JP5423811B2 - 半導体モジュール - Google Patents

半導体モジュール Download PDF

Info

Publication number
JP5423811B2
JP5423811B2 JP2011548892A JP2011548892A JP5423811B2 JP 5423811 B2 JP5423811 B2 JP 5423811B2 JP 2011548892 A JP2011548892 A JP 2011548892A JP 2011548892 A JP2011548892 A JP 2011548892A JP 5423811 B2 JP5423811 B2 JP 5423811B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
rectifying
semiconductor module
arm
elements
stacking
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2011548892A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2011083578A1 (ja
Inventor
中智 周
武志 深見
悠司 小田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyota Motor Corp filed Critical Toyota Motor Corp
Publication of JPWO2011083578A1 publication Critical patent/JPWO2011083578A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5423811B2 publication Critical patent/JP5423811B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/20Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating
    • H05K7/2089Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating for power electronics, e.g. for inverters for controlling motor
    • H05K7/20927Liquid coolant without phase change
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • H01L23/3735Laminates or multilayers, e.g. direct bond copper ceramic substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/46Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids
    • H01L23/473Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids by flowing liquids
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L24/33Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of a plurality of layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/07Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
    • H01L25/071Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00 the devices being arranged next and on each other, i.e. mixed assemblies
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02MAPPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
    • H02M7/00Conversion of ac power input into dc power output; Conversion of dc power input into ac power output
    • H02M7/003Constructional details, e.g. physical layout, assembly, wiring or busbar connections
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/06Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
    • H01L2224/061Disposition
    • H01L2224/0618Disposition being disposed on at least two different sides of the body, e.g. dual array
    • H01L2224/06181On opposite sides of the body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/33Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of a plurality of layer connectors
    • H01L2224/331Disposition
    • H01L2224/3318Disposition being disposed on at least two different sides of the body, e.g. dual array
    • H01L2224/33181On opposite sides of the body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/4847Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond
    • H01L2224/48472Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond the other connecting portion not on the bonding area also being a wedge bond, i.e. wedge-to-wedge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/18Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different subgroups of the same main group of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • H01L2924/13055Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19107Disposition of discrete passive components off-chip wires

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Inverter Devices (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)

Description

本発明は、半導体モジュールに関し、特に電気自動車やハイブリッド車等の車両に用いられる半導体モジュールに関するものである。
従来、車両に用いられる半導体モジュールとして、例えば特開2009−159815号公報に記載されるように、内部に上アーム及び下アームを備えた直列回路を内蔵し、同アーム中の半導体素子とダイオードとを重ね合わせるものが知られている。そして、モジュールの両側に冷却金属を設置し、ダイオード側に折り返される冷却水路を設けることにより、該半導体モジュールを冷却する。
特開2009−159815号公報
しかしながら、上記従来の半導体モジュールには、以下のような問題点があった。すなわち、ダイオードと半導体素子とはそれぞれ面積が異なるので、面積が異なるもの同士が重ね合わされる場合、面積が小さい方の面(主にダイオード側の面)では冷却金属(放熱部材)への接触面積が減り、放熱が十分に行われない。また、モータロック時のように、特定のスイッチング素子のみが発熱する状態が考慮されておらず、上記の冷却構造のみで対応しきれない。
本発明は、このような技術課題を解決するためになされたものであって、放熱効率の向上を図ることができる半導体モジュールを提供することを目的とする。
本発明に係る半導体モジュールは、それぞれスイッチング素子及び整流素子を有する上アームと下アームとを備えた半導体モジュールであって、上アームと下アームとのスイッチング素子同士を重ね合わせ、且つ上アームと下アームとの整流素子同士を重ね合わせるように、上アームと下アームとが積層されていることを特徴とする。
本発明に係る半導体モジュールでは、上下アームのスイッチング素子同士を重ね合わせ、且つ整流素子同士を重ね合わせるように、上アームと下アームとが対向して積層されているので、上下アームのスイッチング素子同士、整流素子同士が積層構造となる。このため、上下面で放熱部材への接触面積が同一になり、熱が均等に拡散することが可能となる。その結果、放熱効率を向上することができる。
本発明に係る半導体モジュールは、それぞれスイッチング素子及び整流素子を有する上アームと下アームとを備えた半導体モジュールであって、上アームと下アームとのスイッチング素子同士を重ね合わせたスイッチング素子積層部と、上アームと下アームとの整流素子同士を重ね合わせた整流素子積層部と、少なくともスイッチング素子同士及び整流素子同士の積層方向の両側に設けられ、スイッチング素子積層部及び整流素子積層部を冷却する冷却部と、を備えることを特徴とする。
本発明に係る半導体モジュールでは、上下アームのスイッチング素子同士を重ね合わせたスイッチング積層部と、上下アームの整流素子同士を重ね合わせた整流素子積層部とを備えるので、上下面で放熱部材への接触面積が均一になる。これによって、熱が均等に拡散することが可能となり、放熱の効率を向上することができる。また、冷却部が少なくともスイッチング素子同士及び整流素子同士の積層方向の両側に設けられているので、モータロック時に上下アームが同時に発熱することがないことを利用し、発熱が起こらない側のアームを放熱領域として用いることができる。従って、モータロック時の冷却性能を向上させることができ、モジュール全体の放熱効率を向上することができる。
本発明に係る半導体モジュールにおいて、冷却部は、冷媒と冷媒を流通させるための冷媒流路とを有し、冷媒流路は、スイッチング素子同士及び整流素子同士の積層方向の両側に沿ってそれぞれ設けられ、整流素子積層部側で折り返されていることが好適である。この場合にあっては、上下アームが積層され、冷媒流路が折り返されているので、モジュール全体の小型化を図ることができる。また、発熱が起こらない側整流素子側に冷媒流路を折り返すことにより、スイッチング素子積層部では冷媒の温度が低温に保たれるので、冷却機能を向上することが可能となる。
本発明によれば、放熱効率の向上を図ることができる半導体モジュールを提供できる。
実施形態に係る半導体モジュールを示す平面図である。 図1のII−II線に沿った断面図である。 図1のIII−III線に沿った断面図である。 半導体モジュールを用いたパワーコントロールユニットの構成を示す回路図である。 (a)力行時における昇圧コンバータの電流流れを示す回路図であり、(b)回生時における昇圧コンバータの電流流れを示す回路図である。 モータロック時における電流の流れを示す回路図である。 半導体モジュールの変形例を示す部分断面図である。 半導体モジュールの変形例を示す部分断面図である。 図8のIX−IX線に沿った概略断面図である。 突起部の変形例を示す概略断面図である。
以下、添付図面を参照して本発明の実施形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
図1は実施形態に係る半導体モジュールを示す平面図であり、図2は図1のII−II線に沿った断面図であり、図3は図1のIII−III線に沿った断面図である。本実施形態に係る半導体モジュール1は、インバータ回路の上アーム2と下アーム3とを備えている。上アーム2と下アーム3とは、同じ構造を有し、その間に配置されたバスバー10に対して上下対称に配置されて、積層されている。そして、上アーム2と下アーム3との積層体の両側には、冷却器4A,4Bが設けられている。
上アーム2は、複数のスイッチング素子5A、整流素子6A、スイッチング素子5Aと整流素子6Aとが実装される絶縁基板7Aを有している。図2に示すように、スイッチング素子5Aの表面側に位置するエミッタは、半田層8Aを介してバスバー10に電気的接続されている。スイッチング素子5Aの裏面側に位置するコレクタは、半田層9Aによって絶縁基板7Aに固定されている。また、図3に示すように、整流素子(例えばダイオード)6Aの表面側に位置するアノードは、半田層8Aを介してバスバー10に電気的接続されている。整流素子6Aの裏面側に位置するカソードは、半田層9Aによって絶縁基板7Aに固定されている。
絶縁基板7Aは、DBA(Direct Brazed Aluminum)基板であり、アルミニウム又はアルミニウム合金からなる上部金属層11と、窒化アルミニウムからなる絶縁層12と、アルミニウム又はアルミニウム合金からなる下部金属層13とを積層した構造を有している。上部金属層11は、半田層9Aを介してスイッチング素子5Aと整流素子6Aに電気的に接続されている。下部金属層13は、ロウ付けで冷却器4Aと接合されている。また、上部金属層11は、ボンディングワイヤ14を介してバスバー15に電気的に接続されている。
下アーム3は、複数のスイッチング素子5B、整流素子6B、スイッチング素子5Bと整流素子6Bとが実装される絶縁基板7Bを有している。図2に示すように、スイッチング素子5Bの表面側に位置するエミッタは、半田層8Bを介してバスバー10に電気的接続されている。スイッチング素子5Bの裏面側に位置するコレクタは、半田層9Bによって絶縁基板7Bに固定されている。
また、図3に示すように、整流素子(例えばダイオード)6Bの表面側に位置するアノードは、半田層8Bを介してバスバー10に電気的接続されている。整流素子6Bの裏面側に位置するカソードは、半田層9Bによって絶縁基板7Bに固定されている。絶縁基板7Bは絶縁基板7Aと同様な構造を有している。絶縁基板7Bの上部金属層11は、ボンディングワイヤ16を介してバスバー17に電気的に接続されている。下アーム3は、ロウ付けで冷却器4Bと接合されている。
上アーム2と下アーム3とを積層することにより、スイッチング素子5A,5B同士を重ね合わせたスイッチング素子積層部1Aと、整流素子6A,6B同士を重ね合わせた整流素子積層部1Bとがそれぞれ形成されている。
冷却器4A,4Bは、上アーム2と下アーム3との積層方向の両側にそれぞれ設けられており、スイッチング素子積層部1A及び整流素子積層部1Bを冷却する。これらの冷却器4A,4Bは、それぞれ波状に成形された冷却フィン18と、冷却フィン18を挟んで固定する天板19及び底板20とを有している。
天板19は、上アーム2又は下アーム3に隣接する側に配置され、ロウ付けで絶縁基板7A,7Bの下部金属層13に固定されている。一方、底板20は、天板19と対向してモジュールの外側に配置されている。冷却フィン18、天板19及び底板20は、高熱伝導性の高いアルミニウムや銅などの材料により構成されている。冷却器4A,4Bの内部の冷却フィン18によって区画された中空部分は、冷媒を流通させるための冷媒流路21を形成する。
図3に示すように、整流素子積層部1B側において、上アーム2と下アーム3との積層方向に沿って延在し、冷却器4Aと冷却器4Bとを連結する連結部4Cが設置されている。このように連結部4Cを設けることにより、冷媒流路21は整流素子積層部1B側で折り返される。そして、冷媒が矢印F1方向に沿って導入口22から導入され、冷却器4A内の冷媒流路21を経由し、整流素子積層部1B側で折り返され、冷却器4B内の冷媒流路21を流れて、排出口22を経由して外部に排出される。これによって、冷媒がスイッチング素子積層部1A及び整流素子積層部1Bからの発熱を吸収して、スイッチング素子積層部1A及び整流素子積層部1Bを効率良く冷却する。
図4は、半導体モジュールを用いたパワーコントロールユニットの構成を示す回路図である。このパワーコントロールユニットは、例えばハイブリッド車に搭載されており、昇圧コンバータ24と、インバータ25と、モータジェネレータ26とを備えている。昇圧コンバータ24は、蓄電池27の充電及び放電を行うための直流電圧変換器であって、コンデンサ28,29と、リアクトル30と、トランジスタ(スイッチング素子)31,32と、ダイオード(整流素子)33,34とを有している。
コンデンサ28は、電源ラインL1と接地ラインL2との間に蓄電池27に並列に接続されており、蓄電池27の充放電電圧を平滑化する。リアクトル30は、その一端が電源ラインL1に接続され、他端がトランジスタ31,32の接続点に接続されている。トランジスタ31,32は、電源ラインL3と接地ラインL2との間に直列に接続されている。そして、各トランジスタ31,32のコレクターエミッタ間には、エミッタ側からコレクタ側へ電流を流すようにダイオード33,34がそれぞれ接続されている。
トランジスタ31,32は、例えば絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(IGBT:Insulated Gate Bipolar Transistor)によって構成されている。コンデンサ29は、電源ラインL3と接地ラインL2との間に接続され、電力バッファとして機能している。
インバータ25は、昇圧コンバータ24とモータジェネレータ26との間で電力変換を行う。すなわち、インバータ25は、蓄電池27から供給される直流電力を3個の相電圧(U相電圧、V相電圧、W相電圧)を有する三相交流電力に変換可能であると共に、モータジェネレータ26から供給される三相交流電力を直流電力に変換可能である。
このインバータ25は、U相アーム35、V相アーム36、W相アーム37を有している。U相アーム35、V相アーム36及びW相アーム37は、電源ラインL3と接地ラインL2との間に並列に接続されている。U相アーム35、V相アーム36、W相アーム37は、それぞれ直列に接続されたスイッチング素子5A,5Bと、各スイッチング素子5A,5Bと並列に接続された整流素子(ダイオード)6A,6Bとを備えている。
そして、U相アーム35、V相アーム36、W相アーム37は、出力ラインL4,L5,L6を介してモータジェネレータ26の各相コイルの中性点と反対側のコイル端にそれぞれ接続されている。モータジェネレータ26は、例えば三相交流同期電動発電機からなり、インバータ25からの三相交流電圧によって駆動力を発生する。また、このモータジェネレータ26は、エンジンの出力を用いて三相交流電圧を発生し、その発生した三相交流電圧をインバータ25に出力する。
図5(a)力行時における昇圧コンバータの電流流れを示す回路図であり、(b)回生時における昇圧コンバータの電流流れを示す回路図である。図5(a)に示すように、力行時において蓄電池27から供給される電流が、リアクトル30を経由し、それぞれトランジスタ32とダイオード33に流れる(矢印F2参照)。一方、図5(b)に示すように回生時では、三相交流電流がトランジスタ31とダイオード34を経由し、リアクトル30に流れる(矢印F3参照)。
図6はモータロック時における電流の流れを示す回路図である。図6において、U相上アーム2Uが最大電流になった場合(すなわち、インバータ熱律速となるロックの場合)、U相電流の流れを破線で示し、V相電流の流れを一点鎖線で示し、W相電流の流れを二点鎖線で示す。
図5及び図6により、上下アーム2,3のスイッチング素子5A,5B同士と整流素子6A,6B同士とが同時に電流を流さないことが明らかである。すなわち、この場合には、スイッチング素子5A,5B同士と整流素子6A,6B同士とが同時に発熱しない。従って、上下アーム2,3のスイッチング素子5A,5B同士、整流素子6A,6B同士を積層することによって、電流が流れない(すなわち、発熱しない)アームから熱を逃がすことが可能となる。このように同時に発熱しないスイッチング素子5A,5B同士、整流素子6A,6B同士の積層構造をすることにより、熱を逃がすルートを増やすことで、放熱効率の向上を図ることができ、冷却機能を向上することができる。
上述のように構成された半導体モジュール1では、上下アーム2,3のスイッチング素子5A,5B同士と、整流素子6A,6B同士を重ね合わせているため、上下面で冷却器4A,4Bへの接触面積が均一になる。これによって、熱が均等に拡散することが可能となり、放熱効率を向上することができる。しかも、上アーム2と下アーム3とを積層することにより、半導体モジュール1の小型化を図り易くなる。
また、冷却器4A,4Bがスイッチング素子5A,5B同士及び整流素子6A,6B同士の積層方向の両側に設けられているので、モータロック時にスイッチング素子5A,5B同士、整流素子6A,6B同士が同時に発熱することがないことを利用し、発熱が起こらない側のアームを放熱領域として用いることができる。従って、モータロック時のように特定のスイッチング素子5A,5Bや整流素子6A,6Bのみが発熱する状況であっても、冷却能力を十分に確保することができる。その結果、半導体モジュール1全体の放熱効率を向上することができる。
更に、冷媒流路21が整流素子積層部1B側で折り返されているので、モジュール全体の小型化を図り易くなる。また、整流素子6A,6Bの発熱量がスイッチング素子5A,5Bより比較的に低いため、整流素子積層部1B側で冷媒流路21を折り返すことにで、スイッチング素子5A,5Bを冷やす必要となる圧損を確保することが可能となる。しかも、スイッチング素子積層部1Aでは冷媒の温度が低温に保たれるので、スイッチング素子5A,5Bを冷却する冷却性能を向上することができる。
以下、図7及び図8を参照して半導体モジュールの変形例を説明する。
図7に示す変形例では、冷却器4A,4Bの内部であってスイッチング素子5A,5Bの直下位置に、冷媒流路21の一部である空間38が形成されている。この空間38は、底板20と絶縁基板7A,7Bの絶縁層12との間に延びている。このようにすれば、冷媒が矢印F4に示すように直接絶縁層12を冷やすことができるので、より熱を効率よく吸収して、冷却性能を向上することが可能となる。また、このように空間38を設けることによって、パンチングメタルの役目のような応力緩和材としての効果も期待でき、応力を緩和することができる。
図8に示す変形例では、絶縁基板7A,7Bの絶縁層12に空間38に突出する突起部12aが設けられている。この突起部12aは、冷媒との接触面積をより多く増やすため、フィン状に形成されている。図9は図8のIX−IX線に沿った概略断面図である。図9において(a)はスイッチング素子5A,5Bの直下位置に形成される空間38を示し、(b)は整流素子6A,6Bの直下位置に形成される空間39を示す。
図9(a)に示すように、スイッチング素子5A,5Bの直下位置に配置された空間38は断面円形状に形成されており、絶縁層12の突起部12aが円柱形状に形成されている。一方、整流素子6A,6Bの直下位置に配置された空間39は断面楕円形状に形成されており、突起部12bは楕円柱状に形成されている(図9(b)参照)。
図8に示すように、この場合にあっては、冷媒が矢印F5に示すように下方のみならず突起部12aの周囲からも直接絶縁層12と接触して、突起部12aを冷やすことができる。これによって、熱を吸収する効果を一層に高めることができ、冷却性能を向上することができる。
なお、突起部の形状や配置等は上述の内容に限らない。例えば図10(a)に示すように、突起部12a,12bは平板状に形成され、空間38,39のスペースに合わせて複数に並列に設置されてもよく、あるいは図10(b)に示すように突起部12a,12bは棒状に形成され、空間38,39のスペースに合わせて配列されてもよい。この場合にあっては、突起部12a,12bと冷媒との接触面積を更に増やすことができ、熱を吸収する効果を更に高めることができる。
上述した実施形態は本発明に係る半導体モジュールの一例を示すものである。本発明に係る半導体モジュールは上述の実施形態に記載したものに限定されるものではない。本発明に係る半導体モジュールは、各請求項に記載した要旨を変更しないように実施形態に係る半導体モジュールを変形し、又は他のものに適用したものであってもよい。
1 半導体モジュール
1A スイッチング素子積層部
1B 整流素子積層部
2 上アーム
3 下アーム

4A,4B 冷却器
5A,5B スイッチング素子
6A,6B 整流素子
21 冷媒流路。

Claims (2)

  1. それぞれスイッチング素子及び整流素子を有する上アームと下アームとを備えた半導体モジュールであって、
    前記上アームと前記下アームとの前記スイッチング素子同士を重ね合わせたスイッチング素子積層部と、
    前記上アームと前記下アームとの前記整流素子同士を重ね合わせた整流素子積層部と、
    少なくとも前記スイッチング素子同士及び前記整流素子同士の積層方向の両側に設けられ、前記スイッチング素子積層部及び前記整流素子積層部を冷却する冷却部と、を備え、
    前記冷却部は、冷媒と前記冷媒を流通させるための冷媒流路とを有し、
    前記冷媒流路は、前記スイッチング素子同士及び前記整流素子同士の積層方向の両側にそれぞれ設けられ、前記整流素子積層部側で折り返されていることを特徴とする半導体モジュール。
  2. 前記冷却部の内部であって前記スイッチング素子又は前記整流素子の直下位置には、前記冷媒流路の一部である空間が形成されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体モジュール。
JP2011548892A 2010-01-08 2010-01-08 半導体モジュール Expired - Fee Related JP5423811B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2010/050130 WO2011083578A1 (ja) 2010-01-08 2010-01-08 半導体モジュール

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2011083578A1 JPWO2011083578A1 (ja) 2013-05-13
JP5423811B2 true JP5423811B2 (ja) 2014-02-19

Family

ID=44305322

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011548892A Expired - Fee Related JP5423811B2 (ja) 2010-01-08 2010-01-08 半導体モジュール

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8755185B2 (ja)
JP (1) JP5423811B2 (ja)
CN (1) CN102612747B (ja)
WO (1) WO2011083578A1 (ja)

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5581131B2 (ja) * 2010-06-30 2014-08-27 日立オートモティブシステムズ株式会社 パワーモジュール及びそれを用いた電力変換装置
JP5506749B2 (ja) * 2011-07-25 2014-05-28 日立オートモティブシステムズ株式会社 電力変換装置
JP2013225622A (ja) 2012-04-23 2013-10-31 Jtekt Corp モーター制御用多層回路基板
JP2014072385A (ja) * 2012-09-28 2014-04-21 Toyota Motor Corp 半導体装置
JP5726215B2 (ja) * 2013-01-11 2015-05-27 株式会社豊田中央研究所 冷却型スイッチング素子モジュール
JP5821890B2 (ja) * 2013-04-17 2015-11-24 トヨタ自動車株式会社 電力変換装置
DE102013219192A1 (de) * 2013-09-24 2015-03-26 Conti Temic Microelectronic Gmbh Leistungsmodul, Stromrichter und Antriebsanordnung mit einem Leistungsmodul
JP2015076440A (ja) * 2013-10-07 2015-04-20 トヨタ自動車株式会社 半導体モジュール
DE102014221124A1 (de) * 2014-10-17 2016-04-21 Robert Bosch Gmbh Modul mit zwei Leistungshalbleitern
JP6409556B2 (ja) * 2014-12-19 2018-10-24 富士通株式会社 冷却機構付き基板及び電子機器
US20170094836A1 (en) * 2015-09-30 2017-03-30 Delphi Technologies, Inc. Double-sided heat exchanger for fluid-cooled electronics with a flat coplanar series-wise coolant flow path
KR102443261B1 (ko) * 2015-10-08 2022-09-13 현대모비스 주식회사 직접냉각유로를 갖는 전력반도체 양면 냉각 장치
JP6634945B2 (ja) * 2016-04-19 2020-01-22 株式会社デンソー 半導体モジュール
DE102016114303A1 (de) * 2016-08-02 2018-02-08 Infineon Technologies Ag Packung mit teilweise gekapseltem Kühlkanal zum Kühlen eines gekapselten Chips
JP6696407B2 (ja) * 2016-11-01 2020-05-20 トヨタ自動車株式会社 スイッチングモジュール
JP6540665B2 (ja) * 2016-11-21 2019-07-10 トヨタ自動車株式会社 両面冷却器
CN109219880B (zh) * 2016-12-20 2022-06-14 富士电机株式会社 半导体模块
DE102018112601A1 (de) * 2017-05-31 2018-12-06 Hanon Systems Elektroelement-Kühlungsmodul
KR102325110B1 (ko) * 2017-05-31 2021-11-11 한온시스템 주식회사 전기소자 냉각용 열교환기
US10292316B2 (en) * 2017-09-08 2019-05-14 Hamilton Sundstrand Corporation Power module with integrated liquid cooling
JP2019140332A (ja) * 2018-02-14 2019-08-22 トヨタ自動車株式会社 半導体装置
JP7159620B2 (ja) * 2018-05-30 2022-10-25 富士電機株式会社 半導体装置、冷却モジュール、電力変換装置及び電動車両
IT201800007387A1 (it) 2018-07-20 2020-01-20 Caricabatterie per veicoli
KR20200134492A (ko) * 2019-05-22 2020-12-02 현대자동차주식회사 열전모듈이 구비된 열교환기 및 이를 포함하는 배터리 열관리 시스템
JP2021019487A (ja) * 2019-07-24 2021-02-15 株式会社デンソー 半導体モジュール構造
JP7318615B2 (ja) * 2020-09-11 2023-08-01 トヨタ自動車株式会社 電力変換装置
FR3116412B1 (fr) * 2020-11-18 2023-12-22 Valeo Siemens Eautomotive France Sas Module de refroidissement en U pour un équipement électrique de puissance
KR20230168522A (ko) * 2022-06-07 2023-12-14 현대모비스 주식회사 파워모듈 팩

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01278058A (ja) * 1988-04-30 1989-11-08 Hitachi Ltd 半導体装置
JP2004158489A (ja) * 2002-11-01 2004-06-03 Honda Motor Co Ltd 圧接型半導体装置
JP2005311046A (ja) * 2004-04-21 2005-11-04 Denso Corp 冷却器
JP2009176871A (ja) * 2008-01-23 2009-08-06 Mitsubishi Electric Corp ヒートシンクおよび電気機器
JP2009295794A (ja) * 2008-06-05 2009-12-17 Mitsubishi Electric Corp 樹脂封止型半導体装置とその製造方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11346480A (ja) * 1998-06-02 1999-12-14 Hitachi Ltd インバータ装置
US6414867B2 (en) * 2000-02-16 2002-07-02 Hitachi, Ltd. Power inverter
JP4848187B2 (ja) * 2006-01-17 2011-12-28 日立オートモティブシステムズ株式会社 電力変換装置
JP4857017B2 (ja) * 2006-04-27 2012-01-18 日立オートモティブシステムズ株式会社 電力変換装置
JP5227532B2 (ja) * 2007-04-02 2013-07-03 日立オートモティブシステムズ株式会社 インバータ回路用の半導体モジュール
US7936100B2 (en) 2007-04-02 2011-05-03 Hitachi, Ltd. Stator for rotating machine and rotating machine using the same
JP5002568B2 (ja) * 2008-10-29 2012-08-15 日立オートモティブシステムズ株式会社 電力変換装置
JP5162518B2 (ja) 2009-04-10 2013-03-13 日立オートモティブシステムズ株式会社 電力変換装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01278058A (ja) * 1988-04-30 1989-11-08 Hitachi Ltd 半導体装置
JP2004158489A (ja) * 2002-11-01 2004-06-03 Honda Motor Co Ltd 圧接型半導体装置
JP2005311046A (ja) * 2004-04-21 2005-11-04 Denso Corp 冷却器
JP2009176871A (ja) * 2008-01-23 2009-08-06 Mitsubishi Electric Corp ヒートシンクおよび電気機器
JP2009295794A (ja) * 2008-06-05 2009-12-17 Mitsubishi Electric Corp 樹脂封止型半導体装置とその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2011083578A1 (ja) 2011-07-14
US8755185B2 (en) 2014-06-17
US20120250253A1 (en) 2012-10-04
CN102612747A (zh) 2012-07-25
CN102612747B (zh) 2014-12-03
JPWO2011083578A1 (ja) 2013-05-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5423811B2 (ja) 半導体モジュール
JP4920677B2 (ja) 電力変換装置およびその組み立て方法
JP5212088B2 (ja) 半導体モジュール冷却装置
JP5269259B2 (ja) 電力変換装置
JP5206102B2 (ja) 半導体装置
JP5407275B2 (ja) 電力変換装置
US7957135B2 (en) Semiconductor module
JP6631431B2 (ja) 電力変換装置
JP5407198B2 (ja) 電力変換装置のパワーモジュール
JP5169764B2 (ja) 電力変換装置
JP2013123030A (ja) 電力変換装置用冷却システム
US8493762B2 (en) Power semiconductor module and semiconductor power converter provided with the same
JP2006303455A (ja) パワー半導体モジュール
JP2012064609A (ja) 半導体パワーモジュール及び電力変換装置
US20210407875A1 (en) Semiconductor device
WO2020218014A1 (ja) 電力変換装置
WO2008001413A1 (en) Power converter
JP2021197838A (ja) 電力変換装置
JP7156319B2 (ja) 電力変換装置
JP2020145317A (ja) 電力変換装置
JP6469604B2 (ja) 絶縁基板及び絶縁基板を備える電力変換装置
JP2014096412A (ja) 半導体モジュール
JPWO2019043886A1 (ja) 電力変換装置
JP5699659B2 (ja) 半導体素子の冷却構造
JP2022090825A (ja) 電力変換装置

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131029

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131111

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5423811

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees