JP5535351B1 - 半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】ノイズの影響を低減することができる。
【解決手段】本開示の一実施形態に係る半導体装置は、基板、第1半導体チップ、第2半導体チップおよび第1変換器を含む。第1半導体チップは、第1面が前記基板に対向するように前記基板に搭載される。第2半導体チップは、前記第1面と対向する前記第1半導体チップの第2面に積層される。第1変換器は、前記第2半導体チップの第1領域に配置され、デジタルアナログ変換およびデジタルアナログ変換の少なくとも1つを行なう。前記第1領域は、前記第2面に垂直な方向からみた場合に、前記第1半導体チップと重ならない領域を有する。
【選択図】図1A
【解決手段】本開示の一実施形態に係る半導体装置は、基板、第1半導体チップ、第2半導体チップおよび第1変換器を含む。第1半導体チップは、第1面が前記基板に対向するように前記基板に搭載される。第2半導体チップは、前記第1面と対向する前記第1半導体チップの第2面に積層される。第1変換器は、前記第2半導体チップの第1領域に配置され、デジタルアナログ変換およびデジタルアナログ変換の少なくとも1つを行なう。前記第1領域は、前記第2面に垂直な方向からみた場合に、前記第1半導体チップと重ならない領域を有する。
【選択図】図1A
Description
本開示は、半導体装置に関する。
複数の半導体素子(チップ)を積層する場合、フリップチップ接合を用いることが多い。各半導体チップ間においてノイズの影響を削減するものとして、次のような半導体装置が提案されている。フリップチップ接合をする場合に、半導体チップの間に、導電性材料により形成された平面ベタ層よりなる配線層を配置する。配線層を半導体チップの接地端子または電源端子に接続することで、半導体チップ間におけるクロストークノイズの影響を受けずに高速伝送できる。
しかしながら、この技術は、積層された半導体チップ間に平面ベタ層からなる配線層を設けるため、積層された複数の半導体チップのうち、下層の半導体チップは、再配線層を2層構造とする必要があり、半導体製造工程が複雑になるという問題がある。
本発明の一観点は、製造が容易でノイズの影響を低減できる半導体装置を提供することを目的とする。
上述の課題を解決するため、本発明の一実施形態に係る半導体装置は、基板、第1半導体チップ、第2半導体チップおよび第1変換器を含む。第1半導体チップは、第1面が前記基板に対向するように前記基板に搭載される。第2半導体チップは、前記第1面と対向する前記第1半導体チップの第2面に積層される。第1変換器は、前記第2半導体チップの第1領域に配置され、デジタルアナログ変換およびデジタルアナログ変換の少なくとも1つを行なう。前記第1領域は、前記第2面に垂直な方向からみた場合に、前記第1半導体チップと重ならない領域を有する。
以下、図面を参照しながら本開示の一実施形態に係る半導体装置について詳細に説明する。なお、以下の実施形態では、同一の番号を付した部分については同様の動作を行うものとして、重ねての説明を省略する。
(第1の実施形態)
第1の実施形態に係る半導体装置について図1A及び図1Bを参照して説明する。図1Aは、Z軸方向から半導体装置を見た図であり、図1Bは、図1A中の線分A−A’間をx軸方向から半導体装置の断面図である。
第1の実施形態に係る半導体装置100は、第1半導体チップ101、第2半導体チップ102、基板103および変換器104(第1変換器ともいう)を含む。
第1の実施形態に係る半導体装置について図1A及び図1Bを参照して説明する。図1Aは、Z軸方向から半導体装置を見た図であり、図1Bは、図1A中の線分A−A’間をx軸方向から半導体装置の断面図である。
第1の実施形態に係る半導体装置100は、第1半導体チップ101、第2半導体チップ102、基板103および変換器104(第1変換器ともいう)を含む。
第1半導体チップ101は、例えばシリコン、シリコンゲルマニウム、ガリウム砒素などの材料による半導体基板からなり、半導体基板の内部または表層に銅、アルミ、金等で金属素子が形成されたものである。第1半導体チップ101は、第1半導体チップ101の第1面106が基板103と対向するように基板103上に積層される。なお、第1半導体チップ101は、誘電体基板や磁性体基板、金属、もしくはそれらの組み合わせでもよい。また、CSP(Chip Size Package)で構成されてもよい。
第2半導体チップ102は、例えばメモリチップであり、第1半導体チップ101と同様の半導体基板である。第2半導体チップ102は、第1面106と対向する第1半導体チップ101の第2面107上に積層される。第1半導体チップ101と第2半導体チップ102とは、基板103の配線および接地などと、ボンディングワイヤまたはバンプなどとを通じて電気的に接続される。
第2半導体チップ102は、例えばメモリチップであり、第1半導体チップ101と同様の半導体基板である。第2半導体チップ102は、第1面106と対向する第1半導体チップ101の第2面107上に積層される。第1半導体チップ101と第2半導体チップ102とは、基板103の配線および接地などと、ボンディングワイヤまたはバンプなどとを通じて電気的に接続される。
基板103は、第1半導体チップ101を搭載する基板である。なお、図示しないが、基板103上に、チップコンデンサ、抵抗、インダクタおよびICなどの部品が実装されてもよい。
変換器104は、アナログデジタル変換器またはデジタルアナログ変換器の少なくともどちらか1つであり、第1半導体チップ101の第2面107と対向する第2半導体チップ102の面に対向する、第2半導体チップ102の第1領域105内に配置される。なお、変換器104は、第2半導体チップ102の表面に限らず、誘電体層などの下に配置されてもよい。さらに、第1半導体チップ101の第2面107に垂直な方向からみた場合に、第1領域105が第1半導体チップ101と重ならないように積層される。なお、第1領域105が第1半導体チップ101と重ならないように積層されることが望ましいが、第1領域105が第1半導体チップ101と重なる領域を有してもよい。第2半導体チップ102の第1領域105以外の領域は、例えばデジタル信号処理を行なう素子が含まれる領域である。
なお、第1半導体チップ101、第2半導体チップ102および基板103は、図1A及び図1Bでは正方形の形状であるが、正方形に限らず、四角形、四角形以外の多角形、円形または他の複雑な形状でもよい。
変換器104は、アナログデジタル変換器またはデジタルアナログ変換器の少なくともどちらか1つであり、第1半導体チップ101の第2面107と対向する第2半導体チップ102の面に対向する、第2半導体チップ102の第1領域105内に配置される。なお、変換器104は、第2半導体チップ102の表面に限らず、誘電体層などの下に配置されてもよい。さらに、第1半導体チップ101の第2面107に垂直な方向からみた場合に、第1領域105が第1半導体チップ101と重ならないように積層される。なお、第1領域105が第1半導体チップ101と重ならないように積層されることが望ましいが、第1領域105が第1半導体チップ101と重なる領域を有してもよい。第2半導体チップ102の第1領域105以外の領域は、例えばデジタル信号処理を行なう素子が含まれる領域である。
なお、第1半導体チップ101、第2半導体チップ102および基板103は、図1A及び図1Bでは正方形の形状であるが、正方形に限らず、四角形、四角形以外の多角形、円形または他の複雑な形状でもよい。
ここで、第2半導体チップ102の第1領域105が第1半導体チップ101と重なるように積層される場合を想定する。この場合は、第1領域105の直下に第1半導体チップ101が存在することになる。よって、第1領域105に形成されるアナログデジタル変換器およびデジタルアナログ変換器が、第1領域105の直下に位置する第1半導体チップ101に形成される配線や接地からノイズの影響を受けやすい。
また、第1領域105の直下に第1半導体チップ101における配線および接地が無い場合でも、第1半導体チップ101の基板部分を媒体としてノイズが伝搬することにより、第1領域105に存在するアナログデジタル変換器およびデジタルアナログ変換器が影響を受けることとなる。
また、第1領域105の直下に第1半導体チップ101における配線および接地が無い場合でも、第1半導体チップ101の基板部分を媒体としてノイズが伝搬することにより、第1領域105に存在するアナログデジタル変換器およびデジタルアナログ変換器が影響を受けることとなる。
よって、本実施形態に示すように、第2半導体チップ102の第1領域105を第1半導体チップ101と重ならないように積層することで、第1領域105に形成されるアナログデジタル変換器およびデジタルアナログ変換器がノイズの影響を受けにくくなる。
なお、第1領域105の面積は、第2半導体チップ102の面積の半分よりも小さく、さらに、第2半導体チップの中央よりも端部に近い領域に配置することが望ましい。
このようにすることで、第1領域105以外で第1半導体チップ101と第2半導体チップ102とが重なる面積が大きくなり、より広い面積で第2半導体チップ102を第1半導体チップ101に固定することができ、製造が容易となる。
このようにすることで、第1領域105以外で第1半導体チップ101と第2半導体チップ102とが重なる面積が大きくなり、より広い面積で第2半導体チップ102を第1半導体チップ101に固定することができ、製造が容易となる。
なお、図1Aおよび図1Bでは、第1領域105は矩形形状であるが、これに限らずL字形状であってもよいし、他の形状であってもよい。
以上に示した第1の実施形態によれば、第1領域の直下に、ノイズを発生させる配線または接地、ノイズを伝搬させる媒体を有する第1半導体チップが存在しないため、第1領域に含まれるアナログデジタル変換器およびデジタルアナログ変換器がノイズの影響を受けにくくすることができ、さらに製造が容易となる。
(第2の実施形態)
第2の実施形態に係る半導体装置200について図2A及び図2Bを参照して説明する。
図2Aは、Z軸方向から半導体装置200を見た図であり、図2Bは、図2A中のA−A’間をx軸方向から見た半導体装置200の断面図である。
第2の実施形態に係る半導体装置200は、第1半導体チップ101、第2半導体チップ201、基板103および変換器104を含む。
第1半導体チップ101および基板103は、第1の実施形態と同様であるのでここでの説明は省略する。
第2の実施形態に係る半導体装置200について図2A及び図2Bを参照して説明する。
図2Aは、Z軸方向から半導体装置200を見た図であり、図2Bは、図2A中のA−A’間をx軸方向から見た半導体装置200の断面図である。
第2の実施形態に係る半導体装置200は、第1半導体チップ101、第2半導体チップ201、基板103および変換器104を含む。
第1半導体チップ101および基板103は、第1の実施形態と同様であるのでここでの説明は省略する。
第2半導体チップ201は、第1の実施形態に係る第2半導体チップ102とほぼ同様の構成であるが、形状が長方形である点が第1の実施形態と異なる。第2半導体チップ201は、第1の実施形態と同様に、アナログデジタル変換器およびデジタルアナログ変換器の少なくともどちらか1つを含む第1領域202を有する。第1領域202は、第1半導体チップ101の第2面107に垂直な方向からみた場合に、第2半導体チップ201の中央よりも第1長辺203側に寄って、第1長辺203と略平行した長方形状として位置する。
第1長辺203は、第1半導体チップ101の第2面107に垂直な方向からみた場合に、第2半導体チップ201の辺のうちの第1半導体チップ101と重ならない長辺である。
第1長辺203は、第1半導体チップ101の第2面107に垂直な方向からみた場合に、第2半導体チップ201の辺のうちの第1半導体チップ101と重ならない長辺である。
次に、第2半導体チップ201の短辺側に第1領域を形成する半導体装置の一例を図3Aおよび図3Bに示す。図3Aは、Z軸方向から半導体装置300を見た図であり、図3Bは、図3A中のA−A’間をx軸方向から見た半導体装置300の断面図である。
図3Aおよび図3Bに示す半導体装置300は、第2半導体チップ201は図2Aおよび図2Bに示す第2半導体チップ201と同一であるが、第1領域301が、積層方向からみた場合、第2半導体チップ201の中央よりも、第1短辺302側に略並行して配置される。
図3Aおよび図3Bに示す半導体装置300は、第2半導体チップ201は図2Aおよび図2Bに示す第2半導体チップ201と同一であるが、第1領域301が、積層方向からみた場合、第2半導体チップ201の中央よりも、第1短辺302側に略並行して配置される。
図3Aおよび図3Bに示すように、第1短辺302側に第1領域301が配置される場合は、第1領域と最も近い第1半導体チップ101の1辺と第1短辺302との長さD1が、図2Aおよび図2Bに示す第1領域と最も近い第1半導体チップ101の1辺と第1長辺203との長さD1よりも長くなるので、第2半導体チップ201を第1半導体チップ101に固定しにくくなる。
以上に示した第2の実施形態によれば、第2半導体チップを長方形状とし、第1半導体チップ101の第2面107に垂直な方向からみた場合に、第1領域を第2半導体チップの辺のうちの第1半導体チップと重ならない長辺によせて配置することにより、第1半導体チップからはみ出す部分の第1半導体チップの辺からの長さが短くなるので、第2半導体チップを第1半導体チップに固定しやすくなり、より製造が容易であり、かつ変換器へのノイズの影響を抑制できる。
なお、第2の実施形態では、第2半導体チップ201が長方形である例を示すが、長方形に限らず、楕円や他の正多角形以外の多角形であってもよい。このような場合は、第2半導体チップ201における第1方向の中心線(楕円であれば、長軸)と、第1方向に直交する第2方向の中心線(楕円であれば、短軸)が交わる点を中心とした際に、第1領域が第2半導体チップ201の中心よりも第1方向における端部側に位置するようにすればよい。
(第3の実施形態)
第3の実施形態に係る半導体装置400について図4Aおよび図4Bを参照して説明する。
図4Aは、Z軸方向から半導体装置400を見た図であり、図4Bは、図4A中のA−A’間をx軸方向から見た半導体装置400の断面図である。
第3の実施形態に係る半導体装置400は、第1半導体チップ401、第2半導体チップ201、基板103および変換器104を含む。
第2半導体チップ201、基板103および変換器104は、上述した実施形態における第2半導体チップ201および基板103と同一であるのでここでの説明を省略する。
第3の実施形態に係る半導体装置400について図4Aおよび図4Bを参照して説明する。
図4Aは、Z軸方向から半導体装置400を見た図であり、図4Bは、図4A中のA−A’間をx軸方向から見た半導体装置400の断面図である。
第3の実施形態に係る半導体装置400は、第1半導体チップ401、第2半導体チップ201、基板103および変換器104を含む。
第2半導体チップ201、基板103および変換器104は、上述した実施形態における第2半導体チップ201および基板103と同一であるのでここでの説明を省略する。
第1半導体チップ401は、アナログデジタル変換器およびデジタルアナログ変換器の少なくともどちらか1つ(第2変換器ともいう)を含む第2領域402を有する点が上述した第1半導体チップ101とは異なる。
第2領域402は、第1半導体チップ401の第2面107に垂直な方向からみた場合、第2半導体チップ201と重ならない位置に配置される。すなわち、第1領域105と第2領域402がそれぞれ重ならないように、第1半導体チップ401上に第2半導体チップ201が積層される。
以上に示した第3の実施形態によれば、第1領域が第1半導体チップと重ならないように配置され、かつ、第2領域が第2半導体チップと重ならないように配置されるので、第1領域および第2領域共に、半導体チップからのノイズから受ける影響を低減することができる。
(第4の実施形態)
第4の実施形態に係る半導体装置500について図5Aおよび図5Bを参照して説明する。
図5Aは、Z軸方向から半導体装置500を見た図であり、図5Bは、図5中のA−A’間をx軸方向から見た半導体装置500の断面図である。
第4の実施形態に係る半導体装置500は、第1半導体チップ101、第2半導体チップ102、基板103、変換器104、第3半導体チップ501およびボンディングワイヤ502を含む。
第4の実施形態に係る半導体装置500について図5Aおよび図5Bを参照して説明する。
図5Aは、Z軸方向から半導体装置500を見た図であり、図5Bは、図5中のA−A’間をx軸方向から見た半導体装置500の断面図である。
第4の実施形態に係る半導体装置500は、第1半導体チップ101、第2半導体チップ102、基板103、変換器104、第3半導体チップ501およびボンディングワイヤ502を含む。
第1半導体チップ101、第2半導体チップ102および基板103は、上述した実施形態における第1半導体チップ101、第2半導体チップ102および基板103と同一であるので、ここでの説明を省略する。
第3半導体チップ501は、第1半導体チップ101および第2半導体チップ102と同様に構成される半導体チップであり、例えば、アンプ、ミキサ、発振器といったアナログ回路の機能を有する。なお、第3半導体チップ501は、誘電体基板、磁性体基板、金属またはそれらの組み合わせでもよいし、CSPで構成されてもよい。また、第3半導体チップ501の形状は、図5Aおよび図5Bでは長方形であるが、これに限らず、四角形、多角形、円形、その他の複雑な形状であってもよい。
なお、図示しないが、第3半導体チップ501は、基板103の配線または接地と、ボンディングワイヤまたはバンプなどにより電気的に接続される。また、第3半導体チップ501は、第1半導体チップ101とも電気的に接続されてもよい。
ボンディングワイヤ502は、第2半導体チップ102と第3半導体チップ501とを電気的に接続する。ボンディングワイヤ502は、例えば金、銅、アルミといった導体で形成される。
第3半導体チップ501は、第1半導体チップ101および第2半導体チップ102と同様に構成される半導体チップであり、例えば、アンプ、ミキサ、発振器といったアナログ回路の機能を有する。なお、第3半導体チップ501は、誘電体基板、磁性体基板、金属またはそれらの組み合わせでもよいし、CSPで構成されてもよい。また、第3半導体チップ501の形状は、図5Aおよび図5Bでは長方形であるが、これに限らず、四角形、多角形、円形、その他の複雑な形状であってもよい。
なお、図示しないが、第3半導体チップ501は、基板103の配線または接地と、ボンディングワイヤまたはバンプなどにより電気的に接続される。また、第3半導体チップ501は、第1半導体チップ101とも電気的に接続されてもよい。
ボンディングワイヤ502は、第2半導体チップ102と第3半導体チップ501とを電気的に接続する。ボンディングワイヤ502は、例えば金、銅、アルミといった導体で形成される。
図5Aおよび図5Bに示すように、第2半導体チップ102が第1半導体チップ101に積層されているので、第1半導体チップ101、第2半導体チップ102および第3半導体チップ501をそれぞれ積層することなく基板103に直接配置する場合よりも、小さい面積で配置することができる。小面積で配置することができるので基板上の限られたスペースを有効利用できる。また、第3半導体チップ501は第1半導体チップ101と重なっていないため、第1半導体チップ101から発生するノイズが第3半導体チップ501に含まれるアナログ回路に与える影響を軽減できる。
ここで、第2半導体チップ102と第3半導体チップ501とは無線機を構成してもよい。ここでいう無線機とは、送信機、受信機、または送受信機を指す。図5Aおよび図5Bに示す半導体装置500によれば、第2半導体チップ102の第1領域105に含まれるアナログデジタル変換器またはデジタルアナログ変換器が、第1半導体チップ101からのノイズの影響を受けにくい無線機を構成することができる。
ここで、第2半導体チップ102と第3半導体チップ501とは無線機を構成してもよい。ここでいう無線機とは、送信機、受信機、または送受信機を指す。図5Aおよび図5Bに示す半導体装置500によれば、第2半導体チップ102の第1領域105に含まれるアナログデジタル変換器またはデジタルアナログ変換器が、第1半導体チップ101からのノイズの影響を受けにくい無線機を構成することができる。
次に、第4の実施形態の変形例について図6を参照して説明する。
図6に示す半導体装置600は、図5Aおよび図5Bに示す半導体装置500に加え、第4半導体チップ601を含む。
第4半導体チップ601は、第2半導体チップ102とボンディングワイヤ502で電気的に接続される。これにより、第3半導体チップ501と第4半導体チップ601とは、第2半導体チップ102の第1領域105に含まれるアナログデジタル変換器およびデジタルアナログ変換器の少なくともどちらか1つを共有することができる。
図6に示す半導体装置600は、図5Aおよび図5Bに示す半導体装置500に加え、第4半導体チップ601を含む。
第4半導体チップ601は、第2半導体チップ102とボンディングワイヤ502で電気的に接続される。これにより、第3半導体チップ501と第4半導体チップ601とは、第2半導体チップ102の第1領域105に含まれるアナログデジタル変換器およびデジタルアナログ変換器の少なくともどちらか1つを共有することができる。
第3半導体チップ501と第4半導体チップ601とはそれぞれ異なる無線システムの高周波アナログ回路として動作し、第2半導体チップ102の第1領域105に含まれるアナログデジタル変換器およびデジタルアナログ変換器の少なくともどちらか1つを共有することができ、第4半導体チップ601用に別途アナログデジタル変換器またはデジタルアナログ変換器を基板上に設けるよりも、基板上のスペースを有効利用することができる。
なお、第2半導体チップ102をボンディングワイヤを用いずに第3半導体チップ501に接続してもよい。第2半導体チップの接続例を図7Aおよび図7Bに示す。
図7Aおよび図7Bに示す半導体装置700は、第2半導体チップ102を第3半導体チップ501に直接積層する。さらに、第2半導体チップ102上にある配線を第3半導体チップ501上にある配線および接地にスルーホール701を用いて電気的に接続する。また、第2半導体チップ102の第1領域105は、第1半導体チップ101および第3半導体チップ501に重ならないように積層すればよい。
このように第2半導体チップを第3半導体チップに直接積層することで、第2半導体チップを第3半導体チップにボンディングワイヤで接続するよりも強度を高めつつノイズの影響を低減することができる。
以上に示した第4の実施形態によれば、第3半導体チップを設けることで、第1半導体チップのノイズの影響を低減した無線機を提供することができ、第1半導体チップ上に第2半導体チップが積層されていることにより、基板上のスペースを有効利用することができる。さらに、第3半導体チップは第1半導体チップに積層されずに間隔を空けて配置されるため、第3半導体チップのアナログ回路のノイズの影響を低減することができる。
(第5の実施形態)
第5の実施形態に係る半導体装置800について図8Aおよび図8Bを参照して説明する。
図8Aは、Z軸方向から半導体装置800を見た図であり、図8Bは、図8中のA−A’間をx軸方向から見た半導体装置800の断面図である。
第5の実施形態に係る半導体装置800は、第1半導体チップ101、第2半導体チップ102、基板103、変換器104、第3半導体チップ501、ボンディングワイヤ502、ボンディングワイヤ801およびアンテナ802を含む。第1半導体チップ101、第2半導体チップ102、基板103、第3半導体チップ501およびボンディングワイヤ502については、図5Aおよび図5Bに示す半導体装置500とほぼ同様であるので説明を省略する。
第5の実施形態に係る半導体装置800について図8Aおよび図8Bを参照して説明する。
図8Aは、Z軸方向から半導体装置800を見た図であり、図8Bは、図8中のA−A’間をx軸方向から見た半導体装置800の断面図である。
第5の実施形態に係る半導体装置800は、第1半導体チップ101、第2半導体チップ102、基板103、変換器104、第3半導体チップ501、ボンディングワイヤ502、ボンディングワイヤ801およびアンテナ802を含む。第1半導体チップ101、第2半導体チップ102、基板103、第3半導体チップ501およびボンディングワイヤ502については、図5Aおよび図5Bに示す半導体装置500とほぼ同様であるので説明を省略する。
ボンディングワイヤ801は、第3半導体チップ501に形成されるアナログ回路とアンテナ802とを電気的に接続する。
アンテナ802は、図8A及び図8Bの例では、アンテナ802は左右対称なダイポールアンテナであるが、これに限らずに非対称な形状でもよく、逆Fアンテナ、パッチアンテナ、八木アンテナ、誘電体アンテナまたはその他のアンテナでもよい。さらに、配置されるアンテナ802の数は1つに限らず、複数でもよい。また、アンテナ802は基板103上に形成されているが、第3半導体チップ501上でもよいし、ボンディングワイヤ801により形成されてもよいし、それらの組み合わせでもよい。また、アンテナ802は、第3半導体チップ501とボンディングワイヤ801とで接続されているが、バンプまたは基板103の配線により接続されてもよい。
次に、第5の実施形態に係る半導体装置800の変形例について図9を参照して説明する。
図9に示す半導体装置900は、図8Aおよび図8Bに示す半導体装置800に加え、高周波アナログ回路901、ボンディングワイヤ902、配線903およびアンテナ904を含む。高周波アナログ回路901は、第2半導体チップ102上に形成される、第3半導体チップ501に形成されるアナログ回路による第1無線システムとは無線システムが異なる、第2無線システムのアナログ回路である。
アンテナ802は、図8A及び図8Bの例では、アンテナ802は左右対称なダイポールアンテナであるが、これに限らずに非対称な形状でもよく、逆Fアンテナ、パッチアンテナ、八木アンテナ、誘電体アンテナまたはその他のアンテナでもよい。さらに、配置されるアンテナ802の数は1つに限らず、複数でもよい。また、アンテナ802は基板103上に形成されているが、第3半導体チップ501上でもよいし、ボンディングワイヤ801により形成されてもよいし、それらの組み合わせでもよい。また、アンテナ802は、第3半導体チップ501とボンディングワイヤ801とで接続されているが、バンプまたは基板103の配線により接続されてもよい。
次に、第5の実施形態に係る半導体装置800の変形例について図9を参照して説明する。
図9に示す半導体装置900は、図8Aおよび図8Bに示す半導体装置800に加え、高周波アナログ回路901、ボンディングワイヤ902、配線903およびアンテナ904を含む。高周波アナログ回路901は、第2半導体チップ102上に形成される、第3半導体チップ501に形成されるアナログ回路による第1無線システムとは無線システムが異なる、第2無線システムのアナログ回路である。
ボンディングワイヤ902は、高周波アナログ回路901と配線903とを電気的に接続する。
配線903は、基板上に配置される金属パターンである。
アンテナ904は、アンテナ802が送受信するために利用する周波数帯よりも低い周波数帯を想定しており、図9ではダイポールアンテナであるが、上述したようなその他のアンテナでもよい。アンテナ904は、基板103に形成されているが、一部または全体がボンディングワイヤ902で形成されていてもよい。また、アンテナ904の種類によっては配線903を含まなくてもよい。
配線903は、基板上に配置される金属パターンである。
アンテナ904は、アンテナ802が送受信するために利用する周波数帯よりも低い周波数帯を想定しており、図9ではダイポールアンテナであるが、上述したようなその他のアンテナでもよい。アンテナ904は、基板103に形成されているが、一部または全体がボンディングワイヤ902で形成されていてもよい。また、アンテナ904の種類によっては配線903を含まなくてもよい。
第2無線システムで利用する周波数帯は、第3半導体チップ501に形成された高周波アナログ回路において利用する第1無線システムの周波数帯よりも低いため、ボンディングワイヤ902および配線903によって生じる伝送損失が小さい。よって、高周波アナログ回路901からアンテナ904までの伝送距離を長くすることができる。
以上に示した第5の実施形態によれば、第3半導体チップにアンテナを接続することで、第2半導体チップに形成されるアナログデジタル変換器およびデジタルアナログ変換器の少なくとも1つが、第1半導体チップからのノイズの影響を受けにくいアンテナ付き無線機を生成することができる。
(第6の実施形態)
第6の実施形態に係る半導体装置1000について図10Aおよび図10Bを参照して説明する。
図10Aは、Z軸方向から半導体装置1000を見た図であり、図10Bは、図10A中のA−A’間をx軸方向から見た半導体装置1000の断面図である。
第6の実施形態に係る半導体装置1000は、第1半導体チップ101、第2半導体チップ102、基板103、変換器104、第3半導体チップ501、ボンディングワイヤ502および部品1001を含む。
第6の実施形態に係る半導体装置1000について図10Aおよび図10Bを参照して説明する。
図10Aは、Z軸方向から半導体装置1000を見た図であり、図10Bは、図10A中のA−A’間をx軸方向から見た半導体装置1000の断面図である。
第6の実施形態に係る半導体装置1000は、第1半導体チップ101、第2半導体チップ102、基板103、変換器104、第3半導体チップ501、ボンディングワイヤ502および部品1001を含む。
第1半導体チップ101、第2半導体チップ102、基板103、変換器104、第3半導体チップ501、ボンディングワイヤ502は、図5Aおよび図5Bに示す半導体装置500とほぼ同様であるので説明を省略する。
部品1001は、基板103に搭載される半導体チップ以外の要素であり、IC、抵抗、キャパシタなどの部品である。部品1001は、第2半導体チップ102の第2面107に垂直な方向からみた場合、ボンディングワイヤ502の下の基板103上に配置され、図10Bに示すように第1半導体チップ101と第3半導体チップ501との間に配置される。このように配置することで、基板103上の面積を有効に利用することができる。
次に、部品1001の配置の変形例を図11Aおよび図11Bに示す。
図11Aは、Z軸方向から半導体装置1100を見た図であり、図11Bは、図11A中のA−A’間をx軸方向から見た半導体装置1100の断面図である。
半導体装置1100は、図10Aおよび図10Bに示す半導体装置1000とほぼ同様の構成であるが、部品が配置される位置が異なる。
図11Aは、Z軸方向から半導体装置1100を見た図であり、図11Bは、図11A中のA−A’間をx軸方向から見た半導体装置1100の断面図である。
半導体装置1100は、図10Aおよび図10Bに示す半導体装置1000とほぼ同様の構成であるが、部品が配置される位置が異なる。
図11Aおよび図11Bに示すように、第2半導体チップ102の第2面107に垂直な方向からみた場合、部品1001が第2半導体チップ102の第1領域105と重なるように配置される。このとき、部品1001の一部が第1領域105の下に重なるように配置されてもよいし、部品1001の全てが第1領域105の下に重なってもよい。
図10Aおよび図10Bおよび図11Aおよび図11Bに示すように、第2半導体チップ102が、積層方向に第1半導体チップ101の厚さ分底上げされた高さを有するため、第2半導体チップ102に接続されるボンディングワイヤ502も第1半導体チップ101の厚さ分底上げされることになる。従って、第2半導体チップ102と第3半導体チップ501とを接続するボンディングワイヤ502の位置も高くなるため、ボンディングワイヤ502と部品1001とは干渉しにくくなる。
以上に示した第6の実施形態によれば、第2半導体チップの第2面に垂直な方向からみた場合、ボンディングワイヤおよび第2半導体チップの第1領域の少なくとも一方の下に部品を配置することにより、基板上の面積を有効に利用することができる。
(第7の実施形態)
第7の実施形態に係る半導体装置1200について図12Aおよび図12Bを参照して説明する。図12Aおよび図12Bに示す半導体装置1200は、BGA(Ball Grid Array)パッケージの例を示す。
図12Aは、Z軸方向から半導体装置1200を見た図であり、図12Bは、図12A中のA−A’間をx軸方向から見た半導体装置1200の断面図である。
第7の実施形態に係る半導体装置1200は、第1半導体チップ101、第2半導体チップ102、基板103、変換器104、第3半導体チップ501、ボンディングワイヤ502、ボンディングワイヤ801、アンテナ802、端子1201および封止剤1202を含む。
第7の実施形態に係る半導体装置1200について図12Aおよび図12Bを参照して説明する。図12Aおよび図12Bに示す半導体装置1200は、BGA(Ball Grid Array)パッケージの例を示す。
図12Aは、Z軸方向から半導体装置1200を見た図であり、図12Bは、図12A中のA−A’間をx軸方向から見た半導体装置1200の断面図である。
第7の実施形態に係る半導体装置1200は、第1半導体チップ101、第2半導体チップ102、基板103、変換器104、第3半導体チップ501、ボンディングワイヤ502、ボンディングワイヤ801、アンテナ802、端子1201および封止剤1202を含む。
半導体装置1200は、端子1201および封止剤1202以外は、図8Aおよび図8Bの半導体装置800と同様の構成である。
端子1201は、例えば半田ボールであり、他の基板、装置などと接続するために形成される導体である。端子1201は、第1半導体チップ101が搭載される基板103の上面1203(第3面ともいう)と対向する第1基板103の下面1204(第4面ともいう)に複数形成される。
封止剤1202は、例えば、エポキシ樹脂を主成分に、シリカ充填材等を加えた熱硬化性成形材料で形成され、半導体チップを保護するために、基板103の上面1203に充填される。
図12Aおよび図12Bに示す半導体装置1200は、BGAパッケージを想定しているが、他の半導体パッケージでもよいし、封止剤で封止されたモジュールでもよい。また、端子1201は、半田ボールであるが、半田ボールに限らず、基板103の下面1204にパッドを形成してもよい。
以上に示した第7の実施形態によれば、基板の下面に複数の端子を形成することで、半導体装置の外との接続が容易となる。また、基板の上面を封止剤で封止することで、基板の上面に搭載される半導体チップ、ボンディングワイヤなどを外部の環境から保護することができる。
(第8の実施形態)
図12Aおよび図12Bに示したような半導体装置を無線機器に用いることも可能である。第5の実施形態から第7の実施形態までに係る半導体装置を搭載した無線機器の一例について説明する。無線機器は、データまたは画像や動画をやりとりする機器に上述した半導体装置を搭載した機器である。
図12Aおよび図12Bに示したような半導体装置を無線機器に用いることも可能である。第5の実施形態から第7の実施形態までに係る半導体装置を搭載した無線機器の一例について説明する。無線機器は、データまたは画像や動画をやりとりする機器に上述した半導体装置を搭載した機器である。
はじめに、第8の実施形態に係る無線機器について図13のブロック図を参照して説明する。
図13に示す無線機器1300は、半導体装置1301、プロセッサ1302およびメモリ1303を含む。
半導体装置1301は、外部とデータの送受信を行う。なお、第4の実施形態から第7の実施形態のいずれの半導体装置を用いてもよい。
プロセッサ1302は、半導体装置1301から受け取ったデータ、または半導体装置1301へ送信するデータを処理する。
メモリ1303は、プロセッサ1302からデータを受け取って保存する。
図13に示す無線機器1300は、半導体装置1301、プロセッサ1302およびメモリ1303を含む。
半導体装置1301は、外部とデータの送受信を行う。なお、第4の実施形態から第7の実施形態のいずれの半導体装置を用いてもよい。
プロセッサ1302は、半導体装置1301から受け取ったデータ、または半導体装置1301へ送信するデータを処理する。
メモリ1303は、プロセッサ1302からデータを受け取って保存する。
次に、半導体装置1301を搭載した無線機器の一例について図14を参照して説明する。
無線機器は、ここでは例えばノートPC1401及び携帯端末1402である。ノートPC1401および携帯端末1402はそれぞれ、内部または外部に半導体装置1301を搭載し、例えばミリ波帯の周波数を用いて半導体装置1301を介したデータ通信を行う。
無線機器は、ここでは例えばノートPC1401及び携帯端末1402である。ノートPC1401および携帯端末1402はそれぞれ、内部または外部に半導体装置1301を搭載し、例えばミリ波帯の周波数を用いて半導体装置1301を介したデータ通信を行う。
ノートPC1401に搭載された半導体装置1301と携帯端末1402に搭載された半導体装置1301とは、アンテナの指向性が強い方向が対向するように配置することで、データのやりとりを効率よく行うことができる。
図14の例では、ノートPC1401および携帯端末1402を示すが、これに限らず、TV、デジタルカメラ、メモリーカードなどの機器に半導体装置を搭載してもよい。
図14の例では、ノートPC1401および携帯端末1402を示すが、これに限らず、TV、デジタルカメラ、メモリーカードなどの機器に半導体装置を搭載してもよい。
以上に示した第8の実施形態によれば、上述した半導体装置をノートPC及び携帯端末などのようなデータ通信を行なう通信機器に搭載することで、データの送受信をノイズの影響を低減して効率よく行なうことができる。
(第9の実施形態)
半導体装置をメモリーカードに搭載した無線機器の一例を図15Aおよび図15Bに示す。
図15Aは、Z軸方向から無線機器1500を見た図であり、図15Bは、図15A中のA−A’間をx軸方向から見た無線機器1500の断面図である。図15Aおよび図15Bに示す無線機器1500は、メモリーカードを想定しており、図12Aおよび図12Bに示す無線機器とほぼ同様であるが、基板103の下面1204に形成される複数の端子1201をパッド1501に置き換えて形成した点が異なる。
半導体装置をメモリーカードに搭載した無線機器の一例を図15Aおよび図15Bに示す。
図15Aは、Z軸方向から無線機器1500を見た図であり、図15Bは、図15A中のA−A’間をx軸方向から見た無線機器1500の断面図である。図15Aおよび図15Bに示す無線機器1500は、メモリーカードを想定しており、図12Aおよび図12Bに示す無線機器とほぼ同様であるが、基板103の下面1204に形成される複数の端子1201をパッド1501に置き換えて形成した点が異なる。
これによって、無線機器1500は半導体装置を含むことにより、ノートPCや携帯端末、デジタルカメラなどと無線通信を行なうことができる。
以上に示した第6の実施形態によれば、半導体装置をノートPCまたは携帯端末等と無線によりデータ通信を行う半導体装置にメモリーカードに搭載することで、ノイズの影響が少ない無線通信機能付きのメモリーカードを提供でき、データ等の送受信を効率よく行うことができる。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
100,200,300,400,500,600,700,800,900,1000,1100,1200,1301・・・半導体装置、101,401・・・第1半導体チップ、102、201・・・第2半導体チップ、103・・・基板、104・・・変換器、105,202,301・・・第1領域、106・・・第1面、107・・・第2面、203・・・第1長辺、302・・・第1短辺、402・・・第2領域、501・・・第3半導体チップ、502,801,902・・・ボンディングワイヤ、601・・・第4半導体チップ、701・・・スルーホール、802,904・・・アンテナ、901・・・高周波アナログ回路、903・・・配線、1001・・・部品、1201・・・端子、1202・・・封止剤、1203・・・上面、1204・・・下面、1205・・・パッケージ、1300,1500・・・無線機器、1302・・・プロセッサ、1303・・・メモリ、1401・・・ノートPC、1402・・・携帯端末、1500・・・無線機器、1501・・・パッド。
Claims (9)
- 基板と、
第1面が前記基板に対向するように前記基板に搭載される第1半導体チップと、
前記第1面と対向する前記第1半導体チップの第2面に積層される第2半導体チップと、
前記第2半導体チップの第1領域に配置され、デジタルアナログ変換およびデジタルアナログ変換の少なくとも1つを行なう第1変換器と、を具備し、
前記第1領域は、前記第2面に垂直な方向からみた場合に、前記第1半導体チップと重ならない領域を有する半導体装置。 - 前記第1領域は、前記第2面に垂直な方向からみた場合に、前記第1半導体チップと重ならない請求項1に記載の半導体装置。
- 前記第2面に垂直な方向からみた場合において、前記第1領域の面積は、前記第2半導体チップの面積の半分よりも小さく、前記第1領域が前記第2半導体チップの中央よりも端部側に位置する請求項1または請求項2に記載の半導体装置。
- 前記第2半導体チップの形状が長方形であり、前記第1領域が前記第2半導体チップの第1長辺に平行した形状であり、かつ前記第2半導体チップの中央よりも該第1長辺側に位置する請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の半導体装置。
- 前記第1半導体チップの第2領域に配置され、デジタルアナログ変換およびデジタルアナログ変換の少なくとも1つを行なう第2変換器をさらに具備し、
前記第2面に垂直な方向からみた場合、前記第2領域が前記第2半導体チップと重ならない請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の半導体装置。 - 前記基板に積層され、アナログ回路を含む第3半導体チップをさらに具備し、
前記第2半導体チップと前記第3半導体チップとを電気的に接続する請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の半導体装置。 - 前記第3半導体チップに接続されるアンテナをさらに具備する請求項6に記載の半導体装置。
- 前記基板上における前記第1半導体チップと前記第3半導体チップとの間に配置される部品をさらに具備する請求項6または請求項7に記載の半導体装置。
- 前記第1面と対向する前記基板の第3面に対向する前記基板の第4面に形成される複数の端子と、
前記第3面上を封止剤により封止する封止部と、をさらに具備する請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の半導体装置。
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