JP5501540B2 - 光学測定システム、光学測定方法、および光学測定システム用のミラー板 - Google Patents

Description

本発明は、光源から発生する全光束などの測定に適した、光学測定システム、光学測定方法、および光学測定システム用のミラー板に関する。

光源から発生する全光束を測定するための代表的な装置として、積分球を含む光束計が知られている。積分球は、拡散反射材料（例えば、硫酸バリウムやＰＴＦＥ（polytetrafluoroethylene）など）を塗布することで形成される反射面をその内壁に有する。測定対象の光源（以下「試料光源」とも称す。）は、この積分球内に配置された状態で点灯する。光源から発生する光束は、積分球内壁の反射面で繰り返し反射し、積分球内壁の照度を均一化する。均一化した照度が光源から発生する全光束に比例することを利用して、光源の全光束が測定される。一般的に、このような光束計によって測定される全光束は相対値となるので、既知の標準光源を用いた場合の検出値（標準値）との比較によって、試料光源から発生する全光束の校正値が測定される。

このような積分球を含む光束計では、積分球内に光源を配置するための支持部材や、光源からの光の光検出器への直接的な入射を抑制するための遮蔽板（バッフル：baffle）などによる光の吸収が避けられない。また、試料光源自体も光を吸収する。

このような光吸収に対して、日本工業規格ＪＩＳ Ｃ ８１５２：２００７，「照明用白色発光ダイオード（ＬＥＤ）の測光方法」，２００７年７月２０日（非特許文献１）には、試料光源の自己吸収を補正するための係数（自己吸収補正係数）を用いることが開示されている。この自己吸収補正係数は、積分球内に自己吸収測定用光源（典型的に、白熱電球またはタングステンハロゲン電球）を設け、試料光源を積分球内に配置した場合とそうでない場合との間で、自己吸収測定用光源が点灯することで生じるそれぞれの検出値を比較することで算出される。

さらに、支持部材などによる光吸収の影響を回避するために、特開平０６−１６７３８８号公報（特許文献１）に開示されるような、半球型の積分器（以下「積分半球」とも称す。）を含む光束計（以下「半球光束計」とも称す。）が提案されている。この半球光束計は、積分球に代えて、内壁に反射面を形成した半球部と、反射面が半球部の開口を覆うように配置された円状のミラー板とからなる積分半球を有する。そして、光源は、その中心が半球部の曲率中心と一致するように、ミラー板の中心に設置される。

このような構成によれば、光源とミラー板によって生じる当該光源の虚像とが、仮想的な積分球の内部（半球部の実空間と半球部の虚像との合成空間）にそれぞれ存在することになる。すなわち、半球光束計によれば、それを支持するための支持部材を用いることなく、仮想的な積分球内に試料光源を配置することができる。そのため、支持部材などによる光吸収による誤差を低減できる。

特開平０６−１６７３８８号公報

日本工業規格ＪＩＳ Ｃ ８１５２：２００７，「照明用白色発光ダイオード（ＬＥＤ）の測光方法」，２００７年７月２０日

近年、ＬＥＤ（Light Emitting Diode）光源の開発などに伴って、標準光源の配光とは異なる配光を有する光源を測定する必要が生じている。本発明者らは、このような光源を、従来の積分球を含む光学測定装置で測定しようとすると、配光の違いによって測定誤差が生じるという新規な技術的課題を新たに見出した。

一方、本発明者らが見出した新規な技術的課題を生じる要因についての知見によれば、上述したような半球光束計を用いる場合には、配光の違いによる測定誤差は生じにくい。しかしながら、さまざまな理由から、従来の積分球を含む光学測定装置を用いらざるをえない場合もあり、このような場合であっても、測定精度をより高めたいというニーズがある。

本発明は、このような課題を解決するためになされたものであって、その目的は、標準光源と試料光源との間の配光の違いによる測定誤差を低減するための光学測定システム、光学測定方法、および光学測定システム用のミラー板を提供することである。

本発明のある局面に従う光学測定システムは、内壁に反射面を有するとともに第１の窓を有する積分球と、前記積分球の実質的な中心位置に光源を支持するための支持部材と、前記第１の窓と前記支持部材により支持された前記光源とを結ぶ直線上に配置された第１のバッフルとを含む。前記支持部材は、前記光源に対して前記第１の窓と対向する領域において前記積分球の内壁と接続される。

好ましくは、光学測定システムは、第１の窓に接続される光検出器をさらに含む。
さらに好ましくは、第１のバッフルは、第１の窓を介した光検出器の視野範囲に支持部材が含まれないように構成される。

好ましくは、積分球には、第１の窓とは異なる位置に第２の窓が形成されており、補助光源からの光が第２の窓を介して積分球の内部へ導入され、光学測定システムは、第２の窓から積分球の内部へ導入される補助光源からの光に関連付けられた第２のバッフルをさらに含む。

好ましくは、積分球は、開閉可能に連結された第１の半球部と第２の半球部とを含む。
本発明の別の局面に従う光学測定方法は、内壁に反射面を有する積分球の実質的な中心位置に、支持部材に支持された光源を配置するステップと、積分球に形成された第１の窓を介して光源からの光を検出するステップとを含む。第１の窓と支持部材により支持された光源とを結ぶ直線上には第１のバッフルが配置され、支持部材は、光源に対して第１の窓と対向する領域において積分球の内壁と接続される。

本発明のさらに別の局面に従う光学測定システムは、各々の内壁に反射面を有し、開閉可能に連結された第１および第２の半球部と、第１および第２の半球部が閉じた状態で、第１および第２の半球部が構成する球内の実質的な中心位置で光源を点灯するための第１の支持部材と、第１および第２の半球部が開いた状態で、第１の半球部の開口を覆うように装着可能な円板状のミラー板とを含む。ミラー板は、第１の半球部の側に反射面を有する。光学測定システムは、さらに、ミラー板が第１の半球部に装着された状態で、第１の半球部とミラー板とが構成する半球内に光源を露出させて点灯するための第２の支持部材と、第１の半球部に形成された窓を介して光源からの光を検出する光検出器とを含む。

本発明のさらに別の局面に従えば、光学測定システムに向けられたミラー板が提供される。光学測定システムは、各々の内壁に反射面を有し、開閉可能に連結された第１および第２の半球部とを含む。ミラー板は、第１および第２の半球部が開いた状態で、第１の半球部の開口を覆うように装着可能になっている。ミラー板は、第１の半球部の側に反射面と、ミラー板が第１の半球部に装着された状態で、第１の半球部とミラー板とが構成する半球内に光源を露出させて点灯するための支持部材とを含む。

本発明によれば、標準光源と試料光源との間の配光の違いによる測定誤差を低減できる。

積分球を用いて光源から発生する全光束を測定するための原理を説明するための図である。 校正時に積分球内で標準光源を点灯した状態を説明するための図である。 測定時に積分球内で試料光源を点灯した状態を説明するための図である。 半球光束計の概要を示す模式図である。 実験に用いた標準光源と電球型蛍光灯との配光の違いを示す図である。 実験例１の内容を示す図である。 実験例１の内容を示す図である。 実験例２の内容を示す図である。 実験例２の内容を示す図である。 実施の形態１に従う光学測定システムの構成を示す模式図である。 実施の形態１に従う光学測定システムの構成を示す模式図である。 実施の形態１に従う光学測定システムの構成を示す模式図である。 実施の形態１の変形例１に従う光学測定システムの構成を示す模式図である。 実施の形態１の変形例２に従う光学測定システムの構成を示す模式図である。 実施の形態１の変形例３に従う光学測定システムの構成を示す模式図である。 実施の形態１の変形例４に従う光学測定システムの構成を示す模式図である。 実施の形態１の変形例５に従う光学測定システムの構成を示す模式図である。 実施の形態２に従う光学測定システムの構成を示す模式図である。 実施の形態２に従う光学測定システムの構成を示す模式図である。 実施の形態２に従う光学測定システムの構成を示す模式図である。 実施の形態２に従う光学測定システムにおいて用いられるミラー板の平面図である。 実施の形態２の変形例１に従う光学測定システムの構成を示す模式図である。 実施の形態２の変形例１に従う光学測定システムの構成を示す模式図である。 実施の形態に従う光学測定システムを用いて試料光源の全光束を測定する処理手順を示すフローチャートである。

本発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中の同一または相当部分については、同一符号を付してその説明は繰り返さない。

＜Ａ．発明者らが見出した新規な技術的課題＞
本発明者らは、積分球を含む光束計を用いて光源を測定した場合に、当該光源が校正に用いた標準光源の配光とは異なる配光を有している場合には、測定誤差を生じるという新規な技術的課題を見出した。以下、まず、このような新規な技術的課題について説明する。

図１Ａは、積分球を用いて光源から発生する全光束を測定するための原理を説明するための図である。図１Ｂは、校正時に積分球内で標準光源を点灯した状態を説明するための図である。図１Ｃは、測定時に積分球内で測定対象の光源（試料光源）を点灯した状態を説明するための図である。

図１Ａを参照して、積分球１０を用いて試料光源ＯＢＪから発生する全光束を測定する原理について説明する。図１Ａに示すように、内壁に反射面１０ａを有する積分球１０の中心位置に試料光源ＯＢＪを配置するとともに、試料光源ＯＢＪを点灯する。反射面１０ａは、典型的には、拡散反射材料（例えば、硫酸バリウムやＰＴＦＥ（polytetrafluoroethylene）など）を塗布することで形成される。試料光源ＯＢＪは、一例として、符号４２に示すような配光を有する。

試料光源ＯＢＪから発生した光（光束）は、積分球１０の内壁で繰り返し反射する。これによって、積分球１０の内壁の照度は、試料光源ＯＢＪから発生した光束に応じた値に均一化する。積分球１０には、任意の位置に形成された窓を介して光検出器１２が光学的に接続されている。光検出器１２は、積分球１０の内壁の均一化した照度を測定する。この光検出器１２によって検出される照度が試料光源ＯＢＪから発生する全光束の大きさを示すことになる。

なお、積分球１０の内部には、試料光源ＯＢＪから発生した光の光検出器１２への直接的な入射を抑制するためのバッフル１４が設けられる。このバッフル１４の表面は、積分球１０の内壁と同様に反射面になっており、試料光源ＯＢＪから発生した光は、バッフル１４の表面でも反射することになる。

現実の光束計では、積分球１０の中心位置に試料光源ＯＢＪを点灯状態で保持するための支持部材が設けられる。より具体的には、図１Ｂに示すように、積分球１０の内部には、鉛直上側頂点から下方向に延びる支持部材（点灯台）２０が配置され、この先端に光源が配置される。また、バッフル１４についても、何らかの方法で所定位置に位置決めされる。図１Ｂに示す例では、支持部材２０と同様に、鉛直上方から下方向に延びる支持部材１６によってバッフル１４が固定される。

図１Ｂには、光束計を校正している状態を示し、支持部材２０の先端には、標準光源ＳＴＤが装着されている。この標準光源ＳＴＤは、符号４４で示すような４π配光を有するとする。すなわち、標準光源ＳＴＤにおいては、標準光源ＳＴＤの主たる投影方向（前方）に加えて、当該投影方向とは逆方向（後方）にも光が照射される。

一方、図１Ｃには、全光束を測定している状態を示し、支持部材２０の先端には、試料光源ＯＢＪが装着されている。この試料光源ＯＢＪは、符号４６で示すような２π配光を有するとする。すなわち、試料光源ＯＢＪにおいては、試料光源ＯＢＪの主たる投影方向（前方）に光が照射されるのみであり、当該投影方向とは逆方向（後方）には光が照射されない。このような２π配光を有する試料光源ＯＢＪは、典型的には、ＬＥＤを用いた光源などである。

図１Ｂに示すように、標準光源ＳＴＤは、４π配光を有するので、標準光源ＳＴＤの前方へ照射される光は、例えば経路３４に沿って、積分球１０の内部を伝搬する。また、標準光源ＳＴＤの後方へ照射される光は、例えば経路３２に沿って、積分球１０の内部を伝搬する。すなわち、標準光源ＳＴＤの後方へ照射される光の一部は、積分球１０の反射面１０ａで１次反射し、支持部材２０を照明する。この支持部材２０を照明する光の一部は、バッフル１４で遮蔽されることなく、光検出器１２へ直接的に入射される。

これに対して、図１Ｃに示すように、試料光源ＯＢＪは、２π配光を有するので、試料光源ＯＢＪから発生する光は、例えば経路３６に沿って、積分球１０の内部を伝搬する。試料光源ＯＢＪの後方へ照射される光は存在しない。そのため、標準光源ＳＴＤとは異なり、積分球１０の反射面１０ａで１次反射した後、光検出器１２へ直接的に入射する光は存在しない。すなわち、支持部材２０で反射する成分、および、支持部材２０で反射して光検出器１２へ直接的に入射する成分は無い。

光源から発生する光のうち、支持部材２０で反射して光検出器１２へ直接的に入射する成分に依存して、全光束の測定値も影響を受けることになる。すなわち、４π配光を有する標準光源ＳＴＤから発生する一部の成分は、光検出器１２を直接的に照明し、一方で、２π配光を有する試料光源ＯＢＪから発生する成分は、光検出器１２を直接的には照明しない。

このように、本発明者らは、標準光源ＳＴＤと試料光源ＯＢＪとの間の配光の違いが全光束の測定結果に影響するという事実および上述したようなそれを生じるメカニズムを見出した。

＜Ｂ．半球光束計＞
本発明者らは、上述したような新たな技術的課題について、後述するような実験を行なった。この実験には、半球光束計を用いた場合の測定結果を比較例として用いた。そこで、先に、半球光束計についてその概略を説明する。

図２は、半球光束計２の概要を示す模式図である。図２を参照して、半球光束計２は、図１Ａ〜１Ｃに示すような積分球１０に代えて、半球型の積分器（積分半球）を採用したものである。より具体的には、半球光束計２は、内壁に反射面５０ａを形成した半球部５０と、反射面６０ａが半球部５０の開口を覆うように配置された円状のミラー板６０とを含む。光源（標準光源ＳＴＤまたは試料光源ＯＢＪ）は、その中心が半球部の曲率中心Ｏと一致するように、ミラー板６０の中心に設置される。

反射面５０ａについては、典型的には、拡散反射材料（例えば、硫酸バリウムやＰＴＦＥなど）を塗布することで形成される。反射面６０ａは、鏡面反射を生じる必要があるので、金属蒸着ミラー（典型的には、アルミニウム蒸着ミラー）を用いて構成される。半球光束計では、ミラー板６０の反射面６０ａにおける反射率が十分に高いことが好ましい。反射率を高めるために、増反射率処理を行なった反射面６０ａを有するミラー板６０を採用してもよい。

半球部５０のミラー板６０に近接した任意の位置に形成された窓を介して光検出器１２が光学的に接続されている。

図２に示すような半球光束計２によれば、光源の実像（配光４８）とミラー板６０（反射面６０ａ）によって生じる当該光源の虚像（配光４９）とが、仮想的な積分球の内部（半球部５０の実空間と半球部の虚像７０との合成空間）にそれぞれ存在することになる。いわば、測定しようとする光源（標準光源ＳＴＤまたは試料光源ＯＢＪ）は、光束を発生する部分（発光部）のみが、その虚像とともに、仮想的な積分球の内部に浮かんでいるような状態となっている。

このように、半球光束計２によれば、光源を支持するための支持部材を用いることなく、仮想的な積分球内に光源を配置することができる。すなわち、積分球内に光源を配置するための支持部材は、仮想的な積分球の外側の空間に存在することになる。そのため、支持部材による光吸収や陰の発生を抑制でき、それによって誤差を低減できる。

また、半球光束計では、上述したような標準光源ＳＴＤと試料光源ＯＢＪとの間の配光の違いによる影響は生じない。

＜Ｃ．実験例＞
本発明者らは、上述したような新規な技術的課題を解明するために、積分球内に配置する支持部材の径を異ならせて、試料光源ＯＢＪについての全光束を測定した。また、支持部材による光吸収や陰の発生を抑制できる半球光束計による測定結果を比較例としつつ、測定された結果について評価した。

（ｃ１：実験例１）
以下の３種類の光束計を用意し、それぞれについて全光束を測定した。なお、試料光源ＯＢＪは、１３Ｗの電球型蛍光灯（米国ＳＹＬＶＡＮＩＡ社：型番ＣＦ１３ＥＬ）とした。

［測定条件１］積分球（内壁側の直径：４０インチ（約１ｍ））／支持部材の直径：４０ｍｍ
［測定条件２］積分球（内壁側の直径：４０インチ（約１ｍ））／支持部材の直径：５ｍｍ
［測定条件３］積分半球（半球部の内壁側の直径：４０インチ（約１ｍ））
なお、積分球としては、米国Ｌａｂｓｐｈｅｒｅ社：型番ＬＭＳ−４００を用い、積分半球としては、米国Ｌａｂｓｐｈｅｒｅ社：型番ＨＭ−４００を用いた。

測定方法としては、先に標準光源を用いてそれぞれの光束計を校正した後、試料光源ＯＢＪの全光束を測定した。

図３は、実験に用いた標準光源と電球型蛍光灯との配光の違いを示す図である。図４Ａおよび４Ｂは、実験例１の内容を示す図である。図４Ｂには、測定条件１〜３においてそれぞれ測定された結果（全光束の大きさ）を、測定条件３において測定された結果で規格化したものを示す。

図３に示すように、試料光源ＯＢＪである電球型蛍光灯の配光は、標準光源ＳＴＤの配光に比較して、左右方向への広がりがより多く、かつ、後方への放射が少ない。そのため、電球型蛍光灯と標準光源との配光は大きく異なっている。

図４Ｂに示すように、同一の試料光源ＯＢＪを測定したにもかかわらず、積分半球を用いて測定した結果（測定条件３）に比較して、同一直径かつ同一反射コーティングの積分球を用いて測定した結果（測定条件１および２）は、より低い全光束を示していることがわかる。さらに、支持部材の太さが太いほど、かつ、表面反射率が高いほど、測定された全光束の値はより低い値となっている。すなわち、測定条件１では、測定条件３（特定方位）で測定された結果に比較して−６．５％になっており、測定条件２（全方位）では、測定条件３で測定された結果に比較して−２％になっている。

積分半球では、原理的に、積分球内に支持部材が存在しないので、図４Ｂに示す結果によれば、積分球内に配置される支持部材の大きさによって、測定値が影響を受けていることがわかる。このように、積分球内に支持部材が存在しない積分半球を用いて測定した値を基準とすれば、同一の内径を有する積分球を用いた場合、その測定結果は、５％以上低くなる場合がある。

（ｃ２：実験例２）
さらに、本発明者らは、標準光源に比較して、その配光がより大きく異なっているＬＥＤ電球についても、上述の測定条件１〜３の下で、同様の実験を行なった。実験例２においては、試料光源としてＬＥＤ電球（米国Ｇｅｎｅｒａｌ Ｅｌｅｃｔｒｉｃ社：型番Ｐａｒ２０／照射角２０°）を用いた。

図５Ａおよび５Ｂは、実験例２の内容を示す図である。図５Ｂには、測定条件１〜３においてそれぞれ測定された結果（全光束の大きさ）を、測定条件３において測定された結果で規格化したものを示す。

図５Ａに示すように、ＬＥＤ電球は、前方の狭い範囲に光束を照射するように構成されており、その配光は、標準光源ＳＴＤとは大きく異なっている。すなわち、ＬＥＤ電球の配光は、前方側に±１０°程度しか存在しておらず、発生する光束の多くが狭い範囲にスポット的に照射されることがわかる。

図５Ｂを参照して、標準光源ＳＴＤに対して大きく異なった配光を有する試料光源を用いた場合には、積分半球で測定した測定結果に対する誤差がより大きくなっていることがわかる。すなわち、標準光源ＳＴＤと試料光源ＯＢＪとの間の配光の違いが大きくなるほど、積分球を用いて測定される全光束の測定結果がより大きく低下していることがわかる。

より具体的には、測定条件２では、測定条件３で測定された結果に比較して−５％になっており、測定条件１では、測定条件３で測定された結果に比較して−１７％にもなっている。このように、積分球内に支持部材が存在しない積分半球を用いて測定した値を基準とすれば、同一の内径を有する積分球を用いた場合、その測定結果は、１５％以上低くなる場合がある。

以下、標準光源ＳＴＤとは異なる配光を有した試料光源ＯＢＪであっても、より正確に測定することができる構成例について説明する。

＜Ｄ．実施の形態１＞
上述したように、標準光源ＳＴＤと試料光源ＯＢＪとの間の配光の違いによる誤差は、支持部材の表面での反射に起因するものであると考えられる。そのため、実施の形態１においては、積分球を用いた光学測定装置において、光検出器の視野範囲に入らないように、支持部材の形状および配置位置を決定すると解決手段を採用する。

（ｄ１：基本的構成）
図６Ａ〜６Ｃは、実施の形態１に従う光学測定システム１００の構成を示す模式図である。図６Ａを参照して、光学測定システム１００は、積分球１１０と、支持部材１２０と、バッフル１３６と、光検出器１８０とを含む。

積分球１１０は、内壁に反射面１１０ａを有する。この反射面１１０ａは、硫酸バリウムやＰＴＦＥなどを塗布することで形成される拡散反射面である。測定時には、光源（標準光源ＳＴＤまたは試料光源ＯＢＪ）が積分球１１０の実質的な中心位置に配置される。すなわち、支持部材１２０が積分球１１０の実質的な中心位置に光源を支持する。ここで、「実質的な中心位置」とは、積分球１１０の物理的な中心位置およびその周辺を含む概念であり、周辺とは光源の測定精度に影響を与えない限度で中心位置から離れた範囲を含む。

支持部材１２０は、第１部材１２２と、第１部材１２２と連結される第２部材１２４と、第１部材１２２を積分球１１０に固定するための固定部材１２６とを含む。これらの形状および配置位置については後に詳述する。

積分球１１０には、積分球１１０の内面と外面とを貫通する観測窓１３２が形成されている。光検出器１８０は、アタッチメント加工された光ファイバ１３４を通じて観測窓１３２に接続される。これにより、光検出器１８０は、積分球１１０の内壁の平均照度を検出できる。

光検出器１８０は、観測窓１３２における照度を検出し、試料光源ＯＢＪの全光束を算出することができる。光検出器１８０は、少なくとも特定の波長にわたる照度を検出するものであってもよいし、相対照度スペクトルを検出するものであってもよい。光検出器１８０は、回折格子および回折格子と光学的に関連付けられたラインセンサ等を含む、波長において校正されたフォトダイオードまたは分光器であってもよい。光検出器１８０は、斜入射光に対する応答が略コサインとなっており、積分球１１０の内面の全視野から平均輝度を測定する。このような分光測定可能な光検出器１８０を採用することで、全光束に加えて、色度・相関色温度・演色性といった光源としての性能評価などを行なうこともできる。

観測窓１３２の前面には、光検出器１８０への光の直接的な入射を抑制するためのバッフル１３６が配置される。バッフル１３６は、固定部材１３８によって積分球１１０に固定される。より具体的には、バッフル１３６は、支持部材１２０により支持された光源（標準光源ＳＴＤまたは試料光源ＯＢＪ）と観測窓１３２とを結ぶ直線上に配置される。これにより、光源から発生した光（光束）の一部が直接的（積分球１１０の内壁で繰り返し反射される前）に観測窓１３２へ入射することを抑制し、測定誤差を低減する。

本実施の形態に従う光学測定システム１００においては、バッフル１３６は、観測窓１３２を介した光検出器１８０の視野範囲に支持部材１２０が含まれないようにするという機能も果たす。すなわち、バッフル１３６の大きさは、光検出器１８０が観測窓１３２を介して積分球１１０の内壁の平均輝度を測定するときに、支持部材１２０がバッフル１３６の陰になるように設定される。

観測窓１３２から観た場合に、支持部材１２０がバッフル１３６の陰となるためには、支持部材１２０の形状および配置位置、ならびに、バッフル１３６の大きさなどを適切に設定する必要がある。一方で、バッフル１３６の自己吸収による測定精度の低下を考慮すると、支持部材１２０およびバッフル１３６はなるべく小さい方がよい。

そこで、本実施の形態に従う光学測定システム１００では、観測窓１３２を介して光検出器１８０から積分球１１０の内部を観たときに、光源が配置される位置に近接した位置（方向）に支持部材１２０が配置されるようにする。より具体的には、光源に対して観測窓１３２と対向する領域において積分球１１０の内壁と接続されるような支持部材１２０を採用する。言い換えれば、光源から光検出器１８０への直接的な光の入射を抑制するためのバッフル１３６によって遮られる視野範囲内に支持部材１２０を配置する。このような思想に基づけば、支持部材１２０は、任意の形状を採用し得る。典型例として、図６Ａには、支持部材１２０の大部分が光源を通る直線（光軸）の近傍に存在する形状が示されている。

より具体的には、支持部材１２０は、光源に対して観測窓１３２と対向する領域において積分球１１０の内壁と接続される第１部材１２２を含む。試料光源ＯＢＪとしては、天井の取り付けられるタイプの光源が多く、この場合には、試料光源ＯＢＪを鉛直上方側に固定するとともに、鉛直下側に向けて点灯する状態で測定される。そのため、図６Ａに示す支持部材１２０では、試料光源ＯＢＪを鉛直上方側に固定するためのＬ字状またはＣ字状の第２部材１２４が第１部材１２２の先端に接続される。

第１部材１２２および第２部材１２４の内部には、光源を点灯するための電源線などが収納されている。また、第１部材１２２および第２部材１２４の表面には、光吸収を最小化するための反射面が選択されている。この反射面については、原理的には、拡散反射面であってもよいし、鏡面反射面であってもよいが、加工の容易性から、硫酸バリウムまたはＰＴＦＥの塗布によって形成される拡散反射面が採用されるのが一般的である。

図６Ｂには、図６Ａに示すＢ−Ｂ断面図を模式的に示す。図６Ｂに示すように、積分球１１０の中心位置を含む断面において、観測窓１３２、バッフル１３６、光源、支持部材１２０は、ほぼ一直線上に配置される。これにより、バッフル１３６を大きくすることなく、光検出器１８０の視野範囲から支持部材１２０を除外することができる。

また、試料光源の自己吸収を補正するために、補助光源を設けてもよい。より具体的には、図６Ａに示すように、積分球１１０には、観測窓１３２とは異なる位置に補助光源窓１４２が形成されている。補助光源窓１４２には、補助光源１４４が関連付けて配置されている。補助光源１４４からの光は、補助光源窓１４２を介して、積分球１１０の内部へ導入される。

この補助光源１４４から発生する光についても、光検出器１８０へ直接的に入射することを抑制する必要がある。そのため、補助光源窓１４２から積分球１１０の内部へ導入される補助光源１４４からの光に関連付けられたバッフル１４６が配置される。このバッフル１４６についても、バッフル１３６と同様に、その表面には反射面が形成されている。バッフル１４６は、補助光源窓１４２からの光が光検出器１８０へ直接的に入射することを防止する観点から、任意の形状および位置に設ければよい。

なお、補助光源１４４を用いて標準光源ＳＴＤおよび試料光源ＯＢＪの自己吸収を補正する方法については、後述する。

上述のような支持部材１２０および関連する構成を採用することで、標準光源ＳＴＤと試料光源ＯＢＪとの間で配光が大きく異なっている場合であっても、測定誤差を低減できる。上述したように、光源からの光が支持部材１２０で反射して光検出器１８０へ直接的に入射することを回避できれば、配光による測定精度への影響を低減できる。そのため、このような技術的思想に沿うものであれば、図６Ａに示す形状以外の任意の形状を採用することができる。別の形状の例については、後述する。

上述したように、光学測定システム１００においては、校正時に、標準光源ＳＴＤを支持部材１２０に装着し、測定時に、試料光源ＯＢＪを支持部材１２０に装着することになる。そのため、ユーザが光源を容易に交換できるような構成が好ましい。実施の形態１においては、積分球１１０を一対の半球部で構成し、これらの半球部は互いに開閉可能に連結される。このような構成を採用することで、積分球１１０の内径が大きくなった場合であっても、ユーザは、支持部材１２０へ容易にアクセスできる。

図６Ｃに示すように、一例として積分球１１０は、鉛直上方に配置された上側半球部と、鉛直下方に配置された下側半球部とで構成される。上側半球部と下側半球部とはヒンジ機構１１８によって開閉可能に連結される。上側半球部を鉛直上方に移動させることで、積分球１１０が開放状態になる。

（ｄ２：変形例１）
上述したように、補助光源窓１４２から積分球１１０の内部へ導入される補助光源１４４からの光に関連付けられたバッフルについては、任意の形状および配置位置を採用することができる。

図７は、実施の形態１の変形例１に従う光学測定システム１００Ａの構成を示す模式図である。図７に示す光学測定システム１００Ａにおいては、補助光源１４４からの光に関連付けられたバッフル１４８は、支持部材１２０ではなく、積分球１１０の内壁に固定されている。

図７に示すような構成を採用した場合には、補助光源１４４とは独立して、支持部材１２０を積分球１１０から取り外すこともできる。そのため、同一の積分球１１０を用いて、本実施の形態に従う方法（図６Ａ〜６Ｃに示すような支持部材１２０を用いた方法）で試料光源ＯＢＪの全光束を測定することもでき、かつ、従来の方法で試料光源ＯＢＪの全光束を測定することもできる。

（ｄ３：変形例２）
上述したように、開閉可能に連結された一対の半球部で積分球１１０を構成する場合には、支持部材１２０とヒンジ機構１１８との位置関係を独立に決定することができる。そのため、ユーザが光源をより容易に交換できるような構成を採用してもよい。

図８は、実施の形態１の変形例２に従う光学測定システム１００Ｂの構成を示す模式図である。図８に示す光学測定システム１００Ｂにおいては、支持部材１２０が積分球１１０と接続される位置より上方にヒンジ機構１１８が設けられている。このような構成を採用することで、積分球１１０が開放状態になったときの最上部の位置はより高くなるが、ユーザは、支持部材１２０に対してより接近することができる。

そのため、校正時および測定時の光源の交換作業をより短時間で行なうことができる。
（ｄ４：変形例３）
上述したような同一形状の半球部を２つ組み合わせるのではなく、積分球１１０を部分的に開放可能にしてもよい。

図９は、実施の形態１の変形例３に従う光学測定システム１００Ｃの構成を示す模式図である。図９に示す光学測定システム１００Ｃにおいては、積分球１１０の一部（例えば、全体の１／４程度）がヒンジ機構１１８によって開閉可能になっている。

このような構成を採用することで、積分球１１０が開放状態になったときの最上部の位置が抑えられる。そのため、積分球１１０を設置する場所における上方向のクリアランスが限られている場合であっても、内径が比較的大きな積分球１１０を含む光学測定システムを利用することができる。

（ｄ５：変形例４）
上述したように、支持部材としては、光検出器１８０の視野範囲に含まれない限り、任意の形状を採用することができる。

図１０は、実施の形態１の変形例４に従う光学測定システム１００Ｄの構成を示す模式図である。図１０に示す光学測定システム１００Ｄにおいては、Ｌ字状の支持部材１２０Ａが用いられている。この支持部材１２０Ａは、光源に対して観測窓１３２と対向する領域において積分球１１０の内壁と接続されており、かつ、その全体が光検出器１８０の視野範囲外に位置する。

このような支持部材１２０Ａを採用することで、その構造をより簡素化できる。
（ｄ６：変形例５）
さらに、水平方向に光を照射する試料光源ＯＢＪを測定する場合には、次のような構成を採用してもよい。

図１１は、実施の形態１の変形例５に従う光学測定システム１００Ｅの構成を示す模式図である。図１１に示す光学測定システム１００Ｅにおいては、略直線状の支持部材１２０Ｂが用いられている。この支持部材１２０Ｂは、観測窓１３２と対向する領域で、光源を通過する直線に沿って延びる。すなわち、支持部材１２０Ｂは、光源に対して観測窓１３２と対向する領域において積分球１１０の内壁と接続されており、かつ、その全体が光検出器１８０の視野範囲外に位置する。

このような支持部材１２０Ｂは、水平方向に光を照射する試料光源ＯＢＪについての測定に好適である。

（ｄ７：その他の変形例）
図６Ｃに示すように、積分球１１０を水平面で２分割する構成に代えて、積分球１１０を垂直面で２分割する構成を採用してもよい。但し、試料光源ＯＢＪの配光によっては、２つの半球部の接続面に照射される光が集中する場合もあり、このような場合には、試料光源ＯＢＪを配置する向きなどをより適切な向きに変更することが好ましい。

また、積分球１１０を３つ以上のパーツから構成してもよい。
さらに、積分球１１０を複数のパーツから構成する場合には、パーツ間の接続位置は、用途や設置場所などに応じて適宜設計される。そのため、例えばヒンジ機構１１８は、上述した図６Ｃや図８に示す位置に限られず、任意の位置に設けることができる。

（ｄ８：利点）
上述した実施の形態１によれば、光源に対して観測窓１３２と対向する領域において積分球１１０の内壁と接続されるような支持部材を採用することで、標準光源ＳＴＤと試料光源ＯＢＪとの間で配光が大きく異なっていた場合であっても、より高い精度で全光束などの光学特性を測定することができる。

また、実施の形態１によれば、積分球１１０を任意の複数のパーツで構成できるので、用途や設置場所などに応じた適切な光学測定システムを実現できる。

＜Ｅ．実施の形態２＞
上述したように、半球光束計を採用した場合には、標準光源ＳＴＤと試料光源ＯＢＪとの間で配光が異なることに起因する測定誤差は発生しない。一方で、現実的には、経済的な理由などによって、半球光束計を新たに導入することができない場合も多い。そのため、実施の形態２においては、既存の積分球を含む光学測定装置を用いて、半球光束計を実現するための構成を採用する。

（ｅ１：基本的構成）
図１２Ａ〜１２Ｃは、実施の形態２に従う光学測定システム２００の構成を示す模式図である。図１２Ａを参照して、光学測定システム２００は、積分球２１０と、積分球２１０内に配置された支持部材２２０、バッフル２３６および２４６と、光検出器２８０と、補助光源２４４とを含む。

図１２Ｂに示すように、積分球２１０は、開閉可能に連結された一対の半球部から構成される。すなわち、上側半球部と下側半球部とはヒンジ機構２１８によって開閉可能に連結される。上側半球部を鉛直上方に移動させることで、積分球２１０が開放状態になる。そして、積分球２１０の開放状態においては、ミラー板２５０が一方の半球部に装着可能になっている。図１２Ｃは、ミラー板２５０が装着された状態の光学測定システム２００を示す。

すなわち、本実施の形態に従う光学測定システム２００では、閉塞状態（一対の半球部が閉じた状態）において、積分球２１０の内部に支持部材２２０を用いて光源を配置した状態で測定が可能であり、開放状態（一対の半球部が開いた状態）において、ミラー板２５０と一方の半球部とにより形成される仮想的な積分球の内部に支持部材を用いずに光源を配置した状態で測定が可能である。このように、ミラー板２５０を用いることで、共通の光学測定システム２００において、従来と同様の積分球を用いた全光束の測定方法、および、半球光束計を用いた全光束の測定方法の両方を選択的に実現できる。以下、本実施の形態に従う光学測定システム２００の詳細について説明する。

図１２Ａを参照して、積分球２１０は、内壁に反射面２１０ａを有する。この反射面２１０ａは、硫酸バリウムやＰＴＦＥなどを塗布することで形成される拡散反射面である。積分球２１０は、開閉可能に連結された一対の半球部からなり、半球部の各々は、内壁に反射面を有することになる。

支持部材２２０は、積分球２１０の閉塞状態（一対の半球部が閉じた状態）において、一対の半球部が構成する積分球２１０内の実質的な中心位置で光源を点灯するための部材である。支持部材２２０は、固定部材２２６によって積分球２１０に固定される。

バッフル２３６および固定部材２３８については、図６Ａに示すバッフル１３６および固定部材１３８と同様であるので、詳細な説明は繰り返さない。補助光源２４４についても、図６Ａに示す補助光源１４４と同様であり、補助光源２４４からの光は、補助光源窓２４２を介して積分球２１０の内部へ導入される。

光検出器２８０は、図６Ａに示す光検出器１８０と同様であり、アタッチメント加工された光ファイバ２３４を通じて観測窓２３２に接続される。これにより、光検出器２８０は、積分球２１０の内壁の照度を検出できる。

一方、図１２Ｂに示す状態（開放状態）での測定においては、一方の半球部の開口を塞ぐように、ミラー板２５０が装着される。ミラー板２５０は、光ファイバ２３４を通じて光検出器２８０が接続された観測窓２３２が形成されている半球部（図１２Ｂにおいては下側半球部）に装着される。

ミラー板２５０は、装着される半球部（図１２Ｂにおいては下側半球部）の側に反射面２５０ａを有する。この反射面２５０ａは、金属蒸着ミラー（典型的には、アルミニウム蒸着ミラー）などから形成される鏡面反射面である。この反射面２５０ａの反射率は十分に高いことが好ましい。反射面２５０ａに増反射率処理を行なうことで、反射率を高めてもよい。

図１２Ｃに示すように、ミラー板２５０を用いることで、半球部の内側に存在する実空間と、反射面２５０ａによって生じる当該実空間に対応する虚像空間との合成空間を得られる。この合成空間は、仮想的な積分球に相当する。この仮想的な積分球の内部には、ミラー板２５０の反射面２５０ａの側に存在する物体のみが含まれることになる。

ミラー板２５０は、さらに、光源（標準光源ＳＴＤまたは試料光源ＯＢＪ）をミラー板２５０に装着するための支持部材２６０を含む。支持部材２６０は、ミラー板２５０の反射面２５０ａとは反対側から光源を支持するように構成される。そのため、上述の仮想的な積分球の内部には、支持部材２６０は存在しない。また、支持部材２６０は、ミラー板２５０に装着される光源を点灯するための電力も供給する。

なお、図１２Ａおよび１２Ｂにおいては、仮想的な積分球の内部側へ飛び出した光源の例を示すが、面光源を測定することもできる。この場合、ミラー板２５０の中心部に試料光源ＯＢＪの断面とほぼ同じ大きさの開口を設けて、試料光源ＯＢＪがこの開口に装着されるようにしてもよい。

このように、支持部材２６０は、ミラー板２５０が半球部に装着された状態で、当該半球部とミラー板２５０とが構成する半球内に光源を露出させて点灯する。この光源の点灯によって生じる積分半球の内壁の照度は、観測窓２３２を介して光検出器２８０によって検出される。すなわち、光検出器２８０は、ミラー板２５０が装着された半球部に形成された観測窓２３２を介して光源からの光を検出する。光検出器２８０によって検出された照度によって、試料光源ＯＢＪから発生する全光束が測定される。

ミラー板２５０の反射面２５０ａ側には、光検出器２８０への光源（標準光源ＳＴＤまたは試料光源ＯＢＪ）からの光の直接的な入射を抑制するためのバッフル２７２が設けられる。

また、ミラー板２５０と装着される半球部に、補助光源窓２４２を通じて自己吸収補正係数の算出に必要な光を導入する補助光源２４４が存在しない場合には、ミラー板２５０に補助光源２７４が設けられる。この補助光源２７４は、仮想的な積分球の内部には含まれないように、ミラー板２５０の反射面２５０ａとは反対側に配置される。補助光源２７４からの光は、反射面２５０ａの一部に設けられた補助光源窓２７８を介して、仮想的な積分球の内部へ導入される。また、光検出器２８０への補助光源２７４からの光の直接的な入射を抑制するためのバッフル２７６が設けられる。

ミラー板２５０の反射面２５０ａに設けられるバッフル２７２および２７６については、光検出器２８０との位置関係が重要である。一方で、ミラー板２５０は、円板形状を有するので、半球部に対して任意の位置関係（角度）で装着することが可能である。そこで、ミラー板２５０に半球部に対する相対関係を位置決めする機構を設けておくことが好ましい。このような位置決め機構は、任意のものを採用することができるが、一例として、図１３に示すような構成を採用してもよい。

図１３は、実施の形態２に従う光学測定システム２００において用いられるミラー板２５０の平面図である。図１３を参照して、ミラー板２５０は、装着される半球部の断面よりやや大きい径を有する円板状になっている。ミラー板２５０は、半球部に対する相対的な位置を決定するため、その外周の一部に切り欠き部２５４および２５６が形成されている。この切り欠き部２５４および２５６は、半球部に装着されたときに、当該半球部に設けられた凸部（図示しない）と係合する。これによって、本実施の形態に従う光学測定システム２００について深い知識を有さないユーザであっても、図１２Ｃに示す使用形態を利用できる。

（ｅ２：変形例）
本実施の形態に従うミラー板２５０は、任意の積分球に適合させることができる。例えば、大型の積分球は、垂直面で２分割できるように構成されるものがある。このような場合であっても、ミラー板２５０を一方の半球部に装着することで、半球光束計と同様の測定を行なうことができる。

図１４Ａおよび１４Ｂは、実施の形態２の変形例１に従う光学測定システム２００Ａの構成を示す模式図である。図１４Ａに示す光学測定システム２００Ａにおいては、一対の半球部が水平方向にスライド可能に構成されているものとする。このような光学測定システム２００Ａであっても、ミラー板２５０を一方の半球部に装着することで、図１４Ｂに示すような半球光束計として機能させることができる。

図１４Ｂに示すような使用形態においては、水平方向に光を照射するように使用される光源、例えば、車両用のヘッドライトなどの全光束測定に好適である。

（ｅ３：利点）
上述した実施の形態２によれば、既存の積分球を含む光学測定システム２００であっても、ミラー板２５０を装着することで、支持部材による光吸収による測定誤差、および、標準光源との間の配光の違いに起因する測定誤差を除いた状態で、試料光源ＯＢＪの全光束を測定することができる。そのため、経済的な理由などによって、半球光束計を新たに用意することができない場合であっても、半球光束計を利用したのと同様の精度で全光束を測定することできる。

＜Ｆ．処理手順＞
次に、上述の実施の形態１および２に従う光学測定システムを用いて、試料光源ＯＢＪの全光束を測定する場合の処理手順について説明する。図１５は、実施の形態に従う光学測定システムを用いて試料光源ＯＢＪの全光束を測定する処理手順を示すフローチャートである。

図１５を参照して、まず、ユーザは、標準光源ＳＴＤを支持部材に装着する（ステップＳ１００）。標準光源ＳＴＤの発生する全光束は、標準光束φｓｔであるとする。実施の形態１に従う光学測定システム１００を用いる場合には、図６Ａに示す状態で標準光源ＳＴＤが支持部材１２０に装着され、実施の形態２に従う光学測定システム２００を用いる場合には、図１２Ｃに示す状態で標準光源ＳＴＤが支持部材２６０に装着される。続いて、標準光源ＳＴＤを点灯させ（ステップＳ１０２）、積分球の観測窓１３２における照度を光検出器で検出する（ステップＳ１０４）。光検出器で検出された照度（出力値ｉｓｔ）を標準光束φｓｔと関連付けて格納する（ステップＳ１０６）。このステップＳ１０２〜Ｓ１０６の処理により、標準光源ＳＴＤによる校正処理が完了する。なお、この校正処理についても、後述する自己吸収補正の処理を行なってもよい。

続いて、試料光源ＯＢＪについての自己吸収補正係数の算出処理が実行される。
すなわち、ユーザは、標準光源ＳＴＤを消灯する（ステップＳ１０８）。すなわち、標準光源ＳＴＤを非発光状態とする。

続いて、補正光源を点灯させ（ステップＳ１１０）、積分球の観測窓１３２における照度を光検出器で検出する（ステップＳ１１２）。光検出器で検出された照度（出力値ｉ０）を格納する（ステップＳ１１４）。この出力値ｉ０は、標準光源ＳＴＤの自己吸収が存在する状態の測定値に相当する。

次に、ユーザは、標準光源ＳＴＤを支持部材から取り外し、試料光源ＯＢＪを支持部材に装着する（ステップＳ１１６）。実施の形態１に従う光学測定システム１００を用いる場合には、図６Ａに示す状態で試料光源ＯＢＪが支持部材１２０に装着され、実施の形態２に従う光学測定システム２００を用いる場合には、図１２Ｃに示す状態で試料光源ＯＢＪが支持部材２６０に装着される。続いて、補正光源を点灯させ（ステップＳ１１８）、積分球の観測窓１３２における照度を光検出器で検出する（ステップＳ１２０）。光検出器で検出された照度（出力値ｉ１）を格納する（ステップＳ１２２）。この出力値ｉ１は、試料光源ＯＢＪの自己吸収が存在する状態の測定値に相当する。

さらに、出力値ｉ１を出力値ｉ０で割り算することで、試料光源ＯＢＪの自己吸収補正係数αが算出される（ステップＳ１２４）。

以上により、試料光源ＯＢＪについての自己吸収補正係数の算出処理が完了する。この自己吸収補正係数αは、標準光源ＳＴＤを非発光状態としつつ、補助光源２７４を点灯した場合に検出される照度と、試料光源ＯＢＪを非発光状態としつつ、補助光源２７４を点灯した場合に検出される照度との比を意味する。

続いて、補正光源を消灯し（非発光状態）、試料光源ＯＢＪを点灯させ（ステップＳ１２６）、積分球の観測窓１３２における照度を光検出器で検出する（ステップＳ１２８）。光検出器で検出された照度（出力値ｉｄ）を格納する（ステップＳ１３０）。

最終的に、標準光源ＳＴＤの標準光束φｓｔおよび対応する出力値ｉｓｔ、自己吸収補正係数α、ならびに出力値ｉｄに基づいて、試料光源ＯＢＪの全光束が算出される（ステップＳ１３２）。

なお、標準光源ＳＴＤに対応する出力値ｉｓｔおよび自己吸収補正係数αの算出タイミングおよび算出順序については、必要に応じて任意に設定できる。例えば、同一種類の試料光源ＯＢＪを複数計測する必要がある場合には、最初に、標準光源ＳＴＤに対応する出力値ｉｓｔおよび自己吸収補正係数αを算出しておき、これを繰り返し利用すればよい。

＜Ｇ．その他の形態＞
上述した実施の形態１および２に従う光学測定システムのいずれについても、既存の光学測定システムを改良することで実現することができる。そのため、本発明の範囲が、このような改良された光学測定システムについても含むことは明らかである。

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した説明ではなく、請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。

２ 半球光束計、１０，１１０，２１０ 積分球、１０ａ，５０ａ，６０ａ，１１０ａ，２１０ａ，２５０ａ 反射面、１２，１８０，２８０ 光検出器、１４，１３６，１４６，１４８，２３６，２７２，２７６ バッフル、１６，２０，１２０，１２０Ａ，１２０Ｂ，２２０，２６０ 支持部材、５０ 半球部、６０，２５０ ミラー板、１００，１００Ａ，１００Ｂ，１００Ｃ，１００Ｄ，１００Ｅ，２００，２００Ａ 光学測定システム、１１８，２１８ ヒンジ機構、１２２ 第１部材、１２４ 第２部材、１２６，１３８，２２６，２３８ 固定部材、１３２，２３２ 観測窓、１３４，２３４ 光ファイバ、１４２，２４２，２７８ 補助光源窓、１４４，２４４，２７４ 補助光源、２５４，２５６ 切り欠き部、ＯＢＪ 試料光源、ＳＴＤ 標準光源。

Claims (7)

1. 内壁に反射面を有するとともに第１の窓を有する積分球と、
   前記積分球の実質的な中心位置に光源を支持するための支持部材と、
   前記第１の窓と前記支持部材により支持された前記光源とを結ぶ直線上に配置された第１のバッフルとを備え、
   前記支持部材は、前記光源に対して前記第１の窓と対向する領域において前記積分球の内壁と接続され、
   前記第１のバッフルは、前記第１の窓に光検出器が装着された場合に、前記第１の窓を介した当該光検出器の視野範囲に前記支持部材が含まれないように構成される、光学測定システム。
2. 前記第１の窓に接続される前記光検出器をさらに備える、請求項１に記載の光学測定システム。
3. 前記積分球には、前記第１の窓とは異なる位置に第２の窓が形成されており、補助光源からの光が前記第２の窓を介して前記積分球の内部へ導入され、
   前記光学測定システムは、前記第２の窓から前記積分球の内部へ導入される前記補助光源からの光に関連付けられた第２のバッフルをさらに備える、請求項１または２に記載の光学測定システム。
4. 前記積分球は、開閉可能に連結された第１の半球部と第２の半球部とを含む、請求項１または２に記載の光学測定システム。
5. 内壁に反射面を有する積分球の実質的な中心位置に、支持部材に支持された光源を配置するステップと、
   前記積分球に形成された第１の窓を介して前記光源からの光を検出するステップとを備え、
   前記第１の窓と前記支持部材により支持された前記光源とを結ぶ直線上には第１のバッフルが配置され、
   前記支持部材は、前記光源に対して前記第１の窓と対向する領域において前記積分球の内壁と接続され、
   前記第１のバッフルは、前記第１の窓に光検出器が装着された場合に、前記第１の窓を介した当該光検出器の視野範囲に前記支持部材が含まれないように構成される、光学測定方法。
6. 各々の内壁に反射面を有し、開閉可能に連結された第１および第２の半球部と、
   前記第１および第２の半球部が閉じた状態で、前記第１および第２の半球部が構成する球内の実質的な中心位置で光源を点灯するための第１の支持部材と、
   前記第１および第２の半球部が開いた状態で、前記第１の半球部の開口を覆うように装着可能な円板状のミラー板とを備え、前記ミラー板は、前記第１の半球部の側に反射面を有し、さらに
   前記ミラー板が前記第１の半球部に装着された状態で、前記第１の半球部と前記ミラー板とが構成する半球内に光源を露出させて点灯するための第２の支持部材と、
   前記第１の半球部に形成された窓を介して前記光源からの光を検出する光検出器とを備える、光学測定システム。
7. 光学測定システムに向けられたミラー板であって、前記光学測定システムは、各々の内壁に反射面を有し、開閉可能に連結された第１および第２の半球部とを含み、前記ミラー板は、前記第１および第２の半球部が開いた状態で、前記第１の半球部の開口を覆うように装着可能になっており、
   前記第１の半球部の側に反射面と、
   前記ミラー板が前記第１の半球部に装着された状態で、前記第１の半球部と前記ミラー板とが構成する半球内に光源を露出させて点灯するための支持部材とを備える、ミラー板。

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