JP5528539B2 - 内蔵型直列絶縁抵抗器を有する試験信号伝達チャネルを利用した自動試験装置 - Google Patents
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Description
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- パッケージ化集積回路(IC)デバイスの高速試験のための自動試験装置であって、前記各パッケージ化ICデバイスは半導体IC、並びに前記半導体ICの機械的実装及び外部接続を提供するパッケージを含み、前記外部接続はパッケージ寄生リアクタンスを有する各信号入力端子を含み、
前記パッケージ化ICそれぞれの前記信号入力端子に適用される電気試験信号を生成するように動作可能なテスタチャネル回路であって、前記電気試験信号は200ps未満の信号遷移時間を有する、テスタチャネル回路と、
前記パッケージ化ICデバイスと物理的及び電気的接触を形成するように構成されたコンタクタボードであって、前記コンタクタボードは特徴的な信号伝搬速度を有し、前記コンタクタボードは、(1)前記電気試験信号が受信される電気接触子、(2)前記電気接触子から複数の絶縁領域に延びる導電性エッチであって、前記絶縁領域の各々は前記パッケージ化ICデバイスの各1つの前記信号入力端子に隣接する、導電性エッチ、及び(3)前記コンタクタボード内で前記各絶縁領域にそれぞれ形成され、前記導電性エッチと前記隣接する信号入力端子との間で接続される、複数の内蔵型直列絶縁抵抗器、を含む信号伝達チャネルを有し、既定の伝搬寸法は、前記電気試験信号の前記信号遷移時間と前記コンタクタボードの前記信号伝搬速度の積として定義され、各絶縁領域において、前記導電性エッチから前記絶縁抵抗器、前記絶縁抵抗器を通じ、ひいては前記信号入力端子までの各信号経路の長さは、前記既定の伝搬寸法の1/4未満である、コンタクタボードとを含む、自動試験装置。 - 前記直列絶縁抵抗器のそれぞれが、前記コンタクタボードの内部層として形成される平面的な抵抗層の一部を含み、前記一部は、前記一部と接触する導電性エッチの区分の各端部の間の間隙にわたって延びる、請求項1に記載の自動試験装置。
- 前記直列絶縁抵抗器のそれぞれが、前記コンタクタボードの異なる層を相互接続する各抵抗性ビアの内部に垂直に形成され、各抵抗性ビアは、前記ビア内に配置された抵抗性材料を含む、請求項1に記載の自動試験装置。
- 前記直列絶縁抵抗器の存在が、前記直列絶縁抵抗器がない、その他の点においては同一の信号伝達チャネルに対して、前記信号伝達チャネルのノイズを少なくとも1/2低減することに寄与する、請求項1〜3のいずれか一項に記載の自動試験装置。
- 前記導電性エッチが、前記導電性エッチ及び前記導電性エッチに取り付けられた関連する負荷の実効インピーダンスと同等の抵抗を有する終端抵抗器によって一端で終端し、前記関連する負荷は前記直列絶縁抵抗器及び前記導電性エッチに接続されるエッチパッケージ化ICデバイスの前記信号入力端子の前記パッケージ寄生リアクタンスを含む、請求項1〜4のいずれか一項に記載の自動試験装置。
- 前記直列絶縁抵抗器の前記抵抗が50オーム未満である、請求項1〜5のいずれか一項に記載の自動試験装置。
- 前記直列絶縁抵抗器の少なくともいくつかが、不均一な抵抗値を有する、請求項1〜6のいずれか一項に記載の自動試験装置。
- 前記電気試験信号が受信される前記電気接触子のより近くに位置するこれらの直列絶縁抵抗器の前記抵抗が、前記電気試験信号が受信される前記電気接触子からより遠くに位置するこれらの直列絶縁抵抗器の抵抗よりも大きい、請求項7に記載の自動試験装置。
- 前記導電性エッチが、全ての前記絶縁領域を相互接続する線形通路に沿って経路付けされる、請求項1〜8のいずれか一項に記載の自動試験装置。
- 前記直列絶縁抵抗器が、トリミングプロセスにおいてトリミングされて、前記トリミングプロセスの前の元の抵抗値よりも正確な最終抵抗値を提供するように構成される、請求項1〜9のいずれか一項に記載の自動試験装置。
- パッケージ化集積回路(IC)デバイスの高速試験において使用するためのコンタクタボードであって、各パッケージ化ICデバイスは半導体IC、並びに前記半導体ICの機械的実装及び外部接続を提供するパッケージを含み、前記外部接続はパッケージ寄生リアクタンスを有する各信号入力端子を含み、前記高速試験は前記パッケージ化ICそれぞれの前記信号入力端子に適用される電気試験信号の使用を含み、前記電気試験信号は200ps未満の信号遷移時間を有し、
前記パッケージ化ICデバイスと物理的及び電気的接触を形成するように構成された電気接触子と、
(1)前記電気試験信号が受信される電気接触子、(2)前記電気接触子から複数の絶縁領域に延びる導電性エッチであって、前記各絶縁領域は前記パッケージ化ICデバイスの各1つの前記信号入力端子に隣接する、導電性エッチ、及び(3)コンタクタボード内で前記各絶縁領域にそれぞれ形成され、前記導電性エッチと前記隣接する信号入力端子との間で接続される、複数の内蔵型直列絶縁抵抗器、を含む、信号伝達チャネルであって、前記コンタクタボードは特徴的な信号伝搬速度を有し、既定の伝搬寸法は、前記電気試験信号の前記信号遷移時間と前記コンタクタボードの前記信号伝搬速度の積として定義され、前記各絶縁領域において、前記導電性エッチから前記絶縁抵抗器を通じ、前記信号入力端子までの各信号経路の長さは、前記既定の伝搬寸法の1/4未満である、信号伝達チャネルとを含む、コンタクタボード。 - 前記直列絶縁抵抗器のそれぞれが、前記コンタクタボードの内部層として形成される平面的な抵抗層の一部を含み、前記部分は、前記部分と接触する導電性エッチの区分の各端部の間の間隙にわたって延びる、請求項11に記載のコンタクタボード。
- 前記直列絶縁抵抗器のそれぞれが、前記コンタクタボードの異なる層を相互接続する各抵抗性ビア内に垂直に形成され、各抵抗性ビアが前記ビア内に配置された抵抗性材料を含む、請求項11に記載のコンタクタボード。
- 前記直列絶縁抵抗器の存在が、前記直列絶縁抵抗器がない、その他の点においては同一の信号伝達チャネルに対して、前記信号伝達チャネルのノイズを少なくとも1/2低減することに寄与する、請求項11〜13のいずれか一項に記載のコンタクトボード。
- 前記導電性エッチが、前記導電性エッチ及び前記導電性エッチに取り付けられた関連する負荷の実効インピーダンスと同等の抵抗を有する終端抵抗器によって一端で終端し、前記関連する負荷は前記直列絶縁抵抗器及び前記導電性エッチに接続されるエッチパッケージ化ICデバイスの前記信号入力端子の前記パッケージ寄生リアクタンスを含む、請求項11〜14のいずれか一項に記載のコンタクタボード。
- 前記直列絶縁抵抗器の前記抵抗が50オーム未満である、請求項11〜15のいずれか一項に記載のコンタクタボード。
- 前記直列絶縁抵抗器の少なくともいくつかが、不均一な抵抗値を有する、請求項11〜16のいずれか一項に記載のコンタクタボード。
- 前記電気試験信号が受信される前記電気接触子のより近くに位置するこれらの直列絶縁抵抗器の前記抵抗が、前記電気試験信号が受信される前記電気接触子からより遠くに位置するこれらの直列絶縁抵抗器の抵抗よりも大きい、請求項17に記載のコンタクタボード。
- 前記導電性エッチが、全ての前記絶縁領域を相互接続する線形通路に沿って経路付けされる、請求項11〜18のいずれか一項に記載のコンタクタボード。
- 前記直列絶縁抵抗器が、トリミングプロセスにおいてトリミングされて前記トリミングプロセスの前の元の抵抗値よりも正確な最終抵抗値を提供するように構成される、請求項11〜19のいずれか一項に記載のコンタクタボード。
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