JP5631064B2

JP5631064B2 - 固定接点構造

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Publication number: JP5631064B2
Application number: JP2010135159A
Authority: JP
Inventors: 周平浦上
Original assignee: Yazaki Corp
Current assignee: Yazaki Corp
Priority date: 2010-06-14
Filing date: 2010-06-14
Publication date: 2014-11-26
Anticipated expiration: 2030-06-14
Also published as: US9159510B2; JP2012003859A; EP2580770A1; CN102822921A; CN102822921B; US20120325631A1; EP2580770B1; WO2011158702A1

Description

本発明は、可動接点が摺動する固定接点構造に関する。

この種の固定接点構造は、従来より種々提案されている（特許文献１、特許文献２参照）。かかる固定接点構造の一従来例が図４に示されている。図４において、基板１００は、基材１０１を有し、この基材１０１の上面にレジスト層１０２と３本の固定接点１０３とが配置されている。３本の固定接点１０３は、間隔を置いて同一方向に沿って延びている。２本の固定接点１０３は同じ長さ寸法であるが、他の１本の固定接点１０３はそれより短い寸法に設定されている。

レジスト層１０２は、３本の固定接点１０３の全周囲に隙間なく配置されている。

３本の可動接点１１０は、基板１００の上方位置で、間隔を置いて配置されている。３本の可動接点１１０は、各固定接点１０３の長手方向を接点摺動方向Ｓとしてそれぞれ対応する固定接点１０３及びこれに連続するレジスト層１０２の領域上を摺動する。これにより、３本の可動接点１１０の摺動位置に応じた電気信号を得ることができる。

特開平１１−３３０６５８号公報特開平８−２２７６３０号公報

ところで、基材１０１上に配置する各固定接点１０３とレジスト層１０２は、その厚みを均一（表面高さを同一）にすることが製造上難しく、各固定接点１０３の表面高さに対してレジスト層１０２の表面高さが高くなったり低くなったりする。一方、可動接点１１０の摺動軌跡は、図５に示すように、構成部品の寸法バラツキ等によって適正な摺動方向に対してバラ付くこともある。

固定接点１０３の表面高さよりレジスト層１０２の表面高さが高い場合に、図６に示すように、可動接点１１０の摺動軌跡のバラツキによって可動接点１１０が正規の摺動軌跡より接点摺動方向Ｓの直交方向に位置ずれすると、可動接点１１０がレジスト層１０２に乗り上げて接点不良を起こすという問題がある。

このようなレジスト層１０２への乗り上げによる接点不良を防止するため、各固定接点１０３の全周囲にレジスト層１０２を配置しないようにした固定接点構造も提案されている。又、上記特許文献２（図３（ａ）参照）では、固定接点１０３の接点摺動方向の端面より外側にレジスト層１０２を設けないようにしている。しかし、このように構成すると、固定接点１０３の接点摺動方向Ｓの端面の外側に大きな段差が出来る。この大きな段差を可動接点１１０が高速で摺動すると、大きな接点チャタリングが発生する等の問題が発生する。

そこで、本発明は、前記した課題を解決すべくなされたものであり、可動接点の接点チャタリングを極力防止でき、しかも、可動接点のレジスト層への乗り上げによる接触不良を防止できる固定接点構造を提供することを目的とする。

本発明は、基材上にレジスト層と固定接点を、前記固定接点上を可動接点が摺動する接点摺動方向に沿ってそれぞれ複数配置するとともに、前記接点摺動方向と直交する方向に交互にそれぞれ複数配置した固定接点構造であって、前記複数の固定接点の前記接点摺動方向の端面より外側には、前記レジスト層を連続して配置し、前記複数の固定接点の前記接点摺動方向と直交する方向の端面より外側には、空隙部を配置し、前記複数の空隙部を、前記可動接点が正規の摺動軌跡より前記接点摺動方向と直交する方向の最大許容変移位置まで変移しても前記可動接点が前記レジスト層に干渉しない幅寸法に設定したことを特徴とする。

前記固定接点と前記レジスト層の表面高さは、ほぼ同じ高さであることが好ましい。

本発明によれば、固定接点の接点摺動方向の端面より外側には、レジスト層が連続的に配置されるので、大きな段差が出来ないため、接点チャタリングを極力防止できる。又、固定接点の接点摺動方向と直交する方向の端面より外側には、空隙部が配置されるので、可動接点が正規の摺動軌跡より接点摺動方向の直交方向に変移しても、可動接点がレジスト層に乗り上げることがないため、可動接点のレジスト層への乗り上げによる接触不良を防止できる。

本発明の一実施形態を示し、固定接点構造を適用したスイッチ装置の要部斜視図である。本発明の一実施形態を示し、可動接点が接点摺動方向の直交方向に変移した状態を示す要部斜視図である。本発明の一実施形態を示し、図２のＡ−Ａ線断面図、図２のＢ−Ｂ線断面図である。従来例を示し、固定接点構造を適用したスイッチ装置の要部斜視図である。従来例を示し、可動接点が接点摺動方向の直交方向に変移した状態を示す要部斜視図である。図５のＣ−Ｃ線断面図である。

以下、本発明の一実施形態を図面に基づいて説明する。

図１〜図３は本発明の固定接点構造を適用したスイッチ装置１を示す。図１において、スイッチ装置１は、基板２とこの基板２上を摺動する３本の可動接点１０ａ〜１０ｃとを備えている。

基板２は、絶縁性の基材３を有し、この基材３の上面にレジスト層４と３本の固定接点５ａ〜５ｃとが配置されている。基材３は、例えばガラス材、エポキシ材である。

３本の固定接点５ａ〜５ｃは、導体（例えば銅）であり、間隔を置いて同一方向に沿って延びている。２本の固定接点５ａ，５ｂは同じ長さ寸法であるが、他の１本の固定接点５ｃはそれより短い長さ寸法に設定されている。

レジスト層４は、絶縁材であり、その表面高さが固定接点５ａ〜５ｃの表面高さとほぼ同じに設定されている。レジスト層４は、３本の固定接点５ａ〜５ｃの周囲に一部領域を除いて配置されている。詳細には、レジスト層４は、３本の固定接点５ａ〜５ｃの接点摺動方向Ｓの両端面より外側には、隙間なく連続して配置されている。しかし、レジスト層４は、３本の固定接点５ａ〜５ｃとその各接点摺動方向Ｓの延長線上に配置されたレジスト層４の摺動部４ａ〜４ｃで、且つ、接点摺動方向Ｓと直交する方向の両端面より外側には、全域に亘って配置されていない。基材３上のこの領域は、全域に亘って空隙部６ａ〜６ｄとされている。これにより、基材３上には、固定接点５ａ〜５ｃ及びレジスト層４の摺動部４ａ〜４ｃと空隙部６ａ〜６ｄとが交互に配置されている。

空隙部６ａ〜６ｄは、可動接点１０ａ〜１０ｃが正規の摺動軌跡より接点摺動方向Ｓの直交方向の最大許容変移位置まで変移しても可動接点１０ａ〜１０ｃがレジスト層４に干渉しない幅寸法Ｄに設定されている。

空隙部６ａ〜６ｄは、例えば次のようにして作製される。基材３上の固定接点５ａ〜５ｃと空隙部６ａ〜６ｄの領域に導体を作製し、その後に、空隙部６ａ〜６ｄの領域の導体部分をエッチング処理する。

３本の可動接点１０ａ〜１０ｃは、基板２の上方位置で、各固定接点５ａ〜５ｃ間と同一間隔で配置されている。３本の可動接点１０ａ〜１０ｃは、各固定接点５ａ〜５ｃの長手方向を接点摺動方向Ｓとしてそれぞれ対応する固定接点５ａ〜５ｃ及びこれに連続するレジスト層４の摺動部４ａ〜４ｃ上を摺動する。

上記構成において、３本の可動接点１０ａ〜１０ｃが全て各固定接点５ａ〜５ｃ上に位置する摺動位置では、３本の可動接点１０ａ〜１０ｃと固定接点５ａ〜５ｃの間が全て導通状態、３本の可動接点１０ａ〜１０ｃが全てレジスト層４の摺動部４ａ〜４ｃ上に位置する摺動位置では３本の可動接点１０ａ〜１０ｃと固定接点５ａ〜５ｃの間が全て非導通状態、２本の可動接点１０ａ，１０ｂが固定接点５ａ，５ｂ上で、且つ、１本の可動接点１０ｃがレジスト層４の摺動部４ｃ上に位置する摺動位置では、２本の可動接点１０ａ，１０ｂと固定接点５ａ，５ｂの間が導通状態で、且つ、１本の可動接点１０ｃと固定接点５ｃの間が非導通状態となる。これにより、３本の可動接点１０ａ〜１０ｃの摺動位置に応じた電気信号を得ることができる。

可動接点１０ａ〜１０ｃの摺動過程にあって、固定接点５ａ〜５ｃの接点摺動方向Ｓの端面より外側には、レジスト層４の摺動部４ａ〜４ｃが連続的に配置されている。仮に、固定接点５ａ〜５ｃとレジスト層４の摺動部４ａ〜４ｃの表面高さを同じに出来なくても小さな段差しか出来ない。つまり、固定接点５ａ〜５ｃの端面の外側にレジスト層４を配置しない場合のように大きな段差が出来ない。そのため、可動接点１０ａ〜１０ｃの接点チャタリングを極力防止できる。又、固定接点５ａ〜５ｃ及びこれに連続するレジスト層４の摺動部４ａ〜４ｃの接点摺動方向Ｓと直交する方向の端面より外側には、空隙部６ａ〜６ｄが配置されているので、可動接点１０ａ〜１０ｃが正規の摺動軌跡より接点摺動方向Ｓの直交方向に変移しても、従来例のように可動接点１０ａ〜１０ｃがレジスト層４に乗り上げることがない。そのため、可動接点１０ａ〜１０ｃのレジスト層４への乗り上げによる接触不良を防止できる。

空隙部６ａ〜６ｄは、可動接点１０ａ〜１０ｃが正規の摺動軌跡より接点摺動方向Ｓの直交方向の最大許容変移位置まで変移しても可動接点１０ａ〜１０ｃがレジスト層４に干渉しない幅寸法Ｄに設定されている。従って、可動接点１０ａ〜１０ｃのレジスト層４への乗り上げによる接触不良を確実に防止できる。

固定接点５ａ〜５ｃと摺動部４ａ〜４ｃを含むレジスト層４の表面高さは、ほぼ同じ高さである。従って、可動接点１０ａ〜１０ｃが固定接点５ａ〜５ｃとレジスト層４の摺動部４ａ〜４ｃの境界箇所をほとんど上下動することなくスムーズに摺動する。そのため、可動接点１０ａ〜１０ｃが固定接点５ａ〜５ｃとレジスト層４の摺動部４ａ〜４ｃの境界箇所を摺動する際のチャタリングを確実に防止できる。

この実施形態では、固定接点５ａ〜５ｃと可動接点１０ａ〜１０ｃがそれぞれ３本であるが、その本数は問わない。可動接点１０ａ〜１０ｃの接点摺動方向Ｓは直線上であるが、円弧状であっても良く、その摺動方向は問わない。

３基材
４レジスト層
５ａ〜５ｃ固定接点
６ａ〜６ｄ空隙部
１０ａ〜１０ｃ可動接点
Ｓ接点摺動方向

Claims

基材上にレジスト層と固定接点を配置した固定接点構造であって、
前記固定接点は、前記固定接点上を可動接点が摺動する接点摺動方向に延びて、前記接点摺動方向に対して直交する方向で間隔をおいて複数配置されており、
前記複数の固定接点の前記接点摺動方向の両端面より外側には、前記レジスト層が連続して配置されており、
前記複数の固定接点の前記接点摺動方向と直交する方向の両端面より外側には、前記固定接点の全体にわたって空隙部が配置されており、
前記空隙部は、複数の固定接点の接点摺動方向の延長線上に配置されたレジスト層の摺動部の接点摺動方向と直交する方向の両端面より外側にも配置されており、
前記複数の空隙部を、前記可動接点が正規の摺動軌跡より前記接点摺動方向と直交する方向の最大許容変移位置まで変移しても前記可動接点が前記レジスト層に干渉しない幅寸法に設定した、
ことを特徴とする固定接点構造。
請求項１記載の固定接点構造であって、
前記固定接点と前記レジスト層の表面高さは、ほぼ同じ高さである、
ことを特徴とする固定接点構造。