JP5501876B2 - 回路基板検査装置 - Google Patents
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Description
また、請求項5記載の回路基板検査装置は、請求項4記載の回路基板検査装置において、前記規定値を任意に設定可能に構成されている。
また、請求項7記載の回路基板検査装置は、請求項6記載の回路基板検査装置において、前記規定時間を任意に設定可能に構成されている。
2 信号生成回路
5 放電検出部
6 負荷回路
7 スイッチ回路
8 制御部
61 抵抗
62 スイッチ
100 回路基板
200 プローブ
So 作動信号
t 時間長
Vr 規定値
Ve 検査用信号
Vm プローブ間電圧
Claims (7)
- 検査対象の回路基板にプローブを介して検査用信号を供給したときに生じる物理量に基づいて当該回路基板の抵抗値を測定する測定部と、前記回路基板に対する検査用信号の供給に伴う放電の発生を検出する放電検出部と、前記測定部によって測定された前記抵抗値および前記放電検出部による検出結果に基づいて前記回路基板の良否を検査する検査部とを備えた回路基板検査装置であって、
前記測定部による前記抵抗値の測定精度を確認する際に用いる負荷回路と、当該負荷回路と前記プローブとを接続させるスイッチ回路と、前記放電検出部の動作確認の処理を行う処理部とを備え、
前記処理部は、前記プローブに前記検査用信号が供給されている状態において前記スイッチ回路によって前記負荷回路と前記プローブとが接続されたときに発生する擬似放電を用いて前記動作確認の処理を行う回路基板検査装置。 - 前記負荷回路は、抵抗値の異なる複数の抵抗と、当該各抵抗を選択するスイッチとを備えて構成されている請求項1記載の回路基板検査装置。
- 前記スイッチ回路によって前記負荷回路と前記プローブとが接続される時間長を任意に設定可能に構成されている請求項1または2記載の回路基板検査装置。
- 前記処理部は、前記プローブに対する前記検査用信号の供給によって当該プローブに生じる電圧の値が予め決められた規定値に達したときに前記スイッチ回路を制御して前記負荷回路と前記プローブとを接続させて前記擬似放電を発生させる請求項1から3のいずれかに記載の回路基板検査装置。
- 前記規定値を任意に設定可能に構成されている請求項4記載の回路基板検査装置。
- 前記処理部は、前記プローブに対する前記検査用信号の供給開始時点から予め決められた規定時間が経過したときに前記スイッチ回路を制御して前記負荷回路と前記プローブとを接続させて前記擬似放電を発生させる請求項1から3のいずれかに記載の回路基板検査装置。
- 前記規定時間を任意に設定可能に構成されている請求項6記載の回路基板検査装置。
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