JP6154153B2 - 標準光源および測定方法 - Google Patents
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Description
あるいは好ましくは、規制部は、発光部からの光が入射する凹状の表面を有する。
まず、本実施の形態に関連する背景技術について説明する。
本実施の形態に従えば、従来の標準光源とは異なる配光特性を有するLED電球などの光源の全光束測定に適した標準光源が提供される。本実施の形態に従う標準光源は、後述するように、より簡素な構成で実現される。
図4は、実施の形態1に従う標準光源10を説明するための模式図である。図4(a)は、標準光源10の断面模式図を示し、図4(b)は、標準光源10の配光特性を示す。
次に、前方へより多くの光を放射させて、完全な2π配光を実現できる構成について例示する。図5は、実施の形態2に従う標準光源30を説明するための模式図である。図5(a)は、標準光源30の断面模式図を示し、図5(b)は、標準光源30の配光特性を示す。
上述の実施の形態1および2において、配光制御板の表面に形成された拡散反射層が汚損すると、再度の校正が必要になる。そのため、このような配光制御板の表面の汚損を防止するための構成を実施の形態3として説明する。
本実施の形態に従う標準光源は、配光制御板の有無によって、4π配光と2π配光とを切り替えることができるので、標準光源のメーカなどにおいては、本体部、発光部、電極部を共通にする標準電球を画一的に製造するとともに、要求される配光特性に応じて、配光制御板をさらに付加する工程を追加するようにしてもよい。このような製造方法を採用することで、標準光源の製造コストを低減できる。
次に、本実施の形態に従う標準光源を用いたサンプル光源に対する全光束測定の処理手順の一例について説明する。
本実施の形態に従う標準光源によれば、比較的簡素な構成を維持しつつ、LED電球などの2π配光の配光特性を有するサンプル光源に適した配光特性を実現できる。これによって、LED電球などの全光束測定をより高い精度で行うことができる。
Claims (7)
- 発光部と、
前記発光部と電気的に接続された給電部と、
前記発光部と前記給電部との間に設けられ、前記発光部から放射された光の前記給電部の側へ伝搬を規制する規制部とを備え、
前記規制部の前記発光部からの光が入射する表面は、拡散反射するように構成される、標準光源。 - 前記発光部および前記給電部を通る光軸に垂直な方向における前記規制部の断面積は、前記発光部の配光分布に応じて決定される、請求項1に記載の標準光源。
- 前記規制部は、前記発光部からの光が入射する平坦な表面を有する、請求項1または2に記載の標準光源。
- 前記規制部は、前記発光部からの光が入射する凹状の表面を有する、請求項1または2に記載の標準光源。
- 前記規制部の表面および前記発光部を含む空間を覆うフードをさらに備える、請求項1〜4のいずれか1項に記載の標準光源。
- 校正された標準光源を用意するステップと、
前記標準光源を積分球の中心に配置するとともに、点灯した状態で前記標準光源の光学特性値を測定するステップと、
測定対象の光源を前記積分球の中心に配置するとともに、点灯した状態で前記測定対象の光源の光学特性値を測定するステップと、
前記標準光源の測定された光学特性値、前記測定対象の光源の測定された光学特性値、および前記標準光源に値付けされた光学特性値に基づいて、前記測定対象の光源の光学特性値を決定するステップとを備え、
前記標準光源は、
発光部と、
前記発光部と電気的に接続された給電部と、
前記発光部と前記給電部との間に設けられ、前記発光部から放射された光の前記給電部の側へ伝搬を規制する規制部とを含み、
前記規制部の前記発光部からの光が入射する表面は、拡散反射するように構成される、測定方法。 - 校正された標準光源を用意するステップと、
平面ミラーおよび積分半球からなる測定装置において、前記標準光源を前記平面ミラーの中心に配置するとともに、点灯した状態で前記標準光源の光学特性値を測定するステップと、
測定対象の光源を前記平面ミラーの中心に配置するとともに、点灯した状態で前記測定対象の光源の光学特性値を測定するステップと、
前記標準光源の測定された光学特性値、前記測定対象の光源の測定された光学特性値、および前記標準光源に値付けされた光学特性値に基づいて、前記測定対象の光源の光学特性値を決定するステップとを備え、
前記標準光源は、
発光部と、
前記発光部と電気的に接続された給電部と、
前記発光部と前記給電部との間に設けられ、前記発光部から放射された光の前記給電部の側へ伝搬を規制する規制部とを含み、
前記規制部の前記発光部からの光が入射する表面は、拡散反射するように構成される、測定方法。
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