JP6154153B2 - 標準光源および測定方法 - Google Patents

Description

本発明は、光源の全光束などの光学的特性を測定するために用いられる標準光源およびその標準光源を用いた測定方法に関する。

従来から、光源や照明器具の光学的特性の一つとして、全光束（ルーメン：ｌｍ）が評価される。一般的な全光束の測定には、その全光束の値が既知の（すなわち、予め校正された）標準光源が用いられる。より具体的には、同一の測定系（典型的には、積分球）において、標準光源を点灯した状態で測定される全光束（または、照度）と、測定対象の光源を点灯した状態で測定される測定される全光束（または、照度）とを比較することで、測定対象の光源についての全光束の値が算出される。

近年、ＬＥＤ（Light Emitting Diode）や有機ＥＬ（Electro Luminescence）などの新たな発光デバイスが普及しつつある。このような発光デバイスは、従来の蛍光灯や白熱電球などとは異なる配光特性を有している。このような配光特性の相違に伴って、ＬＥＤや有機ＥＬなどの全光束の測定に適した新たな標準光源が提案されている（例えば、非特許文献１および非特許文献２を参照のこと）。

「２π配光全光束標準光源の検討」、入江優他、平成２３年度（第４４回）照明学会全国大会予稿集１１−６、２０１１年９月 「高強度ＬＥＤ校正用標準ＬＥＤの開発」、神門賢二他、平成２３年度（第４４回）照明学会全国大会予稿集１１−９、２０１１年９月

上述の非特許文献１および２において提案されている標準光源は、ＬＥＤの配光特性に応じて専用に設計される。このような標準光源は、従来の電球型の標準光源とは異なり、その構造が複雑化する。また、非特許文献１に開示される標準光源は、光源部と積分球とを含むので、標準光源としては非発光の構造物が相対的に大きくなる。また、非特許文献１に開示される標準光源についても同様である。

本発明は、このような状況を考慮してなされたものであって、その目的は、従来の標準光源とは異なる配光特性を有する光源の全光束測定に適した、より簡素な構成の新規な標準光源およびその標準光源を用いた測定方法を提供することである。

本発明のある局面に従う標準光源は、発光部と、発光部と電気的に接続された給電部と、発光部と給電部との間に設けられ、発光部から放射された光の給電部の側へ伝搬を規制する規制部とを含む。規制部の発光部からの光が入射する表面は、拡散反射するように構成される。

好ましくは、発光部および給電部を通る光軸に垂直な方向における規制部の断面積は、発光部の配光分布に応じて決定される。

好ましくは、規制部は、発光部からの光が入射する平坦な表面を有する。
あるいは好ましくは、規制部は、発光部からの光が入射する凹状の表面を有する。

好ましくは、標準光源は、規制部の表面および発光部を含む空間を覆うフードをさらに含む。

本発明の別の局面に従う測定方法は、校正された標準光源を用意するステップと、標準光源を測定装置に装着させるとともに、点灯した状態で標準光源の光学特性値を測定するステップと、測定対象の光源を測定装置に装着させるとともに、点灯した状態で測定対象の光源の光学特性値を測定するステップと、標準光源の測定された光学特性値、測定対象の光源の測定された光学特性値、および標準光源に値付けされた光学特性値に基づいて、測定対象の光源の光学特性値を決定するステップとを含む。標準光源は、発光部と、発光部と電気的に接続された給電部と、発光部と給電部との間に設けられ、発光部から放射された光の給電部の側へ伝搬を規制する規制部とを含む。規制部の発光部からの光が入射する表面は、拡散反射するように構成される。

本発明によれば、従来の標準光源とは異なる配光特性を有する光源の全光束測定に適した、より簡素な構成の標準光源およびその標準光源を用いた測定方法を実現できる。

市販されているＬＥＤ電球の配光特性の測定例を示す図である。 全光束の測定系を示す模式図である。 積分球を用いた測定系および積分半球を用いた測定系を用いた全光束の測定結果の一例を示す図である。 実施の形態１に従う標準光源を説明するための模式図である。 実施の形態２に従う標準光源を説明するための模式図である。 実施の形態３に従う標準光源を説明するための模式図である。 本実施の形態に従う標準光源を用いたサンプル光源に対する全光束測定の処理手順を示すフローチャートである。

本発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中の同一または相当部分については、同一符号を付してその説明は繰返さない。

＜Ａ．背景技術＞
まず、本実施の形態に関連する背景技術について説明する。

例えば、市販されているＬＥＤ電球の配光特性は、主として、その発光部の形状などに応じて、４π配光と２π配光とに区分される。「４π配光」とは、光源から放射される光束がその光源を中心とする４π空間（光源からみて４πの立体角の範囲）にわたって存在するような配光特性を意味し、「２π配光」とは、光源から放射される光束がその光源を中心とする２π空間（光源からみて２πの立体角の範囲）にのみ存在するような配光特性を意味する。つまり、光源の放射軸（光軸）に沿って、前側にのみ光束が放射される光源の配光特性は、２π配光となり、前側に加えて後側にも光束が放射される光源の配光特性は、４π配光となる。

市販されているＬＥＤ電球のうち、４π配光および２π配光の配光特性を有する２つのサンプル光源１および２について、実際に測定した配光特性を図１に示す。図１は、市販されているＬＥＤ電球の配光特性の測定例を示す図である。図１（ａ）に示すサンプル光源１（４π配光）としては、パナソニック製ＬＥＤ電球（＜全方向タイプ＞明るさ電球４０Ｗ形相当（４８５ｌｍ）／品番ＬＤＡ７ＤＧ）を採用し、図１（ｂ）に示すサンプル光源２（２π配光）としては、パナソニック製ＬＥＤ電球（＜下方向タイプ＞明るさ電球６０Ｗ形相当（８２５ｌｍ）／品番ＬＤＡ９ＤＨ）を採用した。

なお、図１（ａ）および図１（ｂ）には、全光束の測定に用いられる標準光源の配光特性の一例を併せて示す。一般的に、標準光源としては、全分光放射束が既知の４π配光の配光特性を有する標準電球が使用される。この標準光源としては、Ｇｉｌｗａｙ社製１８７（レンズ付き超小型クリプトン電球）を採用した。

図１（ａ）に示すように、４π配光のＬＥＤ電球は、標準光源の配光特性に類似した配光特性を有することになるが、図１（ｂ）に示すように、２π配光のＬＥＤ電球は、標準光源の配光特性とは大きく異なる配光特性を有することになる。

光源や照明器具（以下「サンプル光源」と総称する。）の全光束測定を行う場合には、一般的には、積分球と分光測定器とを組合せた球形光束計が用いられる。つまり、このような球形光束計および図１に示すような標準光源を用いて、サンプル光源の全光束が測定される。このような測定系を用いて、標準光源の配光特性と大きく異なる配光特性を有する２π配光のＬＥＤ電球（例えば、図１（ｂ）に示すサンプル光源２）の全光束を測定する場合には、積分球の大きさの影響や、積分球内部の構造物の影響を受けて、測定誤差が発生し得る。

図２は、全光束の測定系を示す模式図である。図２（ａ）および図２（ｂ）には、積分球を用いる構成例を示し、図２（ｃ）には、積分半球を用いる構成例を示す。

図２（ａ）および図２（ｂ）に示す測定系においては、光源支持部１０２を用いて、積分球１００の内部に光源（標準光源およびサンプル光源）を配置するとともに、光源を点灯させた状態において、積分球１００の内壁面の一部から光を取り出して、その部分の照度を分光測定器１０８によって測定する。このとき、光源から放射された光が分光測定器１０８に直接入射しないように、両者の間にバッフル１０４が配置される。バッフル１０４は、バッフル支持部１０６によって所定の位置に位置決めされる。

図２（ａ）には、４π配光の配光特性（符号１１２の破線で示す配光分布）を有する標準光源１１０が光源支持部１０２に装着されている例を示す。この例において、標準光源１１０から放射された光のうち、標準光源１１０の後方（紙面上方向）へ放射される光（または、その光が積分球１００の内壁面で反射して生じた１次反射光）の一部は、光源支持部１０２および／またはバッフル支持部１０６に入射する。例えば、標準光源１１０から放射された一部の光は、積分球１００の内壁面で反射し（符号１１４）、光源支持部１０２でさらに反射する（符号１１６）。つまり、４π配光の配光特性を有する標準光源１１０を積分球１００内で点灯した場合には、積分球１００内部の構造物による反射や吸収の影響を受けやすい。

図２（ｂ）には、２π配光の配光特性（符号１２２の破線で示す配光分布）を有するサンプル光源１２０が光源支持部１０２に装着されている例を示す。サンプル光源１２０では、サンプル光源１２０の後方（紙面上方向）へ放射される光が存在しないので、図２（ａ）に示したような光源支持部１０２および／またはバッフル支持部１０６での光の反射や吸収が生じにくい。そのため、２π配光のサンプル光源１２０の全光束測定において、積分球１００内部の構造物による影響は、４π配光の標準光源１１０の全光束測定に比較して小さいといえる。さらに、２π配光のサンプル光源１２０から水平方向（紙面上方向）へ放射される光は、４π配光の標準光源１１０に比較して極めて小さい。そのため、サンプル光源１２０の水平方向に存在するバッフル１０４による影響も小さくなる。

図２（ａ）および図２（ｂ）に示すように、４π配光の標準光源１１０を測定した際に生じる積分球１００の内部で生じる損失の割合と、２π配光のサンプル光源１２０を測定した際に生じる積分球１００の内部で生じる損失の割合とは同一ではない。つまり、配光特性が大きく異なることで、測定条件の同一性を保つことができない。

一方、図２（ｃ）には、積分半球２００を用いた測定系においては、平面ミラー２０２の中心部に光源が配置される。光源を点灯させた状態において、積分半球２００の内壁面の一部から光を取り出して、その部分の照度を分光測定器２０８によって測定する。このとき、光源から放射された光が分光測定器２０８に直接入射しないように、両者の間にバッフル２０４が配置される。なお、積分半球２００を用いた測定系の詳細については、特開平０６−１６７３８８号公報や特開２００８−２９２４９７号公報などを参照されたい。

図２（ｃ）に示すように、光学的には、積分半球２００によって囲まれる積分空間（実像）の虚像２３０が平面ミラー２０２によって生成される。積分半球２００と虚像２３０とによって、積分半球２００を用いた測定系も、実質的には図２（ａ）および図２（ｂ）に示す積分球１００が提供する積分空間と同様の積分空間を実現する。これに加えて、積分半球２００を用いた測定系では、光源支持部１０２を用いることなく、光源を中心部に配置することができる。光学的にみれば、図２（ａ）および図２（ｂ）に示す積分球１００とは異なり、内壁面から突出した光源支持部１０２が存在せず、光源支持部１０２による影響を低減できる。

つまり、２π配光のサンプル光源１２０を装着して点灯した場合であっても、虚像２３０によって、４π配光の標準光源１１０を装着して点灯した場合と同様に、内壁面の全体が照明されるため、配光特性が異なっていても、測定結果に与える影響はより小さいものになると考えられる。

次に、積分球を用いた測定系および積分半球を用いた測定系のそれぞれを用いて、サンプル光源の全光束を測定した結果の一例を示す。図３は、積分球を用いた測定系および積分半球を用いた測定系を用いた全光束の測定結果の一例を示す図である。図３（ａ）には、４π配光の２種類のＬＥＤ電球（ＬＥＤ電球Ａ１およびＡ２）についての測定結果を示し、図３（ｂ）には、２π配光の２種類のＬＥＤ電球（ＬＥＤ電球Ｂ１およびＢ２）についての測定結果を示す。

図３（ａ）および図３（ｂ）には、測定系の相違による測定精度への影響を評価するために、同一の標準光源（４π配光）の条件下で、図２（ｃ）に示す積分半球２００を用いた測定系（１種類）、ならびに、図２（ａ）および図２（ｂ）に示す積分球１００を用いた測定系（４種類）の計５つの測定系のそれぞれにおける測定結果を対比可能に示す。積分球１００を用いた測定系としては、その直径が２．０ｍ，１．６ｍ，１．０ｍと異なる３種類の積分球を用いるとともに、２ｍｍ径の給電線で吊り下げることによって、サンプル光源を積分球の中心に配置した。但し、直径が２．０ｍの積分球については、直径４０ｍｍの光源支持部１０２を使用してサンプル光源を積分球の中心に配置した場合についても測定を行った。

図３（ａ）および図３（ｂ）には、サンプル光源と測定系との組合せの各々について複数回の測定を行い、それによって得られた測定結果を統計的に処理したものである。図３（ａ）および図３（ｂ）の縦軸は、測定によって得られた全光束を対応するスペック（全光束）で除して得られる割合（相対全光束）を示す。この割合が小さいほど、測定系における損失が大きいことを意味する。

図３（ａ）および図３（ｂ）には、拡張不確かさ（包含係数ｋ＝２）の範囲をエラーバーとして示す。

まず、図３（ａ）に示すように、標準電球と同様の４π配光の配光特性を有するＬＥＤ電球Ａ１およびＡ２については、いずれの測定系であっても、誤差±１％以内で一致していることがわかる。つまり、標準電球およびサンプル光源の配光特性がいずれも４π配光であれば、積分球の大きさや構造に影響されることなく、全光束が適切に測定できるといえる。

これに対して、標準電球とは異なる２π配光の配光特性を有するＬＥＤ電球Ｂ１およびＢ２については、図３（ｂ）に示すように、積分球の大きさや構造に依存して全光束の測定値が影響を受けていることがわかる。つまり、図２（ａ）および図２（ｂ）を参照して説明したように、光源支持部による反射や吸収、ならびに、積分空間の小型化による損失の割合の相対的な増加などが原因として挙げられる。すなわち、標準電球とサンプル光源との間の配光特性の相違によって、ＬＥＤ電球Ｂ１およびＢ２についての全光束の測定値は、積分球の大きさに依存した傾向が生じた理由であると考えられる。

このように、標準電球とは配光特性が異なるＬＥＤ電球や照明器具などのサンプル光源の全光束を、積分球と分光測定器とを組合せた球形光束計を用いて測定する場合には、相対的に大きな測定誤差が生じるという課題があった。

＜Ｂ．概要＞
本実施の形態に従えば、従来の標準光源とは異なる配光特性を有するＬＥＤ電球などの光源の全光束測定に適した標準光源が提供される。本実施の形態に従う標準光源は、後述するように、より簡素な構成で実現される。

より具体的には、本実施の形態に従う標準光源は、発光部と、発光部と電気的に接続された給電部と、発光部と給電部との間に設けられ、発光部から放射された光の給電部の側へ伝搬を規制する規制部とを含む。この規制部の発光部からの光が入射する表面は、拡散反射するように構成される。

このような構成によって、基本的には、４π配光の配光特性を有する発光部を採用する場合であっても、規制部によって後方への光の伝搬が規制されるので、２π配光に近い配光特性を実現することができる。すなわち、従来の白熱電球やハロゲン電球などからなる標準光源に類似した構成を維持しつつ、ＬＥＤ電球などの全光束測定に適した標準光源を実現できる。

以下、具体的な実現例として実施の形態１〜３について説明する。なお、実施の形態１〜３を「本実施の形態」と総称する場合もある。

＜Ｃ．実施の形態１＞
図４は、実施の形態１に従う標準光源１０を説明するための模式図である。図４（ａ）は、標準光源１０の断面模式図を示し、図４（ｂ）は、標準光源１０の配光特性を示す。

図４（ａ）を参照して、標準光源１０は、本体部１２と、発光部１４と、配光制御板１６と、電極部１８とを含む。

本体部１２は、配光制御板１６および電極部１８と一体的に構成されるとともに、発光部１４が装着可能な構成を有する。本体部１２は、電極部１８と発光部１４とを電気的に接続する。

発光部１４は、光を放射する部位であり、基本的には、４π配光の配光特性を有する。発光部１４としては、白熱電球またはハロゲン電球のようなフィラメントを用いた光源を採用できる。あるいは、キセノン（Ｘｅ）ランプや放電ランプなどを用いてもよい。さらに、用途によっては、赤外線を発生するヒータを採用することもできる。

電極部１８は、図示しないソケットに装着され、そのソケットから供給される電力を発光部１４へ与える。つまり、電極部１８は、発光部１４と電気的に接続された給電部に相当する。典型的には、電極部１８としては、所定の規格（例えば、Ｅ型）に従う形状を有する口金が採用される。

配光制御板１６は、発光部１４と電極部１８（給電部）との間に設けられ、発光部１４から放射された光の電極部１８の側へ伝搬を規制する規制部として機能する。配光制御板１６は、電極部１８に近接して、本体部１２に設けられる。配光制御板１６は、発光部１４の後方側（紙面下側）の配光分布を制御する。

配光制御板１６の発光部１４からの光が入射する平坦な表面１６ａは、拡散反射するように構成される。つまり、表面１６ａには拡散反射層が形成されており、これによって、表面１６ａで反射された発光部１４からの光が発光部１４へ再入射する現象（再帰性反射）の生じる割合を低減することができる。このような構成によって、発光部１４（光源）による自己吸収の割合を低減することができる。この拡散反射層としては、拡散反射率が高く、かつ耐熱性に優れた樹脂拡散材料（典型的には、スペクトラロン（登録商標）など）を用いることが好ましい。これは、発光部１４の点灯によって、配光制御板１６の表面も比較的高温（一例として、３００℃程度）になることを考慮したものである。代替の構成として、硫酸バリウムを主体とするコーティング剤によって、拡散反射層を形成してもよい。なお、標準光源としての配光特性を考慮すると、配光制御板１６の表面１６ａとしては、鏡面反射層を用いることは好ましくない。

配光制御板１６は、発光部１４から放射された光が後方へ伝搬することを規制するためのものであるので、その表面１６ａの大きさは、発光部１４の配光特性に応じて決定される。つまり、発光部１４および電極部１８（給電部）を通る軸Ｘ１に垂直な方向（軸Ｘ２）における配光制御板１６（規制部）の断面積（表面積）は、発光部１４の配光分布に応じて決定される。より具体的には、配光制御板１６の半径は、表面１６ａの面内方向における発光部１４の配光特性との交点に基づいて決定される。もちろん、配光制御板１６の表面積が十分に大きければ、発光部１４から放射された光が後方へ伝搬することを完全に妨げることはできるが、一方で、標準光源１０に含まれる非発光の構造物の割合が大きくなり、測定精度や取扱いなどの面において不利益が生じ得る。そこで、発光部１４の配光特性に基づいて、配光制御板１６の断面積（表面積）を合理的な大きさにするのが好ましい。

図４（ａ）に示すような構成を採用することで、標準光源１０としての配光特性を図４（ｂ）に示すように改善できる。すなわち、図４（ｂ）には、配光制御板１６を設けない場合に生じる配光特性２２（破線）と、配光制御板１６を設けた場合に生じる配光特性２０（実線）とを示す。配光特性２０と配光特性２２とを比較すると、配光制御板１６を設けることで、標準光源１１０の後方（紙面下方向）へ放射されていた光の割合が低減され、全体的に、標準光源１１０の前方（紙面上方向）へより多くの光が放射されるようになっていることがわかる。つまり、配光制御板１６は、発光部１４から放射される光の分布を制御することで、２π配光により近い配光特性を実現できる。

図４に示すような標準光源１０は、公知の配光測定法に従って、全光束または全分光放射束の値付け（校正）が行われる。そして、各標準光源１０に対して値付けされた全光束全分光放射束の値を有する標準電球として、全光束測定において用いられる。

このような２π配光により近い配光特性を有する標準光源１０を用いて全光束測定を行うことにより、2π配光を有するサンプル光源の全光束をより高い精度で測定できる。

＜Ｄ．実施の形態２＞
次に、前方へより多くの光を放射させて、完全な２π配光を実現できる構成について例示する。図５は、実施の形態２に従う標準光源３０を説明するための模式図である。図５（ａ）は、標準光源３０の断面模式図を示し、図５（ｂ）は、標準光源３０の配光特性を示す。

図５（ａ）を参照して、標準光源３０は、本体部３２と、発光部３４と、配光制御板３６と、電極部３８とを含む。

本体部３２、発光部３４、電極部３８については、上述の実施の形態１に従う標準光源１０の本体部１２、発光部１４、電極部１８と同様であるので、詳細な説明は繰返さない。

配光制御板３６は、発光部３４からの光が入射する凹状の表面３６ａを有する。表面３６ａは、拡散反射するように構成される。より具体的には、表面３６ａには拡散反射層が形成されている。

配光制御板３６は、発光部３４について湾曲した構造を有しており、この湾曲に係る曲率は、目的の配光特性を実現するために必要な値に設定される。つまり、配光制御板３６は、発光部３４から放射された光が後方へ伝搬することを規制するとともに、その表面３６ａに入射した光を前方へ反射させることで、より完全な２π配光の配光特性を実現する。図５に示す例では、配光制御板３６の周辺部（端部）が定義する平面（軸Ｘ２を含む平面）が発光部３４の中心部と交わるように構成される。このような凹状構造を採用することで、発光部３４から軸Ｘ１に直交する方向（軸Ｘ２方向）より後方に放射される光を、表面３６ａで反射して前方に再放射させることができる。

図５（ａ）に示すような構成を採用することで、標準光源３０としての配光特性を図５（ｂ）に示すように改善できる。すなわち、図５（ｂ）には、配光制御板３６を設けない場合に生じる配光特性４２（破線）と、配光制御板３６を設けた場合に生じる配光特性４０（実線）とを示す。配光特性４０と配光特性４２とを比較すると、配光制御板３６を設けることで、標準光源１１０の後方（紙面下方向）へ放射されていた光のすべてを前方（紙面上方向）へ放射される成分に変換できていることがわかる。つまり、配光制御板３６は、発光部３４から放射される光の分布を制御することで、２π配光の配光特性を実現できる。

図５に示すような標準光源３０は、公知の配光測定法に従って、全光束または全分光放射束の値付け（校正）が行われる。そして、各標準光源３０に対して値付けされた全光束全分光放射束の値を有する標準電球として、全光束測定において用いられる。

このような２π配光の配光特性を有する標準光源３０を用いて全光束測定を行うことにより、2π配光を有するサンプル光源の全光束をより高い精度で測定できる。

＜Ｅ．実施の形態３＞
上述の実施の形態１および２において、配光制御板の表面に形成された拡散反射層が汚損すると、再度の校正が必要になる。そのため、このような配光制御板の表面の汚損を防止するための構成を実施の形態３として説明する。

図６は、実施の形態３に従う標準光源３０Ａを説明するための模式図である。図６には、標準光源３０Ａの断面模式図を示す。図６を参照して、標準光源３０Ａは、図５に示す標準光源３０に比較して、保護ドーム５０がさらに追加された構成に相当する。

保護ドーム５０は、発光部３４から放射される光を透過させる透光性の材質で構成される。但し、全光束または全分光放射束の値付け（校正）が事後的に行われるため、保護ドーム５０を構成する材質の光透過度を必ずしも高くする必要はない。このように、保護ドーム５０は、発光部３４および配光制御板３６を保護する。つまり、保護ドーム５０は、配光制御板３６の表面３６ａおよび発光部３４を含む空間を覆うフードに相当する。

このような保護ドーム５０を設けることで、配光制御板３６の表面３６ａおよび発光部３４の汚損を防止することができ、汚損による精度低下を防止できる。

なお、図６には、実施の形態２に従う標準光源３０に類似した構成を示すが、実施の形態３に従う技術思想は、図４に示す実施の形態１に従う標準光源１０にも適用可能である。

＜Ｆ．その他の実施の形態＞
本実施の形態に従う標準光源は、配光制御板の有無によって、４π配光と２π配光とを切り替えることができるので、標準光源のメーカなどにおいては、本体部、発光部、電極部を共通にする標準電球を画一的に製造するとともに、要求される配光特性に応じて、配光制御板をさらに付加する工程を追加するようにしてもよい。このような製造方法を採用することで、標準光源の製造コストを低減できる。

なお、このように製造された光源は、予め認定された試験所や校正機関において、全光束または全分光放射束の値付け（校正）が行われた上で、標準光源として出荷される。

＜Ｇ．測定手順＞
次に、本実施の形態に従う標準光源を用いたサンプル光源に対する全光束測定の処理手順の一例について説明する。

図７は、本実施の形態に従う標準光源を用いたサンプル光源に対する全光束測定の処理手順を示すフローチャートである。本処理手順は、標準光源に対する校正と、校正された標準光源を用いたサンプル光源に対する測定との二段階の手順を含む。

より具体的には、図７を参照して、まず、より上位の標準器（標準光源）が校正用の測定装置に装着され、点灯状態にて光学特性値（全光束または全分光放射束）が測定される（ステップＳ２）。続いて、本実施の形態に従う標準光源が同一の校正用の測定装置に装着され、点灯状態にて光学特性値（全光束または全分光放射束）が測定される（ステップＳ４）。そして、ステップＳ２において測定された光学特性値とステップＳ４において測定された光学特性値との相対関係と、より上位の標準器（標準光源）に値付けされた光学特性値とに基づいて、標準光源の光学特性値（全光束または全分光放射束）が決定される（ステップＳ６）。なお、ステップＳ４の処理が複数回繰返されてもよい。また、ステップＳ２とステップＳ４との実行順序についても特に制限されない。これによって、標準光源に対する校正処理が完了する。これらのステップＳ２〜Ｓ６は、校正された標準光源を用意する工程に相当する。そして、この校正後の標準光源を用いて、サンプル光源の測定が行われる。

より具体的には、校正後の標準光源が測定装置に装着され、点灯状態にて光学特性値（全光束または全分光放射束）が測定される（ステップＳ１２）。すなわち、標準光源を測定装置に装着させるとともに、点灯した状態で当該標準光源の光学特性値を測定する工程が実行される。続いて、測定対象のサンプル光源が同一の測定装置に装着され、点灯状態にて光学特性値（全光束または全分光放射束）が測定される（ステップＳ１４）。すなわち、測定対象のサンプル光源を測定装置に装着させるとともに、点灯した状態で当該サンプル光源の光学特性値を測定する工程が実行される。

そして、ステップＳ１２において測定された光学特性値とステップＳ１４において測定された光学特性値との相対関係と、より標準光源に値付けされた値とに基づいて、サンプル光源の光学特性値（全光束または全分光放射束）が決定される（ステップＳ１６）。すなわち、標準光源の測定された光学特性値、サンプル光源の測定された光学特性値、および標準光源に値付けされた光学特性値に基づいて、サンプル光源の光学特性値を決定する工程が実行される。なお、ステップＳ１４の処理が複数回繰返されてもよい。また、ステップＳ１２とステップＳ１４との実行順序についても特に制限されない。これによって、サンプル光源に対する測定処理が完了する。

一般的には、図７に示すステップＳ２〜Ｓ６は、予め認定された試験所や校正機関において実行され、ステップＳ１２〜Ｓ１６は、サンプル光源を測定する各ユーザにおいて実行される。典型的には、光源や照明装置の製造ラインにおける製品または半製品の抜き取り調査などに応用される。

＜Ｈ．作用効果＞
本実施の形態に従う標準光源によれば、比較的簡素な構成を維持しつつ、ＬＥＤ電球などの２π配光の配光特性を有するサンプル光源に適した配光特性を実現できる。これによって、ＬＥＤ電球などの全光束測定をより高い精度で行うことができる。

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した説明ではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。

１，２，１２０ サンプル光源、１０，３０，３０Ａ，１１０ 標準光源、１２，３２ 本体部、１４，３４ 発光部、１６，３６ 配光制御板、１６ａ，３６ａ 表面、１８，３８ 電極部、２０，２２，４０，４２ 配光特性、５０ 保護ドーム、１００ 積分球、１０２ 光源支持部、１０４，２０４ バッフル、１０６ バッフル支持部、１０８，２０８ 分光測定器、２００ 積分半球、２０２ 平面ミラー、２３０ 虚像。

Claims (7)

1. 発光部と、
   前記発光部と電気的に接続された給電部と、
   前記発光部と前記給電部との間に設けられ、前記発光部から放射された光の前記給電部の側へ伝搬を規制する規制部とを備え、
   前記規制部の前記発光部からの光が入射する表面は、拡散反射するように構成される、標準光源。
2. 前記発光部および前記給電部を通る光軸に垂直な方向における前記規制部の断面積は、前記発光部の配光分布に応じて決定される、請求項１に記載の標準光源。
3. 前記規制部は、前記発光部からの光が入射する平坦な表面を有する、請求項１または２に記載の標準光源。
4. 前記規制部は、前記発光部からの光が入射する凹状の表面を有する、請求項１または２に記載の標準光源。
5. 前記規制部の表面および前記発光部を含む空間を覆うフードをさらに備える、請求項１〜４のいずれか１項に記載の標準光源。
6. 校正された標準光源を用意するステップと、
   前記標準光源を積分球の中心に配置するとともに、点灯した状態で前記標準光源の光学特性値を測定するステップと、
   測定対象の光源を前記積分球の中心に配置するとともに、点灯した状態で前記測定対象の光源の光学特性値を測定するステップと、
   前記標準光源の測定された光学特性値、前記測定対象の光源の測定された光学特性値、および前記標準光源に値付けされた光学特性値に基づいて、前記測定対象の光源の光学特性値を決定するステップとを備え、
   前記標準光源は、
   発光部と、
   前記発光部と電気的に接続された給電部と、
   前記発光部と前記給電部との間に設けられ、前記発光部から放射された光の前記給電部の側へ伝搬を規制する規制部とを含み、
   前記規制部の前記発光部からの光が入射する表面は、拡散反射するように構成される、測定方法。
7. 校正された標準光源を用意するステップと、
   平面ミラーおよび積分半球からなる測定装置において、前記標準光源を前記平面ミラーの中心に配置するとともに、点灯した状態で前記標準光源の光学特性値を測定するステップと、
   測定対象の光源を前記平面ミラーの中心に配置するとともに、点灯した状態で前記測定対象の光源の光学特性値を測定するステップと、
   前記標準光源の測定された光学特性値、前記測定対象の光源の測定された光学特性値、および前記標準光源に値付けされた光学特性値に基づいて、前記測定対象の光源の光学特性値を決定するステップとを備え、
   前記標準光源は、
   発光部と、
   前記発光部と電気的に接続された給電部と、
   前記発光部と前記給電部との間に設けられ、前記発光部から放射された光の前記給電部の側へ伝搬を規制する規制部とを含み、
   前記規制部の前記発光部からの光が入射する表面は、拡散反射するように構成される、測定方法。

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