JP5365247B2 - TiO2を含有するシリカガラスおよびそれを用いたリソグラフィ用光学部材 - Google Patents
TiO2を含有するシリカガラスおよびそれを用いたリソグラフィ用光学部材 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5365247B2 JP5365247B2 JP2009040456A JP2009040456A JP5365247B2 JP 5365247 B2 JP5365247 B2 JP 5365247B2 JP 2009040456 A JP2009040456 A JP 2009040456A JP 2009040456 A JP2009040456 A JP 2009040456A JP 5365247 B2 JP5365247 B2 JP 5365247B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tio
- sio
- glass
- temperature
- thermal expansion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C3/00—Glass compositions
- C03C3/04—Glass compositions containing silica
- C03C3/06—Glass compositions containing silica with more than 90% silica by weight, e.g. quartz
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B19/00—Other methods of shaping glass
- C03B19/14—Other methods of shaping glass by gas- or vapour- phase reaction processes
- C03B19/1453—Thermal after-treatment of the shaped article, e.g. dehydrating, consolidating, sintering
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C4/00—Compositions for glass with special properties
- C03C4/0085—Compositions for glass with special properties for UV-transmitting glass
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/027—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
- H01L21/0271—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers
- H01L21/0273—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers characterised by the treatment of photoresist layers
- H01L21/0274—Photolithographic processes
- H01L21/0275—Photolithographic processes using lasers
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B2201/00—Type of glass produced
- C03B2201/06—Doped silica-based glasses
- C03B2201/20—Doped silica-based glasses doped with non-metals other than boron or fluorine
- C03B2201/23—Doped silica-based glasses doped with non-metals other than boron or fluorine doped with hydroxyl groups
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B2201/00—Type of glass produced
- C03B2201/06—Doped silica-based glasses
- C03B2201/30—Doped silica-based glasses doped with metals, e.g. Ga, Sn, Sb, Pb or Bi
- C03B2201/40—Doped silica-based glasses doped with metals, e.g. Ga, Sn, Sb, Pb or Bi doped with transition metals other than rare earth metals, e.g. Zr, Nb, Ta or Zn
- C03B2201/42—Doped silica-based glasses doped with metals, e.g. Ga, Sn, Sb, Pb or Bi doped with transition metals other than rare earth metals, e.g. Zr, Nb, Ta or Zn doped with titanium
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2201/00—Glass compositions
- C03C2201/06—Doped silica-based glasses
- C03C2201/20—Doped silica-based glasses containing non-metals other than boron or halide
- C03C2201/23—Doped silica-based glasses containing non-metals other than boron or halide containing hydroxyl groups
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2203/00—Production processes
- C03C2203/40—Gas-phase processes
- C03C2203/42—Gas-phase processes using silicon halides as starting materials
- C03C2203/44—Gas-phase processes using silicon halides as starting materials chlorine containing
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2203/00—Production processes
- C03C2203/50—After-treatment
- C03C2203/52—Heat-treatment
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2203/00—Production processes
- C03C2203/50—After-treatment
- C03C2203/52—Heat-treatment
- C03C2203/54—Heat-treatment in a dopant containing atmosphere
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Geochemistry & Mineralogy (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Thermal Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Glass Compositions (AREA)
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Glass Melting And Manufacturing (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Description
本発明のTiO2−SiO2ガラスは、線熱膨張係数(以下、CTEという)が0ppb/℃となる温度(クロスオーバー温度:Cross−over Temperature;以下、COTという)が40〜110℃の範囲にあり、20〜100℃の平均線熱膨張係数が50ppb/℃以下であることを特徴とする。
ガラス形成原料であるシリカ前駆体およびチタニア前駆体を火炎加水分解させて得られるTiO2−SiO2ガラス微粒子を基材に堆積、成長させて多孔質TiO2−SiO2ガラス体を形成させる。ガラス形成原料としては、ガス化可能な原料であれば特に限定されないが、シリカ前駆体としては、SiCl4、SiHCl3、SiH2Cl2、SiH3Clなどの塩化物、SiF4、SiHF3、SiH2F2などのフッ化物、SiBr4、SiHBr3などの臭化物、SiI4などのヨウ化物といったハロゲン化ケイ素化合物、またRnSi(OR)4-n(ここにRは炭素数1〜4のアルキル基、nは0〜3の整数。複数のRは互いに同一でも異なっていてもよい。)で示されるアルコキシシランが挙げられ、またチタニア前駆体としては、TiCl4、TiBr4などのハロゲン化チタン化合物、またRnTi(OR)4-n(ここにRは炭素数1〜4のアルキル基、nは0〜3の整数。複数のRは互いに同一でも異なっていてもよい。)で示されるアルコキシチタンが挙げられる。また、シリカ前駆体およびチタニア前駆体として、シリコンチタンダブルアルコキシドなどのSiとTiの化合物を使用することもできる。
(a)工程で得られた多孔質TiO2−SiO2ガラス体を水蒸気含有雰囲気にて緻密化温度まで昇温して、OHを含有したTiO2−SiO2緻密体を得る。本発明においては、OHの含有量が600ppm以上であるので、ガラスの粘性が低下するため、緻密化温度は、1250〜1450℃が好ましく、特に1300〜1400℃であることが好ましい。この水蒸気含有雰囲気としては、水蒸気分圧(pH2O)が5000Pa以上となる不活性ガス雰囲気が好ましく、水蒸気分圧(pH2O)が10000Pa以上となる不活性ガス雰囲気がより好ましい。不活性ガスとしては、ヘリウムが好ましい。このような雰囲気下、圧力10000〜200000Pa程度で処理を行うことが好ましい。なお、本明細書における「Pa」は、ゲージ圧ではなく絶対圧を意味する。
(b)工程で得られたOHを含有したTiO2−SiO2緻密体を、透明ガラス化温度まで昇温して、OHを含有した透明TiO2−SiO2ガラス体を得る。本発明においては、OHの含有量が600ppm以上であるので、ガラスの粘性が低下し、透明ガラス化温度が低下するため、透明ガラス化温度は、1350〜1750℃が好ましく、特に1400〜1700℃であることが好ましい。
(c)工程で得られたOHを含有した透明TiO2−SiO2ガラス体を、軟化点以上の温度に加熱して所望の形状に成形し、OHを含有した成形TiO2−SiO2ガラス体を得る。成形加工の温度としては、1500〜1800℃が好ましい。1500℃未満では、OHを含有した透明TiO2−SiO2ガラスの粘度が高いため、実質的に自重変形が行われず、またSiO2の結晶相であるクリストバライトの成長またはTiO2の結晶相であるルチルもしくはアナターゼの成長が起こり、いわゆる失透が生じるおそれがある。1800℃超では、SiO2の昇華が無視できなくなるおそれがある。
(d)工程で得られた成形TiO2−SiO2ガラス体を、600〜1200℃の温度にて1時間以上保持した後、10℃/hr以下の平均降温速度で500℃以下まで降温するアニール処理を行い、TiO2−SiO2ガラスの仮想温度を制御する。あるいは、1200℃以上の(d)工程で得られた成形TiO2−SiO2ガラス体を500℃まで60℃/hr以下の平均降温速度で降温するアニール処理を行い、TiO2−SiO2ガラスの仮想温度を制御する。500℃以下まで降温した後は放冷できる。この場合の雰囲気は、ヘリウム、アルゴン、窒素などの不活性ガス100%の雰囲気下、これらの不活性ガスを主成分とする雰囲気下、または空気雰囲気下で、圧力は減圧または常圧が好ましい。
なお、例1〜6は実施例であり、その他は比較例である。
TiO2−SiO2ガラスのガラス形成原料であるTiCl4とSiCl4を、それぞれガス化させた後に混合させ、酸水素火炎中で加熱加水分解(火炎加水分解)させることで得られるTiO2−SiO2ガラス微粒子を基材に堆積・成長させて、多孔質TiO2−SiO2ガラス体を形成する((a)工程)。
例1の(a)工程において、TiCl4の供給量を若干多くすること以外は、例1と同様にしてTiO2−SiO2ガラス体を得る。
TiO2−SiO2ガラスのガラス形成原料であるTiCl4とSiCl4を、それぞれガス化させた後に混合させ、酸水素火炎中で加熱加水分解(火炎加水分解)させることで得られるTiO2−SiO2ガラス微粒子を基材に堆積・成長させて、多孔質TiO2−SiO2ガラス体を形成する((a)工程)。
TiO2−SiO2ガラスのガラス形成原料であるTiCl4とSiCl4を、それぞれガス化させた後に混合させ、酸水素火炎中で加熱加水分解(火炎加水分解)させることで得られるTiO2−SiO2ガラス微粒子を基材に堆積・成長させて、多孔質TiO2−SiO2ガラス体を形成する((a)工程)。
例4の(a)工程において、TiCl4の供給量を若干多くすること以外は、例4と同様にしてTiO2−SiO2ガラス体を得る。
TiO2−SiO2ガラスのガラス形成原料であるTiCl4とSiCl4を、それぞれガス化させた後に混合させ、酸水素火炎中で加熱加水分解(火炎加水分解)させることで得られるTiO2−SiO2ガラス微粒子を基材に堆積・成長させて、多孔質TiO2−SiO2ガラス体を形成する((a)工程)。
TiO2−SiO2ガラスのガラス形成原料であるTiCl4とSiCl4を、それぞれガス化させた後に混合させ、酸水素火炎中で加熱加水分解(火炎加水分解)させることで得られるTiO2−SiO2ガラス微粒子を基材に堆積・成長させて、多孔質TiO2−SiO2ガラス体を形成する((a)工程)。
[例8]
ゼロ膨張TiO2−SiO2ガラスとして知られるCorning社ULE#7972である。
Claims (6)
- 仮想温度が1000℃以下であり、OH濃度が700ppm以上であり、線熱膨張係数が0ppb/℃となる温度が40〜110℃の範囲にあり、20〜100℃の平均線熱膨張係数が50ppb/℃以下であり、TiO 2 含有量が7.5〜12質量%である、TiO2を含有するシリカガラス。
- 仮想温度のばらつきが50℃以内である、請求項1に記載のTiO2を含有するシリカガラス。
- 線熱膨張係数が0±5ppb/℃となる温度幅が5℃以上である請求項1または2に記載のTiO2を含有するシリカガラス。
- 20〜100℃の平均線熱膨張係数が−120ppb/℃以上である請求項1〜3のいずれかに記載のTiO2を含有するシリカガラス。
- インクルージョンがない請求項1〜4のいずれかに記載のTiO2を含有するシリカガラス。
- 請求項1〜5のいずれかに記載のTiO2を含有するシリカガラスを用いたEUVリソ
グラフィ用光学部材。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009040456A JP5365247B2 (ja) | 2008-02-25 | 2009-02-24 | TiO2を含有するシリカガラスおよびそれを用いたリソグラフィ用光学部材 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008043583 | 2008-02-25 | ||
JP2008043583 | 2008-02-25 | ||
JP2009040456A JP5365247B2 (ja) | 2008-02-25 | 2009-02-24 | TiO2を含有するシリカガラスおよびそれを用いたリソグラフィ用光学部材 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009227572A JP2009227572A (ja) | 2009-10-08 |
JP5365247B2 true JP5365247B2 (ja) | 2013-12-11 |
Family
ID=40673139
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009040456A Active JP5365247B2 (ja) | 2008-02-25 | 2009-02-24 | TiO2を含有するシリカガラスおよびそれを用いたリソグラフィ用光学部材 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8034731B2 (ja) |
EP (1) | EP2247544B1 (ja) |
JP (1) | JP5365247B2 (ja) |
KR (1) | KR20100116634A (ja) |
CN (1) | CN101959817A (ja) |
WO (1) | WO2009107847A1 (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5644058B2 (ja) * | 2008-03-21 | 2014-12-24 | 旭硝子株式会社 | TiO2を含有するシリカガラス |
US8735308B2 (en) | 2009-01-13 | 2014-05-27 | Asahi Glass Company, Limited | Optical member comprising TiO2-containing silica glass |
US8713969B2 (en) * | 2009-08-31 | 2014-05-06 | Corning Incorporated | Tuning Tzc by the annealing of ultra low expansion glass |
JP5476982B2 (ja) * | 2009-12-25 | 2014-04-23 | 信越化学工業株式会社 | チタニアドープ石英ガラスの選定方法 |
JP5510308B2 (ja) * | 2009-12-25 | 2014-06-04 | 旭硝子株式会社 | Euvl光学部材用基材 |
US8541325B2 (en) * | 2010-02-25 | 2013-09-24 | Corning Incorporated | Low expansivity, high transmission titania doped silica glass |
US20110207593A1 (en) * | 2010-02-25 | 2011-08-25 | Carlos Duran | Expansivity in Low Expansion Silica-Titania Glasses |
US10032620B2 (en) | 2014-04-30 | 2018-07-24 | Kla-Tencor Corporation | Broadband light source including transparent portion with high hydroxide content |
US9580350B2 (en) | 2014-11-19 | 2017-02-28 | Corning Incorporated | High hydroxyl TiO2-SiO2 glass |
US10017413B2 (en) | 2014-11-26 | 2018-07-10 | Corning Incorporated | Doped silica-titania glass having low expansivity and methods of making the same |
US10427974B2 (en) | 2015-03-26 | 2019-10-01 | Corning Incorporated | Glass composite for use in extreme ultra violet lithography |
WO2024044091A1 (en) * | 2022-08-26 | 2024-02-29 | Corning Incorporated | Homogenous silica-titania glass |
NL2033057B1 (en) * | 2022-08-26 | 2024-03-04 | Corning Inc | Homogenous silica-titania glass |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US157421A (en) * | 1874-12-01 | Improvement in steam fountain-washers | ||
US6931097B1 (en) * | 1999-07-22 | 2005-08-16 | Corning Incorporated | Extreme ultraviolet soft x-ray projection lithographic method system and lithographic elements |
US8047023B2 (en) | 2001-04-27 | 2011-11-01 | Corning Incorporated | Method for producing titania-doped fused silica glass |
JP4792705B2 (ja) * | 2003-04-03 | 2011-10-12 | 旭硝子株式会社 | TiO2を含有するシリカガラスおよびその製造法 |
JP5367204B2 (ja) | 2003-04-03 | 2013-12-11 | 旭硝子株式会社 | TiO2を含有するシリカガラスおよびEUVリソグラフィ用光学部材 |
JP4792706B2 (ja) | 2003-04-03 | 2011-10-12 | 旭硝子株式会社 | TiO2を含有するシリカガラスおよびその製造方法 |
JP4492123B2 (ja) * | 2004-01-05 | 2010-06-30 | 旭硝子株式会社 | シリカガラス |
DE102004024808B4 (de) * | 2004-05-17 | 2006-11-09 | Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg | Quarzglasrohling für ein optisches Bauteil zur Übertragung extrem kurzwelliger ultravioletter Strahlung |
KR101160861B1 (ko) | 2004-07-01 | 2012-07-02 | 아사히 가라스 가부시키가이샤 | TiO₂를 함유한 실리카계 유리 및 그 제조 공정 |
US20060179879A1 (en) * | 2004-12-29 | 2006-08-17 | Ellison Adam J G | Adjusting expansivity in doped silica glasses |
JP4487783B2 (ja) * | 2005-01-25 | 2010-06-23 | 旭硝子株式会社 | TiO2を含有するシリカガラスの製造方法およびTiO2を含有するシリカガラスを用いたEUVリソグラフィ用光学部材 |
DE102007029403A1 (de) * | 2006-06-28 | 2008-01-03 | Corning Incorporated | Glas mit sehr geringer Ausdehnung und Verfahren zu dessen Herstellung |
JP2008100891A (ja) * | 2006-10-20 | 2008-05-01 | Covalent Materials Corp | チタニア−シリカガラス |
TW200940472A (en) | 2007-12-27 | 2009-10-01 | Asahi Glass Co Ltd | TiO2-containing silica glass |
-
2009
- 2009-02-24 JP JP2009040456A patent/JP5365247B2/ja active Active
- 2009-02-25 WO PCT/JP2009/053995 patent/WO2009107847A1/en active Application Filing
- 2009-02-25 EP EP09715346.4A patent/EP2247544B1/en active Active
- 2009-02-25 KR KR1020107018837A patent/KR20100116634A/ko not_active Application Discontinuation
- 2009-02-25 CN CN200980106333XA patent/CN101959817A/zh active Pending
-
2010
- 2010-08-24 US US12/862,174 patent/US8034731B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20100116634A (ko) | 2010-11-01 |
EP2247544B1 (en) | 2014-04-23 |
US20100317505A1 (en) | 2010-12-16 |
JP2009227572A (ja) | 2009-10-08 |
US8034731B2 (en) | 2011-10-11 |
EP2247544A1 (en) | 2010-11-10 |
CN101959817A (zh) | 2011-01-26 |
WO2009107847A1 (en) | 2009-09-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5365247B2 (ja) | TiO2を含有するシリカガラスおよびそれを用いたリソグラフィ用光学部材 | |
JP4792705B2 (ja) | TiO2を含有するシリカガラスおよびその製造法 | |
JP5644058B2 (ja) | TiO2を含有するシリカガラス | |
JP5754482B2 (ja) | TiO2を含有するシリカガラス | |
JP4792706B2 (ja) | TiO2を含有するシリカガラスおよびその製造方法 | |
JP5417884B2 (ja) | TiO2を含有するシリカガラスおよびそれを用いたリソグラフィ用光学部材 | |
JP4487783B2 (ja) | TiO2を含有するシリカガラスの製造方法およびTiO2を含有するシリカガラスを用いたEUVリソグラフィ用光学部材 | |
US7989378B2 (en) | TiO2-containing silica glass | |
WO2009145288A1 (ja) | TiO2を含有するシリカガラスおよびそれを用いたリソグラフィ用光学部材 | |
JP5365248B2 (ja) | TiO2を含有するシリカガラスおよびEUVリソグラフィ用光学部材 | |
KR20100118125A (ko) | TiO₂ 함유 실리카 유리 및 이를 사용한 리소그래피용 광학 부재 | |
JP5417889B2 (ja) | TiO2を含有するシリカガラスおよびそれを用いたリソグラフィ用光学部材 | |
JP5733350B2 (ja) | TiO2を含有するシリカガラスおよびその製造法 | |
JP5402975B2 (ja) | TiO2を含有するシリカガラスおよびその製造法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110908 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130423 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130430 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130701 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130813 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130826 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5365247 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |