JP5563648B2 - 測定装置、および物品の製造方法 - Google Patents
測定装置、および物品の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5563648B2 JP5563648B2 JP2012260339A JP2012260339A JP5563648B2 JP 5563648 B2 JP5563648 B2 JP 5563648B2 JP 2012260339 A JP2012260339 A JP 2012260339A JP 2012260339 A JP2012260339 A JP 2012260339A JP 5563648 B2 JP5563648 B2 JP 5563648B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pressure
- support
- test object
- measuring
- space
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
本発明は、測定装置、および物品の製造方法に関する。
レンズやミラーなどの光学素子(被検物)の表面形状を、光を用いて非接触で測定する測定装置が知られている。そして、このような測定装置において、光学素子を測定する温度環境(測定環境)が、光学素子が光学装置に組み込まれて実際に使用されうる温度環境(使用環境)と大きく異なる場合がある。この場合、使用環境と測定環境とで光学素子の形状が熱歪みなどにより異なってしまうため、測定装置には、光学素子を使用環境で測定することが要求されている。
光学素子を使用環境で測定する方法として、例えば、測定装置が配置されている環境(周囲環境)自体を当該使用環境に設定する方法があるが、この方法は現実的とはいえない。それは、近年の測定精度の高精度化に伴って測定装置には周囲環境の温度管理を精密に行うことが求められており、周囲環境の温度を変化させてしまうと測定誤差が発生しうるからである。
そこで、本発明は、様々な環境下において被検物の表面形状を測定するために有利な測定装置を提供することを例示的目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の一側面としての測定装置は、被検物の表面形状又は表面高さを測定する測定装置であって、光透過部材と、前記光透過部材を支持する支持部と、前記光透過部材とともに前記被検物を取り囲むチャンバーと、前記光透過部材を介して前記被検物に光を照射して前記被検物からの光を受光することにより前記被検物の表面形状又は表面高さを測定する測定部と、前記チャンバーの内部の圧力を調整する調整部と、前記光透過部材の自重による変形を低減するように前記調整部を制御する制御部と、を含み、前記支持部は、前記光透過部材の周縁部を支持する支持部材と、前記支持部材における支持点の位置より低い位置に支持面を有する補助部材とを含み、前記補助部材の支持面は、前記光透過部材の、前記被検物に照射される光が透過する領域の全周を囲むように設けられており、前記補助部材の支持面は、前記光透過部材が自重変形したときに前記光透過部材と接触して前記光透過部材を支持する、ことを特徴とする。
本発明によれば、例えば、様々な環境下において被検物の表面形状を測定するために有利な測定装置を提供することができる。
以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施の形態について説明する。なお、各図において、同一の部材ないし要素については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。また、各図において、測定光の光軸に平行な方向をZ方向とし、光軸に直交する方向をそれぞれX方向およびY方向とする。
<第1実施形態>
本発明の第1実施形態の測定装置100について、図1を参照して説明する。第1実施形態の測定装置100は、被検物103(例えば光学素子)の表面にレーザー光を照射し、表面で反射したレーザー光を検出することにより被検物103の表面形状または表面高さを非接触で測定する。測定装置100は、測定部101と、光透過部材113と、チャンバー110と、保持部104と、調整部(圧力調整バルブ107aおよび107b)と、制御部112とにより構成されている。
本発明の第1実施形態の測定装置100について、図1を参照して説明する。第1実施形態の測定装置100は、被検物103(例えば光学素子)の表面にレーザー光を照射し、表面で反射したレーザー光を検出することにより被検物103の表面形状または表面高さを非接触で測定する。測定装置100は、測定部101と、光透過部材113と、チャンバー110と、保持部104と、調整部(圧力調整バルブ107aおよび107b)と、制御部112とにより構成されている。
測定部101は、光透過部材113を介して被検物103の表面にレーザー光を照射し、表面で反射したレーザー光を光透過部材113を介して検出することにより被検物103の表面形状を非接触で測定する。測定部101としては、例えば、測長用プローブもしくは干渉計などが用いられる。光透過部材113は、測定部101から射出されたレーザー光を透過させるために用いられ、被検物103の上方に、即ち、測定部101と被検物103との間の光路上に配置される。第1実施形態の光透過部材113は、合成石英ガラスや硼珪酸ガラスなどの1枚の板部材102によって構成されている。チャンバー110は、光透過部材113を支持する支持部109を含み、光透過部材113とともに被検物103を取り囲むように構成されている。チャンバー110は、チャンバー110の外部からの熱を遮断する断熱構造を有している。そして、チャンバー110の側壁には、チャンバー110の内部にエアーを供給するための供給配管106と、チャンバー110の内部からエアーを排気するための排気配管108とが備えられている。供給配管106および排気配管108には、チャンバー110の内部の圧力を調整する調整部として圧力調整バルブ107aおよび107bがそれぞれ備えられている。そして、制御部112が圧力調整バルブ107aおよび107bを制御することにより、チャンバー110の内部の圧力を調整することができる。保持部104は、被検物103を保持する。また、保持部104には、ヒーターが備えられており、このヒーターにより被検物103の温度を変化させることができる。即ち、被検物103の温度を、被検物103が光学装置に取り込まれ、実際に使用されうる温度に設定することができる。
ここで、板部材102(光透過部材113)を支持する支持部109について、図2および図3を参照して説明する。図2は、チャンバー110の支持部109を示す拡大図であり、図3は、板部材102および支持部109を上部(z方向)から見たときの図およびその断面図である。支持部109は、チャンバー110に固定された構造体200と、構造体200の上に配置された支持部材201および補助部材202とによって構成されている。構造体200は、図3(a)に示すように、測定部101により射出されたレーザー光の光路を囲むように、即ち、測定部101により測定可能な領域(測定領域)を囲むように配置されている。構造体200は、チャンバー110と同じ材料を用いてもよいし、他の材料を用いてもよい。支持部材201は、例えばゴムなどの材料で半球形状に形成されており、板部材102の周縁部を支持している。支持部材201は、構造体200の上に3つ配置されており、3つの支持部材201を用いることにより、板部材102がXY方向にずれることを低減することができる。第1実施形態では、支持部材201を3つ備えて板部材102を支持しているが、それに限られるものではなく、例えば、支持部材201を3の倍数の数(例えば6つや9つ)だけ備えて板部材102を支持してもよい。また、補助部材202は、例えば、弾性を有して摩擦が少ない樹脂などの材料で形成されており、構造体200の上に、測定領域を囲むように配置されている。補助部材202は、支持部材201における支持点の位置よりZ方向の低い位置に支持面202aを有している。即ち、補助部材202は、支持部材201の高さより低く設計されている。ここで、補助部材202は、図3(b)に示すように、構造体200の全面を覆うように配置されてもよい。また、第1実施形態の測定装置100において、以下では、被検物103が配置されている空間(チャンバー110の内部)を第1空間、および測定部101が配置されている空間(チャンバー110の外部)を第2空間と示す。
このように板部材102は、測定部101から射出されるレーザー光の光路を遮断させないように、その周縁部において支持部109により支持されている。そのため、板部材102の中心部が、図2(a)の破線102aで示すように、自重により−Z方向に撓むように変形してしまう。板部材102が自重により変形してしまうと、測定部101と被検物103との間の光路が変化してしまい、測定誤差が発生しうる。また、板部材102は、例えば、合成石英ガラスや硼珪酸ガラスなどの脆性材料で構成されており、ほとんど塑性変形を伴わずに、自重による変形で破損してしまうことが多い。破損する理由としては、板部材102の製造過程や使用過程におけるクラックの進展によるところが大きい。このようなクラックが存在すると、当該クラックが応力集中源となり、実際の負荷応力よりもはるかに大きな応力がクラックの先端に発生し、理論値よりも小さな応力で破損に至ってしまう。そのため、第1実施形態の測定装置100では、板部材102に自重による変形が生じている場合であっても、板部材102に加わる応力を緩和するために支持部109に補助部材202が備えられている。また、第1実施形態の測定装置100では、板部材102の自重による変形を低減するように第1空間内の圧力を調整している。
まず、板部材102に自重による変形が生じている場合であっても、支持部109の補助部材202により板部材102に加わる応力を緩和する方法について、図2(a)を参照しながら説明する。被検物103をチャンバー110に搬入およびチャンバー110から搬出させるときには、第1空間と第2空間とを同じ圧力にして、板部材102を取り外す必要がある。このように第1空間と第2空間とが同じ圧力になっている状態では、図2(a)の破線で示す板部材102aのように、板部材102に自重による変形が生じてしまう。それに加えて、3つの支持部材201のみにより板部材102を支持していると、支持部材201が支持する点に、式(1)によって表される応力が集中してしまい、板部材102の破損につながる虞がある。
そのため、第1実施形態の支持部109には、式(1)に示す支持面積を増加させて、板部材102への応力集中を緩和するために補助部材202が用いられている。補助部材202は、上述したように、支持部材201における支持点の位置よりZ方向の低い位置に支持面202aを有している。そして、板部材102に自重による変形が生じたときに、図2(a)の実線で示す板部材102bのように、補助部材202の支持面202aが板部材102に接触し、板部材102を支持する。これにより、板部材102に自重による変形が生じたときであっても、板部材102への応力集中を緩和することができる。
次に、制御部112が調整部により第1空間の圧力を調整して、板部材102の自重による変形を低減する方法について、図2(b)を参照しながら説明する。制御部112は、板部材102に自重による変形が許容範囲内になる(図2(b)の二点破線で示す板部材102c)際の、第1空間に加える圧力を決定する。例えば、板部材102の寸法が、縦(Y方向)800mm、横(X方向)1500mm、厚み(Z方向)10mmで、密度が2.21g/cm3である場合、板部材102の質量は式(2)により算出できる。
また、板部材102に加える圧力は、式(3)に示すように、板部材102の質量を板部材102の光透過面全体(上面または下面)の面積で割ることにより算出できる。
式(3)により算出された圧力は、1気圧=1013hPa=1.03323Kg/cm 2 より217Paとなり、この値が板部材102の自重による変形が許容範囲内になる理論値である。したがって、板部材102の寸法と材質(密度)が決まれば、板部材102の自重による変形を低減するために第1空間に加える圧力の理論値が決定する。第1空間および第2空間には、第1圧力計測部105aおよび第2圧力計測部105bがそれぞれ配置されており、第1圧力計測部105aは第1空間の圧力を、第2圧力計測部105bは第2空間の圧力をそれぞれ計測する。制御部112は、第1圧力計測部105aにより計測された圧力値(第1空間の圧力値)のデータと、第2圧力計測部105bにより計測された圧力値(第2空間の圧力値)のデータとを取得する。そして、制御部112は、それらの圧力値のデータと圧力の理論値とに基づいて圧力調整バルブ107aおよび107bを制御し、第1空間の圧力を調整する。例えば、制御部112は、圧力調整バルブ107aおよび107bを制御して、供給配管106から第1空間に流入するエアーと、第1空間から排気配管108を介して流出するエアーとの割合を調整する。これにより、制御部112は、第1空間の圧力値を、第2空間の圧力値より理論値(217Pa)だけ高くなるように調整することができ、板部材102の自重による変形を低減することができる。
ここで、第1空間に圧力を加えて板部材102の自重による変形を低減している際、第1空間に加えられるエアーが板部材102と支持部109またはチャンバー110との間のギャップを介して第2空間に流出してしまう。このようなエアーの流出が大きいと、第1空間の圧力を精度よく調整することが困難となってしまう。例えば、補助部材202を構造体200上に配置していない場合、構造体200と板部材102との間のギャップ203aが大きくなり、第1空間から第2空間に流出するエアーの流量も大きくなってしまう。それに対し、第1実施形態では、補助部材202が測定領域を囲むように構造体200の上に配置されているため、構造体200と板部材102との間のギャップ203aに比べ、狭いギャップ203bとすることができる。また、同様に、チャンバー110と板部材102との間のギャップ203cも狭くすることによりエアーの流出を低減することができる。例えば、ギャップ203cを介して第2空間に流出するエアーの流量を、平行平板間のポアズイユ流れを用いて計算すると図4に示すグラフが得られる。図4に示すグラフでは、板部材102の寸法を、縦(Y方向)800mm、横(X方向)1500mm、厚み(Z方向)10mmとし、第1空間に加える圧力を206Paとして計算した。図4に示すグラフより、ギャップ203cを狭くしていくと、流出するエアーの流量が少なくなる傾向が得られ、例えばギャップ203cが60μmのときでは、流出するエアーの流量は約100(cc/sec)と微量となる。このように第1空間から第2空間へ流出するエアーの流量を小さくすることは、上述したように、ギャップ203cを小さくするだけでなく、補助部材202と板部材102との間のギャップ203bを小さくすることによっても同様に実現できる。これは、補助部材202が、板部材102への応力集中を緩和できるだけでなく、エアーの流出経路を小さくし、第1空間から第2空間へ流出するエアーの流量を小さくできることを意味している。このように、第1実施形態では、ギャップ203bおよび203cを調整することにより、第1空間から第2空間に流出するエアーの流量を変えることができ、第1空間の圧力を精度よく調整することが容易となる。
第1実施形態の測定装置100では、上述したように、第1空間の圧力を調整することにより板部材102の自重による変形を低減している。しかし、制御部112が圧力調整バルブ107aおよび107bを制御して第1空間の圧力を調整するだけでは、板部材102には、自重による変形が残ってしまったり、被検物103の温度変化の影響による変形が生じてしまったりしている場合がある。この場合、測定部101により射出されたレーザー光の光路が僅かながらも変化してしまい、被検物103の表面形状に測定誤差が生じうる。そのため、第1実施形態の制御部112は、測定部101における被検物103の表面形状の測定結果を補正する。ここで、制御部112が、測定部101における測定結果を補正する方法について、図5を参照しながら説明する。図5は、制御部112が測定部101における測定結果を補正する方法を示すフローチャートである。
S501では、制御部112は、板部材102の自重による変形をなくすために第1空間に加える圧力の理論値を、式(3)により決定する。第1空間に加える圧力の理論値は、上述したように、板部材102の寸法と材質(密度)により決定することができる。このように決定した圧力の理論値を、ここでは圧力Aとする。S502では、制御部112は、第1空間に任意の第1圧力を加えるように圧力調整バルブ107aおよび107b(調整部)を制御し、そのときの第1空間の圧力と第2空間の圧力との差圧を算出する。上述したように、第1空間の圧力は第1圧力計測部105aにより、第2空間の圧力は第2圧力計測部105bにより計測する。このように算出された差圧を、ここでは圧力Bとする。S503では、制御部112は、第1空間に第1圧力が加えられた状態で、被検物103の表面形状を測定するように測定部101を制御し、測定部101により測定結果を取得する。このように測定部101により取得された被検物103の表面形状を、ここでは形状Bとする。また、当該被検物103の設計データにおける表面形状を、ここでは形状Aとする。S504では、制御部112は、圧力Aと圧力Bとの圧力差C、および形状Aと形状Bとの形状差Cを算出し、算出した圧力差Cおよび形状差Cを関係付けて記憶する。ここで、S502〜S504において使用する被検物103は、例えばダミーの光学素子などを用いてもよい。
S505では、制御部112は、記憶した圧力差Cおよび形状差Cのデータ量は十分であるか、即ち、記憶された圧力差Cおよび形状差Cのデータ数によって圧力差Cと形状差Cとの関係(表や関数(式)など)が作成できるか否かを判断する。S505においてデータ量が十分でないと制御部112が判断した場合は、S501に戻り、第1空間に第1圧力とは異なる任意の第2圧力を加えるように圧力調整バルブ107aおよび107bを制御する。一方で、S505においてデータ量が十分であると制御部112が判断した場合は、S506に進む。S506では、制御部112は、記憶された圧力差Cおよび形状差Cのデータに基づいて圧力差Cと形状差Cとの関係を作成する。このように圧力差Cと形状差Cとの関係を作成することにより、例えば、圧力Bを圧力Aに近づけることができない場合などに、当該関係を用いて測定部101による測定結果を補正することができる。また、圧力差Cと形状差Cとの関係において、圧力差Cが零のとき、形状差Cにオフセットが生じている場合がある。このオフセットは、第1空間の圧力を理論値に設定しても生じうる測定誤差であり、このようなオフセットも当該関係を用いて補正することができる。S507では、制御部112は、第1空間の圧力がS501で算出された理論値になるように圧力調整バルブ107aおよび107bを制御し、被検物103の表面形状を測定するように測定部101を制御する。S508では、圧力差Cと形状差Cとの関係に基づいて被検物103の表面形状のデータを補正する。このように、被検物103の表面形状のデータを補正することにより、被検物103の表面形状を精度よく測定することができる。
ここで、測定部101について図6を参照して説明する。測定部101には、例えば、測長用プローブ101aや干渉計101bなどが用いられる。図6(a)は、測定部101に測長用プローブ101aを用いた場合の測定装置100を示し、図6(b)は、測定部101に干渉計101bを用いた場合の測定装置100を示す図である。まず、測定部101に測長用プローブ101aを用いた場合の測定装置100について図6(a)を参照して説明する。測長用プローブ101aは、レーザー光を被検物103の表面に照射し、表面で反射したレーザー光を検出することにより測長用プローブ101aと被検物103の表面との距離を測定する。そして、被検物103にレーザー光を照射しながら、測長用プローブ101aをX方向およびY方向に移動させることにより、被検物103の表面形状を測定することができる。測長用プローブ101aは、被検物103に対する位置を、X軸、Y軸およびZ軸の三次元座標系において高精度に制御する必要がある。そのため、測長用プローブ101aには、Z方向(測長用プローブ101aの光軸方向)にレーザー光を照射する第1干渉計502a、X方向にレーザー光を照射する第2干渉計502b、およびY方向にレーザー光を照射する第3干渉計(不図示)が備えられいる。また、測定装置100には架台(不図示)が設けられている。そして、その架台に第1干渉計502aのレーザー光を反射する第1基準ミラー501a、第2干渉計502bのレーザー光を反射する第2基準ミラー501b、および第3干渉計のレーザー光を反射する第3基準ミラー(不図示)が固定されている。測長用プローブ101aのZ方向の位置は、第1干渉計502aと第1基準ミラー501aとの距離に基づいて決定される。具体的には、第1干渉計502aが、第1基準ミラー501aにレーザー光を照射し、反射したレーザー光により測長用プローブ101aの基準位置からの変位を検出する。この検出した変位と当該基準位置とに基づいて第1干渉計502aと第1基準ミラー501aとの距離が算出される。同様に、測長用プローブ101aのX方向およびY方向の位置は、第2干渉計502bと第2基準ミラー501aとの距離、および第3干渉計と第3基準ミラーとの距離に基づいてそれぞれ決定される。
次に、測定部101に干渉計101bを用いた場合の測定装置100について図6(b)を参照して説明する。干渉計101bは、レーザー光を射出する光源と、光源から射出されたレーザー光を被検物に照射させるための照明光学系とを含む。また、干渉計101bと被検物103(板部材102)との間の光路には、参照面504aを有するガラス基板504が配置されており、当該ガラス基板504の参照面504aは、被検物103の表面形状の測定に必要な測定精度が得られるように加工されている。照明光学系から射出したレーザー光503aは、参照面504aにおいて一部反射し、参照光503bとして干渉計101bに入射する。一方で、参照面504aを透過したレーザー光503aは、板部材102を透過し、被検物103の表面で反射され、再び板部材102と透過して被検光503cとして干渉計101bに入射する。干渉計101bでは、干渉計101bに入射した参照光503bおよび被検光503cにより干渉縞が形成され、その干渉縞を受光素子(CCDなど)で受光し、受光素子によって得られたデータを用いて被検物103の表面形状や高さを計算することができる。ここで、図6(b)では、参照面504aを有するガラス基板504が第2空間に配置されているが、第1空間に配置されてもよい。
上述したように、第1実施形態の測定装置100は、チャンバー110と光透過部材113(板部材102)とによって被検物103を取り囲むような構成となっている。そして、測定装置100は、チャンバー110の内部(第1空間)の圧力を調整する調整部(圧力調整バルブ107aおよび107b)と、調整部を制御する制御部とを備えている。これにより、光透過部材113が自重により変形することを低減できるため、光透過部材113の変形に起因する被検物103の表面形状の測定誤差を低減することができる。また、第1実施形態の測定装置100は、チャンバー110の支持部109に補助部材202を有している。これにより、第1空間と第2空間との差圧が少なく、光透過部材113が自重により変形している場合であっても、光透過部材113の応力集中を緩和することができる。したがって、第1実施形態の測定装置100は、例えば、被検物103の温度を変えた状態で、その表面形状を高精度に測定することができる。
<第2実施形態>
本発明の第2実施形態の測定装置700について、図7を参照して説明する。第2実施形態の測定装置700は、第1実施形態の測定装置100と比較して、光透過部材113の構成が異なる。第2実施形態の光透過部材113は、複数(2枚)の板部材102と、複数(2枚)の板部材102をZ方向に互いに離隔して配置するための外枠部材603とを含む。そして、複数(2枚)の板部材102と外枠部材603とを含む光透過部材113は、チャンバー110の支持部109により支持されている。このように複数の板部材102を配置することで、第1空間と第2空間との間に温度差(例えば、第1空間の温度<第2空間の温度)がある測定環境下においても、その温度が測定部101に影響を及ぼしたり、結露が生じたりすることを低減することができる。
本発明の第2実施形態の測定装置700について、図7を参照して説明する。第2実施形態の測定装置700は、第1実施形態の測定装置100と比較して、光透過部材113の構成が異なる。第2実施形態の光透過部材113は、複数(2枚)の板部材102と、複数(2枚)の板部材102をZ方向に互いに離隔して配置するための外枠部材603とを含む。そして、複数(2枚)の板部材102と外枠部材603とを含む光透過部材113は、チャンバー110の支持部109により支持されている。このように複数の板部材102を配置することで、第1空間と第2空間との間に温度差(例えば、第1空間の温度<第2空間の温度)がある測定環境下においても、その温度が測定部101に影響を及ぼしたり、結露が生じたりすることを低減することができる。
図8は、第2実施形態の光透過部材113を示す図である。第2実施形態の光透過部材113は、2枚の板部材(102aおよび102b)と、2枚の板部材をZ方向に互いに離隔して配置するための外枠部材603とを含む。外枠部材603は、測定部101により測定可能な領域(測定領域)を囲むように構成されており、2枚の板部材(102aおよび102b)を板部材ごとに支持するために2段構成となっている。そして、外枠部材603の各段には、第2支持部材601と第2補助部材602とが備えられている。例えば、板部材102aは外枠部材603の下段に配置されており、外枠部材603の下段には、第2支持部材601aと第2補助部材602aとが備えられている。第2支持部材601aは、支持部材201と同様に、例えばゴムなどの材料で半球形状に構成されており、板部材102aの周縁部を点で支持している。第2支持部材601aは、外枠部材603の下段に3つ配置されており、板部材102aがXY方向にずれることを低減するように板部材102aを支持している。第2補助部材602aは、補助部材202と同様に、例えば、弾性を有して摩擦が少ない樹脂などの材料で構成されており、測定領域を囲むように配置されている。第2補助部材602aは、第2支持部材601aの高さより低く設定されており、第2支持部材601aにおける支持点の位置よりZ方向の低い位置に支持面を有している。また、板部材102bは外枠部材603の上段に配置されており、外枠部材603の上段にも、下段と同じように第2支持部材601bと第2補助部材602bとが備えられている。外枠部材603の上段に備えられた第2支持部材601bおよび第2補助部材602bは、外枠部材603の下段に備えられた第2支持部材601aおよび第2補助部材602aと同様であるため、ここでは説明を省略する。このように構成された光透過部材113は、チャンバー110の支持部109により支持される。具体的には、光透過部材113の外枠部材603が、支持部109の支持部材201により支持される。ここで、外枠部材603は、温度変化による変形が小さい低熱膨張材料を用いるとよい。それは、被検物103の温度を変化させることにより外枠部材603に熱変形が生じ、外枠部材603がXY方向にずれることを低減するためである。
次に、各板部材(102aおよび102b)の自重による変形を低減する方法について説明する。第2実施形態の測定装置700は、被検物103が配置された第1空間と、測定部101が配置された第2空間とに加えて、板部材102aと板部材102bとに挟まれた空間(以下、第3空間)を有する。そして、測定装置700は、第1空間の圧力P1を計測する第1圧力計測部105aと、第2空間の圧力P2を計測する第2圧力計測部105bとに加えて、第3空間の圧力P3を計測する第3圧力計測部105cを有する。このように構成された測定装置700では、板部材102aの自重による変形を低減するためには第1空間の圧力P1と第3空間の圧力P3との差圧を調整する必要がある。同様に、板部材102bの自重による変形を低減するためには第3空間の圧力P3と第2空間の圧力P2との差圧を調整する必要がある。制御部112は、調整部(圧力調整バルブ107aおよび107b)によって第1空間の圧力P1しか調整できないが、第3空間の圧力P3は、第1空間の圧力P1と第2空間の圧力P2のほぼ平均値となる。そのため、板部材102aおよび102bが同じ寸法および同じ材質であれば、制御部112は、調整部によって第1空間の圧力P1を調整するだけでよい。例えば、板部材102aおよび102bの自重による変形を許容範囲内にそれぞれ低減できる圧力値が圧力Piである場合、制御部112は、圧力Piの2倍の圧力を第1空間に加えるように圧力調整バルブ107aおよび107bを制御する。この場合、第2空間の圧力P2を基準とすると、第3空間では圧力P3=P2+Piとなり、第1空間では圧力P1=P3+Piとなる。即ち、板部材102aおよび102bのそれぞれに圧力Piが加わることになるため、それら両方とも自重による変形を低減することができる。
上述したように、第2実施形態の測定装置700では、光透過部材113は、複数の板部材102と、複数の板部材102をZ方向に離隔して配置する外枠部材603とを含む。これにより、第1実施形態の測定装置100と比較して、被検物の温度が測定部101に影響を及ぼしたり、結露が生じたりすることを低減することができる。
<第3実施形態>
本発明の第3実施形態の測定装置について説明する。第3実施形態の測定装置は、第1実施形態の測定装置100と比較して、支持部109の構成が異なる。第3実施形態の支持部109は、支持部材201が支持する光透過部材113(板部材102)の面と反対側の面に力を加える加圧部材801を含む。
本発明の第3実施形態の測定装置について説明する。第3実施形態の測定装置は、第1実施形態の測定装置100と比較して、支持部109の構成が異なる。第3実施形態の支持部109は、支持部材201が支持する光透過部材113(板部材102)の面と反対側の面に力を加える加圧部材801を含む。
図9は、第3実施形態の支持部109を示す図である。第3実施形態の支持部109は、構造体200、支持部材201および補助部材202に加えて、チャンバー110に固定された第2構造体800と、第2構造体800にバネなどの弾性部材を介して支持された加圧部材801とを含んでいる。加圧部材801は、ゴムなどの材料で半球形状に構成されており、支持部材201とともに板部材102を挟むように配置されている。このように加圧部材801を設けることにより、例えば、第1空間の圧力により板部材102が浮いてしまうことや、それに伴って板部材102がXY方向にずれてしまうことを防止することができる。ここで、加圧部材801は、例えば第2実施形態のように、光透過部材113に複数の板部材102を用いた場合では、加圧部材801は、板部材ごとに、外枠部材603に配置してもよい。
上述したように、第3実施形態の測定装置では、支持部109に加圧部材801を含んでいる。これにより、例えば、第1空間の圧力により板部材102が浮いてしまうことや、それに伴って板部材102がXY方向にずれてしまうことを防止することができる。
<物品の製造方法の実施形態>
本発明の実施形態における物品の製造方法は、例えば、レンズやミラーなどの光学素子等の物品を製造する際に用いられる。本実施形態の物品の製造方法は、上記の測定装置を用いて被検物の形状を測定する工程と、かかる工程における測定結果に基づいて被検物を加工する工程とを含む。例えば、被検物の形状を測定装置を用いて計測し、その測定結果に基づいて、被検物の形状が設計値になるように当該被検物を加工(製造)する。本実施形態の物品の製造方法は、測定装置により高精度に被検物の形状を測定できるため、従来の方法に比べて、物品の性能・品質・生産性・生産コストの少なくとも1つにおいて有利である。
本発明の実施形態における物品の製造方法は、例えば、レンズやミラーなどの光学素子等の物品を製造する際に用いられる。本実施形態の物品の製造方法は、上記の測定装置を用いて被検物の形状を測定する工程と、かかる工程における測定結果に基づいて被検物を加工する工程とを含む。例えば、被検物の形状を測定装置を用いて計測し、その測定結果に基づいて、被検物の形状が設計値になるように当該被検物を加工(製造)する。本実施形態の物品の製造方法は、測定装置により高精度に被検物の形状を測定できるため、従来の方法に比べて、物品の性能・品質・生産性・生産コストの少なくとも1つにおいて有利である。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されないことはいうまでもなく、その要旨の範囲内で種々の変形および変更が可能である。
Claims (9)
- 被検物の表面形状又は表面高さを測定する測定装置であって、
光透過部材と、
前記光透過部材を支持する支持部と、
前記光透過部材とともに前記被検物を取り囲むチャンバーと、
前記光透過部材を介して前記被検物に光を照射して前記被検物からの光を受光することにより前記被検物の表面形状又は表面高さを測定する測定部と、
前記チャンバーの内部の圧力を調整する調整部と、
前記光透過部材の自重による変形を低減するように前記調整部を制御する制御部と、
を含み、
前記支持部は、前記光透過部材の周縁部を支持する支持部材と、前記支持部材における支持点の位置より低い位置に支持面を有する補助部材とを含み、
前記補助部材の支持面は、前記光透過部材の、前記被検物に照射される光が透過する領域の全周を囲むように設けられており、
前記補助部材の支持面は、前記光透過部材が自重変形したときに前記光透過部材と接触して前記光透過部材を支持する、
ことを特徴とする測定装置。 - 前記支持部材の数は、3の倍数である、ことを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
- 前記支持部は、前記支持部材が支持する前記光透過部材の面と反対側の面に力を加える加圧部材を含む、ことを特徴とする請求項1又は2に記載の測定装置。
- 前記加圧部材は、前記支持部材とともに前記光透過部材を挟むように配置されている、ことを特徴とする請求項3に記載の測定装置。
- 前記チャンバーの内部と外部との差圧を計測する圧力計測部と、
を更に含み、
前記制御部は、前記差圧に基づいて前記調整部を制御する、ことを特徴とする請求項1乃至4のうちいずれか1項に記載の測定装置。 - 前記制御部は、前記チャンバーの内部と外部との差圧に対する前記被検物の表面形状の関係を記憶し、当該関係に基づいて前記測定部により測定された前記被検物の表面形状のデータを補正する、ことを特徴とする請求項1乃至5のうちいずれか1項に記載の測定装置。
- 前記光透過部材は、1枚の板部材で構成されている、ことを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれか1項に記載の測定装置。
- 前記光透過部材は、複数の板部材と、前記複数の板部材を互いに離隔して配置するための外枠部材とを含み、
前記外枠部材は、前記複数の板部材ごとに、前記板部材の周縁部を支持する3つ以上の第2支持部材と、前記第2支持部材における支持点の位置より低い位置に支持面を有する第2補助部材とを含み、
前記支持部は、前記外枠部材を支持している、ことを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれか1項に記載の測定装置。 - 請求項1乃至8のうちいずれか1項に記載の測定装置を用いて被検物の表面形状又は表面高さを測定する工程と、
前記工程における測定結果に基づいて前記被検物を加工する工程と、
を含むことを特徴とする物品の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012260339A JP5563648B2 (ja) | 2012-11-28 | 2012-11-28 | 測定装置、および物品の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012260339A JP5563648B2 (ja) | 2012-11-28 | 2012-11-28 | 測定装置、および物品の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014106158A JP2014106158A (ja) | 2014-06-09 |
JP5563648B2 true JP5563648B2 (ja) | 2014-07-30 |
Family
ID=51027767
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012260339A Expired - Fee Related JP5563648B2 (ja) | 2012-11-28 | 2012-11-28 | 測定装置、および物品の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5563648B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104390605B (zh) * | 2014-12-01 | 2017-05-31 | 北京科益虹源光电技术有限公司 | 一种垂向调整装置 |
CN108534669B (zh) * | 2018-02-09 | 2019-09-10 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种采用三点支撑检测光学元件的方法 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60301A (ja) * | 1983-06-16 | 1985-01-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄板保持具 |
JP3940823B2 (ja) * | 1994-12-26 | 2007-07-04 | 株式会社ニコン | ステージ装置及びその制御方法 |
JPH09126745A (ja) * | 1995-10-31 | 1997-05-16 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | ガラス基板の平面度測定装置 |
JPH09126717A (ja) * | 1995-11-02 | 1997-05-16 | Nikon Corp | パターン位置測定方法及び装置 |
JP2000031024A (ja) * | 1998-07-14 | 2000-01-28 | Mitsubishi Electric Corp | 投影露光装置およびそれを用いた露光方法 |
JP3775772B2 (ja) * | 1998-12-28 | 2006-05-17 | キヤノン株式会社 | 露光装置、鏡筒および筐体ならびにそれらの運送方法 |
JP4753497B2 (ja) * | 2001-07-09 | 2011-08-24 | 株式会社東京精密 | 表面形状測定装置及び方法 |
JP2003097939A (ja) * | 2001-09-21 | 2003-04-03 | Ricoh Co Ltd | 形状測定装置、形状測定方法、形状測定用コンピュータプログラムを記憶する記憶媒体及び形状測定用コンピュータプログラム、形状修正加工方法、形状転写用の型、成型品及び光学システム |
JP2003149116A (ja) * | 2001-11-14 | 2003-05-21 | Canon Inc | 接触角の測定装置 |
CN1787954A (zh) * | 2003-06-19 | 2006-06-14 | 日商乐华股份有限公司 | 薄板支撑体 |
JP2005175146A (ja) * | 2003-12-10 | 2005-06-30 | Canon Inc | 露光装置 |
JP2007080935A (ja) * | 2005-09-12 | 2007-03-29 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板熱処理装置 |
JP2007158076A (ja) * | 2005-12-06 | 2007-06-21 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板熱処理装置 |
JP2009047528A (ja) * | 2007-08-20 | 2009-03-05 | Fujitsu Ltd | 表面形状または表面の傾きを含む計測方法および計測装置 |
JP5194040B2 (ja) * | 2010-03-05 | 2013-05-08 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 表示装置、及び検査装置 |
-
2012
- 2012-11-28 JP JP2012260339A patent/JP5563648B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014106158A (ja) | 2014-06-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11135679B2 (en) | Apparatus for additive manufacturing of a product with a calibration device and method for calibration of an apparatus of this kind | |
JP6256380B2 (ja) | 歪センサー及び歪量測定方法 | |
US8352886B2 (en) | Method for the reproducible determination of the position of structures on a mask with a pellicle frame | |
US20130068034A1 (en) | Micromaterial strain measurement apparatus and method therefor techinical field | |
TW201525636A (zh) | 用於直線運動單平面龍門平台,平台設備及製造,測量及檢查設備的動態及熱誤差即時補償系統 | |
US20110273557A1 (en) | Position measuring system | |
JP6488073B2 (ja) | ステージ装置およびそれを用いた荷電粒子線装置 | |
JP6412735B2 (ja) | 光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置 | |
JP5563648B2 (ja) | 測定装置、および物品の製造方法 | |
JP5436706B2 (ja) | 計測装置 | |
JP4878904B2 (ja) | 寸法差測定方法、及びその装置 | |
US20200003544A1 (en) | Combined workpiece holder and calibration profile configuration for precision surface profile measurement | |
JP2013217908A (ja) | 計測装置 | |
CN206504714U (zh) | 形状测定装置 | |
KR101717591B1 (ko) | 열팽창계수 측정장치 | |
JP2007067221A (ja) | 回路パターン製造装置 | |
Takahashi et al. | An experimental verification of the compensation of length change of line scales caused by ambient air pressure | |
US20150055674A1 (en) | Laser adjustment device, laser adjustment system and laser adjustment method for infrared radiation thermometer thereof | |
JP2016070667A (ja) | 接触式プローブ及び形状測定装置 | |
JP6101603B2 (ja) | ステージ装置および荷電粒子線装置 | |
JP2017062192A (ja) | 寸法基準器の線膨張係数測定方法および測定装置 | |
JP2013178156A (ja) | 測定対象物支持装置及び形状計測器 | |
CN108239744B (zh) | 间隙计量方法 | |
JP7340761B2 (ja) | 測定用プローブ | |
JPH05223526A (ja) | 板厚測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140516 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140612 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |