JP5365314B2 - 画像投影装置及び画素ずれ量の検出方法 - Google Patents
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Description
図1から図7は、本発明の第1実施形態を示す。
図8から図11は、本発明の第2実施形態を示す。
図12及び図13は、本発明の第3実施形態を示す。
図14から図18は、位置調整装置25の第1の例を示す。
図19から図24は、位置調整装置25の第2の例を示す。
図25から図28は、位置調整装置25の第3の例を示す。
図29から図31は、位置調整装置25の第4の例を示す。
2 リフレクタ
2a 反射面
3 ロッドインテグレータ
3a 入射面
3b 射出面
4 集光レンズ
5 リレー光学系
6 エントランスレンズ
11B,11R,11G デジタルマクロミラーデバイス
11a マイクロミラー
11b 反射面
11c 裏面
11d 当接面
12 電極
20 アクチュエータ操作部
21,21A,21B 撮像レンズ
22,22A,22B CCD
23 遮光板
24 NDフィルタ
25 位置調整装置
26 画素ずれ量算出部
27 アクチュエータ制御部
28 DMD制御部
29 画素ずれ判別部
30 画素ずれ表示部
31,31’,32,32’ 画素
33,33’,33'',34,34’,34'' 画像
41A,41B 集光レンズ
42A,42B フォトダイオード
91 画像投影装置
101 パッケージ
101a 収容孔
101b,101c 位置決めピン
101d 挿通孔
101e ねじ孔
102A,102B,102C 弾性片
103A,103B,103C 圧電素子
104 基準部材
104a 挿通孔
104b 開口
104c ねじ孔
104d 保持凹部
105 基板
105a 挿通孔
106A,106B 台座金具
106a ねじ孔
107,108 ねじ
110 球状部品
112 電極
112a 保持凹部
113 ばね部材
114 球体
201A,201B,201C 油圧シリンダ
201a ロッド
201b 先端面
201d,201e シリンダ室
202 取付部材
211 絞り調整弁
212 パイロットチェック弁
213 電磁弁
214 リリーフ弁
215 油圧ポンプ
216 油圧タンク
217,218 絞り調整弁
219 ポテンションメータ
301A,301B,301C ねじロッド
301a 先端面
302 従動歯車
303A,303B,303C モータ
304 駆動歯車
305 ばね
PU プリズムユニット
IL 照明光学系
PR 内部全反射プリズム
PR1 第1プリズム
PR2 第2プリズム
PR1a 全反射面
DP ダイクロイックプリズム
DP1 第1プリズム
DP2 第2プリズム
DP3 第3プリズム
Db,Dr ダイクロイック面
DPa,DP1a,DP2a,DP3a 入射出面
Claims (7)
- 異なる色光毎に設けられ、複数の反射要素で構成された反射面で照明光を投影光と非投影光に変調する複数の反射型表示素子と、
前記複数の反射型表示素子からの前記投影光及び前記非投影光をそれぞれ同一光軸に色合成する色合成プリズムと、
色合成された前記非投影光を集光する集光光学系と、
前記集光された非投影光を検出する検出部と、
前記検出部で検出した前記非投影光から画素ずれ量を算出する画素ずれ量算出部と
を備え、
前記集光光学系は、前記反射型表示素子の前記反射面のうちの一部の領域である第1の領域からの非投影光を集光する第1の集光光学系と、前記反射型表示素子の前記反射面のうち前記第1の領域とは異なる一部の領域である第2の領域からの非投影光を集光する第2の集光光学系とを含み、
前記検出部は、前記第1の集光光学系で集光された前記第1の領域からの非投影光を検出する第1の検出部と、前記第2の集光光学系で集光され前記第2の領域からの非投影光を検出する第2の検出部とを含み、
前記画素ずれ量算出部は、前記第1の検出部による検出結果と前記第2の検出部による検出結果とを使用して前記画素ずれ量を算出する、画像投影装置。 - 複数の前記反射型表示素子のうちの少なくとも2つに設けられ、前記反射面を含む方向である面方向に前記反射型表示素子を移動させるアクチュエータを備える位置調整装置と、
前記画素ずれ量算出部で算出された画素ずれ量に基づいて前記位置調整装置の前記アクチュエータを駆動させるアクチュエータ制御部と、
をさらに備える、請求項1に記載の画像投影装置。 - 複数の前記反射型表示素子のうちの少なくとも2つに設けられ、前記反射面を含む方向である面方向に前記反射型表示素子を移動させるアクチュエータを備える位置調整装置と、
前記画素ずれ量算出部で算出された前記画素ずれ量を予め定められた基準量と比較する画素ずれ判別部と
前記画素ずれ判別部での比較に基づいて前記画素ずれ量が前記基準量を超えたことを表示する画素ずれ表示部と
をさらに備える、請求項1に記載の画像投影装置。 - 前記集光光学系は前記非投影光を出射する前記反射要素の像を生成する結像光学系であり、
前記検出部は前記反射要素の像を撮像する2次元撮像素子を備え、
前記画素ずれ量算出部は前記反射要素の像から前記画素ずれ量を算出する、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の画像投影装置。 - 前記検出部は、複数の受光領域を有する受光素子を備え、
前記画素ずれ量算出部は前記検出部の個々の前記受光領域での受光量から非投影光の光束の重心位置を検出し、検出した前記非投影光の光束の重心位置から前記画素ずれ量を算出する、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の画像投影装置。 - 前記複数の反射型表示素子から1個ずつ順次に前記非投影光を発生させる表示素子制御部をさらに備える、請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の画像投影装置。
- 反射型表示素子の非投影光を集光して検出し、前記検出した非投影光に基づいて画素ずれ量を検出する、画素ずれ量検出方法であって、
異なる色光毎に設けられ、複数の反射要素で構成された反射面で照明光を投影光と非投影光に変調する複数の反射型表示素子と、
前記複数の反射型表示素子からの前記投影光及び前記非投影光をそれぞれ同一光軸に色合成する色合成プリズムと、
色合成された前記非投影光を集光する集光光学系と、
前記集光された非投影光を検出する検出部と、
前記検出部で検出した前記非投影光から画素ずれ量を算出する画素ずれ量算出部と
を設け、
前記集光光学系は、前記反射型表示素子の前記反射面のうちの一部の領域である第1の領域からの非投影光を集光する第1の集光光学系と、前記反射型表示素子の前記反射面のうち前記第1の領域とは異なる一部の領域である第2の領域からの非投影光を集光する第2の集光光学系とを含み、
前記検出部は、前記第1の集光光学系で集光された前記第1の領域からの非投影光を検出する第1の検出部と、前記第2の集光光学系で集光され前記第2の領域からの非投影光を検出する第2の検出部とを含み、
前記画素ずれ量算出部は、前記第1の検出部による検出結果と前記第2の検出部による検出結果とを使用して前記画素ずれ量を算出する、画素ずれ量検出方法。
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