、1個のウェルから選択するプリカーサイオン候補の数を、強度が低いピーク数のほうがピーク強度が高いピーク数に比べて常に1つだけ少なくするという意味をもつ。 The assigning process in steps S11 to S13 described above is a precursor selected from one well in order to prioritize MS 2 analysis of a peak having a low peak intensity, except when the number of peaks N is a multiple of the number of wells M. This means that the number of ion candidates is always reduced by one for the number of peaks with low intensity compared to the number of peaks with high peak intensity.
ここで、プリカーサイオンのピーク本数N及びウェル数Mが具体的に与えられる場合のいくつかの具体例を挙げる。
[例1]ピーク数N=4、ウェル数M=3である場合
4本のピークa、b、c、dのピーク強度がd>c>b>aであり、3個のウェルA、B、Cのイオン総量がA>B>Cであるものとする。この場合、ステップS4でNoと判定され、ステップS11において、N/M=4/3=1.33、であることから、α=2、β=1、と計算される。N=4、M=3、α=2、β=1から(1)式の連立方程式を解くと、x=1、y=2、と求まる。ステップS13の処理により、各ウェルに割り当てられるピークは、ピークa→ウェルA、ピークb→ウェルB、ピークc、d→ウェルC、となる。
Here, some specific examples in the case where the peak number N and the number of wells M of the precursor ion are specifically given will be given.
[Example 1] When the number of peaks N = 4 and the number of wells M = 3 The peak intensity of the four peaks a, b, c, d is d>c>b> a, and the three wells A, B , C total ion amount is A>B> C. In this case, it is determined No in step S4, and in step S11, since N / M = 4/3 = 1.33, α = 2 and β = 1 are calculated. Solving the simultaneous equations (1) from N = 4, M = 3, α = 2, and β = 1 yields x = 1 and y = 2. By the processing in step S13, the peaks assigned to each well are changed from peak a → well A, peak b → well B, peak c, d → well C.
[例2]ピーク数N=5、ウェル数M=3である場合
5本のピークa、b、c、d、eのピーク強度がe>d>c>b>aであり、3個のウェルA、B、Cのイオン総量がA>B>Cであるものとする。この場合、ステップS4でNoと判定され、ステップS11において、N/M=5/3=1.67、であることから、α=2、β=1、と計算される。N=5、M=3、α=2、β=1から(1)式の連立方程式を解くと、x=2、y=1、と求まる。ステップS13の処理により、各ウェルに割り当てられるピークは、ピークa→ウェルA、ピークb、c→ウェルB、ピークd、e→ウェルC、となる。
[Example 2] When the number of peaks N = 5 and the number of wells M = 3 The peak intensities of the five peaks a, b, c, d, e are e>d>c>b> a, Assume that the total amount of ions in the wells A, B, and C is A>B> C. In this case, it is determined No in step S4, and in step S11, N / M = 5/3 = 1.67, so α = 2 and β = 1 are calculated. Solving the simultaneous equations (1) from N = 5, M = 3, α = 2, and β = 1 yields x = 2 and y = 1. By the processing in step S13, the peaks assigned to each well are changed from peak a → well A, peak b, c → well B, peak d, e → well C.
[例3]ピーク数N=6、ウェル数M=3である場合
6本のピークa、b、c、d、e、fのピーク強度がf>e>d>c>b>aであり、3個のウェルA、B、Cのイオン総量がA>B>Cであるものとする。この場合、ステップS4でNoと判定され、ステップS11において、N/M=6/3=2、であることから、α=2、β=1、と計算される。N=6、M=3、α=2、β=1から(1)式の連立方程式を解くと、x=2、y=0、と求まる。ステップS13の処理により、各ウェルに割り当てられるピークは、ピークa、b→ウェルA、ピークc、d→ウェルB、ピークe、f→ウェルC、となる。
[Example 3] When the number of peaks N = 6 and the number of wells M = 3 The peak intensities of the six peaks a, b, c, d, e, and f are f>e>d>c>b> a It is assumed that the total amount of ions in the three wells A, B, and C is A>B> C. In this case, it is determined No in step S4, and in step S11, since N / M = 6/3 = 2, α = 2 and β = 1 are calculated. Solving the simultaneous equations (1) from N = 6, M = 3, α = 2, and β = 1 yields x = 2 and y = 0. By the processing in step S13, the peaks assigned to each well are changed from peak a, b → well A, peak c, d → well B, peak e, f → well C.
このようにピーク数Nがウェル数Mの倍数である場合には、各ウェルに対し等しい本数ずつピークを割り当てることになる。例えば、ピーク数N=9、ウェル数M=3の場合には、イオン強度が低いピークから順に、9/3=3本ずつ、イオン総量の多いウェルに割り当てる。また、ピーク数N=8、ウェル数M=4の場合には、イオン強度が低いピークから順に、8/4=2本ずつ、イオン総量の多いウェルに割り当てる。 Thus, when the number of peaks N is a multiple of the number of wells M, the same number of peaks are assigned to each well. For example, when the number of peaks N = 9 and the number of wells M = 3, 9/3 = 3 are assigned to the wells with the larger total ion amount in order from the peak with the lowest ion intensity. When the number of peaks N = 8 and the number of wells M = 4, 8/4 = 2 are assigned to the wells with the larger total ion amount in order from the peak with the lowest ion intensity.
ただし、この場合、ピーク強度が低いピークのMS2分析を優先するために、次のように割当てを変更してもよい。即ち、ピーク数N=6、ウェル数M=3である場合には、ピークa→ウェルA、ピークb、c→ウェルB、ピークd、e、f→ウェルC、とすることができる。ピーク数N=9、ウェル数M=3である場合には、ピークa、b→ウェルA、ピークc、d、e→ウェルB、ピークf、g、h、i→ウェルC、とすることができる。さらに、ピーク数N=8、ウェル数M=4である場合には、ピークa→ウェルA、ピークb、c→ウェルB、ピークd、e→ウェルC、ピークf、g、h→ウェルD、とすることができる。 However, in this case, in order to give priority to MS 2 analysis of a peak having a low peak intensity, the assignment may be changed as follows. That is, when the number of peaks N = 6 and the number of wells M = 3, the peak a → well A, peak b, c → well B, peak d, e, f → well C can be set. When the number of peaks N = 9 and the number of wells M = 3, peak a, b → well A, peak c, d, e → well B, peak f, g, h, i → well C Can do. Further, when the number of peaks N = 8 and the number of wells M = 4, peak a → well A, peak b, c → well B, peak d, e → well C, peak f, g, h → well D , And can be.
[例4]ピーク数N=8、ウェル数M=3である場合
8本のピークa、b、c、d、e、f、g、hのピーク強度がh>g>f>e>d>c>b>aであり、3個のウェルA、B、Cのイオン総量がA>B>Cであるものとする。この場合、ステップS4でNoと判定され、ステップS11において、N/M=8/3=2.67、であることから、α=3、β=2、と計算される。N=8、M=3、α=3、β=2から(1)式の連立方程式を解くと、x=2、y=1、と求まる。ステップS13の処理により、各ウェルに割り当てられるピークは、ピークa、b→ウェルA、ピークc、d、e→ウェルB、ピークf、g、h→ウェルC、となる。
[Example 4] When the number of peaks N = 8 and the number of wells M = 3 The peak intensities of the eight peaks a, b, c, d, e, f, g, h are h>g>f>e> d >C>b> a, and the total amount of ions in the three wells A, B, and C is A>B> C. In this case, it is determined No in step S4, and in step S11, since N / M = 8/3 = 2.67, α = 3 and β = 2 are calculated. Solving the simultaneous equations (1) from N = 8, M = 3, α = 3, and β = 2 yields x = 2 and y = 1. By the processing in step S13, the peaks assigned to each well are changed from peak a, b → well A, peak c, d, e → well B, peak f, g, h → well C.
[例5]ピーク数N=9、ウェル数M=4である場合
9本のピークa、b、c、d、e、f、g、h、iのピーク強度がi>h>g>f>e>d>c>b>aであり、4個のウェルA、B、C、Dのイオン総量がA>B>C>Dであるものとする。この場合、ステップS4でNoと判定され、ステップS11において、N/M=9/4=2.25、であることから、α=3、β=2、と計算される。N=9、M=4、α=3、β=2から(1)式の連立方程式を解くと、x=1、y=3、と求まる。ステップS13の処理により、各ウェルに割り当てられるピークは、ピークa、b→ウェルA、ピークc、d→ウェルB、ピークe、f→ウェルC、ピークg、h、i→ウェルD、となる。
[Example 5] When the number of peaks N = 9 and the number of wells M = 4 The peak intensities of the nine peaks a, b, c, d, e, f, g, h, i are i>h>g> f >E>d>c>b> a, and the total amount of ions in the four wells A, B, C, and D is A>B>C> D. In this case, it is determined No in step S4, and in step S11, N / M = 9/4 = 2.25, so α = 3 and β = 2 are calculated. Solving the simultaneous equations (1) from N = 9, M = 4, α = 3, and β = 2 yields x = 1 and y = 3. By the processing in step S13, the peaks assigned to each well are changed from peak a, b → well A, peak c, d → well B, peak e, f → well C, peak g, h, i → well D. .
なお、現実的には、ウェル数Mは3〜4個、ピーク数Nは1〜9本程度の範囲であることから、上記例のみを挙げたが、理論的には任意のM、Nに対して適切に割当てを決めることができることは容易に理解できる。 In reality, since the number of wells M is in the range of 3 to 4 and the number of peaks N is in the range of about 1 to 9, only the above example is given. It can be easily understood that the assignment can be appropriately determined.
上記のようにしてピーク、つまりプリカーサイオンとウェルとの割当てが決まったならば、この結果が分析制御部6に与えられ、分析制御部6の制御の下、MS部4はM個のウェルのうちの2個以上のウェルに対してそれぞれ1乃至複数割り当てられたピークをプリカーサイオンとするMS2分析を実行する(ステップS14)。その後、上述したステップS8へ進み、このMS2分析により得られたMS2スペクトルデータはMS2スペクトルデータ収集部53に格納され、図示しない同定処理部はMS2スペクトルを用いたデータベース検索又はデノボシーケンスサーチなどにより、ペプチドなどの目的成分を同定する。
If the assignment of peaks, ie, precursor ions and wells, is determined as described above, the result is given to the
以上のようにして本実施例のLC/MALDI−IT−TOFMSによれば、クロマトグラム上の1つのピークに対応したM個のウェルの中で、特定の1個のウェルに対して集中的に各成分についてのMS2分析を実行することなく、総イオン量が最大ではない別のウェルも利用して適宜分散したMS2分析が実行される。それにより、特定のウェルだけが集中的にMS2分析されることによるサンプルの枯渇を防止でき、それ故に、高感度、高S/NのMS2スペクトルを得ることができる。 As described above, according to the LC / MALDI-IT-TOFMS of the present example, the M wells corresponding to one peak on the chromatogram are concentrated on one specific well. without performing the MS 2 analysis for each component, the total ion content is MS 2 analysis was appropriately dispersed by using also another well not maximum is performed. Thereby, it is possible to prevent sample depletion due to intensive MS 2 analysis of only a specific well, and therefore, a high sensitivity, high S / N MS 2 spectrum can be obtained.
なお、上記実施例ではMS2分析を行う場合について説明したが、nが3以上のMSn分析を実行する場合のプリカーサイオンとサンプルの割当てを決める場合にも上記手法を適用できることは当然である。 In the above embodiment, the case where the MS 2 analysis is performed has been described. However, it is natural that the above method can be applied to the case where the assignment of the precursor ion and the sample is determined when the MS n analysis in which n is 3 or more is executed. .
また、上記実施例は本発明の一例にすぎないから、本発明の趣旨の範囲で適宜変形、修正、追加等を行っても本願特許請求の範囲に包含されることは当然である。 Moreover, since the said Example is only an example of this invention, even if it carries out a deformation | transformation, correction, addition, etc. suitably in the range of the meaning of this invention, it is natural that it is included in the claim of this application.
1…LC部
11…移動相容器
12…送液ポンプ
13…インジェクタ
14…カラム
15…検出器
2…スポッティング装置
21…サンプルプレート
22…ウェル
3…試料搬送部
4…MS部
41…ステージ
42…レーザ光源部
43…イオントラップ
44…飛行時間型質量分析器
45…検出器
5…データ処理部
51…クロマトグラムデータ収集部
52…MSスペクトルデータ収集部
53…MS2スペクトルデータ収集部
54…プリカーサイオン抽出部
55…ウェル/プリカーサイオン割当て処理部
6…分析制御部
DESCRIPTION OF
Claims (4)
a)前記M個のサンプルのうちの少なくとも1個のサンプルに対し、解離操作を伴わない質量分析を実施してMSスペクトルを取得するMSスペクトル取得手段と、
b)前記MSスペクトル取得手段により得られた少なくとも1つのMSスペクトルに基づいて、前記M個のサンプルに含まれる複数の成分由来のピークをそれぞれ抽出するピーク抽出手段と、
c)前記ピーク抽出手段により抽出された複数のピークの中で強度が最小であるピークに対し前記M個のサンプルの中で総イオン量が最大であるサンプルを割り当て、前記抽出された複数のピークの中で強度が最大であるピークに対しては前記M個のサンプルの中で総イオン量が最大でないいずれかのサンプルを割り当て、且つ、前記抽出された複数のピークの中で強度が最小及び最大であるピーク以外のピークについて、強度が大きくなる順に、前記M個のサンプルの中で総イオン量が同一である又は減少するサンプルを割り当てるように、各ピークの強度と各サンプルの総イオン量とに基づいて、各ピークをプリカーサイオンとするMSn分析を実行する対象のサンプルを決定するサンプル割当て処理手段と、
d)前記サンプル割当て処理手段により決定された割当てに従って、前記複数の成分毎に、前記M個のサンプルのうちのいずれかに対し前記複数のピークのいずれかをプリカーサイオンに設定したMSn分析を実行してMSnスペクトルを取得するMSnスペクトル取得手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。 A mass spectrometer for performing MS n analysis (n is an integer of 2 or more) on a plurality of samples prepared by fractionating a sample separated by chromatography according to the time sequence of elution, In a mass spectrometer that performs MS n analysis on a sample in which a plurality of components that have not been separated are included in M samples (M is an integer of 2 or more) that are consecutive in the order of elution ,
a) MS spectrum acquisition means for acquiring an MS spectrum by performing mass spectrometry without dissociation operation on at least one of the M samples;
b) peak extraction means for extracting peaks derived from a plurality of components contained in the M samples based on at least one MS spectrum obtained by the MS spectrum acquisition means;
c) assigning the sample having the maximum total ion amount among the M samples to the peak having the smallest intensity among the plurality of peaks extracted by the peak extracting means, and Among the M samples, the sample having the smallest total ion content is assigned to the peak with the highest intensity, and the intensity is the lowest among the extracted peaks. For the peaks other than the peak that is the largest, the intensity of each peak and the total ion amount of each sample are assigned so that the samples having the same or decreased total ion amount among the M samples are assigned in order of increasing intensity. A sample assignment processing means for determining a sample to be subjected to MS n analysis using each peak as a precursor ion based on
d) MS n analysis in which any one of the plurality of peaks is set as a precursor ion for any of the M samples for each of the plurality of components according to the assignment determined by the sample assignment processing means. and MS n spectra acquisition means for acquiring MS n spectra run,
A mass spectrometer comprising:
前記ピーク抽出手段で抽出されたピークの数NがM以下である場合、前記サンプル割当て処理手段は、M個のサンプルから総イオン量が多い順にN個のサンプルを選択し、N本のピークのうち強度が最小であるピークから強度が大きくなる順に、N個のサンプルの中で総イオン量が大きいサンプルを一対一で割り当てることを特徴とする質量分析装置。 The mass spectrometer according to claim 1,
When the number N of peaks extracted by the peak extraction means is M or less, the sample assignment processing means selects N samples from the M samples in descending order of the total ion amount, A mass spectrometer characterized by assigning samples having a large total ion amount in a one-to-one relationship among N samples in order of increasing intensity from a peak having the smallest intensity.
前記ピーク抽出手段で抽出されたピークの数NがMの倍数である場合、前記サンプル割当て処理手段は、N本のピークのうち強度が最小であるピークから、強度が大きくなる順にN/M本ずつ組にして、M個のサンプルの中で総イオン量が大きいサンプルを一対一で割り当てることを特徴とする質量分析装置。 The mass spectrometer according to claim 1,
When the number N of peaks extracted by the peak extraction means is a multiple of M, the sample assignment processing means performs N / M pieces in order of increasing intensity from the peak having the smallest intensity among the N peaks. A mass spectrometer characterized in that a sample having a large total ion amount among M samples is assigned one by one and assigned one by one.
マトリクス支援レーザ脱離イオン化法によるイオン源を用いたことを特徴とする質量分析装置。A mass spectrometer using an ion source based on matrix-assisted laser desorption / ionization.
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