JP5379564B2 - インプリント装置、および物品の製造方法 - Google Patents
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Description
図1、図3、図4を参照しながら本発明の第1実施形態のインプリント装置について説明する。インプリント装置INPは、パターン面Pを有するモールド1を保持するモールドチャック2を含む構造体(2、6)を備える。インプリント装置INPは、基板10への樹脂の塗布と、塗布された樹脂のモールド1による成形とを含む処理を行うように構成されている。より具体的には、インプリント装置INPは、基板10に樹脂を塗布し該樹脂にパターン面Pを押し付けた状態で該樹脂を硬化させることにより基板10にパターンをインプリントする。モールド1のパターン面Pには、パターンを構成する凹凸が形成されている。モールドチャック2は、例えば真空吸着によってモールド1を保持する。モールドチャック2は、モールドチャック2からのモールド1の脱落を防止する構造を有することが好ましい。モールドチャック2には、後述の第2計測器としての近接センサ7(7a〜7m)を支持するセンサ支持部材6が設けられている。センサ支持部材6は、モールドチャック2の一部分として考えることもできるし、モールドチャック2に結合された部材として考えることもできる。
図2を参照しながら本発明の第2実施形態のインプリント装置INPについて説明する。なお、ここで言及しない事項は、第1実施形態に従う。第2実施形態では、モールドチャック2を含む構造体(2、6')の基準部分がセンサ支持部材6'である点で第1実施形態と異なる。センサ支持部材6'は、モールドチャック2を支持する支持体であるブリッジ定盤13に連結されている。センサ支持部材6'は、近接センサ7(7a〜7m)を支持する。第1実施形態ではモールドチャック2に設けられていたミラー3a、3bは、センサ支持部材6'が基準部分に変更されたことに伴って、センサ支持部材6'に設けられている。
図5を参照しながら本発明の第3実施形態のインプリント装置INPについて説明する。なお、ここで言及しない事項は、第1実施形態に従う。第3実施形態では、第1実施形態では、モールド1の上面に形成された位置合わせ用のモールド側マークが、モールド1の下面に形成されている。
以下、図6および図7を参照しながら第1〜第3実施形態のインプリント装置INPで実施されうるインプリント方法を例示的に説明する。図7には、図6に示すフローチャートにおいて記載されている記号の説明が記載されている。
物品としてのデバイス(半導体集積回路素子、液晶表示素子等)の製造方法は、前述したインプリント装置(押印装置)を用いて基板(ウエハ、ガラスプレート、フィルム状基板等)にパターンを転写(形成)するステップを含む。さらに、該製造方法は、パターンを転写された前記基板をエッチングするステップを含みうる。なお、パターンドメディア(記録媒体)や光学素子などの他の物品を製造する場合には、該製造方法は、エッチングステップの代わりに、パターンを転写された前記基板を加工する他の加工ステップを含みうる。
Claims (8)
- モールドを保持するモールドチャックを含む構造体を備え、基板への樹脂の塗布と、塗布された樹脂の前記モールドによる成形とを含む処理を行うインプリント装置であって、
前記構造体の基準部分の位置を計測する第1計測器と、
前記基準部分に対する前記モールドの相対的な位置を計測する第2計測器と、
前記第1計測器による計測結果および前記第2計測器による計測結果に基づいて前記モールドと前記基板との相対的な位置関係を制御する制御部とを備え、
前記第2計測器は、前記構造体によって支持された近接センサを含む、
ことを特徴とするインプリント装置。 - 前記制御部は、前記第1計測器による計測結果および前記第2計測器による計測結果に基づいて前記基板の目標位置を補正し、補正された目標位置に従って前記基板を位置決めすることによって、前記モールドと前記基板との相対的な位置関係を制御する、
ことを特徴とする請求項1に記載のインプリント装置。 - 前記第1計測器は、レーザー干渉計を含む、
ことを特徴とする請求項1又は2項に記載のインプリント装置。 - 前記基準部分は、前記モールドチャックである、
ことを特徴とする請求項1又は2に記載のインプリント装置。 - 前記構造体は、前記モールドチャックを支持する支持体、および、前記支持体に連結され、前記第2計測器を支持するセンサ支持部材を含み、
前記基準部分は、前記センサ支持部材である、
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載のインプリント装置。 - 前記第2計測器は、前記モールドに形成されたマークの位置を計測するように前記構造体によって支持された光学センサを更に含む、
ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載のインプリント装置。 - モールドを保持するモールドチャックを含む構造体を備え、基板への樹脂の塗布と、塗布された樹脂の前記モールドによる成形とを含む処理を行うインプリント装置であって、
前記構造体の基準部分の位置を計測する第1計測器と、
前記基準部分に対する前記モールドの相対的な位置を計測するように第2計測器と、
前記第1計測器による計測結果および前記第2計測器による計測結果に基づいて、前記モールドと基板との相対的な位置関係を制御する制御部とを備え、
前記第2計測器は、前記モールドチャックに設けられたマークと前記モールドに設けられたマークとの位置ずれを計測する光学センサを含む、
ことを特徴とするインプリント装置。 - 請求項1乃至7のいずれか1項に記載のインプリント装置を用いて樹脂のパターンを基板に形成する工程と、
前記工程において前記パターンを形成された基板を加工する工程と、
を含むことを特徴とする物品の製造方法。
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