JP5792671B2 - 異常検知方法及び異常検知装置 - Google Patents
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Description
本発明の第1実施形態による異常検知装置について図1乃至図4を用いて説明する。図1は本実施形態による異常検知装置の具体的構成を示す図であり、図2は本実施形態による異常検知装置のブロック図であり、図3、図4は本実施形態の異常検知装置による異常検知方法のフローチャートである。
本実施形態による異常検知装置は、プラントや工場等の設備である監視対象10が正常に稼働しているか否かを常時監視する異常監視システムとして機能する。監視対象10からの白煙や黒煙の発生を検出し、監視対象10の異常を検知する。
本実施形態の異常検知装置による異常検知方法の第1の具体例について、図3のフローチャートを用いて説明する。
同様に、ステップS32では、画像2の各画素の画素値P2と画像3の各画素の画素値P3とから、次式の通り、画素値P2と画素値P3の差の絶対値である差分画像2の各画素の画素値DP2を生成する。
次に、差分画像1と差分画像2とから所定の演算画像を生成する(ステップS41)。
なお、差分画像1と差分画像2に所定のノイズ除去処理を行った後に、所定の演算を行ってもよい。例えば、次式に示すように、ある画素の画素値DP1及び画素値DP2のいずれかが、例えば、5より小さい場合には、その画素の画素値CPを0とする。
ただし、DP1<5、又は、DP2<5である場合には、CP=0
また、他の所定の演算式としては、次式の通り、画素値DP1と画素値DP2のいずれか大きい方を、演算画像の各画素の画素値CPとするようにしてもよい。ただし、ある画素の画素値DP1及び画素値DP2のいずれかが、例えば、5より小さい場合には、その画素の画素値CPを0とする。
ただし、DP1<5、又は、DP2<5である場合には、CP=0
また、他の所定の演算式としては、次のような式であってもよい。
なお、差分画像1と差分画像2に所定のノイズ除去処理を行った後に、所定の演算を行ってもよい。例えば、次式に示すように、ある画素の画素値DP1及び画素値DP2のいずれかが、例えば、5より小さい場合には、その画素の画素値CPを0とする。
ただし、DP1<5、又は、DP2<5である場合には、CP=0
次に、演算画像にヒストグラム均一化処理を実行する(ステップS51)。
本実施形態の異常検知装置による異常検知方法の第2の具体例について、図4のフローチャートを用いて説明する。
同様に、ステップS32では、画像3の各画素の画素値P3と画像4の各画素の画素値P4とから、次式の通り、画素値P3と画素値P4の差の絶対値である差分画像2の各画素の画素値DP2を生成する。
次に、差分画像1と差分画像2とから所定の演算画像を生成する(ステップS41)。ステップS41以降の処理については、異常検知方法の第1の具体例と同様であるので、説明を省略する。
本発明の第2実施形態による異常検知装置について図5乃至図7を用いて説明する。図5、7は本実施形態による異常検知装置による異常検知方法のフローチャートであり、図6は本実施形態の異常検知装置による異常検知方法の検知結果を示すグラフである。
本実施形態の異常検知装置による異常検知方法の第1の具体例について、図5のフローチャートを用いて説明する。
同様に、ステップS32では、画像2の各画素の画素値P2と画像3の各画素の画素値P3とから、次式の通り、画素値P2と画素値P3の差の絶対値である差分画像2の各画素の画素値DP2を生成する。
同様に、ステップS33では、画像3の各画素の画素値P3画像4各画素の画素値P4から、次式の通り、画素値P3と画素値P4の差の絶対値である差分画像3の各画素の画素値DP3を生成する。
同様に、ステップS34では、画像4の各画素の画素値P4と画像5の各画素の画素値P5とから、次式の通り、画素値P4と画素値P5の差の絶対値である差分画像2の各画素の画素値DP4を生成する。
次に、差分画像1と差分画像2とから所定の演算画像1を生成し(ステップS41)、差分画像3と差分画像4とから所定の演算画像2を生成する(ステップS42)。
また、次式の通り、画素値DP3と画素値DP4の平均値である演算画像2の各画素の画素値CP2を生成する。
なお、差分画像1、差分画像2、差分画像3、差分画像4に所定のノイズ除去処理を行った後に、所定の演算を行ってもよい。
ただし、DP1<5、又は、DP2<5である場合には、CP1=0
また、次式に示すように、ある画素の画素値DP3及び画素値DP4のいずれかが、例えば、5より小さい場合には、その画素の画素値CP2を0とする。
ただし、DP3<5、又は、DP4<5である場合には、CP2=0
また、他の所定の演算式としては、次式の通り、画素値DP1と画素値DP2のいずれか大きい方を、演算画像の各画素の画素値CPとするようにしてもよい。ただし、ある画素の画素値DP1及び画素値DP2のいずれかが、例えば、5より小さい場合には、その画素の画素値CPを0とする。
ただし、DP1<5、又は、DP2<5である場合には、CP=0
また、次式に示すように、画素値DP3と画素値DP4のいずれか大きい方を、演算画像の各画素の画素値CPとするようにしてもよい。ただし、ある画素の画素値DP3及び画素値DP4のいずれかが、例えば、5より小さい場合には、その画素の画素値CPを0とする。
ただし、DP3<5、又は、DP4<5である場合には、CP=0
また、他の所定の演算式としては、次のような式であってもよい。
CP2=(DP3×DP4)1/2
なお、差分画像1、差分画像2、差分画像3、差分画像4に所定のノイズ除去処理を行った後に、所定の演算を行ってもよい。
ただし、DP1<5、又は、DP2<5である場合には、CP1=0
また、次式に示すように、ある画素の画素値DP3及び画素値DP4のいずれかが、例えば、5より小さい場合には、その画素の画素値CP2を0とする。
ただし、DP3<5、又は、DP4<5である場合には、CP2=0
次に、演算画像1にヒストグラム均一化処理を実行し(ステップS51)、演算画像2にヒストグラム均一化処理を実行する(ステップS52)。
次に、ステップS71において求めた積算値S1が所定のしきい値Sth、例えば、100より大きいか否か判断する(ステップS81)。
次に、比Rが1より大きいか否かを判断する(ステップS102)。
次に、比Rが所定のしきい値Rthより大きいか否かを判断する(ステップS104)。比Rは、連続する演算画像1と演算画像2における白画素の積算値S1、S2の変動を示している。例えば、比Rが1であれば、白画素の積算値S1と積算値S2に全く変動がなかったことを意味する。比Rが0.5であれば、白画素の積算値S1と積算値S2に50%もの変動があったことを意味する。比Rが0.2であれば、白画素の積算値S1と積算値S2に80%もの変動があったことを意味する。
本実施形態の異常検知装置による異常検知方法の第2の具体例について、図7のフローチャートを用いて説明する。
また、次式の通り、画素値DP2と画素値DP4の平均値である演算画像2の各画素の画素値CP2を生成する。
なお、差分画像1、差分画像2、差分画像3、差分画像4に所定のノイズ除去処理を行った後に、所定の演算を行ってもよい。
ただし、DP1<5、又は、DP3<5である場合には、CP1=0
また、次式に示すように、ある画素の画素値DP2及び画素値DP4のいずれかが、例えば、5より小さい場合には、その画素の画素値CP2を0とする。
ただし、DP2<5、又は、DP4<5である場合には、CP2=0
また、他の所定の演算式としては、次式の通り、画素値DP1と画素値DP3のいずれか大きい方を、演算画像の各画素の画素値CPとするようにしてもよい。ただし、ある画素の画素値DP1及び画素値DP3のいずれかが、例えば、5より小さい場合には、その画素の画素値CPを0とする。
ただし、DP1<5、又は、DP3<5である場合には、CP=0
また、次式に示すように、画素値DP2と画素値DP4のいずれか大きい方を、演算画像の各画素の画素値CPとするようにしてもよい。ただし、ある画素の画素値DP2及び画素値DP4のいずれかが、例えば、5より小さい場合には、その画素の画素値CPを0とする。
ただし、DP2<5、又は、DP4<5である場合には、CP=0
また、他の所定の演算式としては、次のような式であってもよい。
CP2=(DP2×DP4)1/2
なお、差分画像1、差分画像2、差分画像3、差分画像4に所定のノイズ除去処理を行った後に、所定の演算を行ってもよい。
ただし、DP1<5、又は、DP3<5である場合には、CP1=0
また、次式に示すように、ある画素の画素値DP2及び画素値DP4のいずれかが、例えば、5より小さい場合には、その画素の画素値CP2を0とする。
ただし、DP2<5、又は、DP4<5である場合には、CP2=0
次に、演算画像1にヒストグラム均一化処理を実行し(ステップS51)、演算画像2にヒストグラム均一化処理を実行する(ステップS52)。ステップS51、S52以降の処理については、異常検知方法の第1の具体例と同様であるので、説明を省略する。
本発明は上記実施形態に限らず種々の変形が可能である。
12…カメラ
14、16…無線中継局
18…PC
20…画像処理装置
22…画像メモリ
24…ディスプレイ
26…アラーム表示装置
Claims (8)
- 撮像手段により撮像された監視対象の画像から異常を検知する異常検知方法において、
前記撮像手段により撮像された画像を連続的に取得する第1のステップと、
前記第1のステップにより取得された複数の画像の各画素値の差からなる差分画像を生成する第2のステップと、
前記第2のステップにより生成された連続する第1の差分画像と第2の差分画像について、前記第1の差分画像の各画素の画素値DP1と前記第2の差分画像の各画素の画素値DP2とから次の演算式
CP=(DP1×DP2) 1/2
により演算した各画素の演算値CPからなる演算画像を生成する第3のステップと、
前記第3のステップにより生成された演算画像のヒストグラムの累積度数のグラフの傾きが一定になるように変換するヒストグラム均一化処理を行う第4のステップと、
前記第4のステップによりヒストグラム均一化された前記演算画像における所定値以上の画素値の画素数を計数する第5のステップと、
前記第5のステップにより計数された画素数が所定のしきい値以上であるか否かにより前記監視対象が異常であると判断する際に、連続して複数回以上、計数された画素数が所定のしきい値以上であると判断された場合に、前記監視対象が異常であると判断する第6のステップと
を有することを特徴とする異常検知方法。 - 撮像手段により撮像された監視対象の画像から異常を検知する異常検知方法において、
前記撮像手段により撮像された画像を連続的に取得する第1のステップと、
前記第1のステップにより取得された複数の画像の各画素値の差からなる差分画像を生成する第2のステップと、
前記第2のステップにより生成された連続する第1の差分画像と第2の差分画像について、前記第1の差分画像の各画素の画素値DP1と前記第2の差分画像の各画素の画素値DP2とから次の演算式
CP=(DP1×DP2) 1/2
により演算した各画素の演算値CPからなる演算画像を生成する第3のステップと、
前記第3のステップにより生成された演算画像のヒストグラムの累積度数のグラフの傾きが一定になるように変換するヒストグラム均一化処理を行う第4のステップと、
前記第4のステップによりヒストグラム均一化された前記演算画像における所定値以上の画素値の画素数を計数する第5のステップと、
前記第5のステップにより計数された演算画像の画素数が所定のしきい値以上であるか否かを判断する第6のステップと、
前記第6のステップにより所定のしきい値以上であると判断された連続する複数の演算画像の画素数の変動が所定の範囲内であるか否かにより前記監視対象が異常であると判断する際に、連続して複数回以上、前記連続する複数の演算画像の画素数の変動が所定の範囲内であると判断された場合に、前記監視対象が異常であると判断する第7のステップと
を有することを特徴とする異常検知方法。 - 請求項2記載の異常検知方法において、
前記第7のステップでは、連続する複数の演算画像の画素数の変動が50%以内であるか否かを判断する
ことを特徴とする異常検知方法。 - 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の異常検知方法において、
前記第1のステップは、前記撮像手段により所定の時間間隔毎に撮像された画像を連続的に取得し、前記所定の時間間隔は1/6秒以上である
ことを特徴とする異常検知方法。 - 監視対象を撮像する撮像手段と、前記撮像手段により撮像された監視対象の画像を処理する画像処理手段とを有し、監視対象の異常を検知する異常検知装置において、
前記画像処理手段は、
前記撮像手段により撮像された画像を連続的に取得する第1の手段と、
前記第1の手段により取得された複数の画像の各画素値の差からなる差分画像を生成する第2の手段と、
前記第2の手段により生成された連続する第1の差分画像と第2の差分画像について、前記第1の差分画像の各画素の画素値DP1と前記第2の差分画像の各画素の画素値DP2とから次の演算式
CP=(DP1×DP2) 1/2
により演算した各画素の演算値CPからなる演算画像を生成する第3の手段と、
前記第3の手段により生成された演算画像のヒストグラムの累積度数のグラフの傾きが一定になるように変換するヒストグラム均一化処理を行う第4の手段と、
前記第4の手段によりヒストグラム均一化された前記演算画像における所定値以上の画素値の画素数を計数する第5の手段と、
前記第5の手段により計数された演算画像の画素数が所定のしきい値以上であるか否かにより前記監視対象が異常であると判断する際に、連続して複数回以上、計数された画素数が所定のしきい値以上であると判断された場合に、前記監視対象が異常であると判断する第6の手段と
を有することを特徴とする異常検知装置。 - 監視対象を撮像する撮像手段と、前記撮像手段により撮像された監視対象の画像を処理する画像処理手段とを有し、監視対象の異常を検知する異常検知装置において、
前記画像処理手段は、
前記撮像手段により撮像された画像を連続的に取得する第1の手段と、
前記第1の手段により取得された複数の画像の各画素値の差からなる差分画像を生成する第2の手段と、
前記第2の手段により生成された連続する第1の差分画像と第2の差分画像について、前記第1の差分画像の各画素の画素値DP1と前記第2の差分画像の各画素の画素値DP2とから次の演算式
CP=(DP1×DP2) 1/2
により演算した各画素の演算値CPからなる演算画像を生成する第3の手段と、
前記第3の手段により生成された演算画像のヒストグラムの累積度数のグラフの傾きが一定になるように変換するヒストグラム均一化処理を行う第4の手段と、
前記第4の手段により生成された演算画像における所定値以上の画素値の画素数を計数する第5の手段と、
前記第5の手段により計数された演算画像の画素数が所定のしきい値以上であるか否かを判断する第6の手段と、
前記第6の手段により所定のしきい値以上であると判断された連続する複数の演算画像の画素数の変動が所定の範囲内であるか否かにより前記監視対象が異常であると判断する際に、連続して複数回以上、前記連続する複数の演算画像の画素数の変動が所定の範囲内であると判断された場合に、前記監視対象が異常であると判断する第7の手段と
を有することを特徴とする異常検知装置。 - 請求項6記載の異常検知装置において、
前記第6の手段は、連続する複数の演算画像の画素数の変動が50%以内であるか否かを判断する
ことを特徴とする異常検知装置。 - 請求項5乃至7のいずれか1項に記載の異常検知装置において、
前記第1の手段は、前記撮像手段により所定の時間間隔毎に撮像された画像を連続的に取得し、前記所定の時間間隔は1/6秒以上である
ことを特徴とする異常検知装置。
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