JP5724958B2 - 両頭研削装置及びワークの両頭研削方法 - Google Patents

両頭研削装置及びワークの両頭研削方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5724958B2
JP5724958B2 JP2012149203A JP2012149203A JP5724958B2 JP 5724958 B2 JP5724958 B2 JP 5724958B2 JP 2012149203 A JP2012149203 A JP 2012149203A JP 2012149203 A JP2012149203 A JP 2012149203A JP 5724958 B2 JP5724958 B2 JP 5724958B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ring
shaped holder
fluid
rotation axis
rigidity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2012149203A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014008594A (ja
Inventor
小林 健司
健司 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shin Etsu Handotai Co Ltd
Original Assignee
Shin Etsu Handotai Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP2012149203A priority Critical patent/JP5724958B2/ja
Application filed by Shin Etsu Handotai Co Ltd filed Critical Shin Etsu Handotai Co Ltd
Priority to US14/405,326 priority patent/US9669513B2/en
Priority to CN201380035245.1A priority patent/CN104411455B/zh
Priority to PCT/JP2013/003476 priority patent/WO2014006818A1/ja
Priority to KR1020147036423A priority patent/KR101908359B1/ko
Priority to SG11201408057UA priority patent/SG11201408057UA/en
Priority to DE112013003038.1T priority patent/DE112013003038B4/de
Priority to TW102121163A priority patent/TW201417947A/zh
Publication of JP2014008594A publication Critical patent/JP2014008594A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5724958B2 publication Critical patent/JP5724958B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/04Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
    • B24B37/07Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool
    • B24B37/08Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool for double side lapping
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/27Work carriers
    • B24B37/28Work carriers for double side lapping of plane surfaces
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B41/00Component parts such as frames, beds, carriages, headstocks
    • B24B41/06Work supports, e.g. adjustable steadies
    • B24B41/067Work supports, e.g. adjustable steadies radially supporting workpieces
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B7/00Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor
    • B24B7/10Single-purpose machines or devices
    • B24B7/16Single-purpose machines or devices for grinding end-faces, e.g. of gauges, rollers, nuts, piston rings
    • B24B7/17Single-purpose machines or devices for grinding end-faces, e.g. of gauges, rollers, nuts, piston rings for simultaneously grinding opposite and parallel end faces, e.g. double disc grinders
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B7/00Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor
    • B24B7/20Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground
    • B24B7/22Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground for grinding inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
    • B24B7/228Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground for grinding inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain for grinding thin, brittle parts, e.g. semiconductors, wafers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)

Description

本発明は、半導体ウェーハ、露光原版用石英基板等の薄板状のワークの両面を同時に研削する両頭研削装置及びワークの両頭研削方法に関する。
例えば、直径300mmに代表される大直径のシリコンウェーハを採用する先端デバイスでは、ナノトポグラフィーと呼ばれる表面うねり成分を小さくすることが求められている。ナノトポグラフィーとは、ウェーハの表面形状の一種で、ソリやwarpよりも波長が短く、表面粗さより波長の長い、0.2〜20mmの波長成分の凹凸を示すものであり、PV値は0.1〜0.2μmの極めて浅いうねり成分である。このナノトポグラフィーはデバイス工程におけるSTI(Shallow Trench Isolation)工程の歩留まりに影響すると言われ、デバイス基板となるシリコンウェーハに対し、デザインルールの微細化と共に厳しいレベルが要求されている。
ナノトポグラフィーは、シリコンウェーハの加工工程で作り込まれるものである。特に基準面を持たない加工方法、例えばワイヤーソー切断や両頭研削で悪化しやすく、ワイヤーソー切断における相対的なワイヤーの蛇行や、両頭研削におけるウェーハのユガミの改善や管理が重要である。
ここで、従来の両頭研削方法について説明する。図10は従来の両頭研削装置の一例を示す概略図である。
図10に示すように、両頭研削装置101は、薄板状のワークWを支持する自転可能なリング状ホルダー102と、リング状ホルダー102を流体の静圧により非接触支持する一対の静圧支持部材103と、リング状ホルダー102により支持されたワークWの両面を同時に研削する一対の砥石104を備えている。一対の静圧支持部材103はリング状ホルダー102の側面の両側にそれぞれ位置している。砥石104はモータ112に取り付けられており、高速回転できるようになっている。
この両頭研削装置101を用い、まず、リング状ホルダー102によりワークWを径方向に沿って外周面側から支持する。次に、リング状ホルダー102を自転させることにより、ワークWを自転させつつ、リング状ホルダー102とそれぞれの静圧支持部材103との間に流体を供給し、リング状ホルダー102を流体の静圧によって支持する。このようにしてリング状ホルダー102及び静圧支持部材103で支持されながら自転するワークWの両面をモータ112により高速回転する砥石104を用いて研削する。
従来の両頭研削において、ナノトポグラフィーを悪化させる要因は多々あるが、例えば特許文献1に示されるように、リング状ホルダーの自転軸に沿った位置の乱れが大きな要因であることがわかっている。そのため、リング状ホルダーを精度良く回転させるための支持方法として、リング状ホルダーの自転軸方向及び自転軸に垂直な方向の両方向から流体を供給することでリング状ホルダーを非接触支持する静圧軸受を用いることが好適であることが知られている(特許文献2)。
しかしながら、このような静圧軸受を用いても、ナノトポグラフィーが悪化してしまうことがあり、安定して高精度なナノトポグラフィーを得ることができないという問題がある。
特開2009−190125号公報 特開2011−161611号公報
そこで、本発明者がナノトポグラフィーが悪化してしまう現象について詳細に調査したところ、特に原料ワークのロットが変わったり砥石交換を実施したりすると、ナノトポグラフィーが大きく変わってしまう現象が起こることが判明した。
本発明は前述のような問題に鑑みてなされたもので、ワークのロットや砥石に依存して発生するナノトポグラフィーのばらつきを改善し、研削毎に安定して高精度なナノトポグラフィーを得ることができる両頭研削装置及びワークの両頭研削方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明によれば、薄板状のワークを径方向に沿って外周側から支持する自転可能なリング状ホルダーと、該リング状ホルダーにより支持された前記ワークの両面を同時に研削する一対の砥石とを有する両頭研削装置であって、更に、前記リング状ホルダーの自転軸方向及び自転軸に垂直な方向の両方向から供給される流体の静圧により前記リング状ホルダーを前記両方向から非接触支持する静圧軸受を具備し、前記自転軸方向から供給される流体と前記自転軸に垂直な方向から供給される流体の供給圧力をそれぞれ独立して制御可能なものであることを特徴とする両頭研削装置が提供される。
このような両頭研削装置であれば、リング状ホルダーの自転軸方向と自転軸に垂直な方向の支持剛性を独立に制御でき、ワークのロットの変更や砥石交換を行ったとしても、研削毎に安定して高精度なナノトポグラフィーを得ることができるものとなる。
このとき、前記自転軸の一方向から前記流体を供給した状態で他方向から前記リング状ホルダーに加重をかけた際の加重/変位量を剛性Aとし、前記自転軸に垂直な方向から前記流体を供給した状態で反対方向から前記リング状ホルダーに加重をかけた際の加重/変位量を剛性Bとしたとき、前記剛性Aが200gf/μm以下に、前記剛性Bが800gf/μm以上になるように前記流体の供給圧力を制御可能なものであることが好ましい。
このようなものであれば、より高精度なナノトポグラフィーを確実に安定して得ることができるものとなる。
また、本発明によれば、リング状ホルダーによって、薄板状のワークを径方向に沿って外周側から支持して自転させるとともに、一対の砥石によって、前記リング状ホルダーにより支持した前記ワークの両面を同時に研削するワークの両頭研削方法であって、前記リング状ホルダーの自転軸方向及び自転軸に垂直な方向の両方向から、供給圧力をそれぞれ独立して制御しながら流体を供給し、静圧軸受によって前記供給された流体の静圧により前記リング状ホルダーを前記両方向から非接触支持しながら前記ワークの両面を同時に研削することを特徴とするワークの両頭研削方法が提供される。
このような方法であれば、リング状ホルダーの自転軸方向と自転軸に垂直な方向の支持剛性を独立に制御でき、ワークのロットの変更や砥石交換を行ったとしても、研削毎に安定して高精度なナノトポグラフィーを得ることができる。
またこのとき、前記自転軸の一方向から前記流体を供給した状態で他方向から前記リング状ホルダーに加重をかけた際の加重/変位量を剛性Aとし、前記自転軸に垂直な方向から前記流体を供給した状態で反対方向から前記リング状ホルダーに加重をかけた際の加重/変位量を剛性Bとしたとき、前記剛性Aが200gf/μm以下に、前記剛性Bが800gf/μm以上になるように前記流体の供給圧力を制御することが好ましい。
このようにすれば、より高精度なナノトポグラフィーを確実に安定して得ることができる。
本発明では、両頭研削装置において、リング状ホルダーの自転軸方向及び自転軸に垂直な方向の両方向から、供給圧力をそれぞれ独立して制御しながら流体を供給し、静圧軸受によって供給された流体の静圧によりリング状ホルダーを前記両方向から非接触支持しながらワークの両面を同時に研削するので、リング状ホルダーの自転軸方向と自転軸に垂直な方向の支持剛性を独立に制御でき、ワークのロットの変更や砥石交換を行ったとしても、研削毎に安定して高精度なナノトポグラフィーを得ることができる。
本発明の両頭研削装置の一例を示す概略図である。 本発明の両頭研削装置のリング状ホルダーの一例を示す概略図である。(A)リング状ホルダーの側面図である。(B)リング状ホルダーのキャリアの側面図である。 静圧軸受によるリング状ホルダーの支持方法を説明する説明図である。 供給する流体の供給圧力の調整方法を説明する説明図である。 実施例1の結果を示す図である。 実施例2の結果を示す図である。 実施例3の結果を示す図である。 実施例4の結果を示す図である。 比較例の結果を示す図である。 従来の両頭研削装置の一例を示す概略図である。
以下、本発明について実施の形態を説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。
上記したように、ナノトポグラフィーの悪化の要因として、原料ワークや使用する砥石の影響があることが本発明者の調査により判明した。更に、本発明者は、リング状ホルダーの支持に静圧軸受方式を採用した方法において、原料ワークや使用する砥石の影響を低減する方法について鋭意検討を重ねた。その結果、以下のことを見出した。
従来の両頭研削においては、原料ワークの形状や表裏の面粗さ及び左右砥石の自生作用などの違いにより左右面の研削状態が異なり、ワークは左右より複雑な力を受けながら研削が進行すると考えられる。そのため、研削加工毎に左右の力のバランスが釣り合ったワーク回転面は微妙に異なり、このワーク回転面のリング状ホルダーの回転面に対する乖離が局所的な加工圧力差を生じさせて、微小なナノトポグラフィーの悪化を招いていると考えられる。
このナノトポグラフィーの悪化を防止するためには、リング状ホルダーの自転軸方向の支持剛性を低下させて支持の自由度を向上させることで、研削加工毎に異なる左右の力のバランスが釣り合ったワーク回転面に対し、リング状ホルダーがならって回転できるようにし、その結果、局所的な加工圧力差をなくすことが有効と考えられる。
しかし、従来の静圧軸受では、リング状ホルダーの自転軸方向及び自転軸に垂直な方向の両方向から供給する流体を1つの供給源から供給し、その供給圧力が全て同じになるように構成されているため、リング状ホルダーの自転軸方向の支持の自由度を向上させることにより、その自転軸に垂直な方向の支持剛性も同時に低下してしまう。そのため、リング状ホルダーの自転軸に垂直な方向の偏心回転が容易に発生するようになり、安定した研削加工を妨げてしまう。
そこで、本発明では、リング状ホルダーの自転軸方向と自転軸に垂直な方向に供給される流体をそれぞれ独立に供給可能にすることで、すなわち、その供給圧力を独立して制御可能に構成すれば、自転軸方向の支持の自由度を向上させると同時に、自転軸に垂直な方向の支持剛性を維持しながら研削を行うことができ、その結果、安定してより高精度なナノトポグラフィーを得ることが可能となる。
本発明者はこの検討結果を基に、更にこれらを実施するための最良の形態について精査し、本発明を完成させた。
まず、本発明の両頭研削装置について説明する。
図1に示すように、本発明の両頭研削装置1は、主に、ワークWを支持するリング状ホルダー2と、リング状ホルダー2を流体の静圧により非接触支持する静圧軸受3と、ワークWの両面を同時に研削する一対の砥石4を備えている。
リング状ホルダー2はワークWを径方向に沿って外周側から支持するものであり、自転軸周りに自転可能である。図2(A)に示すように、リング状ホルダー2は中央にウェーハWを挿入して支持するための保持孔を有するキャリア5と、キャリア5を取り付けるホルダー部6と、取り付けたキャリア5を押さえるためのリング部7から構成される。図2(A)(B)に示すように、キャリア5にはホルダー部6にネジ等で取り付けるための取付穴8が設けられている。
リング状ホルダー2を自転させるために、ホルダー用モータ9に接続された駆動歯車10が配設されている。駆動歯車10は内歯車部11と噛合っており、駆動歯車10をホルダー用モータ9により回転させることによって、内歯車部11を通じてリング状ホルダー2を自転させることが可能である。
また、図2(A)に示すように、キャリア5の保持孔の縁部に内側に向かって突出した突起14が形成されている。この突起はワークWの周縁部に形成されたノッチと呼ばれる切り欠きの形状に適合し、リング状ホルダー2の回転動作をワークWに伝達することができるようになっている。
リング状ホルダー2は、静圧軸受3により支持されることによって精度良く回転可能となっている。
ここで、静圧軸受3について述べる。図3に示すように、静圧軸受3はリング状ホルダー2の両方の側面側に対向して配置される軸受部3aと、リング状ホルダー2の外周面に対向して配置される軸受部3bとで構成されている。軸受部3aにはリング状ホルダー2の両方の側面に対して流体を供給するための供給孔が設けられ、軸受部3bには外周面に対して流体を供給するための供給孔が設けられている。
図3に示すように、これら供給孔を介し、流体供給手段20から流体13aがリング状ホルダー2の自転軸方向からリング状ホルダー2の側面と軸受部3aとの間に供給され、流体13bが自転軸に垂直な方向からリング状ホルダー2の外周面と軸受部3bとの間に供給される。
このようにして供給された流体の静圧により、軸受部3aでその自転軸方向から、また、軸受部3bでその自転軸方向に垂直な方向からリング状ホルダー2を非接触の状態で支持する。
流体供給手段20は、自転軸方向から供給される流体13aと自転軸に垂直な方向から供給される流体13bの供給圧力をそれぞれ独立して制御可能に構成される。これ以外、流体供給手段20は特に限定されず、例えば、流体の供給経路上に圧力調整弁を設けてそれぞれの供給圧力を調整したり、完全に独立した流体供給手段を2つ設けるようにしても良い。ここで静圧軸受3に供給する流体としては、特に限定されることはないが、例えば水や空気を用いることができる。
図1に示すように、砥石4は砥石用モータ12に接続されており、高速回転できるようになっている。ここで、砥石4は特に限定されず、従来と同様のものを用いることができる。例えば、平均砥粒径が4μmの番手#3000のものを用いることができる。さらには、番手#6000〜8000の高番手のものとすることも可能である。この例としては、平均粒径1μm以下のダイヤモンド砥粒とビトリファイドボンド材からなるものが挙げられる。
このような両頭研削装置1であれば、静圧軸受3に供給する流体の供給圧力をそれぞれ独立して制御することで、リング状ホルダー2の自転軸方向と自転軸に垂直な方向の剛性を独立に制御できるものとなる。そのため、リング状ホルダー2の自転軸方向から供給する流体の供給圧力を低くしてこの方向のリング状ホルダー2の剛性を低下させ、すなわち、支持の自由度を向上させると同時に、リング状ホルダー2の自転軸に垂直な方向から供給する流体の供給圧力を高くしてこの方向のリング状ホルダー2の剛性を十分に高く維持した状態でリング状ホルダー2を支持することができる。このようにしてリング状ホルダー2を支持すれば、研削加工中に局所的な圧力差を抑制でき、ワークのロットの変更や砥石交換を行ったとしても、研削毎に安定して高精度なナノトポグラフィーを得ることができる。
ここで、上記した剛性の定義については、自転軸の一方向から流体を供給した状態で他方向からリング状ホルダー2に加重をかけ、リング状ホルダー2の変位量を測定した際の加重/変位量(gf/μm)を自転軸方向の剛性Aとする。また、自転軸に垂直な方向から流体を供給した状態で反対方向からリング状ホルダー2に加重をかけ、リング状ホルダー2の変位量を測定した際の加重/変位量(gf/μm)を自転軸に垂直な方向の剛性Bとする。
流体供給手段20は、この剛性Aが200gf/μm以下に、剛性Bが800gf/μm以上になるように流体の供給圧力を制御可能なものであることが好ましい。
このようなものであれば、上記した局所的な圧力差をより確実に抑制でき、より高精度なナノトポグラフィーを確実に安定して得ることができる。
なお、供給水圧は特別な増圧手段を用いなければ通常0.30MPa前後となり、この場合の剛性の上限は1500gf/μm前後である。また、リング状ホルダーの重さに依るが、静圧軸受として機能するには、50gf/μm以上の剛性が必要である。
次に、本発明のワークの両頭研削方法について説明する。ここでは、図1−3に示す本発明の両頭研削装置1を用いた場合について説明する。
まず、例えばシリコンウェーハなどの薄板状のワークWをリング状ホルダー2によって径方向に沿って外周側から支持する。このリング状ホルダー2を支持するための静圧軸受3を、上記したように、軸受部3aがリング状ホルダー2の両方の側面側に対向し、軸受部3bがリング状ホルダー2の外周面に対向するように配置する。
次に、静圧軸受3の供給孔を介し、流体供給手段20から流体をリング状ホルダー2の自転軸方向からリング状ホルダー2の側面と軸受部3aとの間に供給し、また、流体を自転軸に垂直な方向からリング状ホルダー2の外周面と軸受部3bとの間に供給する。これら供給した流体の静圧により、軸受部3aでその自転軸方向から、また、軸受部3bでその自転軸方向に垂直な方向からリング状ホルダー2を非接触の状態で支持する。
このようにしてリング状ホルダー2を静圧軸受3によってリング状ホルダー2の自転軸方向及び自転軸に垂直な方向の両方向から支持しながら、ホルダー用モータ9によりリング状ホルダー2を自転させつつ、砥石用モータ12により砥石4を回転させ、ワークWの両面を同時に研削する。
本発明のワークの両頭研削方法によれば、上記した本発明の両頭研削装置で説明したのと同様に、リング状ホルダーの自転軸方向と自転軸に垂直な方向の剛性を独立に制御できるので、研削加工中に局所的な圧力差を抑制するために、リング状ホルダー2の自転軸に垂直な方向の剛性を十分に高く維持しつつ、リング状ホルダー2の自転軸方向の支持の自由度を向上させることができる。その結果、ワークのロットの変更や砥石交換を行ったとしても、研削毎に安定して高精度なナノトポグラフィーを得ることができる。
このとき、リング状ホルダーの剛性は供給する流体の供給圧力を調整することで容易に制御できる。具体的には、供給圧力を高くすれば剛性を高く、供給圧力を低くすれば剛性を低く変化させることができる。例えば、好ましい流体の供給圧力は、上記した自転軸方向の剛性Aが200gf/μm以下に、自転軸に垂直な方向の剛性Bが800gf/μm以上にそれぞれなるような供給圧力である。
このようにすれば、より高精度なナノトポグラフィーを確実に安定して得ることができる。
以下、本発明の実施例及び比較例を示して本発明をより具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
(実施例1−4)
図1に示す本発明の両頭研削装置1を用い、直径300mmのシリコンウェーハの両頭研削を行った。砥石として、ビトリファイドボンドからなるSD#3000砥石(株式会社アライドマテリアル製 ビトリファイド砥石)を用いた。研削量は40μmとした。リング状ホルダーの支持のために用いた流体として水を使用した。
リング状ホルダーの自転軸方向と自転軸に垂直な方向に供給する流体の供給圧力を以下のようにして調整した。
図4に示すように、リング状ホルダーの変位量測定のため、渦電流タイプのセンサー21、22を設置した。そして、センサーの反対側からフォースゲージによって10〜30Nの荷重をかけて、荷重/変位量(gf/μm)により算出される剛性A及び剛性Bが所望の値になるように静圧軸受へのそれぞれの供給水圧を調整した。
各実施例1−4において、剛性Bを1200gf/μm(実施例1)、800gf/μm(実施例2)、600gf/μm(実施例3)、400gf/μm(実施例4)とし、剛性Aを変化させてシリコンウェーハの両頭研削を行った際のナノトポグラフィを評価した。
(比較例)
リング状ホルダーの自転軸方向と自転軸に垂直な方向の両方向から供給する流体をそれぞれ独立に制御できない従来の両頭研削装置を用い、両方向から供給する流体の供給圧力を同じにした以外、実施例1と同様の条件でシリコンウェーハの両頭研削を行った。そして、供給圧力を変化させたときのナノトポグラフィを実施例1と同様に評価した。
(実施例1―4と比較例の結果)
実施例1―4の結果をそれぞれ図5―8に、比較例の結果を図9に示す。
図5−8に示すように、実施例1−4のいずれにおいても、剛性Aを剛性Bより小さくすることにより、ナノトポグラフィが改善されていることが分かる。特に、図5、図6に示すように、剛性Bが800gf/μm以上である場合において、剛性Aが200gf/μm以下になると、比較例の結果と比べナノトポグラフィーが大幅に改善されていることが分かる。この傾向について実施例1と実施例2には明確な差は見られず、同等の改善効果を示した。
また、実施例1−4においては、ワークのロットの変更や砥石交換を行ったとしても、ナノトポグラフィーが悪化することはなかった。
これに対し、比較例では、図9に示すように、剛性A及びBを変化させてもナノトポグラフィの改善は見られず、200gf/μm以下になると、ナノトポグラフィーが悪化傾向にあることが分かる。
以上のように、本発明の両頭研削装置及びワークの両頭研削方法は、ワークのロットや砥石に依存して発生するナノトポグラフィーのばらつきを改善し、研削毎に安定して高精度なナノトポグラフィーを得ることができることが確認できた。特に、剛性Aが200gf/μm以下に、剛性Bが800gf/μm以上になるような流体の供給圧力が本発明のおける好適な条件であることが分かった。
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。
1…両頭研削装置、 2…リング状ホルダー、 3…静圧軸受、
3a、3b…軸受部、 4…砥石、 5…キャリア、 6…ホルダー部、
7…リング部、 8…取付穴、 9…ホルダー用モータ、 10…駆動歯車、
11…内歯車部、 12…砥石用モータ、 13a、13b…流体、
14…突起、 20…流体供給手段、 21、22…センサー。

Claims (2)

  1. 薄板状のワークを径方向に沿って外周側から支持する自転可能なリング状ホルダーと、該リング状ホルダーにより支持された前記ワークの両面を同時に研削する一対の砥石とを有する両頭研削装置であって、
    更に、前記リング状ホルダーの自転軸方向及び自転軸に垂直な方向の両方向から供給される流体の静圧により前記リング状ホルダーを前記両方向から非接触支持する静圧軸受を具備し、前記自転軸方向から供給される流体と前記自転軸に垂直な方向から供給される流体の供給圧力をそれぞれ独立して制御可能なものであり、
    前記自転軸の一方向から前記流体を供給した状態で他方向から前記リング状ホルダーに加重をかけた際の加重/変位量を剛性Aとし、前記自転軸に垂直な方向から前記流体を供給した状態で反対方向から前記リング状ホルダーに加重をかけた際の加重/変位量を剛性Bとしたとき、前記剛性Aが200gf/μm以下に、前記剛性Bが800gf/μm以上になるように前記流体の供給圧力を制御可能なものであることを特徴とする両頭研削装置。
  2. リング状ホルダーによって、薄板状のワークを径方向に沿って外周側から支持して自転させるとともに、一対の砥石によって、前記リング状ホルダーにより支持した前記ワークの両面を同時に研削するワークの両頭研削方法であって、
    前記リング状ホルダーの自転軸方向及び自転軸に垂直な方向の両方向から、供給圧力をそれぞれ独立して制御しながら流体を供給し、静圧軸受によって前記供給された流体の静圧により前記リング状ホルダーを前記両方向から非接触支持しながら前記ワークの両面を同時に研削し、
    前記自転軸の一方向から前記流体を供給した状態で他方向から前記リング状ホルダーに加重をかけた際の加重/変位量を剛性Aとし、前記自転軸に垂直な方向から前記流体を供給した状態で反対方向から前記リング状ホルダーに加重をかけた際の加重/変位量を剛性Bとしたとき、前記剛性Aが200gf/μm以下に、前記剛性Bが800gf/μm以上になるように前記流体の供給圧力を制御することを特徴とするワークの両頭研削方法。
JP2012149203A 2012-07-03 2012-07-03 両頭研削装置及びワークの両頭研削方法 Active JP5724958B2 (ja)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012149203A JP5724958B2 (ja) 2012-07-03 2012-07-03 両頭研削装置及びワークの両頭研削方法
CN201380035245.1A CN104411455B (zh) 2012-07-03 2013-06-03 双面磨削装置及工件的双面磨削方法
PCT/JP2013/003476 WO2014006818A1 (ja) 2012-07-03 2013-06-03 両頭研削装置及びワークの両頭研削方法
KR1020147036423A KR101908359B1 (ko) 2012-07-03 2013-06-03 양두 연삭 장치 및 워크의 양두 연삭 방법
US14/405,326 US9669513B2 (en) 2012-07-03 2013-06-03 Double-disc grinding apparatus and workpiece double-disc grinding method
SG11201408057UA SG11201408057UA (en) 2012-07-03 2013-06-03 Double-disc grinding apparatus and workpiece double-disc grinding method
DE112013003038.1T DE112013003038B4 (de) 2012-07-03 2013-06-03 Doppelseitenschleifmaschine und Doppelseitenschleifverfahren für Werkstücke
TW102121163A TW201417947A (zh) 2012-07-03 2013-06-14 雙面磨削裝置及工件的雙面磨削方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012149203A JP5724958B2 (ja) 2012-07-03 2012-07-03 両頭研削装置及びワークの両頭研削方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014008594A JP2014008594A (ja) 2014-01-20
JP5724958B2 true JP5724958B2 (ja) 2015-05-27

Family

ID=49881594

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012149203A Active JP5724958B2 (ja) 2012-07-03 2012-07-03 両頭研削装置及びワークの両頭研削方法

Country Status (8)

Country Link
US (1) US9669513B2 (ja)
JP (1) JP5724958B2 (ja)
KR (1) KR101908359B1 (ja)
CN (1) CN104411455B (ja)
DE (1) DE112013003038B4 (ja)
SG (1) SG11201408057UA (ja)
TW (1) TW201417947A (ja)
WO (1) WO2014006818A1 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6040947B2 (ja) * 2014-02-20 2016-12-07 信越半導体株式会社 ワークの両頭研削方法
JP6383700B2 (ja) * 2015-04-07 2018-08-29 光洋機械工業株式会社 薄板状ワークの製造方法及び両頭平面研削装置
JP7159861B2 (ja) * 2018-12-27 2022-10-25 株式会社Sumco 両頭研削方法
CN110216539B (zh) * 2019-05-30 2021-10-01 南京东升冶金机械有限公司 一种薄壁结构件的精密双面磨削用机床
CN114274041B (zh) * 2021-12-24 2023-03-14 西安奕斯伟材料科技有限公司 双面研磨装置和双面研磨方法
CN114770366B (zh) * 2022-05-17 2023-11-17 西安奕斯伟材料科技股份有限公司 一种硅片双面研磨装置的静压板及硅片双面研磨装置
CN115070604B (zh) * 2022-06-09 2023-09-29 西安奕斯伟材料科技股份有限公司 双面研磨装置和双面研磨方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL6807674A (ja) * 1968-05-31 1969-12-02
US3560064A (en) * 1969-01-03 1971-02-02 Garrett Corp Servo controlled fluid bearing
US4643592A (en) * 1984-11-09 1987-02-17 Lewis David W Vibration limiting of rotating machinery through active control means
JP3332470B2 (ja) * 1993-04-20 2002-10-07 光洋機械工業株式会社 両頭平面研削方法および装置
ES2169800T3 (es) * 1995-06-23 2002-07-16 Unova Uk Ltd Mejoras en un proceso de esmerilado y en relacion con el mismo.
JP3217731B2 (ja) * 1997-04-18 2001-10-15 株式会社日平トヤマ ウエハの加工方法及び両頭平面研削盤
US6296553B1 (en) 1997-04-02 2001-10-02 Nippei Toyama Corporation Grinding method, surface grinder, workpiece support, mechanism and work rest
US6062959A (en) * 1997-11-05 2000-05-16 Aplex Group Polishing system including a hydrostatic fluid bearing support
GB2335875B (en) * 1998-04-02 2000-08-30 Nsk Ltd Sphere grinding apparatus
DE102004005702A1 (de) * 2004-02-05 2005-09-01 Siltronic Ag Halbleiterscheibe, Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung der Halbleiterscheibe
JP4143563B2 (ja) 2004-03-16 2008-09-03 住友重機械工業株式会社 ワーク保持装置及び両面加工装置
DE102007049810B4 (de) 2007-10-17 2012-03-22 Siltronic Ag Simultanes Doppelseitenschleifen von Halbleiterscheiben
JP4985451B2 (ja) 2008-02-14 2012-07-25 信越半導体株式会社 ワークの両頭研削装置およびワークの両頭研削方法
JP5411739B2 (ja) * 2010-02-15 2014-02-12 信越半導体株式会社 キャリア取り付け方法
JP5627114B2 (ja) * 2011-07-08 2014-11-19 光洋機械工業株式会社 薄板状ワークの研削方法及び両頭平面研削盤

Also Published As

Publication number Publication date
DE112013003038B4 (de) 2021-12-23
CN104411455A (zh) 2015-03-11
TW201417947A (zh) 2014-05-16
US20150147944A1 (en) 2015-05-28
DE112013003038T5 (de) 2015-03-19
SG11201408057UA (en) 2015-01-29
TWI560025B (ja) 2016-12-01
JP2014008594A (ja) 2014-01-20
KR101908359B1 (ko) 2018-10-16
CN104411455B (zh) 2016-08-17
WO2014006818A1 (ja) 2014-01-09
US9669513B2 (en) 2017-06-06
KR20150032844A (ko) 2015-03-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5724958B2 (ja) 両頭研削装置及びワークの両頭研削方法
JP4985451B2 (ja) ワークの両頭研削装置およびワークの両頭研削方法
KR100642879B1 (ko) 양면동시 연삭방법, 양면동시 연삭기, 양면동시 래핑방법및 양면동시 래핑기
JP5826306B2 (ja) 半導体ウエハの同時両面研磨用の研磨パッドを調節する方法
JP2005238444A (ja) 両面同時研削方法および両面同時研削盤並びに両面同時ラップ方法および両面同時ラップ盤
JP7136953B2 (ja) 加工装置
JP5930871B2 (ja) 研削加工装置およびその制御方法
CN108349058B (zh) 承载环、磨削装置及磨削方法
JP5411739B2 (ja) キャリア取り付け方法
JP2007098487A (ja) ウェーハ面取り装置
JP2013039632A (ja) 取代の評価方法及びウェーハの製造方法
WO2018123420A1 (ja) ガラス板の端面加工方法、製造方法及びガラス板
JP5439217B2 (ja) 両頭研削装置用リング状ホルダーおよび両頭研削装置
JP7159861B2 (ja) 両頭研削方法
JP7324889B2 (ja) 面取り加工システム
JP2007061975A (ja) 研磨装置及び研磨方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140623

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20141224

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150212

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150303

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150316

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5724958

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250