JP5693545B2 - リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 - Google Patents
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Description
− 放射ビームB(例えばUV放射又はDUV放射)を調節するように構成された照明システム(イルミネータ)ILと、
− パターニングデバイス(例えばマスク)MAを支持するように構築され、特定のパラメータに従ってパターニングデバイスMAを正確に位置決めするように構成された第1のポジショナPMに接続された支持構造(例えばマスクテーブル)MTと、
− 基板(例えばレジストコート基板)Wを保持するように構築され、特定のパラメータに従って例えば基板Wなどのテーブルの表面を正確に位置決めするように構成された第2のポジショナPWに接続された1つ又は複数のセンサ又は基板テーブルWTを支持する例えばセンサテーブルなどの支持テーブルと、
− パターニングデバイスMAによって放射ビームBに与えられたパターンを基板Wのターゲット部分C(例えば1つ又は複数のダイを含む)上に投影するように構成された投影システム(例えば屈折投影レンズシステム)PSとを備える。
1.リソグラフィ装置であって、
基板を保持するように構築された基板テーブルと、
パターン付き放射ビームを前記基板のターゲット部分に投影するように構成された投影システムと、
基板表面アクチュエータと該基板表面アクチュエータに面する対向面との間に力を発生させるために、それを通り該対向面から又は該対向面上への流体フローのための流体開口を有する基板表面アクチュエータであって、該対向面が前記基板の上表面であるか又は前記基板と実質的に同一面にある表面である、基板表面アクチュエータと、
前記対向面の一部を前記投影システムに対して変位させるため、前記流体開口を通る流体フローを変更することによって、前記対向面の一部の位置及び/又は配向を制御する位置コントローラと
を備える、リソグラフィ装置。
2.前記位置コントローラが、前記基板の前記ターゲット部分の位置及び/又は配向を制御するように構成される、条項1に記載のリソグラフィ装置。
3.前記基板表面アクチュエータが、前記基板表面アクチュエータと前記対向面との間に力を発生させるために、流体フローが通る少なくとも3つの流体開口を有する、条項1又は2に記載のリソグラフィ装置。
4.前記流体開口は、平面図で、これらの中心が前記投影システムの光軸の周囲に実質的に120°又はそれより小さい間隔で配置される、条項3に記載のリソグラフィ装置。
5.前記基板表面アクチュエータが、前記基板表面アクチュエータと前記対向面との間に力を発生させるために、流体フローが通る少なくとも4つの流体開口を有する、条項3又は4に記載のリソグラフィ装置。
6.前記位置コントローラは、前記1つ又は複数の流体開口を通る流体のフローを変更することによって、前記対向面の曲がりを制御するように構成される、条項1〜5に記載のリソグラフィ装置。
7.各流体開口は、列に配置された個別の開口のグループである、条項1〜6のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
8.前記投影システムの最終要素と前記対向面との間の空間に液体を閉じ込めるように構成された流体ハンドリング構造をさらに備える、条項1〜7のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
9.前記流体開口は、前記流体ハンドリング構造内の開口である、条項8に記載のリソグラフィ装置。
10.前記流体開口は、前記流体ハンドリング構造と前記対向面との間から液体を除去するための前記流体ハンドリング構造の下表面に形成された流体抽出開口の空間に対して半径方向内側にある、条項8又は9に記載のリソグラフィ装置。
11.前記流体開口は、前記空間に対して半径方向外側に液体が通過することに抗するため、前記投影システムの前記最終要素と前記基板との間の前記空間を囲む抽出器の開口である、条項8〜10のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
12.前記抽出器は、液体を抽出する単相抽出器である、条項11に記載のリソグラフィ装置。
13.前記流体開口は、前記投影システムと前記対向面との間の前記空間に液体を維持するために使用される前記流体ハンドリング構造の下表面の開口の空間に対して半径方向外側にある、条項8〜12のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
14.前記流体開口は、それを通って流体を前記対向面上に供給する流体開口である、条項1〜13のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
15.前記流体開口は、それを通って液体を前記対向面上に供給する流体開口である、条項1〜14のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
16.前記流体開口は、流体を前記対向面から抽出するための流体開口である、条項1〜13のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
17.前記流体開口は、細長い流体開口である、条項1〜16のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
18.前記流体開口は、前記投影システムの光軸を実質的に囲む、条項1〜17のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
19.前記流体開口は、平面図で、ある形状を形成する、条項1〜18のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
20.各々が前記形状の一部の周りに延在する複数の流体開口を有する、条項19に記載のリソグラフィ装置。
21.前記形状は、コーナー付きの形状である、条項19又は20に記載のリソグラフィ装置。
22.前記形状は、少なくとも4つのコーナーを有する、条項19〜21のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
23.前記の又は少なくとも1つの流体開口は、少なくとも1つのコーナーの周りに延在する、条項1〜22のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
24.前記の又は少なくとも1つの流体開口は、コーナーの間に延在する、条項1〜23のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
25.前記の又は少なくとも1つの流体開口は、平面図で、個別の流体開口である、条項1〜24のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
26.前記対向面上の流体を取り扱う1つ又は複数の別の開口をさらに設け、該1つ又は複数の別の開口は平面図でコーナー付きの形状で配置される、条項1〜25のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
27.前記の又は各々の流体開口は、前記コーナー付きの形状のコーナーに隣接する、条項26に記載のリソグラフィ装置。
28.前記の又は各々の流体開口は、前記コーナー付きの形状の隣接するコーナーから実質的に等距離に配置される、条項26に記載のリソグラフィ装置。
29.各流体開口の上流側にさらにチャンバを備える、条項1〜28のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
30.前記基板表面アクチュエータにより加えられる力を変更するため、前記チャンバ内に挿入し、及び/又は前記チャンバから引っ込めるように構成されたプランジャ部材をさらに備える、条項29に記載のリソグラフィ装置。
31.流体をある一定の質量流量で前記チャンバに供給するように構成された質量流量コントローラをさらに備える、条項29又は30に記載のリソグラフィ装置。
32.前記投影システムと前記基板表面アクチュエータとが結合される基準フレームをさらに備える、条項1〜31のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
33.前記基板表面アクチュエータと前記基準フレームとの間にリアクションマスをさらに備える、条項32に記載のリソグラフィ装置。
34.前記基板表面アクチュエータを前記基準フレームに対して位置決めするために、前記基板表面アクチュエータと前記リアクションマスとの間にアクチュエータをさらに備える、条項33に記載のリソグラフィ装置。
35.前記リアクションマスは、1〜50Hzの間、2〜20Hzの間、又は5〜15Hzの間の固有振動数で前記基準フレームに結合される、条項33又は34に記載のリソグラフィ装置。
36.前記ターゲット部分は前記ターゲット部分の幅を有し、前記流体開口は平面図で、前記投影システムの前記光軸から10個のターゲット部分の幅より短い距離内に配置される、条項1〜35のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
37.デバイス製造方法であって、
投影システムを使用してパターン付き放射ビームを基板のターゲット部分に投影するステップと、
基板表面アクチュエータを使用して、該基板表面アクチュエータの流体開口を通り該基板表面アクチュエータに面する対向面から又は対向面上への流体フローを変更することによって、該対向面の前記投影システムに対する位置及び/又は配向を制御するステップとを含み、前記対向面は前記基板の上表面であるか、又は前記基板と実質的に同一面にある表面である、デバイス製造方法。
Claims (14)
- リソグラフィ装置であって、
基板を保持する基板テーブルと、
パターン付き放射ビームを前記基板のターゲット部分に投影する投影システムと、
前記投影システムの最終要素と対向面との間の空間に液体を閉じ込める流体ハンドリング構造であって、該流体ハンドリング構造は、前記投影システムの光軸を実質的に囲んで平面においてコーナー付きの形状を形成する複数の流体開口を有する基板表面アクチュエータを有し、前記複数の流体開口は、前記基板表面アクチュエータと前記基板表面アクチュエータに面する対向面との間に力を発生させるために、前記複数の流体開口を通る、前記対向面から又は前記対向面上への流体フローのためのものであり、前記対向面が、前記基板の上表面であるか又は前記基板と実質的に同一面にある表面であり、前記複数の流体開口のうちの少なくとも1つの流体開口が前記コーナー付きの形状のコーナーのうちの少なくとも1つのコーナーの周りに延在する、流体ハンドリング構造と、
前記対向面の一部を前記投影システムに対して変位させるため、前記流体開口を通る流体フローを変更することによって、前記対向面の一部の位置及び/又は配向を制御する位置コントローラと、を備える、リソグラフィ装置。 - 前記基板表面アクチュエータは、前記基板表面アクチュエータと前記対向面との間に力を発生させるために、流体フローが通る少なくとも3つの流体開口を有する、請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記位置コントローラは、前記流体開口を通る流体フローを変更することによって、前記対向面の曲がりを制御する、請求項1又は2に記載のリソグラフィ装置。
- 各流体開口は、列に配置された個別の開口のグループである、請求項1〜3のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
- 前記流体開口は、前記流体ハンドリング構造と前記対向面との間から液体を除去するための前記流体ハンドリング構造の下表面に形成された流体抽出開口の空間に対して半径方向内側の開口を備える、請求項1〜4のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
- 前記流体開口は、前記空間に対して半径方向外側に液体が通過することに抗するため、前記投影システムの前記最終要素と前記基板との間の前記空間を囲む抽出器の開口を備える、請求項1〜5のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
- 前記流体開口は、前記投影システムと前記対向面との間の前記空間に液体を維持するために使用される前記流体ハンドリング構造の下表面の開口の空間に対して半径方向外側にある、請求項1〜6のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
- 前記流体開口は、当該流体開口を通って前記対向面上に液体を供給するためのものである、請求項1〜7のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
- 前記流体開口は、前記対向面から流体を抽出するためのものである、請求項1〜8のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
- 前記複数の流体開口のうちの少なくとも1つの流体開口は、前記コーナー付きの形状のコーナー同士の間に延在する、請求項1〜9のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
- 前記対向面上の流体を取り扱うための1つ又は複数の別の開口をさらに備え、該1つ又は複数の別の開口は、平面においてコーナー付きの形状で配置される、請求項1〜10のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
- 前記投影システムと前記基板表面アクチュエータとが結合される基準フレームをさらに備える、請求項1〜11のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
- 前記基板表面アクチュエータと前記基準フレームとの間にリアクションマスをさらに備え、該リアクションマスが1〜50Hzの間、2〜20Hzの間、又は5〜15Hzの間の固有振動数で前記基準フレームに結合される、請求項12に記載のリソグラフィ装置。
- デバイス製造方法であって、
投影システムを使用してパターン付き放射ビームを基板のターゲット部分に投影することと、
前記投影システムの光軸を実質的に囲んで平面においてコーナー付きの形状を形成する複数の流体開口を有する基板表面アクチュエータを備える流体ハンドリング構造を使用して、前記投影システムの最終要素と対向面との間の空間に液体を閉じ込めることと、
基板表面アクチュエータを使用して、前記複数の流体開口のうちの少なくとも1つの流体開口を通る、前記基板表面アクチュエータに面する対向面から又は該対向面上への流体フローを変更することによって、前記対向面の前記投影システムに対する位置及び/又は配向を制御することと、を含み、
前記対向面が、前記基板の上表面であるか又は前記基板と実質的に同一面にある表面であり、前記複数の流体開口のうちの少なくとも1つの流体開口が前記コーナー付きの形状のコーナーのうちの少なくとも1つのコーナーの周りに延在する、デバイス製造方法。
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